CN107621739A - 像抖校正装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供像抖校正装置。该像抖校正装置(50)具有：可动部(51)，其具有摄像元件或摄像透镜(27)；以及VCM驱动部，其通过使用线圈(52)和驱动用磁铁(71、72)，相对于固定部(61)驱动可动部，该像抖校正装置(50)具有：位置检测元件(53)，其配置于可动部和固定部中的一方；以及一对位置检测用磁铁(62、63)，它们配置于与位置检测元件对置的位置，并配置于可动部和固定部中的另一方，一对位置检测用磁铁是被配置成不同的磁极与位置检测元件的表面对置的第1磁铁和第2磁铁，第1磁铁和上述第2磁铁沿着从光轴远离的方向依次配置，分别从第1磁铁和第2磁铁到达位置检测元件的表面的磁通密度的大小不同，该光轴是进入到摄像元件或摄像透镜的光束的中心。

Description

像抖校正装置

技术领域

本发明涉及搭载于摄像装置等所安装的镜头镜筒并使用音圈型的致动器构成的光学式的像抖校正装置。

背景技术

以往，如下的摄像装置，例如数字照相机或摄像机等已经普遍实用化并广泛普及：所述摄像装置构成为能够使用光电转换元件等(以下称作摄像元件)将由摄像光学系统形成的光学像依次转换为图像信号，将由此得到的图像信号作为预定形式的图像数据记录在记录介质中，并且具有将该记录介质所记录的图像数据作为图像进行再现显示的液晶显示装置(LCD)、有机EL显示装置等图像显示装置。

在现有的这种摄像装置中，提出了具有所谓光学式的像抖校正装置的各种摄像装置并已经实用化，该像抖校正装置构成为在用手保持装置进行使用时，检测由于装置的保持变得不稳定而产生的摄像装置的微小移动(所谓手抖等)，能够在抵消该微小移动的方向上使摄像光学系统的一部分的光学部件在与光轴大致垂直的面上(在移位方向上)移动，或进行分别以与该摄像光学系统的光轴垂直的两个轴(X轴和Y轴)为中心的俯仰方向和偏航方向的旋转。

而且，作为这样的抖校正装置中的驱动手段，使用例如音圈型的磁致动器(音圈电机；Voice Coil Motor；VCM)或振动型线性致动器等的驱动手段已经普遍被实际应用。

此外，在这样的像抖校正装置中，为了进行使摄像光学系统的一部分的光学部件移动的控制，通常具有检测可动框部件的位置的位置检测手段，该可动框部件保持在像抖校正时移动的光学部件。作为该情况下的位置检测手段，例如存在构成为具有投光部件和受光部件的光学式的位置检测单元、构成为具有产生磁的部件(磁铁等)和磁检测部件的磁检测式的位置检测单元等。

例如，由日本特开平7-5515号公报等所公开的现有的像抖校正装置构成为具有由线圈、磁轭、磁铁等构成的驱动手段、和由投光元件和受光元件等构成的位置检测手段。而且，该像抖校正装置中，将上述驱动手段和上述位置检测手段配置于远离的位置。

但是，上述日本特开平7-5515号公报所公开的现有的像抖校正装置具有如下问题：由于将上述驱动手段和上述位置检测手段配置于远离的位置，所以导致装置自身的大型化，并且仅通过在部件配置上努力而使装置自身小型化是有限度的。

特别是，在一般结构的像抖校正装置中，在形成为使用磁致动器作为驱动手段并使用磁检测式位置检测单元作为位置检测手段的结构的情况下，从驱动手段产生的磁有可能会对位置检测手段造成影响。因此，有可能无法获得必要的位置检测精度。考虑该状况，优选将上述驱动手段和上述位置检测手段配置于尽可能远离的位置的结构，以使位置检测手段不受驱动手段的磁的影响。但是，在采用这样的布局的情况下，如上所述，产生阻碍了装置的小型化的问题。

发明内容

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种能够使用磁检测式的位置检测手段并确保较高的位置检测精度，同时实现小型化的构造的像抖校正装置，该像抖校正装置具有：可动部，其具有摄像透镜；以及VCM驱动部(使用磁致动器的驱动手段)，其使用线圈和驱动用磁铁，相对于固定部驱动上述可动部。

本发明的一个方式的像抖校正装置具有：可动部，其具有摄像元件或摄像透镜；以及VCM驱动部，其通过使用线圈和驱动用磁铁，相对于固定部驱动上述可动部，其中，该像抖校正装置具有：位置检测元件，其配置于上述可动部和上述固定部中的一方；以及一对位置检测用磁铁，它们配置于与上述位置检测元件对置的位置，并配置于上述可动部和上述固定部中的另一方，上述一对位置检测用磁铁是被配置成不同的磁极与上述位置检测元件的表面对置的第1磁铁和第2磁铁，上述第1磁铁和上述第2磁铁沿着从光轴远离的方向依次配置，分别从上述第1磁铁和上述第2磁铁到达上述位置检测元件的表面的磁通密度的大小不同，其中，该光轴是进入到上述摄像元件或上述摄像透镜的光束的中心。

本发明的目的和利益能够根据以下的详细说明而更加明确。

根据本发明，能够提供能够使用磁检测式的位置检测手段并确保较高的位置检测精度，同时实现小型化的构造的像抖校正装置，该像抖校正装置具有：可动部，其具有摄像透镜；以及VCM驱动部(使用磁致动器的驱动手段)，其使用线圈和驱动用磁铁，相对于固定部驱动上述可动部。

附图说明

图1是示出能够安装搭载有本发明的一个实施方式的像抖校正装置的镜头镜筒的摄像装置的外观立体图。

图2是示出在用图1的标号[2]表示的剖切面剖切的纵截面，并示出摄像装置和该摄像装置所安装的镜头镜筒的内部构造的概略的示意图。

图3是本发明的一个实施方式的像抖校正装置的外观立体图。

图4是本发明的一个实施方式的像抖校正装置中的可动部的三个视图(主视图、右侧视图、仰视图)。

图5是本发明的一个实施方式的像抖校正装置的可动部的后视图。

图6是本发明的一个实施方式的像抖校正装置中的固定部的三个视图(主视图、右侧视图、仰视图)。

图7是本发明的一个实施方式的像抖校正装置的主视图(从像抖校正装置卸下磁路单元后的状态)。

图8是本发明的一个实施方式的像抖校正装置的主视图和右侧视图(从图7的状态组装磁路单元后的状态)。

图9是沿着图8的[9]－[9]线的剖视图。

图10是取出并示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置中的磁路单元和位置检测单元的主要部分分解立体图。

