CN108124079B - 阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。阴影校正装置具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像的基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像的像素值S；移位值取得部，取得基于基准像素值W的移位值k2；查找表，存储有对应W>>k2的变量G₂(＝2^k1/W>>k2)；以及算出部，从查找表中读出与基准像素值W及移位值k2对应的变量G₂，并根据下述式(1)计算测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec：R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B…(1)其中，F＝S·(A‑B)+{W＞＞1}

A、B及k1是整数常数。

Description

阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法

技术领域

本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。

背景技术

一直以来，已知一种进行阴影校正的装置，其使用拍摄对象物而得的对象物图像和拍摄白色基板等基准物而得的基准图像，抑制对象物图像中的照明不均、透镜导致的周边光减少等的影响(例如参照专利文献1)。

在专利文献1所记载的以往的装置中，当将对象物图像中的各像素的像素值设为S'，将基准图像的各像素的像素值设为W'，将暗值设为D时，阴影校正值根据-R_float＝(S'-D)/(W'-D)来计算。这时，在使用所算出的值作为图像数据的情况等下，根据以下所示的整数运算计算阴影校正值。需要说明的是，“X>>y”是表示将x向右移位y位的移位算子，A、B是整数常数。

F＝(S′-D)·(A-B)+{(W′-D)＞＞1}···(2)

然而，在计算机的运算处理中执行除法运算处理需要的处理成本高，对于诸如图像这样的集合了大量像素值的数据执行上述那样的除法运算处理需要较长的处理时间。因此，一直以来，为了减轻处理负荷，将式(1)和式(2)换为下述式(3)和式(4)进行阴影校正的运算。

R_dec＝(F·G)＞＞k1+B···(3)

(k1是整数常数)

在这种情况下，通过将变量G预先存储在LUT(查找表)中，可以通过乘法运算和位移位的组合来实现除法运算，减轻处理负荷。

专利文献1：日本特开平5-167845号公报

然而，在使用上述式(3)和式(4)的运算中，由于W′-D的值取各种值，因此，存在LUT的数据大小增加的问题。

发明内容

本发明的目的在于，提供能够减少用于阴影校正的LUT的数据大小的阴影校正(シェーディング補正)装置、电子设备和阴影校正方法。

本发明涉及的一方面的阴影校正装置中，其特征在于，具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像中的像素值、即基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像中的像素值S；移位值取得部，取得基于所述基准像素值W的移位值k2；存储部，存储查找表，所述查找表中存储有将整数常数设为k1时由G₂＝2^k1/W>>k2表示的、对应于通过将所述基准像素值W移位所述移位值k2而得到的值W>>k2的变量G₂；以及算出部，从所述查找表中读出与由所述基准取得部所取得的所述基准像素值W及由所述移位值取得部所取得的所述移位值k2对应的所述变量G₂，并根据下述式(5)计算所述测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec。

R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B···(5)

其中，F＝S·(A-B)+{W＞＞1}、

A、B及k1是整数常数

需要说明的是，在本发明中，基准像素值W和像素值S既可以是拍摄图像的各像素的像素值，也可以是用暗值校正该像素值后而得到的值。也就是说，在使用暗值D的情况下，当测色基准物的拍摄图像的像素值为W'时，基准像素值W为W＝W'-D，当测量对象的拍摄图像的像素值为S'时，像素值S为S＝S'-D。另外，常数A是反射率为1时的阴影校正值的值。例如，在将算出的阴影校正值直接用作256灰度的图像的像素数据的情况下，A＝255。常数B是反射率为0时的阴影校正值的值。常数k1是关于移位(ビットシフト)的常数，可根据阴影校正的精度适当设定。

本方面中，存储部中存储有LUT(查找表)，LUT中存储对应于W的W>>k2。于是，取得对应于基准像素值W的移位值k2之后，从存储部(LUT)中取得(读入)与通过将基准像素值W移位移位值k2而得到的值(W＞＞k2)对应的变量G₂。然后，使用该变量G₂，根据式(5)计算阴影校正值R_dec(反射率)。

以往，如上所述，将对应W(或W'-D)的k1存储在LUT中，但在这种情况下，需要在LUT中存储与W(或W'-D)的值的可采用值的数量相应的数据，从而数据量庞大。与此相对地，在本方面中，通过取得对应W>>k2的变量G₂，从而与以往相比，能够减少存储在LUT中的数据量。

