CN109347477A - 一种逐次逼近型模数转换器权重校准方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种逐次逼近型模数转换器权重校准方法,所述权重校准方法为:在所述n个电容的电容阵列中,电容由高位到低位排列为Cn‑1,Cn‑2,...,C0,第i位电容的权重表示为BWi,并且满足条件:第i位权重电容Ci的权重,由电容Ci‑1,Ci‑2,...,C0的权重逐次校准得到,其计算方法为:b0,b1,...,bi‑1为校准Ci时得到的对应于电容C0,C1,...,Ci‑1的数字编码,BW0为预设值,其中,i,j∈{0,...,n},n为正整数。权重校准后,逐次逼近型模数转换器对于模拟输入得到非二进制冗余的数字编码bn‑1bn‑2...b0,则根据公式得出二进制量化结果。本发明利用非二进制SARADC的冗余特性,即需要校准的高位的权重小于低位权重之和,使用SARADC已有的结构和转换机制进行校准,用低位来校准高位,在尽可能不增加电路的面积和复杂性的条件下,精确校准电容的位权重,实现高精度模数转换。

Description

一种逐次逼近型模数转换器权重校准方法
技术领域
本发明涉及电子电路技术领域,尤其涉及一种逐次逼近型模数转换器权重校准方法。
背景技术
模数转换器(ADC)将模拟信号转换成数字信号,是外部世界到数字计算机的桥梁。随着科学技术的发展,高精度ADC在工业,医疗,汽车等领域成为必不可少的芯片之一。高精度ADC(16-24位)通常可通过逐次逼近型模数转换器(successive approximation analogdigital converter,SARADC)和sigma-delta ADC实现。SARADC具有低延迟,便于多通道共享的优点,非常适用于多通道实时采样。基于电容的SARADC通过逐次比较输入电压信号和电容阵列产生的电压值,从高位到低位,得到输入信号对应的数字编码。电容阵列产生的电压值由已得到的比较结果决定。SARADC的精度受限于各模块的噪声和电容的匹配。噪声可以通过电路设计方法达到要求指标。电容的匹配是由集成电路制造工艺决定。由于制造过程的不确定性,会造成系统偏差和随机偏差,直接影响到SARADC的精度和线性度。电容的匹配性可以通过增大电容的尺寸改善,但会增加芯片面积,增加成本。现有技术中,会在SARADC里增加另一个校准电容阵列用来测量主电容阵列的偏差,得到偏差编码,然后在模数转换过程中,用偏差编码控制校准电容阵列,补偿偏差。这样的实现方法由于需要增加校准电容阵列和控制电路,增加电路的复杂性和面积。而且,通常的校准技术是基于二进制权重的SARADC,如果在转换过程中因为噪声,动态错误造成转换错误,这个错误将无法纠正。
发明内容
鉴于上述技术问题,本发明提供了一种逐次逼近型模数转换器权重校准方法,基于非二进制权重冗余SARADC的特性,运用SARADC自身的电容阵列的低位电容权重逐次校准高位电容权重,从而实现高精度转换。
本发明提出的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,所述逐次逼近型模数转换器包括:有n个电容的电容阵列,所述逐次逼近型模数转换器用于在权重校准后进行模数转换输出数字编码bn-1bn-2...b0,其特征在于,所述权重校准方法具体为:
在所述n个电容的电容阵列中,电容由高位到低位排列为Cn-1,Cn-2,...,C0,第i位电容的权重表示为BWi,并且满足条件:
第i位权重电容Ci的权重,由Ci-1,Ci-2,...,C0的权重逐次校准得到,其计算方法为:b0,b1,...,bi-1为校准Ci时得到的对应于电容
C0,C1,...,Ci-1的数字编码,BW0为预设值,其中,i,j∈{0,...,n},n为正整数。
进一步地,所述逐次逼近型模数转换器为差分输入的模数转换器,所述电容阵列每个权重电容Ci由一对相等的电容组成,用于双极性差分信号的模数转换,所述差分输入的模数转换器的正输入端的电容表示为Cip1、Cip2,负输入端的电容表示为Cin1、Cin2;具体步骤为:
步骤A:初始化,电容阵列中Cip1、Cin1输入模数转换的参考电压Vref,Cip2、Cin2输入接地电压Gnd,连接信号VCM;
步骤B:采样,断开信号VCM,使得电容阵列的电容电荷保持恒定;
步骤C:当获取正输入端权重BWi+时,Cip2端输入模数转换的参考电压Vref,Cin1端输入地电压Gnd,
步骤D:当获取负输入端权重BWi-时,Cin2端输入模数转换的参考电压Vref,Cip1端输入地电压Gnd,
步骤E:第i个权重电容的权重BWi=BWi++BWi-
进一步地,在所述步骤C与步骤D之间增加步骤B’:采样,断开信号VCM,使得电容阵列的电容电荷保持恒定;所述步骤C与步骤D顺序可调换。
进一步地,所述电容阵列包括一个虚拟电容C0,所述虚拟电容的权重BW0=1。
进一步地,重复获取第i位权重N次,计算N次权重的平均值作为第i位权重,其中N=2m,m为整数。
进一步地,所述校准方法在芯片内部硬件实现和/或在芯片外部通过软件实现。
进一步地,每个权重BWi的计算在获取bi-1bi-2...b0后计算得到,或者在获取所有需要校准的电容对应的编码后,批处理计算得到。
进一步地,所述权重校准后,还包括步骤:所述逐次逼近型模数转换器对于模拟输入得到非二进制冗余的数字编码bn-1bn-2...b0,则根据公式得出二进制量化结果。
进一步地,所述校准方法根据电容的大小和/或电容工艺的匹配性,和/或预设精度需求,从不同的权重位开始校准。
进一步地,每个校准得到的权重所对应输出数字编码的位宽根据预设精度需求和/或寄存器参数调整。
本发明利用非二进制SARADC的冗余特性,即需要校准的高位的权重小于低位权重之和,使用SARADC已有的结构和转换机制进行校准,用低位来校准高位,在尽可能不增加电路的面积和复杂性的条件下,精确校准电容的位权重,实现高精度模数转换。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他附图。
图1是本发明实施例基于分裂电容的冗余SARADC示意图;
图2是本发明实施例采用设计理想电容权重得到的FFT结果图;
图3是本发明实施例采用校准的电容权重的到的FFT结果图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明的保护范围。
下面结合附图对本发明的技术方案进行详细说明:
本发明方案利用非二进制权重冗余SARADC的特性,直接用SARADC已有的电容阵列测量权重,然后在数字域校准产生正确的数字编码。
本发明实施例是一个19位的基于分裂电容的冗余SARADC,其示意图如图1所示。此SARADC是差分输入的ADC。电容阵列有19个权重电容C18,C17,...,C1,C0。C0是一个虚拟电容和C1大小一样。在正输入和负输入,每一个权重电容由一对相等的电容组成,如图1中虚线框所示,用于双极性差分信号的模数转换。每一位的权重BWi由相关的电容Ci和电容总和决定,通过归一化,可设BW0=BW1=1。电容阵列电容大小可以通过使用桥接电容来减小。当模数转换成功得到正确的数字编码b18b17...b0,19位的非二进制编码可以转换为对应的整数D,从而得到对应的二进制编码。其中,
且满足条件:
输入信号V可以表示为:
Vref是模数转换的参考电压,-Vref<V<Vref。
非二进制权重冗余SARADC可以在冗余范围内恢复转换过程中的错误,冗余特性是由以下条件保障:
即每一位权重小于低于此位的所有权重和。冗余度Redudency为:
Rn越大,冗余度越高,容错能力越强,但有效精度会下降。由于低位电容权重相对高位电容较小,低位电容匹配误差对ADC整体精度影响较小,在一些实施例中,可以根据电容生产工艺选取适当的电容大小满足低位匹配要求,例如C6,C5,...,C1,作为低位电容,然后使用SARADC本身的模数转换,用低位电容逐次校准高位电容C7,C8,...,C18,从而得到精确的位权重,实现高精度。例如C7用C0到C6校准,得到C7的精确权重,然后C8用C0到C7校准,得到C8的精确权重,依次类推。在其他实施例中,满足低位匹配要求的电容为C3,C2,C1,则校准过程从C4开始,用C3,C2,C1逐次校准C4,C5,...,C18
在差分输入的SARADC电容阵列中,第i位正端输入对应的分裂电容定义为Cip1,Cip2,负端输入对应的分裂电容为Cin1、Cin2。本实施例以电容C7为例,计算其权重BW7的具体过程如下:
步骤A:初始化
所有的Cip1接Vref,Cip2接Gnd,Cin1接Vref,Cin2接Gnd,连接VCM的开关闭合。
步骤B:采样
连接VCM的开关打开,Vx,Vy悬空,Vx,Vy上的电荷保持恒定,Vx=Vy=VCM。
步骤C:模数转换获取BW7+
将C7p2接Vref,C7n1接Gnd,按SARADC的模数转换步骤进行,但是当转换高于7的位数时,比较结束后不做任何动作,C18到C8的开关保持原样,C7的开关也不变。从第6位开始,连接电容的开关会根据上一次比较器的结果更新,如同正常的SARADC转换,一直到最小位转换结束。BW7+由得到的数字编码b6b5...b0和BW6到BW0决定,即:
步骤D:再次初始化
所有的Cip1接Vref,Cip2接,Gnd,Cin1接Vref,Cin2接Gnd,连接VCM的开关闭合。
步骤E:采样
连接VCM的开关打开,Vx,Vy悬空,Vx,Vy上的电荷保持恒定,Vx=Vy=VCM。
步骤F:模数转换获取BW7-
将C7p1接Gnd,C7n2接Vref,按SARADC的转换步骤进行,但是当转换高于7的位数时,比较结束后不做任何动作,C18到C8的开关保持原样,C7的开关也不变。从第6位开始,连接电容的开关会根据上一次比较器的结果更新,如同正常的SARADC转换,一直到最小位转换结束。BW7-由得到的数字编码b6b5...b0和BW6到BW0决定,即:
步骤G:计算BW7
BW7=BW7++BW7-
在另一实施例中,BW7+和BW7-的获取顺序可变动。步骤E可省略。有步骤E是使校准过程尽可能与正常转换过程一致,从而减少引入新的逻辑控制。通过N次重复步骤A到G,将得到的位权重进行平均,提高精度,N=2m,便于数字实现平均。m的选取取决于权重的精度要求和芯片计算量的限制,权衡选择,本实施例中m=5或者m=10。重复BW7的步骤,由低位到高位依次校准获取BW8,BW9,...,BW18
在另一实施例中,C7的权重BW7可以在获取b6b5...b0后计算得到,也可以在获取所有需要校准的电容对应的编码后,批处理计算得到,例如,需要校准的电容为C7,C8,...,C18,则获取C7,C8,...,C18对应的编码b6b5...b0、b7b6...b0、…、b17b16...b0后,批处理得到BW7,BW8,...,BW18
本发明的权重校准方法利用冗余SARADC的冗余特性,即高位的权重小于低位权重之和,可以用低位来校准高位。而且由于冗余的存在,也保证了在校准过程中的容错性。图2和图3比较了同样SIN输入经过模数转换,用设计的理想电容权重和校准的电容权重得到的FFT。SNDR从62.08dB提高到97.64dB,SFDR从70.92dB提高到127.6dB。

Claims (10)

1.一种逐次逼近型模数转换器权重校准方法,所述逐次逼近型模数转换器包括:有n个电容的电容阵列,所述逐次逼近型模数转换器用于在权重校准后进行模数转换输出数字编码bn-1bn-2...b0,其特征在于,所述权重校准方法具体为:
在所述n个电容的电容阵列中,电容由高位到低位排列为Cn-1,Cn-2,...,C0,第i位电容的权重表示为BWi,并且满足条件:
第i位权重电容Ci的权重,由Ci-1,Ci-2,...,C0的权重逐次校准得到,其计算方法为:b0,b1,...,bi-1为校准Ci时得到的对应于电容C0,C1,...,Ci-1的数字编码,BW0为预设值,其中,i,j∈{0,...,n},n为正整数。
2.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,所述逐次逼近型模数转换器为差分输入的模数转换器,所述电容阵列每个权重电容Ci由一对相等的电容组成,用于双极性差分信号的模数转换,所述差分输入的模数转换器的正输入端的电容表示为Cip1、Cip2,负输入端的电容表示为Cin1、Cin2;具体步骤为:
步骤A:初始化,电容阵列中Cip1、Cin1输入模数转换的参考电压Vref,Cip2、Cin2输入接地电压Gnd,连接信号VCM;
步骤B:采样,断开信号VCM,使得电容阵列的电容电荷保持恒定;
步骤C:当获取正输入端权重BWi+时,Cip2端输入模数转换的参考电压Vref,Cin1端输入地电压Gnd,
步骤D:当获取负输入端权重BWi-时,Cin2端输入模数转换的参考电压Vref,Cip1端输入地电压Gnd,
步骤E:第i个权重电容的权重BWi=BWi++BWi-
3.根据权利要求2所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,在所述步骤C与步骤D之间增加步骤B’:采样,断开信号VCM,使得电容阵列的电容电荷保持恒定;所述步骤C与步骤D顺序可调换。
4.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,所述电容阵列包括一个虚拟电容C0,所述虚拟电容的权重BW0=1。
5.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,重复获取第i位权重N次,计算N次权重的平均值作为第i位权重,其中N=2m,m为整数。
6.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,所述校准方法在芯片内部硬件实现和/或在芯片外部通过软件实现。
7.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,每个权重BWi的计算在获取bi-1bi-2...b0后计算得到,或者在获取所有需要校准的电容对应的编码后,批处理计算得到。
8.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,所述权重校准后,还包括步骤:所述逐次逼近型模数转换器对于模拟输入得到非二进制冗余的数字编码bn-1bn-2...b0,则根据公式得出二进制量化结果。
9.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,所述校准方法根据电容的大小和/或电容工艺的匹配性,和/或预设精度需求,从不同的权重位开始校准。
10.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器权重校准方法,其特征在于,每个校准得到的权重所对应输出数字编码的位宽根据预设精度需求和/或寄存器参数调整。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109885515A (zh) * 2019-02-22 2019-06-14 烽火通信科技股份有限公司 一种位宽变换的实现方法及系统
CN110071723A (zh) * 2019-04-29 2019-07-30 电子科技大学 一种用于逐次逼近型模数转换器的伪共模开关方法
CN110086468A (zh) * 2019-05-17 2019-08-02 成都微光集电科技有限公司 一种非二进制逐次逼近型模数转换器的权重校准方法
CN110545105A (zh) * 2019-07-18 2019-12-06 西安交通大学 量化及转换方法、控制电路、模数转换器及心脏起搏器
CN110768671A (zh) * 2019-10-17 2020-02-07 西安交通大学 一种用于逐次逼近型模数转换器的片外校准方法及系统
CN110868216A (zh) * 2019-11-29 2020-03-06 湖南国科微电子股份有限公司 一种sar adc的数据转换方法、装置、设备及介质
CN113037287A (zh) * 2021-04-07 2021-06-25 西安交通大学 一种高精度逐次逼近性模数转换器的后台校准方法及系统
CN113437972A (zh) * 2021-06-11 2021-09-24 上海联影微电子科技有限公司 电容校准方法和电子设备
CN114124094A (zh) * 2022-01-25 2022-03-01 微龛(广州)半导体有限公司 模数转换器及权重电容校准方法
CN116961656A (zh) * 2023-08-11 2023-10-27 同济大学 一种高精度电容型数模转换器校准方法和装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012123578A1 (en) * 2011-03-17 2012-09-20 Anacatum Design Ab Adc calibration
US20140097975A1 (en) * 2012-10-05 2014-04-10 National Chiao Tung University Method for estimating capacitance weight errors and successive approximation analog to digital converter using the same
CN104660264A (zh) * 2015-03-20 2015-05-27 中国电子科技集团公司第二十四研究所 具有带冗余位的非二进制电容阵列的模数转换器及芯片
CN104917524A (zh) * 2014-03-14 2015-09-16 联发科技股份有限公司 模数转换器
CN105245227A (zh) * 2015-11-09 2016-01-13 天津大学 用于图像传感器列级循环adc的数字校准方法
CN105933004A (zh) * 2016-04-15 2016-09-07 北京大学(天津滨海)新代信息技术研究院 一种新型高精度电容自校准逐次逼近型模数转换器
CN107437944A (zh) * 2017-07-21 2017-12-05 北京大学(天津滨海)新代信息技术研究院 一种带片内数字自校准的电容型逐次逼近模数转换器及其自校准方法
CN108599766A (zh) * 2018-05-10 2018-09-28 北京华大九天软件有限公司 一种sar-adc高位电容阵列的计算、校准方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012123578A1 (en) * 2011-03-17 2012-09-20 Anacatum Design Ab Adc calibration
US20140097975A1 (en) * 2012-10-05 2014-04-10 National Chiao Tung University Method for estimating capacitance weight errors and successive approximation analog to digital converter using the same
CN104917524A (zh) * 2014-03-14 2015-09-16 联发科技股份有限公司 模数转换器
CN104660264A (zh) * 2015-03-20 2015-05-27 中国电子科技集团公司第二十四研究所 具有带冗余位的非二进制电容阵列的模数转换器及芯片
