CN108983452A - 一种检测基板静电发生位置的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种检测基板静电发生位置的方法和装置，属于显示技术领域，其可解决现有的摩擦配向工艺中无法准确找到静电产生的位置的问题。本发明的检测基板静电发生位置的方法是利用电致变色材料处于电场中可改变颜色的性质对基板产生的静电进行检测，该方法仅需将可变色层贴附于基板上即可，该方法检测出的基板产生静电的位置准确，且检测速度快、操作方便。

Description

一种检测基板静电发生位置的方法和装置

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种检测基板静电发生位置的方法和装置。

背景技术

薄膜场效应晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)以其轻薄、环保、高性能等优点而得到广泛的应用，无论是小尺寸的手机屏、还是大尺寸的笔记本电脑或是大型化的液晶电视，到处可见TFT-LCD的应用。

摩擦配向工艺是TFT-LCD的重要制作工艺，其通过柔软的布与玻璃基板上印刷好的配向膜之间的摩擦得以实现。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：上述的摩擦过程中难免会有静电产生，静电的存在会击穿TFT中的走线，从而造成面板显示不良，影响产品的良率，现有技术中并没有可以准确找到静电产生的位置的方法。

发明内容

本发明针对现有的摩擦配向工艺中无法准确找到静电产生的位置的问题，提供一种检测基板静电发生位置的方法、对基板进行摩擦取向的方法、检测基板静电发生位置的装置。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是：

一种检测基板静电发生位置的方法，包括以下检测步骤：

在基板上贴附可变色层，所述可变色层包括电致变色材料，以使所述可变色层在电场作用下变色；

通过观察可变色层的变色位置确定基板静电发生的位置。

可选的是，所述基板的第一面上设有显示元件，所述可变色层贴附于所述基板的第二面。

可选的是，所述可变色层的面积不小于基板的面积。

可选的是，所述可变色层包括衬底和设于衬底一侧的由电致变色材料构成的可变色薄膜；且所述可变色薄膜与基板接触。

可选的是，所述衬底的颜色与所述电致变色材料变色后的颜色不同。

可选的是，所述在基板上贴附可变色层之前还包括：将电致变色材料涂覆在衬底上形成可变色薄膜，以得到所述可变色层。

可选的是，将可变色薄膜的材料涂覆在衬底上以形成所述可变色层包括将三氧化钨加入含有H⁺、Li⁺、Na⁺中的任意一种的溶液中后涂覆在白色衬底上以形成所述可变色层。

本发明还提供一种对基板进行摩擦取向的方法，包括以下制备步骤：

将可变色层贴在基板的第二面上，其中，基板的第一面具有显示元件；

对基板的第一面进行摩擦取向，并在摩擦取向中，对基底的对应可变色层变色的位置进行静电释放。

可选的是，所述显示元件包括TFT和走线。

本发明还提供一种检测基板静电发生位置的装置，包括可变色层，所述可变色层包括电致变色材料，以使所述可变色层在电场作用下变色。

附图说明

图1为本发明的实施例1的检测基板静电发生位置的方法的示意图；

图2为本发明的实施例2的检测基板静电发生位置的方法的示意图；

图3为本发明的实施例3的对基板进行摩擦取向的方法的示意图；

图4为本发明的实施例4的检测基板静电发生位置的装置的结构示意图；

其中，附图标记为：1、基板；11、静电发生的位置；2、可变色层；21、变色位置；22、衬底；23、可变色薄膜；3、摩擦滚轮。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

实施例1：

本实施例提供一种检测基板静电发生位置的方法，如图1所示，包括以下检测步骤：

S1、在基板1上贴附可变色层2，所述可变色层2包括电致变色材料，以使所述可变色层2在电场作用下变色；

S2、通过观察可变色层2的变色位置21确定基板1的静电发生的位置11。

本实施例的检测基板静电发生位置的方法是利用电致变色材料处于电场中可改变颜色的性质对基板1产生的静电进行检测，该方法仅需将可变色层2贴附于基板1上即可，该方法检测出的基板产生静电的位置准确，且检测速度快、操作方便。

