JP3239914B2 - 試料濃縮機能を備えた原子吸光分光光度計 - Google Patents
試料濃縮機能を備えた原子吸光分光光度計Info
- Publication number
- JP3239914B2 JP3239914B2 JP29388893A JP29388893A JP3239914B2 JP 3239914 B2 JP3239914 B2 JP 3239914B2 JP 29388893 A JP29388893 A JP 29388893A JP 29388893 A JP29388893 A JP 29388893A JP 3239914 B2 JP3239914 B2 JP 3239914B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- concentration
- absorbance
- control unit
- calibration curve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は様々な物質中に含まれる
金属元素の定量分析を行なう原子吸光分光光度計に関
し、とくにフレームレス方式の原子化部を備え、オート
サンプラを備えて自動分析を行なうようにした原子吸光
分光光度計に関するものである。
金属元素の定量分析を行なう原子吸光分光光度計に関
し、とくにフレームレス方式の原子化部を備え、オート
サンプラを備えて自動分析を行なうようにした原子吸光
分光光度計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】フレームレス方式の原子吸光分光光度計
では、試料を電気加熱炉中に入れて高温に加熱すること
により、試料の乾燥、灰化及び原子化を行なって原子蒸
気を生成させ、その原子蒸気中に適当な波長の光を透過
させて原子吸光分析を行なう。加熱炉ではグラファイト
チューブの両端の電極からグラファイトチューブに通電
することにより発熱させる。
では、試料を電気加熱炉中に入れて高温に加熱すること
により、試料の乾燥、灰化及び原子化を行なって原子蒸
気を生成させ、その原子蒸気中に適当な波長の光を透過
させて原子吸光分析を行なう。加熱炉ではグラファイト
チューブの両端の電極からグラファイトチューブに通電
することにより発熱させる。
【０００３】試料中の測定対象元素の濃度は、検出器に
よる検出信号から求めた吸光度を元にして算出する。吸
光度から濃度を算出するために、測定試料量と同量の標
準試料を用いて予め濃度と吸光度との関係を示す検量線
を作成しておく。原子化部の電気加熱炉にはグラファイ
ト炉が主に用いられており、そのグラファイト炉に試料
を自動的に注入するオートサンプラを用いた自動分析が
行なわれている。
よる検出信号から求めた吸光度を元にして算出する。吸
光度から濃度を算出するために、測定試料量と同量の標
準試料を用いて予め濃度と吸光度との関係を示す検量線
を作成しておく。原子化部の電気加熱炉にはグラファイ
ト炉が主に用いられており、そのグラファイト炉に試料
を自動的に注入するオートサンプラを用いた自動分析が
行なわれている。
【０００４】自動分析では、未知試料の吸光度を測定し
たとき、その吸光度が検量線から濃度を算出できる最高
濃度の吸光度の検量点よりも大きな値になったときは、
オートサンプラで希釈液を用いて試料を自動的に希釈
し、再測定することが行なわれている。一方、未知試料
の吸光度が検量線から濃度を求めることのできる最低濃
度の吸光度の検量点（以下、定量下限という）よりも小
さい場合には、その未知試料の再測定は行なっていな
い。
たとき、その吸光度が検量線から濃度を算出できる最高
濃度の吸光度の検量点よりも大きな値になったときは、
オートサンプラで希釈液を用いて試料を自動的に希釈
し、再測定することが行なわれている。一方、未知試料
の吸光度が検量線から濃度を求めることのできる最低濃
度の吸光度の検量点（以下、定量下限という）よりも小
さい場合には、その未知試料の再測定は行なっていな
