CN204638592U - 半导体器件筛选分类装置 - Google Patents

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龙超祥
黎前军
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Abstract

一种半导体器件筛选分类装置,包括第一料盒、第二料盒以及与所述第一料盒连通的第一输料管、与所述第二料盒连通的第二输料管,在所述第一输料管的入口处的一侧设置有吹气口,所述第二输料管的入口设置在所述第一输料管的入口处的另一侧且正对所述吹气口。在所述第一输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第一感应器,在所述第二输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第二感应器。所述第一感应器和所述第二感应器均为光纤传感器。设置的第一料仓用以容纳所述第一料盒,所述第一料仓的顶部与所述第一输料管连通。这种结构的不良品分类装置能够根据要求将不同类型的不良品准确分类到两个不同的料盒中。

Description

半导体器件筛选分类装置
技术领域
[0001] 本实用新型涉及一种半导体器件筛选分类装置,特别是涉及一种能够将不同类型的半导体器件的不良品准确分类到两个料盒中的去的不良品分类装置。
背景技术
[0002] 不良品是指生产制造中不符合相关品质要求的原料、半成品、成品。其中品质要求可以是验货的检验品质要求、制造过程品质的要求、客户的品质要求、国家法律法规规定等。目前在大部分的加工生产领域都无法彻底杜绝不良品的产生。现在在生产加工过程中需要将不良品收集起来以便于对不良品进行分析从而通过改进工艺来进一步减少不良品的产生,同时对某一类型的不良品进行收集后还可以通过后续的再加工使其成为良品。目前在半导体器件的加工过程中,通常是将半导体器件通过吸取拾起的方式在不同的工位上进行加工和检测,在这种加工方式下,如何根据要求对检测后的半导体器件中的不良品根据要求进行准确分类是一个亟待解决的技术问题。
发明内容
[0003] 本实用新型所要解决技术问题是,提供一种能够将不同类型的半导体器件的不良品准确分类到两个料盒中的去的不良品分类装置。
[0004] 为解决以上技术问题,本实用新型的技术方案是:一种半导体器件筛选分类装置,其关键是:包括第一料盒、第二料盒以及与所述第一料盒连通的第一输料管、与所述第二料盒连通的第二输料管,在所述第一输料管的入口处的一侧设置有吹气口,所述第二输料管的入口设置在所述第一输料管的入口处的另一侧且正对所述吹气口。
[0005] 作为本实用新型的改进一,在所述第一输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第一感应器。
[0006] 作为本实用新型进一步的改进,所述第一感应器为光纤传感器。
[0007] 作为本实用新型更进一步的改进,在所述第二输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第二感应器。
[0008] 作为本实用新型再进一步的改进,所述第二感应器也为光纤传感器。
[0009] 作为本实用新型的改进二,还包括容纳所述第一料盒的第一料仓,所述第一料仓的顶部与所述第一输料管连通。
[0010] 作为本实用新型进一步的改进,所述第一料仓包括设置在侧面的第一料盒出入
□ O
[0011] 作为本实用新型更进一步的改进,还包括容纳所述第二料盒的第二料仓,所述第二料仓的顶部与所述第二输料管连通。
[0012] 作为本实用新型再进一步的改进,所述第二料仓包括设置在侧面的第二料盒出入
□ O
[0013] 优选的,还包括控制器,所述第一感应器以及所述第二感应器均与所述控制器电性连接。
[0014] 通过实施本实用新型可取得以下有益效果:
[0015] 一种半导体器件筛选分类装置,包括第一料盒、第二料盒以及与所述第一料盒连通的第一输料管、与所述第二料盒连通的第二输料管,在所述第一输料管的入口处的一侧设置有吹气口,所述第二输料管的入口设置在所述第一输料管的入口处的另一侧且正对所述吹气口。当通过吸取拾取方式检测完毕的半导体器件被判定为不良品且移动到第一输料管的入口的上方时,依据检测后的不良类型或者是产品的型号规格为判断依据,如果是需要进入到第一料盒中的半导体器件,则将检测后的半导体器件根据需要直接关闭或者减小吸取拾取的气压从而使半导体器件落入第一输料管内从而进入到第一料盒中;如果是需要进入到第二料盒中的半导体器件,则先打开吹气口使其吹出气体,然后再关闭或者是减小吸取拾取的气压从而使半导体器件在落到吹气口位置时被吹入到第二输料管内,从而进入到第二料盒中。这就实现了将不同类型的不良品根据需要准确分类到两个料盒中。在所述第一输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第一感应器,在所述第二输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第二感应器,在半导体元器件需要进入到不同的料盒中时,相应设置在不同输料管上的感应器会侦测其是否已经通过输料管,这进一步保证了分类的准确性。所述第一感应器和第二感应器均为光纤传感器,光纤感应器能够更加准确的侦测是否有物料通过了相应的侦测位置,从而进一步保证了分类的准确性。第一料仓用以容纳所述第一料盒,所述第一料仓的顶部与所述第一输料管连通,所述第一料仓包括设置在侧面的第一料盒出入口。第二料仓用以容纳所述第二料盒,所述第二料仓的顶部与所述第二输料管连通,所述第二料仓包括设置在侧面的第二料盒出入口。通过在料仓中设置料盒,能够方便在料盒装满时将料盒便捷的从料仓的料盒出入口处中抽出,在倒出料盒中的物料后迅速将料盒装回到料仓中去,这提升了分类时更换料盒的效率。所述第一感应器以及所述第二感应器均与所述控制器电性连接,在物料需要通过输料管进入到相应的料盒中去时而相应的输料管上设置的感应器又未感应到有物料通过时,此时感应器会反馈信号给控制器,从而控制停机,在进行人工检测确认后再开机,这进一步保障了分类的准确性。
附图说明
[0016] 下面结合说明书附图对本实用新型做进一步详细的描述,其中:
[0017] 图1是本实用新型的结构图。
具体实施方式
[0018] 如图1所示,半导体器件筛选分类装置,包括第一料盒11、第二料盒21以及与所述第一料盒11连通的第一输料管12、与所述第二料盒21连通的第二输料管22,在所述第一输料管12的入口处的一侧设置有吹气口 31,所述第二输料管22的入口设置在所述第一输料管12的入口处的另一侧且正对所述吹气口 31。在所述第一输料管12上设置有用以感应是否有物料经过的第一感应器,在所述第二输料管22上设置有用以感应是否有物料经过的第二感应器。所述第一感应器和所述第二感应器均为光纤传感器。所述不良品分类装置还包括用以容纳所述第一料盒11的第一料仓13、用以容纳所述第二料盒21的第二料仓23以及控制器。所述第一料仓13的顶部与所述第一输料管12连通,所述第一料仓11包括设置在侧面的第一料盒出入口。所述第二料仓23的顶部与所述第二输料管22连通,所述第二料仓23包括设置在侧面的第二料盒出入口。所述第一感应器以及所述第二感应器均与所述控制器电性连接。
[0019] 必须指出,上述实施例只是对本实用新型做出的一些非限定性举例说明。但本领域的技术人员会理解,在没有偏离本实用新型的宗旨和范围下,可以对本实用新型做出修改、替换和变更,这些修改、替换和变更仍属本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种半导体器件筛选分类装置,其特征是:包括第一料盒(11)、第二料盒(21)以及与所述第一料盒(11)连通的第一输料管(12)、与所述第二料盒(21)连通的第二输料管(22),在所述第一输料管(12)的入口处的一侧设置有吹气口(31 ),所述第二输料管(22)的入口设置在所述第一输料管(12)的入口处的另一侧且正对所述吹气口(31)。
2.根据权利要求1所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:在所述第一输料管(12)上设置有用以感应是否有物料经过的第一感应器。
3.根据权利要求2所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:所述第一感应器为光纤传感器。
4.根据权利要求3所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:在所述第二输料管(22)上设置有用以感应是否有物料经过的第二感应器。
5.根据权利要求4所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:所述第二感应器也为光纤传感器。
6.根据权利要求1至5中任何一项所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:还包括容纳所述第一料盒(11)的第一料仓(13),所述第一料仓(13)的顶部与所述第一输料管(12)连通。
7.根据权利要求6所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:所述第一料仓(11)包括设置在侧面的第一料盒出入口。
8.根据权利要求7所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:还包括容纳所述第二料盒(21)的第二料仓(23),所述第二料仓(23)的顶部与所述第二输料管(22)连通。
9.根据权利要求8所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:所述第二料仓(23)包括设置在侧面的第二料盒出入口。
10.根据权利要求9所述的半导体器件筛选分类装置,其特征是:还包括控制器,所述第一感应器以及所述第二感应器均与所述控制器电性连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN107303567A (zh) * 2016-04-22 2017-10-31 万润科技股份有限公司 物料承接收集装置
CN109396069B (zh) * 2017-08-17 2020-09-29 致茂电子(苏州)有限公司 可避免误分料的电子元件检测设备及其检测方法

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