CN109144769A - 一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法 - Google Patents

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陈育鸣
李庭育
洪振洲
魏智汎
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    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
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    • G06F11/1012—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using codes or arrangements adapted for a specific type of error
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    • G06F11/102—Error in check bits

Abstract

本发明公开了一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，包括主控芯片，主控芯片内设有内存储存控制模块和内存控制物理层，内存储存控制模块内设有写入单元和读取单元，写入单元和读取单元分别连接内存控制物理层，内存控制物理层连接多个内存储存组件，本发明使用以校验位内嵌的方式将校验位与数据同时存进外部随机内存空间以改善传统使用汉明码需要额外储存空间，读取时,同时或依序读出用户数据与校验位数据,于校验模块内进行用户数据校验运算。

Description

一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法
技术领域
本发明涉及内存技术领域，具体为一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法。
背景技术
内存是计算机中重要的部件之一，它是与CPU进行沟通的桥梁。计算机中所有程序的运行都是在内存中进行的，因此内存的性能对计算机的影响非常大。内存也被称为内存储器，其作用是用于暂时存放CPU中的运算数据，以及与硬盘等外部存储器交换的数据。只要计算机在运行中，CPU就会把需要运算的数据调到内存中进行运算，当运算完成后CPU再将结果传送出来，内存的运行也决定了计算机的稳定运行。 内存是由内存芯片、电路板、金手指等部分组成的。
现行内存控制系统多以汉明码方式做随机数据保护, 其数据位宽与校验位宽的比例大致为2:1/4:1/8:1/16:1/32:1. 此传统校验保护方式需配置冗余储存单元用以储存纠错校验码。
发明内容
本发明的目的在于提供一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，包括主控芯片，所述主控芯片内设有内存储存控制模块和内存控制物理层，所述内存储存控制模块内设有写入单元和读取单元，所述写入单元和读取单元分别连接内存控制物理层，所述内存控制物理层连接多个内存储存组件；多个内存储存组件包括第一内存储存组件、第二内存储存组件、第三内存储存组件、第N内存储存组件，N为大于3的整数。
优选的，还包括检验位产生单元和校验检查单元，所述检验位产生单元和校验检查单元均设置在内存储存控制模块中，所述检验位产生单元连接写入单元；所述校验检查单元连接读取单元。
优选的，一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，包括以下步骤：
A、首先对数据数据做运算产生校验用的校验位, 以跟随或配置到另一区块的方式将校验位与数据同时存进外部随机内存空间；
B、读取时, 同时读出用户数据与校验位数据, 于校验模块内进行用户数据校验运算。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明使用以校验位内嵌的方式将校验位与数据同时存进外部随机内存空间以改善传统使用汉明码需要额外储存空间，读取时,同时或依序读出用户数据与校验位数据, 于校验模块内进行用户数据校验运算。
附图说明
图1为本发明一个主控内部的随机内存控制单元示意图；
图2为本发明中配置额外的校验位储存用内存组件示意图；
图3为本发明不配置额外的校验位储存用内存组件示意图；
图4为本发明随机内存控制单元所控制的校验位产生与写入随机内存的示意图；
图5为本发明随机内存控制单元所控制从随机内存读出资料与校验示意图；
图6为本发明无配置专用校验位储存组件示意图；
图7为本发明无配置专用校验位储存组件另一示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-7，本发明提供一种技术方案：一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，包括主控芯片1，所述主控芯片1内设有内存储存控制模块2和内存控制物理层3，所述内存储存控制模块2内设有写入单元4和读取单元5，所述写入单元4和读取单元5分别连接内存控制物理层3，所述内存控制物理层3连接多个内存储存组件；多个内存储存组件包括第一内存储存组件6、第二内存储存组件7、第三内存储存组件8、第N内存储存组件，N为大于3的整数；还包括检验位产生单元9和校验检查单元10，所述检验位产生单元9和校验检查单元10均设置在内存储存控制模块2中，所述检验位产生单元9连接写入单元4；所述校验检查单元10连接读取单元5。
本发明中，一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法包括以下步骤：
A、首先对数据数据做运算产生校验用的校验位, 以跟随或配置到另一区块的方式将校验位与数据同时存进外部随机内存空间；
B、读取时, 同时读出用户数据与校验位数据, 于校验模块内进行用户数据校验运算。
综上所述，本发明使用以校验位内嵌的方式将校验位与数据同时存进外部随机内存空间以改善传统使用汉明码需要额外储存空间，读取时, 同时或依序读出用户数据与校验位数据, 于校验模块内进行用户数据校验运算。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (3)

1.一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，包括主控芯片（1），其特征在于：所述主控芯片（1）内设有内存储存控制模块（2）和内存控制物理层（3），所述内存储存控制模块（2）内设有写入单元（4）和读取单元（5），所述写入单元（4）和读取单元（5）分别连接内存控制物理层（3），所述内存控制物理层（3）连接多个内存储存组件；多个内存储存组件包括第一内存储存组件（6）、第二内存储存组件（7）、第三内存储存组件（8）、第N内存储存组件，N为大于3的整数。
2.根据权利要求1所述的一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，其特征在于：还包括检验位产生单元（9）和校验检查单元（10），所述检验位产生单元（9）和校验检查单元（10）均设置在内存储存控制模块（2）中，所述检验位产生单元（9）连接写入单元（4）；所述校验检查单元（10）连接读取单元（5）。
3.根据权利要求1所述的一种随机内存使用纠错码校验免去冗余储存单元的方法，其特征在于：包括以下步骤：
A、首先对数据数据做运算产生校验用的校验位, 以跟随或配置到另一区块的方式将校验位与数据同时存进外部随机内存空间；
B、读取时, 同时读出用户数据与校验位数据, 于校验模块内进行用户数据校验运算。
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