CN108631159A - 火花塞的制造方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种火花塞的制造方法。该制造方法能够适当地判断电极的基部与电极头的接合是否有不良。火花塞具有包含基部和电极头的电极，该电极头接合于基部的确定的外表面即确定面，并且形成放电面。通过确定包含基部和接合于基部的电极头在内的电极中的对象部分的外表面上的多个点各自的相对位置，从而生成表示所述对象部分的立体形状的三维的坐标数据，所述对象部分是包含基部的确定面的至少一部分和电极头在内的部分。通过解析坐标数据，从而判断电极的对象部分是否包含不期望的部分即预先决定好的不期望的部分。自制造对象除去包含不期望的部分的电极，并使用不包含不期望的部分的电极来组装火花塞。

Description

火花塞的制造方法

技术领域

本说明书涉及一种火花塞的制造方法，该火花塞具有包含电极头的电极。

背景技术

以往，使用了具有包含电极头的电极的火花塞。电极的电极头利用焊接等接合于作为支承电极头的构件的基部。在焊接时，存在也被称作飞溅物的、金属片附着于接合部分而形成突起状的部分的情况。提出了一种使用拍摄图像检测该突起状的部分的技术。具体地讲，利用拍摄部件拍摄接合工件构件而获取拍摄图像。使用拍摄图像中的接合工件构件的外表面的外形线和基准的外形线来确认基准的外形线周围的非容许区域是否存在接合工件构件的外形线。而且，在确认到非容许区域存在接合工件构件的外形线的情况下，判断为存在突起状的部分。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2004－214218号公报

发明内容

发明要解决的问题

然而，电极头等所焊接的构件的表面会包含附着了污损的部分、形成了损伤的部分、氧化了的部分等呈不期望的颜色的部分。有时，由于该部分导致在拍摄图像中确定错误的外形线，使检测的精度下降。该问题并不限于使用外形线检测突起状的部分的情况，对于判断电极的接合是否不良的情况来说是共同的问题。

本说明书公开能够适当地判断电极的基部与电极头的接合是否不良的技术。

用于解决问题的方案

本说明书例如公开以下的应用例。

[应用例1]

一种火花塞的制造方法，该火花塞具有包含基部和电极头的电极，该电极头接合于所述基部的确定的外表面即确定面，并且形成放电面，其中，

通过确定包含基部和接合于所述基部的电极头在内的电极中的对象部分的外表面上的多个点各自的相对位置，从而生成表示所述对象部分的立体形状的三维的坐标数据，所述对象部分是包含所述基部的确定面的至少一部分和所述电极头在内的部分，

通过解析所述坐标数据，从而判断所述电极的所述对象部分是否包含不期望的部分即预先决定好的不期望的部分，

自制造对象除去包含所述不期望的部分的所述电极，

使用不包含所述不期望的部分的所述电极来组装火花塞。

采用该结构，由于在判断电极的对象部分是否包含不期望的部分即预先决定好的不期望的部分的过程中使用表示对象部分的立体形状的三维的坐标数据，因此能够适当地判断电极的基部与电极头的接合是否不良。

[应用例2]

根据应用例1所述的制造方法，其中，

生成所述三维的坐标数据包含：生成表示将所述基部的所述确定面作为基准的相对坐标的第1种三维坐标数据和表示将所述电极头的放电面作为基准的相对坐标的第2种三维坐标数据中的至少一者。

采用该结构，通过使用将基部的确定面作为基准的第1种三维坐标数据和将电极头的放电面作为基准的第2种三维坐标数据中的至少一者，从而能够容易地进行解析，因此能够进行适当的判断。

[应用例3]

根据应用例1或2所述的制造方法，其中，

在所述坐标数据的解析结果中，

在所述电极的所述对象部分包含第1种不期望的部分的情况下，判断为所述电极的所述对象部分包含所述不期望的部分，所述第1种不期望的部分是与所述基部的所述确定面垂直的方向上的位置处于隔着所述确定面所成的两侧中的同所述基部所在侧相反的那一侧、且与所述确定面平行的方向上的位置处于比所述确定面的边缘靠外侧的位置的部分。

采用该结构，在将基部和电极头接合的部分突出到比基部的确定面的边缘靠外侧的位置的情况下，能够进行电极的对象部分包含不期望的部分这样的适当的判断。

[应用例4]

根据应用例1～3中任一项所述的制造方法，其中，

在所述坐标数据的解析结果中，

在所述电极的所述对象部分包含相反部分、且所述相反部分包含沿与所述确定面平行的方向局部地突出的部分即第2种不期望的部分的情况下，判断为所述电极的所述对象部分包含所述不期望的部分，所述相反部分是与所述基部的所述确定面垂直的方向上的位置处于隔着所述确定面所成的两侧中的同所述基部所在侧相反的那一侧的部分。

采用该结构，在将基部和电极头接合的部分包含局部地突出的部分的情况下，能够进行电极的对象部分包含不期望的部分这样的适当的判断。

[应用例5]

根据应用例1～4中任一项所述的制造方法，其中，

在所述坐标数据的解析结果中，

在所述电极的所述对象部分包含第3种不期望的部分的情况下，判断为所述电极的所述对象部分包含所述不期望的部分，所述第3种不期望的部分是与所述电极头的放电面垂直的方向上的位置处于隔着所述放电面所成的两侧中的同所述电极头所在侧相反的那一侧的部分。

采用该结构，在将基部和电极头接合的部分相比于放电面突出的情况下，能够进行电极的对象部分包含不期望的部分这样的适当的判断。

另外，能够以各种各样的方式实现本说明书所公开的技术，例如能够以包含基部和接合于基部的电极头的电极的制造方法、利用该制造方法制造的电极、具备包含基部和接合于基部的电极头的电极的火花塞的制造方法、利用该制造方法制造的火花塞、电极的检查方法、具备电极的火花塞的检查方法等方式来实现。

附图说明

图1是作为一个实施方式的火花塞100的剖视图。

图2是表示火花塞100的制造方法的例子的流程图。

图3是主体部37和第2电极头39的说明图。

图4是表示准备接地电极的方法的例子的流程图。

图5是表示测量系统1000的例子的概略图。

图6是表示三维坐标的坐标系的说明图。

图7是第1种不期望的部分的说明图。

图8是第2种不期望的部分的说明图。

图9是第3种不期望的部分的说明图。

附图标记说明

8、前端侧密封件；10、绝缘体；11、内径缩小部；12、贯通孔(轴孔)； 13、后端侧主体部；14、大径部；15、前端侧主体部；16、外径缩小部；19、腿部；20、中心电极；21、外层；22、芯部；23、凸缘部；24、头部；27、轴部；28、棒部；29、第1电极头；30、30a、30b、30c、接地电极；30t、30at、 30bt、30ct、对象部分；31、外层；32、内层；33、基端部；34、顶端部； 37、主体部；37e、顶端面；39、第2电极头；40、端子金属壳体；41、轴部； 48、凸缘部；49、帽安装部；50、主体金属壳体；51、工具卡合部；52、前端侧主体部；53、弯边部；54、中间主体部；55、前端面；56、内径缩小部； 57、螺纹部；58、纵曲部；59、贯通孔；61、62、环构件；70、滑石；72、第1密封部；73、电阻器；74、第2密封部；90、密封垫片；100、火花塞； 200、200a、200b、200c、接合部(熔融部)；300、座面；410、第1支承部； 420、第2支承部；700、测距系统；710、测距装置；720、支承装置；722、臂、724、驱动源；800、控制装置；810、处理器；815、存储装置；820、易失性存储装置；830、非易失性存储装置；832、程序；840、显示部；850、操作部；870、接口；1000、测量系统；g、空隙；Df、前端方向(前方向)； Dfr、后端方向(后方向)；Dt37、目标方向；P1、第1种不期望的部分；P2、第2种不期望的部分(突出部分)；P3、第3种不期望的部分；S1、确定面；S2、放电面；S3、外周面；E1、E2、E3、边缘；SD、扫描方向；MD、移动方向；LD、照射方向；CL、中心轴线(轴线)；AO、近似轮廓线(近似曲线)；Oa、Ob、原点；Xa、Xb、第1轴；Ya、Yb、第2轴；Za、Zb、第3 轴；Mp、测量位置(点)；Mpt、对象位置；Mpo、外位置；Mpe、轮廓位置； D37、延长方向；CS1、第1坐标系；CS2、第2坐标系；Lz1、激光；Lz2、反射光。

