CN109764785B - 精孔孔径检测仪及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种精孔孔径检测仪，包括壳体和千分表，壳体内开设有轴孔，千分表的测杆自开口处伸入轴孔内；壳体内靠近其轴孔封闭端的部位设有轴向对称的一对径向通孔，轴孔内位于其与径向通孔连通的部位设有环形限位块；径向通孔内穿设有浮动测头，浮动测头具有能够伸入轴孔内的抵接部和延伸在径向通孔外部的测量部；浮动测头在径向通孔内能够移动；轴孔内设有能够沿其内壁轴向滑动的楔形滑块，楔形滑块轴向滑动时向上顶推测杆或者远离测杆下落至轴孔底部；浮动测头向轴孔方向移动时，其抵接部向楔形滑块施力，使得楔形滑块向测杆方向滑动。本发明的精孔孔径检测仪，使用后能够降低测量精孔孔径的难度，保护内孔孔壁防止划伤，提高检测效率。

Description

精孔孔径检测仪及其检测方法

技术领域

本发明涉及机加工技术领域，具体涉及一种精孔孔径检测仪，还涉及一种使用该检测仪进行精孔孔径检测的方法。

背景技术

在机械加工中会遇到很多精度较高的孔径，公差带通常在0.02mm以内，批量生产时需对每件产品的孔径进行测量。传统方式进行精孔测量，会先制作出一个孔径上差的轴称为止规，与一个孔径下差的轴，称为通规。测量时通规能塞进孔径内，止规塞不进孔径内为合格产品，反之为不合格产品。这种测量方式测量孔径时，通规塞入孔内由于公差较小，在塞入时需使通规和孔在同一轴线上才能顺利塞入，如果轴线不正会塞不进去，极易造成误判孔径不合格。并且在塞入和拔出过程中会造成孔壁划伤，然而精孔孔壁光洁度要求都比较高，这样就会造成产品报废。整个测量过程都需非常小心，如果产品批量较大，整个测量过程会非常费时费力。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种精孔孔径检测仪，使用后能够降低测量精孔孔径的难度，保护内孔孔壁防止划伤，提高检测效率。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种精孔孔径检测仪，包括壳体和千分表，所述壳体内开设有一端封闭一端开口的轴孔，所述千分表的测杆自所述开口处伸入所述轴孔内；所述壳体内靠近其轴孔封闭端的部位设有轴向对称的一对径向通孔，所述径向通孔自壳体的外壁径向贯通至其轴孔，所述轴孔内位于其与径向通孔连通的部位设有环形限位块；所述径向通孔内穿设有浮动测头，所述浮动测头具有能够伸入轴孔内的抵接部和延伸在径向通孔外部的测量部，所述测量部为半球形结构；所述浮动测头在径向通孔内能够移动；所述浮动测头上一体成型有环形凸台，所述浮动测头向轴孔方向移动时所述环形限位块与环形凸台配合限制其径向移动的终点位置；所述浮动测头上套设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的一端抵接环形凸台，其另一端抵接径向通孔内的环形轴套；所述轴孔内设有能够沿其内壁轴向滑动的楔形滑块，所述楔形滑块轴向滑动时向上顶推所述测杆或者远离所述测杆下落至所述轴孔底部；所述浮动测头向轴孔方向移动时，其抵接部向所述楔形滑块施力，使得所述楔形滑块向测杆方向滑动。

本发明一个较佳实施例中，进一步包括所述浮动测头具有分体设置的内浮动测头和外浮动测头，所述内浮动测头伸入径向通孔内设置，所述外浮动测头能够拆卸的固定在内浮动测头的端部上；所述抵接部配置在内浮动测头上，所述测量部配置在外浮动测头上。

本发明一个较佳实施例中，进一步包括所述内浮动测头上配置有螺纹孔，所述外浮动测头上配置有螺柱；或者所述内浮动测头上配置有螺柱、所述外浮动测头上配置有螺纹孔，所述内浮动测头和外浮动测头通过螺纹孔和螺柱螺纹配合固定连接。

