CN109067282B - 一种变频电机电阻检测方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种变频电机电阻检测方法和装置，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找待检测变频电机的标准相电流；向待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波；检测待检测相线圈的流入相电流；如果|Ii‑Ib|＞Y，则调控待检测相线圈中PWM波的占空比，当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；检索预存的(Vsx+Vdx)～Ix对应表；利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻。本发明提供的方案使检测结果比较准确，同时降低了检测造成的退磁风险。

Description

一种变频电机电阻检测方法和装置
技术领域
本发明涉及变频电机检测技术领域，特别涉及一种变频电机电阻检测方法和装置。
背景技术
对于应用于冰箱、空调等家电中的变频电机来说，其相电阻、电感等参数，是实现变频控制的基础。在对家电更换控制板或者控制电路时，往往需要重新向变频电机生产厂家索要相电阻、电感等参数，或者对相电阻、电感等参数进行检测。
目前，相电阻的检测方式主要是，向变频电机输入固定的PWM波，该固定的PWM波会产生PWM波占空比，通过产生的PWM波占空比和检测到变频电机的相电流等，计算变频电机的相电阻。
由于不同家电中的变频电机的电机电阻和电感存在明显差异，不同损耗的同一型号变频电机的电机电阻和电感也会有差异，那么，将固定的PWM波输入到不同的变频电机中，在变频电机相线圈中产生的电流不同。如果进入相线圈的电流过小将造成检测结果的准确性较低，而进入相线圈的电流过大，将会使变频电机存在退磁的风险。
发明内容
本发明实施例提供了一种变频电机电阻检测方法和装置，一方面保证了检测结果的准确性，另一方面降低了检测造成的退磁风险。
一种变频电机电阻检测方法，预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；还包括：
当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；
检测所述待检测相线圈的流入相电流；
如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；
当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；
检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；
利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻。
可选地，
所述PWM波的一个周期波形为
Figure BDA0001765166440000021
可选地，上述方法进一步包括：设置占空比控制寄存器，并为所述占空比控制寄存器设置初始寄存值，其中，
所述占空比控制寄存器产生的三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；
所述向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，包括：
当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；
当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；
当所述三角波的频率大于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平。
可选地，
所述检测所述待检测相线圈的流入相电流，如果|Ii-Ib|＞Y，则调控待检测相线圈对应的PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，包括：
循环执行下述N1至N4：
N1：在上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现增大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；
第一寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)-ΔTa
第二寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)+ΔTa
其中，Tan表征本次调控的修正寄存值；Ta(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔTa表征预设的修正常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环。
可选地，
所述利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，包括：
根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000041
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的当前流入相电流；Tan表征最后一次调控后的修正寄存值；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Td表征PWM波从低电平转换为高电平产生的延迟死区时间；T表征PWM波的周期。
可选地，上述方法进一步包括：
利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000042
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取值为u、w和v；Rx表征待检测电机的x相线圈的相电阻。
一种变频电机电阻检测装置，包括：存储单元、查找单元、PWM波输送单元、调控检测单元以及相电阻计算单元，其中，
所述存储单元，用于存储预设的各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；
所述查找单元，用于当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从所述存储单元存储的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
所述PWM波输送单元，用于向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波，并根据所述调控检测单元的调控结果，输送调控后的PWM波；
所述调控检测单元，用于检测所述待检测相线圈的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述查找单元查找到的待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述存储单元存储的电流差阈值，当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；
所述相电阻计算单元，用于检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定所述调控检测单元检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用所述调控检测单元检测到的流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、所述调控检测单元检测到的直流母线电压和所述调控检测单元调控后的占空比以及PWM波的周期，计算所述待检测相线圈的相电阻。
可选地，
所述调控检测单元，包括：占空比控制寄存器，其中，