具体实施方式

A.第1实施方式：

A－1.火花塞100的结构：

图1是作为一个实施方式的火花塞100的剖视图。在图中表示了火花塞 100的中心轴线CL(也称作“轴线CL”)和包含火花塞100的中心轴线CL的平坦的截面。以下，也将与中心轴线CL平行的方向称作“轴线CL的方向”、或者简称作“轴线方向”或“前后方向”。也将以轴线CL为中心的圆的径向称作“径向”。径向是与轴线CL垂直的方向。也将以轴线CL为中心的圆的圆周方向称作“周向”。也将与中心轴线CL平行的方向中的、图1的下方向称作前端方向Df或者前方向Df，也将与中心轴线CL平行的方向中的、图1的上方向称作后端方向Dfr或者后方向Dfr。前端方向Df是从后述的端子金属壳体40朝向中心电极20的方向。此外，将图1的前端方向Df侧称作火花塞100的前端侧，将图1的后端方向Dfr侧称作火花塞100的后端侧。

火花塞100包括：筒状的绝缘体10，其具有沿着轴线CL延伸的贯通孔12 (也称作轴孔12)；中心电极20，其保持在贯通孔12的前端侧；端子金属壳体40，其保持在贯通孔12的后端侧；电阻器73，其在贯通孔12内配置于中心电极20和端子金属壳体40之间；导电性的第1密封部72，其与中心电极20和电阻器73接触，而将中心电极20和电阻器73电连接；导电性的第2密封部74，其与电阻器73和端子金属壳体40接触，而将电阻器73和端子金属壳体40电连接；筒状的主体金属壳体50，其固定于绝缘体10的外周侧；以及接地电极30，其以一端接合于主体金属壳体50的前端面55并且另一端隔着空隙g与中心电极20相对的方式配置。

在绝缘体10的轴线方向的大致中央形成有外径最大的大径部14。在比大径部14靠后端侧的位置形成有后端侧主体部13。在比大径部14靠前端侧的位置形成有外径小于后端侧主体部13的外径的前端侧主体部15。在比前端侧主体部15更靠前端侧的位置，朝向前端侧去按外径缩小部16和腿部19的顺序形成有外径缩小部16和腿部19。外径缩小部16的外径随着朝向前方向Df去而逐渐变小。在外径缩小部16的附近(在图1的例子中是前端侧主体部15)形成有随着朝向前方向Df去内径逐渐变小的内径缩小部11。优选的是，绝缘体10 通过考虑机械强度、热强度、电气强度而形成，例如通过焙烧氧化铝而形成 (也可以采用其他的绝缘材料)。

中心电极20是金属制的构件，其配置在绝缘体10的贯通孔12内的前方向 Df侧的端部。中心电极20具有大致圆柱状的棒部28和接合(例如激光焊接) 于棒部28的前端的第1电极头29。棒部28具有后方向Dfr侧的部分即头部24和连接于头部24的前方向Df侧部分的轴部27。轴部27与轴线CL平行地朝向前方向Df延伸。头部24中的靠前方向Df侧的部分形成有凸缘部23，该凸缘部23 具有比轴部27的外径大的外径。利用绝缘体10的内径缩小部11支承凸缘部23 的前方向Df侧的面。轴部27连接于凸缘部23的前方向Df侧部分。第1电极头 29接合于轴部27的前端。

棒部28具有外层21和配置于外层21的内周侧的芯部22。外层21由与芯部 22相比耐氧化性优异的材料(例如含有镍作为主要成分的合金)形成。在此，主要成分是指含有率(重量百分比(wt％))最高的成分。芯部22由与外层 21相比导热率较高的材料(例如含有纯铜、铜作为主要成分的合金等)形成。第1电极头29使用与轴部27相比对于放电的耐久性优异的材料(例如铱(Ir)、铂(Pt)等贵金属)形成。中心电极20中的包含第1电极头29的前端侧的一部分自绝缘体10的轴孔12暴露在前方向Df侧。另外，芯部22也可以省略。此外，第1电极头29也可以省略。

端子金属壳体40是与轴线CL平行地延伸的棒状构件。端子金属壳体40 使用导电性材料形成(例如含有铁作为主要成分的金属)。端子金属壳体40 具有朝向前方向Df按顺序排列的帽安装部49、凸缘部48以及轴部41。轴部41 插入绝缘体10的轴孔12的后方向Dfr侧的部分。帽安装部49在绝缘体10的后端侧露出到轴孔12外。

在绝缘体10的轴孔12内，在端子金属壳体40与中心电极20之间配置有用于抑制电噪声的电阻器73。电阻器73使用导电性材料(例如玻璃、碳颗粒及陶瓷颗粒的混合物)形成。在电阻器73与中心电极20之间配置第1密封部72，在电阻器73与端子金属壳体40之间配置第2密封部74。这些密封部72、74使用导电性材料(例如金属颗粒与同电阻器73的材料所含有的玻璃相同的玻璃的混合物)形成。中心电极20借助第1密封部72、电阻器73、第2密封部74与端子金属壳体40电连接。

主体金属壳体50是具有沿着轴线CL延伸的贯通孔59的筒状的构件。在主体金属壳体50的贯通孔59插入有绝缘体10，主体金属壳体50固定于绝缘体 10的外周。主体金属壳体50使用导电材料(例如含有作为主要成分的铁的碳钢等金属)形成。绝缘体10的前方向Df侧的一部分露出到贯通孔59外。此外，绝缘体10的后方向Dfr侧的一部分露出到贯通孔59外。

主体金属壳体50具有工具卡合部51和前端侧主体部52。工具卡合部51是供火花塞用的扳手(未图示)嵌合的部分。前端侧主体部52是包含主体金属壳体50的前端面55的部分。在前端侧主体部52的外周面形成有用于与内燃机 (例如汽油机)的安装孔螺纹结合的螺纹部57。螺纹部57是形成有沿轴线CL 的方向延伸的外螺纹的部分。

在主体金属壳体50的处于工具卡合部51与前端侧主体部52之间的外周面形成有向径向外侧突出的凸缘状的中间主体部54。中间主体部54的外径大于螺纹部57的最大外径(即螺纹牙的顶部的外径)。中间主体部54的前方向 Df侧的面300是用于形成与内燃机中的形成安装孔的部分即安装部(例如发动机缸盖)之间的密封的座面。

在前端侧主体部52的螺纹部57与中间主体部54的座面300之间配置有环状的密封垫片90。密封垫片90在火花塞100安装到内燃机时被压扁变形，将火花塞100的中间主体部54的座面300与未图示的内燃机的安装部(例如发动机缸盖)之间的间隙密封。另外，密封垫片90也可以省略。在该情况下，中间主体部54的座面300通过直接接触内燃机的安装部而将座面300与内燃机的安装部之间的间隙密封。

在主体金属壳体50的前端侧主体部52形成有随着朝向前端侧去内径逐渐变小的内径缩小部56。在主体金属壳体50的内径缩小部56与绝缘体10的外径缩小部16之间夹有前端侧密封件8。在本实施方式中，前端侧密封件8例如是铁制的板状环(也可以采用其他的材料(例如铜等金属材料))。

在主体金属壳体50的比工具卡合部51靠后端侧的位置形成有薄壁部分即弯边部53(弯边部53是形成主体金属壳体50后端的后端部)。此外，在中间主体部54与工具卡合部51之间形成有薄壁部分即纵曲部58。在主体金属壳体50的从工具卡合部51到弯边部53的内周面与绝缘体10的后端侧主体部13 的外周面之间插入有圆环状的环构件61、62。并且，在这些环构件61、62之间填充有滑石70的粉末。在火花塞100的制造工序中，当弯边部53向内侧弯折而被弯边时，纵曲部58随着被施加压缩力而向外变形(纵曲)，结果，主体金属壳体50和绝缘体10固定起来。滑石70在该弯边工序时被压缩，使主体金属壳体50与绝缘体10之间的气密性升高。此外，密封件8在绝缘体10的外径缩小部16与主体金属壳体50的内径缩小部56之间被按压，于是将主体金属壳体50与绝缘体10之间密封。

接地电极30是金属制的构件，且具有棒状的主体部37和安装于主体部37 的顶端部34的第2电极头39。主体部37的另一个端部33(也被称作基端部33) 接合于主体金属壳体50的前端面55(例如电阻焊接)。对于主体部37而言，从接合于主体金属壳体50的基端部33朝向前端方向Df延伸，并朝向中心轴线 CL弯曲而到达顶端部34。第2电极头39固定于顶端部34的后方向Dfr侧的部分 (例如电阻焊接、激光焊接)。主体部37对应于供电极头39接合的基部。接地电极30的第2电极头39和中心电极20的第1电极头29之间形成空隙g。即，接地电极30的第2电极头39配置在中心电极20的第1电极头29的前方向Df侧，并隔着空隙g与第1电极头29相对。第2电极头39使用与主体部37相比对于放电的耐久性优异的材料(例如铱(Ir)、白金(Pt)等贵金属)形成。另外，第2电极头39也可以省略。

主体部37具有外层31和配置在外层31的内周侧的内层32。外层31由与内层32相比耐氧化性优异的材料(例如含有镍作为主要成分的合金)形成。内层32由与外层31相比导热率较高的材料(例如含有纯铜、铜作为主要成分的合金等)形成。另外，内层32也可以省略。

A－2.制造方法：

图2是表示火花塞100的制造方法的例子的流程图。在S100中，准备棒状的接地电极30。在本实施方式中，准备第2电极头39和未弯曲的棒状的主体部37。作为准备这些构件的方法，可以采用公知的各种方法(省略详细的说明)。然后，利用电阻焊接在主体部37的顶端部34接合第2电极头39。图3的 (A)表示接合之前的主体部37和第2电极头39的立体图，图3的(B)表示接合之后的主体部37和第2电极头39。图中的中心轴线CL和方向Df、Dfr表示从完成的火花塞100(图1)的主体部37的顶端部34和第2电极头39观察到的中心轴线CL和方向Df、Dfr。以下，使用轴线CL和方向Df、Dfr说明位置关系。如图所示，第2电极头39接合于主体部37的顶端部34的后方向Dfr侧的面 S1(以下也称作确定面S1)。第2电极头39的后方向Dfr侧的面S2是放电面(以下也称作放电面S2)。此外，在图中表示了确定面S1的边缘E1、E2、E3。边缘E1是表示确定面S1的顶端的边缘。该边缘E1表示确定面S1与主体部37的顶端面37e的连接部分。边缘E2、E3表示与顶端部34朝向顶端面37e延伸的方向D37垂直的方向上的边缘(也将方向D37称作延长方向D37)。在本实施方式中，延长方向D37是与轴线CL垂直且朝向顶端面37e去的方向。

图3的(C)～图3的(E)是将顶端部34和第2电极头39接合时的情形的说明图。在各图中表示了朝向与前方向Df垂直的方向观察到的主体部37和第 2电极头39的外观。首先，如图3的(C)所示，在顶端部34的后方向Dfr侧的确定面S1上载置第2电极头39。然后，如图3的(D)所示，第1支承部410按压于第2电极头39的后方向Dfr侧的面，第2支承部420按压于顶端部34的前方向Df侧的面。支承部410、420由导电材料(例如不锈钢)形成。然后，对支承部410、420之间施加用于电阻焊接的电压。由此，电流在顶端部34和第2 电极头39中流动。利用该电流，使顶端部34的后方向Dfr侧的确定面S1和第2 电极头39的前方向Df侧的面的相互接触的部分熔融，将顶端部34和第2电极头39接合起来。

图3的(E)表示焊接后的外观。如图所示，在顶端部34与第2电极头39 的交界部分形成有接合部200。如图3的(B)所示，接合部200在顶端部34 的确定面S1与第2电极头39的外周面S3的交界部分沿整周形成。接合部200 是将顶端部34和第2电极头39接合的部分。接合部200是在焊接时顶端部34和第2电极头39熔融了的部分经冷却而凝固成的部分(也称作熔融部200)。接合部200包含顶端部34的成分和第2电极头39的成分。换言之，接合部200是顶端部34的成分和第2电极头39的成分的合金层。此外，接合部200是顶端部 34和第2电极头39一体化而成的部分。

另外，接合部200的形状在多个接地电极30之间可以各不相同。图3的(B) 表示了适当形状的接合部200。在本实施方式中，适当的接合部200形成在顶端部34的确定面S1的比边缘E1、E2、E3靠内侧且比第2电极头39的放电面S2 靠主体部37侧的范围内。而且，接合部200的表面形成光滑的曲面。但是，即使在利用相同的方法将主体部37和第2电极头39接合的情况下，也有时会在接合部形成不期望的部分。例如，有时接合部沿着顶端部34的确定面S1 扩展并溢出到比确定面S1的边缘E1、E2、E3靠外侧的位置。此外，有时产生飞溅而在接合部形成细长的刺这样的突出部。此外，有时接合部扩展到比第2电极头39的放电面S2靠后方向Dfr侧的位置。当在接合部形成该不期望的部分时，会产生不良。例如不在放电面S2发生放电，而是会在接合部发生放电。此外，在搬运火花塞时，接合部中的突出的部分与其他的构件接触，而可能导致接地电极破损。

因此，在本实施方式中，在图2的S100中确定接合部的立体的形状，并判断接合部是否包含不期望的部分。而且，在判断为接合部不包含不期望的部分的情况下，将接地电极用作火花塞100的制造用的构件。在判断为接合部包含不期望的部分的情况下，自制造对象除去接地电极。这些处理的详细说明见后述。

在图2的S110中，准备除接地电极30之外的其他构件。具体地讲，准备包含密封部72、74和电阻器73各自的粉末材料、主体金属壳体50、绝缘体10、中心电极20、端子金属壳体40在内的构件。作为准备这些构件的方法，可以采用公知的各种方法(省略详细的说明)。另外，接地电极的准备(S100) 和其他构件的准备(S110)相互独立地进行。

在S120中，使用准备好的构件来组装火花塞100。例如，首先，制成具有绝缘体10、中心电极20及端子金属壳体40的组装体。例如将中心电极20从绝缘体10的后方向Dfr侧的开口插入。中心电极20通过支承于绝缘体10的内径缩小部11而配置在贯通孔12内的预定位置。接着，按照构件72、73、74的顺序进行第1密封部72、电阻器73、第2密封部74各自的材料粉末的投入和对投入的粉末材料的成形。粉末材料被从绝缘体10的后方向Dfr侧的开口投入到贯通孔12内。接着，将绝缘体10加热到高于构件72、73、74的材料粉末所含有的玻璃成分的软化点的预定温度，在加热到预定温度的状态下，将端子金属壳体40的轴部41从绝缘体10的后方向Dfr侧的开口插入贯通孔12。结果，构件72、73、74的材料粉末被压缩和烧结，而形成构件72、73、74。于是，端子金属壳体40固定于绝缘体10。此外，在主体金属壳体50接合(例如电阻焊接)接地电极30。

接着，将包含绝缘体10的上述组装体固定于主体金属壳体50。具体地讲，在主体金属壳体50的贯通孔59内配置前端侧密封件8、组装体、环构件62、滑石70、环构件61，并且，通过将主体金属壳体50的弯边部53以向内侧弯折的方式弯边，从而将绝缘体10固定于主体金属壳体50。然后，通过将棒状的接地电极30弯曲来调整空隙g的距离。利用以上操作，完成火花塞100。

图4是表示在图2的S100中准备接地电极的方法的例子的流程图。在S200 中，准备第2电极头39和棒状的主体部37，在S210中，将第2电极头39接合于主体部37。这些步骤S200、S210如利用图3所说明的那样。在S220中，使用测距装置确定接地电极30中的包含第2电极头39的对象部分的外表面上的多个点各自的相对位置。

图5是表示测量系统1000的例子的概略图。在本实施方式中，测量系统 1000包含测距系统700和用于控制测距系统700的控制装置800。测距系统700 包含：测距装置710；以及支承装置720，其用于支承测距装置710并且能够使测距装置710移动。测距装置710是用于测量测距装置710与测量对象之间的距离的装置。作为测距装置710的结构，可以采用任意的结构。在本实施方式中，测距装置710是激光测距仪。测距装置710朝向预先决定好的照射方向LD向测量对象照射激光Lz1，并接收来自测量对象的反射光Lz2。而且，测距装置710使用激光Lz1和反射光Lz2(例如使用相位差)确定测距装置710 与测量对象之间的在照射方向LD上的距离。距离的分辨率例如为20μm以下。此外，在本实施方式中，测距装置710能够测量扫描方向SD上的、位置互不相同的多个测量位置各自与测距装置710之间的在照射方向LD上的距离(扫描方向SD是被预先决定且与照射方向LD垂直的方向)。测距装置710例如通过使测距装置710所包含的光学系统(例如透镜等)移动并使激光Lz1的出射位置、照射方向移动来变更扫描方向SD上的测量位置。

