CN109803073A - 无帧随机存取图像感测 - Google Patents

无帧随机存取图像感测 Download PDF

Info

Publication number
CN109803073A
CN109803073A CN201811351967.9A CN201811351967A CN109803073A CN 109803073 A CN109803073 A CN 109803073A CN 201811351967 A CN201811351967 A CN 201811351967A CN 109803073 A CN109803073 A CN 109803073A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pixel
detectors
integral
pixel detectors
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201811351967.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109803073B (zh
Inventor
G·A·雷
B·E·诺顿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Boeing Co
Original Assignee
Boeing Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Boeing Co filed Critical Boeing Co
Publication of CN109803073A publication Critical patent/CN109803073A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109803073B publication Critical patent/CN109803073B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00—General purpose image data processing
    • G06T1/0007—Image acquisition
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/40—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144—Devices controlled by radiation
    • H01L27/146—Imager structures
    • H01L27/148—Charge coupled imagers
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/701—Line sensors
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75—Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • H04N25/772—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising A/D, V/T, V/F, I/T or I/F converters

Abstract

无帧随机存取图像感测。一种用于无帧随机存取图像感测的方法和设备。可由图像检测器控制器接收识别像素检测器阵列中的像素检测器的指令以及针对该像素检测器的积分指令。可如积分指令所规定的那样控制像素检测器的积分以由像素检测器生成像素数据。可从像素检测器读取像素数据。

