CN107907697A - 自动退卡机构及单通道荧光免疫分析仪 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种自动退卡机构及单通道荧光免疫分析仪，其中，该自动退卡机构，包括：底板、滑轨、滑动机构、挡位机构及推卡机构，底板上开设有呈长条状的镂空部，底板下方固定有退卡滑道，退卡滑道的第一端设有供测试卡进出的滑道口；滑轨安装于底板上且靠近镂空部设置；滑动机构活动安装于滑轨上且可沿滑轨方向移动，滑动机构上可放置测试卡；挡位机构，挡位机构固定于底板上且靠近退卡滑道的第二端的位置；推卡机构，推卡机构安装于滑动机构上且部分伸入退卡滑道中，可将测试卡从退卡滑道的滑道口推出，实现自动退卡。本发明的技术方案结构简单，能够实现主动推卡，退卡故障低，稳定性高，能够提高测试效率。

Description

自动退卡机构及单通道荧光免疫分析仪

技术领域

本发明涉及单通道荧光免疫分析仪，尤其涉及一种自动退卡机构及单通道荧光免疫分析仪。

背景技术

现有的单通道荧光免疫分析仪测试卡的自动退卡方式是依靠测试卡自身重力被动地迫使测试卡从机器内滑出。这种被动式的退卡方式一方面会因落卡位置不确定，导致不能顺利出卡，致使在内部造成仪器卡死，另一方面当测试卡在仪器外部堆积也会造成仪器卡死。

有鉴于此，有必要提出对目前单通道荧光免疫分析仪的退卡结构进行进一步的改进。

发明内容

为解决上述至少一技术问题，本发明的主要目的是提供一种自动退卡机构。

为实现上述目的，本发明采用的一个技术方案为：提供一种自动退卡机构，应用于单通道荧光免疫分析仪中，所述自动退卡机构包括：

底板，所述底板上开设有呈长条状的镂空部，所述底板下方固定有退卡滑道，退卡滑道的顶部呈开口状且对应镂空部设置，所述退卡滑道具有第一端及与第一端相对设置的第二端，所述第一端设有供测试卡进出的滑道口；

滑轨，所述滑轨安装于底板上且靠近镂空部设置；

滑动机构，所述滑动机构活动安装于滑轨上且可沿滑轨方向移动，所述滑动机构上可放置测试卡；

挡位机构，所述挡位机构固定于底板上且靠近退卡滑道的第二端的位置，在滑动机构运动至靠近退卡滑道的第二端的位置时，挡住测试卡继续运动，使测试卡落入退卡滑道中；

推卡机构，所述推卡机构安装于滑动机构上且部分伸入退卡滑道中，以在滑动机构沿退卡滑道的第二端向第一端运动时，将测试卡从退卡滑道的滑道口推出，实现自动退卡。

其中，所述滑动机构为卡托滑块，所述卡托滑块沿滑轨方向形成有可容置测试卡的收纳槽，所述收纳槽位于退卡滑道的上方，且收纳槽的一端形成有与退卡滑道的滑道口同端设置的放料口。

其中，所述挡位机构为挡板，所述挡板中间形成避让位且挡板靠近滑轨的一侧设有可抵接测试卡的挡位块。

其中，所述挡板呈反“Γ”型设置。

其中，所述推卡机构为推板，所述推板与退卡滑道的底部预留有间隙，所述间隙小于或等于测试卡的厚度。

其中，所述推板供推挤测试卡的一侧设置有呈弯折状的推挤部。

其中，所述自动退卡机构还包括安装于底板上的驱动机构，所述驱动机构带动卡托滑块沿滑轨的方向往复运动。

其中，所述驱动机构包括电机、皮带及定位轮，所述卡托滑块还设置有连接件并通过连接件与皮带固定连接，以在电机工作时，带动皮带及卡托滑块运动。

其中，所述滑轨为单轨，所述单轨的两侧设有卡槽，所述卡托滑块卡接于卡槽中。

为实现上述目的，本发明采用的另一个技术方案为：提供一种单通道荧光免疫分析仪，所述单通道荧光免疫分析仪包括上述的自动退卡机构。

本发明的技术方案主要包括底板、滑轨、滑动机构、挡位机构及推卡机构，其中，底板上设有退卡滑道，滑轨固定安装于底板上，滑动机构滑接于滑轨上，且滑动机构上可放置测试卡，在滑动机构运动至靠近滑轨的另一端时，挡位机构可避让滑动机构并可挡住测试卡继续运动。如此，测试卡落入退卡滑道中，在滑动机构反向运动时，设置在滑动机构上的推卡机构可抵接测试卡，并随着滑动机构的运动将测试卡从退卡滑道中推出，实现自动退卡。本方案在不增加额外的动力情况，可将测试卡主动推出。这种主动式的退卡方式将保证测试卡顺利地被送出退卡滑道，保证顺利出卡，降低故障率，提高设备测试的稳定性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明一实施例自动退卡机构的立体结构示意图；

