CN1083132C - 光记录方法及光记录装置 - Google Patents

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Abstract

从UV激光源1发射的紫外激光由光调制器2根据附加信息进行光强度调制，通过透镜3、4、相位衍射栅5及半反射镜11入射到反射镜14，由该反射镜14反射后用物镜6聚焦，照射在光盘8上。而从UV激光源1发射的紫外激光是通过光调制器2及透镜3、4入射到相位衍射栅5并由该相位衍射栅5分成3条光束后，通过半反射镜11、反射镜14及物镜6照射在光盘8上。另一方面，被光盘8反射的可见激光的反射光，通过反射镜14及物镜6入射到半反射镜11，由该半反射镜11反射后，通过柱面透镜12入射到光检测器13。然后，根据该光检测器13的输出信号进行聚焦控制及跟踪控制，从而能使紫外激光的光点在附加信息记录区上形成正确的位置，并能正确地记录附加信息。

Description

光记录方法及光记录装置
技术范围
本发明涉及用激光在盘形光记录媒体上记录信号的光记录方法、采用该光记录方法的光记录装置、及利用该光记录装置记录信号的光记录媒体。
在盘形光记录媒体即所谓的光盘中，以往存在有作为追加记录型光盘或可逆型光盘的相变式光盘及光磁式光盘等。作为采用这些光盘的光记录装置中的记录用光源，已知有用于在光盘上记录信号并将已记录的信号擦除的半导体激光器。从该半导体激光器发射的激光可以聚焦成直径1μm以下的微小光点投射在光盘上。
在光盘中的再生专用型光盘方面，存在有用于读出CD并作为专用存储器使用的CD-ROM。该CD-ROM可大量复制。现在，对于象CD-ROM这样的可大量复制的再生专用型光盘，除声频等信息信号外，正在研究记录用于区分例如每个这类再生专用型光盘并识别例如是否是非法复制的光盘的识别信息。
可是，从上述半导体激光器射出的激光，波长为780nm，不能形成所谓的烧蚀，所以不可能得到其强度可将信号直接记录在上述再生专用型光盘上的激光输出功率。因而，当想要在再生专用型光盘上记录各自的固有识别信息时，采用一般的半导体激光器作为记录用光源不能将上述识别信息精细地记录在再生专用型光盘上。
因此，本发明鉴于上述实际情况提供有：一种能够在光记录媒体上记录各自的固有识别信息并能用读取记录在上述光记录媒体上的信息信号的光学传感器读出上述识别信息的光记录方法、采用该光记录方法的光记录装置、及利用该光记录装置记录附加信息的光记录媒体。
发明的公开
本发明的用于在光记录媒体上记录规定信息的光记录方法，包括产生并发射光记录媒体所吸收的波长的紫外激光的步骤；以及调制紫外激光的光束强度并将与在光记录媒体的信息记录区上记录的数据不同的附加信息记录在信息记录区以外的区域的步骤。
本发明的用于在光记录媒体上记录规定信息的光记录装置，具有产生并发射光记录媒体所吸收波长的紫外激光的激光源、调制从激光源发出的紫外激光的光束强度的调制装置、将来自调制装置的紫外激光的光束聚焦在上述光记录媒体上的光学装置、在光记录媒体上移动以决定聚焦在上述光记录媒体上的紫外激光束的光点位置的光点位置控制装置、及使光点对上述光记录媒体进行扫描的扫描装置，并且在信息记录区以外的区域记录与在光记录媒体的信息记录区上记录的数据不同的附加信息。
本发明的用于记录规定信息的光记录媒体，具有记录由声频数据、视频数据、或字符数据组成的主体信息的信息记录区以及记录与主体信息不同的附加信息的附加信息记录区，附加信息通过调制光记录媒体所吸收波长的紫外激光，记录在附加信息记录区。
本发明的特征在于：上述紫外激光的波长为190～370nm。
其特征还在于：上述紫外激光是由钕·钇铝石榴石(Nd：YAG)激光器、Nd：YVO4激光器、Nd：YLF激光器或Nd：YAP激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
其特征还在于：上述紫外激光是由AlGaAs激光器或InGaAs激光器发出的激光。
其特征还在于：上述紫外激光是由Ar激光器或He-Cd激光器发出的激光。
其特征在于：上述附加信息是在光记录媒体上的固有识别信息。
其特征还在于：用预先记录形成的跟踪用导向模式将附加信息记录在光记录媒体上。
其特征在于：采用导向模式进行跟踪时，用波长与激光波长不同的光检测导向模式。
并且，在本发明中，在预先记录形成了跟踪用导向模式的光记录媒体的附加信息记录区上，一面根据导向模式利用波长与紫外激光波长不同的光进行跟踪，一面用紫外激光在光记录媒体上记录形成固有识别信息作为附加信息，从而能分别识别出被大量复制的光记录媒体。
附图的简要说明
图1是表示采用了本发明的光记录装置的具体结构框图。
图2是表示构成上述光记录装置的UV激光源的具体结构的图。
图3是光记录媒体的具体记录状态的表示图。
图4是表示采用了本发明的光记录再生装置的具体结构框图。
图5是在上述光记录再生装置中使用的FZP的主要部分断面形状的示意表示图。
图6是表示上述FZP的相位深度与衍射效率的关系的曲线图。
图7是表示上述FZP的象差修正前与修正后关系的曲线图。
图8是说明在上述光记录再生装置中物镜的非球面设定的示意图。
图9A、9B、9C、9D是表示上述光记录再生装置中用FZP校正后孔径数值为0.4的物镜在波长532nm下的残余波面象差的曲线图。
实施发明用的最佳形态
以下，参照附图说明本发明的最适用的实施例。图1是表示采用了本发明的光记录装置的具体结构的部件组合图。
在本实施例的光记录装置中，作为信号记录用的光源，采用发射高能量密度激光的紫外激光源(以下称UV激光源)1。具体地说，UV激光源1例如是用钕·钇铝石榴石(Nd：YAG)激光器产生4次谐波发射远紫外激光的光源。从该UV激光源1发射的紫外激光和可见激光的光束入射到光调制器2，利用该光调制器2根据后文所述的附加信息调制紫外激光的强度。
由该光调制器2调制强度后的紫外激光的光束经透镜3、4放大并通过相位衍射栅5后，入射到半透镜即所谓的半反射镜11。通过了该半反射镜11的紫外激光，在反射镜14上反射后，由安装在2轴驱动器7上的物镜6聚焦并以光点投射在光盘8的表面上。
这里，上述光盘8由主轴电动机10带动旋转。而上述主轴电动机10通过螺旋传动粗略地确定其在光盘8的半径方向上的位置。
从上述光盘8的表面来的可见激光的反射光，通过物镜6入射到反射镜14，被反射后入射到半反射镜11。入射到该半反射镜11的反射光通过聚焦误差信号检测用柱面透镜12传送到由硅构成的光检测器13上。在该光检测器13中检测所入射的光量，并输出基于该光量的电信号。并且还利用来自该光检测器13的输出信号同时检测来自跟踪用导向槽9的跟踪信号。
此外，根据从上述光检测器13输出的电信号检测聚焦误差信号及跟踪误差信号。将该聚焦误差信号及跟踪误差信号反馈到上述2轴驱动器7，通过控制移动该2轴驱动器7，相对于上述光盘8的表面对投射在上述光盘8上的紫外激光的光点进行调焦，同时决定相对于上述跟踪用导向槽9的正确位置。
这里，上述光盘8采用聚碳酸酯或丙烯酸酯类等材料构成的具有透光性的树脂基片。因此，照射在上述光盘8上的紫外激光必须是适合于加工上述聚碳酸酯或丙烯酸酯类的激光。由于上述聚碳酸酯吸收波长约290nm以下的光，丙烯酸酯类吸收波长约370nm以下的光，而在空气中则吸收波长190nm以下的紫外激光，所以最好是将能被上述光盘8的基板良好吸收且能使该基片在短时间内光分解的波长为190～370nm的紫外激光作为在上述光盘8上记录附加信息用的激光。因此，在本实施例中，采用由钕·钇铝石榴石激光器产生4次谐波而发出的波长266nm的紫外激光进行附加信息的记录。
上述附加信息利用该紫外激光以激光斑的形式记录在上述光盘8上。具体地说，被上述紫外激光的光点照射的部分由于熔化即所谓的烧蚀而被削去，从而形成上述的激光斑。
上述附加信息是上述光盘8上的固有识别信息，例如由代码或在微处理机中使用的微码构成。而该附加信息的内容，具体地说，例如是光盘8的串行编号或口令等信息。
这里，具体地说明上述紫外激光与上述记录形成的激光斑的大小的关系。例如，采用波长780nm、孔径数值0.45的透镜时可再生的激光斑的大小在0.87μm以上。当以20～200ns的脉宽对波长266nm的紫外激光进行高速调制、并采用孔径数值0.4以下的透镜、1～4m/秒的扫描速度、以烧蚀方式在上述光盘8上记录形成激光斑时，该记录形成的激光斑的大小，与采用上述波长780nm、孔径数值0.45的透镜形成的可再生的激光斑的大小大致一致。
为了利用来自上述光盘8的反射光检测聚焦误差信号及跟踪误差信号，在考虑上述由硅构成的光检测器的灵敏度、响应、光致损坏等因素之后，采用上述用于形成激光斑的波长266nm的紫外激光，同时还采用由上述UV激光源1振荡产生的波长532nm的可见激光。
为了对波长532nm的激光得到最大的信号调制度，将跟踪用导向槽9的深度设定为该波长532nm的1/4波长。这时，该跟踪用导向槽9的深度相对于266nm的波长为其波长的1/2，其信号调制度变为最小。
以下，说明在跟踪操作中的跟踪误差信号的检测。
在上述跟踪误差信号的检测中采用3光束法。在该3光束法中的3条光束由上述相位衍射栅5产生。因此，作为上述相位衍射栅5的材料，采用对波长266nm的紫外激光具有高透过率(例如90％以上)的合成石英。并且，为使上述相位衍射栅5在透过波长266nm的紫外激光的同时对波长532nm的激光具有最大的衍射效率，将相位的深度设定为该波长532nm的1/2波长。这时，如忽略合成石英的色散，对266nm的波长相当于1个波长，衍射效率变为最小。
实际上，合成石英的色散是不能忽略的，但可优先使波长266nm的衍射效率达到最小值。另外，不只是该相位衍射栅5，在光学系统中使用的光学部件，除反射镜以外都必须采用合成石英。
从上述UV激光源1发射的波长532nm的可见激光由上述相位衍射栅5分成3条光束后，分别以光点9a、9b、9c投射在在上述光盘8上形成的跟踪用导向槽9上。以上述光点9a、9b、9c投射的可见激光的从上述光盘8的反射光，分别以光点13a、13b、13c入射到上述光检测器13上。由该光检测器13检测出各光点的光量。即，虽然投有适用的对紫外激光从光记录媒体的反射光进行高速检测的光检测器，但因在本光记录装置中利用可见激光检测聚焦误差信号和跟踪误差信号，所以能以高速且良好的精度检测这两个误差信号。
这里，由于在与以±1次衍射光形成的光点9a、9c对应的上述光检测器13上的光点13a、13c的位置上配置一对4象限光检测器，则能够同时进行采用柱面透镜的象散法的聚焦误差信号检测及采用3光束法的跟踪误差信号检测。即，虽然没有适用的对紫外激光从光记录媒体的反射光进行高速检测的光检测器，但因在本光记录装置中利用可见激光检测聚焦误差信号和跟踪误差信号，所以能以高速且良好的精度检测这两个误差信号。换句话说，一面用可见激光进行聚焦控制和跟踪控制，一面用紫外激光进行附加信息的记录，从而能正确地记录附加信息。
下面，用图2对上述UV激光源1进行详细说明。
激光二极管21是用于激发钕·钇铝石榴石激光器的发射波长808nm激光的半导体激光器。该激光二极管21发出的激光入射到钕·钇铝石榴石激光器的外部谐振器。即，上述激光例如采用光纤通过镜22入射到作为激光介质的钕·钇铝石榴石(Nd：YAG)晶体23，使该钕·钇铝石榴石晶体23激振。因此，从上述钕·钇铝石榴石晶体23发射出波长1064nm的钕·钇铝石榴石激光器的振荡光。
该振荡光入射到外部振荡器内由KTP(KTiOPO4‰)构成的非线性光学晶体元件24，产生2次谐波(SHG)。由产生该2次谐波而发出的波长532nm的2次谐波激光，通过镜25后入射到电光调制(EOM)元件26。为了根据来自信号源33的信号将由该UV激光源1发射的因有4次谐波而产生的激光的相位进行高速调制而使用此电光调制元件26。
通过上述电光调制元件26后的2次谐波激光入射到由包括镜27、28、及BBO的非线性光学晶体元件29构成的外部谐振器。即，上述2次谐波激光通过上述镜27入射到上述非线性光学晶体元件29，用以产生4次谐波而发出波长266nm的4次谐波激光、即远紫外激光。该4次谐波激光通过镜28向外部发射。
所产生的上述波长266nm的紫外激光是连续振荡的，所以有可能高速地进行光强度的调制。而且，调制方式的均匀性高。因此，能够容易地聚焦成直径1μm以下的光点。
这里，上述外部振荡器的谐振频率通过以直线电机30驱动控制上述镜27来进行扫描。即，外部振荡器在稳定状态下以预定频率振荡。具体地说，在从上述电光调制元件26射出的2次谐波激光中由上述镜27反射的反射光，入射到光检测器32。在该光检测器32中，所入射的反射光被变换为电流并传送到锁定电路31。在该锁定电路31中，根据该电流检测出上述镜27的位置，并将该镜27的位置信号负反馈到直线电机(VCM)30。在上述直线电机30中，利用所送到的位置信号对上述镜27进行位置控制，从而将外部振荡器的谐振频率锁定在产生2次谐波的频率上。关于锁定电路，在日本公开公报HEI05-243661(USP5367531)中有详细的说明。
以下，在图3中示出了上述光盘的上述附加信息记录状态的具体例。
在该光盘8上，声频、视频、及数据等信息信号记录在信息记录区50内。在该信息记录区50的内周侧设有导入区，作为记录用来指示在上述信息记录区50内所记录的信息内容的信息的区域。在该导入区内设有用于记录上述附加信息的附加信息记录区51，在该附加信息记录区51内将固有识别信息记录在光盘上。
作为记录上述附加信息的附加信息记录区，如果是预先形成了跟踪用导向槽的区域，也可不设在上述导入区内。即，在光盘上写入识别信息时可将跟踪用导向槽作导向用。
这里，当将上述光盘8上记录的信息信号再生时，利用以近红外半导体激光器等作为激光源的光传感器读出信息信号。而当将上述记录的附加信息再生时，也可以利用上述用于再生信息信号的光传感器进行附加信息的读出。由微码构成的附加信息读出信号直接输入到图中未示出的微处理机并判别信息的内容，从而能够直接识别光盘。
目前，作为大批量制造光盘时的制造方法，采用压模进行。具体地说，首先，在玻璃基片上涂布光刻膜，用激光记录信号后进行显影处理制成主盘。然后，用该主盘制作模具即所谓的压模。利用该压模即可大批量地制作记录了信息信号的光盘。在所制作的光盘的记录有信息信号的表面上真空蒸镀一层用于反射的金属膜，通过用硬树脂形成保护膜制作出复制光盘。
利用由如上所述的UV激光源l射出的远紫外激光在光盘上记录附加信息的工序，在上述光盘制作方法中，在真空蒸镀金属膜工序之前进行。
作为上述实施例的UV激光源，采用以波长1064μm的激光产生4次谐波而发射波长266nm激光的Nd：YAG激光器，但作为其他固体激光器，也可采用由波长1064μm的激光产生波长266nm的4次谐波而发射激光的Nd：YVO4、由波长1047μm的激光产生波长262nm的4次谐波而发射激光的Nd：YLF、由波长1079μm的激光产生波长270nm的4次谐波而发射激光的Nd：YAP等。作为直接发射4倍频波的半导体激光器，也可采用发射波长0.78～0.86μm激光的AlGaAs及发射波长0.9～1.1μm激光的InGaAs等。此外，还可采用由发射波长0.275μm、0.306μm、0.333μm、0.351μm、0.364μm等激光的Ar激光器，或发射波长0.325μm及0.354μm等激光的He-Cd激光器等气体激光器发射的激光。
在上述实施例中，作为非线性光学晶体元件采用KTP或BBO(β-BaB2O4，但除此二者外，也可采用LN、QPM LN、LBO、KN等。
另外，在上述实施例中，采用3光束法进行聚焦检测及跟踪检测，但对聚焦检测也可采用斜光束法，对跟踪检测可采用推挽法。
下面，参照附图说明应用了本发明的光记录再生装置。
本光记录再生装置，例如如图4所示，具有UV激光源1、使从该UV激光源1射出的光束照射在光盘8上并将从该光盘8来的反射光传送到光检测器45的光学传感器40、及根据来自该检测器45的输出信号提供伺服作用的伺服电路47。对与上述图1所示光记录装置的构成部件相同的部件，标以相同编号，其详细说明从略。
如上所述，UV激光源1发射200nm～300nm波长范围的远紫外区激光及400nm～700nm波长范围的可见区激光。远紫外区激光的波长设定为可见区激光波长的一半。
光学传感器40，例如如上述图4所示，具有对从UV激光源1发射的激光进行强度调制的光强调制器41、将激光聚焦在光盘8上的物镜42、将可见区激光无象差地聚焦在光盘8上的菲涅尔带片(以下称FZP)43、在光轴方向及与该光轴垂直的方向上驱动物镜42的2轴驱动器44、检测在光盘8上反射后通过物镜42的透射光的光检测器45、及将透射光导入光检测器45的光学系统46。
从UV激光源1射出的激光，经过构成光学系统46的一部分的透镜46a、46b传送到光束分离器46c。透镜46a使光束光点直径小的相干激光通过该透镜46a的焦点后传送到透镜46b，使光束光点直径达到预定的大小。透镜46b将来自透镜46a的光变成平行光并传送到光束分离器46c。
光束分离器46c使透镜46b的光轴折曲90°，使激光转向光盘8的方向。该激光入射到光强调制器41。
所使用的光强调制器41，例如可以是利用通过加电使折射率变化的电光效应的光学元件或利用反映介质中声波和光波关系的声光效应的光学元件等。入射到该光强调制器41的光受到根据从外部供给的附加信息的调制，并将其0次光取出。
从光强调制器41来的激光，被传送到例如2轴驱动器44。在该2轴驱动器44中，配置有作为光学部件的FZP43及物镜42。2轴驱动器44按例如图4示出的箭头方向，即物镜42的光轴方向及与该光轴垂直的方向驱动物镜42。
FZP43用例如合成石英等在远紫外区吸收少的透明材料形成。该FZP43是设置在基片的表面上的呈同心圆形的相位衍射栅。该相位衍射栅的断面形状示于图5。
如图5所示，FZP43的断面形状呈理想的矩形，衍射栅的深度与半径的位置无关而按规定形成。并且，如图5所示，FZP43的衍射栅周期从中心向外周方向随半径位置而变化。关于该FZP43的原理，将在后文中详述。
激光经用FZP43在可见光波段起透镜作用而在远紫外光波段不起透镜作用的校正后，通过物镜42照射在光盘8上。
该光记录再生装置利用远紫外区的激光在光盘8的附加信息记录区51上进行记录，同时用光检测器45通过物镜42、FZP43、光强调制器41、光束分离器46c、聚光透镜46d接收在波长范围内的可见区激光的反射光。
光检测器45将检测光变换为电信号后供给伺服电路47。在伺服电路47中，根据已得到的聚焦误差信号和跟踪误差信号求得控制2轴驱动器44的信号。
如上所述，2轴驱动器44对物镜42在光轴方向及与光轴垂直的方向上进行移动控制，从而将聚焦及跟踪的误差控制为最小值。因此，该光记录再生装置能够用远紫外光获得良好的记录特性。再生时也能以良好的记录特性进行写入，而且由于在可见光波段也能受到聚焦控制、跟踪控制，所以可以进行再生特性良好的再生操作。
以下，说明FZP43的原理。
已经知道，使透明光学材料透射被限定的远紫外区那样设计的透镜，如直接应用于可见区是有困难的。如在波长532nm下使用例如用合成石英按266nm设计成的单透镜，则可用以下给出的参数计算合成石英的波长色散。
作为依赖于波长的参数，假定折射率为N，则
波长266nm的折射率：N265＝1.499
波长532nm的折射率：N532＝1.461由该折射率之差引起的单透镜在波长532nm时的焦点距离的增加，由式(1)求得。
(0.499-0.461)/0.499＝7.7％    …(1)
因此，如假定在波长266nm时单透镜的焦点距离为4.5mm，则在波长532nm时单透镜的焦点距离将增加到343μm。即，可以判定在波长266nm的象面上很难形成波长532nm激光的光点。
所以，当在波长532nm下使用时，概略地说，如将一个焦点距离值等于上述单透镜焦点距离除以7.7(％)的薄透镜(以下称第2透镜)粘合在单透镜上使用，则能在同一象面上形成光点。如考虑实际上作为第2透镜具有一定的厚度，则第2透镜的焦点距离为60～70mm。
该第2透镜用图5所示的FZP43构成，例如将栅的深度t设定为532nm，则在波长λ＝266nm时的相位深度φ将如式(2)所示，等于2π。
φ＝2π(N-1)t/λ
＝2π×0.499×532/266
＝2π    …(2)
即，FZP43在波长λ＝266nm时的衍射效率变得极小，所以FZP43不具有作为透镜的功能。
另一方面，在波长为532nm时，相位深度φ将如式(3)所示，等于0.92π。
φ＝2π(N-1)t/λ
＝2π×0.461×532/266
＝0.92π    …(3)
即，衍射效率变得极大接近于φ＝π，所以FZP43能够有效地起到具有一定焦点距离的透镜的作用。
相位深度φ与0次光I0的透射率及与1次衍射光I1的衍射效率的关系，示于图6。
图6的箭头2ω、4ω分别指示以波长1064nm为基波时的波长532nm的2次谐波、波长266nm的4次谐波的位置。
与波长266nm的4次谐波对应的相位深度φ＝2π，当然是与φ＝0等价的。
对于焦点距离为f的FZP43，如假定r为矢径坐标、a为系数，则波面的相位深度φ(r)由式(4)表示。
φ(r)＝ar2    …(4)
FZP43在式(5)所示范围内的相位深度φ(r)取作0，而在该范围以外的相位深度为φ。
2mπ-π/2＜φ(r)＜2mπ+π/2    …(5)
式中，变量m为自然数。
这里，系数a与焦点距离f的关系用式(6)表示。
a＝π/λf    …(6)
对于波长λ＝532nm，为了制成例如焦点距离f＝65mm的FZP43，从式(6)可知设定a＝28.92即可。
在波长λ＝266nm下无象差的物镜42上附加由FZP43构成的焦点距离f＝65mm的透镜，则该结构在波长λ＝532nm下使用时产生的球面象差，用式(7)表示。
exp-i2π(N-1)(Ar4+Br6)/λ    …(7)
该式(7)中的系数A、B分别为将球面象差按多项式展开时的4次和6次的球面象差系数。这些球面象差系数可用通用的光学设计程序算出。
式(4)示出的波面相位深度φ(r)，可变换为式(8)的形式，利用该式(8)可进行FZP43的设计。
φ(r)＝ar2-2π(N-1)(Ar4+Br6)/λ…(8)
具体地说，当物镜42的孔径数值为0.4时，在光瞳周围的球面象差值为3λ左右，所以能足以制成对式(7)所示的球面象差进行校正后的FZP43。
φ(r)/π对矢径r的关系，例如如图7所示，用指示无象差的虚线和指示校正后的实线表示。从该图7可明显看出，校正值从r＝1mm起越来越大。
应由FZP45校正的孔径数值为0.4的非球面透镜，例如如图8所示。该非球面透镜的设计诸元，如以下表1所示。在图8中，波长λ＝266nm时的焦点距离还和残余球面象差合在一起表示。
表1
曲率半径 厚度 折射率 非球面系数
物体面 ∞ ∞ ∞ ∞
第1面 2.50144 2.500000 1.499679(合成石英) k：-0.177604A：-0.208109E-02B：-0.244232E-03C：-0.000000E+00D：-0.000000E+00
第2面 -14.83532 3.001502 1(空气) k：-175.128050A：-0.166201E-02B：-0.103811E-03C：-0.000000E+00D：-0.000000E+00
象面 ∞ -0.00006
  焦点距离轴上波面象差轴外波面象差 45mm(λ＝266nm)                 4.8675(λ＝532nm)0.006rmsλ0.016rmsλ
这里，对于用FZP43校正后的孔径数值为0.4的物镜42，射入波长λ＝532nm的激光时的残余球面象差，示于图9A～9B。这些图的横轴为透镜的相对光瞳坐标，纵轴为满刻度假定为1个波长时的波面象差。
图9A是切线方向的象高为40μm时的象差特性，图9B是径向的象高为40μm时的象差特性。而图9C是切线方向的轴上象差特性，图9D是径向的轴上象差特性。
rms球面象差，在轴上为0.002λ，象高40μm时为0.029λ。该值作为光记录再生装置特性是十分合适的值。这里，在球面象差校正前，即使将孔径数值缩小到0.3，rms球面象差也仍在0.07λ以上。
FZP43若采用如上所述的结构，则FZP43能够在可见光波段具有透镜的功能，而在远紫外光波段不能起到透镜的作用。因此，对于设计用于远紫外区的透镜，可以校正其在可见光波段中的性能恶化，所以在远紫外波段所得到的透镜聚光特性不会恶化，通过在可见光波段进行的校正，可以用光检测器45测得聚焦误差信号及跟踪误差信号，在记录时能获得良好的记录特性。
从以上说明还可以清楚地看出，本发明的光记录方法当发出光记录媒体所吸收波长的紫外激光并射向光记录媒体时，通过调制紫外激光的光束强度并将与在光记录媒体的信息记录区上记录的数据不同的附加信息记录在信息记录区以外的区域，即能在光记录媒体上记录附加信息，所以能区分每个光记录媒体。
另外，本发明的光记录装置具有产生并发射光记录媒体所吸收波长的紫外激光的激光源、调制从激光源发出的紫外激光的光束强度的调制装置、将来自调制装置的紫外激光的光束聚焦在光记录媒体上的光学装置、在光记录媒体上移动以决定聚焦在光记录媒体上的紫外激光束的光点位置的光点位置控制装置、及使光点对上述光记录媒体进行扫描的扫描装置，并且通过将与在光记录媒体的信息记录区上记录的数据不同的附加信息记录在信息记录区以外的区域，从而能在光记录媒体上记录用于区分每个光记录媒体的附加信息，所以能够容易地判别光记录媒体是否为非法复制，并防止光记录媒体的非法复制。
这里，该紫外激光的波长为190～370nm，是适合于光记录媒体加工的波长，所以能易于在光记录媒体上记录附加信息。
另外，本发明的光记录媒体具有记录由声频数据、视频数据、或字符数据组成的主体信息的信息记录区以及记录与主体信息不同的附加信息的附加信息记录区，附加信息通过调制光记录媒体所吸收波长的紫外激光而记录在附加信息记录区。因此，采用以与在信息记录区记录的主体信息相同的形态将附加信息记录在附加信息记录区并用以读出主体信息的光传感器，可简便地读出附加信息。
这里，由于附加信息是光记录媒体的固有识别信息，所以能区分每个光记录媒体。
由于是利用预先记录的跟踪用导向模式将附加信息记录在光记录媒体上，所以能在光记录媒体上正确地记录附加信息并能正确地读出所记录的附加信息。
而且，当利用导向模式进行跟踪时，由于是用波长与激光波长不同的光来检测导向模式，所以能高速且正确地检测出跟踪误差信号，可将附加信息记录在正确的位置上。

Claims (26)

1.一种光记录方法，用于在光记录媒体(8)上记录预定的信息，它包括：产生并发射上述光记录媒体(8)所吸收波长的紫外激光的步骤，以及调制上述紫外激光的光束强度并将与在光记录媒体(8)的信息记录区上记录的数据不同的附加信息记录在上述信息记录区以外的区域的步骤。
2.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光的波长为190～370nm。
3.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由钕·钇铝石榴石(Nd：YAG)激光器产生的4次谐波而发出的远紫外激光。
4.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述附加信息是在上述光记录媒体(8)上的固有识别信息。
5.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：用预先记录形成的跟踪用导向模式将上述附加信息记录在上述光记录媒体(8)上。
6.根据权利要求5所述的光记录方法，其特征在于：利用上述导向模式进行跟踪时，用波长与上述紫外激光波长不同的光束检测上述导向模式。
7.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由Nd：YVO4激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
8.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由Nd：YLF激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
9.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由Nd：YAP激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
10.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由AlGaAs激光器发出的波长为0.78～0.86μm的激光。
11.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由InGaAs激光器发出的波长为0.9～1.1μm的激光。
12.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由Ar激光器发出的激光。
13.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于：上述紫外激光是由He-Cd激光器发出的激光。
14.一种光记录装置，用于在光记录媒体(8)上记录预定的信息，它具有：产生并发射上述光记录媒体(8)所吸收波长的紫外激光的激光源(1)；调制从上述激光源(1)发出的紫外激光束强度的调制装置(2)；将来自调制装置(2)的紫外激光的光束聚焦在上述光记录媒体(8)上的光学装置(3，4，5，11，14)；在上述光记录媒体(8)上移动以决定聚焦在上述光记录媒体(8)上的紫外激光束的光点位置的光点位置控制装置；及使上述光点对上述光记录媒体(8)进行扫描的扫描装置，并且在上述信息记录区以外的区域记录与在上述光记录媒体(8)的信息记录区上记录的数据不同的附加信息。
15.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：上述紫外激光的波长为190～370nm。
16.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：从上述激光源(1)发射的紫外激光是由钕·钇铝石榴石(Nd：YAG)激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
17.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：上述附加信息是在上述光记录媒体(8)上的固有识别信息。
18.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：用预先记录形成的跟踪用导向模式将上述附加信息记录在上述光记录媒体(8)上。
19.根据权利要求18所述的光记录装置，其特征在于：利用上述导向模式进行跟踪时，用波长与上述紫外激光波长不同的光来检测上述导向模式。
20.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：从上述激光源发射的紫外激光是由Nd：YVO4激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
21.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：从上述激光源(1)发射的紫外激光是由Nd：YLF激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
22.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：从上述激光源(1)发射的紫外激光是由Nd：YAP激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。
23.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：上述激光源(1)是AlGaAs激光器。
24.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：上述激光源(1)是InGaAs激光器。
25.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：上述激光源(1)是Ar激光器。
26.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于：上述激光源(1)是He-Cd激光器。
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