CN107766221B - 一种读时延测试方法、系统、设备及计算机存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种读时延测试方法、系统、设备及计算机存储介质，其中该方法包括：写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。本发明公开的一种读时延测试方法、系统、设备及计算机存储介质可以根据记录的每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延确定出离散程度最大的读取时延对应的测试空间，进而可以确定待测NVME盘中读取时延离散程度最大的位置。本发明提供的一种读时延测试方法、系统、设备及计算机存储介质均在一定程度上解决了如何提高测试NVME盘读时延的测量精度的技术问题。

Description

一种读时延测试方法、系统、设备及计算机存储介质
技术领域
本发明涉及NVME(Non-Volatile Memory express，闪存协议)盘技术领域，更具体地说，涉及一种读时延测试方法、系统、设备及计算机存储介质。
背景技术
随着存储技术的发展，NVME盘的应用越来越广，判断一个NVME盘能否满足业务需求的一个指标是NVME盘各个存储空间的读时延是否一致，所以需要对NVME盘的读时延进行测量。
现有的一种测试NVME盘的读时延的方法是，借助FIO测试NVME盘的读时延，得到读时延结果。
然而，在应用现有的一种测试NVME盘的读时延的方法时，只能得到读时延结果，无法对产生离散大的读时延的NVME盘位置进行定位，使得测试结果不精确。
综上所述，如何提高测试NVME盘读时延的测量精度是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种读时延测试方法，其能在一定程度上解决如何提高测试NVME盘读时延的测量精度的技术问题。本发明还提供了一种读时延测试系统、设备及计算机存储介质。
为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种读时延测试方法，包括：
写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；
记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
优选的，所述写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还包括：
在待测NVME盘中设置预设数量的测试空间。
优选的，所述写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还包括：
创建与测试空间相对应的测试数据。
优选的，所述写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中，包括：
基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中。
优选的，所述基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还包括：
基于NVME-CLI判断待测NVME盘的基本信息是否正确，若是，则执行所述基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中的步骤。
优选的，所述记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，包括：
以表格的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
优选的，所述记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，包括：
以坐标图的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，所述坐标图的横坐标为测试空间的标识信息，所述坐标图的纵坐标为读取时延。
本发明还提供了一种读时延测试系统，包括：
写入模块，用于写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取模块，用于读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；
记录模块，用于记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
本发明还提供了一种读时延测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一所述一种读时延测试方法的步骤。
本发明还提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一所述一种读时延测试方法的步骤。
本发明提供的一种读时延测试方法，先写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；然后读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；最后记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，这样在确定出离散程度最大的读取时延时，便可以根据记录的每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延确定出离散程度最大的读取时延对应的测试空间，进而可以确定待测NVME盘中读取时延离散程度最大的位置。综上所述，本发明提供的一种读时延测试方法在一定程度上解决了如何提高测试NVME盘读时延的测量精度的技术问题。本发明提供的一种读时延测试系统、设备及计算机存储介质也解决了相应的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种读时延测试方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的一种读时延测试系统的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的一种读时延测试设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，图1为本发明实施例提供的一种读时延测试方法的流程图。
本发明实施例提供的一种读时延测试方法，可以包括以下步骤：
步骤S101：写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中。
将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间的过程与现有技术中将数据写入待测NVME盘的过程相同，这里不再赘述。应当指出，这里所说的测试数据是本发明实施例提供的一种读时延测试方法中用来对待测NVME盘的读时延进行测量时用到的数据，测试数据可以是文本数据、视频数据、字符串等，测试数据的大小和类型可以根据实际需要确定，比如10K大小的文本等。这里所说的测试空间为待测NVME盘中预设大小的存储空间，测试空间的大小可以根据实际需要确定。实际应用中，写入每一个测试空间的测试数据可以为同一测试数据，比如都可以为10K大小的文本等，这样不需要创建不同的测试数据，可以缩短测试读时延的时间，提高测试效率，当然，还可以根据实际需要为每一个测试空间创建相应的测试数据，比如根据不同测试空间存储数据的类型为每一个测试空间创建相应类型的测试数据，比如为存储文本数据的测试空间创建相应的文本数据，为存储视频数据的测试空间创建相应的视频数据，为存储字符串的测试空间创建相应的字符串数据等。
步骤S102：读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延。
在写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之后，便可以读取每一个测试空间中的测试数据，同时测试读取每一个测试空间中的测试数据的读取时延。读取每一个测试空间中的测试数据以及测量读取时延的过程与现有技术中的相应过程相同，这里不再赘述。实际应用中，可以是每次读取一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；直至得到每一个测试空间的读取时延，也可以是根据实际需要每次读取预设数量的测试空间中的测试数据，测量读取时延，直到得到每一个测试空间的读取时延，每次被读取的测试空间的数量可以根据并行读取能力等确定。
步骤S103：记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
在读取每一个测试空间中的测试数据，并测量读取时延之后，便可以记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，以便在确定出最大离散读取时延时，确定出最大离散读取时延对应的测试空间，继而确定出最大离散读取时延在待测NVME盘中的发生位置。这里所说的测试空间的标识信息是能将不同测试空间区分开来的信息，比如测试空间的空间地址、测试空间的数字编号等，这里所说的测试空间的空间地址指的是测试空间在待测NVME盘中的位置，当然空间地址可以为数字编号、字母、符号等中的一个或几个的组合，比如block1、block2等。
本发明提供的一种读时延测试方法，先写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；然后读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；最后记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，这样在确定出离散程度最大的读取时延时，便可以根据记录的每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延确定出离散程度最大的读取时延对应的测试空间，进而可以确定待测NVME盘中读取时延离散程度最大的位置。综上所述，本发明提供的一种读时延测试方法在一定程度上解决了如何提高测试NVME盘读时延的测量精度的技术问题。
本发明实施例提供的一种读时延测试方法中，写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还可以包括：
在待测NVME盘中设置预设数量的测试空间。
实际应用中，还可以在写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间之前，在待测NVME盘中设置预设数量的测试空间。在设置测试空间时，可以将待测NVME盘均分为预设数量的测试空间，比如将一个100M大小的待测NVME盘均分为10个测试空间，则每个测试空间的大小均为10M；还可以根据测试空间存储数据的大小将待测NVME盘划分为大小不同的测试空间，比如将一个100M大小的待测NVME盘划分为4个测试空间，每个测试空间的大小可以分别为10M、20M、30M及40M；还可以在自身存储空间已被划分为多个空间的待测NVME盘中，选取预设数量的空间作为测试空间，比如一个待测NVME盘的存储空间已被划分为100个空间，而本发明实施例提供的一种读时延测试方法中，只需50个测试空间，这时，可以只在100个空间中选取50个空间作为测试空间即可，比如依次在每两个空间中选取一个空间作为测试空间等。
本发明实施例提供的一种读时延测试方法中，写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还可以包括：
创建与测试空间相对应的测试数据。
实际应用中，还可以在写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，创建与测试空间相对应的测试数据。由一般原理可知，测试数据的大小肯定不能大于测试空间的大小，但在测试空间的读时延测试过程中，测试数据的大小与测试空间的大小的比值为某一数值时，测试效果最好而且测试效率最高，这一比值可以根据以往的测试经验确定。所以，可以预先创建与测试空间的大小相对应的测试数据，比如测试空间的大小为A，测试数据的大小与测试空间的大小的最合适比值为B，则创建的测试数据的大小可以为A*B。当然还可以根据实际需要确定测试数据的大小，比如在优先考虑测试效率的时候，可以创建大小偏小的测试数据；而在优先考虑测试效果的时候，可以创建大小偏大的测试数据，甚至可以创建大小与测试空间的大小相同的测试数据等。
本发明实施例提供的一种读时延测试方法，具体可以为：
基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中；
基于NVME-CLI读取每一个测试空间中的测试数据；
基于NVME-CLI记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
实际应用中，可以基于NVME-CLI的数据写入程序将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中，相应的，可以基于NVME-CLI的数据读取程序读取每一个测试空间中的测试数据，基于NVME-CLI记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延；具体过程可以参阅现有技术中的相应过程，这里不再赘述。实际应用中，在基于NVME-CLI完成读时延的测试过程时，需要预先安装NVME-CLI，具体过程可以参阅现有技术，这里不再赘述。实际应用中，还可以借助NVME-CLI生成测试数据，具体过程与现有技术中借助NVME-CLI生成数据的过程相同，这里不再赘述。
本发明实施例提供的一种读时延测试方法中，基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还可以包括：
基于NVME-CLI判断待测NVME盘的基本信息是否正确，若是，则执行基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中的步骤。
实际应用中，还可以在基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间之前，基于NVME-CLI判断待测NVME盘的基本信息是否正确，若正确，则再执行后续步骤；若不正确，则可以结束测试过程，当然还可以向外界提示待测NVME盘中的错误信息，以便外界对待测NVME盘进行相应操作进而将待测NVME盘的基本信息调整为正确。实际应用中，还可以基于NVME-CLI对待测NVME盘的其他信息进行检测，比如健康状态信息等，本发明在这里不做具体限定。
本发明实施例提供的一种读时延测试方法，具体可以为：
写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；
以表格的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
实际应用中，可以以表格的形式记录每一个测试空间及该测试空间的读取时延，这样可以很方便的对表格中的数据进行筛选等。
本发明实施例提供的一种读时延测试方法，具体可以为：
写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；
以坐标图的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，坐标图的横坐标可以为测试空间的标识信息，坐标图的纵坐标可以为读取时延。
实际应用中，还可以以测试空间的标识信息为横坐标，以读取时延为纵坐标，建立测试空间的标识信息与读取时延间的坐标图，然后将记录的每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延均写入至该坐标图中，借助坐标图可以很直观的查看到读取时延离散程度最大的点，进而可以根据该点对应的横坐标确定出读取时延离散程度最大的测试空间在待测NVME盘中的位置。
本发明还提供了一种读时延测试系统，其具有本发明实施例提供的一种读时延测试方法具有的对应效果。请参阅图2，图2为本发明实施例提供的一种读时延测试系统的结构示意图。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统，可以包括：
写入模块101，用于写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取模块102，用于读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；
记录模块103，用于记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统中，还可以包括：
设置模块，用于在写入模块写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，在待测NVME盘中设置预设数量的测试空间。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统中，还可以包括：
创建模块，用于在写入模块写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，创建与测试空间相对应的测试数据。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统中，写入模块可以包括：
写入单元，用于基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取模块可以包括：
读取单元，用于基于NVME-CLI读取每一个测试空间中的测试数据；
记录模块可以包括：
第一记录单元，用于基于NVME-CLI记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统中，还可以包括：
判断模块，用于在写入单元基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，基于NVME-CLI判断待测NVME盘的基本信息是否正确，若是，则提示写入单元执行基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中的步骤。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统中，记录模块可以包括：
第二记录单元，用于以表格的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统中，记录模块可以包括：
第三记录单元，用于以坐标图的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，坐标图的横坐标可以为测试空间的标识信息，坐标图的纵坐标可以为读取时延。
本发明还提供了一种读时延测试设备及计算机存储介质，其均具有本发明实施例提供的一种读时延测试方法具有的对应效果。请参阅图3，图3为本发明实施例提供的一种读时延测试设备的结构示意图。
本发明实施例提供的一种读时延测试设备，可以包括：
存储器201，用于存储计算机程序；
处理器202，用于执行计算机程序时实现如上任一实施例所描述的一种读时延测试方法的步骤。
本发明实施例提供的一种计算机存储介质中，计算机存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上任一实施例所描述的一种读时延测试方法的步骤。
本发明实施例提供的一种读时延测试系统、设备及计算机存储介质中相关部分的说明请参见本发明实施例提供的一种读时延测试方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。另外，本发明实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种读时延测试方法，其特征在于，包括：
写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；
记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延；
其中，测试数据的类型包括：文本数据、视频数据、字符串；测试空间包括所述待测NVME盘中预设大小的存储空间。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还包括：
在待测NVME盘中设置预设数量的测试空间。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还包括：
创建与测试空间相对应的测试数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中，包括：
基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中之前，还包括：
基于NVME-CLI判断待测NVME盘的基本信息是否正确，若是，则执行所述基于NVME-CLI将预设的测试数据写入至待测NVME盘的每一个测试空间中的步骤。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，包括：
以表格的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延。
7.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，包括：
以坐标图的形式记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延，所述坐标图的横坐标为测试空间的标识信息，所述坐标图的纵坐标为读取时延。
8.一种读时延测试系统，其特征在于，包括：
写入模块，用于写入预设的测试数据至待测NVME盘的每一个测试空间中；
读取模块，用于读取每一个测试空间中的测试数据，测量读取时延；
记录模块，用于记录每一个测试空间的标识信息及该测试空间的读取时延；
其中，测试数据的类型包括：文本数据、视频数据、字符串；测试空间包括所述待测NVME盘中预设大小的存储空间。
9.一种读时延测试设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述一种读时延测试方法的步骤。
10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述一种读时延测试方法的步骤。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102520910A (zh) * 2011-12-05 2012-06-27 苏州希图视鼎微电子有限公司 适应低延迟或高吞吐要求的协处理器指令执行方法及系统
CN104866521A (zh) * 2014-02-20 2015-08-26 株式会社特迈数据 处理具有混合存储器的数据库中的查询的设备和方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7185118B2 (en) * 2004-01-21 2007-02-27 International Business Machines Corporation Reliable use of desktop class disk drives in enterprise storage applications
JP2007011673A (ja) * 2005-06-30 2007-01-18 Fujitsu Ltd ホスト間データ転送方法、プログラム及びシステム
WO2014120193A1 (en) * 2013-01-31 2014-08-07 Hewlett-Packard Development Company, L. P. Non-volatile multi-level-cell memory with decoupled bits for higher performance and energy efficiency
CN104331252B (zh) * 2014-10-10 2017-08-25 上海新储集成电路有限公司 异构nand固态硬盘结构及其数据读取管理方法
CN106095329A (zh) * 2016-05-27 2016-11-09 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种基于NVME接口的Intel SSD硬盘的管理方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102520910A (zh) * 2011-12-05 2012-06-27 苏州希图视鼎微电子有限公司 适应低延迟或高吞吐要求的协处理器指令执行方法及系统
CN104866521A (zh) * 2014-02-20 2015-08-26 株式会社特迈数据 处理具有混合存储器的数据库中的查询的设备和方法

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