Description

无帧随机存取图像感测
技术领域
本公开总体上涉及图像感测。更具体地讲，本公开涉及一种可单独地寻址并控制阵列中的像素检测器的成像系统和方法。
背景技术
焦平面阵列(FPA)是由在透镜的焦平面处的光感测元件阵列组成的图像感测装置。焦平面阵列也可称为凝视阵列。焦平面阵列中的光感测元件与由光感测元件阵列形成的图像的画面元素(通常称为像素)对应。例如而非限制，光感测元件阵列中的各个光感测元件可生成由焦平面阵列形成的图像的像素。焦平面阵列中的光感测元件阵列通常可以是光感测元件的矩形阵列。
焦平面阵列通常用于成像目的。例如而非限制，移动电话或其它消费产品上的数字相机可使用焦平面阵列来生成静止图像和视频图像。焦平面阵列也可用作用于商业、科学、教育、军事以及任何其它适当的成像目的的成像装置。
焦平面阵列也可用于非成像目的。例如而非限制，焦平面阵列可用在用于光谱测定、激光雷达和波前感测的装置中。例如而非限制，焦平面阵列的其它非成像应用可包括自由空间激光通信接收器阵列和红外威胁传感器(可用于跟踪正在接近的可能威胁军用和商用飞行器的导弹)。
焦平面阵列可被配置为检测各种不同的光学频率范围内的光。例如，在如今制造的几乎每一个蜂窝电话和SLR相机中都有可见FPA。这些通常是单芯片硅(Si)CMOS(互补金属氧化物半导体)或CCD(电荷耦合器件)阵列，其中检测器及其读出电路在同一芯片上。
红外FPA用于跟踪“热”物体，例如场景中的人或者在空中飞行的喷气机，并且检测器使用更特殊的材料。在这种情况下，由于两种差异很大的材料类别的制造的不兼容性，读出集成电路(ROIC)可以是与检测器阵列连接的单独的Si CMOS芯片。
对于一些应用，由焦平面阵列和其它这样的图像检测器提供的图像数据的收集和处理可能不太理想。因此，可能需要一种考虑了至少一些上述问题以及其它可能的问题的方法和设备。
发明内容
在一个例示性实施方式中，一种随机存取图像感测的方法包括接收识别像素检测器阵列中的像素检测器的指令以及针对该像素检测器的积分指令。如积分指令所规定的那样控制像素检测器的积分，以由像素检测器生成像素数据。从像素检测器读取像素数据。
在另一例示性实施方式中，一种设备包括图像检测器控制器，其被配置为从数据处理系统接收识别像素检测器阵列中的像素检测器的指令以及针对该像素检测器的积分指令，如积分指令所规定的那样控制该像素检测器的积分以由该像素检测器生成像素数据，并将像素数据从该像素检测器发送到数据处理系统。
在另一例示性实施方式中，一种设备包括图像检测器控制器、用于图像检测器控制器的计算机接口以及用于像素检测器阵列中的各像素检测器的像素检测器读出电路。图像检测器控制器被配置为对包括像素检测器阵列的图像检测器中的各像素检测器进行寻址以控制该像素检测器的积分并从该像素检测器读取像素数据。图像检测器控制器被配置为经由计算机接口从数据处理系统接收从图像检测器获得图像数据的指令并且经由计算机接口将图像数据发送到数据处理系统。图像检测器控制器被配置为通过将积分值写到用于像素检测器的像素检测器读出电路中来控制像素检测器的积分。
特征和功能可在本公开的各种实施方式中独立地实现或者可在其它实施方式中被组合，其中可参照以下描述和附图看到进一步的细节。
附图说明
在所附权利要求书中阐述了被认为是例示性实施方式的特性的新颖特征。然而，当结合附图阅读时通过参照本公开的例示性实施方式的以下详细描述，将最佳地理解例示性实施方式以及其优选使用模式、进一步的目的和特征，附图中：
图1是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器系统的框图的例示；
图2是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器集成电路芯片的例示；
图3是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器系统的图像检测器的框图的例示；
图4是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器系统的像素检测器读出电路的例示；
图5是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器系统的图像检测器控制功能的框图的例示；
图6是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器的读控制功能的例示；
图7是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像感测的时间线的例示；
图8是根据例示性实施方式的无帧随机存取图像感测的另一时间线的例示；以及
图9是根据例示性实施方式的数据处理系统的框图的例示。
具体实施方式
例示性实施方式认识到并考虑到不同的考虑因素。例如，例示性实施方式认识到并考虑到FPA的输出通常被假设为图像，因此FPA在每一帧时间生成单个图像。然而，对于许多应用，图像并不意味着被视为单个画面，而是特性(范围、亮度、运动等)差异很大的尺寸从单个像素到大像素区域的截然不同的对象的单独的图像的集合，并且理想情况下应该作为具有不同采样时间和不同信噪比(SNR)的单独信号处理。这对标准FPA是不可能的。
例示性实施方式认识到并考虑到使用传统FPA的现有解决方案通常逐帧地(而非逐像素地)处理像素。因此，由于基本上以相同的方式同时处理各个像素，所以得到次优的处理。尽管当FPA的结果输出被当作具有均匀亮度的单个静止对象时这通常是合理的，但是这忽略了更典型的情况，即，各个像素基本上是观测一个像素大小的“对象”的独立检测器。该像素“对象”可具有其自己的范围、运动、亮度等，应该与每一个其它像素不同地处理。相反，在传统FPA中，整个帧以相同的像素积分时间同时被采样并被发送到标准处理器以便于同时进一步处理。此外，各个像素每帧时间仅被更新一次。因此，对于传统FPA而言，需要一些像素比其它像素更频繁地(以更短的积分时间)采样或者相对于帧在不同的更新时间采样的处理是不可能的。
例示性实施方式通过使用读出集成电路的修改设计以及标准检测器阵列作为新焦平面阵列设计的一部分来允许单独的逐像素图像处理，从而解决了该次优图像传感器处理的一般问题。
例示性实施方式提供了一种无帧随机存取图像传感器(FRAIS)。其允许独立的逐像素传感器处理，这在现有像素阵列上是不可能的。通过创建随机地存取和控制像素阵列中的各个像素的能力来允许独立处理。该存取(读取和写入二者)允许设定独立的像素快门时间和相位以及像素阵列的全部或任何部分以受制于接口和硬件限制的任何期望的速率进行图像拍摄。由于其灵活的处理，可按照许多不同的方式(范围从针对所有像素的公共帧时间到根本没有帧时间)来处理像素。