在本方面的阴影校正装置中，优选地，所述移位值取得部取得基于所述基准像素值W的高位的所述移位值k2。

在本方面中，由移位值取得部取得的移位值是基于基准像素值W的高位而取得的。例如，可例示基准像素值W的高2位、高3位的值。在基于高2位取得移位值k2的情况下，规定为当高2位为“00”时，k2＝0；当高2位为“01”时，k2＝1；当高2位为“10”和“11”时，k2＝2等。这样，通过根据基准像素值W的高位而取得移位值，可以在不进行复杂运算的情况下基于基准像素值W的值容易地取得移位值k2。

在本方式的阴影校正装置中，优选地，所述存储部进一步存储第二查找表，所述第二查找表中存储对应所述基准像素值W的所述移位值k2，所述移位值取得部从所述第二查找表中取得对应于由所述基准取得部所取得的所述基准像素值W的所述移位值k2。

在本应用例中，从第二查找表(第二LUT)读入对应基准像素值W的移位值k2。即使在这种情况下，虽然需要第二LUT，但与将对应W的变量G存储在LUT中的以往情况相比，LUT和第二LUT的总数据量足够小，能够充分减少用于计算阴影校正值的LUT的数据大小。另外，通过第二LUT，能够容易地读出移位值k2。

本发明涉及的一方面的电子设备，其特征在于，具备如上所述的阴影校正装置和拍摄所述拍摄图像的摄像装置。

在本方面中，作为电子设备，可例示出例如打印机、照相机等。在打印机的例子中，例如在印刷头等面向介质的局部上设置摄像装置，通过该摄像装置拍摄介质。在这样的打印机中，能够基于阴影校正结果，进行印字头中的印字校正(例如墨滴的喷出量校正等)。另外，在照相机的例子中，校正部能够形成基于所算出的阴影校正值的图像，能形成对光源的照明不均、透镜导致的周边光量减少进行过校正后的图像，或能显示在显示器上。

本发明涉及的一方面的阴影校正方法的特征在于，通过计算机进行阴影校正，所述计算机具备存储部、基准取得部、对象像素值取得部、移位值取得部和算出部，所述存储部存储查找表，所述查找表中存储有将整数常数设为k1时由G₂＝2^k1/W>>k2表示的、对应于通过将基准像素值W移位规定的移位值k2而得到的值W>>k2的变量G₂，所述基准像素值W是测色基准物的拍摄图像中的像素值，所述阴影校正方法包括：通过所述基准取得部取得所述基准像素值W；通过所述对象像素值取得部取得测量对象的拍摄图像中的像素值S；通过所述移位值取得部取得基于所述基准像素值W的所述移位值k2；以及通过所述算出部从所述查找表中读出与由所述基准取得部所取得的所述基准像素值W及由所述移位值取得部所取得的所述移位值k2对应的所述变量G₂并根据上述式(5)计算所述测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec。

在本应用例中，与上述应用例同样地，由于获取对应W>>k2的变量G₂，因此与以往相比，能够减少存储在LUT中的数据量。

附图说明

图1是示出本实施方式的打印机的外观构成例的图。

图2是示出本实施方式的打印机的简要构成的框图。

图3是示出本实施方式的摄像部的简要构成的图。

图4是示出包含在本实施方式的打印机的控制单元中的CPU的功能构成的框图。

图5是示出本实施方式的校正方法的流程图。

图6是示出本实施方式中的第二LUT的一个例子的图。

图7是示出本实施方式中的第一LUT的一个例子的图。

图8是示出现有的用于阴影校正计算的LUT的图。

附图标记说明

1...打印机(电子设备)；15...控制单元(阴影校正装置)；16...印刷部；17...摄像部；153...存储器(存储部)；154...CPU；154A...扫描控制部；154B...印刷控制部；154C...摄像控制部；154D...基准取得部；154E...对象像素值取得部；154F...移位值取得部；154G...算出部；154H...校正部；173...摄像元件；174A...白色基板(测色基准物)；M...介质。

具体实施方式

以下，参照附图，对本发明的一实施方式进行说明。在本实施方式中，作为本发明的电子设备的一个例子，下面对打印机1(喷墨打印机)进行说明。

[打印机的简要构成]

图1是示出本实施方式的打印机1的外观构成例的图。图2是示出本实施方式的打印机1的简要构成的框图。

如图1所示，打印机1具备：供应单元11、输送单元12、托架13、托架移动单元14和控制单元15(参照图2)。该打印机1根据例如从个人计算机等外部设备20输入的印刷数据，控制各单元11、12、14及托架13，在介质M上印刷图像。另外，本实施方式的打印机1根据预设的原始图像数据在介质M上的预定位置形成测试图案(测量对象)，取得该测试图案的拍摄图像并执行图像处理(阴影校正处理)，当印刷的图像不合适时执行校正处理。

以下，对打印机1的各构成进行具体说明。

供应单元11是用于将作为图像形成对象的介质M(在本实施例中例示纸面)供给至图像形成位置的单元。该供应单元11例如具备：缠有介质M的滚筒体111(参照图1)、滚筒驱动电机(未图示)以及滚筒驱动轮列(未图示)等。于是，根据来自控制单元15的指令，旋转驱动滚筒驱动电机，经由滚筒驱动轮列将滚筒驱动电机的旋转力传递到滚筒体111。由此，滚筒体111旋转，缠在滚筒体111上的纸面向Y方向(副扫描方向)上的下游侧(+Y方向)供应。

需要注意的是，在本实施方式中示出了供应缠在滚筒体111上的纸面的例子，但不限于此。例如，也可以采用任意的供应方法供给介质M，例如，通过辊等来例如逐张供应装载在托盘等上的纸面等介质M，等等。

输送单元12沿着Y方向输送从供应单元11供应的介质M。该输送单元12包括输送辊121、配置成与输送辊121夹着介质M并从动于输送辊121的从动辊(未图示)、以及压盘122而构成。

来自未图示的输送电机的驱动力传递到输送辊121，当在控制单元15的控制下驱动输送电机时，输送辊121被其旋转力旋转驱动，在介质M被夹在输送辊121与从动辊之间的状态下沿着Y方向输送介质M。另外，在输送辊121的Y方向的下游侧(+Y侧)设置有与托架13相对的压盘122。

托架13搭载有：在介质M上印刷图像的印刷部16、和进行介质M上的预定的测量位置(测量区域)的摄像处理的摄像部17(摄像装置)。另外，也可以采用将光谱仪另行搭载在托架13上的构成等。

该托架13设置成通过托架移动单元14而能够沿与Y方向交叉的主扫描方向(X方向)移动。

此外，托架13通过柔性电路131而与控制单元15连接，并基于来自控制单元15的指令，实施印刷部16的印刷处理(对介质M的图像形成处理)和摄像部17的摄像处理。

需要注意的是，对托架13的详细构成将在后面说明。

托架移动单元14构成使托架13移动的移动机构，其基于来自控制单元15的指令，沿X方向使托架13往复移动。

该托架移动单元14包括例如托架引导轴141、托架电机142和正时带143而构成。

托架引导轴141沿着X方向配置，其两端部固定于打印机1的例如壳体。托架电机142驱动正时带143。正时带143被支撑为基本上与托架引导轴141平行，托架13的一部分被固定。于是，当基于控制单元15的指令驱动了托架电机142时，正时带143正反前进，固定于正时带143的托架13被托架引导轴141引导而往复移动。

接下来，对设置在托架13的印刷部16及摄像部17的构成进行说明。

[印刷部的构成]

印刷部16是图像形成部，其在与介质M相对的部分上将墨滴(液体)单独喷出到介质M上，从而在介质M上形成图像。

在该印刷部16中，装卸自由地安装有对应于多种颜色的墨的墨盒(未图示)，经由管(未图示)将墨从各个墨盒供应到墨箱(未图示)。此外，在印刷部16的下表面(与介质M相对的位置)处对应于各颜色设置有喷出墨滴的喷嘴(未图示)。在这些喷嘴上配置有例如压电元件，通过驱动压电元件，喷出从墨箱供应的墨滴并着落在介质M上而形成点。

[摄像部的构成]

图3是示出摄像部17的简要构成的图。

摄像部17包括壳体170、光源171、摄像透镜172、摄像元件173以及遮光器174而构成。该摄像部17例如在托架13上配置于印刷部16的+X侧且+Y侧。需要说明的是，作为设置在摄像部17的摄像元件，可以使用例如CCD、CMOS等各种图像传感器。

