CN114137749B - 一种显示面板的测试方法及装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 204
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000008093 supporting effect Effects 0.000 claims abstract description 29
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims 1
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 15
- 238000005457 optimization Methods 0.000 abstract description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 8
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000000418 atomic force spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000004925 denaturation Methods 0.000 description 1
- 230000036425 denaturation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
本申请提出了一种显示面板的测试方法及装置;该显示面板的测试方法包括:获取待测显示面板的曲面参数,曲面参数包括支撑柱的位置信息,根据支撑柱的位置信息,确定待测显示面板中多个待测区域的位置信息,多个待测区域内设置有预设数量的支撑柱,获取并根据每一待测区域的力学性能参数和盒间距,确定待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系;本申请通过将待测显示面板划分为多个待测区域,同时评估显示面板的基板变形、支撑柱的支撑作用及像素错位等因素,从而可以对不同设计的曲面显示器的漏光进行定量分析,便于显示面板的面内设计和曲面形态进行更精确的优化改进。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术的领域,具体涉及一种曲面显示面板的测试方法及装置。
背景技术
曲面显示器通常由液晶显示屏(Liquid Crystal Display,LCD)弯曲而成,但是LCD在弯曲后,由于两块基板存在弯曲应力、两块基板的盒间距(cell gap)发生改变以及像素错位等因素,都会导致曲面显示屏出现漏光和显示不均的现象。因此在LCD设计前段就需要对曲面显示屏进行仿真建模,以便进行相应的优化补偿设计。
但是由于LCD的两块基板之间设置有数目众多且尺寸极小的柱状支撑物(PhotoSpacer,PS),目前的仿真方法一般无法同时考虑基板的变形和两块基板间的PS的支撑作用,因此难以准确评估曲面显示屏中两块基板的盒间距变化及像素错位,导致无法准确在设计前段进行相应的优化补偿,曲面显示屏还是容易出现漏光和显示不均等现象。
发明内容
本申请提供一种显示面板的测试方法及装置,以改善当前的仿真方法无法同时考虑基板的变性和两块基板间PS的支撑作用而导致的设计优化补偿效果不佳的技术问题。
为解决上述技术问题,本申请提供的技术方案如下:
本申请提供一种显示面板的测试方法,包括:
获取待测显示面板的曲面参数,所述曲面参数包括支撑柱的位置信息;
根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息,多个所述待测区域内设置有预设数量的支撑柱;
获取并根据每一所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系。
在本申请的显示面板的测试方法中,所述获取待测显示面板的曲面参数的步骤包括:
获取并根据所述待测显示面板的平面尺寸信息和曲面模型信息,确定所述待测显示面板的曲面形态;
获取所述待测显示面板内的支撑柱分布版图,确定所述支撑柱在所述待测显示面板内的位置信息。
在本申请的显示面板的测试方法中,所述根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息的步骤包括:
获取所述待测显示面板的第一基板、第二基板的位置信息;
根据所述支撑柱、所述第一基板及所述第二基板的位置信息,在所述第一基板、所述第二基板上划分相应的网格,使网格节点与部分所述支撑柱的位置对应;
以所述网格节点处的所述支撑柱为中心,确定设置有预设数量支撑柱的待测区域的位置信息。
在本申请的显示面板的测试方法中,根据所述支撑柱、所述第一基板及所述第二基板的位置信息,在所述第一基板、所述第二基板上划分相应的网格,使网格节点与部分所述支撑柱的位置对应的步骤包括:
获取并根据所述支撑柱的尺寸信息,将支撑柱分类为第一类支撑柱和第二类支撑柱,其中,第一类支撑柱的尺寸大于所述第二类支撑柱的尺寸;
根据所述支撑柱的位置信息,将所述第一基板、第二基板划分为多个网格,并使网格节点与所述第一类支撑柱的位置对应。
在本申请的显示面板的测试方法中,所述以所述网格节点处的所述支撑柱为中心,确定设置有预设数量支撑柱的待测区域的位置信息的步骤包括:
获取并根据所述第一类支撑柱的位置信息,确定以所述第一类支撑柱为中心且包含若干所述第二类支撑柱的待测区域的位置信息。
在本申请的显示面板的测试方法中,所述获取并根据每一所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系的步骤包括:
在所述第一基板、所述第二基板之间创建连接单元和接触单元,并使所述连接单元和所述接触单元在所述待测显示面板内的位置与第一类支撑柱所在的网格节点位置对应;
利用所述连接单元模拟所述支撑柱的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息;
利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息。
在本申请的显示面板的测试方法中,所述利用所述连接单元模拟所述支撑柱的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息的步骤包括:
获取所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数;
根据所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数,利用所述连接单元模拟所述支撑柱的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息。
在本申请的显示面板的测试方法中,所述利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息的步骤包括:
获取所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数;
根据所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数,利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息。
在本申请的显示面板的测试方法中,所述在所述第一基板、所述第二基板之间创建连接单元和接触单元的步骤包括:
将所述第一基板、所述第二基板沿垂直于所述待测显示面板的方向位移第一间隔;
在所述第一间隔内创建中间节点,并使所述中间节点在所述待测显示面板内的位置与所述第一类支撑柱所在的网格节点位置对应;
在所述中间节点与所述第一基板之间创建所述连接单元,在所述中间节点与所述第二基板之间创建接触单元。
本申请还提出了一种显示面板的测试装置,包括参数获取模块、定位模块和计算处理模块;
所述参数获取模块获取待测显示面板的曲面参数,所述曲面参数包括支撑柱的位置信息;
所述定位模块根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息,且所述待测区域内设置有预设数量的支撑柱;
所述计算处理模块获取并根据所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系。
有益效果:
本申请根据待测显示面板内的支撑柱的位置信息,将所述待测显示面板划分为多个待测区域,并使待测区域内设置有预设数量的支撑柱,再根据每一所述待测区域内的支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系;本申请通过以上方法,可以同时评估显示面板的基板变形、支撑柱的支撑作用及像素错位等因素,从而可以对不同设计的曲面显示器的漏光进行定量分析,便于显示面板的面内设计和曲面形态进行更精确的优化改进;而且,由于本申请是通过先获取待测区域内的支撑柱的力学性能参数和盒间距,结合待测区域的位置信息,再确定待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系,即整个待测显示面板的全面测试可以等效为对多个待测区域的区域测试,实现“由点及面”的测量与计算,从而有效减小测量与计算规模,减少测量、计算时间与成本。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请所述显示面板的测试方法的流程框图结构图;
图2是本申请所述待测显示面板的平面模型和曲面模组形态;
图3是本申请所述待测显示面板的曲面形态;
图4是本申请所述待测区域内的结构示意图;
图5是本申请所述连接单元和所述接触单元的连接结构示意图;
图6是本申请所述显示面板的测试方法得到的力学分布图;
图7是本申请所述显示面板的测试装置模块示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。此外,应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请,并不用于限制本申请。在本申请中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下,具体为附图中的图面方向;而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
曲面显示器通常由液晶显示屏(Liquid Crystal Display,LCD)弯曲而成,但是LCD在弯曲后,由于两块玻璃基板存在弯曲应力、两块基板的盒间距(cell gap)发生改变以及像素发生错位等因素,都会导致曲面显示屏出现漏光和显示不均的现象。因此在LCD设计前段就需要对曲面显示屏进行仿真建模,以便进行相应的优化补偿设计。
但是由于LCD的两块基板之间设置有数目众多且尺寸极小的柱状支撑物(PhotoSpacer,PS),目前的仿真方法一般无法同时考虑基板的变形和两块基板间的PS的支撑作用,因此无法在考虑玻璃基板变形的同时准确评估曲面显示屏中两块基板的盒间距变化及像素错位,导致无法准确在设计前段进行相应的优化补偿,曲面显示屏还是容易出现漏光和显示不均等现象。本申请基于上述技术问题提出了以下方案。
请参阅图1至图7,本申请提供一种显示面板的测试方法,包括:
S100、获取待测显示面板的曲面参数,所述曲面参数包括支撑柱的位置信息;
S200、根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息,多个所述待测区域内设置有预设数量的支撑柱;
S300、获取并根据每一所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系。
本申请通过以上方法,可以根据所述待测区域内的支撑柱的力学性能参数,同时评估显示面板的基板变形、支撑柱的支撑作用及支撑柱在面内的位移信息(即表征像素错位)等因素,结合盒间距信息,从而可以对不同设计的曲面显示器的漏光进行定量分析,便于显示面板的面内设计和曲面形态进行更精确的优化改进;而且,由于本申请是通过先获取待测区域的力学性能参数和盒间距,结合待测区域的位置信息,再确定待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系,即整个待测显示面板的全面测试可以等效为对多个待测区域的区域测试,弯曲应力、盒间距及像素错位量实现“由点及面”的测量与计算,从而有效减小测量与计算规模,减少测量、计算时间与成本。
现结合具体实施例对本申请的技术方案进行描述。
一种显示面板的测试方法,请参阅图1,所述显示面板的测试方法包括:
S100、获取待测显示面板的曲面参数,所述曲面参数包括支撑柱的位置信息。
其中,所述待测显示面板的曲面参数可以通过获取外界输入的相关信息得到,也可以获取预先存储于相关的模块中的相关信息得到。例如,可以预先在所述相关的模块中存储多个待测显示面板的曲面参数,再依次进行如下操作:获取第一个待测显示面板的曲面参数并进行相关操作、获取第二个所述待测显示面板的曲面参数并进行相关操作,直至获取最后一个所述待测显示面板的曲面参数并进行相关操作。
在本实施例中,请参阅图2和图3,所述S100步骤可以包括:
S110、获取并根据所述待测显示面板的平面尺寸信息和曲面模型信息,确定所述待测显示面板的曲面形态。
其中,所述待测显示面板的平面尺寸信息可以包括所述待测显示面板的平面形状信息和尺寸数据信息,所述待测显示面板的平面形状信息可以为“矩形”,所述待测显示面板的尺寸数据信息可以为“A*B”,其中,A、B可以分别为矩形的长度值和宽度值。
其中,所述曲面模型信息可以包括“曲线信息”,所述“曲线信息”可以包括“曲率”、“方向”、“长短”、“数量”等参数。
S120、获取所述待测显示面板内的支撑柱分布版图,确定所述支撑柱在所述待测显示面板内的位置信息。
其中,所述待测显示面板内的支撑柱分布版图可以通过外界输入的相关信息得到,也可以通过获取预先存储于相关的模块中的相关信息得到。
其中,所述支撑柱在所述待测显示面板内的位置信息可以包括“坐标信息”和“数量信息”。所述“坐标信息”可以为二维坐标信息如(x,y),也可以为三维坐标信息如(x,y,z)。所述“数量信息”可以为数字信息,如某一正整数a。
本实施例通过以上步骤,可以根据平面尺寸信息先确定待测显示面板的平面形态,再将待测显示面板的平面形态与曲面模型的曲面形态相结合,得到所述待测显示面板的曲面形态,实现曲面显示面板的精确高效建模,从而得到精确度更高的曲面显示面板模型,进而提高测量精度。
S200、根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息,多个所述待测区域内设置有预设数量的支撑柱,如图4所示。
其中,所述待测区域可以理解为设置有预设数量的支撑柱的区域,且所述待测区域可以作为所述待测显示面板的微单元以进行模拟测量,所得到的相关信息和数据可以结合所述待测区域的位置信息应用于所述待测显示面板的其他区域。
其中,所述待测区域的位置信息可以包括所述待测区域的形状信息、所述待测区域的尺寸信息及所述待测区域的坐标信息。
其中,所述待测区域的形状信息可以为“矩形”、“正方形”、“三角形”、“平行四边形”、“菱形”或者其他形状。所述待测区域的尺寸信息可以包括“边长长度”、“边长数量”、“棱边夹角”等参数。所述待测区域的坐标信息可以包括所述待测区域的中心点位置的二维坐标信息如(x,y),或者所述待测区域的中心点位置的三维坐标信息如(x,y,z)。
其中,所述预设数量可以通过外界输入的相关信息得到,也可以通过获取预先存储于相关的模块中的相关信息得到。
在本实施例中,请参阅图4中的(a),所述S200步骤可以包括:
S210、获取所述待测显示面板的第一基板、第二基板的位置信息。
其中,所述第一待测显示面板的第一基板、第二基板的位置信息可以包括第一基板的坐标信息和第二基板的坐标信息,所述第一基板的坐标信息可以为所述第一基板的中心点的二维坐标信息如(x,y),或者所述第一基板的中心点的三维坐标信息如(x,y,z)。
在本实施例中,请参阅图4中的(b)至图4中的(d),所述S210步骤可以包括:
S211、利用壳单元建立第一基板、第二基板的模型;
其中,所述壳单元可以通过外界输入的相关信息得到,也可以通过调取预先存储于相关的模块中的相关信息得到,或者通过软件生成。
其中,所述第一基板、第二基板的模型是基于前述所述待测显示面板的曲面模型生成的。
S212、获取所述第一基板、所述第二基板的位置信息。
S220、根据所述支撑柱、所述第一基板及所述第二基板的位置信息,在所述第一基板、所述第二基板上划分相应的网格,使网格节点与部分所述支撑柱的位置对应。
其中,所述网格可以包括形如“矩形”、“正方形”、“三角形”、“平行四边形”、“菱形”或者其他形状。
其中,“划分相应的网格”可以基于所述待测显示面板的曲面模型信息内的“曲线信息”及所述支撑柱的位置信息,选择经过指定的所述支撑柱的曲线来对所述第一基板、所述第二基板进行划分。
其中,“经过指定的所述支撑柱的曲线”可以包括至少沿两个方向延伸的曲线,两个方向之间存在不为0°和180°的夹角。
其中,当“经过指定的所述支撑柱”的至少沿两个方向延伸的曲线之间的夹角为90°时,所述网格的形状为“矩形”或“正方形”。
其中,所述“网格节点与部分所述支撑柱的位置对应”可以理解为所述网格节点的二维坐标(x1,y1)与所述支撑柱的二维坐标(x2,y2)重合(即坐标数值完全相同),或者所述网格节点的三维坐标(x1,y1,z1)与所述支撑柱的三维坐标(x2,y2,z2)至少存在两个维度上的坐标值相同,且坐标值相同的两个维度与所述第一基板或所述第二基板的二维坐标维度相同。
在本实施例中,请参阅图4中的(b),所述S220步骤可以包括:
S221、获取并根据所述支撑柱的尺寸信息,将支撑柱分类为第一类支撑柱和第二类支撑柱,其中,第一类支撑柱的尺寸大于所述第二类支撑柱的尺寸。
其中,所述支撑柱的尺寸信息可以包括所述支撑柱的横截面尺寸信息和所述支撑柱的长度信息。所述支撑柱的横街面尺寸信息可以包括如“半径”、“直径”、“边长”等参数,所述支撑柱的长度信息可以包括所述支撑柱的长度矢量信息和所述支撑柱的长度数值信息。
其中,所述第一类支撑柱的尺寸大于所述第二类支撑柱的尺寸可以理解为,根据所述支撑柱的长度矢量信息和所述支撑柱的长度数值信息,对所述支撑柱的长度数值进行比较,取长度数值较大的定义为第一类支撑柱,取长度数值较小的定义为第二类支撑柱。
S222、根据所述支撑柱的位置信息和所述支撑柱的尺寸信息,将所述第一基板、第二基板划分为多个网格,并使网格节点与所述第一类支撑柱的位置对应。
其中,“将所述第一基板、第二基板划分相应的网格”可以基于所述待测显示面板的曲面模型信息内的“曲线信息”及所述支撑柱的位置信息,选择经过所述第一类支撑柱的曲线来对所述第一基板、所述第二基板进行划分。
其中,“经过指定的所述支撑柱的曲线”可以包括至少沿两个方向延伸的曲线,两个方向之间存在不为0°和180°的夹角。
其中,当“经过第一类所述支撑柱”的至少沿两个方向延伸的曲线之间的夹角为90°时,所述网格的形状为“矩形”或“正方形”。
其中,所述“网格节点与所述第一类支撑柱的位置对应”可以理解为,所述网格节点的二维坐标(x1,y1)与所述第一类支撑柱的二维坐标(x3,y3)重合(即坐标数值完全相同),或者所述网格节点的三维坐标(x1,y1,z1)与所述第一类支撑柱的三维坐标(x3,y3,z3)至少存在两个维度上的坐标值相同,且坐标值相同的两个维度与所述第一基板或所述第二基板的二维坐标维度相同。比如,假设所述第一基板和所述第二基板的二维坐标维度为x和y,所述网格节点在所述第一基板、所述第二基板上的二维坐标为(x4,y4),那么,所述第一类支撑柱上的任意一点在所述待测显示面板内的二维坐标也为(x4,y4)。
S230、以所述网格节点处的所述支撑柱为中心,确定设置有预设数量支撑柱的待测区域的位置信息,如图4中的(a)所示。
其中,所述设置有预设数量支撑柱的待测区域的位置信息可以包括所述待测区域内的所述第一类支撑柱的二维坐标信息或三维坐标信息、所述待测区域的尺寸信息。其中,所述待测区域的尺寸信息可以包括所述待测区域的形状信息和所述待测区域的边长长度信息。所述待测区域的形状信息可以为“矩形”、“正方形”、“三角形”、“平行四边形”、“菱形”或者其他形状等。所述待测区域的边长长度信息可以为某一确定的数值。
其中,所述预设数量可以通过外界输入的相关信息得到,也可以通过调取预先存储于相关的模块中的相关信息得到。比如,所述预设数量可以设置为51,即所述待测区域内的支撑柱的数量为51个,其包括1个位于所述待测区域中心位置的第一类支撑柱和50个位于所述第一类支撑柱外围的第二类支撑柱,如图4中的(a)所示。需说明的是,本申请中说明书附图仅作示意,图中的所述待测区域内的所述支撑柱的数量不代表真实的数量。
在本实施例中,所述S230步骤可以包括:
S231、获取并根据所述第一类支撑柱的位置信息,确定以所述第一类支撑柱为中心且包含若干所述第二类支撑柱的待测区域的位置信息。
其中,所述包含若干所述第二类支撑柱的待测区域的位置信息可以理解为,若干所述第二类支撑柱的二维坐标或三维坐标均处于所述待测区域的二维坐标范围或三维坐标范围内。
本实施例通过以上步骤,可以使部分所述支撑柱所在的位置作为网格节点,进而更加高效快捷地对所述第一基板、所述第二基板进行网格划分,同时可以使所述第一基板和所述第二基板上的网格节点相互对应,以便于形成以网格节点处的所述支撑柱为中心的待测区域,待测区域的划分更加合理,有利于提高测量精度。
S300、获取并根据每一所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系,如图4和图5所示。
其中,所述力学性能参数可以包括所述待测区域内的所述支撑柱被压缩时在面内的应力-位移曲线、应力-形变曲线等,以表征所述待测区域内的支撑柱的位置变化情况和尺寸变化情况,所述盒间距可以为所述第一基板与所述第二基板之间的间距。
其中,所述待测区域的力学性能参数和盒间距可以通过外界输入的相关信息得到,也可以通过调取预先存储于相关的模块或数据库中的相关信息得到。需要说明的是,所述“预先存储于相关的模块或数据库中的相关信息”可以包括与所述待测区域的位置信息一一对应的力学性能参数信息和盒间距信息,即具有不同位置信息的所述待测区域,其所获取的力学性能参数信息和盒间距信息也应当不同。
在本实施例中,请参阅图5,所述S300步骤可以包括:
S310、在所述第一基板、所述第二基板之间创建连接单元和接触单元,并使所述连接单元和所述接触单元在所述待测显示面板内的位置与第一类支撑柱所在的网格节点位置对应。
其中,所述连接单元可以为Translator单元,其节点只能沿两个点之间的连线方向运动,可以用来模拟连接件在某个方向的刚度特性。在本实施例中,所述Translator单元用来模拟支撑柱的刚度特性。
其中,所述接触单元可以为GAPUNI单元,用来模拟两个节点之间的接触作用,两个节点可以处于接触状态(间隙闭合)。在本实施例中,所述GAPUNI单元可以用来模拟支撑柱与基板之间的接触作用。
其中,所述GAPUNI单元的性质为允许两个节点在面内有错位,可模拟所述支撑柱与所述第一基板或第二基板之间的滑动。其中,所述“允许两个节点在面内有错位”可以理解为:在所述第一基板或所述第二基板的二维坐标维度内,允许GAPUNI单元的两个节点的二维坐标值不同。
在本实施例中,请参阅图4中的(d)和图5,所述S310步骤可以包括:
S311、将所述第一基板、所述第二基板沿垂直于所述待测显示面板的方向位移第一间隔。
其中,所述第一间隔可以通过保持第一基板不动,沿垂直于所述待测显示面板且远离所述第一基板的方向移动所述第二基板获得,或者可以通过保持所述第二基板不动,沿垂直于所述待测显示面板且远离所述第二基板的方向移动所述第一基板获得。
需要说明的是,采用哪一种方式获得所述第一间隔,取决于所述支撑柱的设置位置。当所述支撑柱设置在所述第一基板上时,所述支撑柱与所述第二基板抵接或存在间隔,此时所述第一间隔的获得方式为保持第一基板不动,沿垂直于所述待测显示面板且远离所述第一基板的方向移动所述第二基板获得。与此对应地,当所述支撑柱设置在所述第二基板上时,所述支撑柱与所述第一基板抵接或存在间隔,此时所述第一间隔的获得方式为保持所述第二基板不动,沿垂直于所述待测显示面板且远离所述第二基板的方向移动所述第一基板获得。
S312、在所述第一间隔内创建中间节点,并使所述中间节点在所述待测显示面板内的位置与所述第一类支撑柱所在的网格节点位置对应。
