CN1075206C - 照片处理机用的光学检测装置的底片检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明照片处理机用的光学检测装置的底片检测方法，受光机构根据从发光机构接收的光强度产生输出电压，光学检测装置将受光机构的输出电压与基准电压值相比较，其特征在于检测底片存在的初始设置包括：检测发光机构的光量所对应的受光机构的电压，在发光机构和受光机构之间没有放置底片；调整下述之一：基准电压值以代替预置的基准电压值；发光机构的输入电流；或来自受光机构的输出电压的放大程度，使得不用底片就能检测有无底片。

Description

照片处理机用的光学检测装置的底片检测方法

本发明涉及利用照片处理机中的光学装置的底片检测方法。

在照片印相装置等的照片处理机中设置用于检测处理机内插入底片的光学系统的底片检测装置，以便在检测出底片插入时根据该信号启动其它的自动机器。

在使底片检测装置动作的情况下，用预先显影过的底片进行动作基准的调整从而设定合适的电平。该调整是在没有底片情况下的电平和有调整底片情况的检测电平的中间进行的，在装置出厂时或维护检修时由维修人员进行这样的调整。

然而，上述已有的检测方法田于是用显影过的底片确认有无底片的方法，所以必须有显影过的底片，调整麻烦，特别是在设置多个底片检测装置时必须要逐个调整，因而很费时间。

并且，在根据显影过的底片进行灵敏度调整时，应使用密度最小的底片进行电平调整，但在错误地用密度大的底片调整时，则在实际检测底片时就不能检测密度小的底片，照片印相装置整体就会发生错误动作，引起故障的发生。

而且，即使最初正常地进行调整，由于时效的作用也会使动作基准状态缓慢地改变，往往也不能发现检测装置上附着污物的情况。

本发明的课题是注意到由上述已有的底片检测装置的底片检测方法的现状，提供在不用底片的条件下也能确实地检测有无底片、没有麻烦的人工调整作业、能防止因错误设定的检测机构引起的误动作的底片检测方法。

本发明的光学检测装置的底片检测方法用于检测安装在底片检测位置处的光学检测装置的底片的存在，在检测位置处，受光机构根据从发光机构接收到的光强度产生输出电压，光学检测装置将受光机构的输出电压与基准电压值相比较，其特征在于检测底片存在的初始设置包括步骤：检测发光机构的光量所对应的受光机构的电压，在发光机构和受光机构之间没有放置底片；调整下述之一：调整基准电压值以使其比预置的基准电压值提高10％至50％的富裕度，以此设定发光机构的发光量，之后将基准电压值再恢复到原来的基准电压值；直接调整发光机构的输入电流使其比基准电压值时所对应的发光机构的输入电流值提高10％至50％的富裕度；或调整受光机构端的放大电路的增益值使其比基准电压值时所对应的放大电路的增益值提高10％至50％的富裕度；从而，没有底片时受光机构的输出电压比基准电压值大10％至50％的富裕度。

这时，上述富裕度由使用的底片检测装置的灵敏度特性决定。

上述任何一种底片检测方法中，在上述受光机构的输出电路上设置判定基准值可变机构，由此按上述规定的富裕度增加设定基准值，使发光机构的光通量增大至达到该增加基准值，在超过基准值的瞬间状态使设定发光机构后的上述可变机构的基准值返回初期值，从而形成在发光机构上附加上述规定的富裕度的方法。

作为其它的方法，也可以更增大地设定发光机构的光量，以便通过上述控制机构使发光机构的光量增大，对于超过判定基准值的瞬间的光通量形成规定富裕度。

或者也可以通过上述控制机构使受光机构的增益增大，相对于超过判定基准值的瞬间增益增加设定上述规定富裕度的增益值。

而且，也可以读取对应于上述发光机构任意状态的光通量的感光机构的输出电平，将对应该读取值并按规定比例减小的值作为判定基准值而存储。

图1是第一实施例全部控制电路的概要方框图；

图2是说明上述底片检测方法作用的流程图；

图3是第一和第四实施例作用的说明图；

图4是第二实施例全部控制电路的概要方框图；

图5是说明上述底片检测方法作用的流程图；

图6是第三实施例全部控制电路的概要方框图；

图7是说明上述底片检测方法作用的流程图；

图8是第四实施例全部控制电路的概要方框图；

图9说明上述底片检测方法作用的流程图。

下面，参照附图1说明该发明的实施例。

图1作为一例是控制照片印相机的光学底片检测装置电路的概要方框图。电子控制电路10附设有显示器11和键盘12，显示器11显示底片检测装置的检测状态等信息，键盘通过键的操作，即使人工操作也能复核检测状态。

电子控制电路10省略了图示，但该电路是控制照片印相机的底片输送装置、导轨、扫描机构、曝光用光源、调整滤光器等种种功能部的电子控制电路，在该控制电路内还内装着下述底片检测装置的控制程序。

通常在由电子控制电路10驱动照片印相机的操作开始时或某一定时间的间隔内用被设定的定时器(图示省略)控制光学底片检测装置的动作或设定动作，但也能如上所述，用上述键盘通过人工操作控制这些动作。

13是输入输出接口，14是总线电路，15是RAM(随机存取存储器)，16是ROM(只读存储器)，17是CPU(中央运算处理机)。

光学底片检测装置由一对例如用LED发光二极管的发光元件1a和用Pin-PD点接触型二极管的受光元件2a构成，它们被设置在照片相机的相应位置上。通过图中1n和2n的组合显示着这些多对底片检测装置。

上述发光元件1a...1n是由D/A变换电路3将电子控制电路10的数字控制信号变换成模拟信号，再根据这些信号通过恒流电路4来控制的。

用输入电路5分别处理受光元件2a...2n的受光信号并传送到电子控制电路10，同时在途中用比较电路6将该受光信号的输出电平与基准电压发生电路7的基准电压相比较，然后将该比较信号(H(高)或L(低))送到电子控制电路10。在基准电压发生电路7内根据电子控制电路10的信号产生基准电压。

通过以上所述的控制电路，用光学底片检测装置的底片检测方法如下述那样地检测底片。

首先，如上述那样地进行人工操作时，通过操作键盘12开始图2的流程动作。又，在全自动装置时，通过键操作选择照片印相机的开始作业点检测模式，同时开始动作。当动作开始时，在步骤S1首先因为底片检测装置的发光元件1和受光元件2之间不能遮光，所以使底片检测装置从底片上移动。该移动由图示省略的移动机构进行。或者也可以在底片插入的状态使底片后退，变为非遮光状态。

在步骤S2中，通过电子控制电路10的指令，使基准电压发生电路7的基准电压设定值暂时提高。在本实施例中，该提高的电压比原来的标准值提高20％，但也不一定非提高20％，在将底片插入检测装置遮光时可以使底片检测装置的电压减少50-60％左右，也可以由使用的底片检测装置的灵敏度特性来决定。在下面其它实施例中全都将该数值取为20％或80％。

然后，在步骤S3中复核受光元件2的输出电压电平是否是H(高)。若不是H，则在步骤S4中使发光元件1的电流值上升，增大发光元件1a的发光强度，直至使上述输出电压从L(低)变为H。这时，H、L是有下述含义。即，如图3所示，适宜设定感光元件1的基准电压(标准值)，设超过此基准电压值的状态为H、不超过的状态为L,H对应无底片，L对应有底片的状态。因而，在步骤S2中，使基准电压提高时，相对于该调整的基准电压，判断受光元件2的输出电压电平是否是H、L。

当受光元件2的输出电压是H时，这时在步骤S5使发光元件1的电流减少，使发光元件1的光通量减少直至受光元件2的输出电压变为L。在步骤S6中，当受光元件的输出电压变为L时，按对应此时发光量的电流值设定发光元件1(在该状态固定电流值)。

这时，设定发光元件1的电流值，使其不是与原来的基准电压、而是与增大的调整基准电压相对应的值，使电流值上升，直至受光元件2的输出电压变为H，这样就能排除底片检测装置滞后特性的影响，在受光元件2的输出电压减少侧的特性曲线上检测出从H变为L的点。

然后，在步骤S7使受光元件基准电压值返回原来的设定值。因此，应该确认以下事项。

用底片检测装置检测出有无底片时，将底片插入在底片检测装置期间由受光元件2感受发光元件1的光，但在该实施例中，所感受到的光通量由于插入底片而遮光，在底片密度小的情况下减少50-60％左右。

另外，若如已有技术那样与发光元件1的设定相对应的受光元件2的输出电压设定成初期设定的基准电压(标准值)，在1年，2年和长时间每日地使用底片检测装置时由于时效影响使各元件的动作状态变化，作为一个极端的例子，是受光元件2侧的基准电压相同，但发光元件1的发光量减少相当多。

在这样的情况下，如已有技术那样，通常利用人工调整发光元件1的发光量，但这样的调整极其麻烦且费时工夫。并且，因错误调整而使基准电压值变大并在下次检测时，即使没有插入底片，输出电压也变成在基准电压以下，产生输出有底片信号的误动作。

本实施例在没有插入底片的状态，一定要设定发光元件1的发光量，以便使受光元件2输出比基准电压大规定比例的输出电压，所以能防止错误动作。

在这种情况下，上述增大的比例值在20％附近是适当的，相反若大于50％左右就过度，由于插入底片时光的透过量减少50-60％，使受光元件2的输出电压超过基准电压电平，所以在插入底片时也会发生无底片的检测信号，产生误动作。

与此相反，若设上述富余值为10％以下，由时效变化而引起的影响不能忽视，所以考虑到各种经验的判断，把富裕值选为20％左右。

归纳以上所述，在底片检测装置的发光元件1和受光元件2之间没有插入底片的状态，使发光元件1的电流值从低电平开始增大，认定上述电流值以便使受光元件2的输出电压超过调整基准电压，使受光侧的基准电压返回原来的规定值，所以即使没有底片时也能检测出有无底片插入，然后实际插入底片，该插入在途中变为没有时，与此相对应，也能确实地得知底片是否插入。

在上述检测作用下，即使因时效变化使基准电压的设定值从当初制造底片检测装置的设定值下降时，底片检测装置在通常操作开始之前必须进行上述设定的调整，然后进行通常的操作。因而，即使在每次的设定调整时基准电压都缓慢地下降，也应与该下降的基准电压相对应地提高20％的调整基准电压，再与该电压相对应地设定发光元件1的电流值。因此，虽然底片检测装置的操作电压变化，但由于是以基准电压为中心通过判断是否超过该值来检测有无底片的，所以完全没有影响。

图4是第二实施例全部控制电路的概要方框图。在该实施例中，没有设置第一实施例的比较电路6和基准电压发生电路7。其它相同功能的构件都用同一符号表示并省略其说明。

在该实施例中，变更电子控制电路10内程序的一部分以代替上述2个省略的构件。

如图5所示，在步骤S12中，与步骤S3情况相同地复核受光元件2的输出电压是否是H，但这时不变动检测受光元件输出电压是否超过基准电压时的基准电压，而是通过在电子控制电路10内复核成为预先设定值的电压值，判断上述输出电压是否是H。

因而，步骤13、步骤14与步骤S4、S5相对应。步骤S15也基本上与步骤S6相同，只有一点不同，即判断基准是当初的设定基准电压。

而且，在步骤S16使发光元件1的电流设定值上升。该电流的设定值是用计算机检测与上述设定基准电压相对应的发光元件1的电流值，使该值上升20％。由此和第1实施例相同，能以设定基准电压为中心使发光侧的设定处在比规定比例大的状态，即使设定基准电压因时效变化等引起变化时，由于对于变化了的基准电压设定发光侧，所以完全没有影响。

图6是表示第三实施例全部控制电路的概要结构方框图。在该实施例中，省略了D/A变换电路3，恒电流电路4、输入电路5、比较电路6和基准电压发生电路7，所示不同点是为了代替这些而在受光元件2的输入侧和电子控制电路10之间设置着放大电路8。

这时，电子控制电路10通常由微型计算机组成，信号全是数字，但发光元件1、受光元件2由模拟信号驱动，当然在发光侧设置D/A变换电路、信号放大驱动电路，在受光侧设置A/D变换电路，但由这些由于在实施本发明底片检测方法方面仅使操作状态积极地变化而对底片检测方法没有直接影响，所以省略了图示。就这一点来说采用在所有实施例都相同的图示方法。

在该实施例中，通过使放大电路8的增益变化，根据图7的流程图实施本发明的底片检测方法。在步骤S22，和第三实施例相同地，将由放大电路8输送的受光元件2的输出电压与在电子控制电路内设定的基准电压信号作比较，检测是否是超过基准值的H，使放大电路的增益增大，使输出电压变大直至变成H为止(S23)。

一旦输出电压变为H，相反就使增益减少，在电子控制电路10读取输出电压变成L时的放大电路8的增益值，将与该读取值相对应的输出电压值作为基准电压并存储该值，在新的放大电路8中设定比该读取值大规定比例的增益值。这时的规定比例也和第一实施例相同，是20％左右。

而且，增加设定放大电路8的增益，即使受光量相同，受光元件2的输出电压也比规定比例大。这就意味着具有和使发光元件1的发光量增大的作用相同的效果。因而，和在发光元件1侧给与富裕度的第一或第二实施例相同，在没有底片时确实进行调整底片检测装置的操作。

图8是表示第四实施例全部控制电路概要的方框图。在实施例中仅设置A/D变换电路9，通过该电路9和电子控制电路10实施本发明的底片检测方法。

在步骤31，和第一实施例的S1相同地进行底片检测装置的非遮光移动，在步骤32读取A/D变换电路的输出数据，将这读取数据作为基准值，在步骤33使读取数据按规定比例降低并将该降低值存储在RAM15中。该规定比例相对基准值在本实施例设成80％，但也可以是80％左右，这和其它实施例相同。

图3(b)表示利用上述底片检测方法的有无底片的检测方法。如图所示，对于A/D变换电路9的输出数据的读取值，然后在实际的底片有无的判断时，在没有插入底片的情况测定电压一定比存储基准值高(H)则就判断无底片，当底片插入时使光通量减少，使测定电压比存储基准值低(L)，则就判断有底片。即，测定电压对存储基准值有20％的富裕度。

如以上详细说明的那样，本申请的第一发明的底片检测方法由于使检测装置变化并使受光机构的输出电平超过判定基准值，从而检测装置具有规定的富裕度，因此不用底片就能检测有无底片，具有不用麻烦的手工调整作业且能防止误操作的优点，可以不受底片浓淡的限制而确实地检测有无底片。

在第二发明中，利用受光侧的判定基准值可变机构使发光机构的光通量增大，使对应于增大了基准值的电平所设定发光机构后的基准值返回原来状态，给与发光机构规定的富裕度，所以通过附加简易的机构就能确实地检测有无底片，在没有麻烦的人工调整作业的同时也能防止误操作，从而也可以降低成本。

第三发明具有与第二发明的不同式样，通过控制电路给与发生光机构以规定的富裕度，所以这时也能以经济成本得到与第二发明同样的效果。

第四、第五发明是通过在感光侧的电路设置可变机构给与发光机构以规定的富裕度和得到同样效果的方法，与第二、第三发明相比更能以简易、经济的成本得到同样的效果。

Claims (2)

1．一种照片处理机用的光学检测装置的底片检测方法，该方法用于检测安装在底片检测位置处的光学检测装置的底片的存在，在所述检测位置处，受光机构(2a,...2n)根据从用于接收一输入电流的发光机构(1a,...1n)接收到的光的强度而产生一输出电压，光学检测装置将受光机构的输出电压与基准电压值相比较，其特征在于检测底片存在的初始设置包括步骤：

检测发光机构的光量所对应的受光机构的电压，在发光机构和受光机构之间没有放置底片；

调整下述之一：

a)调整基准电压值以使其比预置的基准电压值提高10％至50％的富裕度，以此设定发光机构的发光量，之后将基准电压值再恢复到原来的基准电压值；

b)直接调整发光机构的输入电流使其比基准电压值时所对应的发光机构的输入电流值提高10％至50％的富裕度；或

c)调整受光机构端的放大电路的增益值使其比基准电压值时所对应的放大电路的增益值提高10％至50％的富裕度；

从而，没有底片时受光机构的输出电压比基准电压值大10％至50％的富裕度。

2．如权利要求1所述的照片处理机用的光学检测装置的底片检测方法，其特征在于所述富裕度为20％。

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