CN107505742A - 测试机构及其测试方法 - Google Patents
测试机构及其测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107505742A CN107505742A CN201710888911.6A CN201710888911A CN107505742A CN 107505742 A CN107505742 A CN 107505742A CN 201710888911 A CN201710888911 A CN 201710888911A CN 107505742 A CN107505742 A CN 107505742A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- part surface
- testing
- control structure
- physical parameter
- pressure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 174
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 99
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 55
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 29
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 29
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 9
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 21
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 20
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 16
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 15
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 15
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 241000208340 Araliaceae Species 0.000 description 1
- 244000043261 Hevea brasiliensis Species 0.000 description 1
- 235000005035 Panax pseudoginseng ssp. pseudoginseng Nutrition 0.000 description 1
- 235000003140 Panax quinquefolius Nutrition 0.000 description 1
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000000205 computational method Methods 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000012854 evaluation process Methods 0.000 description 1
- 235000008434 ginseng Nutrition 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229920003052 natural elastomer Polymers 0.000 description 1
- 229920001194 natural rubber Polymers 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000007420 reactivation Effects 0.000 description 1
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 1
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
一种测试机构及其测试方法。该测试机构包括至少一个气压控制结构以及至少一个光学传感器，所述气压控制结构配置为在测试过程中控制待测试的产品的至少部分表面的气压，所述光学传感器配置为获取所述至少部分表面的物理参数。上述测试机构可以对待测试的产品的抗压能力进行测试，降低产品在测试过程中的损坏几率。
Description
技术领域
本公开至少一个实施例涉及一种测试机构及其测试方法。
背景技术
随着电子显示产品的普及化，用户对电子显示产品的质量、安全及应用领域的要求也越来越高。电子显示产品在实际应用中会受到挤压、碰撞、惯性力等外界因素的影响，所以需要对出厂的电子显示产品进行检测以保证其质量。但是，当前的检测方法容易对电子显示产品造成损害，并且难以对出厂的每个电子显示产品进行检测，所以对出厂的全部产品的良率进行保障。
发明内容
本公开至少一个实施例提供一种测试机构，包括：至少一个气压控制结构，所述气压控制结构配置为在测试过程中控制待测试的产品的至少部分表面处的气压；至少一个光学传感器，所述光学传感器配置为获取所述至少部分表面的物理参数。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试机构中，所述光学传感器设置于所述气压控制结构之中。
例如，本公开至少一个实施例提供的测试机构还包括：支撑件，所述气压控制结构设置于所述支撑件上；控制器，与所述气压控制结构和所述光学传感器连通；其中，所述控制器配置为控制所述气压控制结构以调节所述至少部分表面处的气压以及接收所述光学传感器获取的所述物理参数。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试机构中，所述气压控制结构包括吸嘴以及设置于所述吸嘴中的至少一个通气管，所述吸嘴配置为可与所述产品贴附，所述通气管配置控制所述至少部分表面处的气压。
例如，本公开至少一个实施例提供的测试机构中还包括：至少一个气泵，所述控制器配置为控制所述气泵，并且所述控制器通过所述气泵与所述通气管连通；其中，所述气泵配置为可鼓出气体以使得所述至少部分表面处的气压增大，或者所述气泵配置为可抽取气体以使得所述至少部分表面处的气压减小。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试机构中，所述吸嘴配置为与所述产品贴附后，所述吸嘴与所述至少部分表面之间形成密闭空间。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试机构中，所述气压控制结构还包括顶座以及与所述吸嘴和所述顶座连接的吸嘴芯，所述气压控制结构配置为通过所述顶座固定在所述支撑件上，所述吸嘴芯配置为支撑所述吸嘴。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试机构中，所述支撑件上设置有多个呈阵列分布的安装结构，至少一个所述安装结构中设置有所述气压控制结构；或者所述支撑件上设置有至少一条导轨，所述气压控制结构配置为滑动安装在所述导轨上。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试机构中，包括多个所述气压控制结构和多个所述光学传感器，其中，每个所述气压控制结构对应设置有至少一个所述光学传感器。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试机构中，所述光学传感器包括感光元件、摄像头、照度仪、色彩分析仪、光学测距仪和平坦度测试仪中的一种或组合。
本公开至少一个实施例提供一种根据上述任一实施例所述的测试机构的测试方法，包括：将所述测试机构中的气压控制结构提供至所述待测试的产品的显示侧；通过所述气压控制结构调节所述至少部分表面的气压；以及通过所述光学传感器检测并获取所述产品的至少部分表面在测试过程中的物理参数。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，通过所述气压控制结构控制所述产品的所述至少部分表面处的气压以使得所述至少部分表面具有第一气压值，测试在所述第一气压值下所述至少部分表面的物理参数第一值。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，通过所述气压控制装置控制以使得所述产品的所述至少部分表面具有第二气压值，测试在所述第二气压值下所述至少部分表面的物理参数第二值，所述第一气压值不同于所述第二气压值；比较所述物理参数第一值和所述物理参数第二值。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，在所述产品的所述至少部分表面具有所述第一气压值和所述物理参数第一值后，抽取所述气压控制结构中的气体或者向所述气压控制结构中鼓入气体，以使得所述至少部分表面的气压转变至所述第二气压值，检测所述至少部分表面的物理参数由所述物理参数第一值变为物理参数第二值所需要的时间。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，在所述产品的所述至少部分表面处的气压由具有所述第一气压值转变至所述第二气压值之后，在第一时间段内，连续测试所述产品的所述物理参数的变化。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，在所述产品的所述至少部分表面具有所述第一气压值时，使所述气压控制结构控制所述产品的所述至少部分表面的气压切换至环境气压，以所述至少部分表面处的气压为环境气压开始，测试所述至少部分表面的物理参数的变化。
在本公开至少一个实施例提供的测试机构及其测试方法中，测试机构可以对待测试的产品的性能进行测试和评估，并且在对产品的测试过程中，可以降低产品损坏的风险。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。
图1为一种待测试的显示面板的截面图；
图2A为本公开一个实施例提供的一种测试机构的结构示意图；
图2B为图2A所示测试机构的侧视图；
图3为本公开一个实施例提供的一种测试机构对待测试的显示面板的一种测试方法的示意图；
图4为本公开一个实施例提供的一种测试机构对待测试的显示面板的另一种测试方法的示意图；
图5为本公开一个实施例提供的一种测试机构中的气压控制结构的截面图；
图6为图5所示气压控制结构的仰视图；
图7为本公开至少一个实施例提供的测试机构的一种测试方法的过程图；以及
图8为图7所示的显示面板的物理参数在整个测试过程中的曲线图。
附图标记：
10-显示面板；11-第一基板；12-第二基板；13-封框胶；14-液晶层；15-柱状隔垫物；100-支撑件；200-气压控制结构；210-吸嘴；220-通气管；230-顶座；240-吸嘴芯；300-光学传感器；400-控制器；500-气泵。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
为保证电子显示产品例如显示面板的质量，需要对显示面板进行测试，图1为一种待测试的显示面板的截面图，例如该显示面板为液晶显示面板。以对显示面板进行的测试为压力测试为例，如图1所示，显示面板10包括对盒设置的第一基板11和第二基板12、设置在第一基板11和第二基板12之间的液晶层14，第一基板11和第二基板12通过封框胶13固定、密封，液晶层14中设置有多个支撑柱例如柱状隔垫物15，柱状隔垫物15可以支撑第一基板11和第二基板12之间形成的腔室(盒厚)的空间分布的均匀度，防止液晶层14分布不均而造成的显示不良。
柱状隔垫物15通常具有一定的弹性恢复能力，在显示面板受到外力例如压力的情况下，受力区域的柱状隔垫物15被压缩，相应区域的液晶层14厚度减薄，其它区域的液晶层14的厚度相应增加，这将使得显示面板10出现显示不良。当外力撤去后，柱状隔垫物15可以恢复至原状态以使得显示面板的显示状态正常。但是，在显示面板的制备工艺过程中，受环境或者工艺因素等影响，不同显示面板中柱状隔垫物15的抗压能力和弹性恢复能力等可能不同，需要对显示面板的抗压能力进行测试。
