CN109396069A - 可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明有关于一种可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法，主要包括利用主控制器控制多个排料感测器感测位于分料区内的多个电子元件；而且，当检测结果为良品时，移料装置移载多个电子元件到至少一良品匣前先经过至少一不良品匣。换言之，藉由将不良品匣设置于良品匣的上游位置，一旦检测结果为不良品时，该不良品将随即被移入不良品匣，并无任何机会移经良品匣，故自然不会有不良品误排入良品匣的情形发生。此外，分料区内所设置的多个排料感测器可用以感测每一电子元件的实际位置，可更进一步确保不会有误分料的情形发生。

Description

可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法

技术领域

本发明关于一种可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法，尤指一种适用于检测电子元件良窳的检测设备及检测方法。

背景技术

所谓电子元件检测设备用于检测电子元件的参数是否合于规定以作正常运作，而其运作模式通常是先进行检测后，再根据检测结果将电子元件移入良品容置部或不良品容置部。然而，毕竟良品会远多于不良品，故为了节省完测的电子元件的移载时间，现今所有的电子元件检测设备中，都是将良品容置部设置于最接近检测装置处，而不良品容置部则设置于相对远处，即若电子元件的检测为不良品，其需先经过良品容置部后再置入不良品容置部。

换言之，因良品容置部位于所有完测电子元件容置部中的第一抵达位置，在实际运转时，所有不良品都会先行经过良品容置部，若此时机台发生误动作、故障或是受其他内部或外部因素影响时，将导致不良品在行经良品容置部入口处时不慎落入良品容置部中而混入良品中。惟，若有不良品混入良品中时，电子元件商将承担相当大的风险，因为一旦不良品流入市场，除了影响商誉外，亦将造成包括产品回收、维修等成本上的耗费。

由此可知，如何达成一种通过简单的配置以及硬件上的改变，而可完全避免误分料的情形发生的检测设备及检测方法，实在是产业上的一种迫切需要。

发明内容

本发明的主要目的在提供一种可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法，在尽量减少改变现有机台的硬件配置的条件下，俾能达成完全避免误分料的情形发生。

为达成上述目的，本发明一种可避免误分料的电子元件检测方法，主要包括以下步骤：主控制器控制至少一检测装置检测多个电子元件；主控制器控制移料装置移载多个电子元件至分料区，并根据检测结果控制分料装置将多个电子元件分别移入至少一良品匣或至少一不良品匣；主控制器控制多个排料感测器感测位于分料区内的多个电子元件；其中，当检测结果为良品时，移料装置移载多个电子元件至至少一良品匣前先经过至少一不良品匣。

换句话说，本发明可藉由将不良品匣设置于良品匣的上游位置，一旦检测结果为不良品时，该不良品将随即被移入不良品匣，并无任何机会移经良品匣，故自然不会有不良品误排入良品匣的情形发生。除此之外，本发明的分料区内设置多个排料感测器，其用以感测每一电子元件的实际位置，可更进一步确保不会有误分料的情形发生。

较佳的是，于本发明可避免误分料的电子元件检测方法中，当多个电子元件中的至少一者的检测结果为一不良品时，主控制器控制多个排料感测器检测该不良品有无落入至少一良品匣或至少一不良品匣。其中，当多个排料感测器检测出不良品无落入至少一不良品匣时或落入至少一良品匣时，至少一良品匣内的所有电子元件需重新测试。换言之，若检测结果为不良品时，多个排料感测器将严密监控该不良品的位置，一旦发现不良品没有落入不良品匣，即表示不良品有可能混入良品匣中；或者发现不良品直接落入良品匣，都必须对良品匣内的所有电子元件进行重测，以确保该不良品不致被误认为良品而流入后续制程。

另一方面，于本发明可避免误分料的电子元件检测方法中，当多个电子元件中的至少一者的检测结果为一良品时，而多个排料感测器检测出良品无落入至少一良品匣内时，移料装置上所有的电子元件需重新测试。换句话说，如果系统发现良品的误分料的情形发生时，毋须对良品匣内的所有电子元件进行重测，仅须对移料装置上的电子元件进行重测，以排除因排料感测器误判或者其他软件或硬件上的错误，所造成后续更严重的误分料情形发生。

为达成上述目的，本发明一种可避免误分料的电子元件检测设备，主要包括进料区、检测区、分料区、移料装置以及主控制器；其中，进料区承置有多个电子元件，检测区包括至少一检测装置，其用于检测多个电子元件；分料区包括至少一良品匣、至少一不良品匣、多个排料感测器以及分料装置；主控制器电性连接至少一检测装置、多个排料感测器、移料装置以及分料装置；主控制器控制移料装置自进料区移载多个电子元件至检测区，并控制至少一检测装置检测多个电子元件；主控制器控制移料装置移载多个电子元件至分料区，并根据检测结果控制分料装置将多个电子元件分别移入至少一良品匣或至少一不良品匣；主控制器控制多个排料感测器感测位于分料区内的多个电子元件；其中，至少一不良品匣位于移料装置的移料方向的上游位置，至少一良品匣位于移料装置的移料方向的下游位置。

此外，本发明可避免误分料的电子元件检测设备中，移料装置包括转盘及负压气源，而转盘的外环周开设有多个容槽，每一容槽设有一上通气孔及一下通气孔；且负压气源连通下通气孔；分料装置包括正压气源及气阀，主控制器电性连接气阀，并控制气阀使上通气孔选择式连通负压气源或正压气源。据此，本发明可以通过连通于负压气源的上通气孔和下通气孔来吸附电子元件，使其固定于容槽内；而当需要让电子元件移入良品匣或不良品匣时，则通过将上通气孔连通至正压气源，而将电子元件吹出于容槽之外。

附图说明

图1是本发明一较佳实施例的示意图。

图2是本发明一较佳实施例的系统架构图。

图3是本发明一较佳实施例的分料区的示意图。

图4是本发明一较佳实施例的分料装置的示意图。

其中，附图标记：

2 进料区

3 检测区

31 检测装置

4 分料区

41 不良品匣

42 良品匣

43 排料感测器

44 分料装置

441 气阀

45 重测匣

5 移料装置

50 转盘

51 容槽

511 上通气孔

512 下通气孔

6 主控制器

C 电子元件

Ns 负压气源

Ps 正压气源

具体实施方式

本发明可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法在本实施例中被详细描述之前，要特别注意的是，以下的说明中，类似的元件将以相同的元件符号来表示。再者，本发明的图式仅作为示意说明，其未必按比例绘制，且所有细节也未必全部呈现于图式中。

请一并参阅图1及图2，图1是本发明一较佳实施例的示意图，图2是本发明一较佳实施例的系统架构图。如图中所示，本实施例的电子元件检测设备主要包括进料区2、检测区3、分料区4、移料装置5以及主控制器6；其中，进料区2承置有多个电子元件C，检测区3包括至少一检测装置31，其用于检测该多个电子元件C，而分料区4包括二不良品匣41、一良品匣42、一重测匣45、四个排料感测器43以及一分料装置44，主控制器6电性连接检测装置31、排料感测器43、移料装置5以及分料装置44。

再者，请再参阅图1，本实施例的移料装置5包括一转盘50，而转盘50的外环周开设有多个容槽51，每一容槽51可容装一电子元件C。再者，排料感测器43设置于容槽51外，并用于感测容槽51内的电子元件C；本实施例的排料感测器43可以是一光耦合感测器，且排料感测器43持续感测移经的容槽51内有无存在电子元件C。另外，检测区3和分料区4沿着该转盘50外环周设置，故一旦转盘50朝顺时针方向旋转，位在容槽51内的电子元件C将被移载而依序经过检测区3和分料区4。

而且，本实施例的检测区3内设置有多个检测装置31，其分别负责不同项目的检测任务，例如接触有无异常、二次微分异常等。另一方面，请一并参阅图3，图3是本发明一较佳实施例的分料区4的示意图，本实施例的分料区4同样设有多个电子元件的容纳匣，其包括二个不良品匣41、一良品匣42、及重测匣45；二个不良品匣41根据检测结果来容纳不同态样的瑕疵晶片，良品匣42则用来容纳良品晶片，重测匣45则是供容纳测试阶段的测试料或系统出错时需重测的晶片。

然而，在本实施例中，二个不良品匣41设置于分料区4内的最上游，接着是良品匣42，最后才是重测匣45。据此，当电子元件的检测结果为不良品时，则可马上移入不良品匣41，毫无机会移经良品匣42，故自然不可能发生将不良品误排入良品匣42的情况；又，当完测的良品电子元件C移入分料区4时，需先通过二个不良品匣41后才进入良品匣42，然而即便良品的电子元件C在移经不良品匣41时不慎落入亦无妨。

请参阅图4，图4是本发明一较佳实施例的分料装置的示意图。以下说明本实施例的分料、排料手段，首先，本实施例的移料装置5更包括一负压气源Ns，且转盘50上的每一容槽51设有一上通气孔511及一下通气孔512。于移载电子元件C的阶段，上通气孔511和下通气孔512都是连通至该负压气源Ns，即通过上通气孔511和下通气孔512来吸附电子元件C，使其固定于该容槽51内。

另外，本实施例的分料装置44包括一正压气源Ps及一气阀441，负压气源Ns和正压气源Ps都连通至气阀441一端，而气阀441的另一端则连通至上通气孔511，且本实施例的气阀441为一电磁阀，其电性连接至主控制器6。当欲进行排料时，主控制器6控制气阀441使上通气孔511连通至正压气源Ps，而产生一吹气气流吹向位在容槽51内的电子元件C，使其落入不良品匣41或良品匣42内。值得注意的是，本实施例的下通气孔512始终维持负压而持续吸附电子元件C，故当上通气孔511连通正压气源Ps时，犹如仅对电子元件C上侧产生推力，下侧产生拉力，据此得以控制电子元件C脱离容槽51的落下角度，而不致四处喷飞。

据此，本实施例的主控制器6主要负责以下工作，包括控制移料装置5自进料区2移载电子元件C至检测区3，并控制检测区3内的检测装置31检测电子元件C；检测完毕后，主控制器6控制移料装置5移载电子元件C至分料区4，并根据检测结果控制分料装置44将电子元件C分别移入良品匣42或不良品匣41。

此外，本实施例通过以下技术手段以进一步避免误分料的情形发生。首先，当电子元件C的检测结果为一不良品时，主控制器6控制全部的排料感测器43持续检测，以监控该不良品究竟落入良品匣42或不良品匣41内；如果该不良品没有落入对应的不良品匣41内时，即视为该不良品落入良品匣42内，或甚至排料感测器43感测到不良品直接落入良品匣42时，此情况最需特别处置，除了机台发送异常报警信号外，良品匣42内的所有电子元件C需重新测试。

另一方面，当电子元件C的检测结果为一良品时，同样地，主控制器6控制全部的排料感测器43持续检测，以监控该良品有无落入对应的良品匣42内；如果该良品没有落入对应的良品匣42内时，主控制器6控制移料装置5上所有的电子元件C移入重测匣45，并进行重测。

事实上，良品未落入良品匣42的影响不大，因为此种情况表示良品于移料的过程中脱落抑或系统发生错误而落入不良品匣41、重测匣45、或其他处，并不会导致不良品混入良品中。不过为了确保整个系统的可靠度与稳定度，本实施例仍采取了进一步的确保手段，亦即清空整个转盘50，让系统归零以重新载入待测电子元件C并进行测试和分类，如此可避免例如因排料感测器误判，所造成后续更严重的误分料情形发生。

上述实施例仅为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以申请专利范围所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (10)

1.一种可避免误分料的电子元件检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

一主控制器控制至少一检测装置检测多个电子元件的电参数；以及

该主控制器控制一移料装置移载该经检测的多个电子元件至一分料区，并根据检测结果控制一分料装置将该多个电子元件分别移入至少一良品匣或至少一不良品匣；该主控制器控制该多个排料感测器，藉以感测位于该分料区内的该多个电子元件；

其中，对于该检测结果为良品者，该移料装置移载该多个电子元件至该至少一良品匣前先经过该至少一不良品匣。

2.如权利要求1所述的可避免误分料的电子元件检测方法，其特征在于，当该多个电子元件中的至少一者的检测结果为一不良品时，该主控制器控制该多个排料感测器检测出该不良品有无落入该至少一良品匣或该至少一不良品匣。

3.如权利要求2所述的可避免误分料的电子元件检测方法，其特征在于，当该多个排料感测器检测出该不良品无落入该至少一不良品匣时，该至少一良品匣内的所有电子元件需重新测试。

4.如权利要求2所述的可避免误分料的电子元件检测方法，其特征在于，当该多个排料感测器检测出该不良品落入该至少一良品匣时，该至少一良品匣内的所有电子元件需重新测试。

5.如权利要求1所述的可避免误分料的电子元件检测方法，其特征在于，当该多个电子元件中的至少一者的检测结果为一良品时，而该多个排料感测器检测出该良品无落入该至少一良品匣内时，该移料装置上所有的电子元件需重新测试。

6.一种可避免误分料的电子元件检测设备，其特征在于，包括：

一进料区，其承置有多个电子元件的电参数；

一检测区，包括至少一检测装置，其用于检测该多个电子元件；

一分料区，包括至少一良品匣、至少一不良品匣、多个排料感测器以及一分料装置；

一移料装置；以及

一主控制器，其电性连接该至少一检测装置、该多个排料感测器、该移料装置以及该分料装置；该主控制器控制该移料装置自该进料区移载该多个电子元件至该检测区，并控制该至少一检测装置检测该多个电子元件；该主控制器控制该移料装置移载该多个电子元件至该分料区，并根据检测结果控制该分料装置将该多个电子元件分别移入该至少一良品匣或该至少一不良品匣；该主控制器控制该多个排料感测器感测位于该分料区内的该多个电子元件；

其中，该至少一不良品匣位于该移料装置的移料方向的上游位置，该至少一良品匣位于该移料装置的移料方向的下游位置。

7.如权利要求6所述的可避免误分料的电子元件检测设备，其特征在于，当该多个电子元件中的至少一者的检测结果为一不良品时，该主控制器控制该多个排料感测器检测该不良品有无落入该至少一良品匣或该至少一不良品匣。

8.如权利要求7所述的可避免误分料的电子元件检测设备，其特征在于，当该多个排料感测器检测出该不良品无落入该至少一不良品匣时，该至少一良品匣内的所有电子元件需重新测试。

9.如权利要求6所述的可避免误分料的电子元件检测设备，其特征在于，该分料区更包括一重测匣；当该多个电子元件中的至少一者的检测结果为一良品时，而该多个排料感测器检测出该良品无落入该至少一良品匣内时，该主控制器控制该移料装置上所有的电子元件移入该重测匣。

10.如权利要求6所述的可避免误分料的电子元件检测设备，其特征在于，该移料装置包括一转盘及一负压气源，该转盘的外环周开设有多个容槽，每一容槽设有一上通气孔及一下通气孔；该负压气源连通该下通气孔；该分料装置包括一正压气源及一气阀，该主控制器电性连接该气阀，并控制该气阀使该上通气孔选择式连通该负压气源或该正压气源。