JP2021021669A - 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム - Google Patents

点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP2021021669A
JP2021021669A JP2019139414A JP2019139414A JP2021021669A JP 2021021669 A JP2021021669 A JP 2021021669A JP 2019139414 A JP2019139414 A JP 2019139414A JP 2019139414 A JP2019139414 A JP 2019139414A JP 2021021669 A JP2021021669 A JP 2021021669A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
dimensional
inspection object
real image
defect
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019139414A
Other languages
English (en)
Inventor
翔太 石井
Shota Ishii
翔太 石井
亮 田中
Akira Tanaka
亮 田中
達也 坂井
Tatsuya Sakai
達也 坂井
高橋 真
Makoto Takahashi
真 高橋
宏真 伊藤
Hiromasa Ito
宏真 伊藤
誠幸 澁谷
Masayuki Shibuya
誠幸 澁谷
怜史 伊藤
Reiji Ito
怜史 伊藤
研二 山本
Kenji Yamamoto
研二 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Power Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd filed Critical Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd
Priority to JP2019139414A priority Critical patent/JP2021021669A/ja
Publication of JP2021021669A publication Critical patent/JP2021021669A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Processing Or Creating Images (AREA)

Abstract

【課題】点検対象物における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出することが可能な点検支援方法等を提供する。【解決手段】点検支援方法は、点検対象物を撮像した二次元実画像を取得する画像取得ステップと、二次元実画像に含まれる点検対象物の形状を識別する形状識別ステップと、二次元実画像に含まれる点検対象物の欠陥を検出する検出ステップと、形状識別ステップの識別結果に基づいて、必要とする、予め取得されている点検対象物の3次元CADモデルから、二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出ステップと、検出ステップにおいて検出した欠陥を示す欠陥画像を含む二次元実画像を二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の前記欠陥画像を前記3次元CADモデル上に描写する描写ステップと、を備える。【選択図】 図7

Description

本開示は、点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラムに関する。
点検員が点検対象物(製品、機械部品や製造過程の中間生産物も含む)を目視点検して、欠陥の寸法等を判定して報告書に記入する場合、手間がかかり、点検員の能力差によって正確性にバラツキが生じてしまう。また、レーザで3D測定する場合、位置合わせ等で時間がかかり、また、装置が高価であるため、コスト高であった。
そのため、近年、点検対象物をカメラ又はIRカメラで撮像した画像に基づいて、点検対象物の欠陥の有無などを検査する点検支援方法が提案されている。例えば、特許文献1には、点検対象物をIRカメラで撮像することによって2次元画像(IR実画像)を取得し、その2次元画像上で3次元距離の計測を行う方法が開示されている。
この方法では、3次元CADモデルを用いて模擬画像を生成し、模擬画像を2次元画像に再配置し、3次元距離スケールマトリクスを生成し、2次元画像におけるピクセル間の3次元距離を取得する。模擬画像の再配置では、グレースケール値の相違に基づく費用関数を評価することによって、模擬画像を2次元画像に対して最適化し、両者の相対的な位置関係の調整を図っている。また、この方法では、点検対象物を一時的に加熱し、その放熱過程におけるIR実画像を取得することにより、奥行方向を含む3次元的な欠陥の位置や寸法を検出している。
特開2010−122218号公報
特許文献1に記載されている方法では、点検対象物を一時的に加熱する必要がある。この場合、加熱することが好ましくない点検対象物には適用できない。また、点検対象物のセッティングに手間がかかる場合がある。また、グレースケール値(あるいは二値)を用いた方法では、点検対象物を識別しにくい場合がある。
一方、IR実画像ではなく、通常の可視光のカメラによって撮像した二次元実画像では、RGBの色合いを評価することが可能であるため、点検対象物を識別しやすい場合がある。また、通常の可視光のカメラで点検対象物を撮像する場合には、点検対象物を加熱する必要がない点で有利である。しかしながら、点検対象物を可視光のカメラによって撮像した二次元実画像では、点検対象物における欠陥の3次元的な位置と寸法をどのように導出するかが問題となる。
上述の事情に鑑みて、本発明の少なくとも一実施形態は、点検対象物における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出することが可能な点検支援方法等を提供することを目的とする。
本発明の少なくとも一実施形態に係る点検支援方法は、
点検対象物を撮像した二次元実画像を取得する画像取得ステップと、
前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する形状識別ステップと、
前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の欠陥を検出する検出ステップと、
前記形状識別ステップの識別結果に基づいて、必要とする、予め取得されている前記点検対象物の3次元CADモデルから、前記二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出ステップと、
前記検出ステップにおいて検出した前記欠陥を示す欠陥画像を含む前記二次元実画像を前記二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の前記欠陥画像を前記3次元CADモデル上に描写する描写ステップと、
を備える。
かかる方法によれば、欠陥画像を点検対象物の3次元CADモデル上に描写するため、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出することが可能となる。
幾つかの実施形態では、前記描写ステップにおいて、前記二次元実画像と前記二次元模擬画像とを比較した結果に基づいて、前記欠陥画像を含む前記二次元実画像をアフィン変換することによって、描写する前記欠陥画像の位置及び寸法を調整する。
かかる方法によれば、描写する欠陥画像の位置及び寸法を調整するため、より正確な欠陥画像を3次元CADモデル上に描写させることができる。
幾つかの実施形態では、前記形状識別ステップは、前記二次元実画像において前記点検対象物の複数の基準部分を検出することによって前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する。
かかる方法では、点検対象物の特徴的な部分(例えば角部分)を基準部分として設定しておき、二次元実画像からその基準部分を検出することによって点検対象物の形状を識別する。この場合、点検対象物の輪郭を示すラインを検出して点検対象物の形状を識別する場合に比べて、処理を単純化したり、識別の精度を向上させたりすることが可能となる。
幾つかの実施形態では、前記画像抽出ステップは、前記二次元実画像から検出された前記点検対象物の複数の基準部分に対応する部分を含む前記二次元模擬画像を、前記点検対象物の前記3次元CADモデルから抽出する。
かかる方法では、点検対象物の特徴的な部分(例えば角部分)を基準部分として設定しておき、二次元実画像から検出される点検対象物の複数の基準部分に基づいて、3次元CADモデルから二次元模擬画像を抽出する。この場合、点検対象物の輪郭を示すラインに基づいて二次元模擬画像を抽出する場合に比べて、処理を単純化したり、抽出の精度を向上させたりすることが可能となる。
幾つかの実施形態では、前記描写ステップは、前記二次元実画像から検出される前記点検対象物の複数の基準部分と、前記二次元模擬画像に含まれる前記複数の基準部分に対応する部分とを比較した結果に基づいて、前記欠陥画像を含む前記二次元実画像をアフィン変換することによって前記欠陥画像の位置及び寸法を調整し、前記3次元CADモデル上に描写する。
かかる方法では、二次元実画像から検出される点検対象物の複数の基準部分と、二次元模擬画像に含まれる複数の基準部分に対応する部分とを比較して、それらの位置関係、形状、寸法等の相違に基づいて、欠陥画像の位置及び寸法を調整する。この場合、点検対象物の輪郭を示すライン同士を比較して、欠陥画像の位置及び寸法を調整する場合に比べて、処理を単純化したり、調整の精度を向上させたりすることが可能となる。
幾つかの実施形態では、前記形状識別ステップ及び前記画像抽出ステップは、前記点検対象物を含む複数の対象物のそれぞれの前記二次元実画像と、前記複数の対象物のそれぞれの前記3次元CADモデル又は前記二次元模擬画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて実行される。
かかる方法によれば、点検対象物の形状の識別及び二次元実画像に対応する二次元模擬画像の抽出をより正確に実行することが可能となる。
幾つかの実施形態では、前記検出ステップは、前記点検対象物を含む複数の対象物のそれぞれの前記二次元実画像と、前記複数の対象物に発生し得る前記欠陥画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて実行される。
かかる方法によれば、点検対象物の欠陥の検出をより正確に実行することが可能となる。
幾つかの実施形態では、前記点検支援方法は、前記3次元CADモデルの寸法データから前記点検対象物における前記欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出し、前記位置及び寸法の導出結果を含む報告書を作成する報告書作成ステップをさらに備える。
かかる方法によれば、欠陥の3次元的な位置及び寸法を含む報告書が作成されるため、報告書を作成する作業負担が低減される。また、同一の3次元CADモデルに対する欠陥の位置及び寸法の情報を複数の事例において収集することにより、統計(例えば、欠陥がへこみである場合、統計データからへこみ易い位置を特定できる)を取ることも可能となる。
本発明の少なくとも一実施形態に係る点検支援システムは、
点検対象物を撮像した二次元実画像を取得する画像取得部と、
前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する形状識別部と、
前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の欠陥を検出する検出部と、
前記点検対象物の3次元CADモデルを記憶する記憶部と、
前記形状識別部による識別結果に基づいて、必要とする、前記記憶部に記憶されている前記3次元CADモデルから、前記二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出部と、
前記検出部が検出した前記欠陥を示す欠陥画像を含む前記二次元実画像を前記二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の前記欠陥画像を前記3次元CADモデル上に描写する描写部と、
を備える。
かかる構成によれば、欠陥画像を点検対象物の3次元CADモデル上に描写するため、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出することが可能となる。
本発明の少なくとも一実施形態に係る点検支援プログラムは、
コンピュータに、
点検対象物を撮像した二次元実画像を取得する画像取得手順、
前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する形状識別手順、
前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の欠陥を検出する検出手順、
前記点検対象物の3次元CADモデルを記憶する記憶手順、
前記形状識別手順における識別結果に基づいて、必要とする、記憶されている前記3次元CADモデルから、前記二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出手順、
前記検出手順において検出された前記欠陥を示す欠陥画像を含む前記二次元実画像を前記二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の前記欠陥画像を前記3次元CADモデル上に描写する描写手順、
を実行させる。
かかるプログラムによれば、欠陥画像を点検対象物の3次元CADモデル上に描写するため、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出することが可能となる。
本発明の少なくとも一実施形態によれば、点検対象物における欠陥の3次元的な位置及び寸法を検出することが可能な点検支援方法等を提供することができる。
一実施形態に係る点検支援システムの構成を概略的に示すブロック図である。 一実施形態に係る点検支援システムが実行する基準部分の検出方法を説明するための概念図である。 比較例に係る点検支援システムが実行するラインの検出方法を説明するための概念図である。 一実施形態に係る点検支援システムが取得する二次元実画像の一例を示す模式図である。 一実施形態に係る点検支援システムが抽出する二次元模擬画像の一例を示す模式図である。 欠陥画像が描写された状態の3次元CADモデルの一例を示す模式図である。 一実施形態に係る点検支援システムが実行する処理の一例を示すフローチャートである。
以下、添付図面を参照して本発明の幾つかの実施形態について説明する。ただし、実施形態として記載されている又は図面に示されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は、本発明の範囲をこれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。
例えば、「同一」、「等しい」及び「均質」等の物事が等しい状態であることを表す表現は、厳密に等しい状態を表すのみならず、公差、若しくは、同じ機能が得られる程度の差が存在している状態も表すものとする。
一方、一の構成要素を「備える」、「具える」、「具備する」、「含む」、又は、「有する」という表現は、他の構成要素の存在を除外する排他的な表現ではない。
(点検支援システムの構成)
以下、一実施形態に係る点検支援システム1の構成について説明する。図1は、一実施形態に係る点検支援システム1の構成を概略的に示すブロック図である。
以下の一実施形態では、単一の装置(コンピュータ)によって構成される点検支援システム1について説明する。点検支援システム1は、可視光のカメラ2によって点検対象物3を撮像した画像である二次元実画像を取得するように構成される。
なお、点検支援システム1は、このような構成に限られず、複数の装置(コンピュータ)から構成されてもよい。例えば、一つ以上の通信端末がWAN(World Area Network)又はLAN(Local Area Network)を介してサーバ装置と通信を行い、それらの協働関係によって、点検支援システム1の機能が実現されてもよい。また、点検支援システム1は、カメラ2を備える構成であってもよい。
点検支援システム1は、点検対象物3の欠陥を検出したり、その報告書を作成したりする点検作業を支援するためのシステムである。点検支援システム1のユーザは、点検業務を行う点検員であってもよいし、その点検対象物3を使用する使用者であってもよい。点検支援システム1によって検出される欠陥は、外観から判別可能な欠陥であり、その種類は、例えば、ひび割れ、へこみ、傷、コーティング不良、酸化、減肉、汚れ等である。
点検対象物3は、製品全体であってもよいし、製品を構成する部品(例えば、機械部品)等であってもよい。また、点検対象物3は、新品であってもよいし、補修品であってもよいし、既設の設備であってもよい。点検対象物3は、例えば、ガスタービンの動翼、静翼、分割環、燃焼器等であってもよい。
以下、点検支援システム1の構成について詳細に説明する。図1に示すように、点検支援システム1は、他の装置と通信を行う通信部110と、各種データを記憶する記憶部120と、各種情報を出力する出力部130と、ユーザの入力を受け付ける入力部140と、装置全体の制御を行う制御部150とを備える。これらの構成要素は、バスライン160によって相互に接続される。
通信部110は、有線通信又は無線通信を行うためのNIC(Network Interface Card controller)を備える通信インターフェースである。通信部110は、不図示のネットワークを介して、他の装置(例えばカメラ2又はカメラ2を備える装置)と通信を行う。なお、点検支援システム1がカメラ2を備える構成である場合、この通信部110は省略されてもよい。
記憶部120は、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)等から構成される。記憶部120は、各種制御処理を実行するためのプログラム(例えば、点検支援プログラム、後述する学習済みモデル)と、各種データとを記憶する。
各種データには、複数の対象物の3次元CADモデルが含まれる。複数の対象物には、点検対象物3が含まれる。3次元CADモデルとは、その対象物を、任意の縮尺の3次元の仮想空間上においてメッシュ画像で示す3次元のCADデータである。メッシュ画像は、回転、拡大、縮小が可能であり、3次元CADモデルは、任意の視点で二次元模擬画像を抽出可能に構成される。
また、記憶部120は、取得した二次元実画像、抽出した二次元模擬画像、作成した報告書等を記憶してもよい。なお、記憶部120は、一つの記憶装置によって構成されてもよいし、複数の記憶装置によって構成されてもよいし、外部記憶装置であってもよい。
出力部130は、例えば、ディスプレイ装置、スピーカー装置等の出力装置から構成される。出力部130は、ユーザに各種情報を提示するための出力インターフェースである。
入力部140は、例えば、操作ボタン、キーボード、ポインティングデバイス、マイクロフォン等の入力装置から構成される。入力部140は、ユーザが指示を入力するために用いられる入力インターフェースである。
制御部150は、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)等のプロセッサから構成される。制御部150は、記憶部120に記憶されているプログラムを実行することにより、システム全体の動作を制御する。
以下、制御部150の機能的な構成を説明する。制御部150は、画像取得部151、形状識別部152、検出部153、画像抽出部154、描写部155、報告書作成部156として機能する。
画像取得部151は、点検対象物3をカメラ2で撮像した二次元実画像を取得する。具体的には、画像取得部151は、通信部110を介して、他の装置から二次元実画像を受信することによって二次元実画像を取得する。
形状識別部152は、画像取得部151が取得した二次元実画像中の点検対象物の二次元の形状を識別する。形状識別部152は、二次元実画像において点検対象物3の複数の基準部分を検出することによって二次元実画像に含まれる点検対象物3の形状を識別するように構成されていてもよい。
ここで、基準部分の検出方法について、比較例におけるラインの検出方法と対比しながら説明する。図2は、一実施形態に係る点検支援システム1が実行する基準部分の検出方法を説明するための概念図である。図3は、比較例に係る点検支援システム(不図示)が実行するラインの検出方法を説明するための概念図である。
図2及び図3では、点検対象物3が正面視において三角形状である場合を例示している。まず、点検支援システム1は、点検対象物3の特徴的な部分を基準部分として検出するように構成される。一実施形態では、特徴的な部分は、角部である。なお、特徴的な部分は、形状を識別するために役立つ部分であればよく、例えば、目印となるようなマーク、商標、鍵穴、ボタン等であってもよい。
一実施形態における基準部分の検出方法では、機械学習(例:SSD(Single Shot MultiBox Detector)技術)が使用される。SSD技術は、深層学習により画像内の物体を検出する手法として知られている。具体的には、図2に示すように、点検支援システム1は、デフォルトボックスB0を用いて二次元実画像P1内を探索し、点検対象物3の角部を基準部分として検出する。基準部分の形状は、ピクセルごとの赤、緑、青の成分を示すRGB値と、他のピクセルと比較した色合いとに基づいて識別される。
この結果、3つの角部に対応するデフォルトボックスB1、B2、B3が基準部分として検出される。点検支援システム1は、これらの基準部分の位置関係から点検対象物3が三角形状であると識別する。この場合、三角形状の辺に不鮮明な部分があったとしても、基準部分が検出されれば、点検支援システム1は、点検対象物3が三角形状であることを識別可能である。また、点検支援システム1は、検出された複数の基準部分の相対的な位置関係に基づいて、三角形状の辺の長さを識別可能である。
比較例に係るラインの検出方法では、点検対象物3の輪郭を示すラインを検出して点検対象物3の形状を識別する。この例では、図3において拡大して示すように、ピクセルごとの輝度を示すグレースケール値に基づいて点検対象物3の輪郭を示すラインを検出している。なお、比較例において、グレースケール値ではなく、基準値を定めて二値化することによってラインを検出することも可能である。
しかしながら、比較例のように、二次元実画像P1における点検対象物3の輪郭を示すラインを検出する場合、ラインの定義が必要となり、処理の複雑化、精度の低下等の問題が発生する虞がある。また、輝度は、撮影時の時間帯、場所、照明等の撮影条件によって変動してしまうため、撮影条件によってラインの検出に誤差が生じてしまう。このような誤差を除去するためには、様々な条件を考慮してシステムを構築しなければならない。
これに対し、上記の一実施形態に係る基準部分の検出方法によれば、RGB値と色合いに基づいて基準部分を検出するため、輝度の変動による検出の誤差は比較例に比べて小さくなる。また、深層学習の機械学習によって基準部分の形状を識別するため、処理を高速化することが可能である。ラインの定義が不要であるため、機械学習に必要な学習量も少なくすることができる。
形状識別部152は、上述した基準部分の検出方法によって二次元実画像に含まれる点検対象物3の形状を識別する。この場合、ラインの定義が不要であり、部分同士の比較だけになるため処理を単純化させることができる。また、形状識別部152は、点検対象物3を含む複数の対象物のそれぞれの二次元実画像と、複数の対象物のそれぞれの3次元CADモデル又はそれらの二次元模擬画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて二次元実画像に含まれる点検対象物3の形状を識別してもよい。
検出部153は、二次元実画像に含まれる点検対象物3の欠陥を検出する。検出部153は、点検対象物3を含む複数の対象物のそれぞれの二次元実画像と、複数の対象物に発生し得る欠陥画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて点検対象物3の欠陥を検出してもよい。例えば、検出部153は、二次元実画像の各ピクセルのRGB値を解析し、そのコントラストや色合いのパターン分類によって欠陥を判定するように構成されてもよい。
画像抽出部154は、形状識別部152による識別結果に基づいて、必要とする、記憶部120に記憶されている3次元CADモデルを参照し、その3次元CADモデルから、二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する。画像抽出部154は、二次元実画像から検出された点検対象物3の複数の基準部分に対応する部分を含む二次元模擬画像を、点検対象物3の3次元CADモデルから抽出してもよい。また、画像抽出部154は、点検対象物3を含む複数の対象物のそれぞれの二次元実画像と、複数の対象物のそれぞれの3次元CADモデル又はそれらの二次元模擬画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて、二次元模擬画像を3次元CADモデルから抽出してもよい。
描写部155は、検出部153が検出した欠陥を示す欠陥画像を二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の欠陥画像を3次元CADモデル上に描写する。この調整は、描写する前又は描写する時に実行されてもよいし、一度描写した後に既に描写されている欠陥画像に対して実行されてもよい。欠陥画像が描写された状態の3次元CADは、出力部130のディスプレイ装置に表示されてもよい。
描写部155は、二次元実画像と二次元模擬画像とを比較した結果に基づいて、二次元実画像に含まれる欠陥画像をアフィン変換することによって、描写する欠陥画像の位置及び寸法を調整する。なお、描写部155は、二次元実画像から検出される点検対象物3の複数の基準部分と、二次元模擬画像に含まれる複数の基準部分に対応する部分とを比較した結果に基づいて、二次元実画像に含まれる欠陥画像をアフィン変換することによって欠陥画像の位置及び寸法を調整してもよい。また、描写部155は、二次元実画像と二次元模擬画像とを比較した結果に基づいて、欠陥画像を含む二次元実画像をアフィン変換することによって、描写する欠陥画像の位置及び寸法を調整してもよい。欠陥画像だけでは欠陥部の寸法が正常時よりも変化している場合も考えられるため、アフィン変換時に欠陥部の周囲の正常部分も含めてもよい。
例えば、描写部155は、二次元実画像と二次元模擬画像との間で、複数の基準部分の位置関係から定まる辺の長さを比較して、それらの相似比に基づいて欠陥画像を拡大又は縮小してもよい。描写部155は、二次元実画像と二次元模擬画像との間で、複数の基準部分の位置関係を比較して、欠陥画像のアスペクト比の調整、平行移動、線形変換等を行ってもよい。
報告書作成部156は、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物3における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出し、位置及び寸法の導出結果を含む報告書を作成する。作成された報告書は、記憶部120に記憶されてもよいし、通信部110を介して他の装置(例えば、報告書を管理するサーバ装置)に送信されてもよい。
(二次元実画像と二次元模擬画像と3次元CADモデルとの関係性)
ここで、点検対象物3をカメラ2で撮像した二次元実画像と、その二次元実画像に基づいて画像抽出部154が3次元CADモデルから抽出した二次元模擬画像と、描写部155が欠陥画像を描写した3次元CADモデルとについて具体例を説明する。
図4は、一実施形態に係る点検支援システム1が取得する二次元実画像の一例を示す模式図である。図5は、一実施形態に係る点検支援システム1が抽出する二次元模擬画像の一例を示す模式図である。図6は、欠陥画像が描写された状態の3次元CADモデルの一例を示す模式図である。
なお、図5に示す二次元模擬画像は、図4に示す二次元実画像に基づいて抽出される画像である。図6では、図4に示す二次元実画像に含まれる欠陥画像が描写された3次元CADモデルが示されている。
図4〜図6に示す例では、点検対象物3は、ガスタービンの静翼である。図4に示すように、欠陥は、ガスタービンの静翼を腹側から撮像した二次元実画像において、翼部の中央の領域A1に位置するヘコミである。検出部153は、この領域A1の画像を欠陥画像として検出する。画像取得部151が図4に示す二次元実画像を取得した場合に、画像抽出部154は、形状識別部152による識別結果に基づいて、3次元CADモデルから、図5に示す二次元模擬画像を抽出する。
図4と図5を比べると、視点と縮尺とに若干の相違がある。そこで、描写部155は、図4における領域A1の欠陥画像を図5の二次元模擬画像に適合するようにアフィン変換等を行って調整する。そして、描写部155は、図5に示すように調整後の欠陥画像(領域A2)を3次元CADモデル上に描写する。なお、3次元CADモデル上では、欠陥画像は3次元CADモデルの縮尺で表示される。欠陥画像を示す領域A2は、元々の3次元CADモデルの画像と区別可能とするために着色されていてもよい。
(処理の流れ)
以下、点検支援システム1が実行する処理の具体例を説明する。図7は、一実施形態に係る点検支援システム1が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
図7に示すように、点検支援システム1の画像取得部151は、カメラ2が点検対象物3を撮像した二次元実画像を取得する(ステップS1)。点検支援システム1の形状識別部152は、二次元実画像における点検対象物3の基準部分を検出して、点検対象物3の形状を識別する(ステップS2)。点検支援システム1の検出部153は、点検対象物3の欠陥を検出する(ステップS3)。欠陥の検出は、3次元CADモデルとの比較で行われてもよいし、学習済みモデルを使用して行われてもよい。
ここで、点検支援システム1の制御部150は、点検対象物3に欠陥があるか否かを判別する(ステップS4)。点検対象物3に欠陥が無いと判別された場合(ステップS4;No)、ステップS5〜S7は、スキップされ、点検支援システム1の報告書作成部156は欠陥が無いことを示す報告書を作成する(ステップS8)。
一方、点検対象物3に欠陥があると判別された場合(ステップS4;Yes)、点検支援システム1の画像抽出部154は、二次元実画像から検出された点検対象物3の複数の基準部分に対応する部分を含む二次元模擬画像を3次元CADモデルから抽出する(ステップS5)。この抽出には、学習済みモデルが使用されてもよい。
点検支援システム1の描写部155は、ステップS3で検出された欠陥を示す二次元実画像(すなわち欠陥画像)を二次元模擬画像に適合するように適合化を行う(ステップS6)。このとき、欠陥画像は、アフィン変換等によって調整される。点検支援システム1の描写部155は、調整後の欠陥画像を3次元CADモデル上に描写する(ステップS7)。点検支援システム1の報告書作成部156は、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物3における欠陥の3次元的な位置及び寸法を後出し、その導出結果を含む報告書を作成する(ステップS8)。なお、図7において、破線で示すように、ステップS1〜S4、S6は二次元情報を用いた処理であり、ステップS5、S7は三次元情報を用いた処理である。ステップS8は、三次元情報と二次元情報の両方又はいずれか一方を用いたり、欠陥が無い場合は文言だけを記載したりする等、適用先の拠点や点検対象物に応じて報告書を作成する。
以上説明したように、例えば、図1〜図7に示すように、一実施形態に係る点検支援方法は、点検対象物3を撮像した二次元実画像を取得する画像取得ステップと、二次元実画像に含まれる点検対象物3の形状を識別する形状識別ステップと、二次元実画像に含まれる点検対象物3の欠陥を検出する検出ステップと、形状識別ステップの識別結果に基づいて、必要とする、予め取得されている点検対象物3の3次元CADモデルから、二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出ステップと、検出ステップにおいて検出した欠陥を示す欠陥画像を含む二次元実画像を二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の欠陥画像を3次元CADモデル上に描写する描写ステップと、を備える。
かかる方法によれば、欠陥画像を点検対象物3の3次元CADモデル上に描写するため、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物3における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出することが可能となる。
幾つかの実施形態では、描写ステップにおいて、二次元実画像と二次元模擬画像とを比較した結果に基づいて、欠陥画像を含む二次元実画像をアフィン変換することによって、描写する欠陥画像の位置及び寸法を調整する。
かかる方法によれば、描写する欠陥画像の位置及び寸法を調整するため、より正確な欠陥画像を3次元CADモデル上に描写させることができる。
幾つかの実施形態では、形状識別ステップは、二次元実画像において点検対象物3の複数の基準部分を検出することによって二次元実画像に含まれる点検対象物3の形状を識別する。
かかる方法では、点検対象物3の特徴的な部分(例えば角部分)を基準部分として設定しておき、二次元実画像からその基準部分を検出することによって点検対象物3の形状を識別する。この場合、点検対象物3の輪郭を示すラインを検出して点検対象物3の形状を識別する場合に比べて、処理を単純化したり、識別の精度を向上させたりすることが可能となる。
幾つかの実施形態では、画像抽出ステップは、二次元実画像から検出された点検対象物3の複数の基準部分に対応する部分を含む二次元模擬画像を、点検対象物3の3次元CADモデルから抽出する。
かかる方法では、点検対象物3の特徴的な部分(例えば角部分)を基準部分として設定しておき、二次元実画像から検出される点検対象物3の複数の基準部分に基づいて、3次元CADモデルから二次元模擬画像を抽出する。この場合、点検対象物3の輪郭を示すラインに基づいて二次元模擬画像を抽出する場合に比べて、処理を単純化したり、抽出の精度を向上させたりすることが可能となる。
幾つかの実施形態では、描写ステップは、二次元実画像から検出される点検対象物3の複数の基準部分と、二次元模擬画像に含まれる複数の基準部分に対応する部分とを比較した結果に基づいて、欠陥画像を含む二次元実画像をアフィン変換することによって欠陥画像の位置及び寸法を調整し、3次元CADモデル上に描写する。
かかる方法では、二次元実画像から検出される点検対象物3の複数の基準部分と、二次元模擬画像に含まれる複数の基準部分に対応する部分とを比較して、それらの位置関係、形状、寸法等の相違に基づいて、欠陥画像の位置及び寸法を調整する。この場合、点検対象物3の輪郭を示すライン同士を比較して、欠陥画像の位置及び寸法を調整する場合に比べて、処理を単純化したり、調整の精度を向上させたりすることが可能となる。
幾つかの実施形態では、形状識別ステップ及び画像抽出ステップは、点検対象物3を含む複数の対象物のそれぞれの二次元実画像と、複数の対象物のそれぞれの3次元CADモデル又は二次元模擬画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて実行される。
かかる方法によれば、点検対象物3の形状の識別及び二次元実画像に対応する二次元模擬画像の抽出をより正確に実行することが可能となる。
幾つかの実施形態では、検出ステップは、点検対象物3を含む複数の対象物のそれぞれの二次元実画像と、複数の対象物に発生し得る欠陥画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて実行される。
かかる方法によれば、点検対象物3の欠陥の検出をより正確に実行することが可能となる。
幾つかの実施形態では、点検支援方法は、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物3における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出し、位置及び寸法の導出結果を含む報告書を作成する報告書作成ステップをさらに備える。
かかる方法によれば、欠陥の3次元的な位置及び寸法を含む報告書が作成されるため、報告書を作成する作業負担が低減される。また、同一の3次元CADモデルに対する欠陥の位置及び寸法の情報を複数の事例において収集することにより、統計(例えば、欠陥がへこみである場合、統計データからへこみ易い位置を特定できる)を取ることも可能となる。
本発明の少なくとも一実施形態に係る点検支援システム1は、例えば、図1に示すように、点検対象物3を撮像した二次元実画像を取得する画像取得部151と、二次元実画像に含まれる点検対象物3の形状を識別する形状識別部152と、二次元実画像に含まれる点検対象物3の欠陥を検出する検出部153と、点検対象物3の3次元CADモデルを記憶する記憶部120と、形状識別部152による識別結果に基づいて、必要とする、記憶部120に記憶されている3次元CADモデルから、二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出部154と、検出部153が検出した欠陥を示す欠陥画像を含む二次元実画像を二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の欠陥画像を3次元CADモデル上に描写する描写部155と、を備える。
かかる構成によれば、欠陥画像を点検対象物3の3次元CADモデル上に描写するため、3次元CADモデルの寸法データから点検対象物3における欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出することが可能となる。
本発明は上述した実施形態に限定されることはなく、上述した実施形態に変形を加えた形態や、これらの形態を適宜組み合わせた形態も含む。
(変形例)
例えば、点検支援システム1が実行する処理の順序は、図7に示す例に限られない。例えば、図7において、欠陥を検出するステップS3の前に、二次元模擬画像を抽出するステップS5が実行されてもよい。図7に示す処理の一部は、ユーザが行ってもよい。例えば、ステップS8の報告書の作成はユーザが行ってもよく、点検支援システム1は報告書作成部156を備えていない構成であってもよい。
また、本開示に係る点検支援システム1は、上記装置によらず、例えば、コンピュータがプログラム(点検支援プログラム)を実行することで、その機能を実現してもよい。点検支援システム1の機能を実現するための点検支援プログラムは、USB(Universal Serial Bus)メモリ、CD−ROM(Compact Disc−Read Only Memory)、DVD(Digital Versatile Disc)、HDD(Hard Disc Drive)等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されてもよいし、ネットワークを介してコンピュータにダウンロードされてもよい。
1 点検支援システム
2 カメラ
3 点検対象物
110 通信部
120 記憶部
130 出力部
140 入力部
150 制御部
151 画像取得部
152 形状識別部
153 検出部
154 画像抽出部
155 描写部
156 報告書作成部
160 バスライン

Claims (10)

  1. 点検対象物を撮像した二次元実画像を取得する画像取得ステップと、
    前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する形状識別ステップと、
    前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の欠陥を検出する検出ステップと、
    前記形状識別ステップの識別結果に基づいて、必要とする、予め取得されている前記点検対象物の3次元CADモデルから、前記二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出ステップと、
    前記検出ステップにおいて検出した前記欠陥を示す欠陥画像を含む前記二次元実画像を前記二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の前記欠陥画像を前記3次元CADモデル上に描写する描写ステップと、
    を備える点検支援方法。
  2. 前記描写ステップにおいて、前記二次元実画像と前記二次元模擬画像とを比較した結果に基づいて、前記欠陥画像を含む前記二次元実画像をアフィン変換することによって、描写する前記欠陥画像の位置及び寸法を調整する
    請求項1に記載の点検支援方法。
  3. 前記形状識別ステップは、前記二次元実画像において前記点検対象物の複数の基準部分を検出することによって前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する
    請求項1又は2に記載の点検支援方法。
  4. 前記画像抽出ステップは、前記二次元実画像から検出された前記点検対象物の複数の基準部分に対応する部分を含む前記二次元模擬画像を、前記点検対象物の前記3次元CADモデルから抽出する
    請求項1乃至3の何れか一項に記載の点検支援方法。
  5. 前記描写ステップは、前記二次元実画像から検出される前記点検対象物の複数の基準部分と、前記二次元模擬画像に含まれる前記複数の基準部分に対応する部分とを比較した結果に基づいて、前記欠陥画像を含む前記二次元実画像をアフィン変換することによって前記欠陥画像の位置及び寸法を調整し、前記3次元CADモデル上に描写する
    請求項1乃至4の何れか一項に記載の点検支援方法。
  6. 前記形状識別ステップ及び前記画像抽出ステップは、前記点検対象物を含む複数の対象物のそれぞれの前記二次元実画像と、前記複数の対象物のそれぞれの前記3次元CADモデル又は前記二次元模擬画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて実行される
    請求項1乃至5の何れか一項に記載の点検支援方法。
  7. 前記検出ステップは、前記点検対象物を含む複数の対象物のそれぞれの前記二次元実画像と、前記複数の対象物に発生し得る前記欠陥画像との関係性を機械学習した学習済みモデルを用いて実行される
    請求項1乃至6の何れか一項に記載の点検支援方法。
  8. 前記3次元CADモデルの寸法データから前記点検対象物における前記欠陥の3次元的な位置及び寸法を導出し、前記位置及び寸法の導出結果を含む報告書を作成する報告書作成ステップをさらに備える
    請求項1乃至7の何れか一項に記載の点検支援方法。
  9. 点検対象物を撮像した二次元実画像を取得する画像取得部と、
    前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する形状識別部と、
    前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の欠陥を検出する検出部と、
    前記点検対象物の3次元CADモデルを記憶する記憶部と、
    前記形状識別部による識別結果に基づいて、必要とする、前記記憶部に記憶されている前記3次元CADモデルから、前記二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出部と、
    前記検出部が検出した前記欠陥を示す欠陥画像を含む前記二次元実画像を前記二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の前記欠陥画像を前記3次元CADモデル上に描写する描写部と、
    を備える点検支援システム。
  10. コンピュータに、
    点検対象物を撮像した二次元実画像を取得する画像取得手順、
    前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の形状を識別する形状識別手順、
    前記二次元実画像に含まれる前記点検対象物の欠陥を検出する検出手順、
    前記点検対象物の3次元CADモデルを記憶する記憶手順、
    前記形状識別手順における識別結果に基づいて、必要とする、記憶されている前記3次元CADモデルから、前記二次元実画像に対応する二次元模擬画像を抽出する画像抽出手順、
    前記検出手順において検出された前記欠陥を示す欠陥画像を含む前記二次元実画像を前記二次元模擬画像に適合するように調整し、調整後の前記欠陥画像を前記3次元CADモデル上に描写する描写手順、
    を実行させるための点検支援プログラム。
JP2019139414A 2019-07-30 2019-07-30 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム Pending JP2021021669A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019139414A JP2021021669A (ja) 2019-07-30 2019-07-30 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019139414A JP2021021669A (ja) 2019-07-30 2019-07-30 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021021669A true JP2021021669A (ja) 2021-02-18

Family

ID=74574749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019139414A Pending JP2021021669A (ja) 2019-07-30 2019-07-30 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2021021669A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022210948A1 (ja) * 2021-03-30 2022-10-06 川崎重工業株式会社 特定点検出システム、特定点検出方法及び特定点検出プログラム
WO2022260028A1 (ja) * 2021-06-11 2022-12-15 日立Astemo株式会社 外観検査装置、外観検査方法、画像生成装置および画像生成方法
CN116481460A (zh) * 2023-05-26 2023-07-25 中国矿业大学 一种基于三维重构模型的表观坑洞缺陷尺寸检测方法
WO2023188671A1 (ja) * 2022-03-28 2023-10-05 三菱重工業株式会社 点検支援システム、点検支援方法、及び、点検支援プログラム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010122218A (ja) * 2008-11-20 2010-06-03 General Electric Co <Ge> 2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置
US20110267428A1 (en) * 2010-04-30 2011-11-03 General Electric Company System and method for mapping a two-dimensional image onto a three-dimensional model

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010122218A (ja) * 2008-11-20 2010-06-03 General Electric Co <Ge> 2次元画像上で3次元計測を行なう方法及び装置
US20110267428A1 (en) * 2010-04-30 2011-11-03 General Electric Company System and method for mapping a two-dimensional image onto a three-dimensional model

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022210948A1 (ja) * 2021-03-30 2022-10-06 川崎重工業株式会社 特定点検出システム、特定点検出方法及び特定点検出プログラム
WO2022260028A1 (ja) * 2021-06-11 2022-12-15 日立Astemo株式会社 外観検査装置、外観検査方法、画像生成装置および画像生成方法
WO2023188671A1 (ja) * 2022-03-28 2023-10-05 三菱重工業株式会社 点検支援システム、点検支援方法、及び、点検支援プログラム
DE112023000151T5 (de) 2022-03-28 2024-04-04 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Inspektionsunterstützungssystem, inspektionsunterstützungsverfahren und inspektionsunterstützungsprogramm
KR20240044495A (ko) 2022-03-28 2024-04-04 미츠비시 파워 가부시키가이샤 점검 지원 시스템, 점검 지원 방법, 및, 점검 지원 프로그램
CN116481460A (zh) * 2023-05-26 2023-07-25 中国矿业大学 一种基于三维重构模型的表观坑洞缺陷尺寸检测方法
CN116481460B (zh) * 2023-05-26 2024-05-07 中国矿业大学 一种基于三维重构模型的表观坑洞缺陷尺寸检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2021021669A (ja) 点検支援方法、点検支援システム、及び点検支援プログラム
WO2019188040A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
US20160182873A1 (en) Image processing apparatus, image processing system, image processing method, and computer program
JP6317725B2 (ja) 取得された画像内のクラッタを決定するためのシステム及び方法
TWI500925B (zh) Check the device, check the method and check the program
CN107316047A (zh) 图像处理装置、图像处理方法以及存储介质
CN109934873B (zh) 标注图像获取方法、装置及设备
EP3889588A1 (en) Inspection assistance device, inspection assistance method, and inspection assistance program for concrete structure
WO2021188104A1 (en) Object pose estimation and defect detection
JP6405124B2 (ja) 検査装置、検査方法およびプログラム
CN115713476A (zh) 基于激光焊接的视觉检测方法、装置及可读存储介质
WO2021046726A1 (zh) 用于检测机械设备零部件的方法和装置
Wang et al. Structured-light three-dimensional scanning for process monitoring and quality control in precast concrete production.
JP6362401B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理装置の制御方法
WO2023188671A1 (ja) 点検支援システム、点検支援方法、及び、点検支援プログラム
JPWO2015008373A1 (ja) 情報処理装置、検査範囲の計算方法、及びプログラム
Hsu et al. 3D modeling for steel billet images
Kropp et al. Object recognition in bim registered videos for indoor progress monitoring
JP2011022084A (ja) 三次元姿勢測定装置および三次元姿勢測定方法
BARON et al. APPLICATION OF AUGMENTED REALITY TOOLS TO THE DESIGN PREPARATION OF PRODUCTION.
CN113068017A (zh) 增强真实场景的视频通量
US20230316492A1 (en) Teacher data generating method and generating device
JPWO2020111139A1 (ja) 座標算出装置、座標算出方法、及びプログラム
US20240161271A1 (en) Information processing apparatus, control program, and control method
JP2018128357A (ja) 形状検査方法および形状検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20220125

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220427

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230308

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230530