所述PWM波的一个周期波形为
Figure BDA0001765166440000051
所述占空比控制寄存器，设置有初始寄存值，用于产生的三角波，其中，所述三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；当产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，发送第一控制指令给所述所述PWM波输送单元；当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，发送第二控制指令给所述所述PWM波输送单元；当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率大于所述初始寄存值时，发送第三控制指令给所述PWM波输送单元；
所述PWM波输送单元，用于当接收到所述第一控制指令时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；当接收到所述第二控制指令时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；当接收到所述第三控制指令时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平。
可选地，
所述调控检测单元，进一步包括：电流检测子单元、电流对比子单元以及判断与修正子单元，其中，
所述电流检测子单元，用于在接收到所述判断与修正子单元的触发时，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
所述电流对比子单元，用于将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则发送调控指令给所述判断与修正子单元，如果|Ii-Ib|≤Y，则发送停止调控给所述判断与修正子单元；
所述判断与修正子单元，用于当接收到所述调控指令时，判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，并将本次调控作为上一次调控，并触发所述电流检测子单元；否则，则根据下述第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，并将本次调控作为上一次调控，并触发所述电流检测子单元；当接收到所述停止调控指令时，则停止调控；
第一寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)-ΔTa
第二寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)+ΔTa
其中，Tan表征本次调控的修正寄存值；Ta(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔTa表征预设的修正常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
所述占空比控制寄存器，进一步用于按照所述判断与修正子单元每一次调控的修正寄存值，向所述PWM波输送单元发送对应的控制指令。
可选地，
所述相电阻计算单元，用于根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000071
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的当前流入相电流；Tan表征最后一次调控后的修正寄存值；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Td表征PWM波从低电平转换为高电平产生的延迟死区时间；T表征PWM波的周期。
可选地，上述装置进一步包括：
电阻计算单元，用于利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000072
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取值为u、w和v；Rx表征所述相电阻计算单元计算出的待检测电机的x相线圈的相电阻。
本发明实施例提供了一种变频电机电阻检测方法和装置，通过预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；检测所述待检测相线圈的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，本发明提供的方案，实现了对待检测相线圈中电流的调控，使电流处于比较合适的值，一方面保证了检测结果的准确性，另一方面降低了检测造成的退磁风险。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例提供的一种变频电机电阻检测方法的流程图；
图2是本发明一个实施例提供的一种变频电机电阻检测方法的流程图；
图3是本发明一个实施例提供的占空比控制寄存器产生的三角波与PWM波之间的关系图；
图4是本发明一个实施例提供的变频电机电阻检测装置的结构示意图；
图5是本发明另一个实施例提供的变频电机电阻检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，本发明实施例提供了一种变频电机电阻检测方法，该方法可以包括以下步骤：
步骤101：预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表；
x相线圈的导通压降是指x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降加上x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降的值；
该x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表的表达方式为(Vsx+Vdx)～Ix对应表；
其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；
步骤102：当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
步骤103：向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；
步骤104：检测所述待检测相线圈的流入相电流；
步骤105：如果流入相电流与待检测变频电机的标准相电流之差的绝对值大于预设的电流差阈值，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至流入相电流与待检测变频电机的标准相电流之差的绝对值不大于预设的电流差阈值；
即：如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；
步骤106：当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；
步骤107：检索对应表，确定检测到的流入相电流对应的x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降加上x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降的值；
步骤108：利用流入相电流及其对应的x相线圈的导通压降、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻。
x相线圈的导通压降是指x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降加上x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降的值。
在图1所示的实施例中，通过预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；检测所述待检测相线圈的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，本发明提供的方案，实现了对待检测相线圈中电流的调控，使电流处于比较合适的值，一方面保证了检测结果的准确性，另一方面降低了检测造成的退磁风险。
在本发明一个实施例中，所述PWM波的一个周期波形为
Figure BDA0001765166440000101
在本发明另一实施例中，上述方法进一步包括：设置占空比控制寄存器，并为所述占空比控制寄存器设置初始寄存值，其中，所述占空比控制寄存器产生的三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；
所述向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波的具体实施方式：当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；当所述三角波的频率大于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平。通过该种方式控制PWM波的输送过程，能够更好地调控PWM波的占空比。
在本发明另一实施例中，所述检测所述待检测相线圈的流入相电流，如果|Ii-Ib|＞Y，则调控待检测相线圈对应的PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，具体实施方式可包括：循环执行下述N1至N4：
N1：在上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现增大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；
第一寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)-ΔTa
第二寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)+ΔTa
其中，Tan表征本次调控的修正寄存值；Ta(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔTa表征预设的修正常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环。
在本发明另一实施例中，步骤108的具体实施方式可包括：根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000111
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的当前流入相电流；Tan表征最后一次调控后的修正寄存值；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Td表征PWM波从低电平转换为高电平产生的延迟死区时间；T表征PWM波的周期。
在本发明又一实施例中，上述方法进一步包括：利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000121
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取值为u、w和v；Rx表征待检测电机的x相线圈的相电阻。
为更加清楚地说明变频电机电阻检测方法，下面以为一个冰箱中的变频电机检测电阻为例展开说明。如图2所示，该方法可以包括以下步骤：
步骤201：预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表；
x相线圈的导通压降是指x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降加上x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降的值；
该x相线圈的导通压降与x相线圈中电流的对应表的表达方式为(Vsx+Vdx)～Ix对应表；
其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降。
下述相电阻计算过程中，(Vsx+Vdx)的值会对相电阻产生影响，而(Vsx+Vdx)值会随着电机线圈电流的大小改变，而IGBT手册中给出的是IGBT饱和正向导通电压降，于冰箱、空调等家电来说，IGBT手册给出的IGBT饱和压降是IGBT电流为15A等情况下的电压降，而电阻检测过程往往达不到或者不需要这样大的电流，当冰箱、空调等家电中的电机相电阻很大时也不可能达到这样的电流，因此，为了保证变频电机相电阻检测的准确性，构建了(Vsx+Vdx)～Ix对应表，由于本发明实施例中，用来计算相电阻的电流一般处于Id±Y范围内，因此，本发明实施例构建的对应表中Ix∈[Id-Y，Id+Y]。
对相电阻计算公式变形，可得：
Figure BDA0001765166440000131
通过已知相电阻的不同电机，不同电机的相电阻不同，(2Ta-Td)的值表征PWM波高电平时长，其可通过控制PWM波不同占空比而得到不同的值，T为已知的PWM波周期，控制Ix在[Id-Y，Id+Y]范围内变化，即可得到每个Ix对应的(Vsx+Vdx)，由于(2Ta-Td)的值可通过控制PWM波不同占空比而得到不同的值，因此，对得到的Ix值与对应的(Vsx+Vdx)值通过下述三次曲线拟合公式，进行曲线拟合。
三次曲线拟合公式：
(Vsx+Vdx)＝a0+a1Ix+a2Ix 2+a3Ix 3
基于上面得到的(Vsx+Vdx)和Ix，通过最小二乘法获得a0、a1、a2及a3。
基于拟合出来的曲线，基于电流Ix从Id-Y到Id+Y的变化，计算(Vsx+Vdx)值的变化，从而获得(Vsx+Vdx)～Ix对应表，可将(Vsx+Vdx)～Ix对应表存储于ROM中，以供查询。
步骤202：设置占空比控制寄存器，并为所述占空比控制寄存器设置初始寄存值；
占空比控制寄存器产生的三角波与PWM波之间的关系，如图3所示，从图3中可以看出，所述占空比控制寄存器产生的三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；在一个三角波周期和一个PWM波周期中，当三角波频率计数从0开始增加时，PWM波处于高电平波段；当三角波频率计数达到寄存值时，PWM波由高电平转换为低电平；当三角波频率计数继续增加，PWM波处于低电平波段，当到达周期的一半时，三角波频段计数达到最大值，之后三角波频段计数开始减少，当三角波频段计数减少到寄存值之后，由于死区时间的存在，使得PWM波再经过一个死区时间，PWM波由低电平转换为高电平；三角波频段计数继续减少，则PWM波保持高电平，三角波频段计数减少到0时，一个周期结束，开始进入下一个周期。当寄存值发生改变时，PWM波的高电平与低电平转换时间也相应的改变，从而改变PWM波的占空比。例如：当寄存值增大时，PWM波处于高电平的时间相应延长，在周期不变的前提下，PWM波的占空比增大；当寄存值减小时，PWM波处于高电平的时间相应缩短，在周期不变的前提下，PWM波的占空比减小。
PWM波的波形为
Figure BDA0001765166440000141
占空比控制寄存器通过控制输送PWM波单元交替发出矢量V1(100)和零矢量V0(000)电压矢量来实现输送PWM波，发出矢量V1(100)时，输出PWM波高电平；发出零矢量V0(000)时，输出PWM波低电平。
步骤203：当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据冰箱中所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
步骤204：按照初始寄存值，向所述待检测相线圈输送初始PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；
该步骤具体输送PWM波的过程：
当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；
