JPH04128634A - 原子吸光分光光度計 - Google Patents
原子吸光分光光度計Info
- Publication number
- JPH04128634A JPH04128634A JP24757990A JP24757990A JPH04128634A JP H04128634 A JPH04128634 A JP H04128634A JP 24757990 A JP24757990 A JP 24757990A JP 24757990 A JP24757990 A JP 24757990A JP H04128634 A JPH04128634 A JP H04128634A
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- Japan
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- sample
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- measured
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- atomic absorption
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Links
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は金属元素分析に係り、特に自動分注装置を使用
した長時間測定の分析精度向上に好適な原子吸光分光光
度計に関する。
した長時間測定の分析精度向上に好適な原子吸光分光光
度計に関する。
原子吸光分光光度計は、例えば、特開昭５８−１４０６
２５号公報記載のように、グラファイト炉等の加熱炉を
用いて試料中の元素を原子化して測定する。
２５号公報記載のように、グラファイト炉等の加熱炉を
用いて試料中の元素を原子化して測定する。
加熱炉に試料を導入する際、注入位置および注入速度の
変化により、測定再現性・精度が悪化する、また分析時
間が約２分／検体所要し検体数が多い場合長時間測定と
なる０以上のことより試料の注入には、自動試料分注装
置を使用して測定を行っている。
変化により、測定再現性・精度が悪化する、また分析時
間が約２分／検体所要し検体数が多い場合長時間測定と
なる０以上のことより試料の注入には、自動試料分注装
置を使用して測定を行っている。
また加熱炉は、設定された原子化温度にするめに、予め
定められた電流値に定電流制御で加されている。
定められた電流値に定電流制御で加されている。
上記従来技術では、加熱炉の試料注入部であ黒鉛管（グ
ラファイトキュベツト）が、測定とに加熱（２５００〜
３０００℃）を繰り返されために老化し、黒鉛管の抵抗
値が測定を繰り返に従って変化する。そのため定電流制
御で加熱れでいる黒鉛管の発熱量は変化してしまう。こ
（発熱量の変化に伴い試料の原子化量および原子Ｉ過程
が変化し測定状態が一定に保たれない。ま）消耗品であ
る黒鉛管を交換した場合、抵抗値のノラツキなどにより
上記のように発熱量が変化し、測定条件が一定に保たれ
ない。
ラファイトキュベツト）が、測定とに加熱（２５００〜
３０００℃）を繰り返されために老化し、黒鉛管の抵抗
値が測定を繰り返に従って変化する。そのため定電流制
御で加熱れでいる黒鉛管の発熱量は変化してしまう。こ
（発熱量の変化に伴い試料の原子化量および原子Ｉ過程
が変化し測定状態が一定に保たれない。ま）消耗品であ
る黒鉛管を交換した場合、抵抗値のノラツキなどにより
上記のように発熱量が変化し、測定条件が一定に保たれ
ない。
以上のことから測定精度を低下させる問題がｊつた。
本発明の目的は、上記した黒鉛管の経時豹変イ１（抵抗
値変化）、黒鉛管の抵抗値バラツキにょ２発熱量の差に
よる測定精度低下をなくし、精度Ｃ高い分析を行うこと
にある。
値変化）、黒鉛管の抵抗値バラツキにょ２発熱量の差に
よる測定精度低下をなくし、精度Ｃ高い分析を行うこと
にある。
〔課題を解決するための手段〕
１、上記目的は、測定中、測定状態を管理する管理検体
の測定を測定の最初と測定の途中数回行い。
の測定を測定の最初と測定の途中数回行い。
最初の管理検体の測定値を基準とし、以後測定した管理
検体の測定値との変化量（変化率）を、予め定められた
２次又は、３次関数に代入し、原子化時の設定電流値の
補正を実行する。これを管理検体の測定ごとに順次設定
電流値の補正を行い黒鉛管の発熱量を一定に保つ。
検体の測定値との変化量（変化率）を、予め定められた
２次又は、３次関数に代入し、原子化時の設定電流値の
補正を実行する。これを管理検体の測定ごとに順次設定
電流値の補正を行い黒鉛管の発熱量を一定に保つ。
２、上記目的は、測定中測定状態を管理する管理検体の
測定を測定の最初と測定の途中、および最後に数回行い
、最初の管理検体の測定値を基準とし、以後測定した管
理検体の測定値との変化割合を測定値の補正係数として
、その管理検体測定以降の測定値を管理検体の測定ごと
に順次補正してデータ出力する。それによって黒鉛管の
抵抗値変化による測定値の差を補正できる。
測定を測定の最初と測定の途中、および最後に数回行い
