JP7026117B2 - 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 - Google Patents

原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 Download PDF

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Description

本発明は、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料の濃度を測定する原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法に関するものである。
原子吸光分光光度計の一例として、フレーム式の原子吸光分光光度計が知られている。この種の原子吸光分光光度計では、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスをバーナで燃焼させることにより、フレーム(炎)が形成される。そして、フレーム中に試料を噴霧することにより試料を原子化させ、そのフレーム中に測定光を照射することにより、原子化された試料の吸光度を測定することができる。
原子吸光測定の際には、試料の濃度と吸光度との関係を表す検量線が用いられる。検量線は、試料の濃度が低い範囲では直線性が高いが、試料の濃度が高い範囲では直線性が低く、測定精度が低下するという特性がある。そのため、試料の濃度が高い場合には、測定光の光軸に対するバーナの角度を調整することにより、フレーム中を通過する測定光の光路を短くして、吸光度を低下させることが一般的に行われている(例えば、下記特許文献1参照)。
また、高濃度の試料の原子吸光を測定する別の方法として、試料を希釈して吸光度を低下させる方法も知られている。すなわち、試料の濃度を低下させることにより、検量線の直線性が高い範囲で吸光度を測定することができる。
特公平7-11484号公報
測定光の光軸に対するバーナの角度を調整して吸光度を低下させる方法では、一般的には手動で角度調整が行われる。そのため、角度調整の誤差が生じやすく、測定誤差により再現性が低下しやすいという問題がある。
また、試料を希釈して吸光度を低下させる方法では、希釈の誤差が生じやすく、やはり測定誤差が生じやすいという問題がある。また、複数の試料を測定する場合には、それぞれの試料を希釈する必要があるため、測定の手順が煩雑になるという問題もある。
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、測定の手順が煩雑になるのを防止しつつ、精度よく測定を行うことができる原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法を提供することを目的とする。
(1)本発明に係る原子吸光分光光度計は、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光分光光度計であって、記憶部と、濃度測定処理部とを備える。前記記憶部は、第1検量線及び第2検量線を記憶する。前記第1検量線は、第1の波長の光を第1標準試料に照射したときの吸光度と前記第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す。前記第2検量線は、前記第1の波長とは異なる第2の波長の光を前記第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と前記第2標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す。前記濃度測定処理部は、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第1検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。また、前記濃度測定処理部は、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第2の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。
このような構成によれば、第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、検量線の直線性が高い範囲で測定できるため、従来と同様に、第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と第1検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる。一方、第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合には、第1の波長とは異なる第2の波長の光を未知試料に照射することにより、吸光度を低下させることができる。この場合でも、第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と第2標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を用いることにより、未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる。
このように、未知試料の吸光度に応じて未知試料に照射する光の波長を切り替えることにより、高濃度の未知試料であっても精度よく測定を行うことができる。また、複数の未知試料を測定する場合に、それぞれの試料を希釈したりする必要がないため、希釈の誤差を防止することができるとともに、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
(2)前記原子吸光分光光度計は、第1検量線作成処理部と、第2検量線作成処理部とをさらに備えていてもよい。前記第1検量線作成処理部は、前記第1検量線を作成して前記記憶部に記憶させる。前記第2検量線作成処理部は、前記第2検量線を作成して前記記憶部に記憶させる。この場合、前記第2検量線作成処理部は、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第2検量線を作成して前記記憶部に記憶させてもよい。
