JP2012063310A - 欠陥寸法測定装置、欠陥寸法測定方法、及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】平面座標取得部302は、画像データに含まれる検査対象の欠陥を示す画素の平面座標を取得する。空間座標変換部305は、平面座標取得部302が取得した平面座標を、仮想空間に配置された検査対象の外観を表す3次元モデルの表面と平面座標が示す点に対応する仮想空間上の直線との交点を示す空間座標に変換する。仮想寸法算出部307は、空間座標変換部305が変換した複数の空間座標を用いて仮想空間における前記欠陥の寸法を算出する。
【選択図】図2
Description
具体的には、以下の処理によって欠陥の寸法を算出する。
まず、寸法算出装置は、検査対象を撮像する撮像装置が撮像した画像データにおける欠陥の位置を示す情報の入力を受け付ける。次に、寸法算出装置は、入力した情報から、画像データ上の寸法(例えば画素数)を算出する。そして、寸法算出装置は、算出した寸法に情報撮像装置の画像分解能を乗算することで、欠陥の寸法を算出する。
以下、図面を参照しながら本発明の第1の実施形態について詳しく説明する。
図1は、本発明の一実施形態による欠陥寸法測定装置3を含む欠陥寸法測定システムの構成を示す図である。
欠陥寸法測定システムは、検査対象4に含まれるクラック(欠陥)の寸法を測定するシステムであり、撮像装置1、コントローラ2、欠陥寸法測定装置3を備える。
撮像装置1は、検査対象4を撮像する撮像部11と、撮像部11の位置及び視線方向を固定するアーム12と、コントローラ2から制御信号を受信し、当該制御信号に従ってアーム12の姿勢を制御する制御部とを備える。
コントローラ2は、撮像装置1のアーム12の姿勢を制御する制御信号をアーム12に出力する。また、コントローラ2は、アーム12の制御パターンを複数記憶しており、アーム12の姿勢を制御した制御パターンの識別情報を示すパターン信号を欠陥寸法測定装置3に出力する。
欠陥寸法測定装置3は、撮像装置1が撮像した画像データを取得し、当該画像データに含まれる検査対象4の欠陥の寸法を測定する。また、欠陥寸法測定装置3は、利用者から情報の入力を受け付ける入力装置31、及び情報の出力を行うディスプレイ32を備える。
欠陥寸法測定装置3は、画像取得部301、平面座標取得部302、マッピング情報記憶部303、パターン取得部304、空間座標変換部305、補間部306、仮想寸法算出部307、長さ情報記憶部308、実寸法算出部309を備える。
平面座標取得部302は、入力装置31を介して画像データに含まれる検査対象4の欠陥を示す画素の平面座標を取得する。例えば、入力装置31がマウス等のポインティングデバイスであった場合、利用者が入力装置31を用いて、ディスプレイ32に表示された画像データ上の欠陥の位置をポインタで選択することで、平面座標取得部302は、当該位置を示す平面座標を取得する。また、平面座標取得部302は、複数の平面座標を取得し、それぞれに取得順を示す識別番号を割り当てる。
マッピング情報記憶部303は、画像データが配置された仮想平面の座標(平面座標)と、検査対象4の外観を示す3次元モデルが配置された仮想空間の座標(空間座標)との対応関係を記憶する。なお、マッピング情報記憶部303は、コントローラ2によるアーム12の制御パターン毎に、当該制御パターンの識別情報に関連付けてマッピング情報を記憶する。
上記したように、マッピング情報は、平面座標と空間座標との対応関係を示す。具体的には、マッピング情報は、ある平面座標(Ix1,Iy1)を、当該平面座標(Ix1,Iy1)が示す点に対応する仮想空間上の直線と、仮想空間に配置された3次元モデルの表面との交点を示す空間座標(x1,y1,z1)に関連付けた情報である。これにより、マッピング情報を用いることで、画像データに含まれる検査対象4の点を、3次元モデルの表面の点に変換することができる。
空間座標変換部305は、パターン取得部304が読み出した識別情報に関連付けられたマッピング情報をマッピング情報記憶部303から読み出す。そして、空間座標変換部305は、読み出したマッピング情報を用いて、平面座標取得部302が取得した平面座標を空間座標に変換する。
仮想寸法算出部307は、補間部306が生成した補間線の長さを、仮想空間における欠陥の寸法として算出する。
長さ情報記憶部308は、仮想空間の単位長と実空間における長さとの関係を示す長さ関係情報を記憶する。
実寸法算出部309は、長さ情報記憶部308が記憶する長さ関係情報を用いて、仮想寸法算出部307が算出した仮想空間における寸法から、欠陥の実寸法を算出する。
平面座標取得部302は、検査対象4を撮像する撮像装置1が撮像した画像データに含まれる検査対象4の欠陥を示す画素の平面座標を取得する。空間座標変換部305は、平面座標取得部302が取得した平面座標を、平面座標が示す点に対応する仮想空間上の直線と、仮想空間に配置された検査対象4の外観を表す3次元モデルの表面との交点を示す空間座標に変換する。仮想寸法算出部307は、空間座標変換部305が変換した複数の空間座標を用いて仮想空間における前記欠陥の寸法を算出する。実寸法算出部309は、仮想空間の単位長と実空間における長さとの関係を示す長さ関係情報を用いて、仮想寸法算出部307が算出した仮想空間における寸法から欠陥の実寸法を算出する。
これにより、欠陥寸法測定装置3は、撮像装置1の光軸方向に対して高低差がある検査対象4の欠陥の寸法を正確に測定する。
図4は、第1の実施形態による欠陥寸法測定装置3の動作を示すフローチャートである。
コントローラ2が所定の制御パターンに基づいて撮像装置1のアーム12の姿勢を制御し、撮像装置1の撮像部11が所定の位置から検査対象4を撮像すると、欠陥寸法測定装置3の画像取得部301は、撮像装置1が撮像した画像データを取得し(ステップS1)、取得した画像データをディスプレイ32に表示させる(ステップS2)。
利用者が入力装置31を用いて、ディスプレイ32に表示された画像データ上の欠陥の位置を選択すると、平面座標取得部302は、入力装置31を介して当該位置の平面座標を取得する(ステップS3)。次に、平面座標取得部302は、取得した平面座標に取得順を示す識別番号を割り当てる(ステップS4)。
平面座標取得部302は、取得した平面座標に取得順を示す識別番号を割り当てると、利用者による次の欠陥の位置の入力を待機する(ステップS5)。利用者により次の欠陥の位置が入力された場合(ステップS5:YES)、ステップS3に戻り、当該欠陥の位置を示す平面座標を取得する。
以下、図面を参照しながら本発明の第2の実施形態について詳しく説明する。
図5は、第2の実施形態による欠陥寸法測定装置3の構成を示す概略ブロック図である。
本発明の第2の実施形態は、第1の実施形態の補間部306及び仮想寸法算出部307の代わりに、異なる動作をする補間部311及び仮想寸法算出部312を備えるものである。なお、第2の実施形態において、第1の実施形態と同様の構成要素については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
補間部311は、多項式補間を用いて、空間座標変換部305が変換した空間座標が示す点を通る2次以上の曲線である補間線を示す数式を生成する。
仮想寸法算出部312は、補間部311が生成した数式を線積分することで、補間線の長さを算出する。
以下、図面を参照しながら本発明の第3の実施形態について詳しく説明する。
図6は、第3の実施形態による欠陥寸法測定装置3の構成を示す概略ブロック図である。
本発明の第3の実施形態は、第2の実施形態の構成に加え、3次元モデル記憶部322及び中間点座標算出部321を備えるものである。なお、第3の実施形態において、第2の実施形態と同様の構成要素については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
中間点座標算出部321は、空間座標変換部305が変換した複数の空間座標が示す点のうち、連続する2つの点の間で3次元モデルの面の法線の向きが大きく変化する場合に、当該2つの点の中間点を抽出し、当該中間点の空間座標を算出する。
そして、補間部311は、空間座標変換部305及び中間点座標算出部321から空間座標を入力し、これらの空間座標が示す点を通る補間線を生成する。
また、中間点座標算出部321が抽出する中間点は、空間座標変換部305が変換した空間座標が示す2つの点の一方の点と中間点の間に存在する3次元モデルの面の全ての法線ベクトル同士の内積の最大値と、他方の点と中間点の間に存在する3次元モデルの面の全ての法線ベクトル同士の内積の最大値との差が最小となる点である。
図7(A)は、中間点座標算出部321が中間点を抽出しない場合に生成される補間線を示す図である。図7(A)に示す例では、空間座標変換部305が生成した点Bと点Cの間(点線で囲った部分)で3次元モデルの面の法線の向きが大きく変化している。このような場合に、補間部311が中間点を通らない補間線を生成すると、図7(A)に示すように、点Bと点Cとの間を結ぶ補間線は、3次元モデルの表面に沿わない。
これに対し、補間部311が中間点を通る補間線を生成することで、図7(B)に示すように、補間線は3次元モデルの表面に沿った形となる。これにより、第1、第2の実施形態よりさらに正確に欠陥の実寸法を測定することができる。
以下、図面を参照しながら本発明の第4の実施形態について詳しく説明する。
欠陥の寸法の測定を行う際、当該欠陥の寸法を小さめに見積もることは好ましくない。第4の実施形態によれば、欠陥の寸法を小さく見積もることを防止することができる。
本発明の第4の実施形態は、第2の実施形態の構成に加え、端部座標算出部331を備えるものである。なお、第4の実施形態において、第2の実施形態と同様の構成要素については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
そして、補間部311は、空間座標変換部305及び端部座標算出部331から空間座標を入力し、それぞれの空間座標が示す点を通る補間線を生成する。
図9(A)は、端部座標算出部331が端部を抽出しない場合に生成される補間線を示す図である。画素は画像データを構成する最小単位であるが、1つの画素は厳密には3Dモデルの点ではなく面に相当する。そこで、マッピング情報は、当該画素の中央の点を示す平面座標と空間座標との対応関係を格納している。そのため、図9(A)に示すように、欠陥の端部が画素の中央より外側に存在する場合において、空間座標変換部305が変換した空間座標が示す点を通る補間線を生成したとき、実寸法算出部309は、実際の欠陥の寸法より小さめの寸法を算出することとなる。
以下、図面を参照しながら本発明の第5の実施形態について詳しく説明する。
撮像装置1が検査対象4を撮像する際、検査対象4の配置のずれや、アーム12制御の微妙な誤差などの要因から、検査対象4と撮像装置1との位置関係を毎回同じにすることは難しい。
第5の実施形態によれば、検査対象4と撮像装置1との位置関係が初期設定と異なる場合にも、欠陥の寸法を正確に測定することができる。
本発明の第5の実施形態は、第1の実施形態のマッピング情報記憶部303の代わりに3次元モデル記憶部322、視点情報記憶部341、レンダリング部342、及び補正部343を備え、画像取得部301及び空間座標変換部305の代わりに動作の異なる画像取得部344及び空間座標変換部345を備えるものである。なお、第5の実施形態において、第2の実施形態と同様の構成要素については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
視点情報記憶部341は、検査対象4を基準としたときの撮像装置1の視点位置及び視線方向に対応する、仮想空間における3次元モデルを基準としたときの視点位置及び視線方向を示す視点情報を記憶する。
レンダリング部342は、視点情報記憶部341が記憶する視点情報を用いて、3次元モデル記憶部322が記憶するモデルデータのレンダリングを行い、レンダリングの結果得られたレンダリング画像データを画像取得部301に出力する。
補正部343は、入力装置31から3次元モデルの姿勢(x軸方向の位置、y軸方向の位置、z軸方向の位置、x軸方向の回転角度、y軸方向の回転角度、z軸方向の回転角度)の補正量を入力し、当該補正量を用いて視点情報記憶部341が記憶する視点情報を書き換える。利用者は、入力装置31を用いて、ディスプレイ32に表示された3次元モデルの輪郭と画像データに含まれる検査対象4の輪郭との誤差を最小にするよう、補正量を調整する。
なお、本実施形態では、補正部343が入力装置31を介して利用者から補正量の入力を受け付ける場合を説明したが、これに限られず、例えば補正部343が自動処理によって補正量を算出しても良い。具体的には、補正部343が、x軸方向の位置、y軸方向の位置、z軸方向の位置、x軸方向の回転角度、y軸方向の回転角度、z軸方向の回転角度のそれぞれを所定の範囲内で変化させ、レンダリング部342が出力したレンダリング画像データに含まれる3次元モデルの輪郭と、画像取得部301が取得した画像データに含まれる検査対象4の輪郭との誤差が最小になったものを、補正量として採用する方法が挙げられる。
例えば、上記したそれぞれの実施形態では、平面座標取得部302が入力装置31を介して利用者から欠陥の位置の入力を受け付ける場合を説明したが、これに限られず、例えば平面座標取得部302が自動処理によって欠陥の位置を割り出しても良い。この場合、上記したそれぞれの実施形態と異なり、取得順を示す情報を得ることができない。そのため、補間部306は、隣接する画素に対応する空間座標が示す点の間を補間する補間線を生成することとなる。
また、欠陥寸法測定装置3は、複数種類の欠陥の寸法を算出してもよい。例えば、仮想寸法算出部307が入力装置31を介して欠陥の種類を入力し、当該種類に応じた測定方法で欠陥の寸法を測定する。また、上述したように平面座標取得部302が自動処理によって欠陥の位置を割り出す場合、平面座標取得部302は、欠陥の種類毎に異なるアルゴリズムを用いて欠陥の位置を割り出すこととなる。この場合、仮想寸法算出部307は平面座標取得部302が用いたアルゴリズムに応じた測定方法で欠陥の寸法を測定しても良い。
Claims (7)
- 検査対象の欠陥の寸法を測定する欠陥寸法測定装置であって、
前記検査対象を撮像する撮像装置が撮像した画像データに含まれる前記検査対象の欠陥を示す画素の平面座標を取得する平面座標取得部と、
前記平面座標取得部が取得した平面座標を、当該平面座標が示す点に対応する前記仮想空間上の直線と、仮想空間に配置された前記検査対象の外観を表す3次元モデルの表面との交点を示す空間座標に変換する空間座標変換部と、
前記空間座標変換部が算出した複数の空間座標を用いて仮想空間における前記欠陥の寸法を算出する仮想寸法算出部と
を備えることを特徴とする欠陥寸法測定装置。 - 前記検査対象を撮像する撮像装置が撮像した画像データを取得する画像取得部と、
前記検査対象を基準としたときの前記撮像装置の視点位置及び視線方向に対応する、前記仮想空間における前記3次元モデルを基準としたときの視点位置及び視線方向を用いて前記3次元モデルのレンダリングを行い、画像を生成するレンダリング部と、
前記レンダリング部が生成した画像に含まれる前記3次元モデルの輪郭と前記画像取得部が取得した画像データに含まれる前記検査対象の輪郭との誤差を最小にする補正部と
を備え、
前記空間座標変換部は、前記補正部による補正結果を用いて前記平面座標を前記空間座標に変換する
ことを特徴とする請求項1に記載の欠陥寸法測定装置。 - 前記空間座標変換部が変換した複数の空間座標が示す点を通る補間線を生成する補間部を備え、
前記仮想寸法算出部は、前記補間部が生成した補間線の長さを、前記仮想空間における前記欠陥の寸法として算出する
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の欠陥寸法測定装置。 - 前記空間座標変換部が変換した複数の空間座標が示す点のうち、連続する2つの点の間に存在する前記3次元モデルの面の全ての法線ベクトル同士の内積の最大値が所定の角度以上である場合に、前記3次元モデルの面上における前記2つの点の間の点を示す空間座標を算出する中間点座標算出部を備え、
前記補間部は、前記空間座標変換部が変換した複数の空間座標及び前記中間点座標算出部が算出した空間座標を通る補間線を生成する
ことを特徴とする請求項3に記載の欠陥寸法測定装置。 - 仮想空間に配置された前記検査対象の外観を表す3次元モデルの表面と前記平面座標取得部が取得した平面座標のうち前記欠陥の端部に相当する画素と、当該画素に隣接する画素との中点に対応する前記仮想空間上の直線との交点を示す空間座標を算出する端部座標算出部を備え、
前記補間部は、前記空間座標変換部が変換した複数の空間座標及び前記端部座標算出部が算出した空間座標を通る補間線を生成する
ことを特徴とする請求項3または請求項4に記載の欠陥寸法測定装置。 - 検査対象の欠陥の寸法を測定する欠陥寸法測定装置を用いた欠陥寸法測定方法であって、
平面座標取得部は、前記検査対象を撮像する撮像装置が撮像した画像データに含まれる前記検査対象の欠陥を示す画素の平面座標を取得し、
空間座標変換部は、前記平面座標取得部が取得した平面座標を、当該平面座標が示す点に対応する前記仮想空間上の直線と、仮想空間に配置された前記検査対象の外観を表す3次元モデルの表面との交点を示す空間座標に変換し、
仮想寸法算出部は、前記空間座標変換部が変換した複数の空間座標を用いて仮想空間における前記欠陥の寸法を算出する
ことを特徴とする欠陥寸法測定方法。 - 検査対象の欠陥の寸法を測定する欠陥寸法測定装置を、
前記検査対象を撮像する撮像装置が撮像した画像データに含まれる前記検査対象の欠陥を示す画素の平面座標を取得する平面座標取得部、
前記平面座標取得部が取得した平面座標を、当該平面座標が示す点に対応する前記仮想空間上の直線と、仮想空間に配置された前記検査対象の外観を表す3次元モデルの表面との交点を示す空間座標に変換する空間座標変換部、
前記空間座標変換部が変換した複数の空間座標を用いて仮想空間における前記欠陥の寸法を算出する仮想寸法算出部、
として機能させるためのプログラム。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105091760A (zh) * | 2014-05-12 | 2015-11-25 | 发那科株式会社 | 距离传感器的配置评价装置 |
JP2018077051A (ja) * | 2016-11-07 | 2018-05-17 | 株式会社amuse oneself | 移動体を用いたレーザ測量における誤差補正装置および誤差補正プログラム |
CN112334760A (zh) * | 2018-06-12 | 2021-02-05 | 杰艺科股份公司 | 用于在空间中的复杂表面上定位点的方法和设备 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000306096A (ja) * | 1999-04-19 | 2000-11-02 | Honda Motor Co Ltd | 仮想カメラ画像形成方法 |
JP2005173336A (ja) * | 2003-12-12 | 2005-06-30 | Olympus Corp | 工業用内視鏡装置及びこれを用いた形状寸法測定方法 |
JP2010122218A (ja) * | 2008-11-20 | 2010-06-03 | General Electric Co <Ge> | 2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置 |
-
2010
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000306096A (ja) * | 1999-04-19 | 2000-11-02 | Honda Motor Co Ltd | 仮想カメラ画像形成方法 |
JP2005173336A (ja) * | 2003-12-12 | 2005-06-30 | Olympus Corp | 工業用内視鏡装置及びこれを用いた形状寸法測定方法 |
JP2010122218A (ja) * | 2008-11-20 | 2010-06-03 | General Electric Co <Ge> | 2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105091760A (zh) * | 2014-05-12 | 2015-11-25 | 发那科株式会社 | 距离传感器的配置评价装置 |
US9470515B2 (en) | 2014-05-12 | 2016-10-18 | Fanuc Corporation | Arrangement evaluation apparatus for evaluating arrangement position of range sensor |
CN105091760B (zh) * | 2014-05-12 | 2017-01-18 | 发那科株式会社 | 距离传感器的配置评价装置 |
JP2018077051A (ja) * | 2016-11-07 | 2018-05-17 | 株式会社amuse oneself | 移動体を用いたレーザ測量における誤差補正装置および誤差補正プログラム |
CN112334760A (zh) * | 2018-06-12 | 2021-02-05 | 杰艺科股份公司 | 用于在空间中的复杂表面上定位点的方法和设备 |
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