CN108122699A - 瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法及调整工装 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法及调整工装，使用模拟动触头的检测装置对静触头同轴度进行检测，配合楔形塞块进行调整，在完成调整后又保证了静触头不窜动，待调整好的静触头固定牢固后将楔形塞块拉出即可，此方法采用结构轻便的检测装置来模拟动触头进行静触头的对中调整，当检测装置与静触头插接配合能保证检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面完全贴合时，即保证动触头与静触头同轴度合格，调整过程十分方便，而且调整之后准确度高，可有效避免传统调整方法中一旦静触头与动触头同轴度不合要求时需要将胶凝固的顶杆重新打掉并需要重新装配所造成的费时费力的问题。

Description

瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法及调整工装

技术领域

本发明涉及瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法及调整工装。

背景技术

在超高压电力系统中，断路器在线路参数突变时，电网上电磁能量的振荡会引起较大的过电压，为了限制过电压的产生，通常采用在断路器中安装合闸电阻，以吸收电网中部分电能，限制过电压。

在瓷柱式断路器中，瓷套管一般为筒状结构，因瓷套管尺寸限制，合闸电阻的电阻元件往往采用圆形片状结构，多片电阻片一同平行串装在绝缘芯杆上并与断路器中的静触头构成一个整体，芯杆与电阻呈细长结构，为保证绝缘性能，合闸电阻的电阻片一般采用绝缘件进行连接与支撑。

断路器一般有两种触头结构形式，一是碰撞式触头结构，这种结构对断路器动、静触头的同轴度要求不高，但在合闸时触头接触易弹跳，接触稳定性差；二是插入式触头结构，为保证动触头可靠的插入静触头中，对动、静触头的同轴度要求较高，但是其优点是合闸时触头不跳动，稳定性好。因此，多数采用第二种插入式触头结构的断路器。

常见的一种插入式触头结构断路器，如授权公告号为CN104332350B的中国专利公开了一种带断路器触头定心支撑装置的断路器，包括瓷套管、芯杆和设在芯杆前端的静触头，芯杆上串有电阻片，芯杆上套设有定心支撑装置，定心支撑装置包括中空带开口的定位块，定位块上沿径向设有多个导向孔及在导向孔中导向移动的顶杆，导向孔与定位孔的中部空间及芯杆中间的气道连通。断路器在安装静触头时，先将装配好的静触头一端固定在瓷套管的一端，使另一端悬在瓷套管中，使用充气工具插入芯杆的气道中并充入高压气体，定位孔中的多根顶杆在高压气体作用下伸出定位块外并顶在瓷套管内壁上，由于顶杆上事先涂有胶水，胶水凝结后即可实现静触头悬伸端的固定，并保证了芯杆的刚度。

但是这种断路器的电阻动、静触头在装配对接时，先将静触头一端固定在瓷套管的一端，再将动触头与瓷套管的另一端的法兰端面配合，保证动触头的法兰盘上的限位凸台与瓷套管法兰盘上的凹槽相配合以对动触头径向定位，通过螺栓将动触头的法兰盘与瓷套管的法兰盘相对固定。因加工误差及安装误差，静触头与动触头的同轴度不可避免的会存在偏差，此时需将动触头从瓷套管中取出，重新调整静触头的对中性，以保证静触头与动触头同轴度偏差满足要求，但是由于静触头调整时没有基准作为参考，使调整时准确度不准确，很难甚至不能使动静触头同轴度调整至合适，而且需要多次将动触头装入瓷套管调试，如此造成静触头的检测十分繁琐费力。

发明内容

本发明的目的在于提供一种瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，以解决瓷柱式断路器电阻静触头与动触头装配过程中调整动静触头同轴度十分困难的技术问题；本发明的目的还在于提供一种瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装。

为实现上述目的，本发明瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法的技术方案是：瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法的步骤如下：第一步，用模拟动触头的检测装置从瓷套管的远离静触头的一端插入，使检测装置的检测杆上的检测插头插入静触头的插接孔中，且使检测装置的检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面接触；第二步，将楔形塞块塞入静触头与瓷套管内壁之间；第三步，调整楔形塞块塞入深度直至检测装置的检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面完全贴合；第四步，将静触头相对瓷套管固定。采用本发明的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，使用模拟动触头的检测装置对瓷套管内部的静触头同轴度进行检测，并配合楔形塞块进行调整，在完成静触头对中性的调整后又保证了静触头不会窜动，待调整好的静触头固定牢固后将楔形塞块拉出即可，此方法采用结构轻便的检测装置来模拟动触头进行静触头的对中调整，当检测装置与静触头插接配合能保证检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面完全贴合时，即保证了动触头与静触头同轴度达到要求。通过观察检测装置的与瓷套管法兰盘端面的形位偏差以调整楔形塞块的塞入深度，调整过程十分方便，而且调整之后准确度高，可有效避免传统调整方法中一旦静触头与动触头同轴度不合要求时需要将胶凝固的顶杆重新打掉所造成的费时费力的问题。

进一步地，在所述第二步中，楔形塞块有三个，且绕静触头周向均匀布置。采用三个楔形塞块不仅使调整简便、准确度高，而且数量较为合适，不会因过多而导致塞入过程繁琐。

进一步地，在所述第二步中，通过绳子拉住楔形塞块并从检测盘上的让位通道穿过以使楔形塞块夹在静触头与瓷套管内壁之间。通过绳索吊住楔形塞块的方式从检测盘上的让位通道通过，此方式不仅使调整过程简洁方便，而且调整完毕取出塞块时也不费力。

进一步地，在所述第三步中，将调整杆从检测盘的让位通道中穿过并伸入瓷套管中，根据检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面的夹角，选择敲击对应的楔形塞块以使检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面完全贴合。通过观察的检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面的夹角并配合敲击相应侧的楔形塞块以调整静触头的对中性，调整过程直观、简洁，大大缩减静触头调整时间。

进一步地，在所述第三步中，通过塞尺检测瓷套管的法兰盘与检测盘之间的偏差间隙以判断检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面之间是否完全贴合。由于两盘盘面之间的间隙有时候会比较小，尤其在间隙之中光线较暗的情况下，肉眼可能无法很清楚准确的观察出来哪处有间隙，通过塞尺在周边试塞，使得检测和观察更方便。

进一步地，在所述第三步中，通过塞尺检测瓷套管的法兰盘与检测盘之间的偏差间隙以判断检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面之间是否完全贴合。

本发明瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装的技术方案是：包括模拟动触头插入静触头的检测装置和用于调整静触头对中性的楔形塞块，还包括调整楔形塞块塞入静触头和瓷套管内壁之间深度的调整杆，检测装置包括检测盘和垂直设在检测盘中心处的检测杆，检测盘具有用于与瓷套管的法兰盘径向限位配合的定位结构和用于与瓷套管的法兰盘的盘面贴合的检测面，所述检测杆的端部具有用于与静触头的插接孔插接配合的检测插头。采用本发明的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装，采用轻便的检测装置模拟动触头并用于与静触头插接配合以检测静触头与动触头的同轴度，并配合楔形塞块对检测出的间隙进行调整，检测调整装置结构简单，操作方便，调整精确，大大缩减静触头对中调整的步骤和人力，省时省力。

进一步地，所述检测杆沿所述检测盘的轴线方向与检测盘导向移动配合。

进一步地，所述检测盘上设有在所述检测装置插入瓷套管内后供所述楔形塞块和调整杆进入瓷套管的让位通道。

进一步地，所述楔形塞块有三个，楔形塞块的大端连接有绳索。

进一步地，所述检测盘上设有沿检测盘轴向延伸的套管，所述检测杆通过套管导向移动装配在检测盘上。

进一步地，所述定位结构为设置在检测盘下侧面的与瓷套管法兰盘上的凹槽相适配的圆形的定位凸台。

附图说明

图1为常见瓷柱式断路器动静触头装配后的状态的结构示意图；

图2为图1中静触头安装在瓷套管中的结构示意图；

图3为图2中定心支撑与瓷套管内壁支撑配合时的结构示意图；

图4为图1中瓷套管上端处的法兰盘的结构示意图；

图5为图1中静触头充气的气道处的结构示意图；

图6为与图5中静触头的气道配合使用的充气工具结构示意图；

图7为静触头安装在瓷套管内的一端固定时的结构示意图；

图8为本发明瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装的具体实施例结构示意图；

图9为本发明瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法中的检测装置插入静触头检测时的状态示意图；

图10为图9中检测装置将静触头的同轴度偏差转化为检测盘与法兰盘之间的形位公差的原理图；

图11为本发明瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法中的楔形塞块塞入静触头与瓷套管内壁之间进行调整时的状态示意图；

图12为图11的俯视图；

图13为检测装置实施例2的结构示意图；

图14为检测装置实施例3的结构示意图；

图15为调整组件的实施例2的结构示意图；

图中：1-瓷套管，11-支撑座，12-法兰盘，121-凹槽，2-动触头，3-静触头，31-定心支撑，311-顶杆，312-导向孔，32-芯杆，33-插接孔，34-气道，341-气道入口，41-检测盘，42-检测杆，43-让位通道，44-检测插头，45-检测套管，46-定位凸台，5-楔形塞块，51-绳索，52-调整杆，6-充气工具，7-电阻片。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的实施方式作进一步说明。

本发明的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法的具体实施例，具体步骤如下：

首先，将装配好电阻片7和定心支撑31等元件的静触头3的定心支撑31的18个顶杆311圆周表面均涂上快干胶，定心支撑31的具体结构见附图3，包括导向孔312和在导向孔312内滑动的顶杆311，快干胶大约40分钟凝固，在其他实施例中，根据静触头3安装与调整的快慢可选用凝固时间合适的胶。

其次，如图2和图7所示，将静触头3安装在瓷套管1内，安装时使静触头3的后端芯杆32与瓷套管1的一端的支撑座11螺纹固定，保证静触头3前端伸入瓷套管1的中部附近且为自由悬伸状态。

如图9所示，用模拟动触头2的检测装置从瓷套管1的远离静触头3的一端插入，使检测装置的检测杆42上的插接插头44插入静触头3的插接孔33中，且使检测装置的检测盘41的盘面与瓷套管1的法兰盘12面接触。如图8所示，检测装置包括检测盘41，检测盘41的下端面与动触头2的下端面形状和尺寸均一致，以便于代替动触头2与瓷套管1的法兰盘12插接配合时调整结构更准确，检测盘41上设有三个让位通道43以便于供调整组件穿过检测盘41进入静触头3处对静触头3进行调整。在其他实施例中，检测盘41也不一定要与动触头2的法兰盘12完全一样，也可为五星盘状结构（如图13所示）或三瓣状结构（如图14所示），调整时五星或三瓣的顶点处作为支撑点，观察翘起的顶点与瓷套管1的法兰盘面的间隙即可，顶点之间的凹槽121可用作让位通道43以供调整装置通过；检测盘41上的让位通道43的数量和形状也不仅限于上述描述，让位通道43可以是凹槽121（如图13和图14所示）也可为穿孔，其形状尺寸需要保证可供调整装置的楔形塞块5和调整杆通过即可，数量也不仅仅是三个，也可为二个或四个。检测盘41的下部的圆形定位凸台46完全与动触头2的圆形定位凸台46的结构一样，可与瓷套管1的凹槽121相适配以起到对检测盘41径向定位的作用。当检测杆42的插接插头44插入静触头3的插接孔33中时，由于静触头3的同轴度偏差，会导致检测杆42偏差，检测杆42的偏差会通过检测盘41的盘面与瓷套管1的法兰盘面之间的夹角显示出来，通过塞尺塞入此夹角形成的间隙中可方便检测间隙的大小及间隙的位置。

瓷套管1的法兰盘12结构见附图4，法兰盘12上具有用于与动触头2上的凸台相配合以起到对动触头2径向定位作用的凹槽121。

如图8所示，检测装置还包括垂直安装在检测盘41轴线处的检测杆42和套在检测杆42外部的检测套管45，检测套管45与检测盘41为固定式连接，在其他实施例中，检测套管45与检测盘41也可为可拆连接。检测杆42可在检测套管45中导向移动，以模拟动触头2的动作，并在检测杆42滑动至最下方时位于检测杆42的端部的插接插头44与静触头3的插接孔33（电连接）插接配合，在其他实施例中，检测杆42也可与检测盘41固定连接，此时必须保证检测盘41与瓷套管1的法兰盘12插接配合，检测杆42长度保证在检测盘41与瓷套管的法兰盘12接触时其下端的插接插头44刚好可以插入静触头3的插接孔33（电连接）中，此时也可不设置检测套管45，相应的需保证检测杆42的刚度和强度满足要求。

检测杆42的下端具有与动触头2的插接端相同结构的检测插头44，以保证代替动触头2的插接端与静触头3的插接孔33（电连接）插接配合，在其他实施例中，检测插头44与检测杆42也可采用分体并相互焊接在一起的结构，以方便损坏时更换或调整检测杆42长度。检测盘41上还设有三个在法兰周向均布的让位通道43，让位通道43的大小可供楔形塞块5自由通过（楔形塞块5见下一步中介绍），在其他实施例中，如果检测盘41的尺寸足够大，让位通道43也可设置多于三个，孔越多检测盘41质量越轻，同时也更方便用楔形塞块5对静触头3对中性的调整。

如图10所示为检测装置将静触头3的同轴度偏差转化为检测盘41与法兰盘12之间的形位公差的原理图，检测杆42的检测插头44插入静触头3中，检测盘41与瓷套管1的法兰盘12之间不固定，为自由状态，如果静触头3与检测杆42不同轴，将会带动检测装置偏斜一个距离b，由于检测杆42与检测盘41具有良好的刚性且检测盘41不固定，检测盘41与瓷套管1的法兰盘12的端面将形成一个行为偏差a，由于偏差时的角度一致，检测盘41的直径为D，检测杆42长度为L，则根据相似三角形换算公式可以得知b=La/D。因此，通过在检测盘41与瓷套管1法兰盘12之间塞入塞尺即可测出静触头3端部的同轴度偏差量，即可将位于瓷套管1狭窄间隙中的静触头3的不易测量的同轴度偏差通过转换为检测盘41与瓷套管1法兰盘12之间的间隙而直观的观察出，偏差方向和偏差量一目了然。

如图11和12所示，用绳索51吊住楔形塞块5从瓷套管1靠近检测装置的一端进入，并使楔形塞块5塞入静触头3与瓷套管1内壁之间，楔形塞块5有三块，分别均布在静触头3的横截面的一周，在其他实施例中，楔形塞块5的数量也可为两个或四个，相对于三个楔形塞块5，四个楔形塞块5时调整更容易更精确，相反，两个楔形塞块5则更不容易调整；楔形塞块5也不仅仅通过绳索吊住放入瓷套管1中，也可采用如图15所示的结构，采用调整杆52代替绳索，将调整杆52与楔形塞块5固定连接，使用时手握调整杆52直接从让位通道43中通过并将楔形塞块5塞入静触头3与瓷套管1内壁之间，通过手锤等敲击调整杆52的上部即可调整楔形塞块5的塞入深度，敲击深度过大时可通过上拔调整杆52来调整。

通过边调整楔形塞块5塞入深度边观察检测装置偏差的方法调整静触头3的对中性，首先可通过调整杆从让位通道43中穿过并用来捣击楔形塞块5，同时观察检测盘41与法兰盘12之间的最大间隙的位置，当间隙较小不容易观察时，可采用塞尺沿检测盘41与瓷套管1的法兰盘12接触处的周边试塞，以确定间隙的位置，保证每次捣击均捣在最靠近最大间隙位置的楔形塞块5上端，捣击时用力应合适，当捣击过深时可通过绳索51将其拉出一部分，调整过程直至检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘的盘面完全贴合时结束，此时静触头的对中性最好。

用充气工具6向静触头3的气道34中充高压氮气，在其他实施例中，也可充入其他高压惰性气体代替氮气，如图6所示为充气工具6的结构，其可与静触头3中的气道入口341对接，高压氮气顺着静触头3中的气道34进入导向孔312，将导向孔312内的顶杆311顶出定心支撑31，使静触头3的顶杆311抵在瓷套管1内壁上，定心支撑31内部的单向锁止结构保证伸出的顶杆311不再缩回，同时，由于顶杆311与导向孔312之间涂有快干胶，静待一段时间即可保证顶杆311与瓷套管1的内壁之间固定牢固，同时保证静触头3不再窜动。

待顶杆311与顶杆311的导向孔312之间的胶凝固后拔出检测装置并通过绳索51拉出楔形塞块5，并从静触头3中拔出检测杆42，将检测装置从瓷套管1中整体取出。

将动触头2从瓷套管1上部装入瓷套管1的法兰盘12上，完成装配。

本发明的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装的具体实施例与本发明瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法的各具体实施例中使用的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装的各具体实施例相同，不再赘述。

Claims (12)

1.一种瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，其特征在于：第一步，用模拟动触头的检测装置从瓷套管的远离静触头的一端插入，使检测装置的检测杆上的检测插头插入静触头的插接孔中，且使检测装置的检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面接触；第二步，将楔形塞块塞入静触头与瓷套管内壁之间；第三步，调整楔形塞块塞入深度直至检测装置的检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面完全贴合；第四步，将静触头相对瓷套管固定。

2.根据权利要求1所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，其特征在于：在所述第二步中，楔形塞块有三个，且绕静触头周向均匀布置。

3.根据权利要求2所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，其特征在于：在所述第二步中，通过绳子拉住楔形塞块并从检测盘上的让位通道穿过以使楔形塞块夹在静触头与瓷套管内壁之间。

4.根据权利要求2所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，其特征在于：在所述第三步中，将调整杆从检测盘的让位通道中穿过并伸入瓷套管中，根据检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面的夹角，选择敲击对应的楔形塞块以使检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面完全贴合。

5.根据权利要求1或2所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，其特征在于：在所述第三步中，通过塞尺检测瓷套管的法兰盘与检测盘之间的偏差间隙以判断检测盘的盘面与瓷套管的法兰盘面之间是否完全贴合。

6.根据权利要求1或2所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整方法，其特征在于：在将所述静触头固定之后，将检测杆和楔形塞块从瓷套管中取出。

7.瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装，其特征在于：包括模拟动触头插入静触头的检测装置和用于调整静触头对中性的楔形塞块，还包括调整楔形塞块塞入静触头和瓷套管内壁之间深度的调整杆，检测装置包括检测盘和垂直设在检测盘中心处的检测杆，检测盘具有用于与瓷套管的法兰盘径向限位配合的定位结构和用于与瓷套管的法兰盘的盘面贴合的检测面，所述检测杆的端部具有用于与静触头的插接孔插接配合的检测插头。

8.根据权利要求7所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装，其特征在于：所述检测杆沿所述检测盘的轴线方向与检测盘导向移动配合。

9.根据权利要求7或8所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装，其特征在于：所述检测盘上设有在所述检测装置插入瓷套管内后供所述楔形塞块和调整杆进入瓷套管的让位通道。

10.根据权利要求9所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装，其特征在于：所述楔形塞块有三个，楔形塞块的大端连接有绳索。

11.根据权利要求7或8所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装，其特征在于：所述检测盘上设有沿检测盘轴向延伸的套管，所述检测杆通过套管导向移动装配在检测盘上。

12.根据权利要求7或8所述的瓷柱式断路器并联电阻静触头对中调整工装，其特征在于：所述定位结构为设置在检测盘下侧面的与瓷套管法兰盘上的凹槽相适配的圆形的定位凸台。