根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器能够通过允许逐像素传感器处理来克服现有FPA中的缺点。例示性实施方式提供了各个传感器像素具有不同的积分时间和积分周期的能力。例示性实施方式可通过除了模数转换器(ADC)之外仅向各个像素添加简单的电路来实现。例如，例示性实施方式可使用简单的寄存器和计数器来实现，其中单个全局芯片时钟和输出缓冲器用于整个传感器。例示性实施方式可提供使用随机存取存储器型写操作来改变各个像素的更新速率和相位(相对于全局时钟)的能力。
根据例示性实施方式的控制无帧随机存取图像传感器的图像处理软件可使用不同的单个对象所独特的快门时间和相位来动态地处理和跟踪可表示这些对象的不同像素组。例示性实施方式提供了通过使用多平面存取方法在没有边界问题的情况下以接口的完全读取速率存取附近像素的能力。
例示性实施方式提供了将FRAIS传感器与类似于标准随机存取计算机存储器(即，DDRx SDRAM)的I/O接口集成的能力。根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器中的ROIC的功率使用与感兴趣的信号的数量(而非传感器大小)成比例，因此潜在地降低了许多应用中的功率。
例示性实施方式提供用于处理各种各样的序列(范围从针对所有像素的公共帧时间到根本没有帧时间)中的图像中的像素。
转向图1，根据例示性实施方式描绘了无帧随机存取图像传感器系统的框图的例示。无帧随机存取图像传感器系统100可包括图像检测器控制器102、图像检测器104、图像检测器读出电路106和数据处理系统108。
图像检测器104可包括像素检测器阵列110。像素检测器阵列110可包括成任何适当配置的多个像素检测器112。例如而非限制，像素检测器阵列110可包括焦平面阵列114。
像素检测器阵列110中的各个像素检测器116可包括光传感器118和积分模数转换器120以及其它适当的电路。例如而非限制，光传感器118可包括检测特定波长的光子并生成与光子的数量有关的电荷、电压或电阻的任何适当的器件。该电荷、电压或电阻然后可由积分模数转换器120进行测量并数字化。例如而非限制，由光传感器118生成的光电流可累积并存储在作为积分模数转换器120的一部分的积分电容器中。积分电容器两端的电压因此与在一段时间内存储的光电子成比例。在一段时间内存储的最大电荷等于总电容与电容器两端的最大允许电压的乘积。电路可在光传感器118与积分模数转换器120中的电容器之间包括低噪输入放大器，以将检测器偏压与后面的单位单元电路隔离。
根据例示性实施方式，像素检测器阵列110中的各个像素检测器116可以是可单独寻址的，以使得可单独地控制各个像素检测器116的积分122并且单独地获得来自各个像素检测器116的像素数据124。根据例示性实施方式，控制像素检测器116的积分122可包括控制积分时间126、积分周期128或者这二者。积分时间126是积分模数转换器120开始对来自像素检测器116中的光传感器118的输出进行积分的时间。积分周期128是积分模数转换器120从积分时间126开始对来自像素检测器116中的光传感器118的输出进行积分的持续时间。像素数据124是来自像素检测器116的数字输出。像素数据124因此表示由积分模数转换器120从积分时间126开始在积分周期128内积分的来自光传感器118的积分输出。
多平面130可包括像素检测器阵列110中的所有像素检测器112的子集。多平面130可由像素检测器阵列110中的像素检测器116以及像素检测器116周围距像素检测器116指定距离131内的一组像素检测器112限定。根据例示性实施方式，可通过仅寻址在多平面130的中心处的像素检测器116并基于距在若干像素中指定的像素检测器116的距离131指示多平面130的大小来控制多平面130中的像素检测器112的子集的积分122。在这种情况下，多平面130中的所有像素检测器112的积分122可被控制为相同。
根据例示性实施方式，可控制像素检测器阵列110中的单个像素检测器116、多个像素检测器112或者所有像素检测器112的积分122并且从来自像素检测器阵列110中的单个像素检测器116、多个像素检测器112或所有像素检测器112的所得像素数据124生成图像132。例如而非限制，可在数据处理系统108中通过图像处理134从像素数据124生成图像132。可控制像素检测器112的积分122，并且通过在数据处理系统108中实现的无帧随机存取图像采集136获得来自像素检测器112的像素数据124。例如而非限制，图像处理134和无帧随机存取图像采集136可由在数据处理系统108上运行的一个或更多个软件程序来实现。
图像检测器控制器102和图像检测器读出电路106提供数据处理系统108与图像检测器104之间的接口以用于控制图像检测器104中的像素检测器110的积分122并按照所描述的方式从像素检测器110获得像素数据124。
图像检测器控制器102可包括计算机接口138。计算机接口138可按照任何适当的方式实现以由图像检测器控制器102从数据处理系统108接收指令140并将图像数据144从图像检测器控制器102发送到数据处理系统108。例如而非限制，计算机接口138可按照直接存储器存取接口139的形式或任何其它适当的方式来实现。
例如而非限制，指令140可识别与图像检测器104中的将从其获得像素数据124的像素检测器116相对应的像素141，并且可包括限定针对所识别的像素的积分122的积分指令142。例如而非限制，指令140可通过地址线上的地址143或以任何其它适当的方式来识别像素141。指令140中识别的像素可以是像素检测器阵列110中的像素检测器112的期望集合，数据处理系统108将使用来自其的像素数据124生成图像132。图像数据144可包括从指令140中限定的像素检测器112的集合获得的像素数据124。图像数据144可按照方便图像处理134使用的格式被提供给数据处理系统108以生成图像132。
图像检测器控制器102可被配置为执行图像检测器控制功能145以根据从数据处理系统108接收的指令140来控制图像检测器104。下面参照图5和图6更详细地描述图像检测器控制器102以及由其执行的图像检测器控制功能145的一个可能实现方式的示例。
图像检测器读出电路106提供图像检测器控制器102与图像检测器104之间的接口。图像检测器读出电路106可包括多个像素检测器读出电路146，其针对像素检测器阵列110中的每个像素检测器116包括一个像素检测器读出电路148。下面参照图4更详细地描述像素检测器读出电路148的示例实现方式。
图1中的无帧随机存取图像传感器系统100的例示并不意味着暗示对例示性实施方式可实现的方式的物理或架构限制。除了或代替所示的组件，可使用其它组件。一些组件可为可选的。此外，呈现了方框以示出一些功能组件。当在例示性实施方式中实现时，这些方框中的一个或更多个可被组合、分割或者组合并分割成不同的方框。
