JP2010122218A - 2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】3次元距離を決定する装置は、その物体の2次元ピクセル実画像を取得し(102)、3次元CADモデルを用いてその物体の模擬画像を生成し(104)、模擬画像と2次元ピクセル実画像とを比較して特定費用関数を決定し、特定費用関数が所定値以下になるまでその模擬画像を変更する。CADモデルと2次元ピクセル画像との間の相対位置の相互調整に従って、その模擬画像を再配置し(110)、再配置された模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクスを生成し(112)、物体のピクセル画像上の2次元距離と3次元距離スケールマトリクスとを用いて実画像の表面上にある選択されたピクセル間の距離を測定し、表示する。
【選択図】図3
Description
まず、1つ以上のIRランプ18を用いて、動力源が絶たれる前の部品16を数秒間温める。ランプ18は、部品16を数秒間温めるためだけに電源を供給される。ランプ18への電源供給を絶った後に第1サーマル画像14を取得する。実施形態に係る装置10では、部品16の温度が低下するのに合わせて、サーマル画像14を、迅速にかつ繰り返し取得できる。部品16の厚み及びその部品16が冷めていくスピードに応じて、例えば、1マイクロ秒、数マイクロ秒、或いは、他の期間に、最高秒速100回で画像14を取得しても良い。そのように取得した各画像14は、温度が変化するにつれて、1画像ごとに異なるものとなる。画像14は、図1に「フィルム面」として示されたものと関連するが、当業者であれば、多くの実施形態におけるこの「フィルム面」は、IRセンサのアレイを表わすものと理解できるであろう。
例えば、図2及び図4を参照すると(図4は、図2に示された部品16の線4−4に沿った断面図である)、図2の部分15にライン30として現われたクラックは、カメラ12の焦点面17に一致しない部品16の部分を表わすピクセルを含む。焦点面17に関するz軸軸方向のそのような距離の例は、図4において、d1、d2、d3、d4、及びd5として示されている(ここでd4≒0である)。したがって、図2に示すように、直線的なクラックが、例えば、ピクセル202からピクセル204に延びている場合には、ピクセル202及び204のx−y座標によってのみ決定される距離は、そのクラックの長さまたは形状を正確に表現したものではない。なぜなら、そのような距離は、直線30上にあるクラックを投影したときのz軸方向の距離を無視しているからである。図5を参照すると、図5に示された3次元距離スケールマトリクス206の一部は、展開されたCADモデル上の焦点面17からのz軸方向の距離を含む。このマトリクスに含まれている数字は、画像14の対応ピクセルでのz軸方向の距離を表わす。従って、部品16の表面に沿った画像14上の何れの画素によって表わされる実際の距離に対する精度の高い概算値は、選択されたx−y座標に対応する3次元距離スケールマトリクス206におけるx−y座標とz軸距離用いて容易に決定される。例えば、部品16の表面の曲面部分に沿った距離であって、ピクセル202とピクセル204の間の線によって表わされた距離については、その線の長さに沿った調整ピクセル群に対応する3次元画像における2点間の測地線の距離を取得することにより、決定することができる。そのCADモデルから、その曲線が特定のパラメータを有する曲線に沿ったものと分かれば、さらによいことに、非線形推定を得ることができる。
CADモデル及びIR(サーマル)画像を展開することにより、ワークステーションは、CAD情報を用いて、例えばIR検査のための熱拡散補正などといった、検査の正確性を向上させることができる。CAD情報は、また、2次元検査画像(つまりIR画像上での欠陥のサイズを検出する)上での正確な検査を実現するために用いられる。さらに、CADモデルの3次元形状においてIR検査データを可視化及び/又は分析することが可能であり、そのような検査は、CADモデルの工学的詳細に基づいて、直接評価される。設定によっては、組込式X線CT(コンピュータ断層撮影)情報をCADモデルに組み込むことにより、構成を拡張して、CADモデル及びCT・X線検査データから導き出した、より正確な3次元幾何情報にIR(サーマル)画像をリンクすることができる。
12 IRカメラ
14 2次元ピクセルIR画像
15 部品
16 部分
17 焦点面
18 IRランプ
20 ポイント
21 コンピュータワークステーション
23 機械可読媒体
30 暗い直線又は曲線
100 フローチャート
102 IR実画像読込
104 IR模擬画像を生成
106 模擬画像を実画像と並べる
108 模擬画像を実画像と比較
110 最適化を行ない、模擬画像を再配置
112 3次元距離スケールマトリクスを生成
114 実画像を読込
202, 204 ピクセル
206 3次元距離スケールマトリクス
Claims (10)
- 部品(16)又は物体の2次元ピクセル画像(14)上で3次元距離を決定する装置(10)であって、
カメラ(12)と、
カメラから画像を受信し、前記物体の3次元CADモデルを有するコンピュータワークステーション(21)と、
ディスプレイと、
を備え、
前記物体の2次元ピクセル実画像を取得し(102)、
3次元CADモデルを用いて前記物体の模擬画像を生成し(104)、
前記模擬画像と前記2次元ピクセル実画像とを比較して(108)特定費用関数を決定し、
前記特定費用関数が所定値以下になるまで前記模擬画像を変更するため、前記CADモデルと前記2次元ピクセル実画像との間の相対位置の反復調整に従って、前記模擬画像を再配置し(110)、
再配置された前記模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクス(206)を生成し(112)、
物体の前記ピクセル画像上の2次元距離と前記3次元距離スケールマトリクスとを用いて、前記実画像の表面上にある選択されたピクセル(202、204)間の距離を測定し、表示することを特徴とする装置(10)。 - 前記カメラ(12)は、IRカメラであって、前記2次元ピクセル実画像(14)を取得し(102)、前記装置はIR(サーマル)実画像を取得することを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
- 前記反復調整は、前記実画像(14)中のピクセルと前記模擬画像中の対応ピクセルとのグレースケール値の相違に依存する統計値を用いることを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
- 前記反復調整の実行のため、LM最適化方法を用いることを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
- 再配置された前記模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクス(206)を生成する(112)ため、焦点面(17)からの前記模擬画像での距離を決定することを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
- 前記物体(16)の前記ピクセル画像上での2次元距離と前記3次元距離スケールマトリクスとを用いて、前記実画像(14)の表面上で選択されたピクセル(202、204)間の距離を測定し表示するため、
選択されたx−y座標に対応する前記3次元距離スケールマトリクス(206)でz軸距離として扱われる厚さデータとx−y座標として扱われる測地線距離とを用いて、前記実画像の表面上の選択ピクセル間の距離を決定することを特徴とする請求項5に記載の装置(10)。 - カメラ(12)と前記カメラから画像を受信して物体(16)の3次元CADモデルを有するコンピュータワークステーションとディスプレイとを含む装置(10)内のコンピュータワークステーション(21)への命令を記録した機械可読媒体(23)であって、前記命令は、
前記カメラを用いて前記物体の2次元ピクセル実画像(14)を取得するステップ(102)と、
3次元CADモデルを用いて前記物体の模擬画像を生成するステップ(104)と、
前記模擬画像と前記2次元ピクセル実画像とを比較して(108)特定費用関数を決定するステップと、
前記特定費用関数が所定値以下になるまで前記模擬画像を変更するため、前記CADモデルと前記2次元ピクセル実画像との間の相対位置の反復調整に従って、前記模擬画像を再配置するステップ(110)と、
再配置された前記模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクス(206)を生成するステップ(112)と、
物体の前記ピクセル画像上の2次元距離と前記3次元距離スケールマトリクスとを用いて前記実画像の表面上にある選択されたピクセル(202、204)間の距離を測定し表示するステップと、
を実行するように、前記コンピュータワークステーション(21)に命令することを特徴とする機械可読媒体(23)。 - 前記カメラ(12)はIRカメラであって、前記ワークステーション(21)に対し、IR(サーマル)実画像(14)を取得(102)するよう指示する命令をさらに記録していることを特徴とする請求項7に記載の機械可読媒体(23)。
- 前記特定費用関数が所定値以下になるまで前記実画像(14)と前記模擬画像とのアラインメントを繰り返し変更するため、記録された前記命令は、さらに、前記実画像(14)中の対応ピクセルのグレースケール値の相違に基づく統計値、又は、前記実画像及び前記模擬画像における対応ピクセルに関連する厚さ情報、の使用をワークステーション(21)に命令することを特徴とする請求項7に記載の機械可読媒体(23)。
- 前記反復調整の実行のため、記録された前記指示は、さらに、LM最適化方法の使用をワークステーション(21)に命令することを特徴とする請求項7に記載の機械可読媒体(23)。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012063310A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 欠陥寸法測定装置、欠陥寸法測定方法、及びプログラム |
JP2020148628A (ja) * | 2019-03-13 | 2020-09-17 | キヤノン株式会社 | 3次元測量装置、撮像装置、制御方法及びプログラム |
JP2021021669A (ja) * | 2019-07-30 | 2021-02-18 | 三菱パワー株式会社 | 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム |
JP7505866B2 (ja) | 2019-07-30 | 2024-06-25 | 三菱重工業株式会社 | 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2428795A1 (en) * | 2010-09-14 | 2012-03-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Apparatus and method for automatic inspection of through-holes of a component |
DE102011107458A1 (de) | 2011-07-15 | 2013-01-17 | Audi Ag | Verfahren zum Evaluieren einer Objekterkennungseinrichtung eines Kraftfahrzeugs |
US9123144B2 (en) * | 2011-11-11 | 2015-09-01 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Computing 3D shape parameters for face animation |
CN102661710B (zh) * | 2012-04-26 | 2014-06-18 | 铁道第三勘察设计院集团有限公司 | 一种滑坡下滑量参数遥感快速勘测方法 |
CN103032372B (zh) * | 2012-12-21 | 2015-05-20 | 上海交通大学 | 一种叶轮的椭圆形叶缘造型系统及方法 |
US9347899B2 (en) * | 2013-12-06 | 2016-05-24 | Rolls-Royce Corporation | Thermographic inspection techniques |
KR101844278B1 (ko) * | 2014-01-23 | 2018-04-02 | 삼성전자주식회사 | 관절식 객체의 자세를 추정하기 위한 파라미터 학습 방법 및 관절식 객체의 자세 추정 방법 |
DE102014213518A1 (de) * | 2014-07-11 | 2016-01-14 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Verfahren, Bearbeitungsmaschine und Computerprogrammprodukt zum bildbasierten Platzieren von Werkstückbearbeitungsvorgängen |
US9792687B2 (en) * | 2015-08-31 | 2017-10-17 | Intel Corporation | Point-to-point distance measurements in 3D camera images |
US9760986B2 (en) | 2015-11-11 | 2017-09-12 | General Electric Company | Method and system for automated shaped cooling hole measurement |
KR102285376B1 (ko) | 2015-12-01 | 2021-08-03 | 삼성전자주식회사 | 3d 얼굴 모델링 방법 및 3d 얼굴 모델링 장치 |
US11079285B2 (en) * | 2018-05-04 | 2021-08-03 | Raytheon Technologies Corporation | Automated analysis of thermally-sensitive coating and method therefor |
US10902664B2 (en) | 2018-05-04 | 2021-01-26 | Raytheon Technologies Corporation | System and method for detecting damage using two-dimensional imagery and three-dimensional model |
US10943320B2 (en) | 2018-05-04 | 2021-03-09 | Raytheon Technologies Corporation | System and method for robotic inspection |
CN110910379B (zh) * | 2019-11-29 | 2020-07-17 | 珠海大横琴科技发展有限公司 | 一种残缺检测方法及装置 |
US20220108435A1 (en) * | 2020-10-02 | 2022-04-07 | Baker Hughes Oilfield Operations Llc | Automated turbine blade to shroud gap measurement |
CN113107787B (zh) * | 2021-05-26 | 2023-01-03 | 北京汇力智能科技有限公司 | 风电叶片内部检查机器人系统及其内部状态模型构建方法 |
US20230016982A1 (en) * | 2021-07-13 | 2023-01-19 | General Electric Company | Method for inspecting an object |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0868673A (ja) * | 1994-08-31 | 1996-03-12 | Toshiba Corp | 分布計測データによる機器状態の監視方法 |
JP2005106824A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | General Electric Co <Ge> | 内部特徴を再構成する方法及び装置 |
JP2005173336A (ja) * | 2003-12-12 | 2005-06-30 | Olympus Corp | 工業用内視鏡装置及びこれを用いた形状寸法測定方法 |
JP2006518032A (ja) * | 2002-11-04 | 2006-08-03 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 部材の貫通孔構造の検査方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU9663098A (en) * | 1997-09-23 | 1999-04-12 | Enroute, Inc. | Generating three-dimensional models of objects defined by two-dimensional image data |
US6206566B1 (en) | 1998-11-02 | 2001-03-27 | Siemens Aktiengesellschaft | X-ray apparatus for producing a 3D image from a set of 2D projections |
US6980690B1 (en) * | 2000-01-20 | 2005-12-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus |
US6980685B2 (en) * | 2001-01-22 | 2005-12-27 | Siemens Corporate Research, Inc. | Model-based localization and measurement of miniature surface mount components |
US7079132B2 (en) | 2001-08-16 | 2006-07-18 | Siemens Corporate Reseach Inc. | System and method for three-dimensional (3D) reconstruction from ultrasound images |
US7197193B2 (en) | 2002-05-03 | 2007-03-27 | Creatv Microtech, Inc. | Apparatus and method for three dimensional image reconstruction |
CA2573728A1 (en) * | 2004-07-14 | 2006-02-23 | Braintech Canada, Inc. | Method and apparatus for machine-vision |
GB0419381D0 (en) * | 2004-09-01 | 2004-10-06 | Renishaw Plc | Machine tool method |
US8396329B2 (en) * | 2004-12-23 | 2013-03-12 | General Electric Company | System and method for object measurement |
US7477360B2 (en) | 2005-02-11 | 2009-01-13 | Deltasphere, Inc. | Method and apparatus for displaying a 2D image data set combined with a 3D rangefinder data set |
US20070065002A1 (en) | 2005-02-18 | 2007-03-22 | Laurence Marzell | Adaptive 3D image modelling system and apparatus and method therefor |
US7415152B2 (en) | 2005-04-29 | 2008-08-19 | Microsoft Corporation | Method and system for constructing a 3D representation of a face from a 2D representation |
US7365862B2 (en) * | 2005-10-24 | 2008-04-29 | General Electric Company | Methods and apparatus for inspecting an object |
US7689003B2 (en) | 2006-03-20 | 2010-03-30 | Siemens Energy, Inc. | Combined 2D and 3D nondestructive examination |
-
2008
- 2008-11-20 US US12/274,687 patent/US8238642B2/en active Active
-
2009
- 2009-11-05 CA CA2684528A patent/CA2684528C/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-11-06 EP EP09175331.9A patent/EP2189941A3/en not_active Ceased
- 2009-11-19 JP JP2009263440A patent/JP2010122218A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0868673A (ja) * | 1994-08-31 | 1996-03-12 | Toshiba Corp | 分布計測データによる機器状態の監視方法 |
JP2006518032A (ja) * | 2002-11-04 | 2006-08-03 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 部材の貫通孔構造の検査方法 |
JP2005106824A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | General Electric Co <Ge> | 内部特徴を再構成する方法及び装置 |
JP2005173336A (ja) * | 2003-12-12 | 2005-06-30 | Olympus Corp | 工業用内視鏡装置及びこれを用いた形状寸法測定方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012063310A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 欠陥寸法測定装置、欠陥寸法測定方法、及びプログラム |
JP2020148628A (ja) * | 2019-03-13 | 2020-09-17 | キヤノン株式会社 | 3次元測量装置、撮像装置、制御方法及びプログラム |
JP7233261B2 (ja) | 2019-03-13 | 2023-03-06 | キヤノン株式会社 | 3次元測量装置、撮像装置、制御方法及びプログラム |
JP2021021669A (ja) * | 2019-07-30 | 2021-02-18 | 三菱パワー株式会社 | 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム |
JP7505866B2 (ja) | 2019-07-30 | 2024-06-25 | 三菱重工業株式会社 | 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2684528C (en) | 2017-11-21 |
US8238642B2 (en) | 2012-08-07 |
US20100124369A1 (en) | 2010-05-20 |
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EP2189941A2 (en) | 2010-05-26 |
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