このような構成によれば、第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合にのみ第2検量線が作成される。したがって、第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、第2検量線を作成する必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
(3)前記濃度測定処理部は、複数の未知試料のうち、前記第1の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第2の波長の光を照射させ、そのときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定してもよい。
このような構成によれば、複数の未知試料を測定する場合に、第1の波長の光を照射したときの吸光度が閾値以上である未知試料にのみ第2の波長の光が照射され、そのときの吸光度と第2検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される。したがって、複数の未知試料を測定する場合に、第1の波長の光を各未知試料に照射したときの吸光度がいずれも閾値未満である場合には、未知試料に照射する光の波長を切り替える必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
(4)本発明に係る原子吸光測定方法は、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光測定方法であって、第1検量線作成ステップと、第2検量線作成ステップと、濃度測定ステップとを含む。前記第1検量線作成ステップでは、第1の波長の光を第1標準試料に照射したときの吸光度と前記第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第1検量線を作成する。前記第2検量線作成ステップでは、前記第1の波長とは異なる第2の波長の光を前記第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と前記第2標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を作成する。前記濃度測定ステップでは、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第1検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。また、濃度測定ステップでは、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第2の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する。
(5)前記第2検量線作成ステップでは、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第2検量線を作成してもよい。
(6)前記濃度測定ステップでは、複数の未知試料のうち、前記第1の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第2の波長の光を照射し、そのときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定してもよい。
本発明によれば、未知試料の吸光度に応じて未知試料に照射する光の波長を切り替えることにより、測定の手順が煩雑になるのを防止しつつ、精度よく測定を行うことができる。
本発明の一実施形態に係る原子吸光分光光度計の構成例を示した概略図である。 原子化部の具体的構成を示した斜視図である。 光源部の光源から出射される光の輝線スペクトルを簡略的に示した図である。 制御部の具体的構成を示したブロック図である。 複数の未知試料の濃度を測定する際の制御部による処理の流れを示したフローチャートである。
1.原子吸光分光光度計の全体構成
図1は、本発明の一実施形態に係る原子吸光分光光度計1の構成例を示した概略図である。この原子吸光分光光度計1は、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスを燃焼させることによりフレーム2を形成し、そのフレーム2中に試料を噴霧することにより原子化された試料の原子吸光を測定するためのフレーム式原子吸光分光光度計である。
原子吸光分光光度計1には、光源部11、原子化部12、検出器13、測光部14、制御部15、表示部16及び操作部17などが備えられている。図1において、実線の矢印は信号の流れを表しており、破線の矢印は光の流れを表している。
光源部11は、例えばホロカソードランプなどの光源を含む構成であり、輝線スペクトルを有する光が光源から出射される。光源から出射される光の波長は、光源部11に備えられたモノクロメータ111(図4参照)により切り替えられる。すなわち、波長切替部の一例であるモノクロメータ111の動作により、任意の波長の光を測定光として光源部11から出射させることができる。
光源部11から出射される光は、フレーム2に照射される。フレーム2に照射された光は、フレーム2中に含まれる原子化された試料の成分により特定の波長が吸収される。このようにして特定の波長が吸収された光は、フレーム2を通過した後、検出器13により検出される。
原子化部12には、燃料ガス、助燃ガス及び試料が供給される。燃料ガスとしては、例えばアセチレンガス(C)を用いることができる。また、助燃ガスとしては、例えば空気又は亜酸化窒素ガス(NO)を用いることができる。ただし、燃料ガス及び助燃ガスは、上記のようなガスに限られるものではない。
原子化部12では、燃料ガス及び助燃ガスが混合されることにより混合ガスが生成され、その混合ガスが燃焼されることにより、分析中は連続的にフレーム2が形成された状態となる。また、試料は霧化された上で混合ガスに混合され、混合ガスとともにフレーム2中に供給される。これにより、フレーム2中に試料が噴霧され、フレーム2の熱によって試料が原子化される。