图11是进一步简略示出图10所示的像抖校正装置的结构，并说明进入霍尔元件的磁通伴随可动部的移动而发生变化的原因的说明图。

图12是在本发明的一个实施方式和现有结构的像抖校正装置中，对进入各霍尔元件的磁通相对于可动部的移动距离的变化进行比较的曲线图。

图13是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第1变形例的主要部分放大剖视图。

图14是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第2变形例的主要部分放大剖视图。

图15是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第3变形例的主要部分放大剖视图。

图16是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第4变形例的主要部分放大剖视图。

图17是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第5变形例的主要部分放大剖视图。

图18是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第6变形例的主要部分放大剖视图。

具体实施方式

下面，根据图示的实施方式对本发明进行说明。

[一个实施方式]

本发明的一个实施方式是搭载在如下的摄像装置的镜头镜筒上的像抖校正装置的例示：该摄像装置构成为能够使用固体摄像元件等对利用由例如多个光学部件(摄像透镜)等构成的摄像光学系统形成的光学像进行光电转换，将由此得到的图像信号转换为表示静态图像或动态图像的数字图像数据，将由此生成的数字图像数据记录在记录介质中，并根据记录介质所记录的数字图像数据，将静态图像或动态图像再现显示在显示装置上。

在本实施方式中，用标号O表示镜头镜筒中的摄像光学系统的光轴。并且，在沿着该光轴O的方向上，将与摄像装置的前表面对置的被摄体所处的一侧称作前方，将摄像装置的背面侧所配置的摄像元件的受光面(成像面)所处的一侧称作后方。此外，在与上述光轴O垂直的面内，将从上述被摄体侧朝向摄像装置的正面时的左右方向、即水平方向称作X方向，同样，将从上述被摄体侧朝向该摄像装置的正面时的上下方向(垂直方向)、即与上述X方向垂直的方向称作Y方向。此外，将沿着上述光轴O的方向称作Z方向。

另外，示意地示出以下说明所使用的各附图，以附图上能够识别的程度的大小示出各结构要素，所以，有时使各部件的尺寸关系和比例尺等按照各结构要素而不同地示出。因此，在本发明中，这些各附图所记载的各结构要素的数量、各结构要素的形状、各结构要素的大小的比率和各结构要素的相对位置关系等不限于图示的形式。

图1是示出能够安装搭载有本发明的一个实施方式的图像像抖校正装置的镜头镜筒的摄像装置的外观立体图。图2是示出在用图1的标号[2]表示的剖切面剖切的图1的摄像装置的纵截面，并示出该摄像装置和该摄像装置所安装的镜头镜筒的内部构造的概略的示意图。另外，在图2中，为了避免附图的复杂化，省略了不与本发明直接相关的结构部件的图示，并简略示出了内部结构。另外，图1、图2所示的各镜头镜筒例示了不同的种类的镜头镜筒。

即，图1、图2所示的摄像装置1是构成为能够选择不同种类的多个镜头镜筒(图1的标号30、图2的标号30A等)中的一个而安装在共同的装置主体10上的所谓镜头更换式的摄像装置。

图1、图2所示的各镜头镜筒(30、30A)可以认为均搭载了本实施方式的像抖校正装置50(详细内容将后述)。在本实施方式的以下说明中，例示图2所示的镜头镜筒30A所搭载的像抖校正装置50(参照图2)。

首先，在说明本发明的一个实施方式的像抖校正装置50的详细结构之前，以下使用图1、图2，对具有搭载有该像抖校正装置50的镜头镜筒30A的摄像装置1的概略结构进行说明。

如图1、图2所示，摄像装置1由装置主体10和镜头镜筒(30、30A)构成。其中，装置主体10构成为具有将构成该摄像装置1的各种结构单元收纳在内部的壳体、和分别配设于该壳体的外表面的规定位置的多个操作部件等。

作为该装置主体10的壳体内所收纳的各种结构单元，例如除摄像元件11(在图1中未图示；参照图2)以外省略了图示，但具有取景器装置、快门机构和多个电基板等。这里，作为摄像元件11，例如应用使用了CCD(Charge Coupled Device；电荷耦合元件)的CCD图像传感器或使用了CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor；互补金属氧化物半导体)等MOS型图像传感器等。

此外，关于快门机构，虽然未图示，但例如应用上述摄像元件11的受光面的前表面侧所设置的焦面式的快门机构等。另外，关于快门机构，可以应用与配设于装置主体10内的形式不同地配设于镜头镜筒30内的形式的所谓中心快门机构等。

作为该装置主体10所包含的其他结构单元，将显示装置(未图示)配设于上述壳体的背面侧。该显示装置构成为具有如下的显示面板等：根据由摄像元件11取得的图像数据或未图示的记录介质已记录的图像数据来显示图像，或显示用于进行各种设定的选择显示画面等。

并且，作为设置于上述壳体外部的多个操作部件，如图1所示，例如除了用于进行快门释放或各设定变更等的按压式操作部件14、用于进行设定切换操作或模式选择操作等的旋转式操作部件15、和用于进行电源的接通和断开操作等的杆式操作部件16等以外，还具有用于进行其他操作的滑动式操作部件等。

另一方面，上述摄像装置1所具备的镜头镜筒(30、30A)例如整体上形成为圆筒形状，构成为在内部除了由作为多个光学部件的多个摄像透镜组(21～29；参照图2)等构成的摄像光学系统、分别保持构成该摄像光学系统的多个摄像透镜组的多个镜头保持部件(未图示)、由包含规定的摄像透镜组(标号25)及保持该规定的摄像透镜组的保持部件(未图示)在内的单元、和用于使该单元在沿着光轴O的方向上进退移动的驱动机构(未图示)等构成的对焦单元20等以外，还具有本实施方式的像抖校正装置50(参照图2)等。

镜头镜筒(30、30A)配设于上述装置主体10的前表面侧。在该情况下，镜头镜筒(30、30A)可以是固定于装置主体10的形式，也可以是相对于装置主体10拆装自如的形式。

这里，在成为在装置主体10的前表面配设有镜头镜筒(30、30A)的状态时，构成为将由镜头镜筒(30、30A)的摄像光学系统形成的光学像形成在装置主体10内的摄像元件11的受光面上。因此，以镜头镜筒(30、30A)的摄像光学系统的光轴O和摄像元件11的受光面的大致中心部大致一致的方式，规定了镜头镜筒(30、30A)相对于装置主体10的配置。

本实施方式的像抖校正装置50构成为包含镜头保持框(在图2中未图示)，该镜头保持框保持第7透镜组27，该第7透镜组27是构成图2所示的镜头镜筒30A中的摄像光学系统的多个摄像透镜组(21～29)中的规定的摄像透镜。而且，该像抖校正装置50是用于使包含第7镜头保持框的可动部51在与光轴O垂直的面内移动，而进行像抖校正的组装体(单元)(详细内容将后述)，其中，该第7镜头保持框保持第7透镜组27。

上述摄像装置1自身的其他结构具有与现有的该形式的摄像装置大致相同的结构，省略更多的详细说明。

接着，以下使用图3～图10，对本实施方式的像抖校正装置50的详细结构进行说明。

图3是本发明的一个实施方式的像抖校正装置的外观立体图。图4是本实施方式的像抖校正装置中的可动部的三个视图(主视图、右侧视图、仰视图)。图5是本实施方式的像抖校正装置的可动部的后视图。图6是本实施方式的像抖校正装置中的固定部的三个视图(主视图、右侧视图、仰视图)。图7是本实施方式的像抖校正装置的主视图。另外，图7示出了从像抖校正装置卸下磁路单元后的状态。图8是本实施方式的像抖校正装置的主视图和右侧视图。另外，图8示出了从图7的状态组装磁路单元后的状态。图9是沿图8的[9]-[9]线的剖视图。图10是取出并示出本实施方式的像抖校正装置中的磁路单元和位置检测单元的要部分解立体图。

如上所述，本发明的一个实施方式的像抖校正装置50是通过使包含第7镜头保持框的可动部51在与光轴O垂直的面内移动，而进行像抖校正的组装体(单元)，其中，该第7镜头保持框保持第7透镜组27。

如图3等所示，本实施方式的像抖校正装置50主要由可动部51、固定部61、包含磁路单元70的VCM驱动部(使用磁致动器的驱动手段)和挠性印刷基板59等构成。

可动部51是包含第7镜头保持框的结构部，该第7镜头保持框保持构成镜头镜筒30A中的摄像光学系统的多个摄像透镜组(21～29)中的第7透镜组27。

该可动部51被保持在固定部61的内部，构成为能够在与进入到光学部件(第7透镜组27)的光线的光轴O垂直的面内相对于固定部61移动。根据该结构，本实施方式的像抖校正装置50根据规定的像抖校正信号，进行相对于固定部61向消除像抖的方向驱动可动部51的控制，获得像抖校正效果。该用途的基本结构与现有的像抖校正装置中的基本结构大致相同。以下，简单说明可动部51的结构。

主要如图4、图5等所示，可动部51由是基本结构部且是第7镜头保持框的可动部主体55、分别配设于该可动部主体55上的规定部位的多个结构部件即多个驱动用线圈52、霍尔元件(53x、53y；详细内容将后述)、第7透镜组27等构成。

可动部主体55整体上由圆环状的平板部件构成，在大致中央部分形成有开口55a。在该开口55a固定设置有第7透镜组27，该第7透镜组27是构成摄像光学系统的光学部件的一部分。

在可动部主体55的外周缘部附近的一个面(正面侧)上，分别在规定部位配设有：多个(四个)驱动用线圈52，它们用于驱动该可动部51；以及霍尔元件(53x、53y)，它们是构成位置检测单元的一部分的多个(两个)位置检测用元件，该位置检测单元是用于检测以该可动部51的光轴O为中心的X-Y方向的位置的位置检测手段。

上述四个驱动用线圈52以包围可动部主体55的开口55a(即第7透镜组27)的方式，在以光轴O为中心的径向上隔开角度90度间隔地配置有四个。这时，各驱动用线圈52的空芯部被配置为朝向与光轴O垂直的方向。而且，各驱动用线圈52分别与磁路单元70(详细后述)所包含的多个驱动用磁铁71、72对置配置，并固定设置于可动部主体55，该磁路单元70设置于处于组装了该像抖校正装置50的状态时的固定部61。

另外，在上述各驱动用线圈52中，隔着开口55a对峙的线圈彼此经由挠性印刷基板59(参照图3)串联连接。

位置检测用的多个(两个)霍尔元件(53x、53y)配设于固定部61的各规定的位置，配置于分别与多个位置检测用磁铁(62x、63x、62y、63y)对置的位置(详细内容将后述)，该多个位置检测用磁铁(62x、63x、62y、63y)构成作为位置检测手段的位置检测单元的其他一部分。

即，由上述多个霍尔元件(53x、53y)和上述多个位置检测用磁铁(62x、63x、62y、63y)构成磁检测式的位置检测单元。

在该情况下，X方向的位置检测单元80x(参照图9)由一个霍尔元件53x和一对位置检测用磁铁62x、63x构成。同样，Y方向的位置检测单元由一个霍尔元件53y和一对位置检测用磁铁62y、63y构成。

这里，霍尔元件53x是在与光轴O垂直的面内检测可动部51在X方向上的位置的位置检测元件。此外，霍尔元件53y是在与光轴O垂直的面内检测可动部51在Y方向上的位置的位置检测元件。作为该情况下的可动部51的基准位置，例如是以光轴O为基准的位置。

经由挠性印刷基板59(参照图3)进行向各霍尔元件(53x、53y)的供电和信号的输出。各霍尔元件(53x、53y)被配设成为能够检测Z方向、即沿着光轴O的方向的磁通强度的朝向。

此外，在可动部主体55的背面(与线圈配设面相反侧的面)侧上，在上述开口55a的周缘区域的规定部位形成有多个(三个)球承受面54。该球承受面54是用于承受球66的平面部，该球66分别配置于固定部61的多个(三个)球承受部64。在本实施方式中示出了如下的例子：在可动部主体55的背面，在周向上隔开角度大致120度间隔地形成有三个球承受面54。

另外，在可动部主体55和固定部主体65(后述)之间例如张挂有线圈状且紧缩性的施力弹簧(未图示)。在上述可动部主体55的周向上隔开角度大致120度间隔地形成有三个该施力弹簧。根据该结构，可动部主体55经由上述球66对固定部主体65进行施力。因此，可动部主体55构成为能够相对于固定部主体65在规定的面内(与光轴O垂直的面内)移动顺畅。

接着，主要如图6所示，固定部61还是以能够在与光轴O垂直的平面内移动的状态收纳上述可动部51的结构单元。该用途的该固定部61的基本结构与现有的像抖校正装置中的基本结构大致相同。以下，简单说明固定部61的结构。

固定部61由以下部件等构成：作为基本结构部的固定部主体65、固定部主体65上的规定部位所分别配设的多个结构部件即包含驱动用磁铁71、72的多个(四个)磁路单元70、和球66。

固定部主体65是由如下部件构成的壳体单元：圆环形状的平板部65b，其在大致中央部分形成有开口65a；以及筒状部65c，其形成为围绕该平板部65b的外周缘。如上所述，上述可动部主体55以在规定方向上移动自如的方式收纳配置在该固定部主体65的内部。

在固定部主体65的筒状部65c中形成有用于搭载磁路单元70(详细后述)的多个缺口部65d。在筒状部65c的周向上，绕光轴O隔开角度90度间隔地形成有四个该缺口部65d。

而且，在将上述可动部51收纳配置于上述固定部主体65的内部时，上述第7透镜组27与开口65a对置配置。这时，以第7透镜组27的光轴O通过开口65a的大致中心点的方式，设定了可动部51相对于该固定部61的配置。即，开口65a是使透过上述第7透镜组27的光束通过的开口。

此外，在固定部主体65的平板部65b的一个面(正面侧；与可动部主体55对置的面)上形成有多个(三个)球承受部64。示出了本实施方式中的球承受部64在固定部主体65的平板部65b的周向上隔开角度大致120度间隔地形成有三个的例子(参照图6)。

在上述球承受部64中收纳配置有球66。这里，球66例如应用使用了钢球等金属制或陶瓷球等的硬质球体。此外，作为球承受部64的深度尺寸，设定为至少比球66的直径小。即，在将球66收纳在球承受部64的内部时，成为球66的一部分比球承受部64的上表面突出的状态。

并且，在上述固定部主体65的平板部65b的、与配设有上述球承受部64的面相同的面上，在各规定的部位配置有多个位置检测用磁铁。

在本实施方式中，关于该多个位置检测用磁铁，具有与X方向的位置检测用的霍尔元件53x对应的一对位置检测用磁铁62x、63x、和与Y方向的位置检测用的霍尔元件53y对应的一对位置检测用磁铁62y、63y。

这里，在正规的状态下组装了上述可动部51和上述固定部61时，上述X方向的一对位置检测用磁铁62x、63x配设于与X方向的霍尔元件53x对置的位置。上述一对位置检测用磁铁62x、63x被配置为不同的磁极与霍尔元件53x的表面对置。上述一对位置检测用磁铁62x、63x沿着从光轴O远离的方向，依次在径向上排列配置。其中，将配设于外周侧的位置检测用磁铁62x称作第1位置检测用磁铁(第1磁铁)、配设于内周侧的位置检测用磁铁63x称作第2位置检测用磁铁(第2磁铁)。因此，上述一对位置检测用磁铁62x(第1磁铁)、63x(第2磁铁)沿着从光轴O远离的方向依次配置。

上述Y方向的一对位置检测用磁铁62y、63y也同样在径向上排列配置。即，将配设于外周侧的位置检测用磁铁62y称作第1位置检测用磁铁(第1磁铁)、配设于内周侧的位置检测用磁铁63y称作第2位置检测用磁铁(第2磁铁)。

而且，构成为分别从第1位置检测用磁铁(62x、62y)和第2位置检测用磁铁(63x、63y)到达各霍尔元件(53x、53y)的表面的磁通密度的大小不同。

例如，配设于内周侧的第2位置检测用磁铁63x、63y使用磁力比配设于外周侧的第1位置检测用磁铁62x、62y大的磁铁。这是由于如下所示的理由。

即，在上述一对位置检测用磁铁62x、63x和上述一对位置检测用磁铁62y、63y中，相比于配设于外周侧的第1位置检测用磁铁62x、62y，配设于内周侧的第2位置检测用磁铁63x、63y成为通过磁路单元70所包含的驱动用磁铁71、72的磁力(磁通密度)而抵消的磁极的朝向。考虑该状况，在本实施方式的像抖校正装置50中，成为被驱动用磁铁71、72的磁力抵消的磁极的朝向的第2位置检测用磁铁(63x、63y)使用了较大磁力的磁铁。利用该结构，消除了来自驱动用磁铁71、72的磁力的影响，确保了更高的位置检测精度(详细内容将后述)。

此外，例如，第1位置检测用磁铁62x、62y和第2位置检测用磁铁63x、63y均由长方体形状构成，使用了仅沿着光轴O的方向的长度不同的形状。在该情况下，第1位置检测用磁铁62x、62y使用了沿着光轴O的方向的长度比第2位置检测用磁铁63x、63y短的形状。

换言之，设第1位置检测用磁铁62x、62y的光轴方向的长度为标号H1、第2位置检测用磁铁63x、63y的光轴方向的长度为标号H2的情况下(参照图9)，H1<H2。此外，在该情况下，优选设定为在H2/H1＝H时，1<H≦2。

另一方面，分别在多个(四处)缺口部65d处，以沿图7的箭头S所示的方向插入的方式配设有磁路单元70。而且，在该状态下，磁路单元70粘接固定于固定部61的固定部主体65。

主要如图9、图10所示，上述磁路单元70主要由多个(两个)驱动用磁铁71、72和多个(三个)磁轭73、74、75构成。这里，将两个驱动用磁铁71、72中的一方称作第1驱动用磁铁71、将另一方称作第2驱动用磁铁72。此外，多个(三个)磁轭73、74、75均是磁性体。其中，分别将磁轭73称作第1磁性体、磁轭74称作第2磁性体、磁轭75称作第3磁性体。

这些磁铁71、72和磁轭73、74、75交替组合地组装。由此，如图9所示，其截面整体上形成为大致E字形状。即，具体而言，例如，两个驱动用磁铁71、72隔着第1磁轭73的一端配设。这时，两个驱动用磁铁71、72的磁极配设为相同的磁极隔着第1磁轭73对置。在第2磁轭74的一端配设有第1磁铁71的一个面，在第3磁轭75的一端配设有第2磁铁72的一个面。如上所述，这样组装的磁路单元70沿图7的箭头S方向，插入固定部主体65的缺口部65d。而且，各磁路单元70构成为，在以正规的状态组装了配设于各缺口部65d的状态的固定部61和可动部51时，各磁路单元70分别与可动部51的各驱动用线圈52对置配置(参照图9)。这时，磁路单元70中的第1磁轭73以贯通的方式插入可动部51的驱动用线圈52的空芯部52a(参照图9)。

另外，在本实施方式的像抖校正装置50中，上述四个驱动用线圈52和四个磁路单元70构成VCM驱动部，该驱动部用于相对于固定部61驱动可动部51而进行像抖校正驱动。

这样构成的本实施方式的像抖校正装置50中的其他结构与现有的像抖校正装置中的基本结构大致相同。

在这样构成的本实施方式的像抖校正装置50中，如上所述，特别是如图9等所示，VCM驱动部的磁路单元70所包含的两个驱动用磁铁(71、72)、和多个位置检测用磁铁(62x、63x、62y、63y)配置于接近的位置。

具体说明的话，例如在图9所示的例中，与X方向的位置检测用的霍尔元件53x对应的一对位置检测用磁铁62x、63x、和磁路单元70所包含的两个驱动用磁铁71、72配置在接近的位置。此外，与Y方向的位置检测用的霍尔元件53y对应的一对位置检测用磁铁62y、63y、和磁路单元70的两个驱动用磁铁71、72的位置关系也大致相同(参照图8等)。

在采用了这样的结构的情况下，驱动用磁铁71、72的磁力例如经由驱动用线圈52的空芯部52a漏出到外部，由此有时对配置在其附近的一对位置检测用磁铁(62x、63x和62y、63y)造成影响(参照图9)。在该情况下，从该部位漏出的磁力有可能对一对位置检测用磁铁(62x、63x和62y、63y)中的、与驱动用磁铁71、72对置的磁极朝向的一方(即，配设于内周侧的一方)的第2位置检测用磁铁63x、63y造成更多的影响。其结果，还有时无法获得必要的位置检测精度。

因此，在本实施方式中，作为用于更可靠地获得必要的位置检测精度的设计，使用了如下的结构：一对位置检测用磁铁62x、63x中的一方即按照与驱动用磁铁71、72相对的磁极配置的一方(配设于内周侧的一方)的第2位置检测用磁铁63x的磁力(磁通密度)比按照与驱动用磁铁71、72相同方向的磁极配置的一方(配设于外周侧的一方)的第1位置检测用磁铁62x大。

这里，图11是进一步简略示出图10所示的像抖校正装置的结构，并说明进入霍尔元件的磁通伴随可动部的移动而发生变化的原因的说明图。另外，在图11中，相对于图10所示的状态，使上下反转地进行了图示。此外，省略了对各部件标注的标号或阴影记述，以避免附图的复杂化，并明确示出磁力线，但假设这些标号和阴影以图9为基准。

而且，图12是在本发明的一个实施方式和现有结构的像抖校正装置中对进入各霍尔元件的磁通相对于可动部的移动距离的变化进行比较的曲线图。

本实施方式的像抖校正装置的磁路单元70所包含的驱动用磁铁71、72的各磁极的磁力能够用图11的标号A、B、C所示的磁力线表示。其中的磁力A被磁轭73吸收，所以该磁力A不会对位置检测单元80x(霍尔元件53x)造成影响。

此外，磁力B位于从位置检测单元80x(霍尔元件53x)充分远离的位置，且该磁力B的朝向面向与该位置检测单元80x所在的位置相反的方向，所以可以也不考虑其影响。

磁力C进入按照与驱动用磁铁71、72相同方向的磁极配置的第1磁铁62x，与该第1磁铁62x的磁力(参照标号D)混合，进入位置检测单元80x的霍尔元件53x，由此，对位置检测精度造成影响。

另一方面，该磁力C通过按照与驱动用磁铁71、72相对的磁极配置的第2磁铁63x的磁力(标号E参照)而被减弱，进入位置检测单元80x的霍尔元件53x，由此，对位置检测精度造成影响。

这里，霍尔元件53x安装于在图11所示的箭头X方向上移动的可动部主体55。由此，霍尔元件53x也在相同方向(箭头X方向)上移动。在该移动过程中，接收来自第1(位置检测用)磁铁62x和第2(位置检测用)磁铁63x的磁通，由此进行位置检测。

即，在可动部主体55(霍尔元件53x)位于基准位置时，如图12所示，进入霍尔元件53x的Z方向的磁通为零。这里，基准位置是指进入霍尔元件53x的Z方向的磁通为正负零(±0)的位置。如上所述，第1磁铁62x的磁极的朝向和第2磁铁63x的磁极的朝向被配置为相反。因此，在可动部主体55(霍尔元件53x)位于基准位置时，第1磁铁62x的磁通和第2磁铁63x的磁通相互抵消，所以进入霍尔元件53x的Z方向的磁通为正负零。

在可动部主体55(霍尔元件53x)从该基准位置向图11的箭头X1方向移动时，如图12所示，进入霍尔元件53x的Z方向的磁通接收负向的磁通。这时，霍尔元件53x的位置越向图11、图12的箭头X1方向移动(越远离基准位置)，进入该霍尔元件53x的磁通越大。

另一方面，在可动部主体55(霍尔元件53x)从上述基准位置向图11的箭头X2方向移动时，如图12所示，进入霍尔元件53x的Z方向的磁通接收正向的磁通。这时，霍尔元件53x的位置越向图11、图12的箭头X2方向移动(越远离基准位置)，进入该霍尔元件53x的磁通越大。

在该情况下，在本实施方式的像抖校正装置的结构中，使用了如下结构：一对位置检测用磁铁(62x、63x)中的一方，即第2磁铁63x(按照与驱动用磁铁71、72相对的磁极配置的一方)的磁力(磁通密度)比第1位置检测用磁铁62x(按照与驱动用磁铁71、72相同方向的磁极配置的一方)的磁力(磁通密度)大。

因此，根据该结构，在可动部主体55(霍尔元件53x)向箭头X1方向移动时，霍尔元件53x接收磁力C+磁力D的磁力。另一方面，在可动部主体55(霍尔元件53x)向箭头X2方向移动时，霍尔元件53x接收磁力E-磁力C的磁力。

这里，在本实施方式的像抖校正装置的结构中，以(磁力C+磁力D)≒(磁力E-磁力C)的方式设定一对位置检测用磁铁(62x、63x)的磁力(磁通密度)。

另外，在上述的说明中，列举X方向的位置检测单元(80x)为例进行了说明，但Y方向的位置检测单元也采用完全相同的结构。

通过采用这样的结构，如图12中的实线所示，本实施方式的像抖校正装置50能够构成为，进入各霍尔元件(53x、53y)的磁通相对于可动部51的移动距离的变化为直线。因此，由此，本实施方式的像抖校正装置50能够确保较高的位置检测精度。

另外，图12中所示的虚线例如示出在一对位置检测用磁铁62x、63x构成为使用具有同等磁力的磁铁的情况下，进入各霍尔元件(53x、53y)的磁通相对于可动部51的移动距离的变化。在该情况下，一对位置检测用磁铁62x、63x受到驱动用磁铁71、72的影响，进入各霍尔元件(53x、53y)的磁通相对于可动部51的移动的变化为非直线。因此，无法进行正确的位置检测。

如以上所说明那样，上述一个实施方式的像抖校正装置50是具有如下部件的像抖校正装置50：可动部51，其构成为包含多个摄像透镜组中的规定的摄像透镜组(第7透镜组27)；以及VCM驱动部，其通过使用驱动用线圈52和驱动用磁铁71、72，相对于固定部61驱动可动部51。该像抖校正装置50具有：位置检测元件(53x、53y)，其配置于可动部51；以及一对位置检测用磁铁62x、63x和一对位置检测用磁铁62y、63y，它们在分别与各位置检测元件(53x、53y)对置的各位置处配置于可动部51。

这里，一对位置检测用磁铁62x、63x和一对位置检测用磁铁62y、63y分别被配置为不同的磁极与各位置检测元件(53x、53y)的表面对置。在该情况下，一对位置检测用磁铁62x、63x中的一方的位置检测用磁铁62x是第1磁铁。此外，另一方的位置检测用磁铁63x是第2磁铁。同样，一对位置检测用磁铁62y、63y中的一方的位置检测用磁铁62y是第1磁铁。此外，另一方的位置检测用磁铁63y是第2磁铁。

在该情况下，第1磁铁和第2磁铁沿着从光轴O远离的方向依次配置，该光轴O是进入到摄像透镜(27)的光束的中心。而且，构成为使分别从第1磁铁和第2磁铁到达位置检测元件(53x、53y)的表面的磁通密度的大小不同。

例如应用了第2磁铁的磁力比第1磁铁的磁力大的结构。此外，第1磁铁和第2磁铁应用了由仅沿着光轴O的方向的长度不同的长方体形状构成的结构。

具体而言，在本实施方式的情况下，例如，作为第1磁铁(第1位置检测用磁铁62x、62y)的大小，设定为大概纵5mm×横1.5mm×光轴方向厚度0.8mm。与此相对，作为第2磁铁(第2位置检测用磁铁63x、63y)的大小，设定为大概纵5mm×横1.5mm×光轴方向厚度1.2mm。

即，如上所述，通过设定为使沿着第2磁铁(63x、63y)的光轴O的方向的长度(厚度尺寸；1.2mm)比沿着第1磁铁(62x、62y)的光轴O的方向的长度(厚度尺寸；0.8mm)大，在本实施方式中，设定为第2磁铁(63x、63y)的磁力比第1磁铁(62x、62y)大，并设定为到位置检测元件(53x、53y)的表面的距离不同。

根据这样的结构，根据上述一个实施方式的像抖校正装置50，由于能够使进入各霍尔元件(53x、53y)的磁通相对于可动部51的移动距离的变化为直线，所以能够打消来自驱动用磁铁71、72的磁力的影响，确保更高的位置检测精度。

另外，在上述一个实施方式中，作为像抖校正装置的形式，构成为了将驱动用线圈52设置于具有摄像透镜(27)的可动部51，将驱动用磁铁71、72(磁路单元70)设置于固定部61，但该结构例不限于此。

例如，也可以是将包含驱动用磁铁71、72的磁路单元70设置于可动部51，将驱动用线圈52设置于固定部61的结构。

此外，在上述一个实施方式中，作为使摄像透镜(27)在与光轴O垂直的面内移动的形式的光学式像抖校正装置进行了例示，但应用本发明的像抖校正装置的形式不限于该形式。例如，本发明也完全能够同样地应用于将摄像元件11设置于可动部51，使摄像元件11在与光轴O垂直的面内移动的形式的像抖校正装置。

[变形例]

在上述的一个实施方式中，使分别从第1磁铁和第2磁铁到达位置检测元件的表面的磁通密度的大小不同，作为该具体例，示出了如下构成方式：通过使用仅沿着光轴的方向的长度不同的长方体形状的第1磁铁和第2磁铁，使第2磁铁的磁力比第1磁铁的磁力大。以下说明与上述一个实施方式所示的实施方式不同的结构例。

[第1变形例]

图13是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第1变形例的主要部分放大剖视图。图13相当于上述一个实施方式中的图9。因此，在图13中仅图示了X方向的位置检测单元(80Ax)，Y方向的位置检测单元由与X方向的位置检测单元大致相同的结构构成，省略其图示。而且，在以下的说明中，仅对X方向的位置检测单元(80Ax)进行说明。

在第1变形例中，X方向的位置检测单元80Ax由一对位置检测用磁铁62Ax、63Ax和霍尔元件53x构成。其中的一对位置检测用磁铁62Ax、63Ax(设为第1磁铁62Ax、第2磁铁63Ax)形成为相同形状(例如长方体形状)且大致相同尺寸，且使用不同的磁性材料形成。

