CN108039190B - 一种测试方法及装置 - Google Patents

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    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor

Abstract

本发明实施例提供了一种测试方法及装置,该方法包括:当向第一存储设备写入测试数据时,将与测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,其中,备份数据是通过对测试数据进行映射转换后得到,备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间;从第二存储设备中读取备份数据,并对读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据;从第一存储设备读取测试数据后;对读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试;依据比较测试的结果,确定第一存储设备的测试结果。本发明实施例中,将占用存储空间较小的备份数据设置在第二存储设备,相对于现有技术将完整的测试数据存储在第二设备而言,可有效减少对第二存储设备的空间占用。

Description

一种测试方法及装置
技术领域
本发明涉及测试技术领域,特别是涉及一种测试方法及装置。
背景技术
在对存储设备进行测试时,往往需要对写入存储设备的数据进行读取比较测试,通过比较写入的数据与读取的数据的相同与否,判断存储设备的读写功能是否正常。
现有技术中,进行读取比较测试时,通常在向测试设备写入数据的同时,将待写入的数据作为备份数据在其他存储区进行存储,使得在从存储设备读取数据后,可以将存储的备份数据与读取的数据进行比较,测试存储设备的读写功能。
然而,在研究上述技术方案的过程中发现,上述技术方案存在如下缺陷:对测试设备进行读取功能测试时,为了保证测试的准确性,往往需要在较长时间、进行大量数据的读写,而上述技术方案将待写入的数据在其他存储区存储,会对存储区造成较大的占用,耗费大量资源。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测试方法及装置。
根据本发明的第一方面,提供了一种测试方法,所述方法包括:
当向第一存储设备写入测试数据时,将与所述测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,其中,所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到,所述备份数据占用的存储空间小于所述测试数据占用的存储空间;
从所述第二存储设备中读取所述备份数据,并对所述读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据;
从所述第一存储设备读取所述测试数据后;对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试;
依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果。
根据本发明的第二方面,提供了一种测试装置,所述装置包括:
备份数据设置模块,用于当向第一存储设备写入测试数据时,将与所述测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,其中,所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到,所述备份数据占用的存储空间小于所述测试数据占用的存储空间;
目标比较数据得到模块,用于从所述第二存储设备中读取所述备份数据,并对所述读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据;
测试模块,用于从所述第一存储设备读取所述测试数据后;对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试;
测试结果确定模块,用于依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果。
本发明实施例中,对第一存储设备进行读写功能测试时,当向第一存储设备写入测试数据时,将与测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,由于备份数据唯一映射测试数据,并且备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间,因此,相较于现有技术的将写入的测试数据直接作为备份数据进行存储,本发明实施例将占用存储空间较小的备份数据设置在第二存储设备,能减少对第二存储设备的空间占用,当需要进行比较测试时,从第二存储设备中读取备份数据,并对读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据,将从第一存储设备中读取的测试数据与目标比较数据进行比较测试,依据比较测试的结果,可以确定测试结果,实现了在减少占用存储空间的基础上,完成对第一存储设备读写功能的测试。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
图1是本发明实施例提供的一种测试方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的一种测试方法的具体流程图;
图3是本发明实施例提供的一种测试装置的框图;
图4是本发明实施例提供的一种测试装置的具体框图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例,并不用于限定本发明。
实施例一
参照图1,示出了一种测试方法的流程图,具体可以包括如下步骤:
步骤101:当向第一存储设备写入测试数据时,将与所述测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,其中,所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到,所述备份数据占用的存储空间小于所述测试数据占用的存储空间。
本发明实施例中,存储设备是用于储存信息的设备,通常是将信息数字化后再以利用电、磁或光学等方式的媒体加以存储,在存储设备正式投入使用之前,需要对存储设备的读写功能进行测试。
具体应用中,第一存储设备是需要被测试的存储设备,测试之前读写功能是否正常不能确定。该第一存储设备具体可以是EMMC(Embedded Multi Media Card,内嵌式多媒体卡)、MMC(Multimedia Card,多媒体记忆卡)、移动硬盘等。
第二存储设备是读写无误的存储设备,写入第二存储设备的数据可以正确无误的读出,具体可以是主机的内存、PSRAM(Pseudo static random access memory,伪静态随机存储器)等。
本发明实施例中,测试数据和备份数据之间具有唯一映射的关系,备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间。
具体应用中,测试数据和备份数据的形式可以根据被测设备的具体形式进行设定,比如,测试数据可以包括两种形式:0x00000000和0xffffffff,此时,可以用只包含一个比特位的二进制数据0和1,分别唯一映射0x00000000和0xffffffff,当向第一存储设备写入0x00000000时,将0设置在第二存储设备;只包含一个比特位的二进制数据0和1占用的存储空间,要小于0x00000000和0xffffffff占用的存储空间,因此可以减少对第二存储设备空间的占用。
可以理解,测试数据也可以只包含一种数据形式,或者包含两种以上的数据形式,对应的备份数据可以是包含两个或两个以上比特位的二进制、十进制、十六进制数据等等,只需要满足备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间即可,本发明实施例对测试数据和备份数据的具体形式不做限定。
步骤102:从所述第二存储设备中读取所述备份数据,并对所述读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据。
本发明实施例中,由于第二存储设备中存储的是备份数据,而从第一存储设备中读取测试数据后,通常得到的是与测试数据格式相同的数据,比如包含的比特位数相同、所采用的进制相同等,因此,不能将备份数据与从第一存储设备中读取的数据直接进行比较,而是需要将从第二存储设备中读取的备份数据按照步骤101所提出的映射方式进行转换,得到目标比较数据。
例如,如步骤101所列举的,备份数据可以是只包含一个比特位的二进制数据0和1,其唯一映射的待测数据则对应可以是0x00000000和0xffffffff,此时,从第二存储设备中读取0时,可以将0进行映射转换,得到目标比较数据0x00000000,从第二存储设备中读取1时,可以将1进行映射转换,得到目标比较数据0xffffffff,使得该目标比较数据可以与从第一存储设备读取的测试数据进行比较。
可以理解,当备份数据为其他形式时,可以根据实际设定的备份数据与测试数据的映射关系,进行映射转换,得到与测试数据相同的目标比较数据,本发明实施例对此不做具体限定。
步骤103:从所述第一存储设备读取所述测试数据后;对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试。
具体应用中,可以设定从第一存储设备读取测试数据的方式,例如,在写入测试数据的时候,指定该测试数据在第一存储设备中的第一地址,相应的,在第二存储设备中设置备份数据时,也会设置在第二存储设备中指定的第二地址,每写入10个测试数据后,从第一存储设备的第一地址中读取一次测试数据,相应的,也从第二存储设备的第二地址中对应的读取10个备份数据,转换得到10个目标比较数据,将从第一存储设备的第一地址中读取的10个数据,与从第二存储设备的第二地址获取的备份数据所相应的10个目标比较数据进行比较测试;再例如,待所有的测试数据都写入第一存储设备后,从第一存储设备中读取测试数据,相应的依据第二存储设备中所有的备份数据得到目标比较数据,将从第一存储设备中读取的数据与目标比较数据进行比较测试。
可以理解,该比较测试,可以是将从第一设备中读取每个测试数据得到的数据,与目标比较数据逐一进行比较,测试每个从第一设备中读取测试数据得到的数据与相应的目标比较数据是否相符;也可以是将从第一设备中读取多个测试数据得到的多个数据,与多个目标比较数据一次性比较,测试从第一设备中读取多个测试数据得到的多个数据与相应的多个目标比较数据是否相符;还可以是将从第一设备中读取每个测试数据得到的数据,与目标比较数据按照比特位逐一进行比较,测试每个从第一设备中读取测试数据得到的数据与相应的目标比较数据的每个比特位的值是否相符;本发明实施例对读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试的具体方法不做限定。
步骤104:依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果。
本发明实施例中,上述比较测试的结果可以是:从第一存储设备读取测试数据得到的数据,与目标比较数据完全相符;也可以是:从第一存储设备读取测试数据得到的数据,与目标比较数据部分相符。
具体应用中,依据上述比较测试的结果确定第一存储设备的测试结果的方法可以是:只有当从第一存储设备读取测试数据得到的数据,与目标比较数据完全相符时,即第一存储设备的读写正确率达到100%,才认为第一存储设备的读写功能正常;其他情况则认为第一存储设备的读写功能异常。
依据上述比较测试的结果确定第一存储设备的测试结果的方法还可以是:设定一个读写正确率,比如90%、95%等等,当从第一存储设备读取测试数据得到的数据与目标比较数据相符的部分,在全部的从第一存储设备读取测试数据得到的数据中所占的比例超出该设定的读写正确率,就认为第一存储设备的读写功能正常;低于读写正确率则认为第一存储设备的读写功能异常。本发明实施例对依据上述比较测试的结果确定第一存储设备的测试结果的方法不做具体限定。
本发明实施例中,对第一存储设备进行读写功能测试时,当向第一存储设备写入测试数据时,将与测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,由于备份数据唯一映射测试数据,并且备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间,因此,相较于现有技术的将写入的测试数据直接进行存储,本发明实施例将占用存储空间较小的备份数据设置在第二存储设备,能减少对第二存储设备的占用,当需要进行比较测试时,从第二存储设备中读取备份数据,并对读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据,将从第一存储设备中读取的测试数据与目标比较数据进行比较测试,依据比较测试的结果,可以确定测试结果,实现了在减少占用存储空间的基础上,完成对第一存储设备读写功能的测试。
实施例二
参照图2,示出了一种测试方法的具体流程图,具体可以包括如下步骤:
步骤201:当向第一存储设备写入多个测试数据时,按照所述多个测试数据写入的先后次序,将每个所述测试数据映射得到的备份数据依次设置在第二存储设备,其中,所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到,所述备份数据占用的存储空间小于所述测试数据占用的存储空间。
可以理解,在向第一存储设备写入测试数据时,可以只写入一个测试数据,根据一个测试数据的读写情况确定第一存储设备的读写性能。但是只通过一个测试数据的读写情况确定第一存储设备的读写性能的方式,往往不能够准确反映出第一存储设备的读写正确率,因此,在本发明实施例中,要向第一存储设备写入多个测试数据。
具体应用中,当写入多个测试数据时,可以为多个测试数据设定序列号,或者设定时间标识等,用以区分各测试数据的写入顺序,比如按照序列号从大到小的顺序、或者按照写入的时间顺序等区分各测试数据的写入顺序;同时按照各测试数据写入的先后次序,依次将各测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备。
可以理解,对于备份数据,也可以通过设定序列号或者设定时间标识,或将备份数据的序列号或时间标识与其相应的测试数据保持一致等方式,使得当从第二存储设备读取备份数据时,能够得到与测试数据的写入次序一一对应的备份数据,避免在后续的比较测试步骤中出现备份数据与目标比较数据乱序的现象发生。
作为本发明实施例的一种优选方式,所述测试数据由包含八位十六进制的数据按照预设条件组成,所述测试数据包括第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据的至少一种;所述备份数据包括两个比特位的二进制数据00、01、10、11的至少一种;所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到包括:通过对所述第一测试数据进行映射得到备份数据00;和/或,通过对所述第二测试数据进行映射得到备份数据01;和/或,通过对所述第三测试数据进行映射得到备份数据10;和/或,通过对所述第四测试数据进行映射得到备份数据11。
具体应用中,预设条件可以是递增、递减、保持不变、按一定规律循环等。
本发明实施例中,测试数据是由包含八位十六进制的数据按照预设条件组成,由于存储设备通常采用八根数据线进行数据传输,测试数据的每一位可以对应一根数据线,即,存储设备采用八根数据线串行传输数据的方式,每一位对应一个十六进制数据,每一根数据线传输数据时,可以按照一次传输4字节大小,直至将该位对应的十六进制数据传输完毕,因此在测试时,能通过该八位十六进制的测试数据,验证存储设备的八根数据线的是否正常,当测试到第一存储设备的读写功能异常时,可以进一步确定出第一存储设备具体的哪根数据线出现异常,为后期对第一存储设备进行修复提供依据。
具体地,第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据可以分别是:0x00ff01ff递增到0xfeffffff、0xfffffffe递减到0xff01ff00、0xff00ff00、0xffffffff;第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据所唯一映射的备份数据可以分别是:00、01、10、11;则根据备份数据00能唯一映射转换得到第一测试数据0x00ff01ff递增到0xfeffffff,反之亦然;第二测试数据至第四测试数据与其分别对应的备份数据之间的关系,与第一测试数据与其对应的备份数据的原理相似,在此不再赘述。
作为本发明实施例的一种优选方案,还可以设定第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据的空间占用数,例如,设定每个测试数据的空间占用都为512字节,那么以上述第一测试数据中的预设条件是按一定规律循环为例,第一测试数据可以是按照从0x00ff01ff递增到0xfeffffff的方式循环,直到占用的空间为512字节为止,第二测试数据至第四测试数据与第一测试数据的原理相似,在此不再赘述。
可以理解,第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据,与备份数据00、01、10、11之间可以自由组合,只需要满足一类测试数据唯一映射一个备份数据即可,本发明实施例对此不作限制;具体应用中,可以使用第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据的一种或多种作为测试数据,本发明实施例对此也不作限制。
可以理解,在向第一存储设备写入测试数据时,可以在第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据或第四测试数据中挑选一种或多种,随机的向第一存储设备写入多个测试数据;也可以按照第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据和第四测试数据依次写入的方式,向第一存储设备写入多个测试数据;本发明实施例对向第一存储写入测试数据的具体方法不做限定。
本发明实施例中,用两个比特位的数据来映射测试数据,则假设第二存储设备的存储的备份数据是8MB,由于1Byte(字节)等于8bit(比特),因此用两个比特位的备份数据来映射测试数据时,可以相当于记录了8*8/2MB,即32MB的测试数据,因此大大节省了存储空间。
步骤202:从所述第二存储设备中读取所述备份数据,并对所述读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据。
步骤203:从所述第一存储设备读取所述测试数据后;对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试。
作为本发明实施例的一种优选方式,对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试包括:将所述读取的测试数据和所述目标比较数据,按照每个比特位逐一比较的方式进行比较测试。
以步骤201中的测试数据可以是包含八个比特位的数据按照预设条件组成为例,假设测试数据为0xff00ff00,则目标比较数据也为0xff00ff00,假设从第一存储设备读取测试数据后,得到0xff01ff00,则按照每个比特位逐一比较的方式进行比较测试可以得到:第四比特位的数据不相符,可以认为第一存储设备的第四根数据线发生了异常,可以只针对第一存储设备的第四根数据线进行修复。
步骤204:依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果。
作为本发明实施例的一种优选方案:若所述读取的测试数据和所述目标比较数据相符,则确定测试结果为所述第一存储设备正常;若所述读取的测试数据和所述目标比较数据不相符,则确定测试结果为所述第一存储设备异常。
本发明实施例中,只有当从第一存储设备读取测试数据得到的数据,与目标比较数据完全相符时,即第一存储设备的读写正确率达到100%,才认为第一存储设备的读写功能正常;其他情况则认为第一存储设备的读写功能异常,因此能适用于对第一存储设备读写功能要求非常严格的测试中。
本发明实施例中,对第一存储设备进行读写功能测试时,当向第一存储设备写入测试数据时,将与测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,由于备份数据唯一映射测试数据,并且备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间,因此,相较于现有技术的将写入的测试数据直接进行存储,本发明实施例将占用存储空间较小的备份数据设置在第二存储设备,能减少对第二存储设备的占用,当需要进行比较测试时,从第二存储设备中读取备份数据,并对读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据,将从第一存储设备中读取的测试数据与目标比较数据进行比较测试,依据比较测试的结果,可以确定测试结果,实现了在减少占用存储空间的基础上,完成对第一存储设备读写功能的测试。
需要说明的是,对于前述的方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明所必需的。
实施例三
参照图3,示出了一种测试装置的框图,该装置具体可以包括:
备份数据设置模块310,用于当向第一存储设备写入测试数据时,将与所述测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,其中,所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到,所述备份数据占用的存储空间小于所述测试数据占用的存储空间。
目标比较数据得到模块320,用于从所述第二存储设备中读取所述备份数据,并对所述读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据。
测试模块330,用于从所述第一存储设备读取所述测试数据后;对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试。
测试结果确定模块340,用于依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果。
优选地,参照图4,在图3的基础上,上述装置还可以包括:
所述备份数据设置模块310包括:
备份数据设置单元3101,当向所述第一存储设备写入多个测试数据时,按照所述多个测试数据写入的先后次序,将每个所述测试数据映射得到的备份数据依次设置在第二存储设备。
所述测试模块330包括:
测试单元3301,用于将所述读取的测试数据和所述目标比较数据,按照每个比特位逐一比较的方式进行比较测试。
所述测试结果确定模块340包括:
测试结果确定单元3401,用于若所述读取的测试数据和所述目标比较数据相符,则确定测试结果为所述第一存储设备正常;若所述读取的测试数据和所述目标比较数据不相符,则确定测试结果为所述第一存储设备异常。
优选地,所述测试数据由包含八位十六进制的数据按照预设条件组成,所述测试数据包括第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据的至少一种;所述备份数据包括两个比特位的二进制数据00、01、10、11的至少一种;
所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到包括:
通过对所述第一测试数据进行映射得到备份数据00;
和/或,
通过对所述第二测试数据进行映射得到备份数据01;
和/或,
通过对所述第三测试数据进行映射得到备份数据10;
和/或,
通过对所述第四测试数据进行映射得到备份数据11。
本发明实施例中,对第一存储设备进行读写功能测试时,当向第一存储设备写入测试数据时,将与测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,由于备份数据唯一映射测试数据,并且备份数据占用的存储空间小于测试数据占用的存储空间,因此,相较于现有技术的将写入的测试数据直接进行存储,本发明实施例将占用存储空间较小的备份数据设置在第二存储设备,能减少对第二存储设备的占用,当需要进行比较测试时,从第二存储设备中读取备份数据,并对读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据,将从第一存储设备中读取的测试数据与目标比较数据进行比较测试,依据比较测试的结果,可以确定测试结果,实现了在减少占用存储空间的基础上,完成对第一存储设备读写功能的测试。
对于装置实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
在一个典型的配置中,所述计算机设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定,计算机可读介质不包括非持续性的电脑可读媒体(transitory media),如调制的数据信号和载波。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程测试终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程测试终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程测试终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程测试终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种测试方法和一种测试装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种测试方法,其特征在于,所述测试方法包括:
当向第一存储设备写入测试数据时,将与所述测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,其中,所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到,所述备份数据占用的存储空间小于所述测试数据占用的存储空间,所述测试数据与所述备份数据唯一对应;
从所述第二存储设备中读取所述备份数据,并对所述读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据;
从所述第一存储设备读取所述测试数据后;对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试;
依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果;
其中,所述第一存储设备是需要被测试的存储设备,测试之前读写功能是否正常不能确定;
所述第二存储设备是读写无误的存储设备,确定读写功能正常。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,当向所述第一存储设备写入多个测试数据时,所述将与所述测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备的步骤包括:
按照所述多个测试数据写入的先后次序,将每个所述测试数据映射得到的备份数据依次设置在第二存储设备。
3.根据权利要求2所述的测试方法,其特征在于,其中,所述测试数据由包含八位十六进制的数据按照预设条件组成,每一位对应一个十六进制数据,所述测试数据包括第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据的至少一种;所述备份数据包括两个比特位的二进制数据00、01、10、11的至少一种;
所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到包括:
通过对所述第一测试数据进行映射得到备份数据00;
和/或,
通过对所述第二测试数据进行映射得到备份数据01;
和/或,
通过对所述第三测试数据进行映射得到备份数据10;
和/或,
通过对所述第四测试数据进行映射得到备份数据11。
4.根据权利要求3所述的测试方法,其特征在于,所述对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试包括:
将所述读取的测试数据和所述目标比较数据,按照每个比特位逐一比较的方式进行比较测试。
5.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果包括:
若所述读取的测试数据和所述目标比较数据相符,则确定测试结果为所述第一存储设备正常;
若所述读取的测试数据和所述目标比较数据不相符,则确定测试结果为所述第一存储设备异常。
6.一种测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:
备份数据设置模块,用于当向第一存储设备写入测试数据时,将与所述测试数据对应的备份数据设置在第二存储设备,其中,所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到,所述备份数据占用的存储空间小于所述测试数据占用的存储空间,所述测试数据与所述备份数据唯一对应;
目标比较数据得到模块,用于从所述第二存储设备中读取所述备份数据,并对所述读取的备份数据进行映射转换,得到目标比较数据;
测试模块,用于从所述第一存储设备读取所述测试数据后;对所述读取的测试数据和目标比较数据进行比较测试;
测试结果确定模块,用于依据所述比较测试的结果,确定所述第一存储设备的测试结果;
其中,所述第一存储设备是需要被测试的存储设备,测试之前读写功能是否正常不能确定;
所述第二存储设备是读写无误的存储设备,确定读写功能正常。
7.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,所述备份数据设置模块包括:
备份数据设置单元,当向所述第一存储设备写入多个测试数据时,按照所述多个测试数据写入的先后次序,将每个所述测试数据映射得到的备份数据依次设置在第二存储设备。
8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述测试数据由包含八位十六进制的数据按照预设条件组成,每一位对应一个十六进制数据,所述测试数据包括第一测试数据、第二测试数据、第三测试数据、第四测试数据的至少一种;所述备份数据包括两个比特位的二进制数据00、01、10、11的至少一种;
所述备份数据是通过对所述测试数据进行映射转换后得到包括:
通过对所述第一测试数据进行映射得到备份数据00;
和/或,
通过对所述第二测试数据进行映射得到备份数据01;
和/或,
通过对所述第三测试数据进行映射得到备份数据10;
和/或,
通过对所述第四测试数据进行映射得到备份数据11。
9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述测试模块包括:
测试单元,用于将所述读取的测试数据和所述目标比较数据,按照每个比特位逐一比较的方式进行比较测试。
10.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,所述测试结果确定模块包括:
测试结果确定单元,用于若所述读取的测试数据和所述目标比较数据相符,则确定测试结果为所述第一存储设备正常;若所述读取的测试数据和所述目标比较数据不相符,则确定测试结果为所述第一存储设备异常。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109165109A (zh) * 2018-07-26 2019-01-08 郑州云海信息技术有限公司 一种测试存储设备异常断电后存储缺失量的方法及系统
CN109144754B (zh) * 2018-08-27 2022-04-22 郑州云海信息技术有限公司 一种可靠性测试方法及装置
CN111341374B (zh) * 2018-12-18 2022-03-15 炬芯科技股份有限公司 存储器的测试方法、装置及可读存储器
CN111627490A (zh) * 2020-05-22 2020-09-04 浙江大华技术股份有限公司 同步动态随机存储器测试方法和装置
CN112382334A (zh) * 2020-11-06 2021-02-19 润昇系统测试(深圳)有限公司 用于行动内存的测试装置以及测试方法
CN114388053B (zh) * 2022-01-04 2022-09-09 北京得瑞领新科技有限公司 Ssd数据测试方法、装置、存储介质及测试设备

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10124923B4 (de) * 2001-05-21 2014-02-06 Qimonda Ag Testverfahren zum Testen eines Datenspeichers und Datenspeicher mit integrierter Testdatenkompressionsschaltung
CN1921019A (zh) * 2005-08-24 2007-02-28 英业达股份有限公司 通过数据压缩处理以测试存储器的方法
JP5233801B2 (ja) * 2009-04-01 2013-07-10 セイコーエプソン株式会社 記憶装置、ホスト回路、基板、液体容器、不揮発性のデータ記憶部に格納されたデータをホスト回路に送信する方法、ホスト回路と、前記ホスト回路と着脱可能な記憶装置を含むシステム
DE102010002472A1 (de) * 2010-03-01 2011-09-01 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Verifizieren eines Speicherblocks eines nicht-flüchtigen Speichers
CN102157205B (zh) * 2011-05-10 2015-09-30 北京航空航天大学 一种对fpga内部嵌入式多位存储器故障的测试方法
CN103257905B (zh) * 2013-05-02 2016-01-20 浙江中控技术股份有限公司 一种嵌入式计算机系统内存数据校验电路及方法
CN103500586B (zh) * 2013-09-26 2016-04-13 北京奇虎科技有限公司 检测移动存储装置容量的方法及设备
CN105868194A (zh) * 2015-01-19 2016-08-17 阿里巴巴集团控股有限公司 文本数据压缩、解压方法及装置
CN105139893B (zh) * 2015-09-27 2018-10-16 上海华力微电子有限公司 一种存储器测试装置及一种存储器芯片测试方法
CN106610786A (zh) * 2015-10-26 2017-05-03 联车(上海)信息科技有限公司 数据存储方法
TWI599904B (zh) * 2016-03-30 2017-09-21 緯創資通股份有限公司 電子裝置及其資料驗證方法
CN107026651B (zh) * 2017-04-11 2020-07-14 安庆师范大学 二分区间的数据压缩方法及集成电路的测试数据存储方法

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