検出器13は、例えば光電子増倍管により構成されている。フレーム2中を通過した光は検出器13により検出され、光電変換によって光強度に応じた電気信号が検出器13から出力される。測光部14は、検出器13からの出力信号を増幅するとともに、A/D変換によりデジタル信号に変換する。
制御部15は、検出器13から測光部14を介して入力される信号に基づいて、含有される対象成分の濃度が未知である試料(未知試料)中の成分の濃度を測定する処理を行う。具体的には、試料中の成分により特定の波長が吸収されるため、試料中の成分の濃度と吸光度との関係を表す検量線を用いて演算を行うことにより、試料中の成分の濃度を測定することができる。すなわち、原子吸光分光光度計1では、原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分(分析対象となる成分)の濃度を測定することができる。
制御部15には、表示部16及び操作部17が接続されている。表示部16は、例えば液晶表示器により構成されており、原子吸光分光光度計1による試料の測定結果などが表示される。操作部17は、例えばキーボード及びマウスにより構成されており、各種設定を行う際などにユーザにより操作される。
2.原子化部の具体的構成
図2は、原子化部12の具体的構成を示した斜視図である。原子化部12には、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスを燃焼させるためのバーナ121が備えられている。バーナ121は、例えば直方体などの長尺形状で形成されており、その長尺方向が水平に延びるように配置されている。
バーナ121の上面には、長手方向に一直線上に延びる吹出口122が形成されている。分析時には、吹出口122から燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスが連続的に吹き出されて燃焼される。これにより、吹出口122の上方には、当該吹出口122に沿って一直線上に延びるフレームが形成される。
バーナ121は、その下面に設けられた鉛直方向に延びる支軸123により支持されている。従来の原子吸光分光光度計では、支軸123が回転自在に構成され、支軸123を中心にバーナ121を回転させることにより、水平面内における吹出口122の角度を手動で調整することができるような構成であったが、本実施形態では支軸123は固定されている(回転しない)。
図2に示すように、吹出口122は光源部11からの光の光路Pに沿って延びている。これにより、光源部11からの光は、吹出口122の上方に形成されるフレーム2中を一端から他端まで通過する。
3.輝線スペクトル
図3は、光源部11の光源から出射される光の輝線スペクトルを簡略的に示した図である。輝線スペクトルには、複数の波長(この例では波長λと波長λ)にピークが現れる。通常、対象成分(元素)に対して最も感度が高い波長(例えば波長λ)の光が出射されるように、モノクロメータ111による波長の切り替えが行われる。
本実施形態では、最も感度が高い波長λ(第1の波長)だけでなく、必要に応じて、第1の波長とは異なる第2の波長(例えば波長λ)の光も用いて測定が行われる。すなわち、対象成分に対して最も感度が高い波長とは異なる波長の光を用いて、未知試料中の対象成分の濃度が測定される場合がある。
4.制御部の具体的構成
図4は、制御部15の具体的構成を示したブロック図である。制御部15は、例えばCPU(Central Processing Unit)を含む構成である。制御部15は、CPUがプログラムを実行することにより、検量線作成処理部150、濃度測定処理部153などとして機能する。検量線作成処理部150には、第1検量線作成処理部151と第2検量線作成処理部152とが含まれる。制御部15は、例えばハードディスク又はRAM(Random Access Memory)により構成される記憶部18に対して、データの入出力を行うことができるようになっている。
検量線作成処理部150は、含有される対象成分の濃度が既知である標準試料を用いて、検量線を作成するための処理を行う。具体的には、検量線作成処理部150は、オートサンプラ(図示せず)から原子化部12に標準試料を供給し、原子化された標準試料を通過した光を検出する検出器13からの検出信号に基づいて、標準試料中の対象成分の濃度と吸光度との関係を表す検量線を演算により作成する。検量線作成処理部150は、光源部11から出力される光の波長を切り替える処理も行う。本実施形態では、同一の対象成分を含み、濃度が異なる2種類の標準試料(第1標準試料及び第2標準試料)が用いられる。
第1検量線作成処理部151は、第1標準試料を用いて測定を行うことにより、検出器13からの検出信号に基づいて、波長λの光を第1標準試料に照射したときの吸光度と第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第1検量線を作成する。第1検量線作成処理部151により作成された第1検量線のデータは、記憶部18に記憶される。
第2検量線作成処理部152は、第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料を用いて測定を行うことにより、検出器13からの検出信号に基づいて、波長λの光を第2標準試料に照射したときの吸光度と第2標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を作成する。第2検量線作成処理部152により作成された第2検量線のデータは、記憶部18に記憶される。
濃度測定処理部153は、記憶部18に記憶されている第1検量線又は第2検量線を用いて、未知試料中の対象成分の濃度を測定する処理を行う。具体的には、濃度測定処理部153は、オートサンプラ(図示せず)から原子化部12に未知試料を供給し、原子化された未知試料を通過した光を検出する検出器13からの検出信号に基づいて、未知試料中の対象成分の濃度を測定する。濃度測定処理部153は、光源部11から出力される光の波長を切り替える処理も行う。
本実施形態では、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満であるか否かに応じて、第1検量線又は第2検量線のいずれかを用いた測定が行われる。具体的には、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合、すなわち未知試料が低濃度の場合には、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度と第1検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される。一方、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合、すなわち未知試料が高濃度の場合には、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度と第2検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される。
また、本実施形態では、濃度測定処理部153による測定結果に基づいて、第2検量線作成処理部152が第2検量線を作成する処理を行うようになっている。具体的には、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合に、第2検量線作成処理部152が第2検量線を作成して記憶部18に記憶させる。すなわち、複数の未知試料を測定する場合に、波長λの光を照射したときの吸光度が閾値以上となる高濃度の未知試料がなければ、第2検量線作成処理部152は第2検量線を作成しないようになっている。
その結果、濃度測定処理部153は、複数の未知試料の中に波長λの光を照射したときの吸光度が閾値以上となる高濃度の未知試料がなければ、第2検量線を用いた測定を行わない。すなわち、濃度測定処理部153は、複数の未知試料のうち、波長λの光を照射したときの吸光度が閾値以上である高濃度の未知試料にのみ波長λの光を照射させ、そのときの吸光度と第2検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する。
5.濃度測定処理
図5は、複数の未知試料の濃度を測定する際の制御部15による処理の流れを示したフローチャートである。
複数の未知試料の濃度を測定する際には、まず、第1標準試料を用いて第1検量線が作成される(ステップS101:第1検量線作成ステップ)。そして、それぞれの未知試料について、第1検量線を用いた波長λの光による測定が行われる(ステップS102)。すなわち、複数の未知試料が原子化部12に順次供給され、原子化された未知試料を通過した波長λの光を検出する検出器13からの検出信号と、第1検量線とに基づいて、未知試料中の対象成分の濃度が測定される。
このとき、検出器13からの検出信号に基づいて算出される各未知試料の吸光度が、所定の閾値と比較される。その結果、複数の未知試料の中に吸光度が閾値以上の高濃度の未知試料がなければ(ステップS103でNo)、ステップS102で測定した各未知試料中の対象成分の濃度が測定結果となる。
一方、複数の未知試料の中に吸光度が閾値以上の高濃度の未知試料があれば(ステップS103でYes)、第2標準試料を用いて第2検量線が作成される(ステップS104:第2検量線作成ステップ)。そして、複数の未知試料のうち、波長λの光を照射したときの吸光度が閾値以上である高濃度の未知試料についてのみ、第2検量線を用いた波長λの光による測定が行われる(ステップS105)。
すなわち、光源部11から照射される光が波長λから波長λに切り替えられ、高濃度の未知試料のみが再び原子化部12に順次供給される。そして、原子化された未知試料を通過した波長λの光を検出する検出器13からの検出信号と、第2検量線とに基づいて、高濃度の未知試料中の対象成分の濃度が測定される。ステップS102,S103,S105は、未知試料中の対象成分の濃度を測定するための濃度測定ステップを構成している。
6.作用効果
(1)本実施形態では、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には(ステップS103でNo)、検量線の直線性が高い範囲で測定できるため、従来と同様に、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度と第1検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる(ステップS102)。一方、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合には(ステップS103でYes)、波長λとは異なる波長λの光を未知試料に照射することにより、吸光度を低下させることができる。この場合でも、第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と第2標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を用いることにより、未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる(ステップS105)。
このように、未知試料の吸光度に応じて未知試料に照射する光の波長を波長λ又は波長λに切り替えることにより、高濃度の未知試料であっても精度よく測定を行うことができる。また、複数の未知試料を測定する場合に、それぞれの試料を希釈したりする必要がないため、希釈の誤差を防止することができるとともに、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
(2)また、本実施形態では、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合(ステップS103でYes)にのみ第2検量線が作成される(ステップS104)。したがって、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には(ステップS103でNo)、第2検量線を作成する必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
(3)さらに、本実施形態では、複数の未知試料を測定する場合に、波長λの光を照射したときの吸光度が閾値以上である未知試料にのみ波長λの光が照射され、そのときの吸光度と第2検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度が測定される(ステップS105)。したがって、複数の未知試料を測定する場合に、波長λの光を各未知試料に照射したときの吸光度がいずれも閾値未満である場合には(ステップS103でNo)、未知試料に照射する光の波長を波長λから波長λに切り替える必要がないため、測定の手順が煩雑になるのを防止することができる。
7.変形例
以上の実施形態では、波長λの光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合(ステップS103でYes)にのみ第2検量線が作成されるような構成について説明した(ステップS104)。しかし、このような構成に限らず、第1検量線及び第2検量線を予め作成して記憶部18に記憶させ、必要なときだけ第2検量線を用いて未知試料の測定を行うような構成であってもよい。
また、以上の実施形態では、フレーム2中で試料を原子化させるフレーム式の原子吸光分光光度計について説明した。しかし、本発明は、フレーム式に限らず、例えばファーネス式などの他の方式を用いた原子吸光分光光度計にも適用可能である。
また、以上の実施形態では、光源部11で波長を切り替えている(前分光)が、原子化部12と検出器13の間で波長を切り替える(後分光)ことにしてもよい。
1 原子吸光分光光度計
2 フレーム
11 光源部
12 原子化部
13 検出器
14 測光部
15 制御部
16 表示部
17 操作部
18 記憶部
111 モノクロメータ
121 バーナ
150 検量線作成処理部
151 第1検量線作成処理部
152 第2検量線作成処理部
153 濃度測定処理部

Claims (4)

  1. 原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光分光光度計であって、
    前記光の波長として、第1の波長および当該第1の波長とは異なる第2の波長が設定され、
    前記第1の波長の光を第1標準試料に照射したときの吸光度と前記第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第1検量線、及び、前記第2の波長の光を前記第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と前記第2標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を記憶する記憶部と、
    前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第1検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第2の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定処理部と、
    前記第1検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第1検量線作成処理部と、
    前記第2検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第2検量線作成処理部とを備え、
    前記第2検量線作成処理部は、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第2検量線を作成して前記記憶部に記憶させることを特徴とする原子吸光分光光度計。
  2. 前記濃度測定処理部は、複数の未知試料のうち、前記第1の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第2の波長の光を照射させ、そのときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項1に記載の原子吸光分光光度計。
  3. 原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光測定方法であって、
    前記光の波長として、第1の波長および当該第1の波長とは異なる第2の波長が設定され、
    前記第1の波長の光を第1標準試料に照射したときの吸光度と前記第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第1検量線を作成する第1検量線作成ステップと、
    前記第2の波長の光を前記第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と前記第2標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を作成する第2検量線作成ステップと、
    前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第1検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第2の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定ステップとを含み、
    前記第2検量線作成ステップでは、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第2検量線を作成することを特徴とする原子吸光測定方法。
  4. 前記濃度測定ステップでは、複数の未知試料のうち、前記第1の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第2の波長の光を照射し、そのときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項3に記載の原子吸光測定方法。
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