い。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】試料中の測定対象元素
の濃度が０ではないが、定量下限よりも小さい場合に
は、再測定は行なわず、検量線を外插するなどして濃度
を算出しているため、定量下限より低濃度の試料の測定
精度が悪くなる問題を含んでいる。このような低濃度試
料を再測定する場合は、作業者が手作業で試料を濃縮す
る作業が必要になってくる。手作業により濃縮を行なっ
て再測定をすると、測定誤差が大きくなり、作業者の個
人差も生じる。本発明は未知試料の分析対象元素の濃度
が定量下限より小さい場合に、自動的に濃縮して再測定
できるようにすることを目的とするものである。
の濃度が０ではないが、定量下限よりも小さい場合に
は、再測定は行なわず、検量線を外插するなどして濃度
を算出しているため、定量下限より低濃度の試料の測定
精度が悪くなる問題を含んでいる。このような低濃度試
料を再測定する場合は、作業者が手作業で試料を濃縮す
る作業が必要になってくる。手作業により濃縮を行なっ
て再測定をすると、測定誤差が大きくなり、作業者の個
人差も生じる。本発明は未知試料の分析対象元素の濃度
が定量下限より小さい場合に、自動的に濃縮して再測定
できるようにすることを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明が対象とするフレ
ームレス方式の原子吸光分光光度計は、通電発熱し分析
すべき試料を乾燥、灰化及び原子化して原子蒸気を生成
する電気加熱炉と、電気加熱炉に試料を自動的に注入す
るオートサンプラと、電気加熱炉中の原子蒸気に測定光
を照射し、その透過光から分析対象元素の吸光度を求め
る光学系と、試料注入及び分析動作を制御し、得られた
吸光度Ａから試料の分析対象元素の濃度Ｃを算出して出
力する制御装置とを備えている。
ームレス方式の原子吸光分光光度計は、通電発熱し分析
すべき試料を乾燥、灰化及び原子化して原子蒸気を生成
する電気加熱炉と、電気加熱炉に試料を自動的に注入す
るオートサンプラと、電気加熱炉中の原子蒸気に測定光
を照射し、その透過光から分析対象元素の吸光度を求め
る光学系と、試料注入及び分析動作を制御し、得られた
吸光度Ａから試料の分析対象元素の濃度Ｃを算出して出
力する制御装置とを備えている。
【０００７】制御装置の機能を図１に示す。制御装置８
は、オートサンプラ４による所定量ｘ又はｙの試料注入
動作を制御する注入制御部１０と、電気加熱炉の加熱電
源２を制御する加熱モードとして、分析時の乾燥、灰化
及び原子化の加熱過程をもつ分析モードProg.Ｍの他
に、乾燥のみの加熱過程又は乾燥及び灰化のみの加熱過
程をもつ濃縮モードProg.Ｂを有する電源制御部１２
と、一定量ｘの標準試料の測定により得られた検量線デ
ータＣ＝ｆ(Ａ）を記憶している検量線記憶部１４と、
一定量ｘの未知試料の測定時に光学系で得られた吸光度
Ａを定量下限Ａstdと比較する比較部１６と、比較部１
６での比較の結果、その試料の吸光度Ａが定量下限Ａst
dより小さいものであったときは注入制御部１０により
その試料を一定量ｙずつ複数回繰り返して注入させると
ともに、その繰返しの最後の注入を除く各注入試料に対
して電源制御部１２により濃縮モードProg.Ｂでの加熱
をさせ、その繰返しの最後の注入試料に対しては電源制
御部１２により分析モードProg.Ｍでの加熱をさせる濃
縮制御部１８と、比較部１６での比較の結果、その試料
の吸光度Ａが定量下限Ａstd以上であったときはその測
定吸光度Ａを用いて検量線から濃度を算出して出力し、
比較部１６での比較の結果、その試料の吸光度Ａが定量
下限Ａstdより小さいものであったときはそのときの濃
縮試料による測定吸光度Ａ'を用いて検量線から算出し
た濃度を濃縮率により補正して出力する濃度算出部２０
とを備えている。
は、オートサンプラ４による所定量ｘ又はｙの試料注入
動作を制御する注入制御部１０と、電気加熱炉の加熱電
源２を制御する加熱モードとして、分析時の乾燥、灰化
及び原子化の加熱過程をもつ分析モードProg.Ｍの他
に、乾燥のみの加熱過程又は乾燥及び灰化のみの加熱過