在本实施方式中，接地电极30配置在从测距装置710朝向照射方向LD离开预先决定好的距离的位置。而且，接地电极30相对于测距装置710的朝向被调整为：第2电极头39的放电面S2朝向测距装置710侧，并且顶端部34的延长方向D37与预先决定好的目标方向Dt37大体相同。在该状态下，照射方向 LD与接地电极30的确定面S1大体垂直，此外照射方向LD与放电面S2大体垂直，而且与相对于接地电极30而言的前方向Df大体相同。此外，扫描方向SD 与延长方向D37大体垂直。

支承装置720包含用于支承测距装置710的臂722和用于使臂722移动的驱动源724(例如电动马达)。支承装置720能够使测距装置710的在与扫描方向SD交叉的方向即移动方向MD上的位置进行移动。在本实施方式中，移动方向MD是与扫描方向SD和照射方向LD垂直的方向。

图中的多个点Mp表示利用测距系统700测量距离的测量位置(也称作测量位置Mp)。如图所示，多个测量位置Mp分布在接地电极30的对象部分30t 的后方向Dfr侧的面上。对象部分30t是包含第2电极头39和确定面S1中的包围第2电极头39的一部分在内的部分。该对象部分30t包含接合部200、边缘E1、边缘E2的延长方向D37侧的一部分、边缘E3的延长方向D37侧的一部分。多个测量位置Mp以大体均等分布的方式配置在对象部分30t的后方向Dfr侧的面上。此外，多个测量位置Mp也配置在接地电极30的外侧(其原因见后述)。在本实施方式中，多个测量位置Mp呈格子状配置。

控制装置800例如是个人计算机(例如台式计算机、平板计算机)。控制装置800具有处理器810、存储装置815、用于显示图像的显示部840、用于接受用户的操作的操作部850、以及接口870。存储装置815包含易失性存储装置820和非易失性存储装置830。控制装置800的各要素经由总线互相连接。

处理器810是用于进行数据处理的装置，其例如是CPU。易失性存储装置820例如是DRAM，非易失性存储装置830例如是闪存器。非易失性存储装置830存储有程序832。处理器810通过执行程序832来控制测距系统700，并且检查接合部200(详细见后述)。处理器810将执行程序832所使用的各种中间数据临时存储于存储装置815(例如易失性存储装置820、非易失性存储装置830中的任一者)。

显示部840是用于显示图像的装置，其例如是液晶显示器。操作部850是用于接受用户的操作的装置，其例如是重叠配置在显示部840上的触摸面板。用户能够通过操作操作部850来向控制装置800输入各种指示。接口870是用于同其他的装置进行通信的接口(例如是USB接口)。测距系统700(具体地讲是测距装置710和支承装置720)连接于该接口870。

在图4的S220中，用户通过操作控制装置800的操作部850，来输入开始检查处理的指示。处理器810根据指示并遵照程序832开始检查处理。具体地讲，在S220中，处理器810通过控制测距装置710，从而使测距装置710测量扫描方向SD上的、位置互不相同的多个测量位置Mp各自的距离，并从测距装置710获取表示距离的距离信息。此外，处理器810通过控制支承装置720，从而使测距装置710的在移动方向MD上的位置进行移动。处理器810通过交替地重复距离的测量和测距装置710的移动，从而获取多个测量位置Mp各自的距离信息。测量位置Mp的距离根据接地电极30的对象部分30t的外表面上的位置而变化。例如，放电面S2位于比确定面S1靠测距装置710侧的位置。因而，放电面S2上的测量位置Mp的距离小于确定面S1上的测量位置Mp的距离。

由于处理器810控制支承装置720，因此能够分别确定利用支承装置720 移动的测距装置710的在移动方向MD上的多个位置。在S220中，处理器810 获取表示测距装置710的在移动方向MD上的位置、测量位置Mp的在扫描方向SD上的位置、以及测量到的距离之间的对应关系的几何信息。1个对应关系表示1个测量位置Mp。几何信息表示多个测量位置Mp各自的对应关系。另外，激光Lz1的照射方向LD是预先决定的。因而，几何信息表示接地电极30的对象部分30t的后方向Dfr侧的外表面上的多个测量位置Mp各自的相对三维位置。如此可以说，处理器810通过获取几何信息来确定多个测量位置Mp 各自的相对三维位置。

另外，在图5中简化地表示了多个测量位置Mp。实际上，测量了以更高密度配置的许多个测量位置Mp各自的距离。此外，多个测量位置Mp广泛地分布到比确定面S1的边缘E1、E2、E3靠外侧的位置。如后述那样，在接合部200延伸到边缘E1、E2、E3的外侧的情况下，也能够测量该延伸的部分上的测量位置Mp的距离。

关于自对象部分30t偏离的测量位置Mp，测量到大幅度超过测距装置710 与接地电极30之间的距离的距离。因而，在距离大于预先决定好的阈值的情况下，能够判断为与该距离对应的测量位置Mp自对象部分30t偏离。距离的阈值被设定为比针对对象部分30t上的测量位置Mp所能测量到的距离的范围大的值。

在图4的S230中，处理器810使用在S220中得到的几何信息来生成表示接地电极30的对象部分30t的立体形状的三维的坐标数据(也简称作三维数据)。三维数据是表示在S220中被测量的多个测量位置Mp各自的坐标的数据。以下，将利用三维坐标表示的点也称作坐标点。

图6是表示三维坐标的坐标系的说明图。在图6的(A)的第1坐标系CS1 中，原点Oa配置在确定面S1上。而且，互相垂直的3个坐标轴Xa、Ya、Za从原点Oa延伸。第1轴Xa和第2轴Ya是与确定面S1大体平行的坐标轴，第3轴Za 是与确定面S1大体垂直的坐标轴。第1轴Xa的正的方向与主体部37的顶端部 34的延长方向D37大体相同。第2轴Ya与延长方向D37大体垂直。第3轴Za的正的方向与后方向Dfr大体相同。

在使用以第1坐标系CS1表示的坐标的情况下，通过不参照第1轴Xa和第 2轴Ya的坐标而参照第3轴Za的坐标，从而能够容易地确定坐标点是否在比确定面S1靠后方向Dfr侧的位置。此外，通过不参照第3轴Za的坐标而参照第1 轴Xa的坐标和第2轴Ya的坐标，从而能够容易地确定坐标点的在与确定面S1 平行的方向上的位置是否在比确定面S1的边缘E1、E2、E3靠外侧的位置。

在图6的(B)的第2坐标系CS2中，原点Ob配置在放电面S2上。而且，互相垂直的3个坐标轴Xb、Yb、Zb从原点Ob延伸。第1轴Xb和第2轴Yb是与放电面S2大体平行的坐标轴，第3轴Zb是与放电面S2大体垂直的坐标轴。第1 轴Xb的正的方向与主体部37的顶端部34的延长方向D37大体相同。第2轴Yb 与延长方向D37大体垂直。第3轴Zb的正的方向与后方向Dfr大体相同。在使用以第2坐标系CS2表示的坐标的情况下，通过不参照第1轴Xb和第2轴Yb的坐标而参照第3轴Zb的坐标，从而能够容易地确定坐标点是否在比放电面S2 靠后方向Dfr侧的位置。

以下，也将第1轴Xa的正的方向称作+Xa方向，也将第1轴Xa的负的方向称作－Xa方向。其他轴Ya、Za、Xb、Yb、Zb的正的方向和负的方向也使用同样的标记方式。

在图4的S230中，处理器810生成以第1坐标系CS1表示的第1种三维数据和以第2坐标系CS2表示的第2种三维数据这两者。通过解析几何信息而生成该三维数据。处理器810例如遵照以下的过程生成三维数据。

处理器810根据几何信息即测距装置710(图5)的与测量位置Mp对应的在移动方向MD上的位置、测量位置Mp的在扫描方向SD上的位置、照射方向 LD上的距离，计算多个测量位置Mp各自的坐标。在预先决定好的基准坐标系中表示计算出的坐标(例如将测距装置710的特定的位置作为原点的坐标系)。接着，处理器810通过将多个测量位置Mp各自的坐标变换为第1坐标系 CS1的坐标而生成第1种三维数据。第1种三维数据是表示将确定面S1作为基准的相对坐标的数据，且表示对象部分30t的后方向Dfr侧的面的立体形状。此外，处理器810通过将多个测量位置Mp各自的坐标变换为第2坐标系CS2 的坐标而生成第2种三维数据。第2种三维数据是表示将放电面S2作为基准的相对坐标的数据，且表示对象部分30t的后方向Dfr侧的面的立体形状。

作为确定基准坐标系与第1坐标系CS1的第1对应关系以及基准坐标系与第2坐标系CS2的第2对应关系的方法，可以采用各种方法。例如，处理器810 遵照以下的过程确定第1对应关系和第2对应关系。

处理器810从多个测量位置Mp中抽取对象部分30t上的测量位置Mp。例如，处理器810抽取距离为预先决定好的阈值以下的测量位置Mp作为对象部分30t上的测量位置Mp。以下，也将抽取出的测量位置Mp称作对象位置Mpt (图5)。此外，也将不被抽取的测量位置Mp(即自对象部分30t偏离的测量位置Mp)称作外位置Mpo。

处理器810从多个对象位置Mpt中抽取由确定面S1上的对象位置Mpt构成的确定面组和由放电面S2上的对象位置Mpt构成的放电面组。确定面组的距离大于放电面组的距离。此外，确定面组和放电面组之间的距离差与标准的接地电极30的确定面S1和放电面S2之间的距离即基准距离大体相同。作为抽取该确定面组和放电面组的方法，可以采用各种方法。例如，处理器810 生成多个对象位置Mpt的距离的直方图，确定直方图的多个峰值。然后，处理器810从多个峰值中检索距离差为基准距离的两个峰值。在针对两个峰值找到多个候选的情况下，采用对象位置Mpt的总数最多的两个峰值。处理器 810采用所找到的两个峰值中的构成距离较长的峰值的多个对象位置Mpt的组来作为确定面组，采用构成距离较短的峰值的多个对象位置Mpt的组来作为放电面组。

处理器810通过用平面对确定面组的多个对象位置Mpt的坐标进行近似，从而计算出表示确定面S1的近似平面。而且，处理器810在计算出的近似平面上配置原点Oa。处理器810采用通过原点Oa且与近似平面垂直的轴来作为第3轴Za。此外，处理器810计算出与近似平面平行且最接近预先决定好的目标方向Dt37(图5)的方向。而且，处理器810采用通过原点Oa且与计算出的方向平行的轴作为第1轴Xa。此外，处理器810采用通过原点Oa、与第1轴Xa 垂直且与第3轴Za垂直的轴来作为第2轴Ya。利用以上操作，决定第1坐标系 CS1。而且，处理器810使用决定好的第1坐标系CS1来确定基准坐标系与第1 坐标系CS1的对应关系。

处理器810也同样地确定基准坐标系与第2坐标系CS2的对应关系。通过用平面对放电面组的多个对象位置Mpt的坐标进行近似，从而计算出表示放电面S2的近似平面。在计算出的近似平面上配置原点Ob。采用通过原点Ob 且与近似平面垂直的轴来作为第3轴Zb。计算出与近似平面平行且最接近预先决定好的目标方向Dt37(图5)的方向，采用通过原点Oa且与计算出的方向平行的轴来作为第1轴Xb。采用通过原点Ob、与第1轴Xb垂直且与第3轴Zb 垂直的轴来作为第2轴Yb。利用以上操作，决定第2坐标系CS2。而且，处理器810使用决定好的第2坐标系CS2来确定基准坐标系与第2坐标系CS2的对应关系。

在图4的S240中，处理器810通过解析第1种三维数据来检索第1种不期望的部分。图7是第1种不期望的部分的说明图。图7的(A)表示朝向前方向 Df(即－Za方向)观察到的接地电极30a，图7的(B)表示朝向与延长方向 D37相反的方向(即－Xa方向)观察到的接地电极30a。图中的方向Xa、Ya、 Za分别与原点Oa位置无关地表示坐标轴Xa、Ya、Za的正的方向。以下，参照图7的接地电极30a进行说明。

在图中的接地电极30a中，接合部200a超出确定面S1的边缘E3而延伸到外侧。由于各种原因会形成如此延伸到比确定面S1的边缘E1、E2、E3靠外侧的位置的不期望的接合部。接合部200a中的不期望的突出的部分在搬运火花塞时可能与其他的构件(例如其他的火花塞)接触，而由这样的接触会引起接地电极30a破损(例如第2电极头39会自主体部37偏离)。这样的接合部包含比确定面S1的边缘E1、E2、E3靠外侧且比确定面S1靠第2电极头39侧的部分即第1种不期望的部分。在图7的例子中，用阴影表示的部分P1是第1种不期望的部分。

处理器810通过解析第1种三维数据，从而确定表示确定面S1的近似平面上的、分别近似确定面S1的边缘E1、E2、E3的线。作为近似边缘E1、E2、 E3的线的计算方法，可以采用各种方法。例如，处理器810抽取表示确定面 S1的组的多个对象位置Mpt(图5)所分布的区域中的、形成+Xa方向侧的端的多个对象位置Mpt。作为抽取形成端的对象位置Mpt的方法，可以采用各种方法。例如，也可以是，抽取在+Xa侧相邻的测量位置Mp是外位置Mpo 这样的对象位置Mpt来作为形成+Xa方向侧的端的对象位置Mpt。抽取出的多个对象位置Mpt是沿着边缘E1排列的多个对象位置Mpt。

处理器810计算出对表示抽取出的多个对象位置Mpt的多个坐标点(在此是用第1轴Xa和第2轴Ya的二维坐标表示的坐标点)进行近似的线。作为近似线，使用适合边缘E1的形状的线。在边缘E1为直线状的情况下，计算出近似直线。在边缘E1为曲线状的情况下，计算出近似曲线(例如用样条函数表示的曲线)。也同样地计算出近似边缘E2的线和近似边缘E3的线。

处理器810从表示对象部分30t的多个对象位置Mpt中检索满足以下的条件1A、1B的对象位置Mpt。

＜条件1A＞第1轴Xa和第2轴Ya的二维的坐标是用边缘E1、E2、E3的近似线包围的区域之外的坐标。

＜条件1B＞第3轴Za的坐标是比确定面S1(具体地讲是确定面S1的近似平面)靠第2电极头39侧的坐标。

满足上述条件1A、1B的对象位置Mpt表示图7的部分P1这样的第1种不期望的部分上的测量位置Mp。

在图4的S250中，处理器810判断是否找到满足条件1A、1B的对象位置 Mpt。找到满足条件1A、1B的对象位置Mpt意味着像图7的(A)、图7的(B) 的接地电极30a的对象部分30at那样接地电极的对象部分包含第1种不期望的部分。在找到满足条件1A、1B的对象位置Mpt的情况、即判断为对象部分包含第1种不期望的部分的情况下(S250：是)，不采用该接地电极，将其自制造对象除去(S298)。在S298中，处理器810向接收结果信息的装置输出表示判断结果的结果信息。例如，处理器810向显示部840输出结果信息，使显示部840显示判断结果。用户通过观察显示部840，从而能够确定判断结果。此外，处理器810也可以向存储装置(例如非易失性存储装置830)输出结果信息(即也可以将结果信息存储于存储装置)。用户通过参照存储装置的结果信息，从而能够确定判断结果。然后，图4的处理结束。

在没找到满足条件1A、1B的对象位置Mpt的情况下(S250：否)，在S260 中，处理器810通过解析第1种三维数据来检索第2种不期望的部分。图8是第 2种不期望的部分的说明图。图8的(A)表示朝向前方向Df(即－Za方向) 观察到的接地电极30b，图8的(B)表示朝向与延长方向D37相反的方向(即－Xa方向)观察到的接地电极30b。图中的方向Xa、Ya、Za分别与原点Oa 位置无关地表示坐标轴Xa、Ya、Za的正的方向。以下，参照图8的接地电极 30b进行说明。

在图中的接地电极30b中，接合部200b包含像刺那样突出的部分P2。由于各种原因会形成如此局部地突出的不期望的突出部分P2。例如，在产生飞溅的情况下，也会形成突出部分P2。该突出部分P2与图7的第1种不期望的部分P1同样地，在搬运火花塞时会引起不良。此外，尖细的突出部分P2会替代放电面S2而成为放电的起点。

作为检测这种突出部分(即第2种不期望的部分)的方法，可以采用各种方法。例如，处理器810利用对象部分30bt中的比确定面S1靠第2电极头39 侧的多个对象位置Mpt所分布的区域的轮廓来检测第2种不期望的部分。

图8的(C)是接合部200b上的多个对象位置Mpt的说明图。图中示出用第1轴Xa和第2轴Ya表示的二维平面上的多个对象位置Mpt的配置例子。图中示出包含突出部分P2的一部分。用空心圆表示的对象位置Mpt是形成多个对象位置Mpt所分布的区域的轮廓的对象位置Mpt，且表示接合部200b的轮廓 (也称作轮廓位置Mpe)。用粗线表示的近似曲线AO是对多个轮廓位置Mpe 的配置进行近似的曲线(也称作近似轮廓线AO)。由于适当的接合部的轮廓描画平缓的曲线，因此，作为近似接合部的轮廓的近似轮廓线AO构成为曲率半径不会变得过小。例如，近似轮廓线AO用圆、椭圆、次数较小的多项式等来表示。这种近似轮廓线AO以如下方式计算出，即，不描画像突出部分P2那样较细的突出部的轮廓位置Mpe，而是平滑地描画接合部200b的多个轮廓位置Mpe中的除突出部分P2之外的部分的多个轮廓位置Mpe。另外，在本实施方式中，作为近似轮廓线AO，计算出整周描画接合部的轮廓的环形的线。但是，也可以计算出表示接合部中的、仅是包含突出部分P2这样的突出部分的局部的轮廓的近似轮廓线。

图中的对象位置Mphx是突出部分P2上的测量位置Mp。距离dm是对象位置Mphx与近似轮廓线AO之间的最短距离。由于突出部分P2朝向近似轮廓线 AO的外侧突出，因此距离dm变大。在如此在近似轮廓线AO的外侧且是在距近似轮廓线AO较远的位置检测出接合部200b上的对象位置Mpt的情况下，推断为检测出的对象位置Mpt表示较细的突出部分(例如图8的(C)的突出部分P2)。处理器810在如此在近似轮廓线AO的外侧检测出距近似轮廓线AO较远的对象位置Mpt的情况下，判断为接合部包含第2种不期望的部分。

具体地讲，处理器810从多个对象位置Mpt中抽取第3轴Za的坐标比确定面S1(具体地讲是确定面S1的近似平面)靠第2电极头39侧的坐标即对象位置Mpt。抽取的多个对象位置Mpt不包含确定面S1上的对象位置Mpt，而包含比确定面S1高的部分(即接合部和第2电极头)的外表面上的对象位置Mpt (也称作高对象位置Mph)。处理器810从抽取出的多个高对象位置Mph确定形成多个高对象位置Mph的第1轴Xa和第2轴Ya的二维坐标(即与确定面S1平行的方向上的坐标)所分布的区域的轮廓的轮廓位置Mpe。

作为确定轮廓位置Mpe的方法，可以采用各种方法。例如计数包围被关注的高对象位置Mph的8个测量位置Mp中的、与高对象位置Mph不同的测量位置Mp的总数(称作外总数)。与高对象位置Mph不同的测量位置Mp例如是确定面S1上的测量位置Mp、或者是自对象部分30bt偏离的测量位置Mp。外总数较多表示所关注的高对象位置Mph与多个高对象位置Mph所分布的区域之外的区域接近。因而，在外总数为预先决定好的阈值N以上的情况下，能够判断为所关注的高对象位置Mph是轮廓位置Mpe。阈值N是1以上且7以下的整数。在图8的(C)的例子中，阈值N是3。

处理器810计算出近似被确定出的多个轮廓位置Mpe的近似轮廓线AO。近似轮廓线AO构成为不描画像突出部分P2那样局部地突出的部分的轮廓位置Mpe，而是描画适当的接合部的平缓弯曲的轮廓。例如用圆、椭圆、次数较小的多项式等来近似多个轮廓位置Mpe。

处理器810针对每个高对象位置Mph都对所计算出的近似轮廓线AO的外侧的高对象位置Mph与近似轮廓线AO之间的最短距离进行计算。而且，处理器810检索计算出的最短距离为预先决定出的距离阈值Dt以上的高对象位置Mph。即，处理器810检索满足以下的条件2A、2B、2C的对象位置Mpt。

＜条件2A＞第3轴Za的坐标是比确定面S1(具体地讲是确定面S1的近似平面)靠第2电极头39侧的坐标。

＜条件2B＞第1轴Xa和第2轴Ya的二维的坐标是近似轮廓线AO之外的坐标。

＜条件2C＞最短距离为距离阈值Dt以上。

在此，距离阈值Dt被设定为与在接合部的形状适当的情况下在近似轮廓线AO的外侧检测出的高对象位置Mph的最短距离所能取得的值相比足够大的值。满足上述条件2A、2B、2C的对象位置Mpt表示图8的突出部分P2那样的局部地突出的部分(即第2种不期望的部分)上的测量位置Mp。

在图4的S270中，处理器810判断是否找到满足条件2A－2C的对象位置 Mpt。找到满足条件2A－2C的对象位置Mpt意味着像图8的(A)、图8的(B) 的接地电极30b的对象部分30bt那样接地电极的对象部分包含第2种不期望的部分。在找到满足条件2A－2C的对象位置Mpt的情况、即判断为对象部分包含第2种不期望的部分的情况下(S270：是)，不采用该接地电极，将其自制造对象除去(S298)。然后，图4的处理结束。

在没有找到满足条件2A－2C的对象位置Mpt的情况下(S270：否)，在 S280中，处理器810通过解析第2种三维数据来检索第3种不期望的部分。图9 是第3种不期望的部分的说明图。图9的(A)表示朝向前方向Df(即－Zb方向)观察到的接地电极30c，图9的(B)表示朝向与延长方向D37相反的方向(即－Xb方向)观察到的接地电极30c。图中的方向Xb、Yb、Zb分别与原点Ob位置无关地表示坐标轴Xb、Yb、Zb的正的方向。以下，参照图9的接地电极30c进行说明。

在图中的接地电极30c中，接合部200c包含延伸到比放电面S2靠后方向 Dfr侧的位置的部分P3。由于各种原因会形成如此延伸到比放电面S2靠后方向Dfr侧的位置的不期望的接合部。接合部200c中的不期望的突出的部分会替代放电面S2而成为放电的起点。这种接合部包含处于隔着放电面S2所成的两侧中的与第2电极头39所在侧相反的那一侧的部分即第3种不期望的部分。在图9的例子中，用阴影表示的部分P3是第3种不期望的部分。

处理器810通过解析第2种三维数据来确定表示接地电极30c的对象部分 30ct的多个对象位置Mpt。而且，处理器810从多个对象位置Mpt来检索满足以下的条件3A的对象位置Mpt。

＜条件3A＞第3轴Zb的坐标是放电面S2(具体地讲是放电面S2的近似平面)的与第2电极头39侧相反的一侧的坐标。

满足该条件3A的对象位置Mpt表示像图9的部分P3那样的第3种不期望的部分上的对象位置Mpt。

在图4的S290中，处理器810判断是否找到满足条件3A的对象位置Mpt。找到满足条件3A的对象位置Mpt意味着像图9的(A)、图9的(B)的接地电极30c的对象部分30ct那样接地电极的对象部分包含第3种不期望的部分。在找到满足条件3A的对象位置Mpt的情况、即判断为对象部分包含第3种不期望的部分的情况下(S290：是)，不采用该接地电极，将其自制造对象除去 (S298)。然后，图4的处理结束。

在判断为接地电极的对象部分既不包含第1种不期望的部分，也不包含第2种不期望的部分，还不包含第3种不期望的部分的情况下(S250：否、S270：否、S290：否)，采用接地电极作为制造对象(S294)。在S294中，与S298 同样，处理器810向接收结果信息的装置输出表示判断结果的结果信息。然后，图4的处理结束。在图2的处理中，使用用作制造对象的接地电极来制造火花塞100。

像以上那样，在图4的S220中，处理器810(图5)确定包含主体部37和接合于主体部37的确定面S1的第2电极头39在内的接地电极30中的、包含主体部37的确定面S1的一部分和第2电极头39的对象部分30t的外表面上的多个测量位置Mp各自的相对位置。在S230中，处理器810生成表示对象部分的立体形状的三维的坐标数据。在S240－S250、S260－S270、S280－S290各自的步骤中，处理器810通过解析坐标数据来判断对象部分是否包含不期望的部分。在S298中，将包含不期望的部分的接地电极自制造对象除去。在S294 中，采用判断为不包含不期望的部分的接地电极30作为制造对象的构件，组装火花塞100(图2)。如此，由于在判断接地电极的对象部分是否包含不期望的部分的过程中使用三维的坐标数据，因此，能够缓和接地电极的污损等的影响，能够适当地判断接地电极的主体部与电极头39的接合是否不良。

此外，像利用图4的S230和图6的(A)、图6的(B)说明的那样，生成三维的坐标数据包含生成表示第1坐标系CS1中的坐标(即，将主体部37的确定面S1作为基准的相对坐标)的第1种三维坐标数据和表示第2坐标系CS2中的坐标(即，将第2电极头39的放电面S2作为基准的相对坐标)的第2种三维坐标数据。像利用图4的S240、S260说明的那样，在使用第1种三维坐标数据的情况下，能够容易地进行将确定面S1作为基准的解析。例如，仅使用第3 轴Za的坐标就能够判断对象位置Mpt是否处于比确定面S1靠电极头39侧的位置。此外，仅使用第1轴Xa和第2轴Ya这两个坐标就能够判断对象位置Mpt是否处于边缘E1、E2、E3之外。此外，像利用图4的S280说明的那样，在使用第2种三维坐标数据的情况下，能够容易地进行将放电面S2作为基准的解析。例如，仅使用第3轴Zb的坐标就能够判断对象位置Mpt是否处于放电面S2的与电极头39侧相反的一侧。如此，通过使用第1种三维坐标数据和第2种三维坐标数据，从而能够容易地进行解析。

此外，像利用图4的S240、S250、图7说明的那样，在坐标数据的解析结果中，在接地电极30a的对象部分30at包含第1种不期望的部分P1的情况下，判断为接地电极30a的对象部分30at包含不期望的部分，该第1种不期望的部分P1是与主体部37的确定面S1垂直的方向上的位置(在此是第3轴Za的坐标) 处于隔着确定面S1所成的两侧中的同主体部37所在侧相反的那一侧(即电极头39侧)、且与确定面S1平行的方向上的位置处于比确定面S1的边缘E1、E2、 E3靠外侧的位置的部分。因而，在接合部200a溢出到主体部37的边缘E1、E2、 E3的外侧的情况下，能够进行接地电极30a的对象部分30at包含不期望的部分这样的适当的判断。

此外，像利用图4的S260、S270、图8说明的那样，在坐标数据的解析结果中，接地电极30b的对象部分30bt包含与主体部37的确定面S1垂直的方向上的位置(在此是第3轴Za的坐标)处于隔着确定面S1所成的两侧中的、同主体部37所在侧相反的那一侧(即电极头39侧)的部分即相反部分(具体地讲是包含接合部200b和电极头39的部分)。像利用图8的(C)说明的那样，用多个高对象位置Mph表示相反部分。而且，在近似轮廓线AO的外侧检测出到近似轮廓线AO为止的最短距离为距离阈值Dt以上的高对象位置Mph的情况、即相反部分包含沿与确定面S1平行的方向局部地突出的部分即第2种不期望的部分P2的情况下，判断为接地电极30b的对象部分30bt包含不期望的部分P2。因而，在接合部200b包含局部地突出的部分P2的情况下，能够进行接地电极30b的对象部分30bt包含不期望的部分这样的适当的判断。

此外，像利用图4的S280、S290、图9说明的那样，在坐标数据的解析结果中，在接地电极30c的对象部分30ct包含与电极头39的放电面S2垂直的方向上的位置(在此是第3轴Zb的坐标)处于隔着放电面S2所成的两侧中的、同电极头39所在侧相反的那一侧的部分即第3种不期望的部分P3的情况下，判断为接地电极30c的对象部分30ct包含不期望的部分P3。因而，在接合部200c 突出到比放电面S2靠后方向Dfr侧的位置的情况下，能够进行接地电极30c的对象部分30ct包含不期望的部分这样的适当的判断。

B.变形例：

(1)作为接地电极30(图5)中的用三维坐标数据表示的对象部分，可以采用包含主体部37的确定面S1中的至少一部分和电极头39在内的各种部分。例如，也可以是，自对象部分省略从确定面S1中的接合有电极头39的部分附近的3个边缘E1、E2、E3中任意选择的1个以上的边缘。但是，为了检索像图7的第1种不期望的部分P1那样配置在比确定面S1的边缘靠外侧的位置的第1种不期望的部分，优选的是，对象部分包含确定面S1的边缘的至少一部分。

(2)对于判断接地电极30的主体部37与电极头39之间的接合部200是否包含不期望的部分即预先决定好的不期望的部分的方法而言，可以是，替代上述实施方式的方法而是其他的各种方法。例如，在图4的S240、S260的处理中，替代确定面组的多个对象位置Mpt的全部而使用确定面组的多个对象位置Mpt中的至少1个对象位置Mpt来计算出表示确定面S1的近似平面。例如，也可以采用包含确定面组的多个对象位置Mpt中的距离最短的对象位置 Mpt(即最接近测距装置710的对象位置Mpt)且与照射方向LD垂直的平面，来作为近似确定面S1的平面。同样，也可以利用各种方法计算出在图4的S280 的处理中使用的、表示放电面S2的近似平面。

此外，在图4的S240的处理中，也可以替代对确定面组的多个对象位置 Mpt中的形成端的多个对象位置Mpt的坐标点进行近似的方法，而利用其他的方法来确定表示确定面S1的边缘E1、E2、E3的线。例如，也可以是，处理器810通过解析使用数码相机拍摄确定面S1而得到的拍摄图像来确定确定面S1的边缘，并通过组合拍摄图像的解析结果和第1种三维坐标数据来决定表示第1种三维坐标数据的第1坐标系CS1中的边缘。

(3)在图4的S260的处理中，作为检测局部地突出的第2种不期望的部分P2的方法，可以替代在图8的(C)中说明的方法而采用其他的各种方法。例如，也可以使用轮廓位置Mpe的密度来检测第2种不期望的部分。图8的(C) 示出预先决定好的相同形状、相同大小的两个区域Aj1、Aj2(在图8的(C) 的例子中，区域Aj1、Aj2是正方形的区域)。第1区域Aj1配置在与突出部分 P2重叠的位置，第2区域Aj2配置在与接合部200b的轮廓中的不同于突出部分P2的部分重叠的位置。上述区域Aj1、Aj2是比检测对象的细长的突出部分的宽度大且与接合部200b相比足够小的区域。

第1区域Aj1与突出部分P2的顶端部重叠。一般来讲，由于突出部分的顶端部较细，因此顶端部的周围被与高对象位置Mph不同的测量位置Mp所包围。因而，构成顶端部的多个高对象位置Mph易于被确定为轮廓位置Mpe。其结果，区域Aj1内的轮廓位置Mpe的总数变多。

另一方面，第2区域Aj2与接合部200b的不同于突出部分P2的部分的轮廓重叠。由于用平缓的曲线表示与突出部分不同的部分的轮廓，因此在第2区域Aj2内，仅是与1根线重叠的高对象位置Mph会被确定为轮廓位置Mpe。其结果，区域Aj2内的轮廓位置Mpe的总数变少。

如此，第1区域Aj1内的轮廓位置Mpe的总数多于第2区域Aj2内的轮廓位置Mpe的总数。即，在接合部200b中的局部地突出的部分P2，与接合部200b 的其他部分相比，轮廓位置Mpe的密度变大。因而，也可以是，检测轮廓位置Mpe的密度为预先决定好的密度阈值以上的部分作为第2种不期望的部分。在该方法中，不使用近似轮廓线AO就能够检测第2种不期望的部分。另外，轮廓位置Mpe的密度是使用预先决定好的形状和大小的区域计算的密度，且是局部的密度。此外，密度阈值被设定为与在接合部的形状适当的情况下所能检测出的轮廓位置Mpe的密度相比足够大的值。

一般来讲，可以采用以下那样的各种方法。即，确定与确定面S1垂直的方向上的位置比确定面S1靠电极头39侧(即，与作为基部的主体部37相反的一侧)的多个高对象位置Mph。确定如下轮廓位置Mpe，该轮廓位置Mpe表示确定出的多个高对象位置Mph的在与确定面S1平行的方向上的位置所分布的区域的轮廓。通过解析确定出的轮廓位置Mpe来判断高对象位置Mph所分布的区域是否包含沿与确定面S1平行的方向局部地突出的部分。在高对象位置Mph的分布区域包含突出的部分的情况下，能够判断为电极的对象部分包含第2种不期望的部分。

(4)作为被判断是否包含在电极的对象部分的不期望的部分，可以替代利用图7、图8、图9说明的3种不期望的部分而采用各种不期望的部分。例如，也可以省略对上述3种不期望的部分中的、预先任意选择的一种或两种不期望的部分的判断。即，也可以省略图4的“S240－S250”、“S260－S270”以及“S280－S290”中的一者或两者。此外，也可以判断与上述3种不期望的部分不同的其他不期望的部分是否包含在电极的对象部分。另外，图7－图9的3种不期望的部分均会引起不良。因而，优选的是，这3种不期望的部分中的至少一种不期望的部分是被进行是否包含在电极的对象部分的判断的对象。

(5)作为三维坐标数据，也可以仅生成用图6的(A)所示的将确定面 S1作为基准的第1坐标系CS1表示的第1种三维坐标数据和用图6的(B)所示的将放电面S2作为基准的第2坐标系CS2表示的第2种三维坐标数据中的任一者。此外，也可以生成用与第1坐标系CS1和第2坐标系CS2均不相同的坐标系表示的三维坐标数据(例如，预先决定好的坐标系)。在任一种情况下，处理器810都能够通过解析三维坐标数据，并利用与上述的判断方法相同的方法，进行不期望的部分是否包含在电极的对象部分的判断。

另外，作为表示将确定面S1作为基准的相对坐标的坐标系，可以采用1 根坐标轴与确定面S1垂直那样的各种坐标系。例如，可以是互相正交的3根坐标轴中的1根坐标轴与确定面S1垂直，两根坐标轴与确定面S1平行。在此，原点也可以配置在离开确定面S1的位置。此外，也可以用极坐标系表示与确定面S1平行的方向上的位置。同样，作为表示将放电面S2作为基准的相对坐标的坐标系，可以采用1根坐标轴与放电面S2垂直那样的各种坐标系。例如，可以是互相正交的3根坐标轴中的1根坐标轴与放电面S2垂直，两根坐标轴与放电面S2平行。在此，原点也可以配置在离开放电面S2的位置。此外，也可以用极坐标系表示与放电面S2平行的方向上的位置。

另外，在接地电极30相对于测距装置710(图5)的朝向被调整为确定面 S1与照射方向LD(进而是由测距装置710测量的距离的方向)大体垂直的情况下，也可以将由测距装置710测量的距离直接用作与确定面S1垂直的方向上的坐标。对于与放电面S2垂直的方向上的坐标也相同。

(6)对于为了确定电极的对象部分的外表面上的多个点各自的相对位置而使用的测量装置而言，也可以替代利用图5说明的测距装置710，而是能够测量对象部分上的多个点的立体位置关系的任意装置。例如，可以是，使用通过使触摸探头与电极的对象部分的多个点分别接触来测量多个点的立体位置关系的装置。但是，为了进行立体位置关系的高精度的测量，优选使用非接触的三维坐标测量装置。

(7)对于将主体部37和电极头39接合的方法而言，也可以替代电阻焊接，而是其他的各种方法。例如，可以是，利用激光焊接将第2电极头39接合于主体部37。在任一种情况下，都优选的是，利用对将主体部37和电极头 39接合的接合部是否包含不期望的部分的判断结果来准备接地电极30。

(8)对于利用对是否包含不期望的部分的判断结果来准备的电极而言，也可以替代接地电极30，而是中心电极20。在该情况下，优选的是，利用对棒部28与第1电极头29的接合部分是否包含不期望的部分的判断结果来准备中心电极20。

(9)作为火花塞的结构，也可以替代上述各实施方式的结构而采用其他的各种结构。例如也可以省略前端侧密封件8(图1)。在该情况下，主体金属壳体的内径缩小部56直接支承绝缘体的外径缩小部16。此外，也可以替代中心电极的前端部的前端面(例如图1的第1电极头29的前方向Df侧的面)，而由中心电极的前端部的侧面(与轴线CL垂直的方向侧的面)和接地电极形成放电用的空隙。放电用的空隙的总数也可以为两个以上。也可以省略电阻器73。也可以在绝缘体的贯通孔内的中心电极与端子金属壳体之间配置有磁性体。

(10)对于图5的控制装置800而言，也可以是与个人计算机不同种类的装置。例如，控制装置800也可以装入到测距装置710。此外，也可以是，由能够经由互联网互相通信的多个装置(例如计算机)的每一部分分担控制装置的数据处理的功能，从而整体提供控制装置的功能(具备这些装置的系统与控制装置对应)。

在上述各实施方式中，既可以将利用硬件实现的结构的一部分替换为软件，也可以相反地将利用软件实现的结构的一部分或全部替换为硬件。例如也可以利用专用的硬件回路实现图4的S230的功能。

此外，在利用计算机程序实现本发明的功能的一部分或全部的情况下，该程序能够以存储在计算机可读取的记录介质(例如，非暂时性的记录介质) 中的形式提供。程序能以存储在与提供时相同或不同的记录介质(计算机可读取的记录介质)中的状态进行使用。“计算机可读取的记录介质”并不限于存储卡、CD－ROM这样的便携型的记录介质，也可包含各种ROM等计算机内的内部存储装置、硬盘驱动器等与计算机连接的外部存储装置。

以上，基于实施方式、变形例说明了本发明，但上述的发明的实施方式用于容易理解本发明，并不限定本发明。本发明能够在不脱离其主旨和权利要求书范围的情况下进行变更、改良，并且在本发明中包含其等同方案。

Claims (5)

1.一种火花塞的制造方法，该火花塞具有包含基部和电极头的电极，该电极头接合于所述基部的确定的外表面即确定面，并且形成放电面，其中，

通过确定包含基部和接合于所述基部的电极头在内的电极中的对象部分的外表面上的多个点各自的相对位置，从而生成表示所述对象部分的立体形状的三维的坐标数据，所述对象部分是包含所述基部的确定面的至少一部分和所述电极头在内的部分，

通过解析所述坐标数据，从而判断所述电极的所述对象部分是否包含不期望的部分即预先决定好的不期望的部分，

自制造对象除去包含所述不期望的部分的所述电极，

使用不包含所述不期望的部分的所述电极来组装火花塞。

2.根据权利要求1所述的火花塞的制造方法，其中，

生成所述三维的坐标数据包含：生成表示将所述基部的所述确定面作为基准的相对坐标的第1种三维坐标数据和表示将所述电极头的放电面作为基准的相对坐标的第2种三维坐标数据中的至少一者。

3.根据权利要求1或2所述的火花塞的制造方法，其中，

在所述坐标数据的解析结果中，

在所述电极的所述对象部分包含第1种不期望的部分的情况下，判断为所述电极的所述对象部分包含所述不期望的部分，该第1种不期望的部分是与所述基部的所述确定面垂直的方向上的位置处于隔着所述确定面所成的两侧中的同所述基部所在侧相反的那一侧、且与所述确定面平行的方向上的位置处于比所述确定面的边缘靠外侧的位置的部分。

4.根据权利要求1所述的火花塞的制造方法，其中，

在所述坐标数据的解析结果中，

在所述电极的所述对象部分包含相反部分、且所述相反部分包含沿与所述确定面平行的方向局部地突出的部分即第2种不期望的部分的情况下，判断为所述电极的所述对象部分包含所述不期望的部分，所述相反部分是与所述基部的所述确定面垂直的方向上的位置处于隔着所述确定面所成的两侧中的同所述基部所在侧相反的那一侧的部分。

5.根据权利要求1所述的火花塞的制造方法，其中，

在所述坐标数据的解析结果中，

在所述电极的所述对象部分包含第3种不期望的部分的情况下，判断为所述电极的所述对象部分包含所述不期望的部分，所述第3种不期望的部分是与所述电极头的放电面垂直的方向上的位置处于隔着所述放电面所成的两侧中的同所述电极头所在侧相反的那一侧的部分。