本发明一个较佳实施例中，进一步包括所述壳体底部能够拆卸的固定有环形底座，所述壳体底部径向延伸的长度小于环形底座径向延伸的长度。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种精孔孔径检测仪，包括壳体和千分表，所述壳体内开设有一端封闭一端开口的轴孔，所述千分表的测杆自所述开口处伸入所述轴孔内；所述壳体内靠近其轴孔封闭端的部位设有轴向对称的一对径向通孔，所述径向通孔自壳体的外壁径向贯通至其轴孔，所述轴孔内位于其与径向通孔连通的部位设有环形限位块；所述径向通孔内穿设有浮动测头，所述浮动测头具有能够伸入轴孔内的抵接部和延伸在径向通孔外部的测量部，所述测量部为半球形结构；所述浮动测头在径向通孔内能够移动；所述浮动测头上一体成型有环形凸台，所述浮动测头向轴孔方向移动时所述环形限位块与环形凸台配合限制其径向移动的终点位置；所述浮动测头上套设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的一端抵接环形凸台，其另一端抵接径向通孔内的环形轴套；所述轴孔内设有能够沿其内壁轴向滑动的楔形滑块，所述楔形滑块轴向滑动时向上顶推所述测杆或者远离所述测杆下落至所述轴孔底部；所述浮动测头向轴孔方向移动时，其抵接部向所述楔形滑块施力，使得所述楔形滑块向测杆方向滑动；

其还包括检测校准组件；所述检测校准组件包括校准环或一对校准块，所述一对校准块具有与所述测量部外形结构相匹配的结构；所述一对校准块通过安装座固定在所述壳体上，所述校准环或所述一对校准块与所述一对浮动测头的两所述测量部配合使用。

本发明一个较佳实施例中，进一步包括所述安装座包括安装轴套、第一移动轴和第二移动轴；所述安装轴套固定在壳体上，所述安装轴套沿平行于所述径向通孔的轴线方向延伸；所述第一移动轴能够沿安装轴套延伸方向移动的固定在所述安装轴套上；所述第一移动轴的尾端设有装配孔，所述第二移动轴能够上升或者下降的与所述装配孔装配；所述一对校准块安装在第二移动轴的自由端。

本发明一个较佳实施例中，进一步包括所述一对校准块均配置有导向块，所述导向块连接在所述校准块的端部。

本发明一个较佳实施例中，进一步包括所述安装轴套的内壁上设有多个楔形凹槽，所述多个楔形凹槽沿安装轴套的延伸方向依次间隔设置；所述第一移动轴上设有楔形弹性卡块，所述楔形弹性卡块与楔形凹槽相配合，所述楔形弹性卡块卡入楔形凹槽内使得第一移动轴固定在安装轴套内。

本发明一个较佳实施例中，进一步包括所述多个楔形凹槽和楔形弹性卡块均依次间隔5mm设置。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种精孔孔径检测方法，使用以上结构的检测仪，其检测步骤包括，

（1）选取检测标准：取目标内径的校准环、或者调整一对校准块之间的间距至目标尺寸，校准环的直径为Φ，或者一对校准块之间的间距为Φ；

（2）校准检测仪：将所述检测仪的一对浮动测头放入校准环内或者一对校准块之间，摆动所述检测仪，在所述千分表的最小数值时调零，完成所述检测仪的校准；

（3）检测精孔孔径：使用已经校准后的检测仪测量精孔孔径，将所述检测仪的一对浮动测头放入待测孔内，所述待测孔的内壁挤压所述浮动测头，使得所述浮动测头驱动楔形滑块向测杆移动并顶推所述测杆，摆动所述检测仪，读取所述千分表的最小数值θ；

（4）根据公式一计算所述待测孔的直径Φ＇：Φ＇=Φ+θ （公式一）。

本发明的有益效果：

现有技术在进行孔径测量时，需要操作人员能够熟练操作准确对准孔径中心，非常耗费时间，而且容易划伤孔壁。使用本申请的孔径检测仪后，操作过程简单，只需将检测仪的一对浮动测头放入孔内左右摆动，两侧浮动测头使检测仪自动找正在孔径中心位置，读取千分表数值，便可完成孔径测量，整个过程无需担心孔壁划伤，读取数值准确，使用后能够降低测量精孔孔径的难度，提高检测效率。

附图说明

图1是本发明第一实施例中精孔孔径检测仪的剖视结构示意图；

图2是本发明第一实施例中浮动测头的优选结构示意图；

图3是本发明第二实施例中精孔孔径检测仪的结构示意图；

图4是本发明第三实施例中精孔孔径检测仪的结构示意图；

图5是本发明第三实施例中安装轴套的结构示意图；

图6是本发明第三实施例中隐去安装轴套后的壳体结构示意图。

图中标号说明：1-校准环，2-壳体，4-千分表，6-轴孔，8-测杆，10-径向通孔，12-环形限位块，14-浮动测头，16-抵接部，18-测量部，20-环形凸台，22-缓冲弹簧，24-环形轴套，26-楔形滑块，28-内浮动测头，30-外浮动测头，32-环形底座，34-校准环，36-校准块，38-安装轴套，40-第一移动轴，42-第二移动轴，44-导向块，46-楔形凹槽，48-楔形弹性卡块。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。

实施例一

如图1所示，本实施例公开一种精孔孔径检测仪，包括壳体2和千分表4，上述壳体2内开设有一端封闭一端开口的轴孔6，上述千分表4的测杆8自上述开口处伸入上述轴孔6内；上述壳体2内靠近其轴孔6封闭端的部位设有轴向对称的一对径向通孔10，上述径向通孔10自壳体2的外壁径向贯通至其轴孔6，上述轴孔6内位于其与径向通孔10连通的部位设有环形限位块12；上述径向通孔10内穿设有浮动测头14，上述浮动测头14具有能够伸入轴孔6内的抵接部16和延伸在径向通孔10外部的测量部18，上述测量部18为经过抛光后的半球形结构，抛光后的半球形结构能够避免浮动测头14与待测精孔接触时损伤；上述浮动测头14在径向通孔10内能够移动；上述浮动测头14上一体成型有环形凸台20，上述浮动测头14向轴孔6方向移动时上述环形限位块12与环形凸台20配合限制其径向移动的终点位置；上述浮动测头14上套设有缓冲弹簧22，上述缓冲弹簧22的一端抵接环形凸台20，其另一端抵接径向通孔10内的环形轴套24；上述轴孔6内设有能够沿其内壁轴向滑动的楔形滑块26，上述楔形滑块26轴向滑动时向上顶推上述测杆8或者远离上述测杆8下落至上述轴孔6底部；上述浮动测头14向轴孔6方向移动时，其抵接部16向上述楔形滑块26施力，使得上述楔形滑块26向测杆8方向滑动。

以上结构的精孔孔径检测仪，初始状态下：楔形滑块26在自身重力作用下位于轴孔6的底部，此时楔形滑块26脱离测杆8，且楔形滑块26施力向径向通孔10的外侧出口方向推动一对浮动测头14。根据实际使用情况，设计一对浮动测头之间的直线间距，使得在初始状态下一对浮动测头之间的直线间距大于待测孔的直径。浮动测头14向径向通孔10出口方向移动过程中，环形轴套24与环形凸台20配合对浮动测头14的移动构成限位，避免浮动测头14从径向通孔10中移出。

检测状态下：检测仪的一对浮动测头14伸入待测孔内，此时待测孔的内壁挤压上述浮动测头14，使得上述浮动测头14向轴孔6方向移动，从而驱动楔形滑块26向测杆8移动并顶推上述测杆8，从千分表4表盘中直接读取的数值与待测孔的直径相关。

为了精确的测量精孔孔径，本申请的检测仪需要配合具有标准孔的校准环使用，其检测过程如下:

（1）取目标内径的校准环,校准环的直径为Φ；

（2）将上述检测仪的一对浮动测头14放入校准环内，摆动上述检测仪，在上述千分表的最小数值时调零，完成上述检测仪的校准；

（3）将已经校准后的检测仪的一对浮动测头14放入待测孔内，此时待测孔的内壁挤压上述浮动测头14，使得上述浮动测头14向轴孔6方向移动，从而驱动楔形滑块26向测杆8移动并顶推上述测杆8，摆动上述检测仪，读取上述千分表的最小数值θ；

（4）根据公式一计算上述待测孔的直径Φ＇：Φ＇=Φ+θ （公式一）。

以上结构的检测仪，实际使用时，要求在初始态下一对浮动测头14之间的直线间距大于待测孔的直径，而待测的精孔的孔径有大有小，为了一套检测仪能够对应多种孔径大小的精孔都能检测孔径使用，本实施例技术方案中，如图2所示，上述浮动测头14具有分体设置的内浮动测头28和外浮动测头30，上述内浮动测头28伸入径向通孔10内设置，上述外浮动测头30能够拆卸的固定在内浮动测头28的端部上；上述抵接部16配置在内浮动测头28上，上述测量部18配置在外浮动测头30上。在其中一个实施例中，根据不同孔径的精孔，通过更换不同长度的外浮动测头30，使得一套检测仪能够对应多种孔径的精孔检测适用。在另外一个优选的实施例中，上述一套内浮动测头28和一套外浮动测头30即可适用于多种孔径的精孔检测，其实现的具体结构如下：

上述内浮动测头28上配置有螺纹孔，上述外浮动测头30上配置有螺柱；或者上述内浮动测头28上配置有螺柱、上述外浮动测头30上配置有螺纹孔，上述内浮动测头28和外浮动测头30通过螺纹孔和螺柱螺纹配合固定连接。通过转动外浮动测头30即可改变外浮动测头30露出径向通孔向外延伸的的长度，以此来改变一对浮动测头30之间的间距，使得一套内浮动测头28和一套外浮动测头30即可适用于多种孔径的精孔检测。

考虑一对浮动测头28之间的间距改变后，尤其是一对浮动测头28之间的间距增大后，为了提高浮动测头28与待测孔和校准环接触时的稳定性，上述壳体2底部能够拆卸的固定有环形底座32，上述壳体2底部径向延伸的长度小于环形底座32径向延伸的长度。外接的环形底座32能够延长壳体2底部的宽度，使得一对浮动测头28之间的间距增大后能够稳定的接触待测孔和校准环的内壁。实际使用时，上述壳体2的底部外部上加工螺纹段，环形底座32内开设盲孔，且盲孔内壁加工螺纹段，壳体2底部整体放在盲孔内，壳体2通过螺纹配合的固定在盲孔内。

实施例二

如图3所示，本实施例公开了一种精孔孔径检测仪，包括壳体2、千分表4和校准环34，上述壳体2内开设有一端封闭一端开口的轴孔6，上述千分表4的测杆8自上述开口处伸入上述轴孔6内；上述壳体2内靠近其轴孔6封闭端的部位设有轴向对称的一对径向通孔10，上述径向通孔10自壳体2的外壁径向贯通至其轴孔6，上述轴孔6内位于其与径向通孔10连通的部位设有环形限位块12；上述径向通孔10内穿设有浮动测头14，上述浮动测头14具有能够伸入轴孔6内的抵接部16和延伸在径向通孔10外部的测量部18，上述测量部18为经过抛光后的半球形结构；上述浮动测头14在径向通孔10内能够移动；上述浮动测头14上一体成型有环形凸台20，上述浮动测头14向轴孔6方向移动时上述环形限位块12与环形凸台20配合限制其径向移动的终点位置；上述浮动测头14上套设有缓冲弹簧22，上述缓冲弹簧22的一端抵接环形凸台20，其另一端抵接径向通孔10内的环形轴套24；上述轴孔6内设有能够沿其内壁轴向滑动的楔形滑块26，上述楔形滑块26轴向滑动时向上顶推上述测杆8或者远离上述测杆8下落至上述轴孔6底部；上述浮动测头14向轴孔6方向移动时，其抵接部16向上述楔形滑块26施力，使得上述楔形滑块26向测杆8方向滑动。

上述校准环34与上述一对浮动测头14的两上述测量部配合使用。

其具体使用过程如上实施例一中描述，此处不再赘述。

实施例三

如图4所示，本实施例公开了一种精孔孔径检测仪，包括壳体2、千分表4和检测校准组件，上述壳体2内开设有一端封闭一端开口的轴孔6，上述千分表4的测杆8自上述开口处伸入上述轴孔6内；上述壳体2内靠近其轴孔6封闭端的部位设有轴向对称的一对径向通孔10，上述径向通孔10自壳体2的外壁径向贯通至其轴孔6，上述轴孔6内位于其与径向通孔10连通的部位设有环形限位块12；上述径向通孔10内穿设有浮动测头14，上述浮动测头14具有能够伸入轴孔6内的抵接部16和延伸在径向通孔10外部的测量部18，上述测量部18为经过抛光后的半球形结构；上述浮动测头14在径向通孔10内能够移动；上述浮动测头14上一体成型有环形凸台20，上述浮动测头14向轴孔6方向移动时上述环形限位块12与环形凸台20配合限制其径向移动的终点位置；上述浮动测头14上套设有缓冲弹簧22，上述缓冲弹簧22的一端抵接环形凸台20，其另一端抵接径向通孔10内的环形轴套24；上述轴孔6内设有能够沿其内壁轴向滑动的楔形滑块26，上述楔形滑块26轴向滑动时向上顶推上述测杆8或者远离上述测杆8下落至上述轴孔6底部；上述浮动测头14向轴孔6方向移动时，其抵接部16向上述楔形滑块26施力，使得上述楔形滑块26向测杆8方向滑动。

上述检测校准组件包括一对校准块36，上述一对校准块36具有与上述测量部18外形结构相匹配的结构；上述一对校准块36通过安装座固定在上述壳体2上，上述一对校准块36与上述一对浮动测头14的两上述测量部18配合使用。

本实施例技术方案中，选用一对校准块36取代校准环34使用，一对浮动测头14的两测量部18与一对校准块36内壁点接触时同样能够起到触动楔形滑块26移动顶推测杆8的作用。

具体测量过程如同实施例中描述，此处不再赘述。

对应不同孔径的待测精孔，本实施例技术方案中的检测仪在不更换校准块36的情况下能够同时兼容使用，其具体实现结构如下：

如图4所示，上述安装座包括安装轴套38、第一移动轴40和第二移动轴42；上述安装轴套38固定在壳体2上，上述安装轴套38沿平行于上述径向通孔10的轴线方向延伸；上述第一移动轴40能够沿安装轴套38延伸方向移动的固定在上述安装轴套38上；上述第一移动轴40的尾端设有装配孔，上述第二移动轴42能够上升或者下降的与上述装配孔装配；上述一对校准块36安装在第二移动轴42的自由端。

调整第一移动轴40在安装轴套38内部的固定位置能够调整一对校准块36之间的间距，也就是调整了用作检测标准的尺寸，从而使得一套检测仪能够对应多种孔径的精孔检测使用。其具体实现结构如下：

如图5、6所示，上述安装轴套38的内壁上设有多个楔形凹槽46，上述多个楔形凹槽46沿安装轴套38的延伸方向依次间隔设置；上述第一移动轴40上设有楔形弹性卡块48，上述楔形弹性卡块48与楔形凹槽46相配合，上述楔形弹性卡块48卡入楔形凹槽46内使得第一移动轴40固定在安装轴套38内。楔形弹性卡块48具有弹性，被压缩后能够从当前楔形凹槽46中脱离与下一个楔形凹槽46卡扣配合，以此能够调整第一移动轴40从安装轴套38中延伸出来的长度，进而调整一对校准块36之间的间距。压缩楔形弹性卡块48具有多种方式，比如，拉动第一移动轴40，或者设计带有一排按钮的开关，在安装轴套38上开槽，开关的触头从槽中引出，一排按钮分别一一对应楔形凹槽46，向下按压开关后拉动第一移动轴40，拉动到目标位置后松开开关，即可完成第一移动轴40固定位置的调整。弹性卡块和凹槽均设置为楔形结构，使得第一移动轴40在拉动或者开关按压过程中能够更省力的调整。

根据实际使用需要，上述多个楔形凹槽和楔形弹性卡块均依次间隔5mm设置。每间隔5mm设定一个检测标准。

第二移动轴42沿装配孔上升或者下降为为了在校准和检测两个过程中切换，比如，校准时，第二移动轴42下降，一对校准环与一对浮动测头配合；检测时，第二移动轴42上升，给一对浮动测头伸入待测孔内避位。当然，根据实际使用需要，还可以设计其它的避位结构，比如第二移动轴42相对于第一移动轴40能够旋转，通过旋转避位。

上述一对校准块36均配置有导向块44，上述导向块44连接在上述校准块36的端部。一对校准块36接触一对浮动测头14时导向块44起到导向作用，使得校准块36能够更平稳的与浮动测头14接触，提高检测的精度和稳定性。

实施例四

本实施例公开一种精孔孔径检测方法，使用以上实施例一、实施例二、实施例三中的检测仪，其检测步骤包括，

（1）选取检测标准：取目标内径的校准环、或者调整一对校准块之间的间距至目标尺寸，校准环的直径为Φ，或者一对校准块之间的间距为Φ；

（2）校准检测仪：将上述检测仪的一对浮动测头放入校准环内或者一对校准块之间，摆动上述检测仪，在上述千分表的最小数值时调零，完成上述检测仪的校准；

（3）检测精孔孔径：使用已经校准后的检测仪测量精孔孔径，将上述检测仪的一对浮动测头放入待测孔内，上述待测孔的内壁挤压上述浮动测头，使得上述浮动测头驱动楔形滑块向测杆移动并顶推上述测杆，摆动上述检测仪，读取上述千分表的最小数值θ；

（4）根据公式一计算上述待测孔的直径Φ＇：Φ＇=Φ+θ （公式一）。

以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例，本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换，均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (6)

1.一种精孔孔径检测仪，其特征在于：包括壳体和千分表，所述壳体内开设有一端封闭一端开口的轴孔，所述千分表的测杆自所述开口处伸入所述轴孔内；所述壳体内靠近其轴孔封闭端的部位设有轴向对称的一对径向通孔，所述径向通孔自壳体的外壁径向贯通至其轴孔，所述轴孔内位于其与径向通孔连通的部位设有环形限位块；所述径向通孔内穿设有浮动测头，所述浮动测头具有能够伸入轴孔内的抵接部和延伸在径向通孔外部的测量部，所述测量部为半球形结构；所述浮动测头在径向通孔内能够移动；所述浮动测头上一体成型有环形凸台，所述浮动测头向轴孔方向移动时所述环形限位块与环形凸台配合限制其径向移动的终点位置；所述浮动测头上套设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的一端抵接环形凸台，其另一端抵接径向通孔内的环形轴套；所述轴孔内设有能够沿其内壁轴向滑动的楔形滑块，所述楔形滑块轴向滑动时向上顶推所述测杆或者远离所述测杆下落至所述轴孔底部；所述浮动测头向轴孔方向移动时，其抵接部向所述楔形滑块施力，使得所述楔形滑块向测杆方向滑动；

其还包括检测校准组件；所述检测校准组件包括一对校准块，所述一对校准块具有与所述测量部外形结构相匹配的结构；所述一对校准块通过安装座固定在所述壳体上，所述一对校准块与一对浮动测头的两所述测量部配合使用。

2.如权利要求1所述的精孔孔径检测仪，其特征在于：所述安装座包括安装轴套、第一移动轴和第二移动轴；所述安装轴套固定在壳体上，所述安装轴套沿平行于所述径向通孔的轴线方向延伸；所述第一移动轴能够沿安装轴套延伸方向移动的固定在所述安装轴套上；所述第一移动轴的尾端设有装配孔，所述第二移动轴能够上升或者下降的与所述装配孔装配；所述一对校准块安装在第二移动轴的自由端。

3.如权利要求2所述的精孔孔径检测仪，其特征在于：所述一对校准块均配置有导向块，所述导向块连接在所述校准块的端部。

4.如权利要求2所述的精孔孔径检测仪，其特征在于：所述安装轴套的内壁上设有多个楔形凹槽，所述多个楔形凹槽沿安装轴套的延伸方向依次间隔设置；所述第一移动轴上设有楔形弹性卡块，所述楔形弹性卡块与楔形凹槽相配合，所述楔形弹性卡块卡入楔形凹槽内使得第一移动轴固定在安装轴套内。

5.如权利要求4所述的精孔孔径检测仪，其特征在于：所述多个楔形凹槽和楔形弹性卡块均依次间隔5mm设置。

6.一种精孔孔径检测方法，其特征在于：使用权利要求1-5任一项所述的检测仪，其检测步骤包括，

（1） 选取检测标准：调整一对校准块之间的间距至Φ；

（2）校准检测仪：将检测仪的一对浮动测头放入一对校准块之间，摆动所述检测仪，在所述千分表的最小数值时调零，完成所述检测仪的校准；

（3）检测精孔孔径：使用已经校准后的检测仪测量精孔孔径，将所述检测仪的一对浮动测头放入待测孔内，所述待测孔的内壁挤压所述浮动测头，使得所述浮动测头驱动楔形滑块向测杆移动并顶推所述测杆，摆动所述检测仪，读取所述千分表的最小数值θ；

（4）根据公式一计算所述待测孔的直径Φ＇：Φ＇=Φ+θ （公式一）。