JP7026117B2 - 原子吸光分光光度計及び原子吸光測定方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係る原子吸光分光光度計1の構成例を示した概略図である。この原子吸光分光光度計1は、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスを燃焼させることによりフレーム2を形成し、そのフレーム2中に試料を噴霧することにより原子化された試料の原子吸光を測定するためのフレーム式原子吸光分光光度計である。
図2は、原子化部12の具体的構成を示した斜視図である。原子化部12には、燃料ガス及び助燃ガスの混合ガスを燃焼させるためのバーナ121が備えられている。バーナ121は、例えば直方体などの長尺形状で形成されており、その長尺方向が水平に延びるように配置されている。
図3は、光源部11の光源から出射される光の輝線スペクトルを簡略的に示した図である。輝線スペクトルには、複数の波長(この例では波長λ1と波長λ2)にピークが現れる。通常、対象成分(元素)に対して最も感度が高い波長(例えば波長λ1)の光が出射されるように、モノクロメータ111による波長の切り替えが行われる。
図4は、制御部15の具体的構成を示したブロック図である。制御部15は、例えばCPU(Central Processing Unit)を含む構成である。制御部15は、CPUがプログラムを実行することにより、検量線作成処理部150、濃度測定処理部153などとして機能する。検量線作成処理部150には、第1検量線作成処理部151と第2検量線作成処理部152とが含まれる。制御部15は、例えばハードディスク又はRAM(Random Access Memory)により構成される記憶部18に対して、データの入出力を行うことができるようになっている。
図5は、複数の未知試料の濃度を測定する際の制御部15による処理の流れを示したフローチャートである。
(1)本実施形態では、波長λ1の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には(ステップS103でNo)、検量線の直線性が高い範囲で測定できるため、従来と同様に、波長λ1の光を未知試料に照射したときの吸光度と第1検量線とに基づいて未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる(ステップS102)。一方、波長λ1の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合には(ステップS103でYes)、波長λ1とは異なる波長λ2の光を未知試料に照射することにより、吸光度を低下させることができる。この場合でも、第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と第2標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を用いることにより、未知試料中の対象成分の濃度を精度よく測定することができる(ステップS105)。
以上の実施形態では、波長λ1の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値以上である場合(ステップS103でYes)にのみ第2検量線が作成されるような構成について説明した(ステップS104)。しかし、このような構成に限らず、第1検量線及び第2検量線を予め作成して記憶部18に記憶させ、必要なときだけ第2検量線を用いて未知試料の測定を行うような構成であってもよい。
2 フレーム
11 光源部
12 原子化部
13 検出器
14 測光部
15 制御部
16 表示部
17 操作部
18 記憶部
111 モノクロメータ
121 バーナ
150 検量線作成処理部
151 第1検量線作成処理部
152 第2検量線作成処理部
153 濃度測定処理部
Claims (4)
- 原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光分光光度計であって、
前記光の波長として、第1の波長および当該第1の波長とは異なる第2の波長が設定され、
前記第1の波長の光を第1標準試料に照射したときの吸光度と前記第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第1検量線、及び、前記第2の波長の光を前記第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と前記第2標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を記憶する記憶部と、
前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第1検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第2の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定処理部と、
前記第1検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第1検量線作成処理部と、
前記第2検量線を作成して前記記憶部に記憶させる第2検量線作成処理部とを備え、
前記第2検量線作成処理部は、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第2検量線を作成して前記記憶部に記憶させることを特徴とする原子吸光分光光度計。 - 前記濃度測定処理部は、複数の未知試料のうち、前記第1の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第2の波長の光を照射させ、そのときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項1に記載の原子吸光分光光度計。
- 原子化された未知試料に光を照射し、吸光度に基づいて未知試料中の対象成分の濃度を測定する原子吸光測定方法であって、
前記光の波長として、第1の波長および当該第1の波長とは異なる第2の波長が設定され、
前記第1の波長の光を第1標準試料に照射したときの吸光度と前記第1標準試料中の対象成分の濃度との関係を表す第1検量線を作成する第1検量線作成ステップと、
前記第2の波長の光を前記第1標準試料よりも高濃度の第2標準試料に照射したときの吸光度と前記第2標準試料中の前記対象成分の濃度との関係を表す第2検量線を作成する第2検量線作成ステップと、
前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が閾値未満である場合には、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第1検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定し、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合には、前記第2の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定する濃度測定ステップとを含み、
前記第2検量線作成ステップでは、前記第1の波長の光を未知試料に照射したときの吸光度が前記閾値以上である場合に、前記第2検量線を作成することを特徴とする原子吸光測定方法。 - 前記濃度測定ステップでは、複数の未知試料のうち、前記第1の波長の光を照射したときの吸光度が前記閾値以上である未知試料にのみ前記第2の波長の光を照射し、そのときの吸光度と前記第2検量線とに基づいて未知試料中の前記対象成分の濃度を測定することを特徴とする請求項3に記載の原子吸光測定方法。
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CN108709864A (zh) | 一种多功能原子光谱仪 |
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