CN108121122B

CN108121122B - 一种显示装置

Info

Publication number: CN108121122B
Application number: CN201711460439.2A
Authority: CN
Inventors: 何孟修; 曾弘岳; 赖骏凱
Original assignee: AU Optronics Kunshan Co Ltd
Current assignee: AU Optronics Kunshan Co Ltd
Priority date: 2017-12-28
Filing date: 2017-12-28
Publication date: 2020-12-18
Anticipated expiration: 2037-12-28
Also published as: TWI641151B; TW201931608A; CN108121122A

Abstract

本发明涉及一种显示装置，包括：第一基板、第二基板以及设置于该第一基板和该第二基板之间显示分子层，第一基板显示区设置多个薄膜晶体管，多个栅极线，分别与该薄膜晶体管的该控制端电性连接；多个数据端子，位于该周边区，分别与该薄膜晶体管的第一端电性连接；多个虚拟端子，位于该周边区，分别与每个该薄膜晶体管电性绝缘；其中该数据端子与该虚拟端子为沿第一方向交错排列。

Description

一种显示装置

技术领域

本发明涉及显示器设计领域，特别是涉及显示器中测试垫(Array Test Pad)的设计以及一种采用该测试垫的显示装置。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD，Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay)是一种常见的显示器，TFT-LCD属于有源矩阵液晶显示器，TFT-LCD上的液晶象素点是由薄膜晶体管来驱动，即通过有源开关的方式来实现对各个像素的独立精确控制，从而可以做到高速度高亮度高对比度显示屏幕信息，实现精细的显示效果。

TFT-LCD的结构主要包括CF基板、TFT基板和液晶材料等。在TFT-LCD面板的生产过程中，对TFT基板的电特性进行检查是较为重要的步骤。现有技术通常是通过阵列测试器(Array Tester)利用治具接触测试端子(Array Test Pad，简称ATPad)，将测试信号写入TFT基板内像素并读取电信号以进行检测分析。

但不同TFT-LCD产品有不同的分辨率，如HD720、Full HD等等，对不同分辨率的产品进行电特性检查需要更换不同治具，导致以下问题的产生：

1、每次变更不同分辨率的产品时，都需要花费1～2小时进行治具更换及确认，导致产能降低；

2、每种不同分辨率的产品都需要准备4～8张治具，治具数量会很多，导致成本的提高；

3、适用于一种分辨率的治具的制作需要1～2个月，新产品阶段可能无法及时检测以确认良率状况。

发明内容

针对上述问题，本发明提出了一种显示装置测试端子的设计以及一种采用该测试端子的显示装置。

具体来说，本发明涉及一种显示装置，包括：

第一基板，包括相邻的显示区和周边区；

第二基板，包括多个彩色滤光结构，且该彩色滤光结构对应于该显示区而设置；

显示分子层，设置于该第一基板和该第二基板之间；

多个薄膜晶体管，设置于该显示区，且该薄膜晶体管分别包括第一端、第二端与控制端；

多个栅极线，分别与该薄膜晶体管的该控制端电性连接；

多个数据端子，位于该周边区，分别与该薄膜晶体管的该第一端电性连接；

多个虚拟端子，位于该周边区，分别与每个该薄膜晶体管电性绝缘；

其中该数据端子与该虚拟端子为沿第一方向交错排列。

本发明所述的显示装置，通过该数据端子将输入测试信号写入该薄膜晶体管并读取输出测试信号，以对该显示装置进行检测分析。

本发明所述的显示装置，其中该数据端子与该虚拟端子的数量相同，且两两相邻的该数据端子之间有一个该虚拟端子，两两相邻的该虚拟端子之间有一个该数据端子。

本发明所述的显示装置，其中当该虚拟端子的数量为该数据端子的数量为n倍时，两两相邻的该数据端子之间有n个该虚拟端子，其中n为正整数。

本发明所述的显示装置，其中当该数据端子的数量为该虚拟端子的数量为m倍时，两两相邻的该述虚拟端子之间有m个该数据端子，其中m为正整数。

本发明所述的显示装置，其中当该数据端子的数量为M个，该虚拟端子的数量为N个时，且M＝K·m，N＝K·n，以m个该数据端子和n个虚拟端子的顺序重复排列，其中M、N、m、n、K为正整数。

本发明还涉及一种显示装置，包括：

第一基板，包括相邻的显示区和周边区；

显示分子层，设置于该第一基板和该第二基板之间；

多个栅极线，分别与该薄膜晶体管的该控制端电性连接；

多个数据端子，位于该周边区，分别与该薄膜晶体管的该第一端电性连接，其中两两相邻的该数据端子之间的间距大于该数据端子的宽度。

本发明所述的显示装置，其中两两相邻的该数据端子之间的每一间距都相同。

本发明所述的显示装置，其中两两相邻的该数据端子之间的间距也可以不相同。

本发明所述的显示装置，其中还包括多个栅极端子，分别电性连接于该栅极线，其中两两相邻的该栅极端子之间的间距为d，两两相邻的该数据端子之间的间距为D，且所述数据端子的宽度为W，而D≥W+2d。

附图说明

图1是现有技术的一种显示装置俯视示意图

图2是本发明第一实施例示意图。

图3是本发明第二实施例示意图。

图4是本发明第三实施例示意图。

图5A、5B是本发明第四实施例示意图。

图6A、6B是本发明第五实施例示意图。

其中，附图标记为：

100：：显示装置 10：测试端子

111：数据端子 112：虚拟端子

113：栅极端子 114：薄膜晶体管

115：转换电路 116：像素

117：虚拟端子对应的空白区域 118：驱动电路

A1：显示区 A2：周边区

G1～GN：栅极线 D1～DM：数据线

D1：测试端子的排列方向

d：相邻的栅极端子之间的间距

W：数据端子的宽度

D、D_m、D_n：相邻的数据端子之间的间距

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

图1是现有技术的一种显示装置的俯视示意图。如图1所示，一种显示装置100，其结构主要包括第一基板(如TFT基板)、第二基板(如CF基板)和显示分子层(如液晶分子)等。显示装置100可分为显示区A1和周边区A2，其中第二基板包括彩色滤光结构与遮光结构，且彩色滤光结构对应于显示区A1来设置。显示装置100置多条栅极线G1～GN、多条数据线D1～DM以及多个薄膜晶体管114，且每一薄膜晶体管114的控制端分别与对应的栅极线电性连接，而每一个薄膜晶体管114的输入端分别与对应的数据线电性连接。当显示装置100为彩色显示器时，每个像素116至少可包含三种颜色，如以图1来看，每个像素116具有三种颜色R、G、B，且分别对应薄膜晶体管114。

具体而言，显示装置100的周边区A2包含多个数据端子111与栅级端子113，且每一个数据端子111分别与显示区A1内的薄膜晶体管114相互电性连接。当进行电性测试时，通过阵列测试器(ArrayTester)利用测试治具电性接触数据端子111(数据端子同时也为测试端子，即所有测试端子10均与薄膜晶体管114电性连接)，进而将测试信号写入薄膜晶体管114(即显示区的像素116)以进行检测分析。当进行显示影像时，通过数据端子111而输入至薄膜晶体管114，进而使得每一个像素进行显示。于图1中，显示装置500还包含转换电路115，且测试端子10可通过转换电路115来输入信号于每个像素116。同样地，每个栅级端子113分别与显示区A1内的薄膜晶体管114相互电性连接，用来将测试信号或显示的驱动信号输入至每个像素116。举例而言，栅级端子113通过驱动电路118来输入信号于每个像素116。

然而，在不同分辨率的显示装置由不同数量的像素所构成，进一步来说，即不同分辨率的显示装置会具有不同数量的数据端子111。因此，当进行测试时，不同分辨率的显示装置就必须使用不同的测试治具。举例而言，高分辨率的显示装置设有180个数据端子，对应使用的测试治具就必须有180个测试端子，使得每一个数据端子都能够获得对应的测试信号。相似地，低分辨率的显示装置则设有72个数据端子，对应使用的测试治具就必须为72个测试端子。如此一来，不同分辨率的显示装置就必须有对应的测试治具，测试流程的机动性、便利性与效能则会大幅下滑。

本发明的实施例提出一种共享同一测试治具的测试端子，其中测试端子10包括数据端子111和虚拟端子112，其中数据端子111分别与显示区A1的薄膜晶体管114电性连接，使得数据端子111将输入测试信号写入薄膜晶体管114，以对该显示装置进行检测分析。同时，当显示装置要进行显示影像时，各像素的显示资料也通过数据端子111而输入至薄膜晶体管114，进而使得每一个像素进行显示。于本发明的实施例中，测试端子10还包含虚拟端子112，而虚拟端子112分别与显示区A1的薄膜晶体管114电性绝缘。如此一来，测试端子10的数量从先前仅包含数据端子111的数量外，还可弹性地增加虚拟端子112的数量。

由于分辨率不同的显示装置所对应的数据端子数量并不相同，本发明通过对应设置特定数量的虚拟端子112来搭配，使得不同分辨率的显示装置之间测试端子10的数量皆相同。如此一来，不同分辨率的显示装置可共享同一测试治具，即当每个显示装置的测试端子10数量相同，且焊盘间距(Padpitch)相同时，可使用同一测试治具，达到共享治具的效果。举例而言，对于不同分辨率的显示装置的测试端子数量设置，见表1。

表1：

显示装置	分辨率	数据端子的数量	虚拟端子的数量	测试端子的数量
					A	略低	72	108	180
B	中	90	90	180
					C	高	180	0	180
测试治具	/	/	/	180

图2是本发明的第一实施例的示意图。如图2所示，于本实施例中，数据端子111与虚拟端子112的数量相同，其中，数据端子111与虚拟端子112分别沿第一方向(D1方向)交错排列。具体而言，本实施例中，数据端子111与虚拟端子112可依一比一的数量比例，沿第一方向D1(如图示中从左至右)交错排列。以图2的实施例来看，第一方向D1大致上与栅极线的延伸方向相互平行，但本发明不以此为限。换言之，两个相邻的数据端子111之间只有一个虚拟端子112，且两个相邻虚拟端子112之间也仅有一个数据端子111。对应于表1的内容，在显示装置B中，数据端子数量为90个，虚拟端子数量为90个。将显示装置B应用于图2所展示的实施例时，以一个数据端子111与一个虚拟端子112为一组而重覆地沿着第一方向D1排列。如此一来，显示装置B具有180个测试端子10，其中包括90个数据端子111和90个虚拟端子112，从而可与其他显示装置共享测试治具。

图3是本发明的第二实施例的示意图，如图3所示，于本实施例中，数据端子111与虚拟端子112的数量互为倍数关系，换句话说，数据端子111的数量为M个，虚拟端子112的数量为N个，当虚拟端子112的数量为数据端子111的数量n倍时，即N:M＝n。如图4所示，数据端子111与虚拟端子112亦为沿D1方向交错排列，具体而言，两两相邻的该数据端子111之间有n个该虚拟端子112。举例而言，数据端子111为60个，虚拟端子112为120个时，则N:M＝120:60＝2，即n＝2。因此，两两相邻的数据端子111之间有2个虚拟端子112。同样道理，数据端子111与虚拟端子112的数量互为倍数关系时，亦可为数据端子111的数量为虚拟端子112的数量为m倍，即M:N＝m，两两相邻的虚拟端子112之间有m个该数据端子111。举例而言，数据端子111为120个，虚拟端子112为60个，则M:N＝120:60＝2，即m＝2。因此，两两相邻的虚拟端子112之间有2个数据端子。

图4是本发明的第三实施例的示意图，如图4所示，本实施例延续第二实施例，数据端子111与虚拟端子112分别沿第一方向D1交错排列。于本实施例中，数据端子111的数量为M个，虚拟端子112的数量为N个，即M:N＝m:n，则排列顺序为连续排列m个数据端子111再连续排列n个虚拟端子112。换言之，测试端子10可为多个由m个数据端子111与n个虚拟端子112所形成之组合重覆地沿着D1方向排列。举例而言，当m＝2、n＝3时，如图5所示，此时排列顺序为2个数据端子111与3个虚拟端子112为一组合，而接续相邻为另一相同排列的组合(2个数据端子111与3个虚拟端子112)。对应于表1的内容，在显示装置A中，数据端子111数量为72个，虚拟端子112数量为108个。将显示装置A应用于图4所展示的实施例时，则可以2个数据端子111与3个虚拟端子112为一组而重覆地沿着第一方向D1排列。如此一来，显示装置A具有180个测试端子10，可与其他显示装置共享测试治具。

于数据端子111与虚拟端子112沿着第一方向D1而交错排列的实施例中，如图2～图4，数据端子111为均匀地、分组式地重覆排列，使得数据端子111为平均分散的设置，如此一来，可以减少走线布局(fanout)的长度与宽度，适合应用于窄边框(周边区面积小)的显示装置。

图5A是本发明的第四实施例的示意图，如图5A所示，本实施例延续第三实施例，数据端子111与虚拟端子112分别沿第一方向D1排列，其中本实施例与第三实施例的区别在于，所有数据端子111连续排列，亦即相邻数据端子111之间不再排列虚拟端子112。同样地，所有虚拟端子112也为连续排列，亦即相邻虚拟端子112之间没有任何一个数据端子111。具体而言，如图5A所示，所有数据端子111连续排列，且位于左侧位置，而所有虚拟端子112也连续排列地位于右侧位置。于另一变形例中，所有数据端子111亦可位于右侧，而所有虚拟端子112位于左侧，本发明不以此为限。

图5B是本发明的另一实施例的示意图，本实施例与图5A实施例的区别在于，所有数据端子111连续排列地位于中间位置，而虚拟端子112位于两侧位置。同样地，于不同的需求，亦可将所有虚拟端子112连续排列地集中于中间位置，而数据端子111则设置于相对两侧的位置，本发明不以此为限。

图6A是本发明的第五实施例的示意图，如图6A所示，测试端子10仅包括数据端子111，数据端子沿D1方向排列，周边区还设置多个栅极端子113。本实施与上述实施例的区别在于，将虚拟端子112的位置设置成的空白区域117，亦即不设置虚拟端子112。如此一来，两两相邻的数据端子111之间的间距为D，而数据端子111的宽度为W，则间距D会大于宽度W，使得间距D的空间能够容纳空白区域117(对应上述实施例之虚拟端子112)。举例来说，当共享表1之测试治具(测试端子为180个)于本实施例之显示装置时，虽然显示装置的数据端子111数量不足180个，使得测试治具是部分测试端子未对应于本实施例的数据端子111，而是对应于本实施例的空白区域117。如此一来，亦可达到不同分辨率的显示装置却可共享测试治具的功效。

于图6A之实施例中，每一组的两两相邻的数据端子111的间距D皆为相同，使得数据端子111为均匀地分布、沿着第一方向D1来排列。为了能达到共享测试治具，间距D需大于宽度W。具体而言，从图6A中可以了解两两相邻之栅极端子113的间距为d，而在先前技术中，数据端子111之间距D是与栅极端子113之间距d相同。于本实施例中，数据端子111之间距D则从原本的间距d加宽，以使得两两相邻的数据端子111之间有足够的间隙以容纳空白区域117，进一步能够对应测试治具中的部分测试端子。因此，间距D满足大于间距d。

于图6B的实施例中，部分两两相邻的数据端子111之间的间距彼此不相等，即数据端子111分布不均匀。详言之，以图6B来看，部分两两相邻的数据端子111的间距为D_m，而另一部分之两两相邻的数据端子111之间距为D_n，且间距D_m与间距D_n不相同。于本实施例中，间距D_m仍需满足大于数据端子111的宽度W，同时，间距D_n亦需符合大于数据端子111的宽度W。如此一来，可利用不同分辨率之显示装置能够共享测试治具。

于再一实施例中，请再参阅图6A，当间距D为W+2d时，数据端子111与空白区域117分别沿第一方向D1交错排列，也可达到共享测试治具的优势。将虚拟端子112所在位置设置成空白区域117的实施例中，等同于增加了两两相邻的数据端子111的间距，且数据端子111之间仅有空白区域，由此可以减小检测过程中的静电干扰(ESD)。

虽然本发明已以实施例公开如上，而并非用以限定本发明，任何本技术领域的技术人员，在未脱离本发明的精神与范围内，可对其进行等效修改或变更，均应包含于本发明的权利要求书保护范围中。

Claims

1.一种显示装置，其特征在于，包括：

第一基板，包括相邻的显示区和周边区；

显示分子层，设置于该第一基板和该第二基板之间；

多个栅极线，分别与该薄膜晶体管的该控制端电性连接；

其中该数据端子与该虚拟端子为沿一第一方向交错排列。

2.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，通过该数据端子将输入测试信号写入该薄膜晶体管并读取输出测试信号，以对该显示装置进行检测分析。

3.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该数据端子与该虚拟端子的数量相同，且两两相邻的该些数据端子之间设有该虚拟端子，两两相邻的该些虚拟端子之间设有该数据端子。

4.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该虚拟端子的数量为该数据端子的数量为n倍，且两两相邻的该些数据端子之间有n个该些虚拟端子，其中n为正整数。

5.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该数据端子的数量为该虚拟端子的数量为m倍，且两两相邻的该些虚拟端子之间有m个该些数据端子，其中m为正整数。

6.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该数据端子的数量为M个，该虚拟端子的数量为N个，其中M＝K·m，N＝K·n，且以m个该些数据端子和n个该些虚拟端子的顺序重复排列，其中M、N、m、n、K为正整数。

7.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，两两相邻之该些数据端子之间的间距大于该数据端子的宽度。

8.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，两两相邻之该些数据端子之间的间距都相同。

9.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，两两相邻之该些数据端子之间的间距不相同。

10.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，还包括多个栅极端子，分别电性连接于该栅极线，其中两两相邻之该些栅极端子之间的间距为d，两两相邻之该些数据端子之间的间距为D，且该数据端子的宽度为W，而D≥W+2d。