CN107533024B - 非破坏检查系统及临界点检测系统 - Google Patents

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CN107533024B CN201580078510.3A CN201580078510A CN107533024B CN 107533024 B CN107533024 B CN 107533024B CN 201580078510 A CN201580078510 A CN 201580078510A CN 107533024 B CN107533024 B CN 107533024B
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Abstract

非破坏检查系统具有:驱动装置(105),其对输送检查对象(107)的输送装置(106)进行驱动;激励装置(104),其对由输送装置(106)输送的检查对象(107)的表面施加热;控制装置(102),其对驱动装置(105)及激励装置(104)进行控制;拍摄装置(103),其对由激励装置(104)在表面施加了热的检查对象(107)的面图像进行拍摄;以及可编程显示器(100),该可编程显示器(100)具有:影像数据处理部(16),其进行如下校正,即,将由拍摄装置(103)在不同的定时拍摄到的多个面图像分别分割为多个局部图像,使分割为多个局部图像后的多个面图像各自的检查对象(107)的位置对齐;以及显示生成部(20),其生成将由影像数据处理部(16)校正后的多个面图像沿时序进行切换的动态图像或者沿时序进行重叠的三维图像。

Description

非破坏检查系统及临界点检测系统
技术领域
本发明涉及一种不破坏检查对象物而对检查对象物的内部是否存在缺陷进行检查的非破坏检查系统及临界点检测系统。
背景技术
当前,在以复合材料为代表的不同种材料的接合物的非破坏检查中,主要使用主动式热成像(active thermography)。关于主动式热成像,通过利用如闪光灯这样的激励源对检查对象物的表面进行加热,以动态图像的方式而取得施加于检查对象物的热进行传播的情形,由此取得缺陷的形状、深度、面积以及体积的信息。
主动式热成像是在检查对象物静止的状态下进行运用的,因此难以应用于为了实现高效的节拍时间而使生产件持续移动的制造方式。
在专利文献1中公开了一种试验装置,该试验装置使用热成像而取得表示一个方向上的温度分布的线信息,根据测定对象的移动速度而对线信息进行时序管理,对特定点处的温度分布的变迁进行观察。
专利文献1:日本特表2013-524229号公报
发明内容
在专利文献1中公开的试验装置基于二维的线信息对缺陷进行检测,因此能够对相同素材的均质物体的内部的缺陷进行检测。但是,对于作为不同种材料彼此的接合物而在粘接部处含有气泡、有时还故意设置空隙的复合材料而言,判定其缺陷需要三维的信息,难以实施。
本发明就是鉴于上述情况而提出的,其目的在于得到一种能够一边输送作为复合材料的检查对象一边对内部的缺陷进行检测的非破坏检查系统。
为了解决上述的课题、实现目的,本发明的特征在于,具有:驱动装置,其对输送检查对象的输送装置进行驱动;激励装置,其对由输送装置输送的检查对象的表面施加热;控制装置,其对驱动装置及激励装置进行控制;拍摄装置,其对由激励装置在表面施加了热的检查对象的面图像进行拍摄;以及可编程显示器,该可编程显示器具有影像数据处理部和显示生成部,该影像数据处理部进行如下校正,即,将由拍摄装置在不同的定时拍摄到的多个面图像分别分割为多个局部图像,使分割为多个局部图像后的多个面图像各自的检查对象的位置对齐,该显示生成部生成将由影像数据处理部校正后的多个面图像沿时序进行切换的动态图像或者沿时序进行重叠的三维图像。
发明的效果
本发明涉及的非破坏检查系统取得能够一边输送作为复合材料的检查对象一边对内部的缺陷进行检测的效果。
附图说明
图1是表示本发明的实施方式1涉及的非破坏检查系统的结构的图。
图2是表示在实施方式1涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。
图3是表示在实施方式1涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的硬件结构的图。
图4是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的动作的流程的流程图。
图5是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的检查对象的一个例子的斜视图。
图6是示意地表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的影像数据处理部的处理的图。
图7是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的显示生成部生成的检查结果的动态图像的一个例子的图。
图8是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的显示生成部生成的检查结果的三维图像的一个例子的图。
图9是表示由实施方式1涉及的非破坏检查系统的影像数据处理部进行的剔除处理的一个例子的图。
图10是表示在本发明的实施方式2涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。
图11是表示在实施方式2涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的反馈处理的图。
图12是表示在本发明的实施方式3涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。
图13是表示在本发明的实施方式4涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。
具体实施方式
下面,基于附图对本发明的实施方式涉及的非破坏检查系统及临界点检测系统进行详细说明。此外,本发明并不限定于这些实施方式。
实施方式1.
图1是表示本发明的实施方式1涉及的非破坏检查系统的结构的图。实施方式1涉及的非破坏检查系统是对测定对象物中的临界点进行检测的临界点检测系统的一个方式。实施方式1涉及的非破坏检查系统具有:输送装置106,其对作为测定对象物的检查对象107进行输送;驱动装置105,其对输送装置106进行驱动;激励装置104,其对由输送装置106输送的检查对象107的表面施加热;控制装置102,其对激励装置104及驱动装置105进行控制;拍摄装置103,其对由激励装置104在表面施加了热的检查对象107的面图像进行拍摄;以及可编程显示器100,其导入由拍摄装置103拍摄的图像而生成解析图像,将所生成的解析图像进行显示。输送装置106是使临界点检测系统中的测定对象物即检查对象107进行移动的移动单元。激励装置104是对移动的检查对象107赋予外在要因的外在要因赋予单元。拍摄装置103是对检查对象107进行拍摄的拍摄单元。可编程显示器100是对拍摄装置103的检查对象107的拍摄图像进行接收、对与利用输送装置106实现的移动量相对应的检查对象107中的外在要因发生变动的临界点进行检测的检测单元,且还是对由检测单元得到的检测结果进行显示的显示单元。
驱动装置105对输送装置106进行驱动而将检查对象107以输送速度M[mm/s]进行输送。
拍摄装置103设置为,在输送装置106的输送方向上的H[mm]、在与输送方向垂直的方向上的V[mm]的范围成为视野。拍摄装置103的帧频为A[张/s],拍摄装置103的分辨率为C×R[dot]。即,拍摄装置103以C×R[dot]的分辨率对H×V[mm×mm]的范围每秒拍摄A张。
图2是表示在实施方式1涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。可编程显示器100具有:控制装置连接接口13,其是用于将控制装置102进行连接的接口;拍摄装置连接接口14,其是用于将拍摄装置103进行连接的接口;判定部15,其进行是否对检查对象107拍摄了解析所需的张数的判定、以及检查结果与设计信息的比较;影像数据处理部16,其进行如下校正,即,将由拍摄装置103在不同的定时拍摄到的多个面图像分别分割为多个局部图像,使分割为多个局部图像后的多个面图像各自的检查对象107的位置对齐;影像数据存储部19,其对由影像数据处理部16从拍摄装置103取得的面图像的数据以及由影像数据处理部16处理后的面图像的数据进行存储;显示生成部20,其生成将由影像数据处理部16校正后的多个面图像沿时序进行切换的动态图像或者沿时序进行重叠的三维图像;输入接受部21,其接受用户的输入操作;以及显示控制部22,其进行将由显示生成部20生成数据后的显示画面进行显示的处理。
图3是表示在实施方式1涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的硬件结构的图。可编程显示器100具有:运算装置31,其执行非破坏检查程序;存储器32,其由运算装置31作为工作区域使用;存储装置33,其对非破坏检查程序进行存储;输入装置34,其是输入用的用户接口;显示装置35,其对信息进行显示;以及通信装置36,其用于与控制装置102进行通信。
图2所示的判定部15是由运算装置31将存储器32作为工作区域而执行非破坏检查程序、对存储装置33读写信息所实现的。影像数据处理部16、显示生成部20是由运算装置31将存储器32作为工作区域而执行非破坏检查程序所实现的。数据存储部19是通过存储装置33实现的。输入接受部21是通过输入装置34实现的。显示控制部22是通过显示装置35实现的。
临界点检测系统中的测定对象物的临界点,是指对测定对象物从外部施加的外在要因发生变动的点,具体地说,能够例举出作为外在要因的热的传播状态发生变化的测定对象物的内部的空洞。另外,关于其他具体例子,能够例举出复合材料中的不同种材料的边界。关于复合材料中的不同种材料的边界的例子,能够例举出嵌入成型品中的树脂与金属的界面。作为临界点检测系统的一个方式的实施方式1涉及的非破坏检查系统,通过外在要因赋予单元即激励装置104对测定对象物即检查对象107施加作为外在要因的热,对外在要因发生变动的缺陷进行检测。
对实施方式1涉及的非破坏检查系统的动作进行说明。图4是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的动作的流程的流程图。在开始图4所示的流程图的处理之前,输入接受部21先接受对输入装置34进行的判定所需的面图像的张数的设定操作。由于判定所需的面图像的张数根据检查对象107的厚度尺寸及导热率而变化,因此由用户设定适当的张数。此外,设定的张数的范围为大于或等于2张,面图像至少要拍摄2张。所设定的张数由判定部15保存。
另外,在开始图4所示的流程图的处理之前,先将与检查结果进行比较的设计信息保存于判定部15。设计信息是检查对象107的CAD(Computer Aided Design)数据。使设计信息保存于判定部15的方法不限定于特定的方法。举一个例子,通过将可编程显示器100与CAD装置连接而将数据进行输入,由此能够使设计信息保存于判定部15。
在步骤S101中,通过控制装置102对激励装置104及驱动装置105进行驱动,一边通过输送装置106对检查对象107进行输送,一边通过激励装置104对检查对象107进行激励。
在步骤S102中,拍摄装置103对检查对象107进行拍摄。
在步骤S103中,影像数据处理部16经由拍摄装置连接接口14而取得由拍摄装置103拍摄的面图像的数据,存储于影像数据存储部19。
在步骤S 104中,判定部15判断是否取得了判定所需的信息。是否取得了判定所需的信息的判断是基于下述情况而进行的,即,由影像数据处理部16从拍摄装置103取得的面图像的数量是否达到了在开始流程图的处理之前通过由输入接受部21接受的设定操作而设定的张数。如果未取得判定所需的信息,则步骤S 104中成为No,在步骤S105中,判定部15待机延迟时间之后进入至步骤S102,该延迟时间考虑了从步骤S102中拍摄面图像起至步骤S105为止的处理时间、输送速度、帧频。
如果取得了判定所需的信息,则在步骤S 104中成为Yes,影像数据处理部16在步骤S106中将多个面图像分别沿输送方向进行分割,生成沿与输送方向正交的方向延伸的线图像而设为局部图像。
图5是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的检查对象的一个例子的斜视图。检查对象107在内部存在球状的缺陷51。对将图5所示的检查对象107设为检查的对象的影像数据处理部16的处理进行说明。图6是示意地表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的影像数据处理部的处理的图。在这里,设为输送速度M=1000[mm/s]。另外,设为帧频A=100[张/s],分辨率C×R=400×300[dot]、视野H×V=800×600[mm×mm]。
从拍摄装置103进行拍摄起至进行下一次拍摄为止的时间为1/A[s]。在图6中,示出了影像数据处理部16对从时刻t起至3/A秒后为止拍摄的四个面图像的处理。
从拍摄装置103进行拍摄起至进行下一次拍摄为止检查对象107移动的距离为M/A=1000/100[mm]。另外,由于拍摄装置103的分辨率和视角的纵横比相等,因此拍摄装置103拍摄的面图像的1dot量的宽度为H/C=800/400=2[mm]。此外,面图像的宽度为输送装置106的输送方向的长度。因此,在从拍摄装置103拍摄面图像起至拍摄下一个面图像为止的期间,检查对象107进行5dot量的移动。
因此,影像数据处理部16在步骤S106的处理中,将由拍摄装置103拍摄的面图像分割为5像素宽度而生成多个线图像。
检查对象107内部的缺陷51在对检查对象107的表面施加的热向检查对象107的内部进行传播时成为热传递的阻碍。因此,在对检查对象107的表面施加热之后,随着时间经过,在存在缺陷51的部分与不存在缺陷51的部分之间检查对象107的表面的温度产生差,检查对象107的表面温度在存在缺陷51的部分处比不存在缺陷51的部分高。关于图5所示的检查对象107,由于缺陷51为球状,因此缺陷51如图6所示地成为与不存在缺陷51的部分相比温度高的圆形的区域,浮现于检查对象107的表面。即,缺陷51的外形的概略形状成为高温的区域,浮现于检查对象107的表面。
在步骤S 107中,影像数据处理部16针对多个面图像而分别将作为局部图像的线图像重新配置,以使检查对象107在面图像内的位置与拍摄时刻无关而成为固定的方式施加校正。即,如图6所示,影像数据处理部16通过进行如下校正,即,将在各拍摄时刻的线图像偏移与从设为基准的时刻起的经过时间相对应的线的对应量而进行重新配置,由此生成针对各拍摄时刻而将检查对象107的位置对齐后的校正图像。
在步骤S 108中,显示生成部20基于各拍摄时刻的校正图像而生成动态图像或三维图像。即,显示生成部20通过将各拍摄时刻的校正图像沿时序进行切换,由此创建检查结果的动态图像。显示生成部20生成的动态图像或三维图像是由可编程显示器100在显示装置35进行显示的解析图像。图7是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的显示生成部生成的检查结果的动态图像的一个例子的图。时序越后侧的校正图像表示检查对象107的与表面相距越远的剖面的检查结果,因此通过将从时刻t起至3/A秒后为止的校正图像连续进行显示,能够确认出在检查对象107存在随着从表面分离而直径变大的剖面圆形的缺陷51。如上所述,可编程显示器100对从拍摄装置103接收到的拍摄图像,与检查对象107的移动量相对应地进行校正,对与时间经过相伴的外在要因发生变动的现象进行显示。
另外,显示生成部20通过将各拍摄时刻的校正图像沿时序进行重叠,由此创建检查对象107的三维图像。图8是表示实施方式1涉及的非破坏检查系统的显示生成部生成的检查结果的三维图像的一个例子的图。通过将从时刻t起至3/A秒后为止的校正图像进行重叠,能够使检查对象107的内部的缺陷51立体地可视化。如上所述,可编程显示器100将从拍摄装置103接收到的每个拍摄图像,与检查对象107的移动量相对应地分割为特定区域的拍摄图像,针对多个拍摄图像,使在拍摄图像中包含的特定区域的拍摄图像重叠显示于显示装置35。在这里的特定区域是沿与输送方向正交的方向延伸的线图像,但如后面所述,特定区域不限定于线图像。
在步骤S109中,判定部15将由显示生成部20生成的动态图像或者三维图像与在判定部15中保存的设计信息进行比较。如上所述,设计信息是检查对象107的CAD数据,即是设计上的理论值。通过将由显示生成部20生成的动态图像或者三维图像与设计信息进行比较,由此能够判断检查对象107是脱离了设计上的规格。这样,可编程显示器100基于对检查对象107的形状特定得出的形状数据,对设计上的理论值和形状数据进行比较,对临界点进行检测。此外,在这里,没有对在检查对象107脱离了设计上的规格的情况下进行什么样的处理进行特定,但举一个例子,可以进行如下处理,即,将脱离了设计上的规格的检查对象107视作不合格品,输送至与正常品不同的场所。
在步骤S110中,显示控制部22通过使由显示生成部20生成的动态图像或者三维图像显示于显示装置35,由此对外在要因发生变动的临界点进行显示。
此外,在从拍摄装置103进行拍摄起至进行下一次拍摄为止检查对象107移动的距离M/A,比由拍摄装置103拍摄的面图像的1dot量的宽度H/C小的情况下,线图像产生重复部分。在这种情况下,虽然可以根据在全部拍摄定时的面图像生成线图像,但能够通过进行面图像的剔除处理,减少在线图像的生成以及对检查对象107的位置进行校正的处理中的运算量。
图9是表示由实施方式1涉及的非破坏检查系统的影像数据处理部进行的剔除处理的一个例子的图。在图9中,示出了针对从时刻t起至6/A秒后为止拍摄的七个面图像进行的剔除处理。在这里,设为输送速度M=100[mm/s]。另外,设为帧频A=100[张/s],分辨率C×R=400×300[dot]、视野H×V=800×600[mm×mm]。在上述条件下,在从拍摄装置103拍摄面图像起至拍摄下一个面图像为止的期间,检查对象107进行0.5dot量的移动。因此,通过对由拍摄装置103拍摄的面图像沿时序隔一地使用,换言之,使用时刻t、时刻t+2/A、时刻t+4/A、时刻T+6/A的面图像,由此能够降低运算装置31的负荷。
在上述的说明中,将检查对象107的面图像沿输送方向进行分割,将沿与输送方向正交的方向延伸的线图像设为局部图像,但也可以将使检查对象107的面图像分割为矩阵状后的框图像设为局部图像。
实施方式1涉及的非破坏检查系统能够使用检查对象107的面图像对内部的缺陷的大小及形状进行解析,因此也能够对将不同种材料组合形成的复合材料检测缺陷。
实施方式2.
图10是表示在本发明的实施方式2涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。实施方式2涉及的非破坏检查系统的可编程显示器110具有反馈处理部23,该反馈处理部23根据所取得的面图像的特征点而对检查对象107的移动量进行计算,反馈至驱动装置105,上述这一点与实施方式1的可编程显示器100不同。反馈处理部23是由运算装置31将存储器32作为工作区域使用而执行非破坏检查程序所实现的。
关于特征点,能够通过图像处理对检查对象107的边缘或角部进行检测而进行利用。另外,也可以对输送装置106施加标记,将其用作特征点。
图11是表示在实施方式2涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的反馈处理的图。反馈处理部23对在时刻t由影像数据处理部16从拍摄装置103取得的面图像、和在与时刻t相比1/A前的时刻上一次从拍摄装置103取得的在影像数据存储部19中存储的面图像进行比较,对特征点61的移动量进行计算。如果例举输送速度M=1000[mm/s]、帧频A=100[张/s],分辨率C×R=400×300[dot]、视野H×V=800×600[mm×mm]的情况,则在由影像数据处理部16从拍摄装置103取得的面图像、和在影像数据存储部19中存储的上一次从拍摄装置103取得的面图像之间,特征点61进行5dot量的移动。假设,如果由反馈处理部23计算出的特征点61的移动量为4dot量,则检查对象107的实际的输送速度为1000×(4/5)=800[mm/s]。因此,反馈处理部23以将发向驱动装置105的速度指令值设为(1000/800)=1.25倍的方式向控制装置102发送指令,以使得实际的输送速度成为1000[mm/s]。
如上所述,实施方式2涉及的非破坏检查系统能够根据所取得的面图像的特征点61而对检查对象107的移动量进行计算,反馈至驱动装置105。因此,能够对检查对象107的输送速度的变动进行抑制。
线图像的创建以及对检查对象107的位置进行校正的处理、将检查结果利用动态图像或者三维图像进行显示的处理与实施方式1相同。
实施方式3.
图12是表示在本发明的实施方式3涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。可编程显示器120具有:位移量比较部24,其根据基于由影像数据处理部16对检查对象107的位置进行校正后的面图像而由显示生成部20重新生成的动态图像,对拍摄时刻连续的两个面图像间的缺陷的位移量进行计算,与所设定的阈值进行比较;以及履历信息保存部25,其在由位移量比较部24检测到缺陷的位移量超过阈值之后,将对检查对象107进行确定的信息和表示缺陷超过阈值的信息进行存储。位移量比较部24是由运算装置31将存储器32作为工作区域使用而执行非破坏检查程序所实现的。履历信息保存部25是通过存储装置33实现的。
位移量比较部24在检测出缺陷的位移量超过阈值之后,通过控制装置连接接口13对控制装置102进行通知。因此,如果在控制装置102连接报警器108,则能够将缺陷的位移量超过了阈值的情况对用户进行通知。报警器108能够应用警报灯或警报扬声器。
另外,在缺陷的位移量超过了阈值的情况下,由于对检查对象107进行确定的信息和表示缺陷超过了阈值的信息存储于履历信息保存部25,因此即使用户漏看或漏听了由报警器108进行的通知,也能够在事后确认在哪个检查对象107处缺陷的位移量超过了阈值。
线图像的创建以及对检查对象107的位置进行校正的处理、将检查结果利用动态图像或者三维图像进行显示的处理与实施方式1相同。
在检查对象107中人为地设置缺陷的情况下,如果在设计信息中对缺陷的位置设置容许公差,则只要缺陷的位置没有超过容许公差的范围就不会被判定为异常。举一个具体的例子,如果根据设计信息,缺陷的位置被容许±A的公差,则在某个拍摄定时为基准位置+A的缺陷的位置在下一个拍摄定时变化为基准位置-A的情况下,也与设计信息相符合,不被判定为异常。但是,在该情况下,在缺陷处产生台阶,缺陷成为在检查对象107的厚度方向上不连续的形状。在实施方式3中,通过在设计信息之外另外设置缺陷的位移量的阈值,由此能够防止缺陷在检查对象107的厚度方向上成为不连续的形状。
实施方式4.
图13是表示在本发明的实施方式4涉及的非破坏检查系统中应用的可编程显示器的结构的图。实施方式4涉及的非破坏检查系统的可编程显示器130具有帧频同步处理部26,该帧频同步处理部26使拍摄装置103的帧频与检查对象107的移动量同步,对线图像的部分重复进行消除,上述这一点与实施方式1的可编程显示器100不同。帧频同步处理部26是由运算装置31将存储器32作为工作区域使用而执行非破坏检查程序所实现的。
如图9所示,如果在如输送速度M=100[mm/s]、帧频A=100[张/s],分辨率C×R=400×300[dot]、视野H×V=800×600[mm×mm]这样的条件下使驱动装置105及拍摄装置103进行动作,则线图像产生0.5dot量的重复。帧频同步处理部26通过控制装置连接接口13而取得由控制装置102向驱动装置105输出的速度指令,变更为帧频A=50[张/s]。由此,与进行剔除处理的情况相同地,减少在线图像的生成以及对检查对象107的位置进行校正的处理中的运算量,能够降低运算装置31的负荷。
线图像的创建以及对检查对象107的位置进行校正的处理、将检查结果利用动态图像或者三维图像进行显示的处理与实施方式1相同。
以上的实施方式示出的结构表示本发明的内容的一个例子,既能够与其他公知的技术进行组合,也能够在不脱离本发明的主旨的范围内对结构的一部分进行省略、变更。
标号的说明
13控制装置连接接口,14拍摄装置连接接口,15判定部,16影像数据处理部,19影像数据存储部,20显示生成部,21输入接受部,22显示控制部,23反馈处理部,24位移量比较部,25履历信息保存部,26帧频同步处理部,31运算装置,32存储器,33存储装置,34输入装置,35显示装置,36通信装置,51缺陷,61特征点,100、110、120、130可编程显示器,102控制装置,103拍摄装置,104激励装置,105驱动装置,106输送装置,107检查对象,108报警器。

Claims (7)

1.一种非破坏检查系统,其特征在于,具有:
驱动装置,其对输送检查对象的输送装置进行驱动;
激励装置,其对由所述输送装置输送的所述检查对象的表面施加热;
控制装置,其对所述驱动装置及所述激励装置进行控制;
拍摄装置,其对由所述激励装置在表面施加了热的所述检查对象的面图像进行拍摄;以及
可编程显示器,该可编程显示器具有影像数据处理部和显示生成部,该影像数据处理部进行如下校正,即,将由所述拍摄装置在不同的定时拍摄到的多个所述面图像,分别沿输送方向或者以矩阵状分割为多个局部图像,使该分割为多个局部图像后的所述多个面图像各自的所述检查对象的位置对齐,该显示生成部生成将由所述影像数据处理部校正后的多个所述面图像沿时序进行切换的动态图像或者沿时序进行重叠的三维图像。
2.根据权利要求1所述的非破坏检查系统,其特征在于,
具有反馈处理部,该反馈处理部基于所述检查对象的面图像内的特征点的位置而对所述检查对象的移动量进行计算,对所述驱动装置进行反馈控制。
3.根据权利要求1所述的非破坏检查系统,其特征在于,具有:
位移量比较部,其对拍摄时刻连续的两个面图像间的缺陷的位移量进行计算,与所设定的阈值进行比较;以及
履历信息保存部,其将对所述检查对象进行确定的信息和表示缺陷的位移量超过了阈值的信息进行存储。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的非破坏检查系统,其特征在于,
具有帧频同步处理部,该帧频同步处理部使所述拍摄装置的帧频与所述检查对象的移动量同步,对所述局部图像的部分重复进行消除。
5.根据权利要求1所述的非破坏检查系统,其特征在于,
所述影像数据处理部对所述显示生成部的检查结果和设计信息进行比较,对外在要因发生变动的临界点进行提取。
6.一种临界点检测系统,其具有:
移动单元,其使测定对象物进行移动;
外在要因赋予单元,其对移动的所述测定对象物赋予外在要因;
拍摄单元,其对所述测定对象物进行拍摄;
检测单元,其对所述拍摄单元的所述测定对象物的拍摄图像进行接收,对与利用所述移动单元实现的移动量相对应的所述测定对象物中的外在要因发生变动的临界点进行检测;以及
显示单元,其进行如下校正,即,将由所述拍摄单元在不同的定时拍摄到的多个所述拍摄图像,分别沿输送方向或者以矩阵状分割为多个局部图像,使该分割为多个局部图像后的多个所述拍摄图像各自的所述测定对象物的位置对齐,该显示单元生成将校正后的多个所述拍摄图像沿时序进行切换的动态图像或者沿时序进行重叠的三维图像,利用所述动态图像或者所述三维图像对由所述检测单元得到的检测结果进行显示。
7.根据权利要求6所述的临界点检测系统,其特征在于,
所述检测单元对设计上的理论值和所述动态图像或者所述三维图像进行比较,对临界点进行检测。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7187813B2 (ja) * 2018-04-26 2022-12-13 東芝三菱電機産業システム株式会社 プラント監視制御システム
JP7077807B2 (ja) * 2018-06-12 2022-05-31 オムロン株式会社 画像検査システム及びその制御方法
CN114791067B (zh) * 2021-01-25 2024-02-06 杭州申昊科技股份有限公司 一种具有热检测功能的管道机器人及控制方法与控制系统

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101019423A (zh) * 2004-09-15 2007-08-15 三菱电机株式会社 图像投影系统和图像几何校正装置
JP2010518606A (ja) * 2007-02-05 2010-05-27 ズース マイクロテク,アイエヌシー. 射出成形された半田によって半導体ウェーハにバンプを形成するための装置及び方法
CN102203625A (zh) * 2008-09-25 2011-09-28 光子动力学公司 自动动态像素图校正和驱动信号校准
CN102859675A (zh) * 2010-04-28 2013-01-02 浜松光子学株式会社 半导体故障解析装置及故障解析方法
WO2013065502A1 (ja) * 2011-11-01 2013-05-10 富士フイルム株式会社 放射線撮影方法及び装置
CN103149240A (zh) * 2013-03-19 2013-06-12 南京诺威尔光电系统有限公司 自动跟踪热波成像无损检测系统及方法
CN103888666A (zh) * 2012-12-20 2014-06-25 佳能株式会社 摄像设备
CN104217421A (zh) * 2013-05-29 2014-12-17 杭州美盛红外光电技术有限公司 热像分析装置和热像分析方法
CN104365083A (zh) * 2012-06-06 2015-02-18 索尼公司 图像处理装置、图像处理方法以及程序

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6168752U (zh) * 1984-10-12 1986-05-10
US5275489A (en) * 1992-10-19 1994-01-04 General Electric Company Apparatus and method for inspecting an open-face cell structure bonded to a substrate
EP0872725A1 (en) * 1997-04-15 1998-10-21 Eaton Corporation Method for detecting defect in ceramic body and apparatus therefor
JP4423642B2 (ja) * 2005-06-03 2010-03-03 五洋建設株式会社 コンクリート構造物の非破壊検査方法
JP4898320B2 (ja) * 2006-06-28 2012-03-14 Jfeスチール株式会社 構造物の欠陥検出方法および装置、ならびに欠陥検出機能を備えた荷役機械
JP2012103176A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Techno System Kk 検査装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101019423A (zh) * 2004-09-15 2007-08-15 三菱电机株式会社 图像投影系统和图像几何校正装置
JP2010518606A (ja) * 2007-02-05 2010-05-27 ズース マイクロテク,アイエヌシー. 射出成形された半田によって半導体ウェーハにバンプを形成するための装置及び方法
CN102203625A (zh) * 2008-09-25 2011-09-28 光子动力学公司 自动动态像素图校正和驱动信号校准
CN102859675A (zh) * 2010-04-28 2013-01-02 浜松光子学株式会社 半导体故障解析装置及故障解析方法
WO2013065502A1 (ja) * 2011-11-01 2013-05-10 富士フイルム株式会社 放射線撮影方法及び装置
CN104365083A (zh) * 2012-06-06 2015-02-18 索尼公司 图像处理装置、图像处理方法以及程序
CN103888666A (zh) * 2012-12-20 2014-06-25 佳能株式会社 摄像设备
CN103149240A (zh) * 2013-03-19 2013-06-12 南京诺威尔光电系统有限公司 自动跟踪热波成像无损检测系统及方法
CN104217421A (zh) * 2013-05-29 2014-12-17 杭州美盛红外光电技术有限公司 热像分析装置和热像分析方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
热故障实时检测中图像处理的研究;吴建东;《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》;20100715;第I138-697页 *
红外图像序列处理的锁相热成像理论与试验;刘俊岩等;《红外与激光工程》;20090430;第346-351页 *

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Publication number Publication date
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