实施例2：

本实施例提供一种检测基板静电发生位置的方法，如图2所示，包括以下检测步骤：

S1a、制备可变色层2，所述可变色层2包括电致变色材料，以使所述可变色层2在电场作用下变色；

本实施例的电致变色材料可选择有机电致变色材料，也可以选择无机电致变色材料，在此不做限定，若电致变色材料形成的薄膜自身较软，可以借助一层衬底22，将薄膜支撑从而更方便的贴附于基板1上。

在一个实施例中，可以将电致变色材料涂覆在衬底22上形成可变色薄膜23，以得到所述可变色层2。

具体的，电致变色材料可选用三氧化钨，由于在H⁺、Li⁺、Na⁺中的至少一种离子存在的条件下更利于三氧化钨在电场中的变色，故本实施例的方案中可以将三氧化钨加入含有H⁺、Li⁺、Na⁺中的任意一种的溶液中后，涂覆在白色的衬底22上以形成所述可变色层2。例如，可以将三氧化钨添加到适量无水乙醇中，搅拌均匀，然后均匀地涂覆在与基板1尺寸相同的白色无尘纸上，静止20分钟即可得到可变色层2。

S1b、在基板1上贴附上述S01a步骤制备的可变色层2；

可以理解的是，可变色层2贴附于基板1的上下表面均可。

在一个实施例中，所述基板1的第一面上设有显示元件，所述显示元件包括TFT、走线等，所述可变色层2贴附于所述基板1的第二面。

也就是说，为了不影响其上表面的显示元件，可以将可变色层2贴附于基板1的下表面。

在一个实施例中，所述可变色层2包括衬底22和设于衬底22一侧的由电致变色材料构成的可变色薄膜23，所述可变色薄膜23与基板1接触。

需要说明的是，所述可变色层2的面积不小于基板1的面积。

若可变色层2面积较小则需要多次移动它才能将整个基板1完成检测，若可变色层2面积较大足将基板1覆盖，则一次就能检出。

S2、通过观察可变色层2的变色位置21确定基板1的静电发生的位置11。

作为本实施例的一种优选方案，所述衬底22的颜色与所述电致变色材料变色后的颜色不同。

也就是说，为了便于观察，可以选用衬底22的颜色与电致变色材料变色后的颜色差异较大的材料。

以三氧化钨为例：由于基板1的静电聚集的位置会产生较强的电场，原本无色的三氧化钨在此静电电场下作用下会被还原成蓝色，其中三氧化钨还原的方程式为：

WO₃(无色)+xH⁺+xe^-→H_xWO₃(蓝色)(其中，0＜x≤1)

因此将三氧化钨蓝色的位置(即变色位置21)与基板1相对应的位置(即静电发生的位置11)进行比对，就可检查出基板1静电聚集的位置。

本实施例的方法可以准确的检查出基板1中发生静电的位置，迅速找到静电产生的源头，促进静电不良的解决，提升产品良率。

在本实施例对应的附图所示各结构层的大小、厚度等仅为示意。在具体实现中，各结构层的投影面积可以相同，也可以不同，可以通过刻蚀工艺实现所需的各结构层投影面积；同时，附图所示结构也不限定各结构层的几何形状，例如可以是附图所示的矩形，还可以是梯形，或其它刻蚀所形成的形状，同样可通过刻蚀实现。

实施例3：

本实施例提供一种对基板进行摩擦取向的方法，如图3所示，包括以下制备步骤：

S01、将可变色层2贴在基板1的第二面上，其中，基板1的第一面具有显示元件，所述显示元件包括TFT和走线。

具体的，可变色层2包括有机或无机电致变色材料，更具体的，可以将电致变色材料涂覆在衬底22上形成可变色薄膜23，以得到所述可变色层2。其中，将可变色层2贴在基板1的第二面上可以是将电致变色材料三氧化钨加入含有H⁺、Li⁺、Na⁺中的任意一种的溶液中后，涂覆在白色衬底22上以形成所述可变色层2。例如，可以将三氧化钨添加到适量无水乙醇中，搅拌均匀，然后均匀地涂覆在与基板1尺寸相同的白色无尘纸上，静止20分钟即可得到可变色层2。

S02、对基板1的第一面进行摩擦取向，并在摩擦取向中，对基底的对应可变色层2变色的位置进行静电释放。

本实施例中的摩擦取向是将完成上述步骤的基板1放置于摩擦机台上，然后利用摩擦滚轮3对基板1进行摩擦，摩擦工艺中基板1局部位置可能会产生静电，其中产生静电的位置会产生较强的电场，可变色层2的三氧化钨在该电场的作用下被还原层蓝色，观察可变色层2的变色位置21从而确定基板1静电发生的位置11，并对其进行静电释放。

本实施例的方法可以在摩擦工艺过程中准确的检查出摩擦布与基板1摩擦产生的静电聚集的位置，可以迅速找到静电产生的源头，促进静电不良的解决，提升产品良率。也就是说，该方法可以使得基板1只要一产生静电，就即刻被可变色层2快速检测出具体位置，并将其引出，避免静电聚集击穿显示元件。

实施例4：

本实施例提供一种检测基板静电发生位置的装置，如图4所示，其包括可变色层2，所述可变色层2包括电致变色材料，以使所述可变色层2在电场作用下变色。

在一个实施例中，所述可变色层2包括衬底22和设于衬底22一侧的由电致变色材料构成的可变色薄膜23；且所述可变色薄膜23用于与基板1接触。

其中，电致变色材料可选择有机电致变色材料，也可以选择无机电致变色材料，在此不做限定，若电致变色材料形成的薄膜自身较软，可以借助一层衬底22，将薄膜支撑从而更方便的贴附于基板1上。

在一个实施例中，所述可变色薄膜23由三氧化钨构成，且所述可变色薄膜23上含有H⁺、Li⁺、Na⁺中的任意一种，所述衬底22的颜色为白色。

其中，三氧化钨在静电电场的作用下可发生显著的颜色变化的现象，利于观察变色位置21，从而准确判断出静电发生位置。并且由于三氧化钨在静电电场的作用下发生的变色反应是可逆的，故在完成一个基板1的检测后可以将可变色层2取下，用于下个基板1的检测，相当于可变色层2一直循环利用。

实施例5：

本实施例提供了一种显示装置，其包括上述任意一种基板。所述显示装置可以为：液晶显示面板、电子纸、OLED面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种检测基板静电发生位置的方法，其特征在于，包括以下检测步骤：

在基板上贴附可变色层，所述可变色层包括电致变色材料，以使所述可变色层在电场作用下变色；

通过观察可变色层的变色位置确定基板静电发生的位置。

2.根据权利要求1所述的检测基板静电发生位置的方法，其特征在于，所述基板的第一面上设有显示元件，所述可变色层贴附于所述基板的第二面。

3.根据权利要求1所述的检测基板静电发生位置的方法，其特征在于，所述可变色层的面积不小于基板的面积。

4.根据权利要求1所述的检测基板静电发生位置的方法，其特征在于，所述可变色层包括衬底和设于衬底一侧的由电致变色材料构成的可变色薄膜；且所述可变色薄膜与基板接触。

5.根据权利要求4所述的检测基板静电发生位置的方法，所述衬底的颜色与所述电致变色材料变色后的颜色不同。

6.根据权利要求4所述的检测基板静电发生位置的方法，所述在基板上贴附可变色层之前还包括：将电致变色材料涂覆在衬底上并固化形成可变色薄膜，以得到所述可变色层。

7.根据权利要求6所述的检测基板静电发生位置的方法，其特征在于，将可变色薄膜的材料涂覆在衬底上以形成所述可变色层包括将三氧化钨加入含有H⁺、Li⁺、Na⁺中的任意一种的溶液中后涂覆在白色衬底上以形成所述可变色层。

8.一种对基板进行摩擦取向的方法，其特征在于，包括以下制备步骤：

将可变色层贴在基板的第二面上，基板的第一面具有显示元件；

对基板的第一面进行摩擦取向，并在摩擦取向中，对基底的对应可变色层变色的位置进行静电释放。

9.根据权利要求8所述的对基板进行摩擦取向的方法，其特征在于，所述显示元件包括TFT和走线。

10.一种检测基板静电发生位置的装置，其特征在于，包括可变色层，所述可变色层包括电致变色材料，以使所述可变色层在电场作用下变色。