程をもつ濃縮モードProg.Ｂを有する電源制御部１２
と、一定量ｘの標準試料の測定により得られた検量線デ
ータＣ＝ｆ(Ａ）を記憶している検量線記憶部１４と、
一定量ｘの未知試料の測定時に光学系で得られた吸光度
Ａを定量下限Ａstdと比較する比較部１６と、比較部１
６での比較の結果、その試料の吸光度Ａが定量下限Ａst
dより小さいものであったときは注入制御部１０により
その試料を一定量ｙずつ複数回繰り返して注入させると
ともに、その繰返しの最後の注入を除く各注入試料に対
して電源制御部１２により濃縮モードProg.Ｂでの加熱
をさせ、その繰返しの最後の注入試料に対しては電源制
御部１２により分析モードProg.Ｍでの加熱をさせる濃
縮制御部１８と、比較部１６での比較の結果、その試料
の吸光度Ａが定量下限Ａstd以上であったときはその測
定吸光度Ａを用いて検量線から濃度を算出して出力し、
比較部１６での比較の結果、その試料の吸光度Ａが定量
下限Ａstdより小さいものであったときはそのときの濃
縮試料による測定吸光度Ａ'を用いて検量線から算出し
た濃度を濃縮率により補正して出力する濃度算出部２０
とを備えている。
【０００８】
【作用】図１と図２により本発明の動作を説明する。ま
ず、分析条件として、未知試料の濃度が定量下限より小
さい場合に炉内濃縮する回数Ｎを濃縮制御部１８に設定
し、濃縮する際の炉内濃縮用温度プログラムProg.Ｂと
測定用温度プログラムProg.Ｍを電源制御部１２に設定
しておく。標準試料測定時及び未知試料の通常の測定時
の試料注入量ｘμｌと炉内濃縮時の試料注入量ｙμｌを
注入制御部１０に設定する。ｘとｙが等しくてもよい。
未知試料の測定に先立って、分析対象元素の濃度が既知
の複数の標準試料を用いて測定を行ない、検量線を作成
する。検量線データは検量線記憶部１４に記憶させる。
ず、分析条件として、未知試料の濃度が定量下限より小
さい場合に炉内濃縮する回数Ｎを濃縮制御部１８に設定
し、濃縮する際の炉内濃縮用温度プログラムProg.Ｂと
測定用温度プログラムProg.Ｍを電源制御部１２に設定
しておく。標準試料測定時及び未知試料の通常の測定時
の試料注入量ｘμｌと炉内濃縮時の試料注入量ｙμｌを
注入制御部１０に設定する。ｘとｙが等しくてもよい。
未知試料の測定に先立って、分析対象元素の濃度が既知
の複数の標準試料を用いて測定を行ない、検量線を作成
する。検量線データは検量線記憶部１４に記憶させる。
【０００９】次に、図２に示されるように未知試料を測
定する。オートサンプラ４により未知試料のｘμｌが電
気加熱炉に注入され、測定用温度プログラムProg.Ｍに
従って試料の乾燥、灰化及び原子化が行なわれ、吸光度
が求められる。その吸光度が０以下であれば、対象元素
濃度０を出力されて測定が終了する。
定する。オートサンプラ４により未知試料のｘμｌが電
気加熱炉に注入され、測定用温度プログラムProg.Ｍに
従って試料の乾燥、灰化及び原子化が行なわれ、吸光度
が求められる。その吸光度が０以下であれば、対象元素
濃度０を出力されて測定が終了する。
【００１０】その吸光度Ａが定量下限Ａstd以上である
場合は、検量線記憶部１４の検量線データを用いて、濃
度算出部２０で Ｃ＝ｆ(Ａ） により濃度が算出され、表示部２２に表示されて分析が
終了する。
場合は、検量線記憶部１４の検量線データを用いて、濃
度算出部２０で Ｃ＝ｆ(Ａ） により濃度が算出され、表示部２２に表示されて分析が
終了する。
【００１１】一方、その吸光度Ａが定量下限Ａstdより
小さい場合は、オートサンプラ４により試料が濃縮され
て再測定される。その濃縮工程では、濃縮制御部１８は
試料注入部１０を介してオートサンプラ４からｙμｌの
試料を電気加熱炉に注入し、電源制御部１２を介して乾
燥のみの加熱過程又は乾燥と灰化の加熱過程のみを含む
濃縮モードの加熱プログラムProg.Ｂに従って乾燥段階
又は灰化段階まで行なう。この試料ｙμｌの注入と、乾
燥又は乾燥及び灰化が（Ｎ−１）回繰り返された後、Ｎ
回目には再びｙμｌの試料がオートサンプラ４から電気
加熱炉に注入され、今度は測定用温度プログラムProg.
Ｍに従って乾燥、灰化及び原子化までの加熱過程を経て
吸光度が測定される。
小さい場合は、オートサンプラ４により試料が濃縮され
て再測定される。その濃縮工程では、濃縮制御部１８は
試料注入部１０を介してオートサンプラ４からｙμｌの
試料を電気加熱炉に注入し、電源制御部１２を介して乾
燥のみの加熱過程又は乾燥と灰化の加熱過程のみを含む
濃縮モードの加熱プログラムProg.Ｂに従って乾燥段階
又は灰化段階まで行なう。この試料ｙμｌの注入と、乾
燥又は乾燥及び灰化が（Ｎ−１）回繰り返された後、Ｎ
回目には再びｙμｌの試料がオートサンプラ４から電気
加熱炉に注入され、今度は測定用温度プログラムProg.
Ｍに従って乾燥、灰化及び原子化までの加熱過程を経て
吸光度が測定される。
【００１２】このようにして得られた吸光度Ａ’は濃縮
された試料の吸光度である。そこで、検量線を作成した
ときのｘμｌでの試料量に換算するために、濃縮率によ
る補正がなされる。その補正された濃度は Ｃ＝（ｘ／Ｎｙ）・ｆ(Ａ') である。ここで、ｆ(Ａ'）は検量線を用いて求めた濃縮
試料の吸光度、 （ｘ／Ｎｙ）は濃縮率による補正
係数である。
された試料の吸光度である。そこで、検量線を作成した
ときのｘμｌでの試料量に換算するために、濃縮率によ
る補正がなされる。その補正された濃度は Ｃ＝（ｘ／Ｎｙ）・ｆ(Ａ') である。ここで、ｆ(Ａ'）は検量線を用いて求めた濃縮
試料の吸光度、 （ｘ／Ｎｙ）は濃縮率による補正
係数である。
【００１３】
【実施例】図３に本発明の一実施例の概略構成図を示
す。３０は原子化部であり、加熱電源２により通電され
て発熱するグラファイトチューブを備えている。グラフ
ァイトチューブ内には試料が注入され、グラファイトチ
ューブにより試料が加熱されて原子化される。３２は原
子化部３０で生成した原子蒸気に測定光を照射する光源
であり、例えば中空陰極ランプ（ホローカソードラン
プ）が用いられる。３４は原子化部３０を透過してきた
測定光を分光する分光器部、３６は分光された光を検出
する検出部であり、増幅装置６は検出部３６の検出信号
を増幅し、吸光度を算出する。制御装置８はＣＰＵとイ
ンターフェイス（Ｉ／Ｏ）を含んでおり、図１に示され
た機能を果たしているほか、光源３２の点灯を制御し、
分光器部３４での分光動作を制御する。３８はキーボー
ドなどの操作部である。
す。３０は原子化部であり、加熱電源２により通電され
て発熱するグラファイトチューブを備えている。グラフ
ァイトチューブ内には試料が注入され、グラファイトチ
ューブにより試料が加熱されて原子化される。３２は原
子化部３０で生成した原子蒸気に測定光を照射する光源
であり、例えば中空陰極ランプ（ホローカソードラン
プ）が用いられる。３４は原子化部３０を透過してきた
測定光を分光する分光器部、３６は分光された光を検出
する検出部であり、増幅装置６は検出部３６の検出信号
を増幅し、吸光度を算出する。制御装置８はＣＰＵとイ
ンターフェイス（Ｉ／Ｏ）を含んでおり、図１に示され
た機能を果たしているほか、光源３２の点灯を制御し、
分光器部３４での分光動作を制御する。３８はキーボー
ドなどの操作部である。
【００１４】加熱電源２はグラファイトチューブに流す
電流を制御するために、ＡＣ２００Ｖの電源をトランス
３２で変圧してグラファイトチューブに供給する。通電
制御はトライアックにより行なわれ、トライアックは制
御装置８の電源制御部２からの温度プログラムProg.Ｍ
又はProg.Ｂに従った点弧パルス信号により制御され
る。
電流を制御するために、ＡＣ２００Ｖの電源をトランス
３２で変圧してグラファイトチューブに供給する。通電
制御はトライアックにより行なわれ、トライアックは制
御装置８の電源制御部２からの温度プログラムProg.Ｍ
又はProg.Ｂに従った点弧パルス信号により制御され
る。
【００１５】図４に一実施例の外観の概略平面図を示
す。４０は原子吸光光度計本体であり、その原子化部３
０のグラファイトチューブには試料をオートサンプラで
注入するための試料注入穴４４が設けられている。原子
吸光光度計本体４０の近傍には試料供給用のターンテー
ブル４６が配置されており、ターンテーブル４６上には
容器４８が配置されており、容器４８には未知試料の入
った容器、標準試料の入った容器、試薬の入った容器、
ブランク液の入った容器などが含まれている。原子吸光
光度計本体４０とターンテーブル４６の近傍にはさらに
ノズル洗浄容器や混合容器が配置されているが、図示は
省略している。ターンテーブル４６に配置された未知試
料などの試料溶液を吸引してグラファイトチューブの試
料注入穴４４へ注入したり、混合容器で試料を混合した
り、試料注入後のノズルを洗浄したりするために、ター
ンテーブル４６上の試料採取位置、ノズル洗浄容器の位
置、混合容器の位置、及び試料注入穴４４の位置にノズ
ルを移動させるために、先端にノズルが設けられたサン
プラアーム５０が配置されている。
す。４０は原子吸光光度計本体であり、その原子化部３
０のグラファイトチューブには試料をオートサンプラで
