JPH05240784A - 原子吸収分光法における吸収補正装置および方法 - Google Patents
原子吸収分光法における吸収補正装置および方法Info
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- JPH05240784A JPH05240784A JP4345133A JP34513392A JPH05240784A JP H05240784 A JPH05240784 A JP H05240784A JP 4345133 A JP4345133 A JP 4345133A JP 34513392 A JP34513392 A JP 34513392A JP H05240784 A JPH05240784 A JP H05240784A
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Abstract
つて分析物に実質上比例するように分析物の量の関数と
して測定された吸収の実質的な直線化を得させる。 【構成】 サンプル個々の吸収値が により最大吸収値の関数として処理される。得られた補
正された個々の吸収値がサンプル中に存在する分析物量
に比例する補正された時間積分吸収値を生じるように時
間に対して積分される。この量は分析物の既知の量を含
有する較正サンプルの同様に補正された時間積分吸収値
から得られた較正係数を使用して決定される。
Description
分光分析法によりサンプル中に含有される分析物の量を
決定するための原子吸収による分析物量決定方法および
装置に関するものである。
ンプのごとき線放出光源がサンプル中でその量が決定さ
れることができる分析物の共振線を含んでいる測定光ビ
ームを放出する。サンプルは、該サンプルがその中に含
有される分析物が原子状態において存在する原子蒸気を
形成するように霧化器に導入されかつ該霧化器中で霧化
される。測定光ビームはこの原子蒸気を通過しかつ光電
検出器上に衝突する。測定光ビームはこの原子蒸気中に
含有されかつ共振線を吸収する分析物の原子の数の関数
として原子蒸気により減衰される。
ても良い。この場合に、サンプルの溶液が連続吸収信号
を発生するために噴霧器によつてバーナの混合室に連続
して噴霧される。
器のごとき電熱霧化器にすることもできる。計量された
量のサンプルが電熱霧化器に導入されそして霧化は強い
電流を電熱霧化器に通すことにより行われる。それによ
り霧化器は霧化温度に加熱されかつサンプルを霧化す
る。かくして、遷移ピーク信号が得られる。
含有される分析物の量を示す信号を発生する。この検出
器出力信号は、例えば、炎霧化器の場合に「濃度」、ま
たは電熱霧化器の場合に「量」によつて較正され得る。
後者の場合に、遷移信号は通常時間に対して積分されか
つこの時間積分信号はサンプル中に含有される分析物の
量を決定するのに使用される。
分子による吸収により「背景吸収」を補正するために、
原子蒸気に磁界を印加することが知られている。ゼーマ
ン作用のため、原子蒸気中の原子の共振線がその場合に
移動されかつ測定ビームの共振線はもはや吸収されな
い。かくして、磁界の存在において、分析物の原子によ
る測定ビームの特別な吸収がなくそして背景吸収のみが
測定される。磁界が存在しない場合には、特別な吸収お
よび背景吸収の両方が測定ビームの共振線を減衰するの
に有効となる。特別な吸収のみを示しかつ背景吸収が補
正された信号がかくして簡単な計算により得られること
ができる。定量のために、器具は較正されねばならな
い。分析物の既知量を含有するサンプルが霧化器に供給
される。理論的には、測定ビームがそれに従わされる吸
収はランバート−ベアの法則に従うべきである。すなわ
ち、非減衰光強度に言及されるかまたは、所望ならば、
ブランク、すなわち、吸収により減衰される検出された
光強度に言及される分析物の存在において検出された光
強度の対数が原子蒸気中の分析物の原子の数に比例す
る。かくして、吸収がサンプル中に含まれる分析物の量
に対してプロツトされるならば、起点を通過する直線グ
ラフが得られるようにすべきである。しかしながら、し
ばしばかつとくに電熱霧化器の使用の間中、吸収対分析
物の量のグラフは非直線であることが認められた。とく
に、グラフはサンプル中の分析物の高い量において増大
して湾曲されかつ漸近的に非ゼーマン測定において最大
吸収値に近づく。前述のゼーマン背景補正を利用すると
き、グラフは同様に最大を通過しかつ再び分析物のさら
に大きい量において降下する(ロールオーバー)。
た信号が実質上全体の測定範囲にわたつて分析物に実質
上比例するように分析物の量の関数として測定された吸
収の実質的な直線化を得させる最初に述べた型の方法お
よび装置を提供することにある。
的は、とくにしかも排他的でなくゼーマン背景補正の不
存在ならびに存在において電熱霧化器を使用する時間積
分吸収の実質上全測定範囲にわたつて実質上直線化され
た較正グラフを得させる最初に述べた型の方法および装
置を提供することにある。
の目的を満たすために、本発明の1つの態様によれば、
サンプル中の分析物の量を原子吸収により決定する本発
明の方法は、他の工程とともに、既知の量の分析物を含
有する予め定めた数のサンプルを電熱霧化しかつそれぞ
れ得られた遷移原子吸収信号を時間に対して積分しかつ
それにより最大吸収値を決定する工程からなることによ
り明らかにされる。その後分析物の未知の量を含有する
サンプルが時間の関数として個々の吸収値から構成され
る遷移原子吸収吸収信号を得るために霧化される。個々
の吸収値が最大吸収値の関数として補正された個々の吸
収値を得るために評価される。
有される未知の量の分析物に比例する補正された時間積
分吸収値を発生するために時間に対して積分される。較
正係数が決定されかつ次いでサンプル中に含有される分
析物の前記未知の量が補正された時間積分吸収値および
較正係数から決定される。
正グラフの曲率が迷光によりまたは迷光の、すなわち、
原子蒸気によつて吸収されない光の性質を有する現象に
より説明され得ることが判明した。これは、検出器にお
いて、基準強度I0 およびサンプルの原子蒸気の存在に
おいて検出された測定された強度Iが基準強度I0 に比
例する強度αI0 重なったことを意味する。かくして、
原子吸収分光光度計において形成されるこれらの強度の
比の対数は、式(1)
れる。式(2)
かれることができそして式(3)
得られる。これは式(4)
線から決定されそしてA0 は式(3)によつてAの測定
から引き出される。A0 はサンプル中に含まれる分析物
の量の直線関数である。A0 (Aの測定値から式(3)
により計算されるような)がサンプル中に含有される分
析物の量の関数としてプロツトされるならば、起点を通
過する実質上直線のグラフが得られる。しかしながら、
このグラフの傾斜は正しい傾斜と異なる。それゆえ、補
正が標準化係数1/(1+α)または式(6)
た原子蒸気中の分析物の原子による測定光ビームの吸収
により標準化吸収値A0 *は、それゆえ、式(7)
中に含有される分析物の量の決定は式(7)に関して上
記の個々の吸収値を評価しかつこのようにして得られた
A0*値から、サンプル中に含有される分析物量に比例
する補正された時間積分吸収値を決定することに依存す
る。サンプル中に含有される分析物の量は、その場合
に、較正係数を印加することにより得られる。
含有される分析物の量を原子吸収分光法により決定する
装置は、他のものとともに、サンプル中に含有される分
析物の共振線を含む測定光ビームを放出するための線放
出光源手段からなる。さらに設けられるのは受容された
サンプルが霧化される原子蒸気領域を画成する電熱霧化
手段である。前記電熱霧化手段は測定光ビームが前記原
子蒸気領域を通過するように配置されている。検出器手
段は電熱霧化手段に追随しかつ変調手段は交互に測定光
ビームが検出器手段へ原子蒸気領域を介してかつ検出器
手段へ通されるように設ける。結果として、前記電熱霧
化手段の前記原子蒸気領域中の霧化されたサンプルによ
る測定光ビームの吸収により減衰される減衰された光強
度および基準光強度をそれぞれ示す交流検出器出力信号
が発生される。かかる交流検出器出力信号は吸収値を示
す対数比信号を発生する対数手段により受信される。霧
化されたサンプルは原子蒸気領域に遷移的に形成されか
つそれゆえ、対数手段は時間の関数として個々の吸収値
を発生する。積分手段は時間積分吸収値を形成するため
に前記対数手段に選択的に接続される。第1メモリ手段
は予め定めた高い量の前記分析物を含有するサンプルか
ら得られた最大吸収値を記憶するために積分手段に接続
される。第1適用手段は最大吸収値を記憶するためにま
たは最大吸収値の関数として分析物の未知の量を含有す
るサンプルから得られた個々の吸収値を評価するために
積分手段またはプログラム可能な計算手段に対数手段を
選択的に接続する。このようにして得られた補正された
個々の吸収値がサンプル中に含有される前記分析物の前
記未知の量に比例する補正された時間積分吸収値をそれ
により形成するために前記前記積分手段により積分され
る。この補正された時間積分吸収値は決定されるべき分
析物の量を示す出力信号に前記較正手段によつて発生さ
れた較正係数によつて変換される。
いて、ピーク高さ吸収値が適宜な型の霧化手段を使用し
て決定される。かかるピーク高さ吸収値は同様にサンプ
ル中で決定されるべき分析物の量に比例する補正された
ピーク高さ吸収値を結果として生じる対応する方法にお
いて最大吸収値を基礎にしてまた補正され得る。
施例を示すブロツク図である。参照符号10はサンプル
中で決定されることができる元素の共振線を含有する線
スペクトルを放出する中空陰極ランプを示す。該中空陰
極ランプ10からの光は光学系12により焦点合わせさ
れて測定光ビーム14を形成する。光学系12はレンズ
で象徴化される。中空陰極ランプ10および焦点合わせ
光学系12は「線放出光源手段」を示す。測定光ビーム
14は、例えばグラフアイト管霧化器を構成することが
できる電熱霧化手段16を通過する。サンプルが電熱霧
化手段16に導入されるとき、サンプル中に含有される
分析物が霧化されかつ16Aで略示される原子蒸気領域
においてその原子状態にある。グラフアイト管霧化器の
場合において、この原子蒸気領域はグラフアイト管の孔
により構成される。
に存在する分析物の原子による吸収を受ける。次いで、
測定光ビーム14はモノクロメータ18を通過しかつ最
後に、例えば、光電子増倍管のごとき検出器手段20に
衝突する。
が、検出器手段20が原子蒸気両方16Aに存在する分
析物の原子により減衰される強度Iにより、かつ基準光
強度として役立つ減衰されない強度I0 により交互に測
定光ビーム14を受光するように、電熱霧化手段16を
通してかつ該電熱霧化手段16を超えて測定光ビーム1
4を交互に検出するために設けられる。所望ならば、追
加的に基線補正手段(図示せず)を設けることができ
る。
が中空陰極ランプ10または、場合によつては電熱霧化
手段16と任意に連係されることができる。
した交互の減衰および非減衰強度IおよびI0 に対応す
る交互の検出器出力信号を受信する対数手段24に接続
される。対数手段24は到来する交互の検出器出力信号
を吸収の瞬時値logI0 /Iを示す対数比信号に変換
する。
ム可能な計算手段28または積分手段30のいずれかに
対数比信号を選択的に印加するために印加手段26に接
続される。積分手段30は時間に対して印加された対数
比信号を積分するのに役立ちかつこのようにして得られ
た時間積分吸収値を記憶するために第1メモリ手段32
に接続される。該第1メモリ手段32は、順次、記憶さ
れた時間積分された吸収値を供給するためにプログラム
可能な計算手段28に接続されかつまたかかるプログラ
ム可能な計算手段28の1部分を構成する。また、プロ
グラム可能な計算手段28は原子吸収分光光度計の中央
データ処理および制御ユニツトの1部分かまたはそれと
統合されても良い。
述される方法にしたがつて到来するデータを処理する。
処理されたデータは出力されかつ積分手段30を通って
第2印加手段34に供給され、該第2印加手段34は第
2メモリ手段36または較正手段37のいずれかに積分
手段30を選択的に接続するのに役立つ。第2メモリ手
段36は標準サンプルから得られた時間積分された吸収
値を記憶するのに役立つ。較正手段37は標準サンプル
から得られた記憶された時間積分された吸収値を基礎に
して較正係数を発生しかつ較正係数および分析物の未知
の量を含有するサンプルから得られた時間積分吸収値を
増倍するのに役立つ。かくして、例えば、質量または濃
度のごとき適宜に選択された単位においてサンプル中に
存在する分析物の量が決定されかつこの結果はレコー
ダ、スクリーン等のごとき表示ユニツト38において示
される。
法にしたがつて以下のように作動される。
ンプル中に含有される分析物の量の関数として吸収値A
を示す通常の較正曲線が最大(ロールオーバー)吸収値
を通過する。ゼーマン背景補正手段22の不存在におい
て、吸収は漸近的に最大吸収値に近づく。それゆえ、ゼ
ーマン背景補正手段22の存在または不存在に依存し
て、以下の手順が採用される。
て、決定されるべき分析物を含有する多数のサンプルが
電熱霧化手段16に導入される。分析物の量は吸収値が
最大を通過する範囲において選択される。第1印加手段
26は対数手段24を積分手段30に接続するために調
整されかつ較正曲線の最大に関連付けられる時間積分吸
収値が選択されかつ最大吸収値Amax として第1メモリ
手段32に記憶される。
て、吸収値が分析物の量の関数として僅かだけ変化する
範囲において高い量で決定されるような分析物を含有す
るサンプルが使用される。第1印加手段26は第1メモ
リ手段32に対数手段24を接続するために調整されそ
してこのようにして得られる吸収値は第1メモリ手段3
2に最大吸収値Amax として記憶される。
24をプログラム可能な計算手段28に接続するために
切り換えられそして第2印加手段34は積分手段30お
よび第2メモリ手段36を相互に接続するように調整さ
れる。決定されるべき分析物の既知の量を含有する較正
サンプルが電熱霧化器16に導入されかつそこで霧化さ
れる。プログラム可能な計算手段28は、次いで、検出
器手段20の出力に現れる遷移原子吸収信号と一致して
時間の関数として個々の吸収値Aの流れを受信する。プ
ログラム可能な計算手段28は最大吸収値Amax の関数
として、より好ましくは、上記の式(7)に示したよう
に、関数、
ようにプログラムされる。かくして得られた補正された
個々の吸収値A0 *が積分手段30により時間に対して
積分されそして補正された時間積分吸収値が第2メモリ
手段36に記憶される。
を較正手段37へ接続するために切り換えられる。較正
係数と関連付けられかつ第2メモリ手段36内に存在す
る記憶された補正時間積分吸収値は補正された時間積分
吸収値および較正サンプル中に含有される分析物の既知
の量を基礎にして較正係数を形成する較正手段37に転
送される。分析物の未知の量を含有するサンプルが電熱
霧化手段16に導入されかつそこで霧化される。プログ
ラム可能な計算手段28は、次いで、検出器手段20の
出力に現れている遷移原子吸収信号と一致して時間の関
数として個々の吸収値の流れを受信する。前述されたよ
うに、プログラム可能な計算手段28は到来する個々の
吸収値を処理して第1メモリ手段32から転送される最
大吸収値Amax の関数として、最も好ましくは、前記の
式(7)に示したような、関数
る。このようにして得られた補正された個々の吸収値A
0 *が積分手段30により時間に対して積分されかつ補
正された時間積分吸収値が較正手段37に供給される。
その中で、補正された時間積分吸収値が較正係数により
乗算され、該較正係数は質量単位、濃度単位または他の
望ましい単位において表示ユニツト39で分析物の決定
の結果を発生するように選択される。
して多数のかかる決定を実施すると、以下の例から明ら
かなように、実質上直線の較正グラフが得られる。
術により作動する標準HGA500グラフアイト管霧化
器を備えたパーキン−エルマーPE5000ゼーマン分
光光度計を使用して調査された。分析物の各々は0.5
%の水性硝酸中に溶解された。サンプル容積は5ないし
30μlの範囲でかつその量は横座標にプロツトされた
ようであつた。縦座標には時間積分吸収値がプロツトさ
れる。
のビスマスを曝すとき得られる遷移吸収信号を示す。図
3は電熱霧化手段16中に導入されたビスマスの質量m
(ng)の関数として補正されてない時間積分吸収∫A
dt,sを示す通常の較正曲線70を示す。直線較正グ
ラフ72は、電熱霧化手段16に導入されたビスマスの
質量m(ng)の関数として、本発明の第1実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Adt,sを示す。
のガリウムを曝すときに得られる遷移吸収信号を示す。
図5はガリウムの質量m(ng)の関数として補正され
てない時間積分吸収∫Adt,sを示す通常の較正曲線
66を示す。直線較正グラフ74は、電熱霧化手段16
に導入されたガリウムの質量m(ng)の関数として、
本発明の第1実施例により補正された時間積分吸収∫A
dt,sを示す。
質量m(ng)の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Adt,sを示す通常の較正曲線76を示す。直線
較正グラフ78は、電熱霧化手段16に導入された金の
質量m(ng)の関数として、本発明の第1実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Adt,sを示す。
質量m(ng)の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Adt,sを示す通常の較正曲線80を示す。直線
較正グラフ82は、電熱霧化手段16に導入された銀の
質量m(ng)の関数として、本発明の第1実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Adt,sを示す。
質量m(ng)の関数として補正されてない時間積分吸
収∫Adt,sを示す通常の較正曲線84を示す。直線
較正グラフ86は、電熱霧化手段16に導入された銅の
質量m(ng)の関数として、本発明の第1実施例によ
り補正された時間積分吸収∫Adt,sを示す。
が図面の図9に示される。この実施例は簡単化された構
造からなりそしてピーク高さの測定が十分に精密である
すべての場合に使用されることができ、同様に電熱霧化
手段以外に、例えば、炎霧化器が使用され得る。この実
施例の基本的な構造は図1に示した第1実施例の構造と
同一であり、すなわち、中空陰極ランプ10、光学系1
2、変調手段15、原子蒸気両方16A’を画成する霧
化手段16’、モノクロメータ18、検出器手段20、
および対数手段24がある。ゼーマン背景補正手段は示
されないが、同様に、所望ならば、存在しても良い。
28または第1メモリ手段40のいずれかに対数手段2
4を選択的に接続する。第2印加手段34はプログラム
可能な計算手段28をその出力側で第2メモリ出力42
または較正手段43に選択的に接続する。較正手段43
は、順次、それらの入力側で第2メモリ手段42にかつ
それらの出力側でレコーダ、スクリーン等のごとき表示
ユニツト44に接続される。プログラム可能な計算手段
28は同様に原子吸収分光光度計の中央データ処理およ
び制御ユニツトの1部分かまたはそれに組み込まれても
良い。
わち、まず、ピーク高さ吸収が分析物の量の関数として
僅かだけ変化する範囲において高い量で決定されるよう
な分析物を含有するサンプルが霧化手段16’に導入さ
れかつ霧化される。第1印加手段26は第1メモリ手段
40に対数手段24を接続するために調整される。この
ようにして得られたピーク高さ吸収値は最大吸収値Ama
x として第1メモリ手段40に記憶される。
24をプログラム可能な計算手段28に接続するために
切り換えられそして第2印加手段34はプログラム可能
な計算手段28および第2メモリ手段42を相互に接続
するように調整される。決定されるべき分析物の既知の
量を含有する較正サンプルが電熱霧化器16’に導入さ
れかつそこで霧化される。プログラム可能な計算手段2
8は、次いで、較正サンプルにより発生されたピーク高
さ吸収値Aを受信しかつ最大吸収値Amax の関数とし
て、より好ましくは、上記の式(7)に示したように、
関数、
される。かくして得られた補正されたピーク高さ吸収値
が第2メモリ手段42に供給されかつそれに記憶され
る。
能な計算手段28を較正手段43へ接続するために切り
換えられる。較正サンプル係数と関連付けられかつ第2
メモリ手段36内に存在する記憶された補正ピーク高さ
吸収値は補正されたピーク高さ吸収値および較正サンプ
ル中に含有される分析物の既知の量を基礎にして較正係
数を形成する較正手段43に転送される。分析物の未知
の量を含有するサンプルが霧化手段16’に導入されか
つそこで霧化される。プログラム可能な計算手段28
は、次いで、第1メモリ手段40から転送される最大吸
収値Amax の関数として、最も好ましくは、前記の式
(7)に示したような、関数
る。このようにして得られた補正されたピーク高さ吸収
値は較正手段43に供給される。その中で、補正された
ピーク高さ吸収値が較正係数により乗算され、該較正係
数は質量単位、濃度単位または他の望ましい単位におい
て表示ユニツト44で分析物の決定の結果を発生するよ
うに選択される。
して多数のかかる決定を実施すると、以下の例から明ら
かなように実質上直線の較正グラフが得られる。
例と同一の方法において溶解されかつ分析された。図1
0は結果、すなわち、霧化手段16’に導入されたカド
ミウムの質量m(ng)の関数として補正されてないピ
ーク高さ吸収Aを示す通常較正曲線88を示す。直線グ
ラフ90は、霧化手段16’に導入されたカドミウムの
質量m(ng)の関数として、本発明の第2実施例によ
り補正されたピーク高さ吸収Aを示す。
含有される分析物の量を原子吸収により決定するため
に、既知の量の分析物を含有する予め定めた数のサンプ
ルを電熱霧化しかつそれぞれ得られた遷移原子吸収信号
を時間に対して積分しかつそれにより最大吸収値を決定
し;未知の量の前記分析物を含有するサンプルを電熱霧
化しかつそれにより時間の関数として個々の吸収値から
構成される遷移原子吸収吸収信号を得;前記最大吸収値
の関数として前記個々の吸収値を評価しかつそれにより
補正された個々の吸収値を得;前記補正された個々の吸
収値を時間に対して積分しかつそれにより前記サンプル
中に含有される前記未知の量の前記分析物に比例する補
正された時間積分吸収値を発生し;較正係数を決定し;
そして前記補正された時間積分吸収値および前記較正係
数から前記サンプル中に含有される前記分析物の前記未
知の量を決定する構成としたので、得られた信号が実質
上全体の測定範囲にわたつて分析物に実質上比例するよ
うに分析物の量の関数として測定された吸収の実質的な
直線化を得させることができるサンプル中の分析物の量
を原子吸収により決定する方法および原子吸収分光光度
計を提供することができる。
すブロツク図である。
関して得られた遷移吸収信号をグラフで示す説明図であ
る。
し、曲線70が補正されてない通常の較正曲線を示しか
つ直線グラフ72が図1に示した原子吸収分光光度計を
使用して得られた直線較正グラフを示す説明図である。
関して得られた遷移吸収信号ををグラフで示す説明図で
ある。
し、曲線66が補正されてない通常の較正曲線を示し、
直線グラフ74が図1に示した原子吸収分光光度計を使
用して得られた直線較正グラフを示す説明図である。
76が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ78が図1に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
80が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ82が図1に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
84が通常の補正されてない較正曲線を示し、直線グラ
フ86が図1に示した原子吸収分光光度計を使用して得
られた直線較正グラフを示す説明図である。
すブロツク図である。
示し、曲線88は通常の補正されてない通常の較正曲線
を示し、直線グラフは図9に示した原子吸収分光光度計
を使用して得られた直線較正グラフを示す説明図であ
る。
Claims (26)
- 【請求項1】 サンプル中に含有される分析物の量を原
子吸収により決定する原子吸収による分析物量決定方法
において、 既知の量の分析物を含有する予め定めた数のサンプルを
電熱霧化しかつそれぞれ得られた遷移原子吸収信号を時
間に対して積分しかつそれにより最大吸収値を決定し;
未知の量の前記分析物を含有するサンプルを電熱霧化し
かつそれにより時間の関数として個々の吸収値から構成
される遷移原子吸収吸収信号を得;前記最大吸収値の関
数として前記個々の吸収値を評価しかつそれにより補正
された個々の吸収値を得;前記補正された個々の吸収値
を時間に対して積分しかつそれにより前記サンプル中に
含有される前記未知の量の前記分析物に比例する補正さ
れた時間積分吸収値を発生し;較正係数を決定し;そし
て前記補正された時間積分吸収値および前記較正係数か
ら前記サンプル中に含有される前記分析物の前記未知の
量を決定する工程からなることを特徴とする原子吸収に
よる分析物量決定方法。 - 【請求項2】 前記予め定めたサンプルの数を電熱霧化
する前記工程が複数のサンプルを該複数のサンプル中に
含有される前記分析物の量の関数として電熱霧化するこ
とを含み;それぞれ得られた遷移原子吸収の測定の間中
ゼーマン背景補正を印加し;そして前記最大時間積分吸
収値を決定する前記工程が、吸収が前記複数のサンプル
中に含有される量の関数として最大を通過する範囲の量
において前記分析物を含有する複数のサンプルにおい
て、複数の吸収値を決定しかつ前記複数の吸収値から前
記最大吸収値を選択することを必要とすることを特徴と
する請求項1に記載の原子吸収による分析物量決定方
法。 - 【請求項3】 予め定めた数のサンプルを電熱霧化しか
つ前記最大吸収値を決定する前記工程が、前記予め定め
た数のサンプルとして、吸収値がサンプル中に含有され
る分析物の量により僅かだけ変化する範囲において分析
物の量を含有するサンプルを選択しかつこのようにして
得られた吸収値を前記最大吸収値として使用することを
必要とすることを特徴とする請求項1に記載の原子吸収
による分析物量決定方法。 - 【請求項4】 前記補正された個々の吸収値を積分しか
つそれにより前記補正された時間積分吸収値を発生する
工程が実質上迷光作用が補正される時間積分吸収値を発
生することを含むことを特徴とする請求項1に記載の原
子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項5】 前記最大吸収値の関数として前記個々の
吸収値を評価する前記工程が前記個々の吸収値を関数 【数1】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、A0 *
は補正された個々の吸収値、Amax は最大吸収値、そし
てAは個々の吸収値であることを特徴とする請求項1に
記載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項6】 前記較正係数を決定する前記工程が、 前記分析物の既知の量を含有する較正サンプルを電熱霧
化しかつそれにより時間の関数として個々の吸収値から
構成される遷移原子吸収信号を得;前記最大吸収値の関
数として前記個々の吸収値を評価しかつそれにより補正
された個々の吸収値を得;前記補正された個々の吸収値
を時間に対して積分しかつそれにより前記較正サンプル
中に含有される前記分析物の前記既知の量に比例する補
正された時間積分吸収値を発生し;そして前記補正され
た時間積分吸収値と前記較正サンプル中に含有される分
析物の前記既知の量から前記較正係数を決定する工程か
らなることを特徴とする原子吸収による分析物量決定方
法。 - 【請求項7】 前記最大吸収値の関数として前記個々の
吸収値を評価する前記工程が前記個々の吸収値を関数、 【数2】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、A0 *
は補正された個々の吸収値、Amax は最大吸収値、そし
てAは個々の吸収値であることを特徴とする請求項6に
記載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項8】 サンプル中に含有される分析物の量を原
子吸収により決定する原子吸収による分析物量決定方法
において、 既知の高い量の分析物を含有するサンプルを霧化しかつ
そのようにして得られた遷移原子吸収信号のピーク高さ
として最大吸収値を決定し;未知の量の前記分析物を含
有するサンプルを霧化しかつそのようにして得られた遷
移原子吸収吸収信号のピーク高さとしてピーク高さ吸収
値を決定し;前記最大吸収値の関数として前記ピーク高
さ吸収値を評価しかつそれにより前記サンプル中に含有
される前記分析物の前記未知の量に比例する補正された
ピーク高さ吸収値を得;較正係数を決定し;そして前記
補正されたピーク高さ吸収値および前記較正係数から前
記サンプル中に含有される前記分析物の前記未知の量を
決定する工程からなることを特徴とする原子吸収による
分析物量決定方法。 - 【請求項9】 前記分析物の前記高い量を含有する前記
サンプルを電熱霧化しかつ前記最大吸収値を決定する前
記工程が、前記サンプルとして、ピーク高さ吸収値がサ
ンプル中に含有され分析物の量により僅かだけ変化する
範囲において分析物の量を含有するサンプルを選択しか
つこのようにして得られたピーク高さを前記最大吸収値
として使用することを必要とすることを特徴とする請求
項8にに記載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項10】 前記ピーク高さ吸収値を前記最大吸収
値の関数として評価しかつそれにより前記補正されたピ
ーク高さ吸収値を得る前記工程が迷光作用が実質上補正
されるピーク高さ吸収値を発生することを含むことを特
徴とする請求項8に記載の原子吸収による分析物量決定
方法。 - 【請求項11】 前記最大吸収値の関数として前記ピー
ク高さを評価する前記工程が前記ピーク高さ吸収値を関
数 【数3】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、A0 *
は補正されたピーク高さ吸収値、Amax は最大吸収値、
そしてAはピーク高さ吸収値であることを特徴とする請
求項8に記載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項12】 前記較正係数を決定する前記工程が、 前記分析物の既知の量を含有する較正サンプルを霧化し
かつピーク高さ吸収値をこのようにして得られた遷移原
子吸収信号のピーク高さとして決定し;前記最大吸収値
の関数として前記ピーク高さ吸収値を評価しかつそれに
より前記較正サンプル中に含有される前記分析物の前記
既知の量に比例する補正されたピーク高さ吸収値を得;
そして前記補正されたピーク高さ吸収値と前記較正サン
プル中に含有される分析物の前記既知の量から前記較正
係数を決定する工程からなることを特徴とする請求項9
による原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項13】 前記ピーク高さ吸収値を前記最大吸収
値の関数として評価する工程が前記ピーク高さ吸収値を
関数、 【数4】 にしたがつて評価することを必要とし、ここで、A0 *
は補正されたピーク高さ吸収値、Amax は最大吸収値、
そしてAはピーク高さ吸収値であることを特徴とする請
求項12に記載の原子吸収による分析物量決定方法。 - 【請求項14】 サンプル中に含有される分析物の量を
決定する原子吸収分光光度計において、 サンプル中に含有される分析物の共振線を含んでいる測
定光ビームを放出するための線放出光源手段;前記サン
プルを受容しかつ前記サンプルを霧化する電熱霧化手
段;霧化されたサンプルを形成するための原子蒸気領域
を画成する前記電熱霧化手段;前記電熱霧化手段の前記
原子蒸気領域を通って前記線放出光源手段により放出さ
れた前記測定光ビームを通すために配置されている前記
霧化手段;前記電熱霧化手段の前記原子蒸気領域を通過
した後前記測定光ビームを受信するために配置された検
出器手段;前記電熱霧化手段の前記原子蒸気領域中の霧
化されたサンプルによる測定光ビームの吸収により減衰
される減衰された光強度および基準光強度をそれぞれ示
す交流検出器出力信号を発生するために前記検出器手段
へ前記霧化手段の前記原子蒸気領域を通してかつ前記検
出器手段へ前記測定光ビームを交互に通すための変調手
段;前記交流検出器出力信号を受信しかつそれから吸収
値を示す対数比信号を形成するために前記検出器手段に
接続される対数手段;前記電熱霧化手段の前記原子蒸気
領域および時間の関数として個々の吸収値に前記対数手
段により変換される対応する遷移原子吸収信号を発生す
る前記検出器手段に遷移的に形成されている前記霧化サ
ンプル;前記対数手段から前記個々の吸収値を受信しか
つ時間積分吸収値を形成するために前記対数手段に選択
的に接続される積分手段;予め定めた高い量の前記分析
物を含有するサンプルから得られた最大吸収値を記憶す
るための第1メモリ手段;前記サンプル中に含有された
分析物の量に比例する補正された吸収値を計算するため
のプログラム可能な計算手段;前記対数手段を前記積分
手段および前記計算手段に選択的に接続するための第1
印加手段;前記予め定めた高い量の前記分析物を含有す
る前記サンプルから得られた前記最大吸収値をその中に
記憶するための前記第1メモリ手段に前記対数手段を選
択的に接続する前記第1印加手段;前記プログラム可能
な計算手段へかつ前記分析物の未知の量を含有するサン
プルの霧化の間中前記プログラム可能な計算手段に前記
対数手段を選択的に接続する前記第1適用手段へ前記最
大吸収値を送給するために接続されている前記第1メモ
リ手段;時間の関数として補正された個々の吸収値を得
るために前記最大吸収値の関数として、前記分析物の前
記未知の量を含有する前記サンプルにより発生される前
記個々の吸収値を評価するためにプログラムされている
前記プログラム可能な計算手段;前記サンプル中に含有
される前記分析物の前記未知の量に比例する補正された
時間積分吸収値をそれから発生するために前記プログラ
ム可能な計算手段から前記補正された個々の吸収値を受
信するために選択的に接続されている前記積分手段;較
正係数を発生するための較正手段;および前記補正され
た時間積分吸収値を受信しかつ前記較正手段によつて、
前記サンプル中に含有される前記分析物の量を示す出力
信号を発生するために前記積分手段に接続されている前
記較正手段からなることを特徴とする原子吸収分光光度
計。 - 【請求項15】 さらに、ゼーマン背景補正手段;吸収
値が複数のサンプル中に含有される量の関数として最大
を通過する範囲の既知の量において前記分析物を含有す
る前記複数のサンプルを受容する前記電熱霧化手段;お
よび前記最大吸収値として、前記複数の前記吸収値から
選択される最大値を記憶する前記第1メモリを含むこと
を特徴とする原子吸収分光光度計。 - 【請求項16】 前記電熱霧化手段は、前記最大吸収値
を決定しかつそれを前記第1メモリ手段に記憶するため
に、吸収値が前記サンプル中に含有される前記分析物の
量により僅かだけ変化する範囲において前記分析物の量
を含有するサンプルを受容することを特徴とする請求項
14に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項17】 前記プログラム可能な計算手段が、実
質上迷光作用が補正される個々の補正された吸収値を得
るために前記最大吸収値の関数として、前記分析物の前
記未知の量を含有する前記サンプルにより発生される前
記個々の吸収値を評価するためにプログラムされること
を特徴とする請求項14に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項18】 前記プログラム可能な計算手段が、前
記分析物の前記未知の量を含有する前記サンプルにより
発生される前記個々の吸収値を以下の関数 【数5】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、
A0 *は補正された個々の吸収値、Amax は最大吸収
値、そしてAは個々の吸収値であることを特徴とする請
求項14に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項19】 さらに、第2メモリ手段;前記積分手
段を前記較正手段および前記第2メモリ手段へ選択的に
接続するための第2印加手段;前記電熱霧化手段におい
て霧化されかつ前記分析物の既知の量を含有する較正サ
ンプルにより発生される補正された時間積分吸収値をそ
れに記憶するために前記第2メモリ手段へ前記積分手段
を接続する前記第2印加手段;および前記較正サンプル
により発生される前記補正された時間積分吸収値および
前記較正サンプル中に存在する前記分析物の前記既知の
量から前記較正係数を発生する前記較正手段を含むこと
を特徴とする請求項14に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項20】 前記プログラム可能な計算手段が前記
分析物の前記既知の量を含有する前記較正サンプルによ
り発生される前記個々のサンプル値を、以下の関数 【数6】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、
A0 *は補正された個々の吸収値、Amax は最大吸収
値、そしてAは個々の吸収値であることを特徴とする請
求項19に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項21】 サンプル中に含有される分析物の量を
決定する原子吸収分光光度計において、 サンプル中に含有される分析物の共振線を含んでいる測
定光ビームを放出するための線放出光源手段;前記サン
プルを受容しかつ前記サンプルを霧化する霧化手段;前
記霧化されたサンプルを形成するための原子蒸気領域を
画成する前記霧化手段;前記霧化手段の前記原子蒸気領
域を通って前記線放出光源手段により放出された前記測
定光ビームを通すために配置されている前記霧化手段;
前記霧化手段の前記原子蒸気領域を通過した後前記測定
光ビームを受信するために配置された検出器手段;前記
霧化手段の前記原子蒸気領域中の霧化されたサンプルに
よる測定光ビームの吸収により減衰される減衰された光
強度および基準光強度をそれぞれ示す交流検出器出力信
号を発生するために前記検出器手段へ前記霧化手段の前
記原子蒸気領域を通してかつ前記検出器手段へ前記測定
光ビームを交互に通すための変調手段;前記交流検出器
出力信号を受信しかつそれから吸収値を示す対数比信号
を形成するために前記検出器手段に接続される対数手
段;対応するピーク高さ吸収値に前記対数手段により変
換される検出器出力信号を発生する前記霧化信号の前記
原子蒸気領域に形成される前記霧化サンプル;予め定め
た高い量の前記分析物を含有するサンプルから得られた
最大吸収値を記憶するために前記対数手段に接続される
第1メモリ手段;前記サンプル中に含有された分析物の
量に比例する補正されたピーク高さ吸収値を計算するた
めのプログラム可能な計算手段;前記対数手段を前記プ
ログラム可能な計算手段および前記第1メモリ手段に選
択的に接続するための第1適用手段;補正されたピーク
高さ吸収値を得るために前記最大吸収値の関数として、
前記分析物の前記未知の量を含有する前記サンプルによ
り発生されるピーク高さ吸収値を評価するためにプログ
ラムされている前記プログラム可能な計算手段;較正係
数を発生するための較正手段;および前記補正されたピ
ーク高さ吸収値を受信しかつ前記較正係数によつて、前
記サンプル中に含有される前記分析物の量を示す出力信
号を発生するために前記プログラム可能な計算手段に接
続されている前記較正手段からなることを特徴とする原
子吸収分光光度計。 - 【請求項22】 前記霧化手段は、前記最大吸収値を決
定しかつそれを前記第1メモリ手段に記憶するために、
前記ピーク高さ吸収値が前記サンプル中に含有される前
記分析物の量により僅かだけ変化する範囲において前記
分析物の量を含有するサンプルを受容することを特徴と
する請求項21に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項23】 前記プログラム可能な計算手段が、実
質上迷光作用が補正される補正されたピーク高さ吸収値
を得るために前記最大吸収値の関数として、前記分析物
の前記未知の量を含有する前記サンプルにより発生され
る前記ピーク高さ吸収値を評価するためにプログラムさ
れることを特徴とする請求項21に記載の原子吸収分光
光度計。 - 【請求項24】 前記プログラム可能な計算手段が、前
記分析物の前記未知の量を含有する前記サンプルにより
発生される前記ピーク高さ吸収値を以下の関数 【数7】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、
A0 *は補正されたピーク高さ吸収値、Amax は最大吸
収値、そしてAはピーク高さ吸収値であることを特徴と
する請求項21に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項25】 さらに、第2メモリ手段;前記プログ
ラム可能な計算手段を前記較正手段および前記第2メモ
リ手段へ選択的に接続するための第2適用手段;前記分
析物の既知の量を含有しかつ前記霧化手段において霧化
される較正サンプルにより発生される補正されたピーク
高さ吸収値をそれに記憶するために前記第2メモリ手段
へ前記プログラム可能な計算手段を接続する前記第2適
用手段;および前記較正サンプルにより発生される前記
補正されたピーク高さ吸収値および前記較正サンプル中
に存在する前記分析物の前記既知の量から前記較正係数
を発生する前記較正手段を含むことを特徴とする請求項
21に記載の原子吸収分光光度計。 - 【請求項26】 前記プログラム可能な計算手段が前記
較正サンプルにより発生される前記ピーク高さ吸収値
を、以下の関数 【数8】 にしたがつて評価するためにプログラムされ、ここで、
A0 *は補正されたピーク高さ吸収値、Amax は最大吸
収値、そしてAはピーク高さ吸収値であることを特徴と
する請求項25に記載の原子吸収分光光度計。
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