转向图2，根据例示性实施方式描绘了无帧随机存取图像传感器集成电路芯片的例示。芯片轮廓200示出图1中的无帧随机存取图像传感器系统100的图像检测器控制器102的信号接口的一个实现方式的示例。
根据例示性实施方式的图像检测器的接口可类似于计算机、相机、移动电话和FPGA以及许多其它电子装置中所使用的标准DDR存储器。根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器系统可构建有这种类型的接口并且物理上使用与DDR3RAM相同类型的信号和形状因子。提供进出芯片200的各种信号可模仿存在于标准存储器中的类似信号。
读写使能202可以是使得在规定的地址处发生读取或写入的信号。
读/写选择204可选择是进行读取还是写入。
读/写地址线206可识别读取或写入的像素地址。在此示例中，这些线用于两个目的。
读数据线208是作为I/O接口的一部分具有选定数量的像素的传感器和标签数量的线。
写数据线210是将各个像素的控制数据发送到无帧随机存取图像传感器系统的线。
输出地址线212是为正输出的各个像素值生成输出像素地址的线。这用作直接存储器存取以将值存储到控制无帧随机存取图像传感器系统的处理器的存储器中。
时钟214是生成与将处理器与传感器接口关联的外部接口时钟以及控制像素和相关传感器功能的内部积分时钟二者的全局时钟信号。
转向图3，根据例示性实施方式描绘了无帧随机存取图像传感器系统的图像检测器的实施方式的框图的例示。图像检测器300是图1中的图像检测器104的一个实现方式的示例。
根据例示性实施方式，图像检测器300优选每像素304包括一个模数转换器302。这可按照单芯片形式或多芯片形式实现。例如而非限制，图像检测器300可包括数字焦平面阵列(DFPA)架构，其可通过执行像素内信号数字化来克服传统模拟焦平面阵列的限制。DFPA允许更大的动态范围、更快的低噪全数字读出和芯片上处理，以便于降低传感器SwaP和开发新型感测形态。该技术方法通过采用简单、紧凑电路(例如，低功率模数转换电路以及低功率计数器和移位寄存器)来允许低于20mm间距的低功率设计。例示性实施方式可使用每像素304包括一个模数转换器302的任何适当的图像检测器架构。
转向图4，根据例示性实施方式描绘了无帧随机存取图像传感器系统的像素检测器读出电路的例示。像素检测器读出电路400是图1中的像素检测器读出电路148的一个实现方式的示例。
为了允许本文所描述的特征，各个像素可具有实现所描述的功能的关联的电路。光传感器402是生成与入射在该像素上的光信号成比例的信号的像素传感器。积分ADC 404是创建入射在光传感器402上的信号的数字测量的电路。
输出FIFO 406是存储积分ADC 404的结果并在读请求被延迟的情况下提供缓冲的先入先出存储器。当请求时，将从FIFO 406提取结果并将其被发送到图像检测器控制器内的读控制功能。
当利用正确的行和列地址选择其自己的像素并且读使能为真时，此像素？408转发部分控制数据。也可在此方框中实现多平面存取。如果多平面存取被打开并且此像素在行和列地址的特定距离(多平面邻近距离)内并且读使能为真，则此方框还将部分控制数据转发给邻接功能。
当时钟计数值等于来自控制数据的存储的开始计数时，时钟＝开始计数？410发送开始ADC积分信号和开始计数器信号。
当曝光计数器值等于来自控制数据的存储的开始计数时，计数＝积分计数？412发送停止ADC积分信号和重启计数器信号
重置信号(未示出)将使得重置像素中的所有存储值并停止所有计数器。开始信号(也未示出)将启动时钟计数器并打开测试输入的电路。可使用重置和开始以打开和关闭像素处理以便省电。
转向图5，根据例示性实施方式描述了无帧随机存取图像传感器系统的图像检测器控制功能的框图的例示。图像检测器控制功能500可以是图1中的图像检测器控制器102中实现的图像检测器控制功能145的一个实现方式的示例。
图像检测器控制功能500基于来自外部处理器的输入来控制图像检测器。处理器使用行和列地址来通信以控制FRAIS，但是使用线性存储器地址将像素数据直接接收到存储器中。这在图像处理如何查看图像传感器(使用行和列)与数据如何存储在处理器存储器中(使用线性地址)之间提供了方便的平衡。为了将控制数据发送到FRAIS，可使用选定的不存在的行和列地址以便将控制数据的各种项写到固件中，以提供控制图像传感器所需的设定。本文中仅描述FRAIS相对于典型相机所具有的新特征所特定的控制数据。对于本领域技术人员而言，实际实现方式所需要或期望的其它项(包括感兴趣的区域、像素格式、颜色选项等)将是已知的。
如果行、列对应于固件地址范围，则固件范围内的行、列地址决策方框502将控制数据发送到固件。否则，控制数据被发送到读控制方框和像素阵列信号方框。
生成像素阵列信号方框504为像素阵列创建恰当的信号以在写使能信号指示数据的有效性的情况下将像素控制数据发送到正确的像素。
生成线性地址方框506转换来自读控制508的输出FIFO的行和列地址以及像素数据和时钟计数，并形成包含在各个计算的线性地址处存储的像素数据+时钟标签的输出数据字。计算可按照多种不同的方式进行，一种标准方法是线性地址＝(row*(#cols)+col)*(输出数据宽度)+起始地址。输出数据宽度取决于根据图像传感器的类型而广泛地变化的像素格式。
固件方框510获取控制数据并基于控制数据来执行命令。因此，可重置FRAIS传感器，改变时钟频率等。固件方框510的第二个任务是在上电时为所有FRAIS控制块和各个像素设置默认值。这种设置通常使得当首次打开电源时图像传感器在默认单帧模式下将作为普通图像传感器操作。可使用其它设置默认。
转向图6，根据例示性实施方式描绘了无帧随机存取图像传感器的读控制功能的例示。读控制600是图5中的读控制508的一个实现方式的示例。
读控制功能600由包含从ROIC读出的像素数据的读请求循环缓冲器602以及控制电路组成。其功能是读取准备好数据的各个像素，更新其读取调度，并且用作写出接口的缓冲器以使得两个不同的时钟机制可在不损失数据的情况下操作。
读调度器604通过读请求循环缓冲器602来循环，从而读出下一个可用读请求并将读使能连同其行和列地址一起发送到像素阵列。具体地讲，读调度器604针对等待时间值中的时钟数进行等待，然后将与各个读取对应的行和列信号连同读使能信号一起发送出。这使得选定像素将其最早可用的缓冲的输出值连同对应行和列地址一起发送到输出FIFO缓冲器606。同时，如果#times计数为正，则读调度器604向调度更新器608发送新的读请求，在这种情况下，等待时间、行值和列值相同并且#times＝#times-1。如果#times为负，则读调度器604发送新的读请求，其所有值与当前读请求相同。如果#times为零，则不进行这种请求。最后，在下一时钟，前进至缓冲器中的下一条目。