具体而言，在本变形例的情况下，例如，第1磁铁62Ax使用残留磁通密度Br＝大约0.8[T]左右的磁铁，第2磁铁63Ax使用残留磁通密度Br＝大约1.3[T]的磁铁。这样，构成为第2磁铁63Ax的磁力比第1磁铁62Ax的磁力大。由此，构成为使从各个磁铁(62Ax、63Ax)到达霍尔元件53x(位置检测元件)的表面的磁通密度的大小不同。作为这种结构，也能够得到与上述一个实施方式相同的效果。

[第2变形例]

图14是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第2变形例的主要部分放大剖视图。图14也相当于上述一个实施方式中的图9。此外，在图14中也仅图示了X方向的位置检测单元(80Bx)，Y方向的位置检测单元由与X方向的位置检测单元大致相同的结构构成，省略其图示。而且，在以下的说明中，仅对X方向的位置检测单元(80Bx)进行说明。

在第2变形例中，X方向的位置检测单元80Bx由一对位置检测用磁铁62Bx、63Bx、和霍尔元件53x构成。其中的一对位置检测用磁铁62Bx、63Bx(设为第1磁铁62Bx、第2磁铁63Bx)形成为相同形状(例如长方体形状)且大致相同尺寸。具体而言，在本变形例的情况下，例如，使用了第1磁铁62Bx和第2磁铁63Bx为相尺寸(例如，纵5mm×横1.5mm×光轴方向厚度1.2mm)的磁铁。而且，这一对位置检测用磁铁62Bx、63Bx被配置为使沿着光轴O的方向(Z轴方向)的位置不同。即，一对位置检测用磁铁中的一方的第1磁铁62Bx被配置为到霍尔元件53x的表面的距离比另一方的第2磁铁63Bx远。即，在本变形例的结构中，改变沿着光轴O的方向上的位置地配置第1磁铁62Bx和第2磁铁63Bx。具体而言，被配置为第1磁铁62Bx的到位置检测元件(53x)的表面的距离比第2磁铁63Bx更远。因此，构成为第2磁铁63Bx的磁力比第1磁铁62Bx的磁力大，因此，构成为使从各磁铁到达霍尔元件53x的表面的磁通密度的强度不同。根据这样的结构，使从各磁铁到达位置检测元件(53x)的表面的磁通密度的大小不同。

作为这种结构，也能够得到与上述一个实施方式相同的效果。

[第3变形例]

图15是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第3变形例的主要部分放大剖视图。图15也相当于上述一个实施方式中的图9。此外，在图15中仅图示了X方向的位置检测单元(80Cx)，Y方向的位置检测单元由与X方向的位置检测单元大致相同的结构构成，省略其图示。而且，在以下的说明中，仅对X方向的位置检测单元(80Cx)进行说明。

第3变形例示出了磁路单元(70C)的形式与上述一个实施方式不同的例子。即，在上述的一个实施方式中，磁路单元70(参照图9等)使用了截面形成为大致E字形状的部件。与此相对，如图15所示，本变形例中的磁路单元70C将驱动用线圈52C在与光轴O垂直的方向上配置在可动部主体55C上。此外，与此对应地，构成为如下方式：在分别与驱动用线圈52C对置的位置处，隔着磁轭73C将两个驱动用磁铁71C、72C配置在固定部主体65C上。

在这样的结构中，X方向的位置检测单元80Cx由一对位置检测用磁铁62Cx、63Cx和霍尔元件53x构成。其中的一对位置检测用磁铁62Cx、63Cx(设为第1磁铁62Cx、第2磁铁63Cx)形成为仅沿着光轴O的方向的长度不同的长方体形状。

即，一对位置检测用磁铁中的一方的第1磁铁62Cx形成为到霍尔元件53x的表面的距离比另一方的第2磁铁63Cx远。由此，构成为第2磁铁63Cx的磁力比第1磁铁62Cx的磁力大，由此，构成为使从各磁铁到达霍尔元件53x的表面的磁通密度的强度不同。作为这种结构，也能够得到与上述一个实施方式相同的效果。

[第4变形例]

图16是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第4变形例的主要部分放大剖视图。图16也相当于上述一个实施方式中的图9。此外，在图16中也仅图示了X方向的位置检测单元(80Dx)，Y方向的位置检测单元由与X方向的位置检测单元大致相同的结构构成，省略其图示。而且，在以下的说明中，仅对X方向的位置检测单元(80Dx)进行说明。

在第4变形例中，X方向的位置检测单元80Dx由一对位置检测用磁铁62Dx、63Dx和霍尔元件53x构成。其中的一对位置检测用磁铁62Dx、63Dx(设为第1磁铁62Dx、第2磁铁63Dx)均由长方体形状构成，使用仅与光轴O垂直的方向的长度不同的形状。在该情况下，第1磁铁62Dx使用了与光轴O垂直的方向的长度比第2磁铁63Dx短的形状。

换言之，构成为在设第1磁铁62Dx的与光轴垂直的方向的长度为标号R1、第2磁铁63Dx的与光轴垂直的方向的长度为标号R2的情况下(参照图15)，R1<R2。此外，在该情况下，优选设定为在R2/R1＝R时，1<R≦2。

具体而言，例如，在设第1磁铁62Dx的长度R1＝2.0mm、第2磁铁63Dx的长度R2＝2.5mm的情况下，成为R＝2.5[mm]/2.0[mm]＝1.25，满足上述条件「1<R≦2」。

根据该结构，能够构成为第1磁铁62Dx的磁力<第2磁铁63Dx的磁力。因此，由此，构成为使从各磁铁到达霍尔元件53x的表面的磁通密度的强度不同。

作为这种结构，也能够得到与上述一个实施方式相同的效果。

[第5变形例]

图17是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第5变形例的主要部分放大剖视图。图17也相当于上述一个实施方式中的图9。此外，在图17中也仅图示了X方向的位置检测单元(80Ex)，Y方向的位置检测单元由与X方向的位置检测单元大致相同的结构构成，省略其图示。而且，在以下的说明中，仅对X方向的位置检测单元(80Ex)进行说明。