图2为本发明一实施例自动退卡机构另一视角的立体结构示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

请参照图1和2，在本发明实施例中，该自动退卡机构，应用于单通道荧光免疫分析仪中，所述自动退卡机构包括：

底板10，所述底板10上开设有呈长条状的镂空部11，所述底板10下方固定有退卡滑道12，退卡滑道12的顶部呈开口状且对应镂空部11设置，所述退卡滑道12具有第一端及与第一端相对设置的第二端，所述第一端设有供测试卡进出的滑道口；

滑轨20，所述滑轨20安装于底板10上且靠近镂空部11设置；

滑动机构30，所述滑动机构30活动安装于滑轨20上且可沿滑轨20方向移动，所述滑动机构30上可放置测试卡70；

挡位机构40，所述挡位机构40固定于底板10上且靠近退卡滑道12的第二端的位置，在滑动机构30运动至靠近退卡滑道12的第二端的位置时，挡住测试卡70继续运动，使测试卡70落入退卡滑道12中；

推卡机构50，所述推卡机构50安装于滑动机构30上且部分伸入退卡滑道12中，以在滑动机构30沿退卡滑道12的第二端向第一端运动时，将测试卡70从退卡滑道12的滑道口推出，实现自动退卡。

具体工作时，滑动机构30可在驱动力的驱动下沿滑轨20的方向往复运动，在滑动机构30带动测试卡70进入仪器内部进行测试，在测试卡70通过测试时，滑动机构30带动测试卡70继续沿滑轨20方向运动至其他的检测工位，在测试卡70测试失败时，废测试卡70可从退卡滑道12中自动退出。具体的，废测试卡70随滑动机构30继续运动一段距离后，废测试卡70在挡位机构40的挡位作用下脱离滑动机构30并落入退卡滑道12中；在滑动机构30反向运动时，与滑动机构30固定连接的推卡机构50可抵接废测试卡70，并随着继续运动的滑动机构30将废测试卡70从退卡滑道12中推出，实现自动退卡，由于存在推卡机构50，可提供推力，即使测试卡70在退卡滑道12中堆积也不会造成仪器卡死。

本发明的技术方案主要包括底板10、滑轨20、滑动机构30、挡位机构40及推卡机构50，其中，底板10上设有退卡滑道12，滑轨20固定安装于底板10上，滑动机构30滑接于滑轨20上，且滑动机构30上可放置测试卡70，在滑动机构30运动至靠近滑轨20的另一端时，挡位机构40可避让滑动机构30并可挡住测试卡70继续运动。如此，测试卡70落入退卡滑道12中，在滑动机构30反向运动时，设置在滑动机构30上的推卡机构50可抵接测试卡70，并随着滑动机构30的运动将测试卡70从退卡滑道12中推出，实现自动退卡。本方案在不增加额外的动力情况，可将测试卡70主动推出。这种主动式的退卡方式将保证测试卡70顺利地被送出退卡滑道12，保证顺利出卡，降低故障率，提高设备测试的稳定性。

请参照图2，具体的，所述滑动机构30为卡托滑块31，所述卡托滑块31沿滑轨20方向形成有可容置测试卡70的收纳槽，所述收纳槽位于退卡滑道12的上方，且收纳槽的一端形成有与退卡滑道12的滑道口同端设置的放料口。为了简化设备机构，本方案中采用较为较简单的卡托滑块31，卡托滑块31的收纳槽可方便对测试卡70的位置限定，收纳槽的放料口可方便测试卡70的插入。另外的，该收纳槽的出口可以呈广角设置，以使测试卡70顺利从放料口滑入。

请参照图2，具体的，所述挡位机构40为挡板41，所述挡板41中间形成避让位且挡板41靠近滑轨20的一侧设有可抵接测试卡70的挡位块42。为了简化设备机构采用挡板41作为挡位机构40，挡板41横跨于退卡滑道12上，挡板41远离滑轨20的一侧固定在底板10上，中间为避让位，另一侧设置有挡位废测试卡70大的挡位块42。

进一步的，所述挡板41呈反“Γ”型设置。“Γ”型中较短的一边为勾部，该勾部为档位块的位置，实际的，该勾部的长度可以根据实际的要求来设计。

请继续参照图2，具体的，所述推卡机构50为推板，所述推板与退卡滑道12的底部预留有间隙，所述间隙小于或等于测试卡70的厚度。为了简化设备机构，采用推板作为推卡机构50，推板的两侧与退卡滑道12的两侧内壁留有间隙，避免推板妨碍卡托滑块31移动，且推板与退卡滑道12底部留有小于或等于废测试卡70厚度的间隙，如此，以方便推板的端部推挤废测试卡70。采用同一套驱动机构，可提供主动退卡的驱动力。

进一步的，所述推板供推挤测试卡70的一侧设置有呈弯折状的推挤部。为了更方便退卡，推板推挤测试卡70的一侧设置有推挤部，推挤部呈弯折状设置，如此，可以较佳的将测试卡70推出。

请参照图1，具体的，所述自动退卡机构还包括安装于底板10上的驱动机构60，所述驱动机构60带动卡托滑块31沿滑轨20的方向往复运动。通过该驱动机构60，可实现卡托滑块31的往复运动，

进一步的，所述驱动机构60包括电机61、皮带62及定位轮63(亦可为同步轮)，所述卡托滑块31还设置有连接件32并通过连接件32与皮带62固定连接，以在电机61工作时，带动皮带62及卡托滑块31运动。皮带62套设在电机61的同步轮及定位轮63上，电机61工作时带动皮带62运动，由于皮带62与卡托滑块31固定连接，固定在皮带62运动时可带动卡托滑块31一起运动。

具体的，所述滑轨20为单轨，所述单轨的两侧设有卡槽，所述卡托滑块31卡接于卡槽中。卡托滑块31与单轨卡接配合，使得卡托滑块31稳定地沿单轨方向往复运动。

综上，本发明至少具有如下优点：

1、测试卡70采用前置前出方式，在测试前将测试卡70收集框置于仪器下方，当测试完成后测试卡70从仪器前方推出直接掉落至测试卡70收集框中，节省操作人员人力；

2、允许测试完成后的测试卡70在仪器外部堆积不影响正常退卡，操作人员无需做完一次测试就要收集一次废测试卡70，避免操作人员频繁操作带来的人力浪费；

3、退卡(废测试卡70)与进卡共用同一套驱动，简化了结构，提高了稳定性，降低了整机成本；

4、主动式退卡，保证废测试卡70顺利滑出仪器。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种自动退卡机构，应用于单通道荧光免疫分析仪中，其特征在于，所述自动退卡机构包括：

底板，所述底板上开设有呈长条状的镂空部，所述底板下方固定有退卡滑道，退卡滑道的顶部呈开口状且对应镂空部设置，所述退卡滑道具有第一端及与第一端相对设置的第二端，所述第一端设有供测试卡进出的滑道口；

滑轨，所述滑轨安装于底板上且靠近镂空部设置；

滑动机构，所述滑动机构活动安装于滑轨上且可沿滑轨方向移动，所述滑动机构上可放置测试卡；

挡位机构，所述挡位机构固定于底板上且靠近退卡滑道的第二端的位置，在滑动机构运动至靠近退卡滑道的第二端的位置时，挡住测试卡继续运动，使测试卡落入退卡滑道中；

推卡机构，所述推卡机构安装于滑动机构上且部分伸入退卡滑道中，以在滑动机构沿退卡滑道的第二端向第一端运动时，将测试卡从退卡滑道的滑道口推出，实现自动退卡。

2.如权利要求1所述的自动退卡机构，其特征在于，所述滑动机构为卡托滑块，所述卡托滑块沿滑轨方向形成有可容置测试卡的收纳槽，所述收纳槽位于退卡滑道的上方，且收纳槽的一端形成有与退卡滑道的滑道口同端设置的放料口。

3.如权利要求2所述的自动退卡机构，其特征在于，所述挡位机构为挡板，所述挡板中间形成避让位且挡板靠近滑轨的一侧设有可抵接测试卡的挡位块。

4.如权利要求3所述的自动退卡机构，其特征在于，所述挡板呈反“Γ”型设置。

5.如权利要求2所述的自动退卡机构，其特征在于，所述推卡机构为推板，所述推板与退卡滑道的底部预留有间隙，所述间隙小于或等于测试卡的厚度。

6.如权利要求5所述的自动退卡机构，其特征在于，所述推板供推挤测试卡的一侧设置有呈弯折状的推挤部。

7.如权利要求2至6任一项所述的自动退卡机构，其特征在于，所述自动退卡机构还包括安装于底板上的驱动机构，所述驱动机构带动卡托滑块沿滑轨的方向往复运动。

8.如权利要求7所述的自动退卡机构，其特征在于，所述驱动机构包括电机、皮带及定位轮，所述卡托滑块还设置有连接件并通过连接件与皮带固定连接，以在电机工作时，带动皮带及卡托滑块运动。

9.如权利要求2所述的自动退卡机构，其特征在于，所述滑轨为单轨，所述单轨的两侧设有卡槽，所述卡托滑块卡接于卡槽中。

10.一种单通道荧光免疫分析仪，其特征在于，所述单通道荧光免疫分析仪包括如权利要求1至9任一项所述的自动退卡机构。