CN205405004U - 点灯检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种点灯检测装置，包括：检测基底，所述检测基底上设有滑动轨道；多个点灯模块，所述点灯模块包括探针基座、设置在所述探针基座上的探针以及与所述探针基座固定连接的滑块组件，其中，所述滑块组件设置在所述滑动轨道上，并能够在所述滑动轨道上移动，以带动所述探针基座移动。本实用新型所提供的点灯检测装置，结构简单，点灯模块可以在检测基底上滑动而改变位置，从而可以适用于不同尺寸的Q‑Panel进行点灯检测，节省时间，提升了设备的稼动率和产能，且针对不同尺寸型号的Q‑Panel，可以无需再购买对应尺寸的点灯检测装置，降低了生产成本。

Description

点灯检测装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种点灯检测装置。

背景技术

在液晶面板制造过程中，成盒工艺是将制作完成的阵列基板和彩膜基板进行贴合，经过切割后得到特定尺寸的液晶面板。为了降低成本，多数厂家选择在成盒后、贴偏光膜前，对Single Panel(单个液晶面板)进行点灯检测。针对不同尺寸的产品，为了提升产能，或满足不同客户的需求，Cell Test工段除了对Single Panel进行点灯检测外，还需要对Q-Panel(具有多个面板的基板)进行点灯检测。

点灯检测装置(Probe Unit)是用于在液晶显示器(LCD)、等离子显示面板(PDP)、有机发光二极管显示器(OLED)等显示器/显示面板领域，给显示面板加载信号，从而检测出显示面板上缺陷的装置。

图1所示为用于对成盒后的Q-Panel进行点灯检测的点灯检测装置示意图。

如图1所示，点灯检测装置包括检测基底10(Probe Unit Base)和点灯模块(Probe Block)，点灯模块包括探针21和探针基座22，探针21安装在点灯模块的探针基座22上，探针基座22通过螺丝固定在检测基底10(Probe Unit Base)上，探针21与Q-Panel(Cell Test)40的Pad区电极41一一对应紧密接触。控制信号通过探针基底10上的印制电路板(PCB)50与穿过开孔60的柔性电路板(FPC)传送给点灯模块20，最终通过探针21加载给面板，实现对Q-Panel点亮及检测，通过观察面板的状态从而检测出面板上缺陷的位置。

但是，由于探针基座固定在检测基底上，无法移动调节，因此，每一点灯检测装置只能对应一种尺寸的面板检测。实际生产中，存在多种尺寸的Q-Panel的生产，因此，为了对应不同尺寸Q-Panel的生产，需要购买相应尺寸的点灯检测装置，成本太高；并且生产不同型号的面板(Model Change)时，需要将 设备上的点灯检测装置拆下，并安装上相应尺寸的点灯检测装置，更换过程费时、费力，严重地影响了设备的稼动率和产能。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种点灯检测装置，其结构简单，可以适应于不同尺寸的Q-Panel进行点灯检测，节省时间，提升了设备的稼动率和产能，降低了生产成本。

本实用新型所提供的技术方案如下：

一种点灯检测装置，包括：

检测基底，所述检测基底上设有滑动轨道；

多个点灯模块，所述点灯模块包括探针基座、设置在所述探针基座上的探针以及与所述探针基座固定连接的滑块组件，其中，所述滑块组件设置在所述滑动轨道上，并能够在所述滑动轨道上移动，以带动所述探针基座移动。

进一步的，所述滑块组件包括：

底座，所述探针基座固定在所述底座上；

以及，设置在所述滑动轨道内的调节螺栓，所述调节螺栓穿装于所述底座上；

其中，所述调节螺栓旋紧时，能够将所述底座固定于所述滑动轨道的预设位置上；所述调节螺栓旋松时，能够在所述滑动轨道内移动，以改变所述底座的位置。

进一步的，所述探针基座与所述底座通过紧固螺栓固定连接。

进一步的，所述滑动轨道为开设于所述检测基底上，能够与所述调节螺栓配合的卡槽结构。

进一步的，所述检测基底上还设置有刻度尺，所述刻度尺设置在所述滑动轨道的一侧，且所述刻度尺沿所述滑动轨道的延伸方向设置。

进一步的，所述检测基底上还设置有用于安装印刷电路板的电路板安装部以及用于供柔性电路板穿过的开孔，所述开孔位于所述电路板安装部与所述点灯模块之间。

进一步的，所述开孔为沿所述滑动轨道的延伸方向设置的长条形孔。

进一步的，所述开孔设置有至少两条，每一所述开孔均为沿所述滑动轨道的延伸方向的长条形孔。

进一步的，至少两条开孔在所述检测基底上平行设置，并至少两条开孔在与所述滑动轨道延伸方向垂直的方向上部分重叠。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型所提供的点灯检测装置，结构简单，点灯模块可以在检测基底上滑动而改变位置，从而可以适用于不同尺寸的Q-Panel进行点灯检测，从而，可以在生产不同型号的面板(Model Change)时，无需更换点灯检测设备，节省时间，提升了设备的稼动率和产能，且针对不同尺寸型号的Q-Panel，可以无需再购买对应尺寸的点灯检测装置，降低了生产成本。

附图说明

图1表示现有技术中的点灯检测装置进行点灯检测时的示意图。

图2表示本实用新型实施例中提供的点灯检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例的附图，对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本实用新型的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

针对现有技术中不同尺寸的Q-Panel需要对应尺寸的点灯检测装置进行点灯检测，存在成本高且费时费力等技术问题，本实用新型提供了一种点灯检测装置，其可以适应于不同尺寸的Q-Panel进行点灯检测，节省时间，提升了设备的稼动率和产能，降低了生产成本。

如图2所示，本实用新型所提供的点灯检测装置包括：

检测基底100，所述检测基底100上设有滑动轨道101；

多个点灯模块200，所述点灯模块200包括探针基座201、设置在所述探针基座201上的探针202以及与所述探针基座201固定连接的滑块组件，其中， 所述滑块组件设置在所述滑动轨道101上，并能够在所述滑动轨道101上移动，以带动所述探针基座201移动。

上述方案中，所述点灯模块200包括探针202和探针基座201，探针202安装在点灯模块200的探针基座201上，探针202用于与待检测面板(如Q-Panel)的Pad区电极一一对应紧密接触。由于不同尺寸的待检测面板的Pad区电极位置不同，采用上述方案，所述点灯模块200可以在检测基底100(Probe Unit Base)上滑动，而改变相邻两个点灯模块200之间的距离，从而可以适用于不同尺寸的待检测面板进行点灯检测，在生产不同型号的面板(Model Change)时，无需更换整个点灯检测设备(可以根据面板型号仅更换对应的探针202即可)，节省时间，提升了设备的稼动率和产能，且针对不同尺寸型号的Q-Panel，可以无需再购买对应尺寸的点灯检测装置，降低了生产成本。

以下说明本实用新型所提供的点灯检测装置的优选实施例。

在本实用新型所提供的优选实施例中，如图2所示，所述滑块组件包括：

底座300，所述探针基座201固定在所述底座300上；

以及，设置在所述滑动轨道101内的调节螺栓400，所述调节螺栓400穿装于所述底座300上；

其中，所述调节螺栓400旋紧时，能够将所述底座300固定于所述滑动轨道101的预设位置上；所述调节螺栓400旋松时，能够在所述滑动轨道101内移动，以改变所述底座300的位置。

采用上述方案，通过在探针基座201上设置一与之连接的底座300，通过调节螺栓400与滑动轨道101的配合，来实现对探针基座201的滑动调节。

具体地，如图2所示，在本实施例中，所述滑动轨道101为开设于所述检测基底100上，能够与所述调节螺栓配合的卡槽结构。

采用上述方案，所述调节螺栓400可以一端穿装于所述底座300上，另一端旋装于所述卡槽结构中，当旋松所述调节螺栓400时，所述调节螺栓400可沿滑动轨道101移动，进而所述探针基座201可以改变位置，而当所述探针基座201移动至预设位置上时，即可旋紧调节螺栓400，而将所述探针基座201固定于预设位置上。

需要说明的是，采用上述底座300与调节螺栓400与卡槽结构进行配合， 来实现所述探针基座201在所述滑动轨道101上的滑动，仅是一种优选的实现方式，在实际应用中，所述滑动组件的结构可以并不仅局限于此，在此不再一一列举。

还需要说明的是，本实用新型所提供的点灯检测装置可以适用于对Q-Panel进行点灯检测，也可以适用于对其他面板进行点灯检测。由于Q-Panel采取短路棒(Shorting Bar)点灯方式，并且Cell Test工段，Q-Panel的Pad区电极的尺寸均为毫米级，所以可以采用手动移动调节探针基座201的方法完全能够符合探针202与Q-Panel的Pad区电极一一紧密接触的精度要求，从而实现对不同尺寸Q-Panel的点亮与检测。

此外，在本实施例中，所述检测基底100上还设置有刻度尺500，所述刻度尺500设置在所述滑动轨道101的一侧，且所述刻度尺500沿所述滑动轨道101的延伸方向设置。

