CN112254617B - 一种内孔测量规检具 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体，塞规体内部设置底部开放的腔室，所述的塞规体的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧；还包括和1个第二测砧，所述的第二测砧轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧的正中间；所述的2个第一测砧用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；所述的第二测砧的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧的轴向位移。该检具无需人工调整，测量快速。提高了检测精度，更加快速有效检测轴承孔加工尺寸。

Description

一种内孔测量规检具

技术领域

本发明涉及量具检具技术领域，具体涉及一种内孔测量规检具。

背景技术

近年来，变速器产量日益增加，加工质量要求也在不断提升，壳体类零件中轴承孔一直采用内径百分表和校对规进行比对测量，轴承孔下方无结构支撑，为悬空结构，内径表操作过程中需要调试找到最小值，即为测量值，检测过程操作不便，操作手法不同，也会影响测量结果；测量截面随机，不固定。

发明内容

本发明的目的在于提供一种内孔测量规检具，用以解决现有技术中的壳体类零件中轴承孔内径测量时遇到的问题。

为了实现上述任务，本发明采用以下技术方案：

一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体，所述的塞规体内部设置底部开放的腔室，所述的塞规体的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧；

还包括和1个第二测砧，所述的第二测砧轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧的正中间；

所述的2个第一测砧用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；

所述的第二测砧的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧的轴向位移。

进一步的，所述的变径结构包括两个斜面，所述的两个斜面相交设置，交线与所述的第一测砧的轴线垂直；

所述的两个斜面均与所述的2个第一测砧的端部抵触，所述的斜面与所述的第二测砧的轴线之间的夹角为28°20'～28°30'。

进一步的，所述第一测砧包括沿塞规体的底圆直径方向依次设置的测头、测砧本体、连接传动杆和传动支撑座；

所述的测头穿设在所述塞规体的侧壁上，所述的测砧本体经过连接传动杆与所述的传动支撑座连接，所述的传动支撑座与所述的第二测砧接触。

具体的，所述的传动支撑座沿测砧本体轴向的一侧设置用于卡接所述连接传动杆的凹腔，所述的凹腔与所述的连接传动杆相匹配；

所述的传动支撑座沿测砧本体轴向的另一侧设置凸部，所述的凸部与所述的第二测砧的变径结构接触。

进一步的，所述的塞规体外壁套设可活动拆卸的限位件；

还包括校对环规，校对环规用于对塞规体底圆上的第一测砧进行校对归零。

进一步的，所述的第二测砧外部套设连接单元，所述的连接单元包括沿轴向自下而上依次设置的连接座、第一连接体和第二连接体；

所述的连接单元通过弹簧片单元与所述的传动支撑座连接。

具体的，所述的弹簧片单元包括与所述的第二测砧轴线平行的第一弹簧片和第二弹簧片。

进一步的，还包括连接固定在所述的塞规体上端面的端盖，所述的端盖套在所述的第一连接体外部。

具体的，所述的第二测砧顶部抵接设置测杆，沿所述的测杆轴向顶部设置安装段，所述的安装段外部套设第三弹簧，所述的安装段顶部连接设置检测件；

所述的测杆和所述的第三弹簧外部套设手柄，所述的手柄的底座压在所述的端盖上，所述的第二连接体设置在所述的手柄内部。

进一步的，所述的塞规体底部设置挡板。

本发明与现有技术相比具有以下技术效果：

本发明的精密塞规检具，采用为比较测量法，配置千分表，精度高；同时有限位圈，可根据需要固定测量某一深度的直径；该检具直接放置到所需孔径处测量，无需人工调整，测量快速，测量数值不受人工操作影响。提高了检测精度，更加快速有效检测轴承孔加工尺寸。