在壳体170的局部上设置有窗部170A。通过点亮光源171，从而照明光从窗部170A照射到介质M上，由介质M反射的光从窗部170A经由摄像透镜172入射到摄像元件173。

摄像元件173输出基于入射的图像光的图像信号(拍摄图像的图像数据)，该图像信号经由具有例如I-V转换器、放大器以及AD转换器等的摄像电路输入到控制单元15。

遮光器174设置成能够开闭窗部170A，当不执行摄像部17对介质M的摄像时，遮光器174遮盖并关闭窗部170A，当进行介质M的摄像时，遮光器174与窗部170A分开。并且，在遮光器174的与摄像透镜172相对的面上设置作为测色基准物的白色基板174A。由此，通过用遮光器174关闭窗部170A并在点亮光源171的状态下进行摄像处理，从而能够拍摄基准图像。此外，通过用遮光器174关闭窗部170A并在熄灭光源171的状态下进行摄像处理，从而能够进行暗电流的测量(暗值D的测量)。

[控制单元的构成]

接下来，对控制单元15进行说明。

控制单元15相当于本发明的阴影校正装置，如图2所示，控制单元15包括I/F151、单元控制电路152、存储器153(存储部)以及CPU(中央处理单元)154而构成。

I/F151向CPU154输入从外部设备20输入的印刷数据。

单元控制电路152具备分别控制供应单元11、输送单元12、印刷部16、光源171、摄像部17以及托架移动单元14的控制电路，并根据来自CPU154的指令信号，控制各单元的动作。需要注意的是，各单元的控制电路也可以与控制单元15分开设置，并与控制单元15连接。

存储器153存储有控制打印机1的动作的各种程序、各种数据。

作为各种数据，例如可列举：用于在介质M上印刷测试图案(例如偏差调整图案)的原始图像数据、形成预定颜色时各墨的喷出量、存储用于使墨滴着落在预定位置的墨滴的喷出定时等的印刷配置(プロファイル)数据等。此外，记录用于计算阴影校正值(反射率)的第一查找表(第一LUT)和第二查找表(第二LUT)作为各种数据。需要注意的是，对于记录在查找表中的数据的详情，将在后面说明。

图4是示出包括在打印机1的控制单元15中的CPU154的功能构成的框图。

CPU154通过读出并执行存储在存储器153中的各种程序，从而如图4所示，作为扫描控制部154A、印刷控制部154B、摄像控制部154C，基准取得部154D、对象像素值取得部154E、移位值取得部154F、算出部154G和校正部154H等而发挥作用。

扫描控制部154A向单元控制电路152输出意为驱动供应单元11、输送单元12以及托架移动单元14的指令信号。由此，单元控制电路152驱动供应单元11的滚筒驱动电机，向输送单元12供应介质M。另外，单元控制电路152驱动输送单元12的输送电机，以便将介质M的预定区域沿Y方向输送至压盘122的与托架13相对的位置。此外，单元控制电路152驱动托架移动单元14的托架电机142，使托架13沿X方向移动。

印刷控制部154B例如根据从外部设备20输入的印刷数据，向单元控制电路152输出意为控制印刷部16的指令信号。当从印刷控制部154B向单元控制电路152输出了指令信号时，单元控制电路152向印刷部16输出印刷控制信号，驱动设于喷嘴的压电元件，将墨喷出到介质M上。需要说明的是，在实施印刷时，交替重复托架13沿X方向移动并在其移动过程中从印刷部16喷出墨而形成点的点形成动作、以及在Y方向上输送介质M的输送动作，在介质上印刷由多个点构成的图像。这时，印刷控制部154B根据印刷配置数据，控制墨滴的喷出量、喷出定时，使墨滴着落在目标位置。

摄像控制部154C实施摄像处理。具体而言，摄像控制部154C控制摄像部17而驱动摄像元件173，取得从摄像元件173输入的图像信号(拍摄图像)。

当通过摄像控制部154C而拍摄了测色基准物(例如，白色基板174A等)时，基准取得部154D取得其拍摄图像(基准图像)的各像素的像素值作为基准像素值W。需要注意的是，当预先测定了暗值D时，从基准图像的各像素的像素值W'中减去暗值D，用W＝W'-D算出基准像素值W。关于暗值的测定，在摄像部17中，熄灭光源171，使之为没有光入射到摄像元件173的暗状态来进行摄像处理，将其拍摄图像的各像素的像素值作为该像素的暗值D。

当通过摄像控制部154C而拍摄了介质M(例如介质M上的测试图案)时，对象像素值取得部154E取得其拍摄图像(测量图像)的各像素的像素值作为对象像素值S。需要注意的是，当预先测定了暗值D时，从测量图像的各像素的像素值S'中减去暗值D，用S＝S'-D算出对象像素值S。

移位值取得部154F从存储在存储器153中的第二LUT中取得对应于基准像素值W的移位值k2。

算出部154G根据基准像素值W、对象像素值S和移位值k2、以及预先存储在存储器153中的整数常数A、B、k1，算出阴影校正值R_dec(反射率)。

需要注意的是，关于移位值取得部154F、算出部154G的详细处理，将在后面说明。

校正部154H生成用由算出部154G算出的阴影校正值R_dec转换对象图像而得的校正图像，实施基于该校正图像的各像素值(阴影校正值R_dec)的校正处理。作为校正处理，例如对校正图像的测试图案和该测试图案的原始图像数据进行比较，实施墨喷出量过多的判定处理、喷出位置(喷出定时)的判定处理，算出校正墨喷出量、喷出位置的校正量。

由此，印刷控制部154B能够基于校正部154H算出的校正量，控制印刷部16的印刷处理(墨滴的喷出速度、喷出定时)。

[校正方法]

接下来，对包括本实施方式的打印机1中的阴影校正方法的校正处理进行说明。

图5是示出本实施方式的校正方法的流程图。

在本实施方式中，例如通过用户操作或从外部设备20输入了执行印刷部16中的校正处理的指令时、或者到达了预设的时刻时，打印机1实施校正处理。

为此，首先，摄像控制部154C控制摄像部17，通过遮光器174关闭窗部170A，进行白色基板174A的摄像处理，取得基准图像和暗值D(步骤S1)。具体而言，在熄灭光源171的状态下实施摄像处理，取得(测定)暗值D，接下来，在点亮光源171的状态下实施摄像处理，拍摄(取得)基准图像。

需要说明的是，在本实施方式中，作为测色基准物，例示了设于遮光器174的白色基板174A，但不限于此，例如既可以将预先设置在压盘122上的白色基板作为测色基准物，也可以将白色纸面的未印刷图像的区域作为测色基准物。

接下来，扫描控制部154A及印刷控制部154B控制供应单元11、输送单元12、托架移动单元14及印刷部16，在介质M上印刷测试图案(步骤S2)。需要注意的是，虽然在此示出的是在步骤S1之后实施步骤S2的例子，但也可以在步骤S2之后实施步骤S1。

在步骤S2之后，摄像控制部154C控制摄像部17，取得对应测试图案的拍摄图像(测量图像)(步骤S3)。

之后，基准取得部154D从在步骤S1中取得的基准图像的各像素值W'中减去暗值D，取得(算出)基准像素值W(＝W'-D)(步骤S4)。

此外，对象像素值取得154E从测量图像的各像素值S'中减去暗值D，取得(算出)对象像素值S(＝S'-D)(步骤S5)。

接下来，移位值取得部154F从存储在存储器153中的第二LUT读出与在步骤S4中取得的基准像素值W对应的移位值k2(步骤S6)。

图6是示出第二LUT的一个例子的图。如图6所示，在第二LUT中记录有基准像素值W的高2位和与其对应的移位值k2的值。在本实施方式中，由于记录对应高2位的值的移位值k2的值即可，因此，作为第二LUT的数据量，记录有对应于“00”，“01”，“10”，“11”的四个数据即可。

接下来，算出部154G从存储在存储器153中的第一LUT读出与将步骤S4所取得的基准像素值W移位在步骤S6中所取得的移位值k2而得的值(W>>k2)对应的变量G₂(步骤S7)。

图7是示出本实施方式中使用的第一LUT的一个例子的图。

如图7所示，本实施方式中，在第一LUT中记录有与将基准像素值W移位k2而得的值(W＞＞k2)所对应的变量G₂。需要说明的是，变量G₂如下述式(5)所示，是以G₂＝2^k1/(W＞＞k2)表示的变量。

然后，算出部154G基于下述式(5)计算阴影校正值R_dec(步骤S8)。需要说明的是，下述式(5)与上述式(5)相同。

R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B···(5)

其中，F＝S·(A-B)+{W＞＞1}、

A、B及k1是整数常数

在式(5)中，常数A是表示阴影校正值的基准值的值，是反射率为1时作为阴影校正值设定的值。例如，在直接将阴影校正值用作256灰度的图像数据的情况下，设A＝255即可。

另外，常数B是反射率为0时的阴影校正值的值。

常数k1是移位值，可根据由算出部154G计算的阴影校正值的精度而适当设定。通过减小k1的值，能够得到高精度的计算结果。

这些常数A、B、k1预先存储在存储器153中，算出部154G基于这些常数A、B、k1以及通过步骤S4至S7所取得的基准像素值W、对象像素值S、移位值k2、变量G₂来计算阴影校正值R_dec。

之后，校正部154H实施基于所算出的阴影校正值R_dec的校正处理，计算校正印刷部16中的墨喷出量、墨喷出位置(喷出定时)的校正量，实施校正处理(步骤S9)。

[LUT的数据大小]

接下来，对现有的计算阴影校正值时使用的LUT和本实施方式的第一LUT中的数据大小进行说明。

如前所述，以往，关于阴影校正值的计算，都是使用上述式(3)或式(4)，从存储有对应基准像素值W(＝W'-D)的变量G的值的LUT中读出变量G，通过乘法运算处理和位移位处理来算出阴影校正值R_dec。

图8是表示现有的LUT的一个例子的图。

在这种情况下，如图8所示，由于将对应基准像素值W的变量G存储在LUT中，因此，LUT的数据量需要与基准像素值W的可采用的值相应。例如，当基准像素值W是8位的数据时，需要256个数据，LUT的数据大小变大。

与此相对地，在本实施方式中，如图7所示，在对应于W-D>>k2的数据组中，高2位为“00”。因此，当基准像素值W为8位的数据时，包括在第二LUT中的数据量为64个。这样，在本实施方式中，数据量是图8所示的现有LUT的1/4，也能够缩小数据大小。

需要说明的是，在本实施方式中，虽然另行使用了第二LUT，但在该第二LUT中，如图6所示，只要存储对应高2位的数值的移位值k2即可，数据量为4个。因此，即使合计第一LUT和第二LUT的数据量，数据量也比图8所示那样的现有的LUT少，可以充分缩小数据大小。

[本实施方式的作用效果]

本实施方式的打印机1具备：取得基准像素值W的基准取得部154D、取得对象像素值S的对象像素值取得部154E、取得对应于基准像素值W的移位值k2的移位值取得部154F、以及从第一LUT中读出对应于W＞＞k2的变量G₂并根据上述式(5)计算阴影校正值R_dec的算出部154G。

由此，与现有的LUT相比，第一LUT的数据量可以减少与移位值k2相应的量，从而能够缩小第一LUT的数据大小。

此外，通过缩小第一LUT的数据大小，能够减少内置在打印机1中的存储器153的容量，能够降低装置成本。

在本实施方式中，移位值取得部154F根据基准像素值W的高2位，取得移位值k2。

这样，通过基于基准像素值W的高位而取得由移位值取得部154F所取得的移位值k2，从而不进行复杂的运算即可容易地取得移位值k2。

此外，即使在基于第二LUT取得移位值k2的情况下，作为第二LUT，记录与高2位可采用的模式相应的数据量即可。因此，也能够缩小第二LUT的数据大小。

[变形例]

需要注意的是，本发明不限于上述各实施方式，在可实现本发明目的的范围内的变形、改进以及通过各实施方式的适当组合等而得到的构成均包含在本发明之内。

例如，在上述实施方式中，移位值取得部154F基于基准像素值W的高2位来取得移位值k2，但例如也可以基于高3位等来取得移位值k2。在这种情况下，能够进一步减少记录在第一LUT中的数据量，进一步缩小数据大小。

另外，示出了移位值取得部154F从第二LUT读出与基准像素值W的高2位的值对应的移位值k2的例子，但不限定于此。例如，也可以通过使用if语句等的条件判断处理来判断移位值k2。具体而言，移位值取得部154F参照基准像素值W的高2位判断是否为“00”，当为“00”时，则k2＝0。此外，在不是“00”的情况下，判断是否为“01”，当为“01”时，则k2＝1。进而，当不是“01”时，认为是“10”或“11”，则k2＝2。在这样的条件判断处理中，不需要复杂的运算处理，不会增加处理负荷。此外，可以不需要第二LUT，相应地，能进一步减少存储器153的存储容量，降低装置成本。

在上述各实施方式中，例示了摄像部17搭载于托架13上的打印机1，但不限定于此。例如，摄像部17可以构成为不搭载于托架，既可以拍摄预定的摄像范围，也可以构成为与托架13分体地通过其它移动机构移动。

在上述实施方式中，示出了由内置在打印机1中的控制单元15构成阴影校正装置的例子，但不限定于此。例如，也可以在以可通信的方式与打印机1连接的个人计算机等外部设备中安装使该外部设备的运算电路(CPU等)作为基准取得部154D、对象像素值取得部154E、移位值取得部154F及算出部154G发挥作用的软件。这种情况下，外部设备的运算电路通过从存储部读入并执行该软件而能够使外部设备作为阴影校正装置。

另外，虽然示出了第一LUT、第二LUT存储在打印机1的存储器153中的例子，但它们也可以存储在设于能够与打印机1(控制单元15)通信的外部设备的存储装置中。例如，也可以是，第一LUT、第二LUT存储于能经由互联网通信的服务器装置的存储装置中，通过将基准像素值W、W>>k2的值发送到服务器装置，从而接收移位值k2、变量G₂。

虽然例示了打印机1作为本发明的电子设备的一个例子，但并不限定于此。例如，本发明可以应用于数码相机、智能手机等拍摄图像的装置。在仅具有有限的存储容量的存储装置的便携式装置中尤为有效。

此外，实施本发明时的具体结构也可以通过在能实现本发明目的的范围内适当组合上述各实施方式和变形例来构成，还可以适当变更为其它结构等。

Claims (5)

1.一种阴影校正装置，其特征在于，具备：

基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像中的像素值、即基准像素值W；

对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像中的像素值S；

移位值取得部，取得基于所述基准像素值W的移位值k2；

存储部，存储第一查找表，所述第一查找表中存储有将整数常数设为k1时由

表示的、对应于通过将所述基准像素值W移位所述移位值k2而得到的值W＞＞k2的变量G₂；以及

算出部，从所述第一查找表中读出与由所述基准取得部所取得的所述基准像素值W及由所述移位值取得部所取得的所述移位值k2对应的所述变量G₂，并根据下述式(1)计算所述测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec：

R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B…(1)

其中，F＝S·(A-B)+{W＞＞1}、

A、B及k1是整数常数。

2.根据权利要求1所述的阴影校正装置，其特征在于，

所述移位值取得部取得基于所述基准像素值W的高位的所述移位值k2。

3.根据权利要求1或2所述的阴影校正装置，其特征在于，

所述存储部进一步存储第二查找表，所述第二查找表中存储对应所述基准像素值W的所述移位值k2，

所述移位值取得部从所述第二查找表中取得对应于由所述基准取得部所取得的所述基准像素值W的所述移位值k2。

4.一种电子设备，其特征在于，具备：

权利要求1至3中任一项所述的阴影校正装置；以及

拍摄所述拍摄图像的摄像装置。

5.一种阴影校正方法，其特征在于，通过计算机进行阴影校正，

所述计算机具备存储部、基准取得部、对象像素值取得部、移位值取得部和算出部，所述存储部存储第一查找表，所述第一查找表中存储有将整数常数设为k1时由

表示的、对应于通过将基准像素值W移位规定的移位值k2而得到的值W>>k2的变量G₂，所述基准像素值W是测色基准物的拍摄图像中的像素值，

所述阴影校正方法包括：

通过所述基准取得部取得所述基准像素值W；

通过所述对象像素值取得部取得测量对象的拍摄图像中的像素值S；

通过所述移位值取得部取得基于所述基准像素值W的所述移位值k2；以及

通过所述算出部从所述第一查找表中读出与由所述基准取得部所取得的所述基准像素值W及由所述移位值取得部所取得的所述移位值k2对应的所述变量G₂，并根据下述式(1)计算所述测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec：

R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B…(1)

其中，F＝S·(A-B)+{W＞＞1}、

A、B及k1是整数常数。

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