US20180041221A1 (en) * 2015-03-20 2018-02-08 No. 24 Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation Analogue-digital converter of non-binary capacitor array with redundant bit and its chip
CN105245227A (zh) * 2015-11-09 2016-01-13 天津大学 用于图像传感器列级循环adc的数字校准方法
CN105933004A (zh) * 2016-04-15 2016-09-07 北京大学(天津滨海)新代信息技术研究院 一种新型高精度电容自校准逐次逼近型模数转换器
CN107437944A (zh) * 2017-07-21 2017-12-05 北京大学(天津滨海)新代信息技术研究院 一种带片内数字自校准的电容型逐次逼近模数转换器及其自校准方法
CN108599766A (zh) * 2018-05-10 2018-09-28 北京华大九天软件有限公司 一种sar-adc高位电容阵列的计算、校准方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
WENBO LIU,ET AL: "A 12-bit, 45-MS/s, 3-mW Redundant SuccessiveApproximation-Register Analog-to-Digital Converter", 《IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS》 *

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109885515B (zh) * 2019-02-22 2020-09-15 烽火通信科技股份有限公司 一种位宽变换的实现方法及系统
CN109885515A (zh) * 2019-02-22 2019-06-14 烽火通信科技股份有限公司 一种位宽变换的实现方法及系统
CN110071723A (zh) * 2019-04-29 2019-07-30 电子科技大学 一种用于逐次逼近型模数转换器的伪共模开关方法
CN110086468A (zh) * 2019-05-17 2019-08-02 成都微光集电科技有限公司 一种非二进制逐次逼近型模数转换器的权重校准方法
CN110086468B (zh) * 2019-05-17 2023-04-25 成都微光集电科技有限公司 一种非二进制逐次逼近型模数转换器的权重校准方法
CN110545105A (zh) * 2019-07-18 2019-12-06 西安交通大学 量化及转换方法、控制电路、模数转换器及心脏起搏器
CN110545105B (zh) * 2019-07-18 2021-11-30 西安交通大学 量化及转换方法、控制电路、模数转换器及心脏起搏器
CN110768671A (zh) * 2019-10-17 2020-02-07 西安交通大学 一种用于逐次逼近型模数转换器的片外校准方法及系统
CN110768671B (zh) * 2019-10-17 2022-04-22 西安交通大学 一种用于逐次逼近型模数转换器的片外校准方法及系统
CN110868216A (zh) * 2019-11-29 2020-03-06 湖南国科微电子股份有限公司 一种sar adc的数据转换方法、装置、设备及介质
CN110868216B (zh) * 2019-11-29 2024-05-07 湖南国科微电子股份有限公司 一种sar adc的数据转换方法、装置、设备及介质
CN113037287A (zh) * 2021-04-07 2021-06-25 西安交通大学 一种高精度逐次逼近性模数转换器的后台校准方法及系统
CN113037287B (zh) * 2021-04-07 2023-10-20 西安交通大学 一种高精度逐次逼近性模数转换器的后台校准方法及系统
CN113437972A (zh) * 2021-06-11 2021-09-24 上海联影微电子科技有限公司 电容校准方法和电子设备
CN114124094B (zh) * 2022-01-25 2022-05-17 微龛(广州)半导体有限公司 模数转换器及权重电容校准方法
CN114124094A (zh) * 2022-01-25 2022-03-01 微龛(广州)半导体有限公司 模数转换器及权重电容校准方法
CN116961656A (zh) * 2023-08-11 2023-10-27 同济大学 一种高精度电容型数模转换器校准方法和装置
CN116961656B (zh) * 2023-08-11 2024-04-05 同济大学 一种高精度电容型数模转换器校准方法和装置

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