注入するための試料注入穴４４が設けられている。原子
吸光光度計本体４０の近傍には試料供給用のターンテー
ブル４６が配置されており、ターンテーブル４６上には
容器４８が配置されており、容器４８には未知試料の入
った容器、標準試料の入った容器、試薬の入った容器、
ブランク液の入った容器などが含まれている。原子吸光
光度計本体４０とターンテーブル４６の近傍にはさらに
ノズル洗浄容器や混合容器が配置されているが、図示は
省略している。ターンテーブル４６に配置された未知試
料などの試料溶液を吸引してグラファイトチューブの試
料注入穴４４へ注入したり、混合容器で試料を混合した
り、試料注入後のノズルを洗浄したりするために、ター
ンテーブル４６上の試料採取位置、ノズル洗浄容器の位
置、混合容器の位置、及び試料注入穴４４の位置にノズ
ルを移動させるために、先端にノズルが設けられたサン
プラアーム５０が配置されている。
【００１６】図５にターンテーブル４６とノズル５２を
備えた吸引・吐出機構を示す。ノズル５２はサンプラア
ーム５０の先端に設けられ、サンプラアーム５０は回転
と上下方向の移動をする。ノズル５２の流路５２には容
量の小さい小シリンジ５６が接続され、その流路５２に
三叉ジョイントを介して接続された流路には三方バルブ
５８を介して容量の大きい大シリンジ６０と洗浄液（又
はブランク液）６２の容器が接続されている。小シリン
ジ５６はターンテーブル４６に配置された未知試料その
他の試料溶液を吸引して試料注入穴４４へ注入するのに
用いられ、大シリンジ６０は混合容器で複数の試料溶液
を撹拌して混合したり、ノズル５２や混合容器の洗浄や
ブランク液を供給したりするのに用いられる。
備えた吸引・吐出機構を示す。ノズル５２はサンプラア
ーム５０の先端に設けられ、サンプラアーム５０は回転
と上下方向の移動をする。ノズル５２の流路５２には容
量の小さい小シリンジ５６が接続され、その流路５２に
三叉ジョイントを介して接続された流路には三方バルブ
５８を介して容量の大きい大シリンジ６０と洗浄液（又
はブランク液）６２の容器が接続されている。小シリン
ジ５６はターンテーブル４６に配置された未知試料その
他の試料溶液を吸引して試料注入穴４４へ注入するのに
用いられ、大シリンジ６０は混合容器で複数の試料溶液
を撹拌して混合したり、ノズル５２や混合容器の洗浄や
ブランク液を供給したりするのに用いられる。
【００１７】
【発明の効果】本発明では未知試料による原子吸光の吸
光度が定量下限より小さい場合には、自動的に未知試料
を炉内で濃縮して再測定するようにしたので、再測定後
に得られる吸光度が検量線で濃度を求めるのに適した吸
光度まで大きくすることができ、測定精度が向上する。
また、このように濃縮できることにより定量できる低濃
度側の濃度範囲が広くなり、適用範囲が広がる。試料を
濃縮する作業はオートサンプラで自動的に行なうため、
人為的な誤差が生じることがなく、この点でも測定精度
が高まる。
光度が定量下限より小さい場合には、自動的に未知試料
を炉内で濃縮して再測定するようにしたので、再測定後
に得られる吸光度が検量線で濃度を求めるのに適した吸
光度まで大きくすることができ、測定精度が向上する。
また、このように濃縮できることにより定量できる低濃
度側の濃度範囲が広くなり、適用範囲が広がる。試料を
濃縮する作業はオートサンプラで自動的に行なうため、
人為的な誤差が生じることがなく、この点でも測定精度
が高まる。
【図１】本発明における主として制御装置部分を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】本発明の動作を示すフローチャート図である。
【図３】一実施例を示す概略構成図である。
【図４】一実施例の概略平面図である。
【図５】同実施例におけるオートサンプラの流路を示す
流路図である。
流路図である。
２ 加熱電源 ４ オートサンプラ ６ 増幅装置 ８ 制御装置 １０ 注入制御部 １２ 電源制御部 １４ 検量線記憶部 １６ 比較部 １８ 濃縮制御部 ２０ 濃度算出部 ２２ 表示部 ３０ 原子化部 ３２ 光源部 ３４ 分光器部 ３６ 検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/74
Claims (1)
- 【請求項１】 通電発熱し分析すべき試料を乾燥、灰化
及び原子化して原子蒸気を生成する電気加熱炉と、電気
加熱炉に試料を自動的に注入するオートサンプラと、電
気加熱炉中の原子蒸気に測定光を照射し、その透過光か
ら分析対象元素の吸光度を求める光学系と、試料注入及
び分析動作を制御し、得られた吸光度Ａから試料の分析
対象元素の濃度Ｃを算出して出力する制御装置とを備え
たフレームレス方式の原子吸光分光光度計において、 前記制御装置は、オートサンプラによる所定量ｘ又はｙ
の試料注入動作を制御する注入制御部と、 電気加熱炉の加熱電源を制御する加熱モードとして、分
析時の乾燥、灰化及び原子化の加熱過程をもつ分析モー
ドProg.Ｍの他に、乾燥のみの加熱過程又は乾燥及び灰
