CN113284444B - 屏体静电测试方法、装置和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种屏体静电测试方法、装置和计算机可读存储介质，首先采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据；然后对屏体的表面摩擦处理；再采集多个采样点的多个第二色度数据。最后基于多个第一色度数据和多个第二色度数据，根据色彩空间图判断屏体的带静电程度。多个第一色度数据能够反应多个采样点在进行摩擦处理前的发光程度。多个第二色度数据能够反应多个采样点在进行摩擦处理后的发光程度。色彩空间图能够采用数学坐标的方式对色彩量化。将多个第一色度数据和多个第二色度数据载入到色度空间图中。通过第一色度数据和第二色度数据在色度空间图中的位置变化，判断屏体的带静电程度，能够精确判断屏体的带静电程度。

Description

屏体静电测试方法、装置和存储介质

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种屏体静电测试方法、装置和存储介质。

背景技术

随着显示技术的发展，OLED(有机发光二极体)显示屏因具有清晰度高、耐用等优势而越来越被人们重视。OLED显示屏在日常生活中的应用也越来越广泛。

OLED显示屏的抗静电能力是评价显示屏性能的一个重要指标。现有的显示屏静电测试方法精确度不高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种屏体静电测试方法、装置和存储介质。

一种屏体静电测试方法，包括：

采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据；

对所述屏体的表面摩擦处理；

采集所述多个采样点的多个第二色度数据；

基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度。

在一个实施例中，所述基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度包括：

基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度；

根据所述多个采样点的偏绿程度判断所述屏体的带静电程度。

本实施例中，所述屏体可以包括红色像素、蓝色像素和绿色像素。其中，绿色像素的发光效率最高。因此，当所述屏体表面产生静电时，绿色像素被激发发光最为明显。因此根据多个采样点的偏绿程度判断所述屏体的带静电程度更容易观察。

在一个实施例中，所述采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据中，所述多个第一色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第一纵坐标值；所述采集所述多个采样点的多个第二色度数据中，所述多个第二色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第二纵坐标值；所述基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度包括：

基于所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度。

本实施例中，在对所述屏体进行摩擦处理前和摩擦处理后，所述第一横坐标值X1和所述第二横坐标值X2几乎没有变化。而所述第一纵坐标值Y1和所述第二纵坐标值Y2具有较大的差异。因此通过所述多个第一纵坐标值Y1和所述多个第二纵坐标值Y2在所述色彩空间图中的位置变化量，能够准确反应所述多个采样点的偏绿程度。仅通过所述多个第一纵坐标值Y1和所述多个第二纵坐标值Y2判断所述多个采样点的偏绿程度，简单方便。

在一个实施例中，所述基于所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度包括：

将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值；

确定所述多个纵坐标偏差值的最大值；

根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度。

本实施例中，由于所述采样点在所述屏体的分布位置能够反应所述屏体在不同位置的静电荷量。所述多个纵坐标偏差值的最大值对应的所述采样点可以反应所述屏体静电荷量较为集中的区域。因此根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度能够使得判断结果更为可靠。

在一个实施例中，还包括：

使所述屏体显示多个灰阶；

在每个灰阶，获得所述多个采样点的所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值；

所述将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值包括：

在每个灰阶，将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值；

所述确定所述多个纵坐标偏差值的最大值包括：

在每个灰阶，确定所述多个纵坐标偏差值的所述最大值。

本实施例中，由于所述屏体显示的所述灰阶为多个。因此所述多个灰阶的画面对应多个所述最大值。通过多个所述最大值判断所述屏体的带静电程度的方法简单高效。

在一个实施例中，所述根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度包括：

若所述多个灰阶的多个所述最大值均小于预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度正常；

若所述多个灰阶的多个所述最大值至少一个大于所述预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度不正常。

本实施例中，通过将所述多个灰阶的多个所述最大值与预设阈值比较，明确了所述屏体的带静电是否正常的判断标准，且通过比对所述多个灰阶的所述多个最大值，比较范围更为全面，判断更准确。

在一个实施例中，所述采集点的数量为9、13、25或135。

本实施例中，限定了优选的采集点的数量。

一种屏体静电测试装置，包括：

采集模块，用于采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据，以及采集对所述屏体表面摩擦处理后的所述多个采样点的多个第二色度数据；

摩擦模块，用于对所述屏体的表面摩擦处理；以及

判断模块，用于基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度。

一种屏体静电测试装置，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的方法的步骤。

本申请实施例提供的所述屏体静电测试方法，首先采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据；然后对所述屏体的表面摩擦处理；再采集所述多个采样点的多个第二色度数据。最后基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度。所述多个第一色度数据能够反应所述多个采样点在进行摩擦处理前的发光程度。所述多个第二色度数据能够反应所述多个采样点在进行摩擦处理后的发光程度。所述采样点的发光程度能够反应所述屏体表面的静电荷量。所述屏体表面的静电荷量能够反应所述屏体的带静电程度。所述色彩空间图能够采用数学坐标的方式对色彩量化。将所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据载入到所述色度空间图中。通过所述第一色度数据和所述第二色度数据在所述色度空间图中的位置变化，能够精确判断所述屏体的带静电程度。通过精确判断所述屏体的带静电程度能够准确判断所述屏体的抗静电能力。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一个实施例提供的屏体静电测试方法流程示意图；

图2为本申请另一个实施例提供的屏体静电测试方法流程示意图；

图3为本申请一个实施例提供的色彩空间图示意图；

图4为本申请另一个实施例提供的屏体静电测试方法流程示意图；

图5为本申请一个实施例提供屏体9个采样点示意图；

图6为本申请一个实施例提供屏体13个采样点示意图；

图7为本申请一个实施例提供屏体25个采样点示意图；

图8为本申请一个实施例提供屏体135个采样点示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳的实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

在本文中，空间相关的术语如“上部”和“下部”是参照附图定义的。因此，将理解“上部”和“下部”可互换地使用。将理解，当层被称为在另一个层“上”时，其可直接地形成在其他层上，或者也可存在中间层。因此，将理解，当层被称为是“直接在”另一个层“上”时，没有中间层插入在其中间。

在附图中，为了清楚说明，可以夸大层和区域的尺寸。可以理解的是，当层或元件被称作“在”另一层或基底“上”时，该层或元件可以直接在所述另一层或基底上，或者也可以存在中间层。另外，还可以理解的是，当层被称作“在”两个层“之间”时，该层可以是所述两个层之间的唯一层，或者也可以存在一个或更多个中间层。另外，同样的附图标记始终表示同样的元件。

在下文中，尽管可以使用诸如“第一”、“第二”等这样的术语来描述各种组件，但是这些组件不必须限于上面的术语。上面的术语仅用于将一个组件与另一组件区分开。还将理解的是，以单数形式使用的表达包含复数的表达，除非单数形式的表达在上下文中具有明显不同的含义。此外，在下面的实施例中，还将理解的是，这里使用的术语“包含”和/或“具有”说明存在所陈述的特征或组件，但是不排除存在或附加一个或更多个其它特征或组件。

在下面的实施例中，当层、区域或元件被“连接”时，可以解释为所述层、区域或元件不仅被直接连接还通过置于其间的其他组成元件被连接。例如，当层、区域、元件等被描述为被连接或电连接时，所述层、区域、元件等不仅可以被直接连接或被直接电连接，还可以通过置于其间的另一层、区域、元件等被连接或被电连接。

申请文件中使用的，术语“和/或”包括一个或更多个相关所列项的任意组合和所有组合。当诸如“……中的至少一种(个)(者)”的表述位于一列元件(元素)之后时，修饰整列元件(元素)，而不是修饰该列中的个别元件(元素)。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是在于限制本申请。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。

正如背景技术所述，现有技术中有显示屏静电测试方法精确度不高问题。经发明人研究发现，对所述显示屏进行静电测试时，可以通过铜棒摩擦显示屏。所述显示屏被摩擦后表面会聚集静电荷。所述显示屏表面聚集静电荷后屏幕会发绿的现象。一般情况下，所述显示屏的发绿程度越高，所述显示屏的抗静电能力越差。所述显示屏的发绿程度，通常是靠人眼观察。因此不同人在不同角度观看所述显示屏，得到的结论会有差异，因此现有的屏体静电测试方法精度不高，产品的良率也无法保证。

请参见图1，基于以上原因，本发明提供了一种屏体静电测试方法。所述屏体静电测试方法包括：

S10，采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据；

S20，对所述屏体的表面摩擦处理；

S30，采集所述多个采样点的多个第二色度数据；

S40，基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度。

所述S10的步骤中，所述屏体可以为AMOLED显示屏。所述屏体也可以为仅具有显示功能的显示屏，也可以包括兼具触控功能的显示屏。所述屏体也可以为柔性显示屏。所述柔性显示屏例如可以采用OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)显示屏或其它类型的柔性显示屏。所述屏体的表面可以为所述屏体显示区的表面。所述屏体具有像素的表面均可以设置所述采样点。每个所述采样点对应一个所述第一色度数据。所述多个采样点对应多个所述第一色度数据。

所述采样点的位置可以根据需要选择。所述采样点可以均匀分布于所述屏体。所述采样点可以在所述屏体呈阵列排布。当所述屏体为曲面屏时，所述采样点也可以分布于所述屏体的弯曲部分的表面。所述第一色度数据可以为能够反映所述采样点的色度的数据。在一个实施例中，所述第一色度数据可以为能够反映所述采样点的色度的色坐标。在一个实施例中，可以先控制所述屏体在同一灰阶下显示图像，然后图像采集设备采集所述多个采样点的图像。再通过数据处理设备对所述多个采样点的图像进行处理，得到所述第一色度数据。所述图像采集设备和所述数据处理设备可以集成为一体。在一个实施例中，所述图像采集设备可以为高精度多光谱相机。

所述S20的步骤中，可以对所述屏体的表面通过铜棒进行摩擦处理。对所述屏体的表面进行摩擦处理可以模拟所述屏体被手指触摸时，手指对所述屏体的摩擦情况。在一个实施例中，可以对所述屏体进行8小时的铜棒摩擦测试，也可以对所述屏体进行24小时的TTF(Test to Failure)摩擦测试。24小时的TTF摩擦测试可以为所述屏体抗静电能力的极限测试。因此能够最大限度反应所述屏体的抗静电能力。当所述屏体的表面经过摩擦处理后，所述屏体的表面会产生电荷。所述屏体的表面会产生的电荷会导致像素被激发发光。因此所述屏体会呈现出相关像素的颜色。

所述S30的步骤中，对所述屏体的表面进行摩擦处理后，再次采集每个所述采样点的图像。然后对每个所述采样点的图像进行处理，得到每个所述采样点的第二色度数据。所述多个采样点对应所述多个第二色度数据。所述屏体的表面经过摩擦处理后，所述屏体的表面会产生静电荷。所述屏体的表面产生的静电荷会使得所述屏体的像素发光。所述屏体的像素的发光程度能够反应所述屏体表面的静电荷量。所述屏体的表面的静电荷量能够反应所述屏体的带静电程度。所述像素的发光的程度能够通过所述第二色度数据反应。因此所述采样点所在位置的发光的程度够通过所述第二色度数据反应。

所述S40的步骤中，将所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据进行比较，可以根据所述多个第二色度数据与所述多个第一色度数据差异情况，判断所述屏体的带静电情况。具体的，可以将所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据载入到所述色度空间图中。通过所述第一色度数据和所述第二色度数据在所述色度空间图中的位置变化，判断所述屏体的带静电程度。

所述色彩空间图是采用数学方式定义的色彩空间。所述色彩空间图可以具有XYZ的坐标系。不同的坐标点可以反应不同的色度。在一个实施例中，所述色彩空间图可以为CIE1931色彩空间图或CIE1976色彩空间图。可以将每个所述多个采样点对应的所述第一色度数据和所述第二色度数据在所述色彩空间图中标出，然后根据所述第一色度数据和所述第二色度数据在所述色彩空间图中的位置变化判断所述屏体的带静电程度。

本申请实施例提供的所述屏体静电测试方法，首先采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据；然后对所述屏体的表面摩擦处理；再采集所述多个采样点的多个第二色度数据。最后基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度。所述多个第一色度数据能够反应所述多个采样点在进行摩擦处理前的发光程度。所述多个第二色度数据能够反应所述多个采样点在进行摩擦处理后的发光程度。所述采样点的发光程度能够反应所述屏体表面的静电荷量。所述屏体表面的静电荷量能够反应所述屏体的带静电程度。所述色彩空间图能够采用数学坐标的方式对色彩量化。将所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据载入到所述色度空间图中。通过所述第一色度数据和所述第二色度数据在所述色度空间图中的位置变化，能够精确判断所述屏体的带静电程度。通过精确判断所述屏体的带静电程度能够准确判断所述屏体的抗静电能力。

请参见图2，在一个实施例中，所述S40包括：

S41，基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度；

S42，根据所述多个采样点的偏绿程度判断所述屏体的带静电程度。

所述S41的步骤中，所述屏体可以包括红色像素、蓝色像素和绿色像素。其中，绿色像素的发光效率最高。因此，当所述屏体表面产生静电时，绿色像素被激发发光最为明显。所述屏体带的静电荷越多，所述绿色像素发光的程度越高。因此观察所述屏体偏绿的程度能够判断所述屏体的带静电程度。在一个实施例中，所述绿色像素的发光材料为有机发光材料。

所述S42中，所述屏体表面产生的静电荷越多，所述屏体的绿色像素发光的程度越高。所述第一色度数据和所述多个第二色度数据在所述色彩空间图中的位置变化能够反应所述采样点在所述屏体的表面摩擦处理前后偏绿程度的变化。因此根据所述多个采样点的偏绿程度判断所述屏体的带静电程度。

在一个实施例中，所述S10的步骤中，所述多个第一色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第一纵坐标值。所述S30的步骤中，所述多个第二色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第二纵坐标值。所述S41包括：

S410，基于所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度。

所述采样点的色坐标可以在所述色彩空间中体现。所述多个采样点在所述屏体进行摩擦处理前的色坐标可以为(X1，Y1)。所述多个采样点在所述屏体进行摩擦处理后的色坐标可以为(X2，Y2)。Y1可以用来表示所述第一纵坐标值。Y2可以用来表示所述第二纵坐标值。X1可以用来表示在对所述屏体进行摩擦处理前的第一横坐标值。X2可以表示在对所述屏体进行摩擦处理后的第二横坐标值。

在对所述屏体进行摩擦处理前和摩擦处理后，所述第一横坐标值X1和所述第二横坐标值X2几乎没有变化。而所述第一纵坐标值Y1和所述第二纵坐标值Y2具有较大的差异。因此通过所述多个第一纵坐标值Y1和所述多个第二纵坐标值Y2在所述色彩空间图中的位置变化量，能够反应所述多个采样点的偏绿程度。通过所述多个第一纵坐标值Y1和所述多个第二纵坐标值Y2在所述色彩空间图中的位置，能够判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度。所述多个采样点的偏绿程度能够反应所述多个采样点的静电荷量。所述采样点的静电荷量能够反应所述屏体的抗静电能力。

请参见图3，在一个实施例中，所述多个第一横坐标值X1和所述多个第二横坐标值X2在0.25到0.3之间。对于所述屏体不同位置的所述采样点，由于静电荷量和屏体结构不会完全相同。因此所述多个第一横坐标值X1之间会有差异。所述多个第二横坐标值X2之间会有差异。

在一个实施例中，所述屏体摩擦处理前，所述多个第一纵坐标值Y1在0.3到0.4之间。所述屏体摩擦处理后，所述多个第二纵坐标值Y2在0.4到0.5之间。对于所述屏体不同位置的所述采样点，由于静电荷量和屏体结构不会完全相同。因此所述多个第一纵坐标值Y1之间会有差异。所述多个第二纵坐标值Y2之间会有差异。

一般情况下，在对所述屏体摩擦处理后得到的所述多个第二纵坐标值Y2会大于对所述屏体摩擦处理前得到所述多个第一纵坐标值Y1。因此，在所述色彩空间图中，所述多个第二纵坐标值Y2位于所述多个第一纵坐标值Y1的上方。根据所述多个第二纵坐标值Y2和所述多个第一纵坐标值Y1的高度差，能够判断所述多个采样点的偏绿程度。

请参见图4，在一个实施例中，所述S410包括：

S411，将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值；

S412，确定所述多个纵坐标偏差值的最大值；

S413，根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度。

所述S411的步骤中，对于每个所述采样点，将所述采样点对应的所述第一纵坐标值和所述第二纵坐标值做差，得到所述采样点的纵坐标偏差值。所述采样点有多个，因此将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值。

所述S412的步骤中，可以将所述多个纵坐标偏差值按照由大到小的顺序排序，因此可以得到所述多个纵坐标偏差值的最大值。

所述S413的步骤中，由于所述采样点在所述屏体的分布位置能够反应所述屏体在不同位置的静电荷量。所述多个纵坐标偏差值的最大值对应的所述采样点可以反应所述屏体静电荷量较为集中的区域。因此根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度能够使得判断结果更为可靠。

在一个实施例中，所述屏体静电测试方法还包括：

使所述屏体显示多个灰阶；

获得在每个灰阶所述多个采样点的所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值；

所述S411包括：

在每个灰阶，将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值；

所述S412包括：

在每个灰阶，确定所述多个纵坐标偏差值的所述最大值。

本实施例中，可以首先选择不同的灰阶。然后使所述屏体显示不同的灰阶。在所述屏体显示每一个灰阶时，先采集所述多个采样点的多个第一色度数据。每个所述第一色度数据包括一个所述第一纵坐标值。然后再对所述屏体的表面进行摩擦处理。对所述屏体的表面进行摩擦处理完后，再采集所述多个采样点的多个第二色度数据。每个所述第二色度数据包括一个所述第二纵坐标值。

依次使所述屏体显示多个所述灰阶的画面，采取上述方式，能够获得所述多个灰阶下的所述多个采样点的所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值。

对每一个所述灰阶，将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值。然后对所述多个纵坐标偏差值排序，得到所述最大值。由于所述屏体显示的所述灰阶为多个。因此所述多个灰阶的画面对应多个所述最大值。

在一个实施例中，所述屏体显示的灰阶数可以为3灰阶、5灰阶或者8灰阶。在一个实施例中，所述屏体还可以在23灰阶、2尼特亮度的情况下显示。

在一个实施例中，所述S413包括：

若所述多个灰阶的多个所述最大值均小于预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度正常；

若所述多个灰阶的多个所述最大值至少一个大于所述预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度不正常。

在对所述屏体的带静电程度进行判断时，若所述多个灰阶的多个所述最大值均小于预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度正常。也就是说，当所述屏体显示不同的灰阶时，每个灰阶对应的所述最大值均小于所述预设阈值。这说明所述屏体在不同灰阶下所述多个采样点的偏绿程度均在正常范围。也就表明所述屏体的静电荷量处于正常水平。因此说明所述屏体的抗静电能力强。

所述预设阈值可以为多次实验获得的经验值，也可以是经过理论计算得到的理论值。

当所述多个灰阶的多个所述最大值中有一个大于所述预设阈值，说明所述屏体在经过摩擦处理后带的静电荷量超过正常范围。因此判断所述屏体的带静电程度不正常。

所述屏体显示不同的灰阶时，有亮度变化，可能会对所述第一色度数据和所述第二色度数据的采集过程有影响。所述屏体在不同的灰阶下带静电荷时的偏绿程度也可能不同。因此通过对所述屏体在不同灰阶下对所述多个采样点采集的所述第一色度数据和所述第二色度数据进行综合判断，能够全面反映所述屏体的抗静电能力，判断结果更为可靠。

请参见图5、图6、图7和图8，在一个实施例中，所述采集点的数量为9、13、25或135。所述采集点可以均匀分布于所述屏体的表面

应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，附图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