采用上述方案，通过设置刻度尺500，可以准确地移动调节探针基座201，并记录下其准确的位置，方便在生产不同型号的面板(Model Change)时对探针基座201进行快速调节。

此外，在本实施例中，如图2所示，优选的，所述探针基座201与所述底座300通过紧固螺栓600固定连接。当然可以理解的是，在实际应用中，所述底座300与所述探针基座201的固定方式可以有多种，在此也不进行局限。

此外，如图2所示，在所述检测基底100上设置有用于安装印刷电路板(PCB)700的电路板安装部，在进行点灯检测时，控制信号可以通过印制电路板700以及柔性电路板(FPC)而传送给点灯模块200，最终通过探针202(Block)加载给面板，实现对Q-Panel点亮及检测，通过观察面板的状态从而检测出面板上缺陷的位置。

其中，在所述检测基底100上设置有用于供柔性电路板穿过的开孔800，所述开孔800位于所述印刷电路板700与所述点灯模块200之间，柔性电路板穿过所述检测基底100上的开孔800，而对印刷电路板700和点灯模块200进行连接。

在本实用新型所提供的优选实施例中，如图2所示，所述开孔800为沿所述滑动轨道101的延伸方向设置的长条形孔。

采用上述方案，由于探针基座201可以在滑动轨道101上进行移动，其位置可以在滑动轨道101上的任意位置，因此，通过将所述开孔800设置为长条形孔，可以对应处在任意位置的探针基座201。

在本实施例中，如图2所示，优选的，所述开孔800设置有至少两条，每一所述开孔800均为沿所述滑动轨道101的延伸方向的长条形孔。

采用上述方案，由于将开孔800开为长条孔，其长度需要较长，才能满足能够对应任意位置的探针基座201的要求，而如果将开孔800设计为一条长条孔，这样势必会影响检测基底100的结构稳定性，而采用上述方案，将开孔800设置为至少两条，则可以避免了检测基底100的结构存在不稳定性。

进一步优选的，如图2所示，至少两条开孔800在所述检测基底100上平行设置，并至少两条开孔800在与所述滑动轨道101延伸方向垂直的方向上部分重叠。采用上述方案，至少两条开孔800在所述滑动轨道101延伸方向垂直的方向上部分重叠，在保证检测基底100结构稳定性的同时，可以保证当探针基座201滑动至任意位置时，均对应有开孔800。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.一种点灯检测装置，其特征在于，包括：

检测基底，所述检测基底上设有滑动轨道；

多个点灯模块，所述点灯模块包括探针基座、设置在所述探针基座上的探针以及与所述探针基座固定连接的滑块组件，其中，所述滑块组件设置在所述滑动轨道上，并能够在所述滑动轨道上移动，以带动所述探针基座移动。

2.根据权利要求1所述的点灯检测装置，其特征在于，

所述滑块组件包括：

底座，所述探针基座固定在所述底座上；

以及，设置在所述滑动轨道内的调节螺栓，所述调节螺栓穿装于所述底座上；

其中，所述调节螺栓旋紧时，能够将所述底座固定于所述滑动轨道的预设位置上；所述调节螺栓旋松时，能够在所述滑动轨道内移动，以改变所述底座的位置。

3.根据权利要求2所述的点灯检测装置，其特征在于，

所述探针基座与所述底座通过紧固螺栓固定连接。

4.根据权利要求2所述的点灯检测装置，其特征在于，

所述滑动轨道为开设于所述检测基底上，能够与所述调节螺栓配合的卡槽结构。

5.根据权利要求1所述的点灯检测装置，其特征在于，

所述检测基底上还设置有刻度尺，所述刻度尺设置在所述滑动轨道的一侧，且所述刻度尺沿所述滑动轨道的延伸方向设置。

6.根据权利要求1所述的点灯检测装置，其特征在于，

所述检测基底上还设置有用于安装印刷电路板的电路板安装部以及用于供柔性电路板穿过的开孔，所述开孔位于所述电路板安装部与所述点灯模块之间。

7.根据权利要求6所述的点灯检测装置，其特征在于，

所述开孔为沿所述滑动轨道的延伸方向设置的长条形孔。

8.根据权利要求7所述的点灯检测装置，其特征在于，

所述开孔设置有至少两条，每一所述开孔均为沿所述滑动轨道的延伸方向的长条形孔。

9.根据权利要求8所述的点灯检测装置，其特征在于，

至少两条开孔在所述检测基底上平行设置，并至少两条开孔在与所述滑动轨道延伸方向垂直的方向上部分重叠。