当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；
当所述三角波的频率大于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平。
步骤205：检测所述待检测相线圈的流入相电流；
步骤206：判断流入相电流与待检测变频电机的标准相电流之差的绝对值是否大于预设的电流差阈值，如果是，则执行步骤207；否则，执行步骤210；
即：如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；
步骤207：判断流入相电流是否大于待检测变频电机的标准相电流，如果是，则执行步骤208；否则，执行步骤209；
步骤208：根据第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行步骤205；
步骤209：根据第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现增大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行步骤205；
步骤208和步骤209所涉及的第一寄存值修正公式和第二寄存值修正公式：
第一寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)-ΔTa
第二寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)+ΔTa
其中，Tan表征本次调控的修正寄存值；Ta(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔTa表征预设的修正常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
步骤210：停止调控，并结束循环；
步骤211：当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；
该预设时长阈值主要是为了在PWM波输送稳定之后，检测流入相电流和直流母线电压，以保证流入相电流和直流母线电压检测的准确性，从而保证后续计算相电阻的准确性。
步骤212：检索对应表，确定检测到的流入相电流对应的x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降加上x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降的值；
步骤213：利用流入相电流及其对应的x相线圈的导通压降、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻；
该步骤的具体实现方式：根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000161
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的当前流入相电流；Tan表征最后一次调控后的修正寄存值；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Td表征PWM波从低电平转换为高电平产生的延迟死区时间；T表征PWM波的周期。
该步骤涉及的检测到的x相线圈的当前流入相电流是指上述步骤211种检测出的。
在通过占空比控制寄存器产生的三角波控制PWM波输送时，在PWM波由低电平转换为高电平的过程会出现一个死区时间，使得PWM波由低电平转换为高电平的时间会延长一个死区时间，即在一个PWM波周期内，PWM波处于高电平的时长为(2Tan-Td)。
步骤214：利用u相电阻、w相电阻和v相电阻，计算待检测电机的电阻。
该步骤的具体实现方式：利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000162
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取值为u、w和v；Rx表征待检测电机的x相线圈的相电阻。
基于上述实施例提供的方法，对不同变频电机的电阻进行检测，将检测到的电阻与变频电机给出的电阻进行对比，发现，本发明实施例提供的监测方法的检测结果与实际的误差在-1.5％～1.5％，检测精度较高。
如图4所示，本发明实施例提供一种变频电机电阻检测装置，包括：存储单元401、查找单元402、PWM波输送单元403、调控检测单元404以及相电阻计算单元405，其中，
所述存储单元401，用于存储预设的各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；
所述查找单元402，用于当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从所述存储单元401存储的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
所述PWM波输送单元403，用于向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波，并根据所述调控检测单元404的调控结果，输送调控后的PWM波；
所述调控检测单元404，用于检测所述待检测相线圈的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述查找单元402查找到的待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述存储单元401存储的电流差阈值，当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；
所述相电阻计算单元405，用于所述存储单元401存储的检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定所述调控检测单元404检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用所述调控检测单元404检测到的流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、所述调控检测单元404检测到的直流母线电压和所述调控检测单元404调控后的占空比以及PWM波的周期，计算所述待检测相线圈的相电阻。
如图5所示，在本发明另一实施例中，所述调控检测单元404，包括：占空比控制寄存器4041，其中，
所述PWM波的一个周期波形为
Figure BDA0001765166440000181
所述占空比控制寄存器4041，设置有初始寄存值，用于产生的三角波，其中，所述三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；当产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，发送第一控制指令给所述PWM波输送单元403；当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，发送第二控制指令给所述所述PWM波输送单元403；当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率大于所述初始寄存值时，发送第三控制指令给所述PWM波输送单元403；
所述PWM波输送单元403，用于当接收到所述第一控制指令时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；当接收到所述第二控制指令时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；当接收到所述第三控制指令时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平。
在本发明另一实施例中，所述调控检测单元，进一步包括：电流检测子单元、电流对比子单元以及判断与修正子单元(图中未示出)，其中，