调度更新器608也在读请求循环缓冲器602上操作，但其任务是将值更新(写)到缓冲器。这与读调度器604读出读请求同时发生。因此，读请求循环缓冲器602通常被实现为具有以循环方式操作的读和写指针的双读/写存储器块。调度更新器的输入的三个不同的来源是：行、列和控制数据的处理器(外部)输入；(等待时间、行、列、#times)的读调度器输入；以及(等待时间、行、列、#times)的默认值。
调度更新器608通过其三个输入源循环，并将(等待时间、行、列、#times)值插入在循环缓冲器的末尾处。在第一类型的输入的情况下，当处理器通过其与FRAIS的存储器接口为(行,列)位置处的像素设定开始和持续时间(曝光或积分)计数(作为控制数据的一部分)时，还向调度更新器608发送消息。持续时间计数减一将连同行和列地址一起被放入缓冲器中的等待时间值中。值#times(也是控制数据的一部分)也将被插入。最后，控制数据还可包括多平面存取请求和邻域的大小。在这种情况下，调度更新器还将所有邻近(行,列)像素插入在读请求循环缓冲器中，其中等待时间为零并且#times与控制数据中相同。来自读调度器的第二项将被原样插入。第三项(来自固件的默认值)也将被原样插入，并且通常将来自实现标准的基于单帧的存取方法的存储值的集合，以使得图像传感器将按照标准配置从电源重置开始。
转向图7，根据例示性实施方式描绘了无帧随机存取图像传感器的操作的时间线的例示。时间线700可实现于例如图1中的无帧随机存取图像传感器系统100中。
在时间线700中，帧周期702是指从包括帧的像素检测器阵列中的像素检测器获得像素数据的时间周期。曝光积分时间周期704是指阵列中的像素检测器对来自像素检测器中的光传感器的输出进行积分的时间周期。消隐周期706是连续帧的积分时间周期之间的时间周期，期间不进行积分。像素输出时间周期708是指由阵列中的像素检测器生成的像素数据从像素检测器读出的时间周期。
在时间线700中，阵列中的各个像素检测器的积分周期相同。阵列中的一个像素检测器的积分周期可在阵列中的另一个像素检测器的积分周期一完成就开始。在像素检测器的积分周期完成之后从各个像素检测器读出像素数据。例如，如所示，在阵列中的另一像素检测器的积分周期正在进行的同时或者在消隐周期706期间，可从阵列中的像素检测器读取像素数据。
例如而非限制，在阵列中的第一像素检测器的积分周期712完成之后，阵列中的第二像素检测器的积分周期710可开始。可在与第二像素检测器的积分时间周期710对应的时间周期714期间从第一像素检测器读取像素数据。
如时间线700中所示，在根据例示性实施方式的无帧随机存取图像传感器系统中，阵列中的单独的像素检测器的积分一完成就可从其读取像素数据。这与传统图像传感器形成对比，在传统图像传感器中在进行积分的帧之后的帧中读出来自阵列中的所有像素检测器的像素数据。
转向图8，根据例示性实施方式描绘了无帧随机存取图像传感器的操作的另一时间线的例示。时间线800可实现于例如图1中的无帧随机存取图像传感器系统100中。
在时间线800中，帧周期802是指从包括帧的像素检测器阵列中的像素检测器获得像素数据的时间周期。曝光积分时间周期804是指阵列中的像素检测器对来自像素检测器中的光传感器的输出进行积分的时间周期。消隐周期806是连续帧的积分时间周期之间的时间周期，期间不进行积分。像素输出时间周期808是指由阵列中的像素检测器生成的像素数据从像素检测器读出的时间周期。
时间线800示出阵列中的各个像素检测器的积分周期可不同并且可从帧到帧改变。例如而非限制，阵列中的第一像素检测器的积分周期810可以是一个帧周期802期间的持续时间中的10个时间单位，并且第一像素检测器的曝光积分时间周期812可以是下一帧周期814期间的持续时间中的100个时间单位。阵列中的第二像素检测器的积分周期816可以是一个帧802期间的持续时间中的20个时间单位，并且第二像素检测器的积分时间818可以是下一帧周期814期间的持续时间中的10个时间单位。
转向图9，根据例示性实施方式描绘了数据处理系统的框图的例示。数据处理系统900是图1中的无帧随机存取图像传感器系统100的数据处理系统108的一个可能实现方式的示例。
在此例示性示例中，数据处理系统900包括通信结构902。通信结构902提供处理器单元904、存储器906、持久性存储装置908、通信单元910、输入/输出(I/O)单元912和显示器914之间的通信。存储器906、持久性存储装置908、通信单元910、输入/输出(I/O)单元912和显示器914是处理器单元904可经由通信结构902访问的资源的示例。
处理器单元904用于运行可被加载到存储器906中的软件的指令。根据特定实现方式，处理器单元904可以是若干处理器、多处理器核心或者一些其它类型的处理器。此外，处理器单元904可使用若干异构处理器系统来实现，其中主处理器随辅处理器存在于单个芯片上。作为另一例示性示例，处理器单元904可以是包含相同类型的多个处理器的对称多处理器系统。
存储器906和持久性存储装置908是存储装置916的示例。存储装置是能够暂时地或永久地存储诸如(例如而非限制)数据、功能形式的程序代码以及其它合适信息的信息的任何硬件。在这些示例中，存储装置916也可被称为计算机可读存储装置。在这些示例中，存储器906可以是例如随机存取存储器或者任何其它合适的易失性或非易失性存储装置。根据特定实现方式，持久性存储装置908可采取各种形式。
例如，持久性存储装置908可包含一个或更多个组件或装置。例如，持久性存储装置908可以是硬盘驱动器、闪存、可重写光盘、可重写磁带或者上述的一些组合。持久性存储装置908所使用的介质也可以是可移除的。例如，可移除硬盘驱动器可用于持久性存储装置908。
在这些示例中，通信单元910提供用于与其它数据处理系统或装置通信。在这些示例中，通信单元910是网络接口卡。通信单元910可通过使用物理和有线通信链路中的一者或二者来提供通信。
输入/输出(I/O)单元912允许与可连接到数据处理系统900的其它装置的数据输入和输出。例如，输入/输出(I/O)单元912可通过键盘、鼠标和/或一些其它合适的输入装置来提供用于用户输入的连接。此外，输入/输出(I/O)单元912可将输出发送到打印机。显示器914提供将信息显示给用户的机制。
用于操作系统、应用和/或程序的指令可位于存储装置916中，存储装置916通过通信结构902与处理器单元904通信。在这些例示性示例中，指令为持久性存储装置908上的功能形式。这些指令可被加载到存储器906中以便于处理器单元904执行。可由处理器单元904使用可位于存储器(例如，存储器906)中的计算机实现的指令来执行不同实施方式的处理。
这些指令被称为程序指令、程序代码、计算机可用程序代码或计算机可读程序代码，其可由处理器单元904中的处理器读取和执行。不同实施方式中的程序代码可在不同的物理或计算机可读存储介质(例如，存储器906或持久性存储装置908)上具体实现。