对显示面板的抗压能力测试的主要方法通常是从批量生产的显示面板中抽取样品，然后对每个样品进行压力测试。但是，测试设备对显示面板施加的压力不均匀，容易造成例如局部应力过大而损坏显示面板，造成样品的浪费，此外，因为该测试方法对样品的破损率较高，在实际生产工艺中不能对生产的每个显示面板进行测试，无法保证生产的显示面板的良率。
本公开至少一个实施例提供一种测试机构，该测试机构包括：支撑件；设置于支撑件上的至少一个气压控制结构，气压控制结构配置为在测试过程中控制待测试的显示面板的至少部分表面的气压；至少一个光学传感器，该光学传感器配置为获取至少部分表面的物理参数。该测试机构可以对待测试的产品的性能进行测试和评估，并且在对产品的测试过程中，可以降低产品损坏的风险。
在本公开的实施例中，对测试机构可适用的产品的类型不做限制，只要该测试机构可以对产品的例如抗压、抗拉等性能进行评估即可。例如，可被该测试机构进行测试的产品可以为显示面板，进一步例如为液晶显示面板。下面，以可被测试机构测试的产品为显示面板为例，对本公开下述实施例中的技术方案进行说明。
下面，结合附图对根据本公开至少一个实施例提供的测试机构及其测试方法、测试装置进行说明。
本公开至少一个实施例提供一种测试机构，图2A为本公开一个实施例提供的一种测试机构的结构示意图，图2B为图2A所示测试机构的侧视图。例如图2A和图2B所示，测试机构1000包括至少一个气压控制结构200以及至少一个光学传感器300，并且气压控制结构200配置为在测试过程中控制待测试的显示面板10的至少部分表面A处的气压，光学传感器配置为获取至少部分表面A的物理参数。例如图2B所示，至少部分表面A可以为显示面板10的表面中与气压控制结构200基本正对的部分，例如显示面板10的与气压控制结构200接触的部分。测试机构1000中的气压控制结构200可以改变显示面板10的至少部分表面A处的气压，从而间接向显示面板10中的柱状隔垫物15施加作用力(具体过程可参考图3和图4所示的实施例)，这将导致显示面板10至少部分表面A处在例如显示过程(例如显示固定的测试画面)中的物理参数发生变化，通过光学传感器300对至少部分表面A处的物理参数的检测，可以对显示面板10的抗压能力进行测试和评估。测试画面例如为每个像素均显示灰度127的测试画面，例如像素的灰度范围为0～255；在本公开的实施例中，可以根据要测试的物理参数来选择不同的测试画面。
在该实施例中，气压控制结构200通过气压向显示面板10施加作用力，使得显示面板10的至少部分表面A的区域受到的作用力均匀，不会出现应力集中的问题，降低或消除显示面板10在测试过程中受到损坏的风险，如此，测试机构1000可以对生产的每个显示面板10进行测试，可以保证出厂的每个显示面板10的质量。
在自然状态下，以显示面板10的表面为平面为例，当通过气压控制结构200改变至少部分表面A处的气压后，第一基板11和第二基板12之间的空间分布发生变化，相应地，显示面板10的部分区域的柱状隔垫物15被压缩，显示面板10中的液晶层14流动并导致液晶层14的厚度分布不均，使得显示面板10在例如显示过程中的物理参数发生变化。例如，在停止气压控制结构200对至少部分表面A处的气压的控制后，因为柱状隔垫物15具有弹性恢复能力而逐渐恢复初始形态，相应地，第一基板11和第二基板12之间的空间分布以及液晶层14的分布也恢复至初始形态(例如均匀分布的状态)，显示面板10显示过程中的物理参数也恢复至初始值。通过光学传感器300对上述过程中显示面板10的物理参数的检测，可以间接对柱状隔垫物15的弹性恢复以及抗压、抗拉等能力进行评估。
在本公开的实施例中，对光学传感器300检测的显示面板10的物理参数的类型不做限制，只要物理参数的变化可以与至少部分表面A上的气压的变化相关即可。例如，在本公开至少一个实施例中，物理参数可以包括光学参数，该光学参数可以包括亮度、色温等中的一种或者组合；例如，该物理参数也可以为其它参数例如厚度、表面平坦度中的一种或者组合。
在本公开的实施例中，对光学传感器300的类型不做限制。例如，在本公开至少一个实施例中，光学传感器300的类型包括感光元件、摄像头、照度仪、色彩分析仪、光学测距仪和平坦度测试仪中的一种或组合。光学传感器300的类型与待测试的显示面板10的物理参数相对应。
示例性的，例如，光学传感器300为照度仪，可以对测试过程中的显示面板10的亮度变化进行检测；例如，光学传感器300可以为光学测距仪，可以对测试过程中的显示面板10的厚度变化进行检测；例如，光学传感器300可以为平坦度仪，可以对测试过程中的显示面板10的表面平坦度的变化进行检测；例如，光学传感器300为色彩分析仪，可以对测试过程中的显示面板10的色彩分布和均匀性进行检测。
在本公开的实施例中，对光学传感器300的设置位置不做限制，只要光学传感器300可以对显示面板的物理参数进行检测即可。例如，在本公开至少一个实施例中，如图2B所示，光学传感器300设置于气压控制结构200之中。如此，光学传感器300可以对显示面板的至少部分表面A处的物理参数进行检测。
在本公开的实施例中，对气压控制结构200及光学传感器300的设置数量不做限制。例如，在本公开的一些实施例中，气压控制结构可以设置为一个，相应地，光学传感器300可以设置为一个或多个；例如，在本公开另一些实施例中，如图2A和图2B所示，气压控制结构200和光学传感器300可以设置为多个，相应地，光学传感器300也可以设置为多个，例如，每个气压控制结构200可以对应设置有至少一个光学传感器300。
在本公开的实施例中，气压控制结构200的设置数量及尺寸、光学传感器300的类型等与测试机构1000对显示面板10的具体测试方法有关。例如，在本公开至少一个实施例中，气压控制机构1000可以降低显示面板10上的至少部分表面A处的气压值，从而对显示面板10的例如抗压、抗拉等能力进行测试；例如，在本公开的至少一个实施例中，气压控制机构1000可以增大显示面板10上的至少部分表面A处的气压值，从而对显示面板10的例如抗压能力进行测试。
下面，根据测试机构1000对显示面板10的不同测试方法，对测试机构1000的测试原理及结构进行说明。
例如，在本公开至少一个实施例中，图3为本公开一个实施例提供的一种测试机构对待测试的显示面板的一种测试方法的示意图。如图3所示，测试机构1000中的气压控制结构200可以增加显示面板10的至少部分表面A上的气压，至少部分表面A处的显示面板10被压缩。如此，与至少部分表面A对应的柱状隔垫物15被压缩而产生形变，相应地，显示面板10在显示过程中的物理参数也发生变化；气压控制结构200停止向显示面板10施加气压后，柱状隔垫物15向初始形态恢复，相应地，显示面板10在显示过程中的物理参数也逐渐向初始值恢复。通过评估柱状隔垫物15的形态恢复速度及是否可以恢复至初始形态(例如通过光学传感器300检测显示面板10的物理参数变化)，可以对显示面板10的抗压能力等进行评估。
气压控制结构200通过气体向显示面板10施加的压力可以均匀分布在至少部分表面A上，不会出现局部应力过大的问题，这显著降低了显示面板损坏的风险。
例如，测试机构1000中可以设置有两个或两个以上的气压控制结构200以对显示面板10的多个位置进行测试，例如同时对显示面板10的多个位置进行测试，可以评估显示面板10的抗压能力的均匀度。例如图3所示，测试机构1000中可以设置有一个气压控制结构200，气压控制结构200例如可以设置为覆盖显示面板10的大部分表面或者全部表面，以对显示面板10的整体抗压能力进行评估。
例如，在本公开至少一个实施例中，图4为本公开一个实施例提供的另一种测试机构对待测试的显示面板的一种测试方法的示意图。如图4所示，测试机构1000的气压控制结构200可以降低显示面板10的至少部分表面A上的气压。如此，显示面板10的位于A区域的厚度增加，B区域中的液晶层14向A区域集中使得B区域的显示面板中的压强降低。在外界压强的作用力下，B区域的显示面板10的厚度降低，B区域中的柱状隔垫物15受到压缩而发生形变，相应地，显示面板10的物理参数也发生变化。气压控制结构200停止向显示面板10施加气压后，B区域中的柱状隔垫物15向初始形态恢复以使得显示面板10向初始形态恢复，相应地，显示面板10的物理参数也逐渐向初始值恢复。通过评估柱状隔垫物15的形态恢复速度及是否可以恢复至初始形态(例如通过光学传感器300检测显示面板10的物理参数变化)，可以对显示面板10的抗压能力、抗拉能力等进行评估。气压控制结构200通过气体向显示面板10施加的压力可以均匀分布在至少部分表面A上，不会出现局部应力过大的问题，这显著降低了显示面板损坏的风险。
在本公开的实施例中，对测试机构1000在显示面板10上的测试位置不做限制。例如，测试机构1000可以在显示面板10的显示面或者背面进行测试。示例性的，如图3和图4所示，测试机构1000在显示面板10的显示面进行测试，显示面板10的第一基板11可以为阵列基板，第二基板12可以为彩膜基板，测试机构1000位于显示面板10的彩膜基板的一侧以对显示面板10进行检测。示例性的，如图3和图4所示，测试机构1000在显示面板10的背面进行测试，显示面板10的第一基板11例如可以为彩膜基板，第二基板12例如可以为阵列基板，测试机构1000位于显示面板10的阵列基板的一侧以对显示面板10进行检测。
本公开的实施例对测试机构的整体结构以及气压控制结构在测试机构中的安装不做限制。
例如，在本公开至少一个实施例中，如图2A～图4所示，测试机构1000还可以包括支撑件100。例如，气压控制结构200可以设置在支撑件100上。例如，支撑件100可以为气压控制结构200提供支撑，还可以安装测试机构1000中的其他部件(例如下述实施例中的控制器400、气泵500等)。
例如，在本公开至少一个实施例中，测试机构1000的支撑件100上设置有多个呈阵列分布的安装结构，至少一个安装结构中设置有气压控制结构200。气压控制结构200可以自由分布和安装于支撑件100上，使得测试机构1000可以对不同尺寸的显示面板10或者显示面板10的不同区域进行测试，提高了测试机构1000在实际生产工艺中的实用性。例如，支撑件100可以为面板结构或者网格框架结构等，可以便于气压控制结构200安装在支撑件100上。例如，支撑件100可以为用于安装气压控制结构200的任意结构，包括但不限于框架、支架、面板等结构。
例如，在本公开至少一个实施例中，测试机构1000的支撑件100上设置有至少一条导轨，气压控制结构200可以配置为滑动安装在导轨上。气压控制结构200可以沿着导轨移动，使得测试机构1000可以对不同尺寸的显示面板10或者显示面板10的不同区域进行测试。例如，导轨也可以配置为活动部件，以使得气压控制结构200可以向任意方向滑动。
图5为本公开一个实施例提供的一种测试机构中的气压控制结构的截面图，其为局部示意图。例如，在本公开至少一个实施例中，如图5所示，测试机构1000还可以包括控制器400，控制器400可以与气压控制结构200和光学传感器300连通。例如，控制器400可以配置为控制气压控制结构200以调节至少部分表面A处的气压。例如，控制器400还可以配置为接收光学传感器300获取的物理参数。
例如，控制器400可以控制气压控制结构200以改变显示面板10的至少部分表面上的气压值，相应地，显示面板10例如在显示过程中的物理参数发生变化，控制器400可以通过光学传感器300实时结构显示面板10上的物理参数，通过分析物理参数的变化规律，可以对显示面板10的例如抗压能力进行评估。
本公开的实施例对控制器400的类型不做限制。该控制器400可以使用具有数字计算和逻辑能力的装置实现，例如个人计算机、笔记本计算机、可编程逻辑控制器(PLC)、微处理器等。测试机构1000还可以包括显示装置(未示出)，该显示装置与控制器400连接，从而显示光学传感器300所获取的图像、数据等。例如，在本公开至少一个实施例中，测试机构1000中的控制器400还可以包括开关元件等，如果需要实现更复杂的控制功能，还可以搭建对应的硬件电路来实现对应的功能，所述硬件电路包括常规的超大规模集成(VLSI)电路或者门阵列以及诸如逻辑芯片、晶体管之类的现有半导体或者是其它分立的元件。
本公开的实施例对测试机构1000中的气压控制结构200的具体化结构不做限制，只要气压控制结构200能够对显示面板10上的气压进行控制即可。
例如，在本公开至少一个实施例中，图6为图5所示气压控制结构的仰视图。如图5和图6所示，测试机构1000中的气压控制结构200包括吸嘴210以及设置于吸嘴210中的至少一个通气管220，吸嘴210配置为可与产品(显示面板10)贴附，通气管220配置为控制至少部分表面A处的气压。例如，在本公开至少一个实施例中，吸嘴210配置为与产品(例如待测试的显示面板10)贴附后，吸嘴210和至少部分表面A之间形成密闭空间。例如，通气管220的一端可以通入该密闭空间中，以使得通气管220可以对该密闭空间中的气压进行控制。通气管220可以与供气装置或抽气装置(例如下述实施例中的气泵500)连接，通过向该闭合空间抽取或者通入气体可以改变该闭合空间中的气压，相应地，可以对显示面板10的位于该闭合空间中的表面上的气压进行控制。
本公开的实施例对吸嘴210的具体化形状不做限制，例如，吸嘴210的截面形状(例如在测试过程中，吸嘴210的平行于显示面板10所在面的截面形状)可以为圆形、三角形、矩形或者多边形等，其材料可以为天然橡胶、塑料等。
本公开的实施例对吸嘴210的尺寸不做限制，例如，吸嘴210与显示面板10接触的部分的外边缘的最大直径约为10～50毫米，进一步约为15毫米。
例如图5和图6所示，气压控制结构200还可以包括顶座230和吸嘴芯240等结构。例如，吸嘴210可以与吸嘴芯240连接，吸嘴芯240可以与顶座230连接。气压控制机构200可以通过顶座230固定在支撑件100上，吸嘴芯240可以对吸嘴210的基本形状进行支撑并且可以对吸嘴210进行封装。本公开的实施例对通气管220和光学传感器300的具体设置方式不做限制，只要通气管220的设置方式可以使得通气管能够控制至少部分表面A处的气压，以及光学传感器300可以对显示面板的例如至少部分表面A处的物理参数进行检测即可。例如，通气管220和光学传感器300可以配置为贯穿吸嘴芯240，如此，吸嘴芯240可以对通气管220和光学传感器300进行固定，并且可以在测试过程中，对显示面板10的表面上的气压进行控制并且对显示面板10的物理参数的变化进行检测。
例如，在本公开至少一个实施例中，如图5所示，测试机构1000还可以包括至少一个气泵500，控制器400可以通过气泵500与通气管220连通。例如，控制器400可以配置为控制气泵500。气泵500的工作模式根据测试机构1000对显示面板10的测试方法进行调节(参考图3和图4所示实施中的测试机构的不同测试方法)。例如，在本公开的一些实施例中，气泵500可以配置为鼓出气体以使得气压控制结构200的气压增大；例如，在本公开另一些实施例中，气泵500可以配置为抽取气体以使得气压控制结构200中的气压减小。
例如，在本公开至少一个实施例中，如图5所示，测试机构1000中的控制器400配置为控制至少一个气泵500。控制器400控制气泵500的工作状态，可以结合检测到的物理参数对气压控制结构200的气压进行调节，如此，可以提高测试机构1000的在测试操作中的时效性，提高测试机构1000对显示面板10的评价的准确性。
本公开至少一个实施例还提供一种测试机构的测试方法，该方法包括：将测试机构中的气压控制结构提供至待测试的产品的显示侧；通过气压控制结构调节至少部分表面的气压；通过光学传感器检测并获取产品的至少部分表面在测试过程中的物理参数。该测试机构可以调节待测试的产品例如显示面板上的气压并且实施检测显示面板的光学参数的变化，从而显示面板的性能进行测试和评估，此外，在对显示面板的测试过程中，测试机构通过气压对显示面板施加作用力，可以降低显示面板损坏的风险。测试机构的示范性结构可以参考前述实施例(关于测试机构的实施例)中的相关内容，本公开的实施例在此不做赘述。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，通过气压控制结构控制产品(例如显示面板)的至少部分表面处的气压，以使得该至少部分表面具有第一气压值，测试在第一气压值下该至少部分表面的物理参数第一值。例如，物理参数第一值可以为显示面板在第一气压值的稳定状态下在例如显示过程中所具有的物理参数，以减小测试过程中对显示面板的抗压能力评价的误差。第一气压值可以设计为大于环境气压或者小于环境气压，第一气压值与环境气压的关系可以根据测试机构的具体测试方法进行确定(参考图3和图4所示的测试机构的不同测试方法)。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，通过气压控制装置控制以使得显示面板的至少部分表面具有第二气压值，测试在第二气压值下在例如显示过程中至少部分表面的物理参数第二值，第一气压值不同于第二气压值；比较物理参数第一值和物理参数第二值。例如，第二气压值可以与环境气压值接近或者相等，如此，对显示面板的抗压能力的评价可以更接近于实际应用环境，可以提高测试机构对显示面板的抗压能力评价的准确性。
在本公开的实施例中，对测试机测试显示面板的具体方法和过程不做限制。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，在显示面板的至少部分表面处的气压由第一气压值转变第二气压值之后，在第一时间段内，连续测试产品(例如显示面板)的物理参数的变化。如此，可以获得显示面板在一定的气压变化下的物理参数的变化率，可以间接对显示面板的抗压恢复能力进行评价。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，在产品的至少部分表面具有第一气压值时，使气压控制结构控制产品的至少部分表面的气压切换至环境气压，以至少部分表面处的气压为环境气压开始，测试至少部分表面的物理参数的变化。如此，可以对显示面板在环境气压下的例如抗压、抗拉等恢复能力进行评估。例如，在产品例如显示面板在第一气压状态下处于较为稳定状态后，立即将至少部分表面处的气压由第一气压值切换至第二气压值(例如环境气压)，然后。需要说明的是，与整个测试过程相比较，至少部分表面处的气压由第一气压值切换至例如环境气压的时间非常短，物理参数的变化量非常小，可以忽略。例如，也可以在至少部分表面处的气压由第一气压值切换至例如环境气压的过程中，检测物理参数的变化量，在对显示面板的例如抗压能力的评估过程中，可以对该变化量进行单独计算或者作为一个固定参数，以提高测试结果的准确性。
例如，在本公开至少一个实施例提供的测试方法中，在显示面板的至少部分表面具有第一气压值时，使气压控制结构停止控制显示面板的至少部分表面的气压，然后连续测试至少部分表面的物理参数的变化直至显示面板的气压恢复至环境气压。如此，可以对显示面板在回复至初始状态过程中的物理参数的变化进行检测，可以对显示面板的抗压恢复能力以及回复至初始状态的能力进行评价。
图7为本公开至少一个实施例提供的测试机构的一种测试方法的过程图，图8为图7所示的显示面板的物理参数在整个测试过程中的曲线图。
下面，如图7和图8所示，以图4所示的测试机构的测试方法并且物理参数为亮度为例，对本公开至少一个实施例中的测试机构的测试方法进行说明。
例如图4和图7所示，将测试机构1000提供至待测试的显示面板10的表面，点亮显示面板10，显示预定的测试画面，例如如上所述的测试画面，然后检测显示面板10的初始亮度。示例性的，如图8所示，显示面板10此时处于环境气压下，即T0时刻，显示面板的初始物理参数例如亮度为B0。需要说明的是，对显示面板10的初始亮度的检测可以用于对显示面板10恢复至初始状态的能力的参考，如果检测显示面板10的恢复速率，也可以不需要对显示面板10在环境状态下的物理参数(初始亮度)进行检测。
在受到外界作用力的情况下，显示面板的物理参数的变化与显示面板自身的结构相关。例如，通常在液晶层厚度2.5～4微米的范围内，黄光透过率随着液晶层的厚度增加而增加，通常显示面板中的液晶层厚度为3微米左右，所以，当显示面板因受外力导致液晶层分布不均时，在液晶层集中的区域，显示面板的亮度会增加。
例如图4和图7所示，通过测试机构1000中的气压控制结构200调节显示面板10的至少部分表面A处的气压至第一气压值，例如，第一气压值下，显示面板10的状态处于稳态后，检测显示面板10显示过程中具有物理参数第一值。如图8所示，在T0至T1的时间内，气压控制结构200中的气压由环境气压减小至第一气压值(例如约0～100千帕，进一步例如约0～20千帕)，在第一气压值下，显示面板10中的液晶层14向与至少部分表面A对应的区域集中，使得该区域的显示面板的亮度由T0时刻的B0提升至T1时刻的B1。
例如图4和图7所示，通过气压控制结构200调节显示面板的至少部分表面A上的气压至第二气压值，并检测显示面板10具有物理参数第二值。例如图8所示，在T1时刻将显示面板10的至少部分表面A处的气压由第一气压值降低至第二气压值，显示面板10的结构开始向初始态恢复，显示面板10的至少部分表面A处的亮度由T1时刻的B1降低至T2时刻的B2。
比较检测到的显示面板的物理参数第一值和物理参数第二值可以评估显示面板的例如抗压、抗拉等恢复能力。例如，可以计算显示面板的物理参数从第一物理参数变化至第二物理参数的变化率。物理参数的变化率计算方法可以包括多种，本公开的实施例在此不做限制。
例如，在本公开实施例的一个示例中，如图8所示，可以通过检测物理参数在第一时间段内的变化量来计算物理参数的变化率。例如，第一时间段(例如T2与T1之间的差值)可以为固定值(例如10～30秒)，在T2时刻检测显示面板10的至少部分表面A处的亮度为B2，通过计算B1和B2之间的差值可以评价显示面板10的抗压恢复能力。
例如，在本公开实施例的另一个示例中，如图8所示，可以通过检测物理参数在一定的变化量下所需要的时间来计算物理参数的变化率。例如，B1和B2之间的差值可以为固定值，在亮度由B1降低至B2时的时刻为T2，通过计算T2和T1之间的差值可以评价显示面板10的抗压恢复能力。
例如，在本公开至少一个实施例中，如图8所示，T3为显示面板10的至少部分表面A处的亮度恢复至初始亮度B0的时间。例如，B0可以与B2相等，T3可以和T2相等，即对显示面板10完全恢复至初始状态的能力进行评估。
在T1至T3的时间段内，显示面板10恢复至初始状态的速率会逐渐降低，显示面板完全恢复至初始状态所需要的时间较长，如果测试过程需要显示面板完全恢复至初始状态花费时间长，不利于提高测试过程的效率。
例如，在本公开至少一个实施例中，如图8所示，显示面板的物理参数的B2可以为B1的固定百分比。例如，物理参数B2与B0的差值可以为物理参数B1与B0的差值的90％～100％，进一步例如为95％。物理参数的差值在上述范围内，用户的肉眼已经难以分辨物理参数B2所对应的显示图像和物理参数B1所对应的显示图像之间的差异，即显示面板10已经具有基本的可恢复至初始状态的能力。而且，上述方法可以降低显示面板的测试时间，在实际生产过程中，可以提高测试机构对显示面板评价的效率。
示例性的，T0时刻，显示面板处于环境状态下，将显示面板的至少部分表面处的气压转变至第一气压值(该过程可以为增大气压或者减小气压)之后，可以维持一定的时间(例如3～10秒)，检测显示面板的例如至少部分表面处的物理参数为B1，然后将至少部分表面处的气压由第一气压值切换至环境气压值。然后检测物理参数由B1转变至B2(例如，B2与B0的差值为B1与B0的差值的95％)所需要的时间，或者在第一时间段内，例如以至少部分表面处的气压转变至第二气压值为始，检测物理参数的变化量。
例如，在本公开至少一个实施例中，如图3所示，在通过气压控制结构200向显示面板10施加压力以使得至少部分表面A具有第一气压值和物理参数第一值后，向气压控制结构200中鼓入气体以使得至少部分表面A的气压增加至第二气压值后，检测至少部分表面A的物理参数由物理参数第一值变为物理参数第二值所需要的时间。通过检测物理参数由物理参数第一值变为物理参数第二值所需要的时间的长短可以对显示面板10的抗压能力进行评估。例如，如果物理参数第一值变为物理参数第二值所需要的时间的长，则显示面板10的抗压能力较低；如果物理参数第一值变为物理参数第二值所需要的时间的短，则显示面板10的抗压能力较高。
例如，如图3所示，至少部分表面A的气压增加至第二气压值后，可以在固定的时间段(例如10～30秒)内检测至少部分表面A的物理参数的变化量来评估显示面板的抗压能力。例如，在固定的时间段，如果物理参数的变化量大，则显示面板10的抗压能力较高；如果物理参数的变化量小，则显示面板10的抗压能力较低。
需要说明的是，在本公开的实施例中，测试机构对显示面板的抗压恢复能力也可以延伸至其他方面，例如，可以延伸至对显示面板的重力导致显示画面不均、暗态显示不均(DNU，Dark Not Uniform)、液晶量分布不均(LC Margin，liquid crystal margin)等的评价。
对于本公开，还有以下几点需要说明：
(1)本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
(2)为了清晰起见，在用于描述本公开的实施例的附图中，层或区域的厚度被放大或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。
(3)在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (16)
1.一种测试机构，包括：
至少一个气压控制结构，所述气压控制结构配置为在测试过程中控制待测试的产品的至少部分表面的气压；
至少一个光学传感器，所述光学传感器配置为获取所述至少部分表面的物理参数。
2.根据权利要求1所述的测试机构，其中，所述光学传感器设置于所述气压控制结构之中。
3.根据权利要求1所述的测试机构，还包括：
支撑件，所述气压控制结构设置于所述支撑件上；以及
控制器，与所述气压控制结构和所述光学传感器连通；
其中，所述控制器配置为控制所述气压控制结构以调节所述至少部分表面处的气压以及接收所述光学传感器获取的所述物理参数。
4.根据权利要求3所述的测试机构，其中，
所述气压控制结构包括吸嘴以及设置于所述吸嘴中的至少一个通气管，所述吸嘴配置为可与所述产品贴附，所述通气管配置为控制所述至少部分表面处的气压。
5.根据权利要求4所述的测试机构，还包括：
至少一个气泵，与所述通气管连通；
其中，所述控制器配置为控制所述气泵，并且所述气泵配置为可鼓出气体以使得所述至少部分表面处的气压增大，或者所述气泵配置为可抽取气体以使得所述至少部分表面处的气压减小。
6.根据权利要求4所述的测试机构，其中，
所述吸嘴配置为与所述产品贴附后，所述吸嘴与所述至少部分表面之间形成密闭空间。
7.根据权利要求4所述的测试机构，其中，
所述气压控制结构还包括顶座以及与所述吸嘴和所述顶座连接的吸嘴芯，以及
所述气压控制结构配置为通过所述顶座固定在所述支撑件上，所述吸嘴芯配置为支撑所述吸嘴。
8.根据权利要求3所述的测试机构，其中，
所述支撑件上设置有多个呈阵列分布的安装结构，至少一个所述安装结构中设置有所述气压控制结构；或者
所述支撑件上设置有至少一条导轨，所述气压控制结构配置为滑动安装在所述导轨上。
9.根据权利要求1-8任一项所述的测试机构，包括多个所述气压控制结构和多个所述光学传感器，
其中，每个所述气压控制结构对应设置有至少一个所述光学传感器。
10.根据权利要求1-8任一项所述的测试机构，其中，
所述光学传感器包括感光元件、摄像头、照度仪、色彩分析仪、光学测距仪和平坦度测试仪中的一种或组合。
11.一种根据权利要求1-10任一项所述的测试机构的测试方法，包括：
将所述测试机构中的气压控制结构提供至所述待测试的产品的显示侧；
通过所述气压控制结构调节所述至少部分表面的气压；以及
通过所述光学传感器检测并获取所述产品的至少部分表面在测试过程中的物理参数。
12.根据权利要求11所述的测试方法，其中，
通过所述气压控制结构控制所述产品的所述至少部分表面处的气压，以使得所述至少部分表面具有第一气压值，测试在所述第一气压值下所述至少部分表面的物理参数第一值。
13.根据权利要求12所述的测试方法，其中，
通过所述气压控制装置控制以使得所述产品的所述至少部分表面具有第二气压值，测试在所述第二气压值下所述至少部分表面的物理参数第二值，所述第一气压值不同于所述第二气压值；
比较所述物理参数第一值和所述物理参数第二值。
14.根据权利要求13所述的测试方法，其中，
在所述产品的所述至少部分表面具有所述第一气压值和所述物理参数第一值后，抽取所述气压控制结构中的气体或者向所述气压控制结构中鼓入气体，以使得所述至少部分表面的气压转变至所述第二气压值，检测所述至少部分表面的物理参数由所述物理参数第一值变为物理参数第二值所需要的时间。
15.根据权利要求13所述的测试方法，其中，
在所述产品的所述至少部分表面处的气压由所述第一气压值转变至所述第二气压值之后，在第一时间段内，连续测试所述产品的所述物理参数的变化。
16.根据权利要求13所述的测试方法，其中，
在所述产品的所述至少部分表面具有所述第一气压值时，使所述气压控制结构控制所述产品的所述至少部分表面的气压切换至环境气压，以所述至少部分表面处的气压为环境气压开始，测试所述至少部分表面的物理参数的变化。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710888911.6A CN107505742A (zh) | 2017-09-27 | 2017-09-27 | 测试机构及其测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710888911.6A CN107505742A (zh) | 2017-09-27 | 2017-09-27 | 测试机构及其测试方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN107505742A true CN107505742A (zh) | 2017-12-22 |
Family
ID=60699327
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201710888911.6A Pending CN107505742A (zh) | 2017-09-27 | 2017-09-27 | 测试机构及其测试方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN107505742A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109031729A (zh) * | 2018-09-27 | 2018-12-18 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种液晶面板耐压测试装置 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030083201A (ko) * | 2002-04-19 | 2003-10-30 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 세정 장치 및 방법 |
| CN101377574A (zh) * | 2007-08-31 | 2009-03-04 | 北京京东方光电科技有限公司 | 液晶面板检测设备 |
| CN102981289A (zh) * | 2012-11-08 | 2013-03-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种加压设备 |
| CN203465488U (zh) * | 2013-08-20 | 2014-03-05 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 液晶面板检测系统 |
| CN105425438A (zh) * | 2016-01-05 | 2016-03-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种液晶显示屏黄斑检测装置和检测方法 |
| CN106526907A (zh) * | 2015-09-10 | 2017-03-22 | 由田新技股份有限公司 | 面板按压检查机 |
-
2017
- 2017-09-27 CN CN201710888911.6A patent/CN107505742A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030083201A (ko) * | 2002-04-19 | 2003-10-30 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 세정 장치 및 방법 |
| CN101377574A (zh) * | 2007-08-31 | 2009-03-04 | 北京京东方光电科技有限公司 | 液晶面板检测设备 |
| CN102981289A (zh) * | 2012-11-08 | 2013-03-20 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种加压设备 |
| CN203465488U (zh) * | 2013-08-20 | 2014-03-05 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 液晶面板检测系统 |
| CN106526907A (zh) * | 2015-09-10 | 2017-03-22 | 由田新技股份有限公司 | 面板按压检查机 |
| CN105425438A (zh) * | 2016-01-05 | 2016-03-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种液晶显示屏黄斑检测装置和检测方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109031729A (zh) * | 2018-09-27 | 2018-12-18 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种液晶面板耐压测试装置 |
| CN109031729B (zh) * | 2018-09-27 | 2021-10-08 | Tcl华星光电技术有限公司 | 一种液晶面板耐压测试装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101813835B (zh) | 液晶面板检测装置和液晶面板检测方法 | |
| US8818073B2 (en) | Display panel test apparatus and method of testing a display panel using the same | |
| CN103943080B (zh) | 一种显示器件像素亮度补偿控制方法及装置 | |
| JP2006091004A (ja) | 電子デバイスにおける漏れを検出するための方法及びシステム | |
| US7453579B2 (en) | Measurement of the dynamic characteristics of interferometric modulators | |
| CN101425246A (zh) | 检测显示器的残影现象的方法及装置 | |
| CN106297679A (zh) | 显示装置以及控制显示装置亮度的方法 | |
| CN106198561B (zh) | 一种显示基板的异物检测方法和修复方法 | |
| CN110109274A (zh) | 一种液晶显示屏的画面检测装置及方法 | |
| CN102944826A (zh) | Led测试装置、系统及方法 | |
| CN202939273U (zh) | Led测试装置及系统 | |
| CN107505742A (zh) | 测试机构及其测试方法 | |
| CN106226033A (zh) | 检测透光基板透过率的方法及装置 | |
| CN101762921B (zh) | 显示器的检测方法及其系统 | |
| CN105928952B (zh) | Aoi控制系统及其控制方法 | |
| CN109307587A (zh) | 显示面板检测方法、装置及系统 | |
| KR101129708B1 (ko) | 프로브 유닛의 블럭 베이스 검사장치, 및 이를 이용한 프로브 유닛의 블럭 베이스 검사방법 | |
| CN106773186A (zh) | 液晶面板的液晶量检测方法和装置 | |
| CN100417977C (zh) | 一种平板显示器的检测方法 | |
| CN202939383U (zh) | 一种检测装置及液晶滴注设备 | |
| CN109189355A (zh) | 一种拼接显示单元的位置调整方法及其辅助安装装置 | |
| CN1900700B (zh) | 可调式缺陷定级的定量方法 | |
| US20100142754A1 (en) | Inspection method and system for display | |
| CN204989675U (zh) | 一种液晶屏检测设备 | |
| CN106292001A (zh) | 一种测试装置及测试方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20171222 |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |