JP3325937B2 - 原子吸収分光法における吸収補正装置および方法 - Google Patents
原子吸収分光法における吸収補正装置および方法Info
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、全般的には、原子吸収
分光分析法によりサンプル中に含有される分析物の量を
決定するための原子吸収による分析物量決定方法および
装置に関するものである。
分光分析法によりサンプル中に含有される分析物の量を
決定するための原子吸収による分析物量決定方法および
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】原子吸収分光分析法において中空陰極ラ
ンプのごとき線放出光源がサンプル中でその量が決定さ
れることができる分析物の共振線を含んでいる測定光ビ
ームを放出する。サンプルは、該サンプルがその中に含
有される分析物が原子状態において存在する原子蒸気を
形成するように霧化器に導入されかつ該霧化器中で霧化
される。測定光ビームはこの原子蒸気を通過しかつ光電
検出器上に衝突する。測定光ビームはこの原子蒸気中に
含有されかつ共振線を吸収する分析物の原子の数の関数
として原子蒸気により減衰される。
ンプのごとき線放出光源がサンプル中でその量が決定さ
れることができる分析物の共振線を含んでいる測定光ビ
ームを放出する。サンプルは、該サンプルがその中に含
有される分析物が原子状態において存在する原子蒸気を
形成するように霧化器に導入されかつ該霧化器中で霧化
される。測定光ビームはこの原子蒸気を通過しかつ光電
検出器上に衝突する。測定光ビームはこの原子蒸気中に
含有されかつ共振線を吸収する分析物の原子の数の関数
として原子蒸気により減衰される。
【０００３】霧化器はバーナにより発生される炎であつ
ても良い。この場合に、サンプルの溶液が連続吸収信号
を発生するために噴霧器によつてバーナの混合室に連続
して噴霧される。
ても良い。この場合に、サンプルの溶液が連続吸収信号
を発生するために噴霧器によつてバーナの混合室に連続
して噴霧される。
【０００４】霧化器はそれに代えてグラフアイト管霧化
器のごとき電熱霧化器にすることもできる。計量された
量のサンプルが電熱霧化器に導入されそして霧化は強い
電流を電熱霧化器に通すことにより行われる。それによ
り霧化器は霧化温度に加熱されかつサンプルを霧化す
る。かくして、遷移ピーク信号が得られる。
器のごとき電熱霧化器にすることもできる。計量された
量のサンプルが電熱霧化器に導入されそして霧化は強い
電流を電熱霧化器に通すことにより行われる。それによ
り霧化器は霧化温度に加熱されかつサンプルを霧化す
る。かくして、遷移ピーク信号が得られる。
【０００５】いずれの場合にも、検出器がサンプル中に
含有される分析物の量を示す信号を発生する。この検出
器出力信号は、例えば、炎霧化器の場合に「濃度」、ま
たは電熱霧化器の場合に「量」によつて較正され得る。
後者の場合に、遷移信号は通常時間に対して積分されか
つこの時間積分信号はサンプル中に含有される分析物の
量を決定するのに使用される。
含有される分析物の量を示す信号を発生する。この検出
器出力信号は、例えば、炎霧化器の場合に「濃度」、ま
たは電熱霧化器の場合に「量」によつて較正され得る。
後者の場合に、遷移信号は通常時間に対して積分されか
つこの時間積分信号はサンプル中に含有される分析物の
量を決定するのに使用される。
【０００６】
【発明が解決すべき課題】例えば、原子蒸気中の非霧化
分子による吸収により「背景吸収」を補正するために、
原子蒸気に磁界を印加することが知られている。ゼーマ
ン作用のため、原子蒸気中の原子の共振線がその場合に
移動されかつ測定ビームの共振線はもはや吸収されな
い。かくして、磁界の存在において、分析物の原子によ
る測定ビームの特別な吸収がなくそして背景吸収のみが
測定される。磁界が存在しない場合には、特別な吸収お
よび背景吸収の両方が測定ビームの共振線を減衰するの
に有効となる。特別な吸収のみを示しかつ背景吸収が補
正された信号がかくして簡単な計算により得られること
ができる。定量のために、器具は較正されねばならな
い。分析物の既知量を含有するサンプルが霧化器に供給
される。理論的には、測定ビームがそれに従わされる吸
収はランバート−ベアの法則に従うべきである。すなわ
ち、非減衰光強度に言及されるかまたは、所望ならば、
ブランク、すなわち、吸収により減衰される検出された
光強度に言及される分析物の存在において検出された光
強度の対数が原子蒸気中の分析物の原子の数に比例す
る。かくして、吸収がサンプル中に含まれる分析物の量
に対してプロツトされるならば、起点を通過する直線グ
ラフが得られるようにすべきである。しかしながら、し
ばしばかつとくに電熱霧化器の使用の間中、吸収対分析
物の量のグラフは非直線であることが認められた。とく
に、グラフはサンプル中の分析物の高い量において増大
して湾曲されかつ漸近的に非ゼーマン測定において最大
吸収値に近づく。前述のゼーマン背景補正を利用すると
き、グラフは同様に最大を通過しかつ再び分析物のさら
に大きい量において降下する（ロールオーバー）。
分子による吸収により「背景吸収」を補正するために、
原子蒸気に磁界を印加することが知られている。ゼーマ
ン作用のため、原子蒸気中の原子の共振線がその場合に
移動されかつ測定ビームの共振線はもはや吸収されな
い。かくして、磁界の存在において、分析物の原子によ
る測定ビームの特別な吸収がなくそして背景吸収のみが
測定される。磁界が存在しない場合には、特別な吸収お
よび背景吸収の両方が測定ビームの共振線を減衰するの
に有効となる。特別な吸収のみを示しかつ背景吸収が補
正された信号がかくして簡単な計算により得られること
ができる。定量のために、器具は較正されねばならな
い。分析物の既知量を含有するサンプルが霧化器に供給
される。理論的には、測定ビームがそれに従わされる吸
収はランバート−ベアの法則に従うべきである。すなわ
ち、非減衰光強度に言及されるかまたは、所望ならば、
ブランク、すなわち、吸収により減衰される検出された
光強度に言及される分析物の存在において検出された光
強度の対数が原子蒸気中の分析物の原子の数に比例す
る。かくして、吸収がサンプル中に含まれる分析物の量
に対してプロツトされるならば、起点を通過する直線グ
ラフが得られるようにすべきである。しかしながら、し
ばしばかつとくに電熱霧化器の使用の間中、吸収対分析
物の量のグラフは非直線であることが認められた。とく
に、グラフはサンプル中の分析物の高い量において増大
して湾曲されかつ漸近的に非ゼーマン測定において最大
吸収値に近づく。前述のゼーマン背景補正を利用すると
き、グラフは同様に最大を通過しかつ再び分析物のさら
に大きい量において降下する（ロールオーバー）。
【０００７】それゆえ、本発明の１つの目的は、得られ
た信号が実質上全体の測定範囲にわたつて分析物に実質
上比例するように分析物の量の関数として測定された吸
収の実質的な直線化を得させる最初に述べた型の方法お
よび装置を提供することにある。
た信号が実質上全体の測定範囲にわたつて分析物に実質
上比例するように分析物の量の関数として測定された吸
収の実質的な直線化を得させる最初に述べた型の方法お
よび装置を提供することにある。
【０００８】本発明のさらに他のおよび非常に重要な目
的は、とくにしかも排他的でなくゼーマン背景補正の不
存在ならびに存在において電熱霧化器を使用する時間積
分吸収の実質上全測定範囲にわたつて実質上直線化され
た較正グラフを得させる最初に述べた型の方法および装
置を提供することにある。
的は、とくにしかも排他的でなくゼーマン背景補正の不
存在ならびに存在において電熱霧化器を使用する時間積
分吸収の実質上全測定範囲にわたつて実質上直線化され
た較正グラフを得させる最初に述べた型の方法および装
置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明のこれらおよび他
の目的を満たすために、本発明の１つの態様によれば、
サンプル中の分析物の量を原子吸収により決定する本発
明の方法は、他の工程とともに、既知の量の分析物を含
有する予め定めた数のサンプルを電熱霧化しかつそれぞ
れ得られた遷移原子吸収信号を時間に対して積分しかつ
それにより最大吸収値を決定する工程からなることによ
り明らかにされる。その後分析物の未知の量を含有する
サンプルが時間の関数として個々の吸収値から構成され
る遷移原子吸収吸収信号を得るために霧化される。個々
の吸収値が最大吸収値の関数として補正された個々の吸
収値を得るために評価される。
の目的を満たすために、本発明の１つの態様によれば、
サンプル中の分析物の量を原子吸収により決定する本発
明の方法は、他の工程とともに、既知の量の分析物を含
有する予め定めた数のサンプルを電熱霧化しかつそれぞ
れ得られた遷移原子吸収信号を時間に対して積分しかつ
それにより最大吸収値を決定する工程からなることによ
り明らかにされる。その後分析物の未知の量を含有する
サンプルが時間の関数として個々の吸収値から構成され
る遷移原子吸収吸収信号を得るために霧化される。個々
の吸収値が最大吸収値の関数として補正された個々の吸
収値を得るために評価される。
【００１０】補正された個々の吸収値はサンプル中に含
有される未知の量の分析物に比例する補正された時間積
分吸収値を発生するために時間に対して積分される。較
正係数が決定されかつ次いでサンプル中に含有される分
析物の前記未知の量が補正された時間積分吸収値および
較正係数から決定される。
有される未知の量の分析物に比例する補正された時間積
分吸収値を発生するために時間に対して積分される。較
正係数が決定されかつ次いでサンプル中に含有される分
析物の前記未知の量が補正された時間積分吸収値および
較正係数から決定される。
【００１１】本発明の好適な実施例によれば、非直線較
正グラフの曲率が迷光によりまたは迷光の、すなわち、
原子蒸気によつて吸収されない光の性質を有する現象に
より説明され得ることが判明した。これは、検出器にお
いて、基準強度Ｉ0 およびサンプルの原子蒸気の存在に
おいて検出された測定された強度Ｉが基準強度Ｉ0 に比
例する強度αＩ0 重なったことを意味する。かくして、
原子吸収分光光度計において形成されるこれらの強度の
比の対数は、式（１）
正グラフの曲率が迷光によりまたは迷光の、すなわち、
原子蒸気によつて吸収されない光の性質を有する現象に
より説明され得ることが判明した。これは、検出器にお
いて、基準強度Ｉ0 およびサンプルの原子蒸気の存在に
おいて検出された測定された強度Ｉが基準強度Ｉ0 に比
例する強度αＩ0 重なったことを意味する。かくして、
原子吸収分光光度計において形成されるこれらの強度の
比の対数は、式（１）
【００１２】
【数９】
【００１３】でありかつｌｏｇＩ0 ／Ｉの代わりに得ら
れる。式（２）
れる。式（２）
【００１４】
【数１０】
【００１５】を設定すると、式（１）はＡ0 に関して解
かれることができそして式（３）
かれることができそして式（３）
【００１６】
【数１１】
【００１７】を生じる。
【００１８】最大吸収値はＩ→０に関して式（１）から
得られる。これは式（４）
得られる。これは式（４）
【００１９】
【数１２】
【００２０】または式（５）
【００２１】
【数１３】
【００２２】を生じる。
【００２３】かくして、Ａmax は分析物の非直線較正曲
線から決定されそしてＡ0 は式（３）によつてＡの測定
から引き出される。Ａ0 はサンプル中に含まれる分析物
の量の直線関数である。Ａ0 （Ａの測定値から式（３）
により計算されるような）がサンプル中に含有される分
析物の量の関数としてプロツトされるならば、起点を通
過する実質上直線のグラフが得られる。しかしながら、
このグラフの傾斜は正しい傾斜と異なる。それゆえ、補
正が標準化係数１／（１＋α）または式（６）
線から決定されそしてＡ0 は式（３）によつてＡの測定
から引き出される。Ａ0 はサンプル中に含まれる分析物
の量の直線関数である。Ａ0 （Ａの測定値から式（３）
により計算されるような）がサンプル中に含有される分
析物の量の関数としてプロツトされるならば、起点を通
過する実質上直線のグラフが得られる。しかしながら、
このグラフの傾斜は正しい傾斜と異なる。それゆえ、補
正が標準化係数１／（１＋α）または式（６）
【００２４】
【数１４】
【００２５】により必要とされる。
【００２６】霧化された未知のサンプルにより形成され
た原子蒸気中の分析物の原子による測定光ビームの吸収
により標準化吸収値Ａ0 ＊は、それゆえ、式（７）
た原子蒸気中の分析物の原子による測定光ビームの吸収
により標準化吸収値Ａ0 ＊は、それゆえ、式（７）
【００２７】
【数１５】
【００２８】により与えられる。
【００２９】かくして、好適な実施例におけるサンプル
中に含有される分析物の量の決定は式（７）に関して上
記の個々の吸収値を評価しかつこのようにして得られた
Ａ0＊値から、サンプル中に含有される分析物量に比例
する補正された時間積分吸収値を決定することに依存す
る。サンプル中に含有される分析物の量は、その場合
に、較正係数を印加することにより得られる。
中に含有される分析物の量の決定は式（７）に関して上
記の個々の吸収値を評価しかつこのようにして得られた
Ａ0＊値から、サンプル中に含有される分析物量に比例
する補正された時間積分吸収値を決定することに依存す
る。サンプル中に含有される分析物の量は、その場合
に、較正係数を印加することにより得られる。
【００３０】本発明の他の態様によれば、サンプル中に
含有される分析物の量を原子吸収分光法により決定する
装置は、他のものとともに、サンプル中に含有される分
析物の共振線を含む測定光ビームを放出するための線放
出光源手段からなる。さらに設けられるのは受容された
サンプルが霧化される原子蒸気領域を画成する電熱霧化
手段である。前記電熱霧化手段は測定光ビームが前記原
子蒸気領域を通過するように配置されている。検出器手
段は電熱霧化手段に追随しかつ変調手段は交互に測定光
ビームが検出器手段へ原子蒸気領域を介してかつ検出器
手段へ通されるように設ける。結果として、前記電熱霧
化手段の前記原子蒸気領域中の霧化されたサンプルによ
る測定光ビームの吸収により減衰される減衰された光強
度および基準光強度をそれぞれ示す交流検出器出力信号
が発生される。かかる交流検出器出力信号は吸収値を示
す対数比信号を発生する対数手段により受信される。霧
化されたサンプルは原子蒸気領域に遷移的に形成されか
つそれゆえ、対数手段は時間の関数として個々の吸収値
を発生する。積分手段は時間積分吸収値を形成するため
に前記対数手段に選択的に接続される。第１メモリ手段
は予め定めた高い量の前記分析物を含有するサンプルか
ら得られた最大吸収値を記憶するために積分手段に接続
される。第１適用手段は最大吸収値を記憶するためにま
たは最大吸収値の関数として分析物の未知の量を含有す
るサンプルから得られた個々の吸収値を評価するために
積分手段またはプログラム可能な計算手段に対数手段を
選択的に接続する。このようにして得られた補正された
個々の吸収値がサンプル中に含有される前記分析物の前
記未知の量に比例する補正された時間積分吸収値をそれ
により形成するために前記前記積分手段により積分され
る。この補正された時間積分吸収値は決定されるべき分
析物の量を示す出力信号に前記較正手段によつて発生さ
れた較正係数によつて変換される。
含有される分析物の量を原子吸収分光法により決定する
装置は、他のものとともに、サンプル中に含有される分
析物の共振線を含む測定光ビームを放出するための線放
出光源手段からなる。さらに設けられるのは受容された
サンプルが霧化される原子蒸気領域を画成する電熱霧化
手段である。前記電熱霧化手段は測定光ビームが前記原
子蒸気領域を通過するように配置されている。検出器手
段は電熱霧化手段に追随しかつ変調手段は交互に測定光
ビームが検出器手段へ原子蒸気領域を介してかつ検出器
手段へ通されるように設ける。結果として、前記電熱霧
化手段の前記原子蒸気領域中の霧化されたサンプルによ
る測定光ビームの吸収により減衰される減衰された光強
度および基準光強度をそれぞれ示す交流検出器出力信号
が発生される。かかる交流検出器出力信号は吸収値を示
す対数比信号を発生する対数手段により受信される。霧
化されたサンプルは原子蒸気領域に遷移的に形成されか
つそれゆえ、対数手段は時間の関数として個々の吸収値
を発生する。積分手段は時間積分吸収値を形成するため
に前記対数手段に選択的に接続される。第１メモリ手段
は予め定めた高い量の前記分析物を含有するサンプルか
ら得られた最大吸収値を記憶するために積分手段に接続
される。第１適用手段は最大吸収値を記憶するためにま
たは最大吸収値の関数として分析物の未知の量を含有す
るサンプルから得られた個々の吸収値を評価するために
積分手段またはプログラム可能な計算手段に対数手段を
選択的に接続する。このようにして得られた補正された
個々の吸収値がサンプル中に含有される前記分析物の前
記未知の量に比例する補正された時間積分吸収値をそれ
により形成するために前記前記積分手段により積分され
る。この補正された時間積分吸収値は決定されるべき分
析物の量を示す出力信号に前記較正手段によつて発生さ
れた較正係数によつて変換される。
【００３１】本発明による方法および装置の変形例にお
いて、ピーク高さ吸収値が適宜な型の霧化手段を使用し
て決定される。かかるピーク高さ吸収値は同様にサンプ
ル中で決定されるべき分析物の量に比例する補正された
ピーク高さ吸収値を結果として生じる対応する方法にお
いて最大吸収値を基礎にしてまた補正され得る。
いて、ピーク高さ吸収値が適宜な型の霧化手段を使用し
て決定される。かかるピーク高さ吸収値は同様にサンプ
ル中で決定されるべき分析物の量に比例する補正された
ピーク高さ吸収値を結果として生じる対応する方法にお
いて最大吸収値を基礎にしてまた補正され得る。
【００３２】
【実施例】図１は本発明の原子吸収分光光度計の第１実
施例を示すブロツク図である。参照符号１０はサンプル
中で決定されることができる元素の共振線を含有する線
スペクトルを放出する中空陰極ランプを示す。該中空陰
極ランプ１０からの光は光学系１２により焦点合わせさ
れて測定光ビーム１４を形成する。光学系１２はレンズ
で象徴化される。中空陰極ランプ１０および焦点合わせ
光学系１２は「線放出光源手段」を示す。測定光ビーム
１４は、例えばグラフアイト管霧化器を構成することが
できる電熱霧化手段１６を通過する。サンプルが電熱霧
化手段１６に導入されるとき、サンプル中に含有される
分析物が霧化されかつ１６Ａで略示される原子蒸気領域
においてその原子状態にある。グラフアイト管霧化器の
場合において、この原子蒸気領域はグラフアイト管の孔
により構成される。
施例を示すブロツク図である。参照符号１０はサンプル
中で決定されることができる元素の共振線を含有する線
スペクトルを放出する中空陰極ランプを示す。該中空陰
極ランプ１０からの光は光学系１２により焦点合わせさ
れて測定光ビーム１４を形成する。光学系１２はレンズ
で象徴化される。中空陰極ランプ１０および焦点合わせ
光学系１２は「線放出光源手段」を示す。測定光ビーム
１４は、例えばグラフアイト管霧化器を構成することが
できる電熱霧化手段１６を通過する。サンプルが電熱霧
化手段１６に導入されるとき、サンプル中に含有される
分析物が霧化されかつ１６Ａで略示される原子蒸気領域
においてその原子状態にある。グラフアイト管霧化器の
場合において、この原子蒸気領域はグラフアイト管の孔
により構成される。
【００３３】測定光ビーム１４は原子蒸気両方１６Ａ内
に存在する分析物の原子による吸収を受ける。次いで、
測定光ビーム１４はモノクロメータ１８を通過しかつ最
後に、例えば、光電子増倍管のごとき検出器手段２０に
衝突する。
に存在する分析物の原子による吸収を受ける。次いで、
測定光ビーム１４はモノクロメータ１８を通過しかつ最
後に、例えば、光電子増倍管のごとき検出器手段２０に
衝突する。
【００３４】例えば、チヨツパのごとき変調手段１５
が、検出器手段２０が原子蒸気両方１６Ａに存在する分
析物の原子により減衰される強度Ｉにより、かつ基準光
強度として役立つ減衰されない強度Ｉ0 により交互に測
定光ビーム１４を受光するように、電熱霧化手段１６を
通してかつ該電熱霧化手段１６を超えて測定光ビーム１
４を交互に検出するために設けられる。所望ならば、追
加的に基線補正手段（図示せず）を設けることができ
る。
が、検出器手段２０が原子蒸気両方１６Ａに存在する分
析物の原子により減衰される強度Ｉにより、かつ基準光
強度として役立つ減衰されない強度Ｉ0 により交互に測
定光ビーム１４を受光するように、電熱霧化手段１６を
通してかつ該電熱霧化手段１６を超えて測定光ビーム１
４を交互に検出するために設けられる。所望ならば、追
加的に基線補正手段（図示せず）を設けることができ
る。
【００３５】さらに、通常のゼーマン背景補正手段２２
が中空陰極ランプ１０または、場合によつては電熱霧化
手段１６と任意に連係されることができる。
が中空陰極ランプ１０または、場合によつては電熱霧化
手段１６と任意に連係されることができる。
【００３６】検出器手段２０は測定光ビーム１４の上述
した交互の減衰および非減衰強度ＩおよびＩ0 に対応す
る交互の検出器出力信号を受信する対数手段２４に接続
される。対数手段２４は到来する交互の検出器出力信号
を吸収の瞬時値ｌｏｇＩ0 ／Ｉを示す対数比信号に変換
する。
した交互の減衰および非減衰強度ＩおよびＩ0 に対応す
る交互の検出器出力信号を受信する対数手段２４に接続
される。対数手段２４は到来する交互の検出器出力信号
を吸収の瞬時値ｌｏｇＩ0 ／Ｉを示す対数比信号に変換
する。
【００３７】対数信号２４はそれらの出力側でプログラ
ム可能な計算手段２８または積分手段３０のいずれかに
対数比信号を選択的に印加するために印加手段２６に接
続される。積分手段３０は時間に対して印加された対数
比信号を積分するのに役立ちかつこのようにして得られ
た時間積分吸収値を記憶するために第１メモリ手段３２
に接続される。該第１メモリ手段３２は、順次、記憶さ
れた時間積分された吸収値を供給するためにプログラム
可能な計算手段２８に接続されかつまたかかるプログラ
ム可能な計算手段２８の１部分を構成する。また、プロ
グラム可能な計算手段２８は原子吸収分光光度計の中央
データ処理および制御ユニツトの１部分かまたはそれと
統合されても良い。
ム可能な計算手段２８または積分手段３０のいずれかに
対数比信号を選択的に印加するために印加手段２６に接
続される。積分手段３０は時間に対して印加された対数
比信号を積分するのに役立ちかつこのようにして得られ
た時間積分吸収値を記憶するために第１メモリ手段３２
に接続される。該第１メモリ手段３２は、順次、記憶さ
れた時間積分された吸収値を供給するためにプログラム
可能な計算手段２８に接続されかつまたかかるプログラ
ム可能な計算手段２８の１部分を構成する。また、プロ
グラム可能な計算手段２８は原子吸収分光光度計の中央
データ処理および制御ユニツトの１部分かまたはそれと
統合されても良い。
【００３８】プログラム可能な計算手段２８はさらに後
述される方法にしたがつて到来するデータを処理する。
処理されたデータは出力されかつ積分手段３０を通って
第２印加手段３４に供給され、該第２印加手段３４は第
２メモリ手段３６または較正手段３７のいずれかに積分
手段３０を選択的に接続するのに役立つ。第２メモリ手
段３６は標準サンプルから得られた時間積分された吸収
値を記憶するのに役立つ。較正手段３７は標準サンプル
から得られた記憶された時間積分された吸収値を基礎に
して較正係数を発生しかつ較正係数および分析物の未知
の量を含有するサンプルから得られた時間積分吸収値を
増倍するのに役立つ。かくして、例えば、質量または濃
度のごとき適宜に選択された単位においてサンプル中に
存在する分析物の量が決定されかつこの結果はレコー
ダ、スクリーン等のごとき表示ユニツト３８において示
される。
述される方法にしたがつて到来するデータを処理する。
処理されたデータは出力されかつ積分手段３０を通って
第２印加手段３４に供給され、該第２印加手段３４は第
２メモリ手段３６または較正手段３７のいずれかに積分
手段３０を選択的に接続するのに役立つ。第２メモリ手
段３６は標準サンプルから得られた時間積分された吸収
値を記憶するのに役立つ。較正手段３７は標準サンプル
から得られた記憶された時間積分された吸収値を基礎に
して較正係数を発生しかつ較正係数および分析物の未知
の量を含有するサンプルから得られた時間積分吸収値を
増倍するのに役立つ。かくして、例えば、質量または濃
度のごとき適宜に選択された単位においてサンプル中に
存在する分析物の量が決定されかつこの結果はレコー
ダ、スクリーン等のごとき表示ユニツト３８において示
される。
【００３９】上述した原子吸収分光光度計は本発明の方
法にしたがつて以下のように作動される。
法にしたがつて以下のように作動される。
【００４０】ゼーマン背景補正手段の存在において、サ
ンプル中に含有される分析物の量の関数として吸収値Ａ
を示す通常の較正曲線が最大（ロールオーバー）吸収値
を通過する。ゼーマン背景補正手段２２の不存在におい
て、吸収は漸近的に最大吸収値に近づく。それゆえ、ゼ
ーマン背景補正手段２２の存在または不存在に依存し
て、以下の手順が採用される。
ンプル中に含有される分析物の量の関数として吸収値Ａ
を示す通常の較正曲線が最大（ロールオーバー）吸収値
を通過する。ゼーマン背景補正手段２２の不存在におい
て、吸収は漸近的に最大吸収値に近づく。それゆえ、ゼ
ーマン背景補正手段２２の存在または不存在に依存し
て、以下の手順が採用される。
【００４１】ゼーマン背景補正手段２２の存在におい
て、決定されるべき分析物を含有する多数のサンプルが
電熱霧化手段１６に導入される。分析物の量は吸収値が
最大を通過する範囲において選択される。第１印加手段
２６は対数手段２４を積分手段３０に接続するために調
整されかつ較正曲線の最大に関連付けられる時間積分吸
収値が選択されかつ最大吸収値Ａmax として第１メモリ
手段３２に記憶される。
て、決定されるべき分析物を含有する多数のサンプルが
電熱霧化手段１６に導入される。分析物の量は吸収値が
最大を通過する範囲において選択される。第１印加手段
２６は対数手段２４を積分手段３０に接続するために調
整されかつ較正曲線の最大に関連付けられる時間積分吸
収値が選択されかつ最大吸収値Ａmax として第１メモリ
手段３２に記憶される。
【００４２】ゼーマン背景補正手段２２の不存在におい
て、吸収値が分析物の量の関数として僅かだけ変化する
範囲において高い量で決定されるような分析物を含有す
るサンプルが使用される。第１印加手段２６は第１メモ
リ手段３２に対数手段２４を接続するために調整されそ
してこのようにして得られる吸収値は第１メモリ手段３
２に最大吸収値Ａmax として記憶される。
て、吸収値が分析物の量の関数として僅かだけ変化する
範囲において高い量で決定されるような分析物を含有す
るサンプルが使用される。第１印加手段２６は第１メモ
リ手段３２に対数手段２４を接続するために調整されそ
してこのようにして得られる吸収値は第１メモリ手段３
２に最大吸収値Ａmax として記憶される。
【００４３】その場合に、第１印加手段２６は対数手段
２４をプログラム可能な計算手段２８に接続するために
切り換えられそして第２印加手段３４は積分手段３０お
よび第２メモリ手段３６を相互に接続するように調整さ
れる。決定されるべき分析物の既知の量を含有する較正
サンプルが電熱霧化器１６に導入されかつそこで霧化さ
れる。プログラム可能な計算手段２８は、次いで、検出
器手段２０の出力に現れる遷移原子吸収信号と一致して
時間の関数として個々の吸収値Ａの流れを受信する。プ
ログラム可能な計算手段２８は最大吸収値Ａmax の関数
として、より好ましくは、上記の式（７）に示したよう
に、関数、
２４をプログラム可能な計算手段２８に接続するために
切り換えられそして第２印加手段３４は積分手段３０お
よび第２メモリ手段３６を相互に接続するように調整さ
れる。決定されるべき分析物の既知の量を含有する較正
サンプルが電熱霧化器１６に導入されかつそこで霧化さ
れる。プログラム可能な計算手段２８は、次いで、検出
器手段２０の出力に現れる遷移原子吸収信号と一致して
時間の関数として個々の吸収値Ａの流れを受信する。プ
ログラム可能な計算手段２８は最大吸収値Ａmax の関数
として、より好ましくは、上記の式（７）に示したよう
に、関数、
【００４４】
【数１６】
【００４５】として受信された個々の吸収値を補正する
ようにプログラムされる。かくして得られた補正された
個々の吸収値Ａ0 ＊が積分手段３０により時間に対して
積分されそして補正された時間積分吸収値が第２メモリ
手段３６に記憶される。
ようにプログラムされる。かくして得られた補正された
個々の吸収値Ａ0 ＊が積分手段３０により時間に対して
積分されそして補正された時間積分吸収値が第２メモリ
手段３６に記憶される。
【００４６】その後、第２印加手段３４は積分手段３０
を較正手段３７へ接続するために切り換えられる。較正
係数と関連付けられかつ第２メモリ手段３６内に存在す
る記憶された補正時間積分吸収値は補正された時間積分
吸収値および較正サンプル中に含有される分析物の既知
の量を基礎にして較正係数を形成する較正手段３７に転
送される。分析物の未知の量を含有するサンプルが電熱
霧化手段１６に導入されかつそこで霧化される。プログ
ラム可能な計算手段２８は、次いで、検出器手段２０の
出力に現れている遷移原子吸収信号と一致して時間の関
数として個々の吸収値の流れを受信する。前述されたよ
うに、プログラム可能な計算手段２８は到来する個々の
吸収値を処理して第１メモリ手段３２から転送される最
大吸収値Ａmax の関数として、最も好ましくは、前記の
式（７）に示したような、関数
を較正手段３７へ接続するために切り換えられる。較正
係数と関連付けられかつ第２メモリ手段３６内に存在す
る記憶された補正時間積分吸収値は補正された時間積分
吸収値および較正サンプル中に含有される分析物の既知
の量を基礎にして較正係数を形成する較正手段３７に転
送される。分析物の未知の量を含有するサンプルが電熱
霧化手段１６に導入されかつそこで霧化される。プログ
ラム可能な計算手段２８は、次いで、検出器手段２０の
出力に現れている遷移原子吸収信号と一致して時間の関
数として個々の吸収値の流れを受信する。前述されたよ
うに、プログラム可能な計算手段２８は到来する個々の
吸収値を処理して第１メモリ手段３２から転送される最
大吸収値Ａmax の関数として、最も好ましくは、前記の
式（７）に示したような、関数
【００４７】
【数１７】
【００４８】として到来する個々の吸収値Ａを補正す
る。このようにして得られた補正された個々の吸収値Ａ
0 ＊が積分手段３０により時間に対して積分されかつ補
正された時間積分吸収値が較正手段３７に供給される。
その中で、補正された時間積分吸収値が較正係数により
乗算され、該較正係数は質量単位、濃度単位または他の
望ましい単位において表示ユニツト３９で分析物の決定
の結果を発生するように選択される。
る。このようにして得られた補正された個々の吸収値Ａ
0 ＊が積分手段３０により時間に対して積分されかつ補
正された時間積分吸収値が較正手段３７に供給される。
その中で、補正された時間積分吸収値が較正係数により
乗算され、該較正係数は質量単位、濃度単位または他の
望ましい単位において表示ユニツト３９で分析物の決定
の結果を発生するように選択される。
【００４９】分析物の増加量を含有するサンプルを使用
して多数のかかる決定を実施すると、以下の例から明ら
かなように、実質上直線の較正グラフが得られる。
して多数のかかる決定を実施すると、以下の例から明ら
かなように、実質上直線の較正グラフが得られる。
【００５０】例は安定化された温度プラツトフオーム技
術により作動する標準ＨＧＡ５００グラフアイト管霧化
器を備えたパーキン−エルマーＰＥ５０００ゼーマン分
光光度計を使用して調査された。分析物の各々は０．５
％の水性硝酸中に溶解された。サンプル容積は５ないし
３０μｌの範囲でかつその量は横座標にプロツトされた
ようであつた。縦座標には時間積分吸収値がプロツトさ
れる。
術により作動する標準ＨＧＡ５００グラフアイト管霧化
器を備えたパーキン−エルマーＰＥ５０００ゼーマン分
光光度計を使用して調査された。分析物の各々は０．５
％の水性硝酸中に溶解された。サンプル容積は５ないし
３０μｌの範囲でかつその量は横座標にプロツトされた
ようであつた。縦座標には時間積分吸収値がプロツトさ
れる。
【００５１】図２は上記器具中の霧化に異なる３つの量
のビスマスを曝すとき得られる遷移吸収信号を示す。図
３は電熱霧化手段１６中に導入されたビスマスの質量ｍ
（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸収∫Ａ
ｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線７０を示す。直線較正グ
ラフ７２は、電熱霧化手段１６に導入されたビスマスの
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
のビスマスを曝すとき得られる遷移吸収信号を示す。図
３は電熱霧化手段１６中に導入されたビスマスの質量ｍ
（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸収∫Ａ
ｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線７０を示す。直線較正グ
ラフ７２は、電熱霧化手段１６に導入されたビスマスの
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
【００５２】図４は上記器具中の霧化に７つの異なる量
のガリウムを曝すときに得られる遷移吸収信号を示す。
図５はガリウムの質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正され
てない時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線
６６を示す。直線較正グラフ７４は、電熱霧化手段１６
に導入されたガリウムの質量ｍ（ｎｇ）の関数として、
本発明の第１実施例により補正された時間積分吸収∫Ａ
ｄｔ，ｓを示す。
のガリウムを曝すときに得られる遷移吸収信号を示す。
図５はガリウムの質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正され
てない時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線
６６を示す。直線較正グラフ７４は、電熱霧化手段１６
に導入されたガリウムの質量ｍ（ｎｇ）の関数として、
本発明の第１実施例により補正された時間積分吸収∫Ａ
ｄｔ，ｓを示す。
【００５３】図６は電熱霧化手段１６に導入された金の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線７６を示す。直線
較正グラフ７８は、電熱霧化手段１６に導入された金の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線７６を示す。直線
較正グラフ７８は、電熱霧化手段１６に導入された金の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
【００５４】図７は電熱霧化手段１６に導入された銀の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線８０を示す。直線
較正グラフ８２は、電熱霧化手段１６に導入された銀の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線８０を示す。直線
較正グラフ８２は、電熱霧化手段１６に導入された銀の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
【００５５】図８は電熱霧化手段１６に導入された銅の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線８４を示す。直線
較正グラフ８６は、電熱霧化手段１６に導入された銅の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Ａｄｔ，ｓを示す通常の較正曲線８４を示す。直線
較正グラフ８６は、電熱霧化手段１６に導入された銅の
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第１実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Ａｄｔ，ｓを示す。
【００５６】本発明の原子吸収分光光度計の第２実施例
が図面の図９に示される。この実施例は簡単化された構
造からなりそしてピーク高さの測定が十分に精密である
すべての場合に使用されることができ、同様に電熱霧化
手段以外に、例えば、炎霧化器が使用され得る。この実
施例の基本的な構造は図１に示した第１実施例の構造と
同一であり、すなわち、中空陰極ランプ１０、光学系１
２、変調手段１５、原子蒸気両方１６Ａ’を画成する霧
化手段１６’、モノクロメータ１８、検出器手段２０、
および対数手段２４がある。ゼーマン背景補正手段は示
されないが、同様に、所望ならば、存在しても良い。
が図面の図９に示される。この実施例は簡単化された構
造からなりそしてピーク高さの測定が十分に精密である
すべての場合に使用されることができ、同様に電熱霧化
手段以外に、例えば、炎霧化器が使用され得る。この実
施例の基本的な構造は図１に示した第１実施例の構造と
同一であり、すなわち、中空陰極ランプ１０、光学系１
２、変調手段１５、原子蒸気両方１６Ａ’を画成する霧
化手段１６’、モノクロメータ１８、検出器手段２０、
および対数手段２４がある。ゼーマン背景補正手段は示
されないが、同様に、所望ならば、存在しても良い。
【００５７】印加手段２６はプログラム可能な計算手段
２８または第１メモリ手段４０のいずれかに対数手段２
４を選択的に接続する。第２印加手段３４はプログラム
可能な計算手段２８をその出力側で第２メモリ出力４２
または較正手段４３に選択的に接続する。較正手段４３
は、順次、それらの入力側で第２メモリ手段４２にかつ
それらの出力側でレコーダ、スクリーン等のごとき表示
ユニツト４４に接続される。プログラム可能な計算手段
２８は同様に原子吸収分光光度計の中央データ処理およ
び制御ユニツトの１部分かまたはそれに組み込まれても
良い。
２８または第１メモリ手段４０のいずれかに対数手段２
４を選択的に接続する。第２印加手段３４はプログラム
可能な計算手段２８をその出力側で第２メモリ出力４２
または較正手段４３に選択的に接続する。較正手段４３
は、順次、それらの入力側で第２メモリ手段４２にかつ
それらの出力側でレコーダ、スクリーン等のごとき表示
ユニツト４４に接続される。プログラム可能な計算手段
２８は同様に原子吸収分光光度計の中央データ処理およ
び制御ユニツトの１部分かまたはそれに組み込まれても
良い。
【００５８】第２実施例は以下のように作動する。すな
わち、まず、ピーク高さ吸収が分析物の量の関数として
僅かだけ変化する範囲において高い量で決定されるよう
な分析物を含有するサンプルが霧化手段１６’に導入さ
れかつ霧化される。第１印加手段２６は第１メモリ手段
４０に対数手段２４を接続するために調整される。この
ようにして得られたピーク高さ吸収値は最大吸収値Ａma
x として第１メモリ手段４０に記憶される。
わち、まず、ピーク高さ吸収が分析物の量の関数として
僅かだけ変化する範囲において高い量で決定されるよう
な分析物を含有するサンプルが霧化手段１６’に導入さ
れかつ霧化される。第１印加手段２６は第１メモリ手段
４０に対数手段２４を接続するために調整される。この
ようにして得られたピーク高さ吸収値は最大吸収値Ａma
x として第１メモリ手段４０に記憶される。
【００５９】その場合に、第１印加手段２６は対数手段
２４をプログラム可能な計算手段２８に接続するために
切り換えられそして第２印加手段３４はプログラム可能
な計算手段２８および第２メモリ手段４２を相互に接続
するように調整される。決定されるべき分析物の既知の
量を含有する較正サンプルが電熱霧化器１６’に導入さ
れかつそこで霧化される。プログラム可能な計算手段２
８は、次いで、較正サンプルにより発生されたピーク高
さ吸収値Ａを受信しかつ最大吸収値Ａmax の関数とし
て、より好ましくは、上記の式（７）に示したように、
関数、
２４をプログラム可能な計算手段２８に接続するために
切り換えられそして第２印加手段３４はプログラム可能
な計算手段２８および第２メモリ手段４２を相互に接続
するように調整される。決定されるべき分析物の既知の
量を含有する較正サンプルが電熱霧化器１６’に導入さ
れかつそこで霧化される。プログラム可能な計算手段２
８は、次いで、較正サンプルにより発生されたピーク高
さ吸収値Ａを受信しかつ最大吸収値Ａmax の関数とし
て、より好ましくは、上記の式（７）に示したように、
関数、
【００６０】
【数１８】
【００６１】としてこの値を補正するようにプログラム
される。かくして得られた補正されたピーク高さ吸収値
が第２メモリ手段４２に供給されかつそれに記憶され
る。
される。かくして得られた補正されたピーク高さ吸収値
が第２メモリ手段４２に供給されかつそれに記憶され
る。
【００６２】その後、第２印加手段３４はプログラム可
能な計算手段２８を較正手段４３へ接続するために切り
換えられる。較正サンプル係数と関連付けられかつ第２
メモリ手段３６内に存在する記憶された補正ピーク高さ
吸収値は補正されたピーク高さ吸収値および較正サンプ
ル中に含有される分析物の既知の量を基礎にして較正係
数を形成する較正手段４３に転送される。分析物の未知
の量を含有するサンプルが霧化手段１６’に導入されか
つそこで霧化される。プログラム可能な計算手段２８
は、次いで、第１メモリ手段４０から転送される最大吸
収値Ａmax の関数として、最も好ましくは、前記の式
（７）に示したような、関数
能な計算手段２８を較正手段４３へ接続するために切り
換えられる。較正サンプル係数と関連付けられかつ第２
メモリ手段３６内に存在する記憶された補正ピーク高さ
吸収値は補正されたピーク高さ吸収値および較正サンプ
ル中に含有される分析物の既知の量を基礎にして較正係
数を形成する較正手段４３に転送される。分析物の未知
の量を含有するサンプルが霧化手段１６’に導入されか
つそこで霧化される。プログラム可能な計算手段２８
は、次いで、第１メモリ手段４０から転送される最大吸
収値Ａmax の関数として、最も好ましくは、前記の式
（７）に示したような、関数
【００６３】
【数１９】
【００６４】として到来するピーク高さ吸収値を処理す
る。このようにして得られた補正されたピーク高さ吸収
値は較正手段４３に供給される。その中で、補正された
ピーク高さ吸収値が較正係数により乗算され、該較正係
数は質量単位、濃度単位または他の望ましい単位におい
て表示ユニツト４４で分析物の決定の結果を発生するよ
うに選択される。
る。このようにして得られた補正されたピーク高さ吸収
値は較正手段４３に供給される。その中で、補正された
ピーク高さ吸収値が較正係数により乗算され、該較正係
数は質量単位、濃度単位または他の望ましい単位におい
て表示ユニツト４４で分析物の決定の結果を発生するよ
うに選択される。
【００６５】分析物の増加量を含有するサンプルを使用
して多数のかかる決定を実施すると、以下の例から明ら
かなように実質上直線の較正グラフが得られる。
して多数のかかる決定を実施すると、以下の例から明ら
かなように実質上直線の較正グラフが得られる。
【００６６】種々の量のカドミウムが実質上前述された
例と同一の方法において溶解されかつ分析された。図１
０は結果、すなわち、霧化手段１６’に導入されたカド
ミウムの質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてないピ
ーク高さ吸収Ａを示す通常較正曲線８８を示す。直線グ
ラフ９０は、霧化手段１６’に導入されたカドミウムの
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第２実施例によ
り補正されたピーク高さ吸収Ａを示す。
例と同一の方法において溶解されかつ分析された。図１
０は結果、すなわち、霧化手段１６’に導入されたカド
ミウムの質量ｍ（ｎｇ）の関数として補正されてないピ
ーク高さ吸収Ａを示す通常較正曲線８８を示す。直線グ
ラフ９０は、霧化手段１６’に導入されたカドミウムの
質量ｍ（ｎｇ）の関数として、本発明の第２実施例によ
り補正されたピーク高さ吸収Ａを示す。
【００６７】
【発明の効果】叙上のごとく、本発明は、サンプル中に
含有される分析物の量を原子吸収により決定するため
に、既知の量の分析物を含有する予め定めた数のサンプ
ルを電熱霧化しかつそれぞれ得られた遷移原子吸収信号
を時間に対して積分しかつそれにより最大吸収値を決定
し；未知の量の前記分析物を含有するサンプルを電熱霧
化しかつそれにより時間の関数として個々の吸収値から
構成される遷移原子吸収吸収信号を得；前記最大吸収値
の関数として前記個々の吸収値を評価しかつそれにより
補正された個々の吸収値を得；前記補正された個々の吸
収値を時間に対して積分しかつそれにより前記サンプル
中に含有される前記未知の量の前記分析物に比例する補
正された時間積分吸収値を発生し；較正係数を決定し；
そして前記補正された時間積分吸収値および前記較正係
数から前記サンプル中に含有される前記分析物の前記未
知の量を決定する構成としたので、得られた信号が実質
上全体の測定範囲にわたつて分析物に実質上比例するよ
うに分析物の量の関数として測定された吸収の実質的な
直線化を得させることができるサンプル中の分析物の量
を原子吸収により決定する方法および原子吸収分光光度
計を提供することができる。
含有される分析物の量を原子吸収により決定するため
に、既知の量の分析物を含有する予め定めた数のサンプ
ルを電熱霧化しかつそれぞれ得られた遷移原子吸収信号
を時間に対して積分しかつそれにより最大吸収値を決定
し；未知の量の前記分析物を含有するサンプルを電熱霧
化しかつそれにより時間の関数として個々の吸収値から
構成される遷移原子吸収吸収信号を得；前記最大吸収値
の関数として前記個々の吸収値を評価しかつそれにより
補正された個々の吸収値を得；前記補正された個々の吸
収値を時間に対して積分しかつそれにより前記サンプル
中に含有される前記未知の量の前記分析物に比例する補
正された時間積分吸収値を発生し；較正係数を決定し；
そして前記補正された時間積分吸収値および前記較正係
数から前記サンプル中に含有される前記分析物の前記未
知の量を決定する構成としたので、得られた信号が実質
上全体の測定範囲にわたつて分析物に実質上比例するよ
うに分析物の量の関数として測定された吸収の実質的な
直線化を得させることができるサンプル中の分析物の量
を原子吸収により決定する方法および原子吸収分光光度
計を提供することができる。
【図１】本発明の原子吸収分光光度計の第１実施例を示
すブロツク図である。
すブロツク図である。
【図２】時間の関数として異なる３つの量のビスマスに
関して得られた遷移吸収信号をグラフで示す説明図であ
る。
関して得られた遷移吸収信号をグラフで示す説明図であ
る。
【図３】ビスマスの量の関数として時間積分吸収を示
し、曲線７０が補正されてない通常の較正曲線を示しか
つ直線グラフ７２が図１に示した原子吸収分光光度計を
使用して得られた直線較正グラフを示す説明図である。
し、曲線７０が補正されてない通常の較正曲線を示しか
つ直線グラフ７２が図１に示した原子吸収分光光度計を
使用して得られた直線較正グラフを示す説明図である。
【図４】時間の関数として７つの異なる量のガリウムに
関して得られた遷移吸収信号ををグラフで示す説明図で
ある。
関して得られた遷移吸収信号ををグラフで示す説明図で
ある。
【図５】ガリウムの量の関数として時間積分吸収を示
し、曲線６６が補正されてない通常の較正曲線を示し、
直線グラフ７４が図１に示した原子吸収分光光度計を使
用して得られた直線較正グラフを示す説明図である。
し、曲線６６が補正されてない通常の較正曲線を示し、
直線グラフ７４が図１に示した原子吸収分光光度計を使
用して得られた直線較正グラフを示す説明図である。
【図６】金の量の関数として時間積分吸収を示し、曲線
７６が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ７８が図１に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
７６が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ７８が図１に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
【図７】銀の量の関数として時間積分吸収を示し、曲線
８０が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ８２が図１に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
８０が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ８２が図１に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
【図８】銅の量の関数として時間積分吸収を示し、曲線
８４が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ８６が図１に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
８４が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ８６が図１に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
【図９】本発明の原子吸収分光光度計の第２実施例わ示
すブロツク図である。
すブロツク図である。
【図１０】カドミウムの量の関数として時間積分吸収を
示し、曲線８８は通常の補正されてない通常の較正曲線
を示し、直線グラフは図９に示した原子吸収分光光度計
を使用して得られた直線較正グラフを示す説明図であ
る。
示し、曲線８８は通常の補正されてない通常の較正曲線
を示し、直線グラフは図９に示した原子吸収分光光度計
を使用して得られた直線較正グラフを示す説明図であ
る。
１０ 中空陰極ランプ（線放出光源） １４ 測定光ビーム １５ 変調手段 １６ 電熱霧化器（手段） １６’ 霧化手段 ２０ 検出器手段 ２２ ゼーマン背景補正手段 ２４ 対数手段 ２６ 第１印加手段 ２８ プログラム可能な計算手段 ３０ 積分手段 ３２ 第１メモリ手段 ３４ 第２印加手段 ３６ 第２メモリ手段 ３７ 較正手段 ４０ 第１メモリ手段 ４２ 第２メモリ手段 ４３ 較正手段
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−57241（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−274844（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−163420（ＪＰ，Ａ) 特表 平３−500689（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 ＥＵＲＯＰＡＴ（ＱＵＥＳＴＥＬ) ＷＰＩ／Ｌ（ＱＵＥＳＴＥＬ) 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ)
Claims (22)
- 【請求項１】 サンプル中に含有される分析物の量を原
子吸収により決定する原子吸収による分析物量決定方法
において、 既知の量の分析物を含有する予め定めた数のサンプルを
電熱霧化しかつそれぞれ得られた遷移原子吸収信号を時
間に対して積分しかつそれにより該遷移原子吸収信号の
時間積分最大値である最大吸収値を決定し； 未知の量の前記分析物を含有するサンプルを電熱霧化し
かつそれにより時間の関数として個々の吸収値から構成
される遷移原子吸収信号を得； 前記最大吸収値の関数として前記個々の吸収値を評価し
かつそれにより補正された個々の吸収値を得； 前記補正された個々の吸収値を時間に対して積分しかつ
それにより前記サンプル中に含有される前記未知の量の
前記分析物に比例する補正された時間積分吸収値を発生
し； 較正係数を決定し；そして前記補正された時間積分吸収
値および前記較正係数から前記サンプル中に含有される
前記分析物の前記未知の量を決定する工程からなり、 前記補正された個々の吸収値を積分しかつそれにより前
記補正された時間積分吸収値を発生する工程が実質上迷
光作用が補正される時間積分吸収値を発生することを含
む ことを特徴とする原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項２】 前記予め定めたサンプルの数を電熱霧化
する前記工程が複数のサンプルを該複数のサンプル中に
含有される前記分析物の量の関数として電熱霧化するこ
とを含み； それぞれ得られた遷移原子吸収の測定の間中ゼーマン背
景補正を印加し；そして前記最大時間積分吸収値を決定
する前記工程が、吸収が前記複数のサンプル中に含有さ
れる量の関数として最大を通過する範囲の量において前
記分析物を含有する複数のサンプルにおいて、複数の吸
収値を決定しかつ前記複数の吸収値から前記最大吸収値
を選択することを必要とすることを特徴とする請求項１
に記載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項３】 予め定めた数のサンプルを電熱霧化しか
つ前記最大吸収値を決定する前記工程が、前記予め定め
た数のサンプルとして、吸収値がサンプル中の分析物の
量の関数として前記最大吸収値に漸近的に接近する範囲
において分析物の量を含有するサンプルを選択しかつこ
のようにして得られた吸収値を前記最大吸収値として使
用することを必要とすることを特徴とする請求項１に記
載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項４】 前記最大吸収値の関数として前記個々の
吸収値を評価する前記工程が前記個々の吸収値を関数 【数１】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、 Ａ0 ＊は補正された個々の吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡは個々の吸収値であるこ
とを特徴とする請求項１に記載の原子吸収による分析物
量決定方法。 - 【請求項５】 前記較正係数を決定する前記工程が、 前記分析物の既知の量を含有する較正サンプルを電熱霧
化しかつそれにより時間の関数として個々の吸収値から
構成される遷移原子吸収信号を得； 前記最大吸収値の関数として前記個々の吸収値を評価し
かつそれにより補正された個々の吸収値を得； 前記補正された個々の吸収値を時間に対して積分しかつ
それにより前記較正サンプル中に含有される前記分析物
の前記既知の量に比例する補正された時間積分吸収値を
発生し；そして前記補正された時間積分吸収値と前記較
正サンプル中に含有される分析物の前記既知の量から前
記較正係数を決定する工程からなることを特徴とする請
求項１に記載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項６】 前記最大吸収値の関数として前記個々の
吸収値を評価する前記工程が前記個々の吸収値を関数 【数２】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、 Ａ0 ＊は補正された個々の吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡは個々の吸収値であるこ
とを特徴とする請求項５に記載の原子吸収による分析物
量決定方法。 - 【請求項７】 サンプル中に含有される分析物の量を原
子吸収により決定する原子吸収による分析物量決定方法
において、 既知の高い量の分析物を含有するサンプルを霧化しかつ
そのようにして得られた遷移原子吸収信号のピーク高さ
として該遷移原子吸収信号のピーク高さ最大値である最
大吸収値を決定し； 未知の量の前記分析物を含有するサンプルを霧化しかつ
そのようにして得られた遷移原子吸収信号のピーク高さ
としてピーク高さ吸収値を決定し； 前記最大吸収値の関数として前記ピーク高さ吸収値を評
価しかつそれにより前記サンプル中に含有される前記分
析物の前記未知の量に比例する補正されたピーク高さ吸
収値を得； 較正係数を決定し；そして前記補正されたピーク高さ吸
収値および前記較正係数から前記サンプル中に含有され
る前記分析物の前記未知の量を決定する工程からなり、 前記ピーク高さ吸収値を前記最大吸収値の関数として評
価しかつそれにより前記補正されたピーク高さ吸収値を
得る前記工程が迷光作用が実質上補正されるピーク高さ
吸収値を発生することを含む ことを特徴とする原子吸収
による分析物量決定方法。 - 【請求項８】 前記分析物の前記高い量を含有する前記
サンプルを電熱霧化しかつ前記最大吸収値を決定する前
記工程が、前記サンプルとして、ピーク高さ吸収値がサ
ンプル中の分析物の量の関数として前記最大吸収値に漸
近的に接近する範囲において分析物の量を含有するサン
プルを選択しかつこのようにして得られたピーク高さを
前記最大吸収値として使用することを必要とすることを
特徴とする請求項７に記載の原子吸収による分析物量決
定方法。 - 【請求項９】 前記最大吸収値の関数として前記ピーク
高さを評価する前記工程が前記ピーク高さ吸収値を関数 【数３】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、 Ａ0 ＊は補正されたピーク高さ吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡはピーク高さ吸収値であ
ることを特徴とする請求項７に記載の原子吸収による分
析物量決定方法。 - 【請求項１０】 前記較正係数を決定する前記工程が、 前記分析物の既知の量を含有する較正サンプルを霧化し
かつピーク高さ吸収値をこのようにして得られた遷移原
子吸収信号のピーク高さとして決定し； 前記最大吸収値の関数として前記ピーク高さ吸収値を評
価しかつそれにより前記較正サンプル中に含有される前
記分析物の前記既知の量に比例する補正されたピーク高
さ吸収値を得；そして前記補正されたピーク高さ吸収値
と前記較正サンプル中に含有される分析物の前記既知の
量から前記較正係数を決定する工程からなることを特徴
とする請求項８に記載の原子吸収による分析物量決定方
法。 - 【請求項１１】 前記ピーク高さ吸収値を前記最大吸収
値の関数として評価する工程が前記ピーク高さ吸収値を
関数 【数４】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、 Ａ0 ＊は補正されたピーク高さ吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡはピーク高さ吸収値であ
ることを特徴とする請求項１０に記載の原子吸収による
分析物量決定方法。 - 【請求項１２】 サンプル中に含有される分析物の量を
決定する原子吸収分光光度計において、 サンプル中に含有される分析物の共振線を含んでいる測
定光ビームを放出するための線放出光源手段； 前記サンプルを受容しかつ前記サンプルを霧化する電熱
霧化手段； 霧化されたサンプルを形成するための原子蒸気領域を画
成する前記電熱霧化手段； 前記電熱霧化手段の前記原子蒸気領域を通って前記線放
出光源手段により放出された前記測定光ビームを通すた
めに配置されている前記霧化手段； 前記電熱霧化手段の前記原子蒸気領域を通過した後前記
測定光ビームを受信するために配置された検出器手段； 前記電熱霧化手段の前記原子蒸気領域中の霧化されたサ
ンプルによる測定光ビームの吸収により減衰される減衰
された光強度および基準光強度をそれぞれ示す交流検出
器出力信号を発生するために前記検出器手段へ前記霧化
手段の前記原子蒸気領域を通してかつ前記検出器手段へ
前記測定光ビームを交互に通すための変調手段； 前記交流検出器出力信号を受信しかつそれから吸収値を
示す対数比信号を形成するために前記検出器手段に接続
される対数手段； 前記電熱霧化手段の前記原子蒸気領域および時間の関数
として個々の吸収値に前記対数手段により変換される対
応する遷移原子吸収信号を発生する前記検出器手段に遷
移的に形成されている前記霧化サンプル； 前記対数手段から前記個々の吸収値を受信しかつ時間積
分吸収値を形成するために前記対数手段に選択的に接続
される積分手段； 予め定めた高い量の前記分析物を含有するサンプルから
得られた前記個々の吸収値の時間積分最大値である最大
吸収値を記憶するための第１メモリ手段； 前記サンプル中に含有された分析物の量に比例する補正
された吸収値を計算するためのプログラム可能な計算手
段； 前記対数手段を前記積分手段および前記計算手段に選択
的に接続するための第１印加手段； 前記予め定めた高い量の前記分析物を含有する前記サン
プルから得られた前記最大吸収値をその中に記憶するた
めの前記第１メモリ手段に前記対数手段を選択的に接続
する前記第１印加手段； 前記プログラム可能な計算手段へかつ前記分析物の未知
の量を含有するサンプルの霧化の間中前記プログラム可
能な計算手段に前記対数手段を選択的に接続する前記第
１適用手段へ前記最大吸収値を送給するために接続され
ている前記第１メモリ手段； 時間の関数として補正された個々の吸収値を得るために
前記最大吸収値の関数として、前記分析物の前記未知の
量を含有する前記サンプルにより発生される前記個々の
吸収値を評価するためにプログラムされている前記プロ
グラム可能な計算手段； 前記サンプル中に含有される前記分析物の前記未知の量
に比例する補正された時間積分吸収値をそれから発生す
るために前記プログラム可能な計算手段から前記補正さ
れた個々の吸収値を受信するために選択的に接続されて
いる前記積分手段； 較正係数を発生するための較正手段；および前記補正さ
れた時間積分吸収値を受信しかつ前記較正手段によつ
て、前記サンプル中に含有される前記分析物の量を示す
出力信号を発生するために前記積分手段に接続されてい
る前記較正手段からなり、 前記プログラム可能な計算手段が、実質上迷光作用が補
正される個々の補正された吸収値を得るために前記最大
吸収値の関数として、前記分析物の前記未知の量を含有
する前記サンプルにより発生される前記個々の吸収値を
評価するためにプログラムされる ことを特徴とする原子
吸収分光光度計。 - 【請求項１３】 さらに、ゼーマン背景補正手段； 吸収値が複数のサンプル中に含有される量の関数として
最大を通過する範囲の既知の量において前記分析物を含
有する前記複数のサンプルを受容する前記電熱霧化手
段；および前記最大吸収値として、前記複数の前記吸収
値から選択される最大値を記憶する前記第１メモリを含
むことを特徴とする請求項１２に記載の原子吸収分光光
度計。 - 【請求項１４】 前記電熱霧化手段は、前記最大吸収値
を決定しかつそれを前記第１メモリ手段に記憶するため
に、吸収値が前記サンプル中の分析物の量の関数として
前記最大吸収値に漸近的に接近する範囲において前記分
析物の量を含有するサンプルを受容することを特徴とす
る請求項１２に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項１５】 前記プログラム可能な計算手段が、前
記分析物の前記未知の量を含有する前記サンプルにより
発生される前記個々の吸収値を以下の関数 【数５】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、 Ａ0 ＊は補正された個々の吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡは個々の吸収値であるこ
とを特徴とする請求項１２に記載の原子吸収分光光度
計。 - 【請求項１６】 さらに、第２メモリ手段； 前記積分手段を前記較正手段および前記第２メモリ手段
へ選択的に接続するための第２印加手段； 前記電熱霧化手段において霧化されかつ前記分析物の既
知の量を含有する較正サンプルにより発生される補正さ
れた時間積分吸収値をそれに記憶するために前記第２メ
モリ手段へ前記積分手段を接続する前記第２印加手段；
および前記較正サンプルにより発生される前記補正され
た時間積分吸収値および前記較正サンプル中に存在する
前記分析物の前記既知の量から前記較正係数を発生する
前記較正手段を含むことを特徴とする請求項１２に記載
の原子吸収分光光度計。 - 【請求項１７】 前記プログラム可能な計算手段が前記
分析物の前記既知の量を含有する前記較正サンプルによ
り発生される前記個々のサンプル値を、以下の関数 【数６】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、 Ａ0 ＊は補正された個々の吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡは個々の吸収値であるこ
とを特徴とする請求項１６に記載の原子吸収分光光度
計。 - 【請求項１８】 サンプル中に含有される分析物の量を
決定する原子吸収分光光度計において、 サンプル中に含有される分析物の共振線を含んでいる測
定光ビームを放出するための線放出光源手段； 前記サンプルを受容しかつ前記サンプルを霧化する霧化
手段； 前記霧化されたサンプルを形成するための原子蒸気領域
を画成する前記霧化手段； 前記霧化手段の前記原子蒸気領域を通って前記線放出光
源手段により放出された前記測定光ビームを通すために
配置されている前記霧化手段； 前記霧化手段の前記原子蒸気領域を通過した後前記測定
光ビームを受信するために配置された検出器手段； 前記霧化手段の前記原子蒸気領域中の霧化されたサンプ
ルによる測定光ビームの吸収により減衰される減衰され
た光強度および基準光強度をそれぞれ示す交流検出器出
力信号を発生するために前記検出器手段へ前記霧化手段
の前記原子蒸気領域を通してかつ前記検出器手段へ前記
測定光ビームを交互に通すための変調手段； 前記交流検出器出力信号を受信しかつそれから吸収値を
示す対数比信号を形成するために前記検出器手段に接続
される対数手段； 対応するピーク高さ吸収値に前記対数手段により変換さ
れる検出器出力信号を発生する前記霧化信号の前記原子
蒸気領域に形成される前記霧化サンプル； 予め定めた高い量の前記分析物を含有するサンプルから
得られた前記ピーク高さ吸収値の最大値である最大吸収
値を記憶するために前記対数手段に接続される第１メモ
リ手段； 前記サンプル中に含有された分析物の量に比例する補正
されたピーク高さ吸収値を計算するためのプログラム可
能な計算手段； 前記対数手段を前記プログラム可能な計算手段および前
記第１メモリ手段に選択的に接続するための第１適用手
段； 補正されたピーク高さ吸収値を得るために前記最大吸収
値の関数として、前記分析物の前記未知の量を含有する
前記サンプルにより発生されるピーク高さ吸収値を評価
するためにプログラムされている前記プログラム可能な
計算手段； 較正係数を発生するための較正手段；および前記補正さ
れたピーク高さ吸収値を受信しかつ前記較正係数によつ
て、前記サンプル中に含有される前記分析物の量を示す
出力信号を発生するために前記プログラム可能な計算手
段に接続されている前記較正手段からなり、 前記プログラム可能な計算手段が、実質上迷光作用が補
正される補正されたピーク高さ吸収値を得るために前記
最大吸収値の関数として、前記分析物の前記未 知の量を
含有する前記サンプルにより発生される前記ピーク高さ
吸収値を評価するためにプログラムされる ことを特徴と
する原子吸収分光光度計。 - 【請求項１９】 前記霧化手段は、前記最大吸収値を決
定しかつそれを前記第１メモリ手段に記憶するために、
前記ピーク高さ吸収値が前記サンプル中の分析物の量の
関数として前記最大吸収値に漸近的に接近する範囲にお
いて前記分析物の量を含有するサンプルを受容すること
を特徴とする請求項１８に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項２０】 前記プログラム可能な計算手段が、前
記分析物の前記未知の量を含有する前記サンプルにより
発生される前記ピーク高さ吸収値を以下の関数 【数７】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、 Ａ0 ＊は補正されたピーク高さ吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡはピーク高さ吸収値であ
ることを特徴とする請求項１８に記載の原子吸収分光光
度計。 - 【請求項２１】 さらに、第２メモリ手段； 前記プログラム可能な計算手段を前記較正手段および前
記第２メモリ手段へ選択的に接続するための第２適用手
段； 前記分析物の既知の量を含有しかつ前記霧化手段におい
て霧化される較正サンプルにより発生される補正された
ピーク高さ吸収値をそれに記憶するために前記第２メモ
リ手段へ前記プログラム可能な計算手段を接続する前記
第２適用手段；および前記較正サンプルにより発生され
る前記補正されたピーク高さ吸収値および前記較正サン
プル中に存在する前記分析物の前記既知の量から前記較
正係数を発生する前記較正手段を含むことを特徴とする
請求項１８に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項２２】 前記プログラム可能な計算手段が前記
較正サンプルにより発生される前記ピーク高さ吸収値
を、以下の関数 【数８】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、 Ａ0 ＊は補正されたピーク高さ吸収値、 Ａmax は最大吸収値、そしてＡはピーク高さ吸収値であ
ることを特徴とする請求項２１に記載の原子吸収分光光
度計。
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|---|---|---|---|
| US07-801-990 | 1991-12-03 | ||
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-
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