程序代码918以功能形式位于可选择性地移除的计算机可读介质920上，并且可被加载到或传送到数据处理系统900以便于由处理器单元904执行。在这些示例中，程序代码918和计算机可读介质920形成计算机程序产品922。在一个示例中，计算机可读介质920可以是计算机可读存储介质924或计算机可读信号介质926。
例如，计算机可读存储介质924可包括光盘或磁盘，其被插入或置于驱动器或者作为持久性存储装置908的一部分的其它装置中以便于传送到作为持久性存储装置908的一部分的存储装置(例如，硬盘驱动器)上。计算机可读存储介质924还可采取连接到数据处理系统900的持久性存储装置(例如，硬盘驱动器、拇指驱动器或闪存)的形式。在一些情况下，计算机可读存储介质924可不可从数据处理系统900移除。
在这些例中，计算机可读存储介质924是用于存储程序代码918的物理或有形存储装置，而非传播或发送程序代码918的介质。计算机可读存储介质924也被称为计算机可读有形存储装置或计算机可读物理存储装置。换言之，计算机可读存储介质924是人可触摸的介质。
另选地，程序代码918可使用计算机可读信号介质926被传送到数据处理系统900。计算机可读信号介质926可以是例如包含程序代码918的传播数据信号。例如，计算机可读信号介质926可以是电磁信号、光学信号和/或任何其它合适类型的信号。这些信号可经由诸如无线通信链路、光纤线缆、同轴线缆、导线和/或任何其它合适类型的通信链路的通信链路来发送。换言之，在例示性示例中，通信链路和/或连接可为物理的或无线的。
在一些例示性实施方式中，程序代码918可经由网络从另一装置或数据处理系统通过计算机可读信号介质926下载到持久性存储装置908以便于在数据处理系统900内使用。例如，存储在服务器数据处理系统中的计算机可读存储介质中的程序代码可经由网络从服务器下载到数据处理系统900。提供程序代码918的数据处理系统可以是服务器计算机、客户端计算机或者能够存储和发送程序代码918的一些其它装置。
针对数据处理系统900示出的不同组件并非意在对可实现不同实施方式的方式提供架构限制。不同的例示性实施方式可在包括除了针对数据处理系统900所示的那些组件之外和/或代替那些组件的组件的数据处理系统中实现。图9所示的其它组件可不同于所示的例示性示例。不同的实施方式可使用能够运行程序代码918的任何硬件装置或系统来实现。作为一个示例，数据处理系统900可包括与无机组件集成的有机组件和/或可完全由除人以外的有机组件组成。例如，存储装置可由有机半导体组成。
在另一例示性示例，处理器单元904可采取具有被制造或配置用于特定用途的电路的硬件单元的形式。这种类型的硬件可执行操作而无需从存储装置将被配置为执行所述操作的程序代码加载到存储器中。
例如，当处理器单元904采取硬件单元的形式时，处理器单元904可以是电路系统、专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑装置或者被配置为执行若干操作的一些其它合适类型的硬件。对于可编程逻辑装置，该装置被配置为执行若干操作。该装置可在稍后的时间被重新配置，或者可被永久地配置为执行若干操作。例如，可编程逻辑装置的示例包括可编程逻辑阵列、可编程阵列逻辑、现场可编程逻辑阵列、现场可编程门阵列以及其它合适的硬件装置。对于此类型的实现方式，程序代码918可被省略，因为在硬件单元中实现用于不同实施方式的处理。
在另一例示性示例中，处理器单元904可使用见于计算机中的处理器和硬件单元的组合来实现。处理器单元904可具有若干硬件单元和若干处理器，其被配置为运行程序代码918。对于所描绘的该示例，一些处理可在若干硬件单元中实现，而其它处理可在若干处理器中实现。
在另一示例中，总线系统可用于实现通信结构902并且可由诸如系统总线或输入/输出总线的一种或更多种总线组成。当然，总线系统可使用提供用于附接到总线系统的不同组件或装置之间的数据传送的任何合适类型的架构来实现。
另外，通信单元910可包括发送数据、接收数据或者发送并接收数据的若干装置。例如，通信单元910可以是调制解调器或网络适配器、两个网络适配器或者其一些组合。此外，例如，存储器可以是存储器906或者诸如见于接口和存储器控制器集线器(可存在于通信结构902中)中的高速缓存。
本文所描述的流程图和框图示出了根据各种例示性实施方式的系统、方法和计算机程序产品的可能实现方式的架构、功能和操作。在这方面，流程图或框图中的各个方框可表示包括用于实现指定的逻辑功能的一个或更多个可执行指令的模块、片段或部分代码。还应该注意的是，在一些另选实现方式中，方框中所提到的功能可不按图中所提到的顺序发生。例如，根据所涉及的功能，连续示出的两个方框的功能可基本上同时执行，或者方框的功能有时可按照相反的顺序执行。
已出于例示和描述的目的呈现了不同例示性实施方式的描述，并且不旨在为穷尽性的或限于所公开的形式的实施方式。对于本领域普通技术人员而言，许多修改和变化将是显而易见的。此外，与其它可取的实施方式相比，不同的例示性实施方式可提供不同的特征。所选择的实施方式被选择并描述以便最佳地解释实施方式的原理、实际应用，并且使本领域普通技术人员能够理解各种实施方式的公开以及适于所想到的特定用途的各种修改。
注释：以下段落描述了本公开的另外的方面：
A1.一种设备，该设备包括：
图像检测器控制器(102)，其被配置为对包括像素检测器阵列(110)的图像检测器(104)中的单独的像素检测器(116)进行寻址以控制该像素检测器(116)的积分(122)并从该像素检测器(124)读取像素数据(124)；
图像检测器控制器(102)的计算机接口(138)，其中，图像检测器控制器(102)被配置为经由计算机接口(138)从数据处理系统(108)接收从图像检测器(104)获得图像数据(144)的指令(140)并且经由计算机接口(138)将图像数据(144)发送到数据处理系统(108)；以及
用于像素检测器阵列(110)中的各像素检测器(116)的像素检测器读出电路(148)，其中，图像检测器控制器(102)被配置为通过将积分值写到用于像素检测器(116)的像素检测器读出电路(148)中来控制像素检测器(116)的积分(122)。
A2.根据段落A1所述的设备，该设备还包括图像检测器(104)，其包括像素检测器阵列(110)，其中，像素检测器阵列(110)包括焦平面阵列(114)。
A3.根据段落A1所述的设备，该设备还包括图像检测器(104)，其包括像素检测器阵列(110)，其中，像素检测器阵列(110)中的各个像素检测器(116)包括光传感器(118)和积分模数转换器(120)。
A4.根据段落A1所述的设备，其中，图像检测器控制器(102)被配置为控制像素检测器(116)的积分时间(126)和像素检测器(116)的积分周期(128)。
A5.根据段落A1所述的设备，其中，计算机接口(138)包括直接存储器存取接口(139)。

Claims (15)

1.一种随机存取图像感测的方法，该方法包括以下步骤：
接收识别像素检测器阵列(110)中的像素检测器(116)的指令(140)以及针对所述像素检测器(116)的积分指令(142)；
如所述积分指令(142)所规定的那样控制所述像素检测器(116)的积分(122)，以由所述像素检测器(116)生成像素数据(124)；以及
从所述像素检测器(116)读取所述像素数据(124)。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述像素检测器阵列(110)包括焦平面阵列(114)。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述像素检测器阵列(110)中的各像素检测器(116)包括光传感器(118)和积分模数转换器(120)。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，接收识别所述像素检测器(116)的指令(140)的步骤包括：在地址线(206)上接收识别所述像素检测器(116)的地址(143)。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，控制所述像素检测器(116)的积分(122)的步骤包括：控制积分时间(126)和积分周期(128)。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，控制所述像素检测器(116)的积分(122)的步骤包括：将积分值写到用于所述像素检测器(116)的像素检测器读出电路(148)中。
7.根据权利要求1所述的方法，其中：
接收识别所述像素检测器阵列(110)中的所述像素检测器(116)的指令(140)的步骤包括：接收识别所述像素检测器阵列(110)中的所述像素检测器(116)以及距所述像素检测器(116)的距离(131)的指令(140)；
如所述积分指令(140)所规定的那样控制所述像素检测器阵列(110)中的距所述像素检测器(116)在所述距离(131)内的多个像素检测器(112)的积分(122)，以由所述多个像素检测器(112)生成所述像素数据(124)；以及
从所述多个像素检测器(112)读取所述像素数据(124)。
8.根据权利要求1所述的方法，该方法还包括以下步骤：
在第一帧周期(802)期间控制所述像素检测器阵列(110)中的第一像素检测器(116)在第一积分周期(810)内的积分(122)以生成第一像素数据(124)；
在所述第一帧周期(802)期间控制所述像素检测器阵列(110)中的第二像素检测器(116)在第二积分周期(816)内的积分(122)以生成第二像素数据(124)，其中，所述第二积分周期(816)不同于所述第一积分周期(810)；
在第二帧周期(814)期间控制所述像素检测器阵列(110)中的所述第一像素检测器(116)在第三积分周期(812)内的积分(122)以生成第三像素数据(124)，其中，所述第三积分周期(812)不同于所述第一积分周期(810)；以及
从所述第一像素检测器(116)读取所述第一像素数据(124)和所述第三像素数据(124)，并且从所述第二像素检测器(116)读取所述第二像素数据(124)。
9.一种设备，该设备包括：
图像检测器控制器(102)，该图像检测器控制器(102)被配置为从数据处理系统(108)接收识别像素检测器阵列(110)中的像素检测器(116)的指令(140)以及针对所述像素检测器(116)的积分指令(142)，如所述积分指令(142)所规定的那样控制所述像素检测器(116)的积分(122)以由所述像素检测器(116)生成像素数据(124)，并且将所述像素数据(124)从所述像素检测器(116)发送到所述数据处理系统(108)。
10.根据权利要求9所述的设备，该设备还包括图像检测器(104)，该图像检测器(104)包括所述像素检测器阵列(110)，其中，所述像素检测器阵列(110)包括焦平面阵列(114)。
11.根据权利要求9所述的设备，该设备还包括图像检测器(104)，该图像检测器(104)包括所述像素检测器阵列(110)，其中，所述像素检测器阵列(110)中的各像素检测器(116)包括光传感器(118)和积分模数转换器(120)。
12.根据权利要求9所述的设备，其中，所述图像检测器控制器(102)被配置为控制所述像素检测器(116)的积分时间(126)和所述像素检测器(116)的积分周期(128)。
13.根据权利要求9所述的设备，该设备还包括所述图像检测器控制器(102)的计算机接口(138)，其中，所述图像检测器控制器(102)被配置为经由所述计算机接口(138)从所述数据处理系统(108)接收所述指令(140)并且经由所述计算机接口(138)将所述像素数据(124)作为图像数据(144)发送到所述数据处理系统(108)。
14.根据权利要求13所述的设备，其中，所述计算机接口(138)包括直接存储器存取接口(139)。
15.根据权利要求9所述的设备，该设备还包括用于所述像素检测器阵列(110)中的各像素检测器(116)的像素检测器读出电路(148)，并且其中，所述图像检测器控制器(102)被配置为通过将积分值写到用于所述像素检测器(116)的所述像素检测器读出电路(148)中来控制所述像素检测器(116)的积分(122)。
CN201811351967.9A 2017-11-16 2018-11-14 随机存取图像感测的方法和设备 Active CN109803073B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/814,803 US10540733B2 (en) 2017-11-16 2017-11-16 Frameless random-access image sensing
US15/814,803 2017-11-16

