CN108806564B - 一种用于显示面板的测试治具 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于显示面板的测试治具,包括:用以承载受测面板的载板;用以与载板上的面板进行接触并提供测试电压的接触部,接触部包括多个用以接触受测面板第一信号接点的第一接触块和多个用以接触受测面板第二信号接点的第二接触块,第一接触块和第二接触块逐一间隔排布;其中:相邻的第一接触块和第二接触块之间的间距设为可调,用以适配不同规格受测面板的测试。实施本发明的用于显示面板的测试治具,能够同时对载板上不同尺寸的受测面板实施测试,增强了通用性;进一步降低面板测试的成本和复杂度,减小对面板的损伤。
Description
技术领域
本发明涉及面板制作领域,尤其涉及一种用于显示面板的测试治具。
背景技术
现有技术,在ATS设备对显示面板的测试过程中,设备通过插针结构对面板输入电压,通过像素电路的输出电压等数据来判断面板是否存在缺陷。例如:现在用于显示面板的测试治具通常采用短路条(shorting bar)的结构进行测试,该测试治具存在的技术问题是:
1、随着受测面板距离短路条的位置越来越远,驱动电压会越来越低。测试时的驱动电压是有一定的区间的,而这种电压递减使距离远的面板越来越不能满足驱动电压值的要求,导致面板测试结果不准确。
2、短路条的测试结构不具备通用性,随着大板上面板排布的多样化,需要设计对应的差异性的短路条的结构,无形中增加了面板设计的复杂度,且使成本增加。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种用于显示面板的测试治具,能够同时对载板上不同尺寸的受测面板实施测试,增强了通用性;进一步降低面板测试的成本和复杂度,减小对面板的损伤。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种用于显示面板的测试治具,包括:用以承载受测面板的载板;用以与载板上的面板进行接触并提供测试电压的接触部,接触部包括多个用以接触受测面板第一信号接点的第一接触块和多个用以接触受测面板第二信号接点的第二接触块,第一接触块和第二接触块逐一间隔排布;其中:相邻的第一接触块和第二接触块之间的间距设为可调,用以适配不同规格受测面板的测试;第一接触块和第二接触块分别包括:接触块本体;可拆卸地连接在接触块本体上的用以改变第一接触块或第二接触块输出电压的调节块,调节块上设有对应不同接入规格电压的插孔,可拆卸的针卡分别插置在不同的插孔中,以改变第一接触块或第二接触块的输出电压。
其中,接触部还包括:调节支架,多个第一接触块和多个第二接触块可分别沿调节支架的延伸方向滑动,用以调节改变第一接触块和第二接触块之间的间距。
其中,调节支架上设有滑道,多个第一接触块和多个第二接触块装设在滑道中。
其中,调节块的一侧表面标识有用以调整针卡排布位置的标识信息。
其中,接触块本体的截面呈Z字形;调节块为平板结构。
其中,接触块本体的底部设有用以接触受测面板第一信号接点或受测面板第二信号接点的接触点。
其中,多个第一接触块由同一驱动器进行驱动,多个第二接触块由同一驱动器进行驱动,用以降低相邻的第一接触块和第二接触块因间距过近产生的电学影响。
实施本发明所提供的用于显示面板的测试治具,具有如下有益效果:接触部能够与载板上的面板进行接触并提供测试电压,接触部包括多个用以接触受测面板第一信号接点的第一接触块和多个用以接触受测面板第二信号接点的第二接触块,第一接触块和第二接触块逐一间隔排布。其中:相邻的第一接触块和第二接触块之间的间距设为可调,用以适配不同规格受测面板的测试,能够应用在载板上不同尺寸的受测面板上,增强了通用性;进一步降低面板测试的成本和复杂度,减小对面板的损伤。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例用于显示面板的测试治具的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1所示,为本发明用于显示面板的测试治具的实施例一。
本实施例中的用于显示面板的测试治具,包括:用以承载受测面板的载板1;用以与载板1上的受测面板11进行接触并提供测试电压的接触部2,接触部包括多个用以接触受测面板第一信号接点的第一接触块22a和多个用以接触受测面板第二信号接点的第二接触块22b,第一接触块22a和第二接触块22b逐一间隔排布;其中:相邻的第一接触块22a和第二接触块22b之间的间距设为可调,用以适配不同规格受测面板的测试。
受测面板11上的第一信号接点和第二信号接点为设置在受测面板同一端侧的两个电压驱动点。具体实施时,不同规格受测面板11上的第一信号接点和第二信号接点的位置不同。例如:分辨率、尺寸等不同的受测面板,会导致一个大板里受测面板的排列的方式和数量有所不同。同时,第一信号接点和第二信号接点间的间距也会有相当的差异。
接触部2设在载板1的一侧,其部分结构(例如:调节支架21)与载板1保持一定的距离,接触部2不直接设置在载板1上的作用是:接触部2除直接与第一信号接点和第二信号接点进行接触的接触点外的其它部件不与受测面板直接接触,降低甚至是消除了对面板的损害。
进一步的,接触部2包括:调节支架21,多个用以接触受测面板第一信号接点的第一接触块22a和多个用以接触受测面板第二信号接点的第二接触块22b,其中,第一接触块22a和第二接触块22b逐一间隔的排布在调节支架21上,且可分别沿调节支架的延伸方向滑动。第一接触块22a和第二接触块22b逐一间隔排布是指,两种接触块顺次排列在调节支架21上,例如:第一接触块22a、第二接触块22b、第一接触块22a、第二接触块22b……。
调节支架21上设有滑道211,多个第一接触块22a和多个第二接触块22b装设在滑道211中,且可分别沿滑道进行滑动。通过设置滑道,使能够调节改变第一接触块和第二接触块之间的间距,进而能够根据受测面板第一信号接点和第二信号接点的间距进行调节,使测试治具能够应用在不同规格受测面板11上。
优选的,多个第一接触块22a由同一驱动器进行驱动,多个第二接触块22b由同一驱动器进行驱动,用以降低相邻的第一接触块22a和第二接触块22b因panel左右驱动对应的第一信号接点和第二信号接点间由于距离太近而产生的电学影响。
第一接触块22a和第二接触块22b的结构类似,分别包括:接触块本体221;可拆卸地连接在接触块本体221上的用以改变第一接触块22a或第二接触块22b输出电压的调节块222。
接触块本体221的截面呈Z字形,其一端可滑动的连接在调节支架21中,另一端的一侧表面可拆卸地连接有调节块222,与连接调节块222一侧相对的另一侧设有用以接触受测面板第一信号接点或受测面板第二信号接点的接触点。具体实施时,通过改变第一接触块22a和第二接触块22b在滑道211中的位置,使上述接触点的位置分别调整,以分别适配受测面板上的第一信号接点和第二信号接点。
进一步的,调节块222为平板结构,调节块222上设有对应不同接入规格电压的插孔,可拆卸的针卡(probe card)分别插置在不同的插孔中,以改变第一接触块22a或第二接触块22b的输出电压。具体实施时,针卡设为可拆卸,将针卡以卡扣的方式安插于调节块222的插孔中,当调整针卡的头数或者针卡之间距离时,可通过小镊子夹持转动的方式实施。当需要测试时,可将对应规格的针卡装置安装到调节块222上进行测试,当测试治具需要进行维护时,可将针卡取下,分别对针卡和调节块222进行清洁和维修,以提高维修效率。
优选地,调节块222的一侧表面标识有用以调整针卡排布位置的标识信息。具体实施时,标识信号包括:弧度、长度等信息,这样可更便捷地根据panel规格的差异直接按照弧度、长度等信息调整针卡的排布,直接进行测试。此外,当针卡使用到一定次数需要更换时,可以直接更换针卡,避免像现有测试治具结构需要将整个测试端的结构全部换掉的弊端。如此,这样方便了更换流程,也降低了维修和维护的成本。
实施本发明所提供的用于显示面板的测试治具,具有如下有益效果:接触部能够与载板上的面板进行接触并提供测试电压,接触部包括多个用以接触受测面板第一信号接点的第一接触块和多个用以接触受测面板第二信号接点的第二接触块,第一接触块和第二接触块逐一间隔排布。其中:相邻的第一接触块和第二接触块之间的间距设为可调,用以适配不同规格受测面板的测试,能够应用在载板上不同尺寸的受测面板上,增强了通用性;进一步降低面板测试的成本和复杂度,减小对面板的损伤。
Claims (7)
1.一种用于显示面板的测试治具,其特征在于,包括:
用以承载受测面板的载板;
用以与载板上的受测面板进行接触并提供测试电压的接触部,所述接触部包括多个用以接触受测面板第一信号接点的第一接触块和多个用以接触受测面板第二信号接点的第二接触块,所述第一接触块和所述第二接触块逐一间隔排布;
其中:相邻的所述第一接触块和所述第二接触块之间的间距设为可调,用以适配不同规格受测面板的测试;
所述第一接触块和所述第二接触块分别包括:接触块本体;可拆卸地连接在接触块本体上的用以改变所述第一接触块或所述第二接触块输出电压的调节块,所述调节块上设有对应不同接入规格电压的插孔,可拆卸的针卡分别插置在不同的插孔中,以改变所述第一接触块或所述第二接触块的输出电压。
2.如权利要求1所述的用于显示面板的测试治具,其特征在于,所述接触部还包括:调节支架,所述多个第一接触块和所述多个第二接触块可分别沿所述调节支架的延伸方向滑动,用以调节改变所述第一接触块和所述第二接触块之间的间距。
3.如权利要求2所述的用于显示面板的测试治具,其特征在于,所述调节支架上设有滑道,所述多个第一接触块和所述多个第二接触块装设在所述滑道中。
4.如权利要求1所述的用于显示面板的测试治具,其特征在于,所述调节块的一侧表面标识有用以调整针卡排布位置的标识信息。
5.如权利要求1所述的用于显示面板的测试治具,其特征在于,所述接触块本体的截面呈Z字形;所述调节块为平板结构。
6.如权利要求1所述的用于显示面板的测试治具,其特征在于,所述接触块本体的底部设有用以接触受测面板第一信号接点或受测面板第二信号接点的接触点。
7.如权利要求1所述的用于显示面板的测试治具,其特征在于,所述多个第一接触块由同一驱动器进行驱动,所述多个第二接触块由同一驱动器进行驱动,用以降低相邻的所述第一接触块和所述第二接触块因间距过近产生的电学影响。
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