CN108535270A - 一种基板外观检测机 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 74
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 40
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 36
- 239000002699 waste material Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 12
- 230000001360 synchronised Effects 0.000 claims description 9
- 241000252254 Catostomidae Species 0.000 claims description 4
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 229920001621 AMOLED Polymers 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
- G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0187—Mechanical sequence of operations
Abstract
本发明公开了一种基板外观检测机，包括机架，机架上设有循环运转机构、搬运机构及出料机构，其中，机架沿循环运转机构的循环方向依次设有上料工位、读码工位、检测工位和出料工位，机架上于读码工位和检测工位处分别设有读码机构和检测机构；循环运转机构上滑动连接有多个能够依次经过上料工位、读码工位、检测工位和出料工位的承载板；搬运机构靠近出料工位处设置，能够从出料工位处抓取基板并搬运至出料机构处；出料机构包括合格品输送带和废品输送带。本发明利用多个承载板可同时携带多个基板依次进行读码、检测、出料，同时利用循环运转机构带动各承载板循环运转，可同时实现基板的上料、读码、检测及出料操作，大大提高了检测效率。
Description
一种基板外观检测机
技术领域
[0001]本发明涉及显示面板的检测技术领域，尤其涉及一种基板外观检测机。
背景技术
[0002]在TFT、LTPS、AM-〇LED等多种显示面板的制程中，需要检测显示面板的外观。现有 的外观检测机主要应用于玻璃切割后、偏贴前的液晶屏外观检测，可以对液晶屏的脏污、凹 凸点、划伤、崩边、异物、蚀刻不均（由化学减薄引起)等表面缺陷的检测。
[0003]现有的外观检测机虽然能够实现检测，但是一个检测周期只能检测一个显示屏， 效率较低，无法满足生产要求。
[0004]有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研宄创新，以期创设一种基板外观检测 机，使其更具有产业上的利用价值。
发明内容
[0005]本发明的目的在于提出一种基板外观检测机，能够同时对多个基板进行外观检 测，检测效率高。
[0006]为达此目的，本发明采用以下技术方案：
[0007] 一种基板外观检测机，包括机架，所述机架上设有循环运转机构，其中，
[0008] 所述机架上沿所述循环运转机构的循环方向依次设有上料工位、读码工位、检测 工位和出料工位，所述机架上于所述读码工位和所述检测工位处分别设有读码机构和检测 机构；
[0009] 所述循环运转机构上滑动连接有多个能够依次经过所述上料工位、所述读码工 位、所述检测工位和所述出料工位的承载板。
[0010] 进一步的，所述机架上靠近所述出料工位处还设有抽检机构。
[0011] 进一步的，所述机架上还设有搬运机构及出料机构;所述搬运机构靠近所述出料 工位处设置，能够从所述出料工位处抓取基板并搬运至所述出料机构处;所述出料机构包 括合格品输送带和废品输送带。
[0012] 进一步的，所述读码机构包括第一支架和设置在所述第一支架上的读码器，所述 读码器能够沿相互垂直的第一方向和第二方向移动。
[0013] 进一步的，所述第一支架上设有两条相平行的滑轨，两个所述滑轨之间滑动连接 有导杆，所述导杆上通过直线轴承连接有安装板，所述读码器安装在所述安装板上。
[0014] 进一步的，所述检测工位为两个，依次为第一检测工位和第二检测工位;所述检测 机构为两个，分别为对应所述第一检测工位和所述第二检测工位设置的第一检测机构和第 二检测机构。
[0015] 进一步的，所述第一检测机构和所述第二检测机构均包括第二支架和设置在所述 第二支架上的多个相机及多个光源。
[0016] 进一步的，所述循环运转机构包括环形底板、设置在所述环形底板上的环形滑轨 及驱动组件，其中，
[0017] 所述环形滑轨与各所述承载板滑动连接；
[0018] 所述驱动组件包括主动轮、从动轮、连接所述主动轮和所述从动轮的同步带、驱动 所述主动轮转动的电机，所述同步带连接各所述承载板。
[0019] 进一步的，所述搬运机构包括四轴机械手及安装在所述机械手上的吸盘。
[0020] 进一步的，所述抽检机构包括支撑座、多层搁置板，其中，各层所述搁置板之间滑 动连接，位于底层的所述搁置板与所述支撑座滑动连接，位于顶层的所述搁置板连接有推 拉板。
[0021] 本发明的有益效果为:采用循环机构进行上料、读码、检测及出料，多个上料工位 可同时上料，利用循环的方式可同时进行上料、读码、检测、出料的操作，大大提高了检测效 率。
附图说明
[0022] 图1是本发明具体实施方式提供的基板外观检测机的结构示意图；
[0023] 图2是本发明具体实施方式提供的基板外观检测机中的读码机构的结构示意图；
[0024] 图3是图1中A部的放大图；
[0025]图4是本发明具体实施方式提供的基板外观检测机中的循环运转机构的结构示意 图；
[0026]图5是本发明具体实施方式提供的基板外观检测机中的抽检机构的结构示意图。 [0027] 图中：10-机架，20-循环运转机构，21-环形底板，22-环形滑轨，23-主动轮，24-从 动轮，25-同步带，26-承载板，31-上料工位，32-读码工位，33-检测工位，34-出料工位，40-读码机构，41-第一支架，42-读码器，43-滑轨，44-导杆，45-直线轴承，46-安装板，47-锁紧 件，50-检测机构，51-第二支架，52-相机，53-光源，61-机械手，62-吸盘，71-合格品输送带， 72-废品输送带，80-抽检机构，81-支撑座，82-搁置板，83-推拉板，84-阻挡件。
具体实施方式
[0028]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。
[0029]如图1至5所示，本发明的基板外观检测机包括机架10,机架10上设有循环运转机 构20、搬运机构及出料机构。其中，机架10上沿循环运转机构20的循环方向依次设有上料工 位31、读码工位32、检测工位33和出料工位34,机架10上于读码工位32和检测工位33处分别 设有读码机构40和检测机构50;循环运转机构20上滑动连接有多个能够依次经过上料工位 31、读码工位32、检测工位33和出料工位34的承载板26;搬运机构靠近出料工位34处设置， 能够从出料工位34处抓取基板并搬运至出料机构处；出料机构包括合格品输送带71和废品 输送带72。为了提升出料速度和提高机构的空间利用率，本发明设置了两条平行的废品输 送带72,合格品输送带71位于两条废品输送带72之间。
[0030]作为本发明的优选实施方式，本发明在机架10上靠近出料工位34处还设有抽检机 构80，利用抽检机构80可以缓存检测机构50检测完毕后的基板，由人工进一步的进行复检。 同样的，搬运机构能够从出料工位34处抓取检测完毕后的基板并搬运至抽检机构80上。且 抽检机构80为两个，分别靠近两条废品输送带72设置;较佳地，抽检机构80与其靠近的废品 输送带72呈直线设置，较大限度的减少了搬运机构的运行距离，提高搬运效率。
[0031]具体的，读码机构40包括第一支架41和设置在第一支架41上的读码器42,读码器 42能够沿相互垂直的第一方向(X向）和第二方向(Y向)移动。
[0032]为了使读码器42沿第一方向和第二方向移动，本发明在第一支架41上设有两条相 平行的滑轨43,两个滑轨43之间滑动连接有导杆44,导杆44上通过直线轴承45连接有安装 板46,读码器42安装在安装板46上。利用读码器42读取基板上的编码，以便数据的追踪。 [0033]当读码器42调整至所需位置时，需要将读码器42固定住，因此，本发明在导杆44上 连接有限制直线轴承45移动的锁紧件47。锁紧件47可谓弹性拉拔销，将直线轴承45锁定，SP 可限制读码器42沿导杆44移动。
[°034]另外，为了确保检测的精度，本发明将检测工位33设置为两个，依次为第一检测工 位和第二检测工位;同样的，检测机构50也为两个，分别为对应第一检测工位和第二检测工 位设置的第一检测机构和第二检测机构。第一检测机构和第二检测机构均包括第二支架51 和设置在第二支架51上的多个相机52及多个光源53。当然，为了配合检测的要求，相机52可 设置为移动式的，光源53的照射角度也可调节。
[0035]为了使循环运转机构20带动各承载板26依次经过上料工位31、读码工位32、检测 工位33和出料工位34,本发明的循环运转机构20包括环形底板21、设置在环形底板21上的 环形滑轨22及驱动组件。其中，环形滑轨22与各承载板26滑动连接;驱动组件包括主动轮 23、从动轮24、连接主动轮23和从动轮24的同步带25、驱动主动轮23转动的电机，同步带25 连接各承载板26。电机带动同步带25回转，同步带25带动各承载板26沿环形滑轨22滑动，从 而各承载板26可依次经过上料工位31、读码工位32、检测工位33和出料工位34。
[0036]为了使搬运机构能够将检测完毕后的基板移动至抽检机构80上或合格品输送带 H上或废品输送带72上，本发明的搬运机构包括四轴机械手61及安装在机械手61上的吸盘 62。四轴的机械手61可以满足多角度跟多方向的移动。
[0037]为了使抽检机构8〇能够存放较多的基板，本发明的抽检机构80包括支撑座81、多 层搁置板82,其中，各层搁置板S2之间滑动连接，位于底层的搁置板82与支撑座81滑动连 接，位于顶层的搁置板S2连接有推拉板S3,推拉板83连接有把手。每层搁置板82均可放置基 板，当顶层的搁置板82放满基板后，拉动推拉板83,推拉板83带动顶层的搁置板82相对次顶 层的搁置板82移动，露出次顶层的搁置板82,可继续将基板放置在次顶层的搁置板82上；当 次顶层的搁置板82上放满基板后，继续拉动推拉板83，将次顶层的搁置板82移出，露出下一 层的搁置板82。为了避免各搁置板82回位时滑动过头，本发明还设置了阻挡件84，阻挡件84 能够抵持各搁置板82的边缘，阻止各搁置板82继续滑动。
[0038]综上，本发明的基板外观检测机利用多个承载板26可同时携带多个基板依次进行 读码、检测、出料，同时利用循环运转机构20带动各承载板26循环运转，可同时实现基板的 上料、读码、检测及出料操作，大大提高了检测效率。
[0039]以上结合具体实施例描述了本发明的技术原理。这些描述只是为了解释本发明的 原理，而不能以任何方式解释为对本发明保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术 人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本发明的其它具体实施方式，这些方式都将落入 本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1. 一种基板外观检测机，其特征在于，包括机架（10)，所述机架（10)上设有循环运转机 构(20)，其中， 所述机架（10)上沿所述循环运转机构(20)的循环方向依次设有上料工位(31)、读码工 位C32)、检测工位(33)和出料工位(34)，所述机架（10)上于所述读码工位(32)和所述检测 工位(33)处分别设有读码机构(40)和检测机构(50); 所述循环运转机构(20)上滑动连接有多个能够依次经过所述上料工位(31)、所述读码 工位(32)、所述检测工位(33)和所述出料工位(34)的承载板(26)。
2. 根据权利要求1所述的基板外观检测机，其特征在于，所述机架（10)上靠近所述出料 工位(34)处还设有抽检机构(80)。
3.根据权利要求1所述的基板外观检测机，其特征在于，所述机架（1〇)上还设有搬运机 构及出料机构;所述搬运机构靠近所述出料工位(34)处设置，能够从所述出料工位(34)处 抓取基板并搬运至所述出料机构处;所述出料机构包括合格品输送带(71)和废品输送带 (72)。
4.根据权利要求1至3任一项所述的基板外观检测机，其特征在于，所述读码机构(40) 包括第一支架(41)和设置在所述第一支架(41)上的读码器(42)，所述读码器(42)能够沿相 互垂直的第一方向和第二方向移动。
5.根据权利要求4所述的基板外观检测机，其特征在于，所述第一支架(41)上设有两条 相平行的滑轨(43)，两个所述滑轨(43)之间滑动连接有导杆(44)，所述导杆(44)上通过直 线轴承(45)连接有安装板(46)，所述读码器(42)安装在所述安装板(46)上。
6.根据权利要求1至3任一项所述的基板外观检测机，其特征在于，所述检测工位(33) 为两个，依次为第一检测工位和第二检测工位;所述检测机构(50)为两个，分别为对应所述 第一检测工位和所述第二检测工位设置的第一检测机构和第二检测机构。
7.根据权利要求6所述的基板外观检测机，其特征在于，所述第一检测机构和所述第二 检测机构均包括第二支架(51)和设置在所述第二支架(51)上的多个相机(52)及多个光源 (53)。
8. 根据权利要求1至3任一项所述的基板外观检测机，其特征在于，所述循环运转机构 (20)包括环形底板(21)、设置在所述环形底板(21)上的环形滑轨(22)及驱动组件，其中， 所述环形滑轨(22)与各所述承载板(26)滑动连接； 所述驱动组件包括主动轮(23)、从动轮(24)、连接所述主动轮(23)和所述从动轮(24) 的同步带(25)、驱动所述主动轮(23)转动的电机，所述同步带(25)连接各所述承载板(26)。
9. 根据权利要求3所述的基板外观检测机，其特征在于，所述搬运机构包括四轴机械手 (61)及安装在所述机械手(61)上的吸盘(62)。
10. 根据权利要求2所述的基板外观检测机，其特征在于，所述抽检机构(80)包括支撑 座(81)、多层搁置板(82)，其中，各层所述搁置板(82)之间滑动连接，位于底层的所述搁置 板(82)与所述支撑座(81)滑动连接，位于顶层的所述搁置板(82)连接有推拉板(83)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810679158.4A CN108535270A (zh) | 2018-06-27 | 2018-06-27 | 一种基板外观检测机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810679158.4A CN108535270A (zh) | 2018-06-27 | 2018-06-27 | 一种基板外观检测机 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN108535270A true CN108535270A (zh) | 2018-09-14 |
Family
ID=63487317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810679158.4A Pending CN108535270A (zh) | 2018-06-27 | 2018-06-27 | 一种基板外观检测机 |
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|---|---|
| CN (1) | CN108535270A (zh) |
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|---|---|---|---|---|
| CN109530244A (zh) * | 2018-12-27 | 2019-03-29 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种基板的检测方法 |
| CN109887454A (zh) * | 2019-04-09 | 2019-06-14 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种阻抗检测设备 |
| CN113567360A (zh) * | 2021-09-24 | 2021-10-29 | 苏州鼎纳自动化技术有限公司 | 一种兼容多款产品的色差光泽检测装置及其操作方法 |
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