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109803073A true CN109803073A (zh) 2019-05-24
CN109803073B CN109803073B (zh) 2021-11-12

Family

ID=64331691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811351967.9A Active CN109803073B (zh) 2017-11-16 2018-11-14 随机存取图像感测的方法和设备

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10540733B2 (zh)
EP (1) EP3487164A1 (zh)
JP (1) JP7405505B2 (zh)
KR (1) KR102544622B1 (zh)
CN (1) CN109803073B (zh)
AU (1) AU2018253492B2 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA3138215A1 (en) * 2019-06-21 2020-12-24 The Governing Council Of The University Of Toronto Method and system for extending image dynamic range using per-pixel coding of pixel parameters

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995001048A1 (en) * 1993-06-17 1995-01-05 Litton Systems, Inc. Focal plane array imaging device with random access architecture
US20030058356A1 (en) * 2001-09-24 2003-03-27 Dicarlo Jeffrey M. Method for improving SNR in low illumination conditions in a CMOS video sensor system using a self-resetting digital pixel
CN101854489A (zh) * 2010-04-12 2010-10-06 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 实现面阵cmos图像传感器时间延迟积分的装置
CN103916643A (zh) * 2013-01-05 2014-07-09 朱孝艳 一种高速智能线阵彩色ccd相机

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2916620B1 (ja) * 1998-03-19 1999-07-05 東京大学長 サンプリング制御機構搭載型イメージセンサ
JP4365912B2 (ja) 1998-11-18 2009-11-18 キヤノン株式会社 撮像装置及びそれを用いた撮像システム
EP1356665A4 (en) 2000-11-27 2006-10-04 Vision Sciences Inc CMOS IMAGE SENSOR WITH PROGRAMMABLE RESOLUTION
JP4589131B2 (ja) 2005-01-24 2010-12-01 株式会社フォトロン 画像センサおよびその画像読み出し方法
TWI429066B (zh) 2005-06-02 2014-03-01 Sony Corp Semiconductor image sensor module and manufacturing method thereof
US7956914B2 (en) * 2007-08-07 2011-06-07 Micron Technology, Inc. Imager methods, apparatuses, and systems providing a skip mode with a wide dynamic range operation
KR102160120B1 (ko) 2014-03-14 2020-09-25 삼성전자주식회사 샘플링 주기를 제어할 수 있는 샘플링 주기 제어 회로
JP6531986B2 (ja) 2015-01-09 2019-06-19 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 撮像装置、撮像システム、復元装置、撮像方法およびコンピュータプログラム
KR102514137B1 (ko) * 2015-07-24 2023-03-27 소니 세미컨덕터 솔루션즈 가부시키가이샤 이미지 센서, 및, 전자 기기
KR102390836B1 (ko) * 2015-10-05 2022-04-26 삼성전자주식회사 이미지 데이터를 생성하는 전자 장치 및 방법
US10242268B2 (en) * 2017-02-03 2019-03-26 Raytheon Company Pixel-based event detection for tracking, hostile fire indication, glint suppression, and other applications

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995001048A1 (en) * 1993-06-17 1995-01-05 Litton Systems, Inc. Focal plane array imaging device with random access architecture
US20030058356A1 (en) * 2001-09-24 2003-03-27 Dicarlo Jeffrey M. Method for improving SNR in low illumination conditions in a CMOS video sensor system using a self-resetting digital pixel
CN101854489A (zh) * 2010-04-12 2010-10-06 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 实现面阵cmos图像传感器时间延迟积分的装置
CN103916643A (zh) * 2013-01-05 2014-07-09 朱孝艳 一种高速智能线阵彩色ccd相机

Also Published As

Publication number Publication date
AU2018253492B2 (en) 2023-06-29
AU2018253492A1 (en) 2019-05-30
US20190147560A1 (en) 2019-05-16
US10540733B2 (en) 2020-01-21
JP7405505B2 (ja) 2023-12-26
KR20190056326A (ko) 2019-05-24
EP3487164A1 (en) 2019-05-22
KR102544622B1 (ko) 2023-06-15
JP2019092155A (ja) 2019-06-13
CN109803073B (zh) 2021-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105144699B (zh) 阈值监测的有条件重置的图像传感器及其操作方法
TWI281821B (en) Data processing method, data processing apparatus, semiconductor device for detecting physical quantity distribution, and electronic apparatus
US6633335B1 (en) CMOS image sensor with testing circuit for verifying operation thereof
JP6377855B2 (ja) 結像方法、結像装置及び電子装置
JP4928674B2 (ja) 広いダイナミックレンジを達成するための時間インデックス付け方法を用いた多サンプリング方法
CN103986468B (zh) 自适应多转换斜坡模/数转换器
CN109639988A (zh) 电子装置以及自动曝光收敛方法
CN102025979A (zh) 一种基于双dsp的红外视频实时增强显示装置
US10277807B2 (en) Image device and method for memory-to-memory image processing
CN105100601A (zh) 摄像装置及其控制方法和信号处理装置
US7929856B2 (en) Imaging system and method for capturing still image
US9635277B2 (en) Image sensor, image sensing method, and image photographing apparatus including image sensor
US9986163B2 (en) Digital photographing apparatus and digital photographing method
CN110832846B (zh) 像素单元、图像传感器及其运行方法、摄像装置
CN109803073A (zh) 无帧随机存取图像感测
Cadenas et al. Parallel pipelined array architectures for real-time histogram computation in consumer devices
KR20130082047A (ko) 이미지 센서, 이미지 센싱 방법, 그리고 이미지 센서를 포함하는 이미지 촬영 장치
CN111164395B (zh) 光谱成像设备和方法
WO2017101562A1 (zh) 图像传感器及具有其的终端、成像方法
JP5477035B2 (ja) 撮像装置
CN107787580A (zh) 采用相关双取样的光传感器
CN110177199A (zh) 图像传感器芯片、摄像头模组、电子设备以及影像拍摄方法
JP7120180B2 (ja) イメージセンサ
JP2011082634A (ja) 撮像装置
Gallaway et al. The Astronomical Detector

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant