CN107908873A - 一种高速线跨参考平面的检查方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种高速线跨参考平面的检查方法及装置，该方法包括以下步骤：选择待检测信号层面；获取该待检测信号层面内所有高速线差分对走线路径和该待检测信号层面的所有相邻电源平面；通过叠层信息比对各个高速线差分对走线路径与每个相邻电源平面的纵向距离；通过相应纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面；获取所有近端参考平面的电气属性；判断所有近端参考平面的电气属性是否相同，若所有近端参考平面的电气属性相同，则高速线参考平面完整；若所有近端参考平面的电气属性不完全相同，则高速线参考平面不完整。本发明通过程序自动检查出高速线跨参考平面，提高Layout设计效率，减少工程师人工检查的工作量。

Description

一种高速线跨参考平面的检查方法及装置
技术领域
本发明涉及高速线参考平面检测领域，具体涉及一种高速线跨参考平面的检查方法及装置。
背景技术
服务器板卡在PCB 设计阶段，为保证信号质量，避免阻抗不连续，高速线必须有参考完整平面。完整参考平面，即高速线差分对DP、DN整个走线路径都纵向参考同一种电气属性的平面。
在PCB设计中，通常需要人工检查高速线的参考平面是否完整，如有跨平面参考的情况，必须调整高速线或重新切割参考平面，导致Layout工程师人工检查工作量较大，设计效率较低。
发明内容
为解决上述问题，本发明提供一种可自动检查高速线跨参考平面的方法及装置。
本发明的技术方案是：一种高速线跨参考平面的检查方法，包括以下步骤：
选择待检测信号层面；
获取该待检测信号层面内所有高速线差分对走线路径和该待检测信号层面的所有相邻电源平面；
通过叠层信息比对各个高速线差分对走线路径与每个相邻电源平面的纵向距离；
通过相应纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面；
获取所有近端参考平面的电气属性；
判断所有近端参考平面的电气属性是否相同，若所有近端参考平面的电气属性相同，则高速线参考平面完整；若所有近端参考平面的电气属性不完全相同，则高速线参考平面不完整。
进一步地，通过该纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面的具体方法是：高速线差分对走线路径与其中一个相邻电源平面的纵向距离最短，则该相邻电源平面为近端参考平面。
进一步地，还包括步骤：生成检查数据列表。
进一步地，所生成的检查数据列表包括：跨参考平面高速线差分对走线路径的坐标、参考平面名称及参考平面的电气属性。
本发明还提供一种高速线跨参考平面的检查装置，包括：
选择信号层面模块：用于选择待检测信号层面；
获取走线路径和相邻电源平面模块：用于获取待检测信号层面内所有高速线差分对走线路径和待检测信号层面的所有相邻电源平面；
比对纵向距离模块：用于通过叠层信息比对各个高速线差分对走线路径与每个相邻电源平面的纵向距离；
判断近端参考平面模块：用于通过相应纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面；
获取近端参考平面电气属性模块：用于获取所有近端参考平面的电气属性；
判断高速线参考平面完整性模块：用于判断所有近端参考平面的电气属性是否相同，若所有近端参考平面的电气属性相同，则高速线参考平面完整；若所有近端参考平面的电气属性不完全相同，则高速线参考平面不完整。
进一步地，判断近端参考平面模块判断近端参考平面的方法是：高速线差分对走线路径与其中一个相邻电源平面的纵向距离最短，则该相邻电源平面为近端参考平面。
进一步地，还包括生成列表模块：用于生成检查数据列表。
进一步地，所生成的检查数据列表包括：跨参考平面高速线差分对走线路径的坐标、参考平面名称及参考平面的电气属性。
本发明提供的高速线跨参考平面的检查方法，通过程序自动检查出高速线跨参考平面，提高Layout设计效率，减少工程师人工检查的工作量。
附图说明
图1是本发明具体实施例方法流程示意图。
图2是选择信号层面示意图。
图3是通过叠层信息判断近端参考平面示意图。
图4是高速线参考平面完整示意图。
图5是高速线参考平面不完整示意图。
图6是生成检查数据列表示意图。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施例对本发明进行详细阐述，以下实施例是对本发明的解释，而本发明并不局限于以下实施方式。
本发明提供的高速线跨参考平面检查方法，通过运行程序，自动检查高速线下参考平面的电气属性，通过判断电气属性是否相同，从而判断是否跨参考平面，并生成检查列表。