附图说明

图1为本发明的内孔测量规检具的剖面结构示意图；

图2为本发明的内孔测量规检具的测头组件爆炸结构示意图；

图3为本发明的内孔测量规检具的部分结构示意图；

图中标号代表：

1、校对环规；2、挡板；3、第一测砧；3-1、测头；3-2、连接传动杆；3-3、传动支撑座；3-3-1、第一连接孔；3-3-2、第二连接孔；3-3-3、凹腔；3-3-4、凸部；4、限位件；5、塞规体；6、测头组件；6-1、连接单元；6-1-1、第一连接座；6-1-2、第二连接座；6-1-3、第三连接孔；6-1-4、第四连接孔；6-1-5、第一连接体；6-1-6、第二连接体；6-2、第二测砧；6-2-1、斜面；6-3、第一弹簧片；6-3-1、第五连接孔；6-4、第二弹簧片；6-4-1、第六连接孔；7、端盖；8、手柄；8-1、第一手柄段；8-2、第二手柄段；8-3、底座；9、测杆；9-1、安装段；9-2、第三弹簧；10、千分表。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明在进行方位描述时，术语“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，“内”、“外”是指相应部件轮廓的内核外，不能将上述术语理解为对本发明的限制。

另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

在本发明中“校对环规实测值”是指校对环规孔径尺寸的真实值。“校对环规实测值的偏差”是指与校对环规实测值(校对环规上会发印实测值)的差距，即测量轴承孔的内径时，2个第一测砧3的纵向位移经第二测砧6-2转换为轴向位移的位移值，此时，千分表的示数即为第二测砧6-2的轴向位移值。

该内孔测量规检具校零后，校对环规实测值的偏差，加上校对环规实测值即为最终测量结果。

塞规体5底圆是指塞规体5底面圆。第二测砧6-2轴向垂直可活动穿设在腔室内，是指第二测砧6-2穿过塞规体5顶面圆的轴中心，底部抵接于2个第一测砧3正中间，且下端设置在塞规体5内部，上端露出塞规体5顶部。

实施例1

在本发明中公开了一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，如图1～3所示，包括形状为圆柱体的塞规体5，塞规体5内部设置底部开放的腔室，该腔室的形状为圆柱形。塞规体5的外壁与轴承孔的内壁相匹配，塞规体5刚好放置到被测零件孔径内部，并贴合，可以起到导向作用。塞规体5的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧3；

在本实施例中，还包括和1个第二测砧6-2，第二测砧6-2轴向垂直可活动穿设在腔室内，第二测砧6-2的底部设置变径结构，变径结构抵接于2个第一测砧3的正中间；2个第一测砧3和1个第二测砧6-2的结构和形状大小均相同。

2个第一测砧3用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压变径结构向上轴向移动；第二测砧6-2的上端同轴设置检测件，检测件用于检测第二测砧6-2的轴向位移。检测件可以为千分表10，也可以为其他精密检测部件，千分表10设置在腔室外。

变径结构包括两个斜面6-2-1，两个斜面6-2-1相交设置，交线与第一测砧3的轴线垂直；两个斜面6-2-1均与所述的2个第一测砧3的端部抵触，所述的斜面6-2-1与所述的第二测砧6-2的轴线之间的夹角为θ，θ的取值范围为28°20'～28°30'。

tanθ＝Δx/2Δy,

其中，Δx表示其中一个第一测砧3的径向位移量，Δy表示其中第二测砧6-2的轴向位移量。

除此之外，该变径结构可以为其他可以挤压变形，将第一测砧3的径向位移完全转换为径向位移的结构。

在本实施例中，第一测砧3包括沿塞规体5的底圆直径方向依次设置的测头3-1、测砧本体、连接传动杆3-2和传动支撑座3-3，测头3-1穿设在塞规体5的侧壁上，测砧本体经过连接传动杆3-2与传动支撑座3-3连接，传动支撑座3-3与第二测砧6-2接触。

在本实施例中，传动支撑座3-3沿测砧本体轴向的一侧设置用于卡接连接传动杆3-2的凹腔3-3-3，凹腔3-3-3与连接传动杆3-2相匹配，传动支撑座3-3沿测砧本体轴向的另一侧与凹腔3-3-3同轴设置有凸部3-3-4，凸部3-3-4与斜面6-2-1底部接触。

可选的，凹腔3-3-3的形状可以根据连接传动杆3-2的形状进行选择，比如为圆柱体形，凸部3-3-4的形状优选为半圆球形，该半圆球的半径为2.5mm。经调试后为28°25'，轴向和纵向的位移比为1：1。

还包括校对环规1，校对环规1用于对塞规体5底圆上的第一测砧3进行校对归零。

进一步的，塞规体5外壁套设可活动拆卸的限位件4；在塞规体5的高度方向上可进行调节，适应不同深度的被测件内径测量。限位件4可以为橡胶材质的限位圈，限位件4的下端面与被测件的上端面接触，使得塞规体5与被测件孔轴线重合，保证测量精度。并且此过程测量快速、准确，无需人工调整测量位置，节省测量时间，测量效率大幅度提升。

第二测砧6-2外部套设连接单元6-1，连接单元6-1通过弹簧片单元与传动支撑座3-3连接，连接单元6-1包括沿轴向自下而上依次设置的连接座、第一连接体6-1-5和第二连接体6-1-6。

弹簧片单元包括与第二测砧6-2轴线平行的第一弹簧片6-3和第二弹簧片6-4。连接单元6-1、第二测砧6-2、第一弹簧片6-3和第二弹簧片6-4统称为测头组件6，主要是将塞规体5内部的第一测砧3的径向位移转换为轴向位移，方便测量。

如图2所示，作为一种优选的本实施例，传动支撑座3-3中位于凸部3-3-4上方的传动段设置第一连接孔3-3-1，位于凹腔3-3-3上方的传动段设置第二连接孔3-3-2，第一连接孔3-3-1的数量至少为2个，第二连接孔3-3-2的数量为2个。

作为一种优选的本实施例，第一弹簧片6-3的形状为工字型，第二弹簧片6-4的形状为矩形，工字型的第一弹簧片6-3的四个端部设置4个第五连接孔6-3-1，第六连接孔6-4-1的数量为4个，2个为一组设置在矩形第二弹簧片6-4的长度方向的两端。

作为一种优选的本实施例，连接座包括呈十字交叉连接设置的第一连接座6-1-1和第二连接座6-1-2，第一连接座6-1-1的设置方向与第一测砧3的轴向垂直，第二连接座6-1-2的设置方向与第一测砧3轴向平行，第一连接座6-1-1和第二连接座6-1-2所在的平面与第二测砧6-2的轴线垂直；第一连接座6-1-1的两端设置第三连接孔6-1-3，第二连接座6-1-2两端设置第四连接孔6-1-4。第三连接孔6-1-3和第四连接孔6-1-4的数量均为2个。

在该优选实施例中，第一弹簧片6-3两端的第五连接孔6-3-1分别与第一连接孔3-3-1、第三连接孔6-1-3重叠，第二弹簧片6-4两端的第六连接孔6-4-1分别与第二连接孔3-3-2、第四连接孔6-1-4重叠，重叠后，可选用销子、销钉或螺栓进行固定。

进一步的，还包括连接固定在塞规体5上端面的端盖7，端盖7套在第一连接体6-1-5外部。采用螺钉进行固定，端盖7压在塞规体5上，进行封闭连接。

第二测砧6-2顶部抵接设置测杆9，测杆9起到位移继续往上传递的加长作用。沿测杆9轴向顶部设置安装段9-1，安装段9-1外部套设第三弹簧9-2，安装段9-1顶部连接设置千分表10；此时的位移传递至千分表10，通过读数获得测量值。

测杆9和弹簧外部套设手柄8，手柄8的底座8-3压在端盖7上，第二连接体6-1-6设置在手柄8内部。手柄8设置第一手柄8段，第一手柄8段内套设第三弹簧9-2，第一手柄8段自上而下窄缩形成第二手柄8段，第二手柄8段内设置测杆9，第二手柄8段底部连接设置底座8-3。

本实施例中，塞规体5底部设置挡板2，挡板2一方面可以起到防尘的作用，挡在腔室底部，还为了美观，保护塞规体5内部的部件。

除此之外，本发明的内孔测量规检具的传动支撑座3-3，可使用模具一体成型，具有质量轻，外部防锈，不易磨损等功能。测量准确性使用可靠性高。

综上，本发明的内孔测量规检具的使用测量操作过程如下：

首先，该内孔测量规检具的塞规体5部分(包括除校对环规1以外的部件)放置到校对环规1中，操作千分表10，示数归零。

然后取出塞规体5部分，放置到被测工件的内孔中，调节限位件4的高度，限位件4将塞规体5部分进行支撑，塞规体5的两端第一测砧3的测头3-1接触被测件的内孔，两个第一测砧3分别往塞规体5的中心线方向移动，径向位移量首先传递到传动支撑座3-3中，左右两个传动支撑座3-3分别往中心线方向移动，传动支撑座3-3的凸部3-3-4部分与第二测砧6-2接触，迫使第二测砧6-2向上移动，此时径向位移量转换为轴向位移量，与第二测砧6-2连接的测杆9将位移变化传递给千分表10，此时读取示数，即为校对环规实测值的偏差。校对环规实测值的偏差加上校对环规实测值即为最终测量结果。

内孔测量规检具不使用时，第二测砧6-2由于自身重力的作用，使得位于第二测砧6-2底部两侧的传动支撑座3-3向两边移动，第一测砧3的测头3-1伸出塞规体5外壁。

以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明；对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种内孔测量规检具，用于检测轴承孔的内径，包括形状为圆柱体的塞规体(5)，所述的塞规体(5)内部设置底部开放的腔室，其特征在于，所述的塞规体(5)的外壁与轴承孔的内壁相匹配，所述塞规体(5)的底圆直径方向上镜像对称可活动设置2个第一测砧(3)；

还包括和1个第二测砧(6-2)，所述的第二测砧(6-2)轴向垂直可活动穿设在所述的腔室内，所述的第二测砧(6-2)的底部设置变径结构，所述的变径结构抵接于2个第一测砧(3)的正中间；

所述的2个第一测砧(3)用于径向相对靠近变径结构方向移动进而挤压所述的变径结构向上轴向移动；

所述的第二测砧(6-2)的上端同轴设置检测件，所述的检测件用于检测第二测砧(6-2)的轴向位移；

所述的变径结构包括两个斜面(6-2-1)，所述的两个斜面(6-2-1)相交设置，交线与所述的第一测砧(3)的轴线垂直；

所述的两个斜面(6-2-1)均与所述的2个第一测砧(3)的端部抵触，所述的斜面(6-2-1)与所述的第二测砧(6-2)的轴线之间的夹角为28°20'～28°30'；

所述第一测砧(3)包括沿塞规体(5)的底圆直径方向依次设置的测头(3-1)、测砧本体、连接传动杆(3-2)和传动支撑座(3-3)；

所述的测头(3-1)穿设在所述塞规体(5)的侧壁上，所述的测砧本体经过连接传动杆(3-2)与所述的传动支撑座(3-3)连接，所述的传动支撑座(3-3)与所述的第二测砧(6-2)接触；

所述的传动支撑座(3-3)沿测砧本体轴向的一侧设置用于卡接所述连接传动杆(3-2)的凹腔(3-3-3)，所述的凹腔(3-3-3)与所述的连接传动杆(3-2)相匹配；

所述的传动支撑座(3-3)沿测砧本体轴向的另一侧设置凸部(3-3-4)，所述的凸部(3-3-4)与所述的第二测砧(6-2)的变径结构接触，所述凸部(3-3-4)的形状为半圆球形。

2.根据权利要求1所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的塞规体(5)外壁套设可活动拆卸的限位件(4)；

还包括校对环规(1)，校对环规(1)用于对塞规体(5)底圆上的第一测砧(3)进行校对归零。

3.根据权利要求1所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的第二测砧(6-2)外部套设连接单元(6-1)，所述的连接单元(6-1)包括沿轴向自下而上依次设置的连接座、第一连接体(6-1-5)和第二连接体(6-1-6)；

所述的连接单元(6-1)通过弹簧片单元与所述的传动支撑座(3-3)连接。

4.根据权利要求3所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的弹簧片单元包括与所述的第二测砧(6-2)轴线平行的第一弹簧片(6-3)和第二弹簧片(6-4)。

5.根据权利要求4所述的内孔测量规检具，其特征在于，还包括连接固定在所述的塞规体(5)上端面的端盖(7)，所述的端盖(7)套在所述的第一连接体(6-1-5)外部。

6.根据权利要求5所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的第二测砧(6-2)顶部抵接设置测杆(9)，沿所述的测杆(9)轴向顶部设置安装段(9-1)，所述的安装段(9-1)外部套设第三弹簧(9-2)，所述的安装段(9-1)顶部连接设置检测件；

所述的测杆(9)和所述的第三弹簧(9-2)外部套设手柄(8)，所述的手柄(8)的底座(8-3)压在所述的端盖(7)上，所述的第二连接体(6-1-6)设置在所述的手柄(8)内部。

7.根据权利要求1所述的内孔测量规检具，其特征在于，所述的塞规体(5)底部设置挡板(2)。

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