化のみの加熱過程をもつ濃縮モードProg.Ｂを有する電
源制御部と、 一定量ｘの標準試料の測定により得られた検量線データ
Ｃ＝ｆ(Ａ）を記憶している検量線記憶部と、 一定量ｘの未知試料の測定時に前記光学系で得られた吸
光度Ａを検量線が適用できる最低濃度の検量点Ａstdと
比較する比較部と、 比較部での比較の結果、その試料の吸光度Ａが最低濃度
の検量点Ａstdより小さいものであったときは注入制御
部によりその試料を一定量ずつ複数回繰り返して注入さ
せるとともに、その繰返しの最後の注入を除く各注入試
料に対して電源制御部により濃縮モードProg.Ｂでの加
熱をさせ、その繰返しの最後の注入試料に対しては電源
制御部により分析モードProg.Ｍでの加熱をさせる濃縮
制御部と、 比較部での比較の結果、その試料の吸光度Ａが最低濃度
の検量点Ａstd以上であったときはその測定吸光度Ａを
用いて検量線から濃度を算出して出力し、比較部での比
較の結果、その試料の吸光度Ａが最低濃度の検量点Ａst
dより小さいものであったときはそのときの濃縮試料に
よる測定吸光度Ａ'を用いて検量線から算出した濃度を
濃縮率により補正して出力する濃度算出部とを備えてい
ることを特徴とする原子吸光分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29388893A JP3239914B2 (ja) | 1993-10-30 | 1993-10-30 | 試料濃縮機能を備えた原子吸光分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29388893A JP3239914B2 (ja) | 1993-10-30 | 1993-10-30 | 試料濃縮機能を備えた原子吸光分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128227A JPH07128227A (ja) | 1995-05-19 |
| JP3239914B2 true JP3239914B2 (ja) | 2001-12-17 |
Family
ID=17800456
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29388893A Expired - Fee Related JP3239914B2 (ja) | 1993-10-30 | 1993-10-30 | 試料濃縮機能を備えた原子吸光分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3239914B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010117284A (ja) * | 2008-11-14 | 2010-05-27 | Hitachi High-Technologies Corp | オートサンプラ，原子吸光光度計、および前処理方法 |
-
1993
- 1993-10-30 JP JP29388893A patent/JP3239914B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07128227A (ja) | 1995-05-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Liang | Automation of Karl Fischer water titration by flow injection sampling | |
| US5039219A (en) | Luminescence system and method for determining the nature of substances by measuring fluorescence and phosphorescence properties | |
| US9829430B2 (en) | Spectrophotometer | |
| Vogt et al. | A UV spectroscopic method for monitoring aromatic hydrocarbons dissolved in water | |
| US6042708A (en) | Microchip electrophoretic method and apparatus | |
| US4225235A (en) | Sample introduction system for flameless emission spectroscopy | |
| Maessen et al. | Direct determination of gold, cobalt, and lithium in blood plasma using the mini-Massmann carbon rod atomizer | |
| JP3239914B2 (ja) | 試料濃縮機能を備えた原子吸光分光光度計 | |