实施例一
如图1所示，该方法具体包括以下步骤：
S1：选择待检测信号层面；
如图2所示，工程人员使用时，可通过下拉选项框选择对应的信号层面。
S2：获取该待检测信号层面内所有高速线差分对走线路径和该待检测信号层面的所有相邻电源平面；
需要说明的是，高速线差分对为后缀为DP、DN的走线。
S3：通过叠层信息比对各个高速线差分对走线路径与每个相邻电源平面的纵向距离。
S4：通过相应纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面；
需要说明的是，高速线差分对走线路径与其中一个相邻电源平面的纵向距离最短，则该相邻电源平面为近端参考平面。
如图3所示，L3的参考平面为L2_GND/PWR和L4_GND/PWR，L3与L2_GND/PWR的纵向距离为4mil，与L4_GND/PWR的纵向距离为5.5mil，数值较小的为近端参考平面，数值较大的为远端参考平面，故L3的近端参考平面为L4_GND/PWR。
S5：获取所有近端参考平面的电气属性。
S6：判断所有近端参考平面的电气属性是否相同，若所有近端参考平面的电气属性相同，则高速线参考平面完整；若所有近端参考平面的电气属性不完全相同，则高速线参考平面不完整；
如图4所示，如果为同一电气属性（整个路径都为GND），则判断为高速线参考平面完整；反之，如电气属性不同，则判断为高速线参考平面不完整，为跨参考平面（如图5，整个路径有部分路径参考平面为P3V3、GND）。
S7：生成检查数据列表；
需要说明的是，如图6所示，所生成的检查数据列表包括：跨参考平面高速线差分对走线路径的坐标、参考平面名称及参考平面的电气属性。通过点击路径线段的坐标，可以精确定位对应路径。
实施例二
在上述实施例一基础上，本实施例提供实现上述方法的检查装置，包括：
选择信号层面模块：用于选择待检测信号层面；
获取走线路径和相邻电源平面模块：用于获取待检测信号层面内所有高速线差分对走线路径和待检测信号层面的所有相邻电源平面；
比对纵向距离模块：用于通过叠层信息比对各个高速线差分对走线路径与每个相邻电源平面的纵向距离；
判断近端参考平面模块：用于通过相应纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面；
获取近端参考平面电气属性模块：用于获取所有近端参考平面的电气属性；
判断高速线参考平面完整性模块：用于判断所有近端参考平面的电气属性是否相同，若所有近端参考平面的电气属性相同，则高速线参考平面完整；若所有近端参考平面的电气属性不完全相同，则高速线参考平面不完整；
生成列表模块：用于生成检查数据列表。
其中，判断近端参考平面模块判断近端参考平面的方法是：高速线差分对走线路径与其中一个相邻电源平面的纵向距离最短，则该相邻电源平面为近端参考平面。生成列表模块所生成的检查数据列表包括：跨参考平面高速线差分对走线路径的坐标、参考平面名称及参考平面的电气属性。
以上公开的仅为本发明的优选实施方式，但本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化，以及在不脱离本发明原理前提下所作的若干改进和润饰，都应落在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种高速线跨参考平面的检查方法，其特征在于，包括以下步骤：
选择待检测信号层面；
获取该待检测信号层面内所有高速线差分对走线路径和该待检测信号层面的所有相邻电源平面；
通过叠层信息比对各个高速线差分对走线路径与每个相邻电源平面的纵向距离；
通过相应纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面；
获取所有近端参考平面的电气属性；
判断所有近端参考平面的电气属性是否相同，若所有近端参考平面的电气属性相同，则高速线参考平面完整；若所有近端参考平面的电气属性不完全相同，则高速线参考平面不完整。
2.根据权利要求1所述的高速线跨参考平面的检查方法，其特征在于，通过该纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面的具体方法是：高速线差分对走线路径与其中一个相邻电源平面的纵向距离最短，则该相邻电源平面为近端参考平面。
3.根据权利要求1或2所述的高速线跨参考平面的检查方法，其特征在于，还包括步骤：生成检查数据列表。
4.根据权利要求3所述的高速线跨参考平面的检查方法，其特征在于，所生成的检查数据列表包括：跨参考平面高速线差分对走线路径的坐标、参考平面名称及参考平面的电气属性。
5.一种高速线跨参考平面的检查装置，其特征在于，包括：
选择信号层面模块：用于选择待检测信号层面；
获取走线路径和相邻电源平面模块：用于获取待检测信号层面内所有高速线差分对走线路径和待检测信号层面的所有相邻电源平面；
比对纵向距离模块：用于通过叠层信息比对各个高速线差分对走线路径与每个相邻电源平面的纵向距离；
判断近端参考平面模块：用于通过相应纵向距离判断出各个高速线差分对走线路径的近端参考平面；
获取近端参考平面电气属性模块：用于获取所有近端参考平面的电气属性；
判断高速线参考平面完整性模块：用于判断所有近端参考平面的电气属性是否相同，若所有近端参考平面的电气属性相同，则高速线参考平面完整；若所有近端参考平面的电气属性不完全相同，则高速线参考平面不完整。
6.根据权利要求5所述的高速线跨参考平面的检查装置，其特征在于，判断近端参考平面模块判断近端参考平面的方法是：高速线差分对走线路径与其中一个相邻电源平面的纵向距离最短，则该相邻电源平面为近端参考平面。
7.根据权利要求5或6所述的高速线跨参考平面的检查装置，其特征在于，还包括生成列表模块：用于生成检查数据列表。
8.根据权利要求7所述的高速线跨参考平面的检查装置，其特征在于，所生成的检查数据列表包括：跨参考平面高速线差分对走线路径的坐标、参考平面名称及参考平面的电气属性。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109299538A (zh) * 2018-09-21 2019-02-01 郑州云海信息技术有限公司 一种布图设计的检测方法及装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1707484A (zh) * 2004-06-12 2005-12-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主机板上横跨裂缝的布线检查系统及方法
CN102542089A (zh) * 2010-12-28 2012-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 布线距离检查系统及方法
CN103870619A (zh) * 2012-12-13 2014-06-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 布线检查系统及方法
US9548278B1 (en) * 2015-12-28 2017-01-17 Altera Corporation Methods and apparatus for passive equalization in high-speed and high density integrated circuits
CN107145674A (zh) * 2017-05-12 2017-09-08 郑州云海信息技术有限公司 一种用于调整高速线分段等长的方法、实现方法及系统

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1707484A (zh) * 2004-06-12 2005-12-14 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主机板上横跨裂缝的布线检查系统及方法
CN102542089A (zh) * 2010-12-28 2012-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 布线距离检查系统及方法
CN103870619A (zh) * 2012-12-13 2014-06-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 布线检查系统及方法
US9548278B1 (en) * 2015-12-28 2017-01-17 Altera Corporation Methods and apparatus for passive equalization in high-speed and high density integrated circuits
CN107145674A (zh) * 2017-05-12 2017-09-08 郑州云海信息技术有限公司 一种用于调整高速线分段等长的方法、实现方法及系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109299538A (zh) * 2018-09-21 2019-02-01 郑州云海信息技术有限公司 一种布图设计的检测方法及装置

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