CN107356650B - 一种微量元素检测的数据分析方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种微量元素检测的数据分析方法,包括以下步骤:S1:将标准品进行检测,并对检测仪器进行校准;S2:将标准品、若干质控品和样本同时通过检测仪器进行测量,若有质控品的测量浓度不符合质控靶值的允许范围,则重新进行步骤S1;否则进行步骤S3;S3:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对质控品的浓度进行重新计算,若重计算后有质控品的浓度不符合质控靶值的允许范围则重新进行步骤S1;否则进行步骤S4;S4:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对样本的测量浓度进行重新计算。可以避免测量过程中因内外环境等因素使仪器出现了漂移而导致测量质控品和的数据的不准确,以保证测量的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及一种测量人体微量元素的方法,具体涉及一种微量元素检测的数据分析方法。
背景技术
现有技术中,检测仪器在测量微量元素之前要做质控,如质控通过说明检测仪器的状态是稳定的,可以正常使用并测量样本,质控通不过就需要对仪器进行校准,使用标准物质校准测量仪器,校准完毕后,测量质控,质控通过后,再测量样本,通常在一个质控周期内,仪器性能比较稳定,而每次在样本测量前的质控测量,就有些繁琐。
电化学阳极溶出法测微量元素,在仪器已调试完毕,完成定标后,日常操作为先使用镀膜液给玻碳电极镀膜,镀膜完成后,测量质控,如质控不通过,还需要重新定标、质控的操作,质控通过后才能测量样本,由于预渡汞膜的特性决定,汞膜的寿命受制于玻碳电极表面的镜面和清洁程度,所以每次镀膜都不可能完全一样,但也不会差异很大,同时随着样本测量的数量增加,镀膜也会发生一些变化,而镀膜的变化直接影响着测量数据的准确度,所以应尽可能的简化测量步骤,原有的定标,质控,样本流程不适用于预渡汞膜的测量。电化学测量方法中,方波极谱法用来测量锌,铁,钙,镁,铜等元素,该方法对温度变化敏感,如果测量过程中,室温发生较大的变化,使得定标时的环境温度与样品测量时的环境温度有差异,就会导致样品测量不准确。如专利号为“201310756071.X”的专利文件《提高汞膜电极稳定性的电镀液》中,提出了汞膜电极的特性,而汞膜的特性直接影响这测量数据的准确度。
使用电化学方波极谱法测量微量元素,每一种元素均有独立的测量试剂,试剂通过管路、试剂泵、电磁阀等,将试剂从试剂瓶中灌注到测量盘内,试剂瓶放置在仪器底座内的柜子内,试剂管路的长度和总体积决定了其本身具有较大的热容量,如果实验室的温度有变化但最终稳定的话,试剂的温度需要很长的时间才能达到室温,温度变化期间如果进行定标操作的话,就会影响样本测量的准确度。
原子吸收光谱法测量微量元素,使用可燃气体和氧气混合燃烧,火焰的温度并不能完全保持一致,在定标和样本测量过程中,火焰的温度会有变化,导致定标和样品测量环境不一致,影响样本的测量准确性,同时,光源采用空心阴极灯,有使用寿命,通常为3000-5000mA.h,这就说明在定标,样品测量过程中,存在灯发射能量的衰减问题,也会影响样本测量准确性。如专利号为“201520044194.5”的《提高火焰原子吸收分光光度计火焰稳定性的装置》专利文献中,为了提高火焰原子吸收分光光度计火焰稳定性,主要是采取控制燃气和载器流量以及调整火焰高度的办法,但由于火焰在燃烧时的空气扰动产生的不稳定性还是难以消除。公开号为“CN91206678”的《原子吸收分光光度计的测温表》中通过对样本原子化的过程的实际温度进行控制以提高实验数据的准确性,公开号为“CN201410577835”的《脉冲氙灯用于原子吸收背景校正的光学系统》原子吸收仪器使用的灯源的工作方式和寿命进行了说明,灯源达到热平衡的过程,以及预热和工作时的电流不同,最主要的是具有灯源的寿命短的问题。
发明内容
本发明针对上述问题,提供了一种微量元素检测的数据分析方法,可以避免测量过程中因内外环境等因素使仪器出现了漂移而导致测量质控品和的数据的不准确,以保证测量的准确性。
本发明解决技术问题的技术方案为:一种微量元素检测的数据分析方法,包括以下步骤:
S1:将标准品进行检测,并通过标准品的测量峰高与标定峰高对检测仪器进行校准;
S2:将标准品、若干质控品和样本同时通过检测仪器进行测量,启动测量程序,测量完毕后,测量软件自动记录标准品和样本的测量峰高,并可以查询质控品的测量浓度,若有质控品的测量浓度不符合质控靶值的允许范围,则重新进行步骤S1;若质控品的测量浓度都符合质控靶值的允许范围,则进行步骤S3;
S3:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对质控品的浓度进行重新计算,若重计算后有质控品的浓度不符合质控靶值的允许范围则重新进行步骤S1;若重计算后质控品的浓度都符合质控靶值的允许范围,则进行步骤S4;
S4:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对样本的测量浓度进行重新计算。
进一步地,所述的检测仪器为原子吸收光谱仪或全自动微量元素分析仪。
进一步地,所述质控品的数量为两个。
与现有技术相比,采用本发明的技术方案具有以下优点:
1.通过在测量样本时同时测量质控品和标准品的方法,在测量仪器发生漂移时,通过标准品的测量值对样本测量值进行重新计算,以修正本次样本测量的浓度值,提高测量的准确度。
2.通过对多个质控品的测量,减小了因个别测量错误而导致的无法发现仪器不准的概率,从而进一步地提高了测量数据的可靠性。
3.当本次测量标准品测量峰高与之前标定时的测量峰高差异不大时,通过使用本次测量标准品的测量峰高代替之前标定时的标准品的峰高,并通过新的标准品的峰高对样本进行浓度重新计算,从而避免了因小误差而重新测量样本,避免了重复劳动,简化了操作。
附图说明
图1为本发明的步骤流程框图。
具体实施方式
参照附图1对本发明的一种微量元素检测的数据分析方法作以下详细地说明。
第一种实施例:
使用全自动微量元素分析仪,通过电化学阳极溶出法测微量元素,使用镀膜液给玻碳电极镀膜,预渡汞膜完成后,进行S1步骤操作。
S1:将标准品进行检测,并通过标准品的测量峰高与标定峰高对检测仪器进行校准;
S2:将标准品、若干质控品和样本同时通过全自动微量元素分析仪进行测量,启动测量程序,测量完毕后,测量软件自动记录标准品和样本的测量峰高,并可以查询质控品的测量浓度,若有质控品的测量浓度不符合质控靶值的允许范围,则重新进行步骤S1;若质控品的测量浓度都符合质控靶值的允许范围,则进行步骤S3;
S3:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对质控品的浓度进行重新计算,若重计算后有质控品的浓度不符合质控靶值的允许范围则重新进行步骤S1;若重计算后质控品的浓度都符合质控靶值的允许范围,则进行步骤S4;
S4:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对样本的测量浓度进行重新计算。从而避免了因小误差而重新测量样本,避免了重复劳动,简化了操作。
所述质控品的数量为两个,通过对多个质控品的测量,减小了因个别测量错误而导致的无法发现仪器不准的概率,从而进一步地提高了测量数据的可靠性。
第二种实施例:
区别于第一种实施例的区别在于,使用的检测仪器为全自动微量元素分析仪,通过电化学方波极谱法测量微量元素,测量试剂通过管路、试剂泵、电磁阀等,将试剂从试剂瓶中灌注到全自动微量元素分析仪的测量盘内,进行S1步骤操作。
第三种实施例:
区别于第一种实施例的区别在于,使用的检测仪器为原子吸收光谱仪,利用原子吸收光谱法测量微量元素。
通过在测量样本时同时测量质控品和标准品的方法,在测量仪器发生漂移时,通过标准品的测量值对样本测量值进行重新计算,以修正本次样本测量的浓度值,提高测量的准确度。
上述虽然结合附图对发明的具体实施方式进行了描述,但并非对本发明保护范围的限制,在本发明的技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。
Claims (3)
1.一种微量元素检测的数据分析方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:将标准品进行检测,并通过标准品的测量峰高与标定峰高对检测仪器进行校准;
S2:将标准品、若干质控品和样本同时通过检测仪器进行测量,启动测量程序,测量完毕后,测量软件自动记录标准品和样本的测量峰高,并可以查询质控品的测量浓度,若有质控品的测量浓度不符合质控靶值的允许范围,则重新进行步骤S1;若质控品的测量浓度都符合质控靶值的允许范围,则进行步骤S3;
S3:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对质控品的浓度进行重新计算,若重计算后有质控品的浓度不符合质控靶值的允许范围则重新进行步骤S1;若重计算后质控品的浓度都符合质控靶值的允许范围,则进行步骤S4;
S4:将标准品的测量峰高代替之前的标定峰高对样本的测量浓度进行重新计算。
2.如权利要求1所述的一种微量元素检测的数据分析方法,其特征在于,所述的检测仪器为原子吸收光谱仪或全自动微量元素分析仪。
3.如权利要求1所述的一种微量元素检测的数据分析方法,其特征在于,所述质控品的数量为两个。
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