所述电流检测子单元，用于在接收到所述判断与修正子单元的触发时，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
所述电流对比子单元，用于将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则发送调控指令给所述判断与修正子单元，如果|Ii-Ib|≤Y，则发送停止调控给所述判断与修正子单元；
所述判断与修正子单元，用于当接收到所述调控指令时，判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，并将本次调控作为上一次调控，并触发所述电流检测子单元；否则，则根据下述第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，并将本次调控作为上一次调控，并触发所述电流检测子单元；当接收到所述停止调控指令时，则停止调控；
第一寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)-ΔTa
第二寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)+ΔTa
其中，Tan表征本次调控的修正寄存值；Ta(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔTa表征预设的修正常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
所述占空比控制寄存器，进一步用于按照所述判断与修正子单元每一次调控的修正寄存值，向所述PWM波输送单元发送对应的控制指令。
在本发明另一实施例中，所述相电阻计算单元，用于根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000191
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的当前流入相电流；Tan表征最后一次调控后的修正寄存值；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Td表征PWM波从低电平转换为高电平产生的延迟死区时间；T表征PWM波的周期。
在本发明又一实施例中，上述装置进一步包括：
电阻计算单元(图中未示出)，用于利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
Figure BDA0001765166440000192
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取值为u、w和v；Rx表征所述相电阻计算单元计算出的待检测电机的x相线圈的相电阻。
上述装置内的各单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本发明方法实施例基于同一构思，具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述，此处不再赘述。
本发明实施例提供了一种可读介质，包括执行指令，当存储控制器的处理器执行所述执行指令时，所述存储控制器执行本发明上述任一实施例提供的方法。
本发明实施例提供了一种存储控制器，包括：处理器、存储器和总线；所述存储器用于存储执行指令，所述处理器与所述存储器通过所述总线连接，当所述存储控制器运行时，所述处理器执行所述存储器存储的所述执行指令，以使所述存储控制器执行本发明上述任一实施例提供的方法。
综上所述，本发明以上各个实施例至少具有如下有益效果：
1、在本发明实施例中，通过预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；检测所述待检测相线圈的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，本发明提供的方案，实现了对待检测相线圈中电流的调控，使电流处于比较合适的值，一方面保证了检测结果的准确性，另一方面降低了检测造成的退磁风险。
2、在本发明实施例中，设置占空比控制寄存器，并为所述占空比控制寄存器设置初始寄存值，其中，所述占空比控制寄存器产生的三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；所述向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，包括：当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；当所述三角波的频率大于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平，即通过占空比控制寄存器产生的三角波及寄存值来调控PWM波的占空比，使得调控过程更加简单。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个······”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储在计算机可读取的存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质中。
最后需要说明的是：以上所述仅为本发明的较佳实施例，仅用于说明本发明的技术方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种变频电机电阻检测方法，其特征在于，预设各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；还包括：
当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从预设的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波；
检测所述待检测相线圈的流入相电流；
如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征预设的电流差阈值；
当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；
检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；
利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻；
所述检测所述待检测相线圈的流入相电流，如果|Ii-Ib|＞Y，则调控待检测相线圈对应的PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，包括：
循环执行下述N1至N4：
N1：在上一次调控之后，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
N2：将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则执行N3，如果|Ii-Ib|≤Y，则执行N4；
N3：判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现减小PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；否则，则根据下述第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，按照本次调控的修正寄存值，向所述待检测相线圈输送PWM波，以实现增大PWM波占空比，并将本次调控作为上一次调控，执行N1；
第一寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)-ΔTa
第二寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)+ΔTa
其中，Tan表征本次调控的修正寄存值；Ta(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔTa表征预设的修正常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
N4：停止调控，并结束循环。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述PWM波的一个周期波形为
Figure FDA0002259552060000021
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，进一步包括：设置占空比控制寄存器，并为所述占空比控制寄存器设置初始寄存值，其中，
所述占空比控制寄存器产生的三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；
所述向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，包括：
当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；
当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；
当所述三角波的频率大于所述初始寄存值时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、直流母线电压以及PWM波的周期和调控后的占空比，计算所述待检测相线圈的相电阻，包括：
根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
Figure FDA0002259552060000031
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的当前流入相电流；Tan表征最后一次调控后的修正寄存值；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Td表征PWM波从低电平转换为高电平产生的延迟死区时间；T表征PWM波的周期。
5.根据权利要求1至4任一所述的方法，其特征在于，进一步包括：
利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
Figure FDA0002259552060000032
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取值为u、w和v；Rx表征待检测电机的x相线圈的相电阻。
6.一种变频电机电阻检测装置，其特征在于，包括：存储单元、查找单元、PWM波输送单元、调控检测单元以及相电阻计算单元，其中，
所述存储单元，用于存储预设的各种类型变频电机的标准相电流，并预存(Vsx+Vdx)～Ix对应表，其中，Ix表征x相线圈对应的相电流，x取值为u、v及w，Vsx表征所述x相线圈连接的上桥臂中IGBT的正向导通压降；Vdx表征所述x相线圈连接的下桥臂中续流二极管的正向导通压降；
所述查找单元，用于当接收到一个待检测相线圈的相电阻检测请求时，根据所述待检测变频电机的类型，从所述存储单元存储的各种类型变频电机的标准相电流，查找所述待检测变频电机的标准相电流；
所述PWM波输送单元，用于向所述待检测相线圈输送占空比为预设的初始占空比的PWM波，向剩余两个相线圈输送占空比为0的PWM波，并根据所述调控检测单元的调控结果，输送调控后的PWM波；
所述调控检测单元，用于检测所述待检测相线圈的流入相电流；如果|Ii-Ib|＞Y，则调控所述待检测相线圈中PWM波的占空比，直至|Ii-Ib|≤Y，其中，Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述查找单元查找到的待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述存储单元存储的电流差阈值，当调控后的PWM波的输送时长达到预设时长阈值时，检测所述待检测相线圈的当前流入相电流和直流母线电压；
所述相电阻计算单元，用于检索(Vsx+Vdx)～Ix对应表，确定所述调控检测单元检测到的流入相电流对应的(Vsx+Vdx)值；利用所述调控检测单元检测到的流入相电流及其对应的(Vsx+Vdx)值、所述调控检测单元检测到的直流母线电压和所述调控检测单元调控后的占空比以及PWM波的周期，计算所述待检测相线圈的相电阻；
所述调控检测单元，进一步包括：电流检测子单元、电流对比子单元以及判断与修正子单元，其中，
所述电流检测子单元，用于在接收到所述判断与修正子单元的触发时，检测所述待检测变频电机的流入相电流；
所述电流对比子单元，用于将流入相电流与标准相电流进行对比，如果|Ii-Ib|＞Y，则发送调控指令给所述判断与修正子单元，如果|Ii-Ib|≤Y，则发送停止调控给所述判断与修正子单元；
所述判断与修正子单元，用于当接收到所述调控指令时，判断Ii是否大于Ib，如果是，则根据下述第一寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，并将本次调控作为上一次调控，并触发所述电流检测子单元；否则，则根据下述第二寄存值修正公式，计算本次调控的修正寄存值，并将本次调控作为上一次调控，并触发所述电流检测子单元；当接收到所述停止调控指令时，则停止调控；
第一寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)-ΔTa
第二寄存值修正公式：
Tan＝Ta(n-1)+ΔTa
其中，Tan表征本次调控的修正寄存值；Ta(n-1)表征上一次调控的修正寄存值；ΔTa表征预设的修正常数；Ii表征所述流入相电流，Ib表征所述待检测变频电机的标准相电流；Y表征所述电流差阈值；
所述占空比控制寄存器，进一步用于按照所述判断与修正子单元每一次调控的修正寄存值，向所述PWM波输送单元发送对应的控制指令。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述调控检测单元，包括：占空比控制寄存器，其中，
所述PWM波的一个周期波形为
Figure FDA0002259552060000051
所述占空比控制寄存器，设置有初始寄存值，用于产生的三角波，其中，所述三角波周期与所述PWM波周期一致，所述三角波最大频率出现时间为所述三角波周期的一半/所述PWM波周期的一半；当产生的三角波的频率小于所述初始寄存值时，发送第一控制指令给所述PWM波输送单元；当所述三角波的频率等于所述初始寄存值时，发送第二控制指令给所述PWM波输送单元；当所述占空比控制寄存器产生的三角波的频率大于所述初始寄存值时，发送第三控制指令给所述PWM波输送单元；
所述PWM波输送单元，用于当接收到所述第一控制指令时，向所述待检测相线圈输送PWM波的高电平；当接收到所述第二控制指令时，将所述PWM波从高电平转换为低电平或者将所述PWM波从低电平转换为高电平；当接收到所述第三控制指令时，向所述待检测相线圈输送PWM波的低电平。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述相电阻计算单元，用于根据下述相电阻计算公式，计算所述待检测相线圈的相电阻；
相电阻计算公式：
Figure FDA0002259552060000061
其中，Rx表征x相线圈的相电阻；E表征检测出的直流母线电压；Ix表征检测到的x相线圈的当前流入相电流；Tan表征最后一次调控后的修正寄存值；Ix对应的(Vsx+Vdx)值；Td表征PWM波从低电平转换为高电平产生的延迟死区时间；T表征PWM波的周期；
和/或，
进一步包括：
电阻计算单元，用于利用下述变频电机电阻计算公式，计算待检测电机的电阻；
变频电机电阻计算公式：
Figure FDA0002259552060000062
其中，R表征待检测电机的电阻；x表征待检测电机的一个相线圈，其取值为u、w和v；Rx表征所述相电阻计算单元计算出的待检测电机的x相线圈的相电阻。
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