其中,所述中间节点可以为GAP节点,所述GAP节点可以通过对已确定的所述第一基板或所述第二基板上的网格节点进行复制并平移得到。所述中间节点在所述待测显示面板内的二维坐标与所述第一基板或所述第二基板上的网格节点的二维坐标相同。由上文论述可知,所述中间节点在所述待测显示面板内的二维坐标与所述第一类支撑柱在所述第一基板或所述第二基板上的二维坐标相同。
其中,所述第一间隔的大小可视情况进行调整,但所述第一间隔优选为小于所述中间节点至固定基板的间隔,以提高所述接触单元的接触模拟精度。其中,所述固定基板即为上述第一基板或第二基板中保持位置不动的基板。
S313、在所述中间节点与所述第一基板之间创建所述连接单元,在所述中间节点与所述第二基板之间创建接触单元。
其中,在所述中间节点与所述第一基板之间创建所述连接单元可以理解为:所述支撑柱设置在所述第一基板上,在所述中间节点与所述第一基板之间创建连接单元,用来模拟所述支撑柱对所述第一基板之间的支撑作用/性能。
其中,在所述中间节点与所述第二基板之间创建接触单元可以理解为:所述支撑柱与所述第二基板之间抵接或存在间隙,在所述中间节点与所述第二基板之间创建接触单元,用来模拟所述支撑柱与所述第二基板之间的接触/分离状态。
S320、利用所述连接单元模拟所述支撑柱的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息。
其中,所述支撑性能可以包括“作用力大小”、“作用力方向”等参数,所述待测区域内的应力分布信息可以包括“应力大小”信息和“应力方向”信息。
在本实施例中,所述S320步骤可以包括:
S321、获取所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数。
其中,所述待测区域内所述支撑柱的力学性能参数可以包括所述待测区域内的所述支撑柱被压缩时在面内的应力-位移曲线,以表征所述待测区域内的支撑柱的位置变化情况。所述支撑柱的材料参数可以包括“弹性模量”、“泊松比”、“密度”等参数。
S322、根据所述支撑柱的应力-位移曲线和所述支撑柱的材料参数,利用所述连接单元模拟所述支撑柱对所述第一基板、第二基板的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息。其中,所述支撑柱被压缩时在面内的应力-位移曲线可以通过外界输入的相关信息得到,也可以通过调取预先存储于相关的模块或数据库中的相关信息得到。需要说明的是,所述“预先存储于相关的模块或数据库中的相关信息”可以包括与所述支撑柱的材料参数一一对应的应力-位移曲线集合,即具有不同材料参数的所述支撑柱,其所获取的应力-位移曲线也应当不同。
S330、利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息。
在本实施例中,所述S330步骤包括:
S331、获取所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数。
其中,所述待测区域内所述支撑柱的力学性能参数可以包括所述待测区域内的所述支撑柱被压缩时在面内的应力-形变曲线,以表征所述待测区域内的支撑柱的尺寸变化情况。
S332、根据所述支撑柱的应力-形变曲线和所述支撑柱的材料参数,利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息。
其中,所述S332步骤的原理如下:如图4和图5所示,假设在垂直于所述第一基板和所述第二基板的方向上(即所述待测显示面板的厚度方向上),所述第一类支撑柱的高度值为δM,所述第二类支撑柱的高度值为δS,所述第一基板和所述第二基板之间的盒间距为δ。
向所述待测区域内的第二基板施加一个指向所述第一基板的作用力,假设所述第二基板与所述支撑柱之间的作用力大小为F,那么根据所述待测区域内不同位置的F的大小即可判断该位置的盒间距δ大小,即得到该测试区域内的应力与盒间距的作用关联关系(或者也称作基板受力-盒间距(F-δ)曲线)。
具体地:
当δ>δM时,所述第二基板与所述第一类支撑柱、所述第二类支撑柱均不接触,支撑柱与所述第二基板之间的作用力F=0,如图4中的(b)。
当δM>=δ>=δS时,第二基板与第一类支撑柱接触但不与第二类支撑柱接触,此时支撑柱与所述第二基板之间的作用力F与单独的第一类支撑柱的受力时曲线一致,如图4中的(c)。
当δ<δS,F为第一类支撑柱与第二类支撑柱的综合作用力,如图(d)所示。
其中,上述原理对应于本申请中的所述连接单元和所述接触单元时,原理如下:
当所述接触单元(GAPUNI单元)的两个节点在所述待测显示面板的厚度方向上的距离超过设定的间隙值时,所述GAPUNI单元的两个节点之间没有力的作用,可以模拟所述支撑柱与所述第一基板或所述第二基板的分离状态,如图4中的(b)。
当所述接触单元(GAPUNI单元)的两个节点在所述待测显示面板的厚度方向上的距离小于或等于设定的间隙值时,接触单元(GAPUNI单元)的两个节点之间保持间隙值不变,两个节点之间可以传递作用力,可以模拟所述待测区域内的所述支撑柱对所述第一基板或所述第二基板的支撑作用,此时作用力会传递到所述连接单元,如图4中的(c)和图4中的(d)。
在本实施例中,请参阅图6,通过在垂直于所述待测显示面板的方向上,向所述连接单元赋予所述待测区域内的作用力-基板位移曲线(即上述基板受力-盒间距(F-δ)曲线)的性质,实现连接单元与接触单元组合而成的联合单元模拟一个待测区域内的受压、错位、接触分离等各种状态。
本实施例通过以上步骤,将包含有多个支撑柱(包括一个第一类支撑柱和多个第二类支撑柱)的待测单元简化为一个连接单元(Translator)+一个接触单元(GAPUNI)所构成的组合模拟单元,从而将待测区域内原本应该进行数万次乃至数十万次的测试计算转换为通过一个组合模拟单元实现的一次测试计算,即本实施例可将每个测试单元内的计算量级缩小数万倍乃至数万倍,而整个显示面板中又存在数十万到数百万个所述待测区域,因此,本实施例可以极大地减小计算量,降低计算时间与成本。
本申请实施例还提供一种显示面板的测试装置100,如图7所示,所述显示面板的测试装置100包括参数获取模块110、定位模块120和计算处理模块130。所述参数获取模块110获取待测显示面板的曲面参数,所述曲面参数包括支撑柱的位置信息。所述定位模块120根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息,且所述待测区域内设置有预设数量的支撑柱。所述计算处理模块130获取并根据待测区域内的支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系。
本申请实施例通过根据待测显示面板内的支撑柱的位置信息,将所述待测显示面板划分为多个待测区域,并使待测区域内设置有预设数量的支撑柱,再根据每一所述待测区域内的支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系;本申请通过以上方法,可以同时评估显示面板的基板变形、支撑柱的支撑作用及像素错位等因素,从而可以对不同设计的曲面显示器的漏光进行定量分析,便于显示面板的面内设计和曲面形态进行更精确的优化改进;而且,由于本申请是通过先获取待测区域内的支撑柱的力学性能参数和盒间距,再确定待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系,即整个待测显示面板可以等效为一个待测区域,实现“由点及面”的测量与计算,从而有效减小测量与计算规模,减少测量、计算时间与成本。
以上对本申请实施例所提供的一种显示面板的测试方法及装置进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (8)
1.一种显示面板的测试方法,其特征在于,包括:
获取待测显示面板的曲面参数,所述曲面参数包括支撑柱的位置信息;
所述获取待测显示面板的曲面参数的步骤包括:
获取并根据所述待测显示面板的平面尺寸信息和曲面模型信息,确定所述待测显示面板的曲面形态;
获取所述待测显示面板内的支撑柱分布版图,确定所述支撑柱在所述待测显示面板内的位置信息;
根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息,多个所述待测区域内设置有预设数量的支撑柱;
所述根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息的步骤包括:
获取所述待测显示面板的第一基板、第二基板的位置信息;
根据所述支撑柱、所述第一基板及所述第二基板的位置信息,在所述第一基板、所述第二基板上划分相应的网格,使网格节点与部分所述支撑柱的位置对应;
以所述网格节点处的所述支撑柱为中心,确定设置有预设数量支撑柱的待测区域的位置信息;
获取并根据每一所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系。
2.根据权利要求1所述的显示面板的测试方法,其特征在于,根据所述支撑柱、所述第一基板及所述第二基板的位置信息,在所述第一基板、所述第二基板上划分相应的网格,使网格节点与部分所述支撑柱的位置对应的步骤包括:
获取并根据所述支撑柱的尺寸信息,将支撑柱分类为第一类支撑柱和第二类支撑柱,其中,第一类支撑柱的尺寸大于所述第二类支撑柱的尺寸;
根据所述支撑柱的位置信息,将所述第一基板、第二基板划分为多个网格,并使网格节点与所述第一类支撑柱的位置对应。
3.根据权利要求2所述的显示面板的测试方法,其特征在于,所述以所述网格节点处的所述支撑柱为中心,确定设置有预设数量支撑柱的待测区域的位置信息的步骤包括:
获取并根据所述第一类支撑柱的位置信息,确定以所述第一类支撑柱为中心且包含若干所述第二类支撑柱的待测区域的位置信息。
4.根据权利要求1所述的显示面板的测试方法,其特征在于,所述获取并根据每一所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系的步骤包括:
在所述第一基板、所述第二基板之间创建连接单元和接触单元,并使所述连接单元和所述接触单元在所述待测显示面板内的位置与第一类支撑柱所在的网格节点位置对应;
利用所述连接单元模拟所述支撑柱的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息;
利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息。
5.根据权利要求4所述的显示面板的测试方法,其特征在于,所述利用所述连接单元模拟所述支撑柱的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息的步骤包括:
获取所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数;
根据所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数,利用所述连接单元模拟所述支撑柱的支撑性能,以确定所述待测区域内的应力分布信息。
6.根据权利要求4所述的显示面板的测试方法,其特征在于,所述利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息的步骤包括:
获取所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数;
根据所述支撑柱的力学性能参数和所述支撑柱的材料参数,利用所述接触单元模拟所述支撑柱与所述第一基板、第二基板的接触作用,以确定所述第一基板与所述第二基板的盒间距信息。
7.根据权利要求4所述的显示面板的测试方法,其特征在于,所述在所述第一基板、所述第二基板之间创建连接单元和接触单元的步骤包括:
将所述第一基板、所述第二基板沿垂直于所述待测显示面板的方向位移第一间隔;
在所述第一间隔内创建中间节点,并使所述中间节点在所述待测显示面板内的位置与所述第一类支撑柱所在的网格节点位置对应;
在所述中间节点与所述第一基板之间创建所述连接单元,在所述中间节点与所述第二基板之间创建接触单元。
8.一种显示面板的测试装置,其特征在于,包括参数获取模块、定位模块和计算处理模块;
所述参数获取模块获取待测显示面板的曲面参数,所述曲面参数包括支撑柱的位置信息;
所述获取待测显示面板的曲面参数的步骤包括:
获取并根据所述待测显示面板的平面尺寸信息和曲面模型信息,确定所述待测显示面板的曲面形态;
获取所述待测显示面板内的支撑柱分布版图,确定所述支撑柱在所述待测显示面板内的位置信息;
所述定位模块根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息,且所述待测区域内设置有预设数量的支撑柱;
所述根据所述支撑柱的位置信息,确定所述待测显示面板中多个待测区域的位置信息的步骤包括:
获取所述待测显示面板的第一基板、第二基板的位置信息;
根据所述支撑柱、所述第一基板及所述第二基板的位置信息,在所述第一基板、所述第二基板上划分相应的网格,使网格节点与部分所述支撑柱的位置对应;
以所述网格节点处的所述支撑柱为中心,确定设置有预设数量支撑柱的待测区域的位置信息;
所述计算处理模块获取并根据所述待测区域内的所述支撑柱的力学性能参数和盒间距,确定所述待测显示面板中的弯曲应力、盒间距及像素错位量的关联关系。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111451323.9A CN114137749B (zh) | 2021-12-01 | 2021-12-01 | 一种显示面板的测试方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111451323.9A CN114137749B (zh) | 2021-12-01 | 2021-12-01 | 一种显示面板的测试方法及装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN114137749A CN114137749A (zh) | 2022-03-04 |
CN114137749B true CN114137749B (zh) | 2023-11-28 |
Family
ID=80386822
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202111451323.9A Active CN114137749B (zh) | 2021-12-01 | 2021-12-01 | 一种显示面板的测试方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN114137749B (zh) |
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