本申请实施例还提供一种屏体静电测试装置。所述屏体静电测试装置还包括采集模块、摩擦模块和判断模块。

所述采集模块用于采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据，以及采集对所述屏体表面摩擦处理后的所述多个采样点的多个第二色度数据。

所述摩擦模块用于对所述屏体的表面摩擦处理。

所述判断模块用于基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度。

在一个实施例中，所述判断模块还用于基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度，并根据所述多个采样点的偏绿程度判断所述屏体的带静电程度。

在一个实施例中，所述采集模块采集的所述多个第一色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第一纵坐标值，所述多个第二色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第二纵坐标值。所述判断模块还用于基于所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度。

在一个实施例中，所述判断模块还用于将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值，确定所述多个纵坐标偏差值的最大值，根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度。

在一个实施例中，所述屏体静电测试装置还包括控制模块，用于控制所述屏体显示多个灰阶。所述采集模块还用于在每个灰阶，获得所述多个采样点的所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值。所述判断模块还用于在每个灰阶，将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值。

在每个灰阶，确定所述多个纵坐标偏差值的所述最大值。若所述多个灰阶的多个所述最大值均小于预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度正常。若所述多个灰阶的多个所述最大值至少一个大于所述预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度不正常。

关于所述屏体静电测试装置的具体限定可以参见上文中对于屏体静电测试方法的限定，在此不再赘述。上述屏体静电测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

本申请实施例还提供一种屏体静电测试装置。所述屏体静电测试装置，包括存储器和处理器。所述存储器存储有计算机程序。所述处理器执行所述计算机程序时实现所述屏体静电测试方法的步骤：

S10，采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据；

S20，对所述屏体的表面摩擦处理；

S30，采集所述多个采样点的多个第二色度数据；

S40，基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据，根据色彩空间图判断所述屏体的带静电程度。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述屏体静电测试方法步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (9)

1.一种屏体静电测试方法，其特征在于，包括：

采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据；

对所述屏体的表面摩擦处理；

采集所述多个采样点的多个第二色度数据；

基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据在色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度；

根据所述多个采样点的偏绿程度判断所述屏体的带静电程度。

2.如权利要求1所述的屏体静电测试方法，其特征在于，所述采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据中，所述多个第一色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第一纵坐标值；所述采集所述多个采样点的多个第二色度数据中，所述多个第二色度数据包括所述多个采样点在色坐标中的多个第二纵坐标值；所述基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度包括：

基于所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度。

3.如权利要求2所述的屏体静电测试方法，其特征在于，所述基于所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值在所述色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度包括：

将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值；

确定所述多个纵坐标偏差值的最大值；

根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度。

4.如权利要求3所述的屏体静电测试方法，其特征在于，还包括：

使所述屏体显示多个灰阶；

在每个灰阶，获得所述多个采样点的所述多个第一纵坐标值和所述多个第二纵坐标值；

所述将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值包括：

在每个灰阶，将所述多个采样点的所述第二纵坐标值和所述第一纵坐标值做差，得到多个纵坐标偏差值；

所述确定所述多个纵坐标偏差值的最大值包括：

在每个灰阶，确定所述多个纵坐标偏差值的所述最大值。

5.如权利要求4所述的屏体静电测试方法，其特征在于，所述根据所述最大值判断所述屏体的带静电程度包括：

若所述多个灰阶的多个所述最大值均小于预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度正常；

若所述多个灰阶的多个所述最大值至少一个大于所述预设阈值，则判断所述屏体的带静电程度不正常。

6.如权利要求1所述的屏体静电测试方法，其特征在于，所述采集点的数量为9、13、25或135。

7.一种屏体静电测试装置，其特征在于，包括：

采集模块，用于采集屏体表面的多个采样点的多个第一色度数据，以及采集对所述屏体表面摩擦处理后的所述多个采样点的多个第二色度数据；

摩擦模块，用于对所述屏体的表面摩擦处理；以及

判断模块，用于基于所述多个第一色度数据和所述多个第二色度数据在色彩空间图中的位置，判断所述屏体表面被摩擦后所述多个采样点的偏绿程度；根据所述多个采样点的偏绿程度判断所述屏体的带静电程度。

8.一种屏体静电测试装置，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

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