JP2010122218A - 2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置 - Google Patents

2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置 Download PDF

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Abstract

【課題】取得画像及びCADデータをリンクして、拡散補償により検査の正確性を向上させ、欠陥タイプを特徴つける検査システムを提供する。
【解決手段】3次元距離を決定する装置は、その物体の2次元ピクセル実画像を取得し(102)、3次元CADモデルを用いてその物体の模擬画像を生成し(104)、模擬画像と2次元ピクセル実画像とを比較して特定費用関数を決定し、特定費用関数が所定値以下になるまでその模擬画像を変更する。CADモデルと2次元ピクセル画像との間の相対位置の相互調整に従って、その模擬画像を再配置し(110)、再配置された模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクスを生成し(112)、物体のピクセル画像上の2次元距離と3次元距離スケールマトリクスとを用いて実画像の表面上にある選択されたピクセル間の距離を測定し、表示する。
【選択図】図3

Description

本発明は、概して、2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置に関し、特に、外部及び/又は内部次元における情報、表面状態情報及び/又は内部欠陥情報を含むデータを取得するための適応的検査を実行する方法及び装置に関する。
多くの部品は、表面又は内部に傷が無い状態で製造され、維持されなければならない。CMC(セラミックス複合材料)は、しばしば、航空機部品及び他の部品を組み立てる際に用いられる。これらの部品は、表面及び/又は内部にひびを有している場合、或いはひびが発生してしまう場合がある。ひびの検査は、IRカメラを用いて投影方向の2次元厚さ画像を提供する、既知の赤外線(IR)検査システムを用いて行なうことができる。各欠陥のサイズは、2次元IR画像上で計測されるが、この画像は、このIRシステムの投影方向に対して垂直な平面上の情報のみを提供する。加えて、2次元IR画像のみからは、拡散情報を導き出すことはできず、IR画像上で欠陥タイプを特徴付けるのに役立てることはできない。また、CMC部品は、様々な適用方法ごとに最適化されるので、しばしば複雑な形状及び表面を有する。従って、IR画像から直接3次元欠陥測定を行なうことは困難といえる。
IRデータをCADデータにリンクする既知の方法は、例えば、「赤外線厚さ測定に基づく内部特徴再構築の新しい方法(A novel method for internal feature reconstruction based on Infrared thickness measurement)」マルチスペクトル画像処理及びパターン認識に関する第3国際シンポジウム(the Third International Symposium on Multispectral Image Processing and Pattern Recognition)Proceedings of the SPIE, Volume 5286, pp. 230-237 (2003)に記載されているように、検査中に、その部品に対して固定具を取り付けることを必要としている。UT(超音波断層写真ultrasonic tomographic)画像を展開する既知の方法は、ソリッドCADモデルよりもむしろメッシュモデルを用いる。例えば、Shannonらによる米国特許出願US20070217672A1「2次元及び3次元非破壊検査」には、NDE(非破壊検査)を視覚的に補助するために、3次元情報を用いる技術が開示されている。しかし、Shannonらによる米国特許出願US20070217672A1は、3次元情報を用いてIR画像を展開する方法については開示も示唆もしていない。そこに開示されているのは、2次元画像を3次元空間にマッピングする方法というよりむしろ、3次元図形上に2次元画像をマッピングする方法である。
従って、そのような欠陥を、取得した画像から簡単に3次元測定できる装置が必要とされていた。取得画像及びCADデータをリンクして、拡散補償により検査の正確性を向上させ、及び/又は、欠陥タイプを特徴付ける検査システムも必要とされている。
米国特許7477360号公報 米国特許7415152号公報 米国特許7197193号公報 米国特許7079132号公報 米国特許6206566号公報 米国特許公開20070217672号公報 米国特許公開20070065002号公報
一態様では、部品又は物体の2次元ピクセル画像上の3次元距離を決定する方法が提供される。この方法は、カメラを用いて前記物体の2次元ピクセル実画像を取得するステップと、3次元CADモデルと2次元ピクセル画像とを用いて物体の模擬画像を生成するようにワークステーションを動作させるステップと、を含む。この方法は、さらに、ワークステーションを利用して、模擬画像と2次元ピクセル実画像とを比較して特定費用関数を決定するステップと、CADモデルと2次元ピクセル実画像との間の相対位置の相互調整に従って模擬画像を再配置し、特定費用関数が所定値以下になるまで模擬画像を変更するステップと、を含む。特定費用関数が所定値以下になれば、この方法はさらに、ワークステーションを利用して、再配置された前記模擬画像を用いることにより3次元距離スケールマトリクスを生成するステップと、ワークステーションを利用して、物体のピクセル画像上の2次元距離と3次元距離スケールマトリクスとを用いて実画像の表面上にある選択されたピクセル間の距離を測定し表示するステップと、を含む。
他の態様では、部品又は物体の2次元ピクセル画像上で3次元距離を決定する装置を提供する。この装置は、カメラと、カメラから画像を受信し、物体の3次元CADモデルを有するコンピュータワークステーションと、ディスプレイと、を備える。この装置は、物体の2次元ピクセル実画像を取得し、3次元CADモデルを用いて物体の模擬画像を生成し、模擬画像と2次元ピクセル実画像とを比較して特定費用関数を決定する。この装置はさらに、CADモデルと2次元ピクセル実画像との間の相対位置の相互調整に従って模擬画像を再配置し、特定費用関数が所定値以下になるまで模擬画像を変更する。再配置された模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクスを生成し、物体のピクセル画像上の2次元距離と3次元距離スケールマトリクスとを用いて、実画像の表面上にある選択されたピクセル間の距離を測定し、表示する。
他の態様では、カメラと前記カメラから画像を受信し、物体の3次元CADモデルを有するコンピュータワークステーションとディスプレイとを含む装置内のコンピュータワークステーションへの命令を記録した機械可読媒体であって、命令は、カメラを用いて物体の2次元ピクセル実画像を取得することを命じる。そして、3次元CADモデルを用いて前記物体の模擬画像を生成することを命じる。また、模擬画像と前記2次元ピクセル実画像とを比較して特定費用関数を決定することを命じる。さらに、CADモデルと2次元ピクセル実画像との間の相対位置の相互調整に従って、模擬画像を再配置して特定費用関数が所定値以下になるまで模擬画像を変更することを命じる。また、再配置された模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクスを生成し、物体のピクセル画像上の2次元距離と3次元距離スケールマトリクスとを用いて実画像の表面上にある選択されたピクセルの距離を測定し表示することを命じる。
物体の2次元画像から3次元上の距離を決定する際に用いられる装置の一例を示すブロック図である。 物体に存在する欠陥を含む画像であって、図1に示した装置から取得されるピクセル画像の一部を表わす図である。 図1に示す装置によって実行される代表的処理の一部を示すフローチャートである。 図2の2次元画像によって表わされた代表的CAD画像を、図2の線4−4に沿って切断した断面図である。 展開されたCADモデルを用いて決定されたZ軸上の距離と焦点面におけるピクセルからのその表面上の距離とを含む3次元距離スケールマトリクスの一部を示す図である。
本発明の実施形態の技術的効果は、実際の検査画像を、模擬CAD(計算機援用設計)モデルにリンクすること、及び、本発明でなければ利用できない次元情報を表示することにある。このリンク付けを利用することで、例えば、2次元画像から欠陥を3次元測定できるようになり、IR検査のための拡散補償を可能にする。
図1は、物体の2次元画像から3次元距離を決定する際に用いられる装置10のブロック図である。本実施形態において、装置10は、IRカメラ12を含む。このカメラ12は、検査対象の部品16のIR(サーマル)画像14をスキャン或いは生成する。
まず、1つ以上のIRランプ18を用いて、動力源が絶たれる前の部品16を数秒間温める。ランプ18は、部品16を数秒間温めるためだけに電源を供給される。ランプ18への電源供給を絶った後に第1サーマル画像14を取得する。実施形態に係る装置10では、部品16の温度が低下するのに合わせて、サーマル画像14を、迅速にかつ繰り返し取得できる。部品16の厚み及びその部品16が冷めていくスピードに応じて、例えば、1マイクロ秒、数マイクロ秒、或いは、他の期間に、最高秒速100回で画像14を取得しても良い。そのように取得した各画像14は、温度が変化するにつれて、1画像ごとに異なるものとなる。画像14は、図1に「フィルム面」として示されたものと関連するが、当業者であれば、多くの実施形態におけるこの「フィルム面」は、IRセンサのアレイを表わすものと理解できるであろう。
画像14は、部品16の厚みを決定するために画像上の様々なポイント20で処理される。部品16が、単一の構成を有する場合は、その厚みは容易に決定される。なぜなら、その場合、より厚みを有する領域は、より大きな蓄熱量を有し、冷却速度がより遅くなるからである。コーティングやラミネート加工が行なわれた部品のように、既知の、単一でない構成を有する部品の厚みは、この原理のより詳細な適用によって決定される。これらの決定に要求される処理は、装置10の制御、カメラIR画像14の入力、並びに、CAD画像の処理と同様に、コンピュータワークステーション21において、ワークステーション21の内部又は機械可読媒体23又はCD−ROMのような他のタイプの媒体に記憶されるプログラムの制御下で実行される。
図2を参照すると、ピクセル画像14の一部15に欠陥がある場合がある。特に、図2は、図1に示す装置から取得されたピクセル画像の一部を示す。ここで、この画像は、物体内の欠陥を含んでいる。クラックなどの欠陥は、例えば、暗い直線又は曲線30として現われる。なぜなら、部品1において、クラックのすぐそばにある部分は、より厚みが薄く、従って、部品16の欠陥を含まない他の部分に比べて、より速やかに冷えるからである。一例では、部品16のクラック部分が、実際にはカーブしていたとしても、「フィルム面」に対する部品16の方向によっては、そのクラックは、曲線としてよりも、むしろ直線30として画像14上に投影されるかもしれない。IRサーマル画像14を、部品16の3次元構造にリンクすることにより、部品16におけるクラックや他の欠陥の3次元形状を判定することができ、さらに、その欠陥がカーブしているかどうか、そしてもしカーブしているなら、それは円弧状なのかスプライン状なのか、などを判定することができる。
図3は、図1に示された装置によって実行される例示的な処理の一部を示すフローチャートである。フローチャート100において、3次元距離は、一対のピクセル間で決定される。ブロック102において、ビューアングル及びIR実画像までの距離と共に2次元ピクセルIR(サーマル)実画像14を読み込む(ビューアングルは、IRカメラ12と部品16の相対的な方向に基づいて決定でき、標準位置に関連する)。ブロック104では、部品16のCADモデルから、2次元ピクセルIR実画像14のビューアングルに応じて、且つ、部品16が加熱された温度に基づいて、IR模擬画像を生成する。そのビューアングルにおける模擬IRカメラを用いてCADモデルを投影するコンピュータによって及び実カメラ12からの実部品16での距離によってIR模擬画像を生成しても良い。多くの実施形態では、ブロック106は、このコンピュータ投影の実行処理に含まれる。他の実施形態では、追加的な調整がブロック106で行なわれる。このブロック106での調整は、手動で、つまり、スクリーン上の画像を目で見て検査した後に手動調整を行なっても良いし、コンピュータ又はワークステーションのプログラムによって自動的に行なっても良いし、それらの組合せによって行なっても良い。
次に、ブロック108において、IR模擬画像を2次元ピクセルIR実画像14と比較するために費用関数を用いる。3次元CADモデル上の点と、2次元ピクセルIR画像14上のピクセル同士の対応関係を確立することにより費用関数を評価できる。費用関数は、2つの画像間のグレースケールの相違に関連する。例えば、一実施形態では、実又は模擬のIRエミッション強度又は解釈された厚み値に応じた0から255までのグレースケール値を割り当てられた複数のピクセルを有してもよい。そのような実施形態では、例えば500×500ピクセルの画像サイズであってもよい。本実施形態における費用関数においては、例えば、2次元ピクセルIR(サーマル)画像14及び模擬IR画像における対応ピクセルのグレースケール値の違いに基づいて統計値が計算される。
もし、ブロック108において、費用関数の値が、選択閾値以上であれば、適正な最適化が実行されて(110)IR模擬画像の再配置を決定し(つまり、CADモデルと2次元ピクセル画像との間の相対位置を調整して、IR画像を変化させ)、模擬IR画像は、その決定に応じて再配置される。1つの適した最適化方法は、LM(レーベンバーグ・マルカート)アルゴリズムを用いる。これは、その関数のパラメータ空間に渡り、通常非線形の関数を最小化する問題に数値解を提供する。そのアルゴリズムは、ガウスニュートン法と勾配法との間で行なわれても良い。しかしながら、他の最適化方法を他の実施形態として用いてもよい。例えば、ニュートンアルゴリズムを用いることもできるが、ニュートンアルゴリズムは必ずしもグループ解又は最適化解を保証するものではない。
もし最適化が必要であれば、最適化処理を実行し、ブロック108の比較処理を再度実行する。費用関数が選択閾値以下になるまでブロック108及び110を含むループを実行する。費用関数が選択閾値以下になれば、或いは、最適化が必要でなければ、x軸とy軸に沿った2つのピクセル間の3次元距離スケールマトリクスが、IR最適化模擬画像に従って、ブロック112において生成され、CADモデルは、最適化模擬画像を生成するために用いられる。特に、500×500ピクセルのサーマル画像14を備えた実施形態においては、それらのピクセルは、x軸方向及びy軸方向に線形に配置されるものと想定できる。すなわち、それらのピクセルは、部品16の100mm×100mmの部分を表わす(全てではないが、中には、ピクセルごとのビューアングル投影に基づいて画像14に補正を施し、糸巻き型、たる型又は他の既知のタイプの歪みを補償するものもある)。本実施形態において、3次元距離スケールマトリクスは、ピクセル(x, y)ごとに、サーマル画像14を表わす帰属2次元表面までの距離に関連するCADモデルがシミュレートした画素の表面の距離(深さ)を表わす値を含む。従って、フラットな表面からのオフセットとして3次元距離スケールマトリクスに含まれるマトリクス値を用いて部品16の表面に沿った距離を決定することが可能となる。ブロック114では、IRカメラ12及び部品16が動かされることも調整されることもないと仮定した場合、追加的なサーマル画像14を繰り返し読み込み(例えば、数マイクロ秒ごとに取得される。他の場合については上述した)、欠陥の解析を行なう。そのような欠陥は、ブロック112で生成された同じ3D距離スケールマトリクスを用いて測定される
例えば、図2及び図4を参照すると(図4は、図2に示された部品16の線4−4に沿った断面図である)、図2の部分15にライン30として現われたクラックは、カメラ12の焦点面17に一致しない部品16の部分を表わすピクセルを含む。焦点面17に関するz軸軸方向のそのような距離の例は、図4において、d1、d2、d3、d4、及びd5として示されている(ここでd4≒0である)。したがって、図2に示すように、直線的なクラックが、例えば、ピクセル202からピクセル204に延びている場合には、ピクセル202及び204のx−y座標によってのみ決定される距離は、そのクラックの長さまたは形状を正確に表現したものではない。なぜなら、そのような距離は、直線30上にあるクラックを投影したときのz軸方向の距離を無視しているからである。図5を参照すると、図5に示された3次元距離スケールマトリクス206の一部は、展開されたCADモデル上の焦点面17からのz軸方向の距離を含む。このマトリクスに含まれている数字は、画像14の対応ピクセルでのz軸方向の距離を表わす。従って、部品16の表面に沿った画像14上の何れの画素によって表わされる実際の距離に対する精度の高い概算値は、選択されたx−y座標に対応する3次元距離スケールマトリクス206におけるx−y座標とz軸距離用いて容易に決定される。例えば、部品16の表面の曲面部分に沿った距離であって、ピクセル202とピクセル204の間の線によって表わされた距離については、その線の長さに沿った調整ピクセル群に対応する3次元画像における2点間の測地線の距離を取得することにより、決定することができる。そのCADモデルから、その曲線が特定のパラメータを有する曲線に沿ったものと分かれば、さらによいことに、非線形推定を得ることができる。

CADモデル及びIR(サーマル)画像を展開することにより、ワークステーションは、CAD情報を用いて、例えばIR検査のための熱拡散補正などといった、検査の正確性を向上させることができる。CAD情報は、また、2次元検査画像(つまりIR画像上での欠陥のサイズを検出する)上での正確な検査を実現するために用いられる。さらに、CADモデルの3次元形状においてIR検査データを可視化及び/又は分析することが可能であり、そのような検査は、CADモデルの工学的詳細に基づいて、直接評価される。設定によっては、組込式X線CT(コンピュータ断層撮影)情報をCADモデルに組み込むことにより、構成を拡張して、CADモデル及びCT・X線検査データから導き出した、より正確な3次元幾何情報にIR(サーマル)画像をリンクすることができる。
2次元ピクセルIR(サーマル)画像において、いくつかの実施形態では、UT(超音波断層撮影)画像を利用してもよい。他のタイプの2次元実画像は、3次元CADモデルに合わせて用いられる。2次元画像3次元CADモデルにリンクすることにより、3次元空間での欠陥の測定を、2次元IR画像上で行なうことが可能となる。一実施形態では、航空機で用いられる、セラミック複合材料で形成されたブレード、ベイン、シュラウドの測定が可能となる。CAD情報を、拡散補償のため、欠陥の特性検知の向上のため、そして、欠陥のサイズをより正確に検知するために用いることもできる。
本明細書は、本発明を開示するためのベストモードを含む例を用いている。また、当業者であれば、本明細書により、如何なるデバイス又はシステムを生成すること及び使用することを含み、如何なる方法の組合せをも実行する本発明を実施できる。本発明の特許可能な範囲は、特許請求の範囲によって定義されており、当業者が思いつく他の例を含んでも良い。特許請求の範囲の文言から乖離しない構成要素を有する場合には、或いは、特許請求の範囲の文言から実質的には相違しない均等な構成要素を含む場合には、上述の他の例は、特許請求の範囲内にあると意図される。
10 装置
12 IRカメラ
14 2次元ピクセルIR画像
15 部品
16 部分
17 焦点面
18 IRランプ
20 ポイント
21 コンピュータワークステーション
23 機械可読媒体
30 暗い直線又は曲線
100 フローチャート
102 IR実画像読込
104 IR模擬画像を生成
106 模擬画像を実画像と並べる
108 模擬画像を実画像と比較
110 最適化を行ない、模擬画像を再配置
112 3次元距離スケールマトリクスを生成
114 実画像を読込
202, 204 ピクセル
206 3次元距離スケールマトリクス

Claims (10)

  1. 部品(16)又は物体の2次元ピクセル画像(14)上で3次元距離を決定する装置(10)であって、
    カメラ(12)と、
    カメラから画像を受信し、前記物体の3次元CADモデルを有するコンピュータワークステーション(21)と、
    ディスプレイと、
    を備え、
    前記物体の2次元ピクセル実画像を取得し(102)、
    3次元CADモデルを用いて前記物体の模擬画像を生成し(104)、
    前記模擬画像と前記2次元ピクセル実画像とを比較して(108)特定費用関数を決定し、
    前記特定費用関数が所定値以下になるまで前記模擬画像を変更するため、前記CADモデルと前記2次元ピクセル実画像との間の相対位置の反復調整に従って、前記模擬画像を再配置し(110)、
    再配置された前記模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクス(206)を生成し(112)、
    物体の前記ピクセル画像上の2次元距離と前記3次元距離スケールマトリクスとを用いて、前記実画像の表面上にある選択されたピクセル(202、204)間の距離を測定し、表示することを特徴とする装置(10)。
  2. 前記カメラ(12)は、IRカメラであって、前記2次元ピクセル実画像(14)を取得し(102)、前記装置はIR(サーマル)実画像を取得することを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
  3. 前記反復調整は、前記実画像(14)中のピクセルと前記模擬画像中の対応ピクセルとのグレースケール値の相違に依存する統計値を用いることを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
  4. 前記反復調整の実行のため、LM最適化方法を用いることを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
  5. 再配置された前記模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクス(206)を生成する(112)ため、焦点面(17)からの前記模擬画像での距離を決定することを特徴とする請求項1に記載の装置(10)。
  6. 前記物体(16)の前記ピクセル画像上での2次元距離と前記3次元距離スケールマトリクスとを用いて、前記実画像(14)の表面上で選択されたピクセル(202、204)間の距離を測定し表示するため、
    選択されたx−y座標に対応する前記3次元距離スケールマトリクス(206)でz軸距離として扱われる厚さデータとx−y座標として扱われる測地線距離とを用いて、前記実画像の表面上の選択ピクセル間の距離を決定することを特徴とする請求項5に記載の装置(10)。
  7. カメラ(12)と前記カメラから画像を受信して物体(16)の3次元CADモデルを有するコンピュータワークステーションとディスプレイとを含む装置(10)内のコンピュータワークステーション(21)への命令を記録した機械可読媒体(23)であって、前記命令は、
    前記カメラを用いて前記物体の2次元ピクセル実画像(14)を取得するステップ(102)と、
    3次元CADモデルを用いて前記物体の模擬画像を生成するステップ(104)と、
    前記模擬画像と前記2次元ピクセル実画像とを比較して(108)特定費用関数を決定するステップと、
    前記特定費用関数が所定値以下になるまで前記模擬画像を変更するため、前記CADモデルと前記2次元ピクセル実画像との間の相対位置の反復調整に従って、前記模擬画像を再配置するステップ(110)と、
    再配置された前記模擬画像を用いて3次元距離スケールマトリクス(206)を生成するステップ(112)と、
    物体の前記ピクセル画像上の2次元距離と前記3次元距離スケールマトリクスとを用いて前記実画像の表面上にある選択されたピクセル(202、204)間の距離を測定し表示するステップと、
    を実行するように、前記コンピュータワークステーション(21)に命令することを特徴とする機械可読媒体(23)。
  8. 前記カメラ(12)はIRカメラであって、前記ワークステーション(21)に対し、IR(サーマル)実画像(14)を取得(102)するよう指示する命令をさらに記録していることを特徴とする請求項7に記載の機械可読媒体(23)。
  9. 前記特定費用関数が所定値以下になるまで前記実画像(14)と前記模擬画像とのアラインメントを繰り返し変更するため、記録された前記命令は、さらに、前記実画像(14)中の対応ピクセルのグレースケール値の相違に基づく統計値、又は、前記実画像及び前記模擬画像における対応ピクセルに関連する厚さ情報、の使用をワークステーション(21)に命令することを特徴とする請求項7に記載の機械可読媒体(23)。
  10. 前記反復調整の実行のため、記録された前記指示は、さらに、LM最適化方法の使用をワークステーション(21)に命令することを特徴とする請求項7に記載の機械可読媒体(23)。
JP2009263440A 2008-11-20 2009-11-19 2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置 Pending JP2010122218A (ja)

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