| JPH0433386B2 (ja) | ||
| US4634277A (en) | Atomic absorption spectrophotometer and method of analysis by atomic absorption spectrophotometry | |
| JP3325937B2 (ja) | 原子吸収分光法における吸収補正装置および方法 | |
| JP7026117B2 (ja) | 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 | |
| US20220187125A1 (en) | Light source for variable path length systems | |
| JP2916541B2 (ja) | 原子吸収分光計による濃度決定方法 | |
| Costantini et al. | Application of ZrC-coated tubes to the determination of aluminum in serum by graphite furnace atomic absorption spectroscopy | |
| L'vov et al. | Correction of characteristic mass in Zeeman graphite furnace atomic absorption spectrometry | |
| Ajayi et al. | Evaluation of automatic probe atomization for determination of elements in urine and whole blood by electrothermal atomic absorption spectrometry | |
| JP2841664B2 (ja) | 土壤等の診断装置 | |
| Cabon et al. | Influence of experimental parameters in electrothermal atomic absorption spectrometry on a priori calculated instrumental detection limits | |
| Lopez-Garcia et al. | Automatic dilution system for use in flame atomic absorption spectrometry | |
| JP3547346B2 (ja) | 原子吸光測定方法 | |
| Yuzefovsky et al. | Newton approximation method for linearization of calibration curves in Zeeman graphite furnace atomic absorption spectrometry | |
| Torsi et al. | A new method for standardless analysis in ETA-AAS applied to the determination of lead associated with air aerosol | |
| US20230375407A1 (en) | No-ref-signal slope spectroscopic measurement | |
| Brennan et al. | A computer-assisted metal analyser using flow injection coupled with direct current plasma–optical emission spectroscopy |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081012 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081012 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091012 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091012 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101012 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111012 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111012 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121012 Year of fee payment: 11 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |