CN108459232A - 触控屏测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种触控屏测试装置及测试方法，其中触控屏测试装置，用于对触控屏进行测试，触控屏设置有第一测试端子，触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，上位机与测试治具连接，测试治具设置有第二测试端子，第一测试端子与第二测试端子配合连接；测试治具控制第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至驱动芯片，代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。本发明技术方案能够实现代码的自动烧录和测试，避免人工手动操作造成的漏烧录等问题，提高了触控屏的测试效率。

Description

触控屏测试装置及方法

技术领域

本发明涉及触控屏技术领域，特别涉及一种触控屏测试装置及方法。

背景技术

触控显示屏在出厂之前先要进行FW(FirmWare，显示屏的固件代码)烧录。现有的触控显示屏在进行FW烧录时，还需要测试人员手动点亮模组并操作相应测试软件烧录FW。

但是，人工手动操作容易出现漏烧录等问题，导致不良产品流至客户，造成投诉，影响产品形象；手动操作效率低下，浪费人力成本，同时人工手动测试易容易造成连接器损坏等问题，造成合格率降低。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种触控屏测试装置，旨在提高触摸屏测试的效率。

为实现上述目的，本发明提出的触控屏测试装置，用于对触控屏进行测试，所述触控屏设置有用于与测试治具连接的第一测试端子，所述触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，所述上位机与所述测试治具连接，所述测试治具设置有第二测试端子，所述第一测试端子与所述第二测试端子配合连接；

所述测试治具控制所述第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片；代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。

优选地，根据测试结果，所述测试治具控制机械臂对测试后的触摸屏进行分类。

优选地，所述第一测试端子设置于柔性电路板，所述第一测试端子为多个覆铜测试点，所述测试点分别与所述驱动芯片连接；所述第二测试端子包括与所述覆铜测试点数量对应的探针；所述第二测试端子与所述第一测试端子匹配时，所述探针分别与对应的所述覆铜测试点连接。

优选地，所述测试治具包括桥板，所述第二测试端子与所述桥板连接；所述第一测试端子和第二测试端子均包括时钟信号端子、数据信号端子、中断信号端子、自检模式端子、第一电源端子、第二电源端子、第三电源端子及接地端子。

优选地，测试开始后，所述上位机控制第一电源端子、第二电源端子、第三电源端子按照预设时序上电；

上位机通过所述时钟信号端子、所述数据信号端子、及所述中断信号端子与所述驱动芯片进行通信，将代码烧录至所述驱动芯片；

代码烧录完成后驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试；

根据测试结果，测试治具控制机械臂对测试后的触摸屏进行分类。

优选地，所述上位机与驱动芯片之间采用I2C总线通信。

优选地，第一测试端子多个覆铜测试点的相对位置和间距与所述第二测试端子的一致。

优选地，所述代码包括固件代码及初始化代码。

为实现上述目的，本发明还提出一种触控屏测试方法，应用于如上所述的触控屏测试装置，所述触控屏测试方法包括如下步骤：

所述测试治具的控制第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；

上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片。

优选地，在所述上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片之后还包括：

代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。

优选地，在所述代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试之后还包括：

根据测试结果，所述测试治具控制机械臂对测试后的触摸屏进行分类。

本发明技术方案通过设置上位机及测试治具，形成了一种触控屏测试装置。所述上位机与所述测试治具连接，触控屏上设置有第一测试端子，所述测试治具设置有第二测试端子。所述测试治具控制所述第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片，代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。本发明技术方案能够实现代码的自动烧录和测试，避免人工手动操作造成的漏烧录等问题，提高了触控屏的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明触控屏测试装置一实施例的功能模块图；

图2为本发明第一测试端子一实施例的结构示意图；

图3为本发明触控屏测试方法一实施例的流程图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	上位机	210	桥板
200	测试治具	220	第二测试端子
				300	第一测试端子	230	机械臂
400	触控屏

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种触控屏测试装置。

参照图1，在本发明实施例中，该触控屏测试装置，用于对触控屏进行测试，所述触控屏设置有用于与测试治具连接的第一测试端子300，所述触控屏测试装置包括：上位机100及测试治具200，所述上位机100与所述测试治具200连接，所述测试治具200设置有第二测试端子220，所述第一测试端子300与所述第二测试端子220配合连接。

所述测试治具200控制所述第二测试端子220移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子300匹配连接；上位机100与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机100将代码烧录至所述驱动芯片。上位机与驱动芯片之间采用I2C总线通信。

代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机100控制测试治具200对触控屏进行TP(Touch panel)测试。TP测试是业内对显示屏的一种常规测试。BIST(Built-in SelfTest，自建内测)是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度。待测试的触控屏的驱动芯片中具有BIST功能，代码烧录完毕后，驱动芯片进入BIST模式。

随着智能终端的普及与发展，触控屏的应用越来越广泛。TP(TouchPanel，触控屏)。触控屏在出厂之前都需要烧录一些程序代码，本实施例中的程序代码包括固件代码及初始化代码。其中，固件代码是指FW(即firmware)，是指写入EROM(可擦写只读存储器)或EEPROM(电可擦可编程只读存储器)中的程序。固件代码是设备内部保存的设备“驱动程序”，通过固件，操作系统才能按照标准的设备驱动实现特定机器的运行动作。

初始化代码是指initial code，initial code是触控屏中驱动芯片的初始化代码，主要作用是设置触控屏正常显示需求的电压、时序等。

触控面板上的第一端子，是为了进行烧录程序及后续测试需要而设置的。便于在烧录程序过程中，实现测试治具200上的第二测试端子220与第一测试端子300的自动对接。

该测试治具200上设有导轨和定位装置，触控面板通过导轨移动，定位装置将触控面板定位到预设位置，然后第二测试端子220与第一测试端子300进行匹配，完成连接。第二测试端子220给待测试的触控屏供电，上位机100触控屏的驱动芯片建立通信，上位机100将代码烧录至所述驱动芯片。从而实现了自动将FW及initial code自动烧录至触控屏中。

本发明技术方案中的触控屏测试装置包括上位机100及测试治具200，所述上位机100与所述测试治具200连接，触控屏上设置有第一测试端子300，所述测试治具200设置有第二测试端子220。所述测试治具200控制所述第二测试端子220移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子300匹配连接；上位机100与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机100将代码烧录至所述驱动芯片，代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机100控制测试治具对触控屏进行TP测试。本发明技术方案能够实现代码的自动烧录和测试，避免人工手动操作造成的漏烧录等问题，提高了触控屏的测试效率。

进入BIST模式后，触控屏按照initial code显示设定的画面，进行TP测试。TP测试包括检测TP触点是否断开，以得到触摸屏触摸功能是否正常。通过上位机100中的控制程序、测试治具200，实现对触控面板的自动测试。

进一步地，根据测试结果，所述测试治具200控制机械臂230对待测试的触摸屏进行分类。

需要说明的是，测试治具200采集对触控屏的测试数据，根据测试的数据判断触控屏是否通过测试。该测试治具200包括有机械臂230，通过TP测试的触控屏，被机械臂230分为一类，未通过TP测试的触控屏被机械臂230分为一类。

具体地，所述第一测试端子300设置于柔性电路板，所述第一测试端子300为多个覆铜测试点，所述测试点分别与所述驱动芯片连接；所述第二测试端子220包括与所述覆铜测试点数量对应的探针；所述第二测试端子220与所述第一测试端子300匹配时，所述探针分别与对应的所述覆铜测试点连接。

第一测试端子300多个覆铜测试点的相对位置和间距与所述第二测试端子220的一致，以实现第一测试端子与第二测试端子的精准对接。

易于理解的是，触控屏中包括有FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)，参照图2，在FPC设计layout时增加覆铜测试点，覆铜测试点需做开窗处理，确保覆铜测试点与测试治具200可有效电气连接。

本实施例中，第一测试端子300包括有8个覆铜测试点，分别为时钟信号端子SCL、数据信号端子SDL、中断信号端子TP-INT、自检模式端子BIST、第一电源端子VSP、第二电源端子VSN、第三电源端子IOVCC及接地端子GND。

具体地，所述测试治具200包括桥板210，本实施例中该桥板(即bridge board)210采用新思的MPC04。TP测试有专门的测试软件，这个软件是在上位机上运行。在测试时需求把测试软件和被测样品(触控屏)连接起来，bridge board就是起到这个连接作用。所述第二测试端子220与所述桥板210连接；第二测试端子220包括时钟信号端子SCL、数据信号端子SDL、中断信号端子TP-INT、自检模式端子BIST、第一电源端子VSP、第二电源端子VSN、第三电源端子IOVCC及接地端子GND。

需要说明的是，时钟信号端子SCL、数据信号端子SDL及中断信号端子TP-INT共同构成I2C通信电路，实现测试治具200与触控屏的驱动芯片的通信。自检模式端子BIST用于在程序烧录完成后，驱动芯片的BIST引脚电平会拉高，驱动芯片进行BIST模式。驱动芯片进入BIST模式后，触控屏按照initial code显示设定的画面，进行TP测试。

本发明技术方案以型号为新思MPC04的桥板210为例，具体说明对触控屏的程序烧录及测试流程：

测试开始后，所述上位机100控制第一电源端子VSP、第二电源端子VSN、第三电源端子IOVCC按照预设时序上电。

上位机100通过所述时钟信号端子SCL、所述数据信号端子SDL、及所述中断信号端子TP-INT与所述驱动芯片进行通信，将代码烧录至所述驱动芯片。

代码烧录完成后驱动芯片进入BIST模式，上位机100控制测试治具200对触控屏进行TP测试。

根据测试结果，测试治具200通过机械臂230对触摸屏进行分类。

本实施例中，在进行TP测试时，侦测新思MPC04的连接器端子的第27引脚和第30引脚的电平，当27引脚的电平为高电平时表示TP测试不通过，测试治具200的机械臂230将触控屏分为不良品；当29引脚电平为高电平时，表示测试通过，测试治具200的机械臂230将触控屏分为良品。

为实现上述目的，本发明还提出一种触控屏测试方法，应用于如上所述的触控屏测试装置，所述触控屏测试方法包括如下步骤：

S100、所述测试治具200的控制第二测试端子220移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子300匹配连接。给驱动芯片和flash IC提供工作电压，使驱动芯片处于可烧录状态，自动烧录FW和initial code。

S200、上位机100与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机100将代码烧录至所述驱动芯片。

进一步地，在所述上位机100与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机100将代码烧录至所述驱动芯片之后还包括：

S300、代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机100控制测试治具200对触控屏进行TP测试。烧录完FW和initial code后驱动芯片初始化完成，当驱动芯片的BIST引脚拉高后驱动芯片可根据initial code设定输出设定好的画面，开始通信测试TP性能。

本实施例中，TP测试内容主要包括Raw Capacitance Test(即原始电容测试)、Noise Test(即噪音测试)、E-E Short Test(E-E短路测试)、及Electrode Open Test(电极开路测试)这几个测试项目，每个测试项目都会根据根据驱动芯片厂商的算法得到一个测试值，根据这个测试值测试软件里也会设置一个测试规格(测试值的最大值和最小值)，当每个测试项目的测试结果都在规格范围内时才判定测试通过。只有测试通过的产品触控功能的灵敏度、准确度等性能才OK。

进一步地，在所述代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机100控制测试治具200对触控屏进行TP测试之后还包括：

S400、根据测试结果，所述测试治具200通过机械臂230对触摸屏进行分类。测试完成后MPC04会输出测试结果，测试治具200可根据测试结果触发相应机械手臂工作，将OK与NG产品自动分类，避免NG品漏放，提高出货品质。

本装置通过layout的简单改善，FPC设计无特殊变更和成本增加。通过测试治具200改造即可实现TP FW的自动烧录、自动测试、自动判定、自动分类。

此触控屏测试装置可实现TP FW烧录和测试的自动化操作，大大提高工厂的生产效率，节省人力成本；此测试装置可实现测试结果的自动判定和自动分类，可大大提高产品的出货品质，降低客诉风险，提高产品的市场竞争力；此测试装置不需要使用产品连接器，可大大降低连接器损坏的可能性。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种触控屏测试装置，所述触控屏设置有第一测试端子，其特征在于，所述触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，所述上位机与所述测试治具连接，所述测试治具设置有第二测试端子；

所述测试治具控制所述第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片；

代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。

2.如权利要求1所述的触控屏测试装置，其特征在于，根据测试结果，所述测试治具控制机械臂对测试后的触摸屏进行分类。

3.如权利要求1至2中任意一项所述的触控屏测试装置，其特征在于，所述第一测试端子设置于柔性电路板，所述第一测试端子为多个覆铜测试点，所述测试点分别与所述驱动芯片连接；所述第二测试端子包括与所述覆铜测试点数量对应的探针；所述第二测试端子与所述第一测试端子匹配时，所述探针分别与对应的所述覆铜测试点连接。

4.如权利要求3所述的触控屏测试装置，其特征在于，所述测试治具包括桥板，所述第二测试端子与所述桥板连接；所述第一测试端子和第二测试端子均包括时钟信号端子、数据信号端子、中断信号端子、自检模式端子、第一电源端子、第二电源端子、第三电源端子、以及接地端子。

5.如权利要求4所述的触控屏测试装置，其特征在于，测试开始后，所述上位机控制第一电源端子、第二电源端子、以及第三电源端子按照预设时序上电；

上位机通过所述时钟信号端子、所述数据信号端子、及所述中断信号端子与所述驱动芯片进行通信，将代码烧录至所述驱动芯片；

代码烧录完成后驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试；

根据测试结果，测试治具控制机械臂对测试后的触摸屏进行分类。

6.如权利要求5所述的触控屏测试装置，其特征在于，所述上位机与驱动芯片之间采用I2C总线通信。

7.如权利要求3所述的触控屏测试装置，其特征在于，第一测试端子多个覆铜测试点的相对位置和间距与所述第二测试端子的一致。

8.如权利要求1所述的触控屏测试装置，其特征在于，所述代码包括固件代码及初始化代码。

9.一种触控屏测试方法，应用于如权利要求1-8任意一项所述的触控屏测试装置，其特征在于，所述触控屏测试方法包括如下步骤：

所述测试治具控制第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；

上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片；

代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。

10.如权利要求9所述的触控屏测试方法，其特征在于，在所述代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试之后还包括：

根据测试结果，所述测试治具通过机械臂对触摸屏进行分类。