CN108083339A - 一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于材料制备技术领域,特别涉及一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法。本发明采用氧化之后的M箔片作为CVD制备二维材料的M前驱物,X粉为X源,通过CVD高温区和低温区设置,采用特定的升温和冷却程序,制备得到结晶性良好的单层二维材料MX2,为之后的大面积二维材料的生长制备提供了新的思路。
Description
技术领域
本发明属于材料制备技术领域,特别涉及一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法。
背景技术
随着后摩尔时代的不断推进,近几年新型二维材料逐渐成为大家研究的热点。石墨烯的发现和大规模制备以及应用,为人们在二维材料领域打开了思路。过渡族硫化物MX2(M=Mo、W;X=S,Se)具有特殊的层状结构,原子在层内通过强的共价键结合,而不同层间依靠较弱的范德瓦尔斯力结合,当厚度为单层时,材料表现出特殊的物理性质,由体材料的间接带隙半导体转变成直接带隙半导体,使MX2有望成为继石墨烯之后的新兴半导体材料。原子级别厚度的新型二维材料由于优异的物理化学性质,成为了物理、化学、材料、等众多领域的研究热点。这些单原子层的MX2材料在可见光及近红外光范围内有很好的光响应性能,可广泛用于电催化、场效应管、光电器件、自旋电子器件及谷电子学等领域。
目前已有的化学气相沉积法生长技术中,直接将粉体的M源和X源放入管式炉中,高温加热,使得蒸发的X源和M源在反应腔室内进行化学反应,从而在衬底表面生长出单层或多层的MX2。CVD法(Chemical Vapor Deposition,化学气相沉积)通过X源和M源的共蒸发,使得MX2可直接合成到衬底上,工艺流程简单,制备出的MX2纯度较高,结晶性好,为MX2在器件方面的应用打下了基础。
已有的CVD现有技术例如CN104384527A和CN106571244A等采用通常采用的M前驱物为粉体,前驱物通常使用一次便须抛弃,造成了资源的浪费及环境的污染。此外,由于CVD系统中需要通入一定量的Ar/H2等保护或反应气体,粉体的存在可能造成制备得到的样品中晶核过多或样品污染的现象,造成了单层MX2样品品质的下降。
发明内容
鉴于现有技术存在的问题,本发明提供了一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法。采用预先经退火的金属M箔作为反应的前驱物,改进了CVD制备单层二维材料制备过程中M前驱物的使用,使M源的重复使用成为可能,避免了粉体前驱体带来的不便及环境污染,为之后大规模产业化生产单层的二维材料提供了新的思路。
本发明通过以下技术方案来实现,一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法:
所述方法在石英管中进行,石英管分为区域1和2,分别是CVD的低温区和高温区,所述步骤包括:
(1)、首先,将M金属箔片在浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,随后将清洗干净的M金属箔片置于石英管的高温区域2中的2处,升温至400℃,对M金属箔片进行空气中常压退火处理,使其充分氧化为M的氧化物MO3-X;
优选以40℃/min的速度升温至400℃,退火处理2min;
(2)、将切割好的的单抛石英片洗净后干燥备用;
优选用浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,随后分别用丙酮,异丙醇,酒精和去离子水分别超声清洗15min,最后用高纯氮气将清洗干净的单抛石英片吹干备用;优选10*40mm的单抛石英片。
(3)、将步骤(2)所得洗净且干燥的单抛石英片置于干净的石英舟上,将两者一起置于石英管的高温区域2的3处,将步骤(1)中制备得到的MO3-X放置于石英管的高温区域2的2处;最后取用S粉或Se粉于干净的石英舟中,放置于石英管的低温区域1的1处;
(4)、高温区和低温区升温和冷却均在可控压强的环境中进行,为H2/Ar的混合气氛4,样品制备前,设置区域1的控温程序为保持室温25min,随后以10℃/min的升温速率升温至120℃并保持10min,最后程序结束,区域1冷却至室温;设置区域2的控温程序为以18℃/min的升温速率由室温升至200℃保持5min,随后以35℃/min的升温速率升温至900℃并保持10min,最后程序结束,区域2冷却至室温。
其中,通过退火得到的MO3-X含量较少,而S粉或Se粉为过量的,S(或Se):M的摩尔比至少为2倍以上。
优选区域1和区域2之间距离范围是15-20cm。区域2中2处和3处之间距离范围是4-6cm。
优选H2/Ar的混合气氛中H2和Ar体积比范围为0.1-0.2。
本发明采用前述方法尝试了两种MX2单层材料的生长,MoS2及WSe2。采用氧化之后的Mo箔为Mo前驱物,S粉为S源制备得到边长约50微米的MoS2,拉曼谱及PL表征均与MoS2的特征峰一致。采用氧化之后的W箔为W前驱物,Se粉为Se源制备得到边长约为4.5微米的三角形状的WSe2。
本发明相对于现有技术的有益效果包括:
本发明采用氧化之后的M箔片作为CVD制备二维材料的M源,制备得到结晶性良好的单层二维材料MX2,为之后的大面积二维材料的生长制备提供了新的思路,为集成化电子器件的需求起到了铺垫作用。
本发明所得样品呈非常好的三角形形状,制备得到的样品在752nm处有较强的荧光发射,而同时拉曼光谱位于250cm-1左右有明显的WSe2的特征峰。其拉曼谱及PL表征均与MoS2的特征峰一致,表明采用以上方法制备得到的样品为均一性良好的单层材料。
附图说明
图1为CVD生长的设备示意图,图中部件1、2、3和4,区域1和2分别是CVD的低温区和高温区,1为S粉或Se粉,2为金属箔片,3为蓝宝石衬底,4为Ar和H2的混合气体。
图2为制备得到的MoS2的光学显微镜图及荧光和拉曼谱,其中2(a)、2(b)、2(c)分别是单层MoS2的光学显微镜图,单层MoS2的荧光光谱图,单层MoS2的拉曼谱图。
图3为制备得到的WSe2的光学显微镜图及荧光和拉曼谱,其中3(a)、3(b)、3(c)分别是单层WSe2的光学显微镜图,单层WSe2的荧光光谱图,单层WSe2的拉曼谱图。
具体实施方式
下面结合优选实施例和附图对本发明作进一步详细的描述,但发明的实施方式不限于此。
实施例1
采用如图1的CVD生长的设备,图中部件1、2、3和4,区域1和2分别是CVD的低温区和高温区,1为S粉或Se粉,2为金属箔片,3为蓝宝石衬底,4为Ar和H2的混合气体。
一种制备单层MoS2的方法。包括以下步骤:
(1)、首先,将Mo金属箔片在浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,随后将Mo金属箔置于2英寸的石英管的高温区域2中的2处,以40℃/min的速度升温至400℃,对M金属箔片进行空气中常压退火处理2min,使其充分氧化为Mo的氧化物MoO3-X;
(2)、将切割好的10*40mm的单抛石英片用浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,随后分别用丙酮,异丙醇,酒精和去离子水超声清洗15min。最后用高纯氮气将清洗干净的单抛石英片吹干备用。
(3)、取洗净且干燥的单抛石英片置于干净的石英舟上,将两者一起置于2英寸石英管的高温区域2的3处,将步骤(1)中制备得到的MoO3-X放置于2英寸石英管的高温区域2的2处;最后取用500mg的S粉于干净的石英舟中,放置于2英寸石英管的低温区域1的1处。
(4)、实验在常压中进行,环境为H2/Ar体积比为1:5的混合气氛4。样品制备前,设置区域1的控温程序为保持室温25min,随后以10℃/min的升温速率升温至120℃并保持10min,最后程序结束,区域1冷却至室温;设置区域2的控温程序为以18℃/min的升温速率由室温升至200℃保持5min,随后以35℃/min的升温速率升温至900℃并保持10min,最后程序结束,区域2冷却至室温。
利用光学显微镜及拉曼设备对制备得到的样品进行表征,结果如下图2。如图2(a)所示,样品呈现非常好的三角形形状,其边长约50微米。采用WITEC拉曼光谱仪对样品的荧光发射及拉曼特征进行了表征,图2(b)表明制备得到的样品在675nm处有较强的荧光发射,而同时拉曼光谱位于384cm-1左右和404cm-1左右的峰分别对应单层MoS2的E2g振动模和A1g振动模。综上,拉曼谱及PL表征均与MoS2的特征峰一致。表明采用以上方法制备得到的样品为均一性良好的单层MoS2材料。
实施例2
采用如图1的CVD生长的设备,图中部件1、2、3和4,区域1和2分别是CVD的低温区和高温区,1为Se粉,2为金属箔片,3为蓝宝石衬底,4为Ar和H2的混合气体。
一种制备单层WSe2的方法。采用氧化之后的W箔为W前驱物,Se粉为Se源制备得到边长约为4.5微米的三角形状的WSe2。利用光学显微镜及拉曼设备对制备得到的样品进行表征,结果如下图3所示。样品呈现非常好的三角形形状,为均一性良好的单层WSe2材料。具体步骤如下:
(1)、首先,将W金属箔片在浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,随后将W金属箔置于2英寸的石英管的高温区域2中的2处,以40℃/min的速度升温至450℃,对W金属箔片进行空气中常压退火处理5min,使其充分氧化为W的氧化物WO3-X;
(2)、将切割好的10*40mm的单抛石英片用浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,随后分别用丙酮,异丙醇,酒精和去离子水超声清洗15min。最后用高纯氮气将清洗干净的单抛石英片吹干备用。
(3)、取洗净且干燥的单抛石英片置于干净的石英舟上,将两者一起置于2英寸石英管的高温区域2的3处,将步骤(1)中制备得到的WO3-X放置于2英寸石英管的高温区域2的2处;最后取用200mg的Se粉于干净的石英舟中,放置于2英寸石英管的低温区域1的1处。
(4)、控制样品生长压强为10Torr,环境为H2/Ar的体积比为1:10的混合气氛4。样品制备前,设置区域1的控温程序为保持室温25min,随后以30℃/min的升温速率升温至240℃并保持15min,最后程序结束,区域1冷却至室温;设置区域2的控温程序为以35℃/min的升温速率升温至800℃并保持15min,最后程序结束,区域2冷却至室温。
利用光学显微镜及拉曼设备对制备得到的样品进行表征,结果如下图3。图3(a)为样品的光学显微镜照片,样品呈现较好的三角形形状,其边长约4.5微米。采用WITEC拉曼光谱仪对样品的荧光发射及拉曼特征进行表征,图3(b)和(c)表明制备得到的样品在752nm处有较强的荧光发射,而同时拉曼光谱位于250cm-1左右有明显的WSe2的特征峰。综上,拉曼谱及PL表征均与WSe2的特征峰一致。表明采用以上方法制备得到的样品为均一性良好的单层WSe2材料。
上述实施例为本发明较佳的实施方式,但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制,其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:
所述方法在石英管中进行,石英管分为区域1和2,分别是CVD的低温区和高温区,所述步骤包括:
(1)、首先,将清洗干净的M金属箔片置于石英管的高温区域2中的2处,升温至400℃,对M金属箔片进行空气中常压退火处理,使其充分氧化为M的氧化物MO3-X;
(2)、将切割好的的单抛石英片洗净后干燥备用;
(3)、将步骤(2)所得取洗净且干燥的单抛石英片置于干净的石英舟上,将两者一起置于石英管的高温区域2的3处,将步骤(1)中制备得到的MO3-X放置于石英管的高温区域2的2处;最后取用S粉或Se粉于干净的石英舟中,放置于石英管的低温区域1的1处;
(4)、高温区和低温区的升温和冷却均在可控的压强中进行,环境为H2/Ar的混合气氛4,样品制备前,设置区域1的控温程序为保持室温25min,随后以10℃/min的升温速率升温区域1至120℃并保持10min,最后程序结束,区域1冷却至室温;设置区域2的控温程序为以18℃/min的升温速率由室温升至200℃保持5min,随后以35℃/min的升温速率升温至900℃并保持10min,最后程序结束,区域2冷却至室温。
2.根据权利要求1的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:所述步骤(1)中,先将M金属箔片用浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,清洗干净后退火处理,退火过程为以40℃/min的速度升温至400℃,退火处理2min。
3.根据权利要求1的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:所述步骤(2)为用浓硫酸和双氧水的混合溶液中(H2SO4:H2O2体积比=2:1)浸泡2小时,随后分别用丙酮,异丙醇,酒精和去离子水分别超声清洗15min,最后用高纯氮气将清洗干净的单抛石英片吹干备用;优选10*40mm的单抛石英片。
4.根据权利要求1的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:所述步骤(3)中石英管为2英寸。
5.根据权利要求1-4任一项所述的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:通过退火得到的MO3-X含量较少,而S粉或Se粉为过量的。
6.根据权利要求1-4任一项所述的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:区域1和区域2之间距离范围是15-20cm。
7.根据权利要求1-4任一项所述的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:区域2中2处和3处之间距离范围是4-6cm。
8.根据权利要求1-4任一项所述的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:H2/Ar的混合气氛中H2和Ar体积比范围为0.1-0.2。
9.根据权利要求1-4任一项所述的一种制备单层二维过渡金属硫化物材料的方法,其特征在于:M金属箔为Mo箔或W箔。
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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