在第5变形例中，X方向的位置检测单元80Ex由一对位置检测用磁铁62Ex、63Ex和霍尔元件53x构成。其中的一对位置检测用磁铁62Ex、63Ex(设为第1磁铁62Ex、第2磁铁63Ex)均由长方体形状构成，使用了沿着光轴O的方向的长度和与光轴O垂直的方向的长度均不同的形状。

即，使用了第1磁铁62Ex的沿着光轴O的方向的长度和与光轴O垂直的方向的长度均比第2磁铁63Ex短的形状。根据该结构，构成为第1磁铁62Ex的磁力比第2磁铁63Ex磁力弱，即第1磁铁62Ex的磁力<第2磁铁63Ex的磁力。作为这种结构，也能够得到与上述一个实施方式相同的效果。

[第6变形例]

图18是示出本发明的一个实施方式的像抖校正装置的第6变形例的主要部分放大剖视图。图18也相当于上述一个实施方式中的图9。此外，在图18中也仅图示了X方向的位置检测单元(80Fx)，Y方向的位置检测单元由与X方向的位置检测单元大致相同的结构构成，省略其图示。而且，在以下的说明中，仅对X方向的位置检测单元(80Fx)进行说明。

在第6变形例中，X方向的位置检测单元80Fx由一对位置检测用磁铁62Fx、63F和霍尔元件53x构成。其中的一对位置检测用磁铁62Fx、63Fx(设为第1磁铁62Fx、第2磁铁63Fx)均由长方体形状构成，使用了沿着光轴O的方向的长度和与光轴O垂直的方向的长度均不同的形状。

在该情况下，在本变形例中，设为沿着光轴O的方向的长度上的第1磁铁62Fx>第2磁铁63Fx、与光轴O垂直的方向的长度上的第1磁铁62Fx<第2磁铁63Fx。即使是这样的结构，也构成为第1磁铁62Fx的磁力比第2磁铁63Fx的磁力弱，即第1磁铁62Fx的磁力<第2磁铁63Fx的磁力。作为这种结构，也能够得到与上述一个实施方式相同的效果。

另外，关于与霍尔元件53x对置设置的一对位置检测用磁铁的表面形状，通常由与霍尔元件53x的对置面大致平行的平面形成。但是，一对位置检测用磁铁的表面形状不限于平面形状，也可以为其他形状。例如，也可以为使一对位置检测用磁铁的表面相对于霍尔元件53x的对置面倾斜的形状。此外，也可以通过具有多个凹凸的形状或球面形状等与平面不同的不同形状来形成一对位置检测用磁铁的表面形状。

本发明不限于上述实施方式，当然能够在不脱离发明主旨的范围内实施各种变形和应用。并且，上述实施方式包含了各种阶段的发明，可以通过所公开的多个结构要素的适当组合提取各种发明。例如，即使从上述一个实施方式所示的全部结构要素中删除几个结构要素，也能够解决发明要解决的课题，并且，在能够得到发明效果的情况下，删除了该结构要素的结构也可以作为发明而被提取。并且，可适当组合不同实施方式的结构要素。本发明除了被附件权利要求限定以外，不被其特定的实施方式制约。

本发明不限于数字照相机等摄像功能特殊化的电子设备即摄像设备，同样还能够广泛应用于具备摄像功能的其他形式的电子设备，例如摄影机、移动电话、智能手机、录音设备、电子记事本、个人计算机、平板终端设备、游戏设备、移动电视、钟表、利用了GPS(Global Positioning System：全球定位系统)的导航设备等各种带摄像功能的电子设备。

此外，同样能够适用于具有使用摄像元件取得图像、并在显示装置上显示该取得图像的功能的电子设备，例如望远镜、双筒镜、显微镜等观察用设备。

并且，除了内窥镜、显微镜这样的产业用或者医疗用的观察设备等以外，即使是监控摄像机及车载用摄像机等摄像装置也能够同样地进行应用。

除了这些以外，还同样能够适用于例如使用透过型液晶显示装置等来对图像进行放大投影的投影型图像显示装置等。

Claims (8)

1.一种像抖校正装置，其具有：可动部，其具有摄像元件或摄像透镜；以及VCM驱动部，该VCM驱动部使用线圈和驱动用磁铁而相对于固定部驱动上述可动部，其特征在于，该像抖校正装置具有：

位置检测元件，其配置于上述可动部和上述固定部中的一方；以及

一对位置检测用磁铁，它们配置于与上述位置检测元件对置的位置，并配置于上述可动部和上述固定部中的另一方，

上述一对位置检测用磁铁是被配置成不同的磁极与上述位置检测元件的表面对置的第1磁铁和第2磁铁，

上述第1磁铁和上述第2磁铁沿着从光轴远离的方向依次配置，该光轴是进入到上述摄像元件或上述摄像透镜的光束的中心，

分别从上述第1磁铁和上述第2磁铁到达上述位置检测元件的表面的磁通密度的大小不同。

2.根据权利要求1所述的像抖校正装置，其特征在于，

上述一对位置检测用磁铁中的上述第2磁铁还具有抵消来自附近单元的磁力的影响的功能。

3.根据权利要求2所述的像抖校正装置，其特征在于，

上述第2磁铁的磁力比上述第1磁铁的磁力大。

4.根据权利要求3所述的像抖校正装置，其特征在于，

上述第1磁铁和上述第2磁铁形成为仅沿着上述光轴的方向的长度不同的长方体形状。

5.根据权利要求3所述的像抖校正装置，其特征在于，

上述第1磁铁和上述第2磁铁由相同形状且相同尺寸的长方体形状构成，由不同的材料形成。

6.根据权利要求3所述的像抖校正装置，其特征在于，

上述第1磁铁和上述第2磁铁由相同形状且相同尺寸的长方体形状构成，被配置为沿着光轴的方向的位置不同。

7.根据权利要求3所述的像抖校正装置，其特征在于，

上述第1磁铁和上述第2磁铁形成为仅与上述光轴的方向垂直的方向的长度不同的长方体形状。

8.根据权利要求3所述的像抖校正装置，其特征在于，

上述第1磁铁和上述第2磁铁形成为沿着上述光轴的方向的长度和与上述光轴的方向垂直的方向的长度均不同的长方体形状。