、最初の管理検体の測定値を基準とし、以後測定した管
理検体の測定値との変化割合を測定値の補正係数として
、その管理検体測定以降の測定値を管理検体の測定ごと
に順次補正してデータ出力する。それによって黒鉛管の
抵抗値変化による測定値の差を補正できる。
１、加熱炉の黒鉛管に流す電流（原子化時）は、管理検
体の測定値を基に、以後の管理検体測定値の変化量に応
じて、補正される。または一定の吸光度を出力するよう
に設定電流を補正するそれによって黒鉛管の発熱量を一
定に保てる。
体の測定値を基に、以後の管理検体測定値の変化量に応
じて、補正される。または一定の吸光度を出力するよう
に設定電流を補正するそれによって黒鉛管の発熱量を一
定に保てる。
２、順次測定される未知試料の測定値は、管理検体の測
定値を基に、以後の管理検体測定値の変化量に応じて、
補正される。それによって黒鉛管の発熱量の変化による
測定値の変化を補正できる。
定値を基に、以後の管理検体測定値の変化量に応じて、
補正される。それによって黒鉛管の発熱量の変化による
測定値の変化を補正できる。
以下、本発明の実施例を第１図により説明する。
第１図の構成、ＣＰＵ８によって制御される自動試料分
注装置１１０は試料テーブル１１に配置されている測定
試料１３．管理検体１４．［準試料１５の試料を分注ア
ーム１２によって定量分注し、黒鉛管３に導入する。導
入された試料１６は、ＣＰＵ８によってｆｉ１１御され
ている電流制御部７がら電極２に電流が流されることに
より、黒鉛管３が加熱し原子化させられる。光源１がら
は、測定光が発光され、黒鉛管３内部を通り、分光器４
に導びかれ、測定光だけ取り出し、受光部Ｓによって検
出される。検出された出力は、Ａ／Ｄ変換器６を介して
ＣＰＵ８に取り込まれ、測定値を試料の濃度として算出
し、データ出力部９により出力する。
注装置１１０は試料テーブル１１に配置されている測定
試料１３．管理検体１４．［準試料１５の試料を分注ア
ーム１２によって定量分注し、黒鉛管３に導入する。導
入された試料１６は、ＣＰＵ８によってｆｉ１１御され
ている電流制御部７がら電極２に電流が流されることに
より、黒鉛管３が加熱し原子化させられる。光源１がら
は、測定光が発光され、黒鉛管３内部を通り、分光器４
に導びかれ、測定光だけ取り出し、受光部Ｓによって検
出される。検出された出力は、Ａ／Ｄ変換器６を介して
ＣＰＵ８に取り込まれ、測定値を試料の濃度として算出
し、データ出力部９により出力する。
１、測定は、最初に標準試料１５を前記手段で測定を行
い検量線で作成し、測定試料１３の濃度への換算式とす
る。つづいて管理検体１４の測定を行いこの測定値とＣ
ＰＵ８に記憶させ本測定の基準とする。つづいて測定試
料１３を順次測定する。Ｓ定試料１３を順次測定してい
る合間に、予め設定されたＩ′ＩＪＩＩ隔で、管理検体
１４の測定を実行する。ここで測定された管理検体１４
の測定値は、最初に測定した基準としている管理検体１
４と比較し、その変化率を予め定められた関数に代入し
、電極２に流す電流の補正計算をＣＰＵ８にて行う。（
初期設定の電流値）Ｘｆ（ｘ）−（補正後の電流値）。
い検量線で作成し、測定試料１３の濃度への換算式とす
る。つづいて管理検体１４の測定を行いこの測定値とＣ
ＰＵ８に記憶させ本測定の基準とする。つづいて測定試
料１３を順次測定する。Ｓ定試料１３を順次測定してい
る合間に、予め設定されたＩ′ＩＪＩＩ隔で、管理検体
１４の測定を実行する。ここで測定された管理検体１４
の測定値は、最初に測定した基準としている管理検体１
４と比較し、その変化率を予め定められた関数に代入し
、電極２に流す電流の補正計算をＣＰＵ８にて行う。（
初期設定の電流値）Ｘｆ（ｘ）−（補正後の電流値）。
Ｘは変化率。
ここで決定された電流値に、電流制御部７を制御する。
このように管理検体１４を測定ごとに、電極２に流す電
流値の補正を実行して順次？ｌＩ！Ｉ菟試料１３を測定
する。本実施例によれば黒鉛嘴３の経時変化による抵抗
値の変化によって生じる発熱量の変化を防ぎ、発熱量を
一定に保つことが可能となり、試料１６の原子化条件を
一定にすることができる。このため精度の高い測定試料
１３の測定ができる。
流値の補正を実行して順次？ｌＩ！Ｉ菟試料１３を測定
する。本実施例によれば黒鉛嘴３の経時変化による抵抗
値の変化によって生じる発熱量の変化を防ぎ、発熱量を
一定に保つことが可能となり、試料１６の原子化条件を
一定にすることができる。このため精度の高い測定試料
１３の測定ができる。
２つめの実施例として、測定は、最初に標準試料１５の
測定を行い検量線を作成し、測定試料１３の濃度への換
算式とする。つづいて管理検体１４の測定を行いその測
定値とＣＰＵ８に記憶させ本測定の基準とする。つづい
て測定試料１３を順次測定する。測定試料１３を順次測
定している合間に、予め設定された間隔で、管理検体１
４の測定を実行する。ここで測定された管理検体】−４
の測定値は、最初に測定した基準としている管理検体１
４と比較し、その変化率を求め、以後測定する測定試料
〕３の測定値を補正する。
測定を行い検量線を作成し、測定試料１３の濃度への換
算式とする。つづいて管理検体１４の測定を行いその測
定値とＣＰＵ８に記憶させ本測定の基準とする。つづい
て測定試料１３を順次測定する。測定試料１３を順次測
定している合間に、予め設定された間隔で、管理検体１
４の測定を実行する。ここで測定された管理検体】−４
の測定値は、最初に測定した基準としている管理検体１
４と比較し、その変化率を求め、以後測定する測定試料
〕３の測定値を補正する。
試料の測定値）＝（補正後測定値）このように管理検体
１４の測定ごとに変化率を求め測定値の補正を行う。
１４の測定ごとに変化率を求め測定値の補正を行う。
本実施例によれば黒鉛管３の発熱量変化による測定値誤
差を補正することができ、精度の高い測定試料１３の測
定が可能となる６ 〔発明の効果〕 本発明によれば、黒鉛管の抵抗値の変化に見合った加熱
電流が供給でき黒鉛管の発熱量を一定に保つことができ
る。また、黒鉛管の発熱量の変化によって生じた測定誤
差を補正することができる。これにより分析精度の高い
測定ができる。
差を補正することができ、精度の高い測定試料１３の測
定が可能となる６ 〔発明の効果〕 本発明によれば、黒鉛管の抵抗値の変化に見合った加熱
電流が供給でき黒鉛管の発熱量を一定に保つことができ
る。また、黒鉛管の発熱量の変化によって生じた測定誤
差を補正することができる。これにより分析精度の高い
測定ができる。
第１図は本発明の一実施例のシステムブロック図である
。 １・・・光源、２・・電源、３・・・黒鉛管、４・・・
分光器、５・・・受光部、６・・・Ａ／Ｄ変換器、７・
・・電流制御部、８・・ＣＰＵ （中央処理装り、９・
データ出力部。 １０・・・自動試料分注装置、１］・・・試料テーブル
、１２・・分注アーム、１３・・・測定試料、】、４・
・・管理検体、１５・・・標準試料、１６・・・試料。
。 １・・・光源、２・・電源、３・・・黒鉛管、４・・・
分光器、５・・・受光部、６・・・Ａ／Ｄ変換器、７・
・・電流制御部、８・・ＣＰＵ （中央処理装り、９・
データ出力部。 １０・・・自動試料分注装置、１］・・・試料テーブル
、１２・・分注アーム、１３・・・測定試料、】、４・
・・管理検体、１５・・・標準試料、１６・・・試料。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、測定元素の原子化法としてグラファイト炉等を用い
た加熱炉を有し、前記加熱炉に試料を分注する自動試料
分注装置を使用する原子吸光分光光度計において、前記
原子吸光分光光度計の一定状態を管理するための試料と
して管理検体を前記自動試料分注装置に配置し、前記管
理検体の測定を任意の時期に任意の回数行い、前記管理
検体の測定値を基に加熱炉に流す電流値の設定を行う機
能を有することを特徴とする原子吸光分光光度計。 ２、測定元素の原子化法としてグラファイト炉等を用い
た加熱炉を有し、前記加熱炉に試料を分注する自動試料
分注装置を使用する原子吸光分光光度計において、前記
原子吸光分光光度計の測定状態を管理するための試料と
して管理検体を前記自動試料分注装置に配置し、前記管
理検体の測定を任意の時期に任意の回数行い、前記管理
検体の測定値を基に未知試料の測定値を補正する機能を
有することを特徴とする原子吸光分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24757990A JPH04128634A (ja) | 1990-09-19 | 1990-09-19 | 原子吸光分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24757990A JPH04128634A (ja) | 1990-09-19 | 1990-09-19 | 原子吸光分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04128634A true JPH04128634A (ja) | 1992-04-30 |
Family
ID=17165601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24757990A Pending JPH04128634A (ja) | 1990-09-19 | 1990-09-19 | 原子吸光分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04128634A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107356650A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-11-17 | 山东美医林电子仪器有限公司 | 一种微量元素检测的数据分析方法 |
-
1990
- 1990-09-19 JP JP24757990A patent/JPH04128634A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107356650A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-11-17 | 山东美医林电子仪器有限公司 | 一种微量元素检测的数据分析方法 |
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