CN107271886B - 一种飞针测试机的快速对位方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种飞针测试机的快速对位方法，所述飞针测试机包含一个或者多个测试轴，其中，至少一个测试轴上设有测试探针和CCD相机，本方法通过CCD相机的初始位置到PCB板的板边的距离和板边到对位点的距离，快速定位到对位点在X轴方向的坐标，CCD相机在所述对位点X轴坐标处的Z轴方向移动，便可迅速定位到对位点，并对其对位，继而对其他对位点对位。本发明通过以PCB板的板边作为参照物，快速寻找到PCB板的对位点，有效提升了工作效率；同时，降低员工的劳动强度。

Description

一种飞针测试机的快速对位方法
技术领域
本发明涉及一种电路板测试方法，尤其涉及一种飞针测试机的快速对位方法。
背景技术
飞针测试机一般包含四个可独立移动的测试轴，两两分布在PCB板夹具的两侧，所述测试轴含有测试探针，所述测试探针在软件的控制下在待测PCB板的正反两面区域范围内移动并接触测试点，电测板卡通过测试探针给测试点施加一定的电压、电流，得到不同的信号反馈，从而判断待测PCB板线路的通断情况。
飞针测试机在测试过程中，首先调取测试资料，放置好PCB板，然后利用CCD相机对对位点进行对位，大多数情况下测试资料预设有对位点，在测试时只需在PCB板上进行核对，核对完成后开始测板，测试完成后取板；所述CCD相机寻找对位点进行对位比较盲目，需要花费较长的时间；同时，后续测试其他相同的PCB板，CCD相机仍是继续盲目的对对位点核对，花费时间过长，生产效率较低。
因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：提供一种飞针测试机的快速对位方法，替换普通飞针测试机对位时盲目寻找对位点的方法，减少飞针测试机对位所需的时间，提升飞针测试机的工作效率。
本发明的技术方案如下：提供一种飞针测试机的快速对位方法，所述飞针测试机包含一个或者多个测试轴，其中，至少一个测试轴上设有测试探针和CCD相机，所述对位方法包括如下步骤：
第一步：任取一具有规则外形的待测PCB板，并安装在飞针测试机的夹具中；
第二步：调取所述PCB板对应的测试资料，所述测试资料包含有PCB板的板边到第一对位点在X轴方向的距离，所述测试资料还包括各对位点之间的角度和距离、CCD相机与测试探针之间的角度和距离和同一面测试轴在原点时的距离等参数；
第三步：启动飞针测试机，各测试轴回到各自的原点，启动带有CCD相机的测试轴使其朝X轴方向移动，利用CCD相机寻找所述PCB板的板边；当CCD相机捕捉到PCB板的板边时，测试软件将根据此时带有CCD相机的测试轴从原点到该位置位移与PCB板边到第一对位点在X轴方向的距离进行计算，从而确定第一对位点在X轴方向的位置参数，CCD相机移动至第一对位点在X轴上的投影位置后，继续在Z轴方向移动，从而捕捉到第一对位点，获取了第一对位点的具体位置参数。
进一步地，所述第三步还包括在捕捉到第一对位点后，根据所述PCB板的测试资料，捕捉其余的对位点并获得具体的位置参数。
进一步地，所述测试探针根据CCD相机所取得的数据与测试探针和CCD相机之间的预设数据来与对位点对位。
进一步地，所述测试轴分为用于测试PCB板正面的正面测试轴与用于测试PCB板背面的背面测试轴，所述正面测试轴包括一个带有CCD相机的测试轴，所述背面测试轴包括一个带有CCD相机的测试轴，仅带有测试探针的测试轴上的测试探针与对位点的对位通过预设数据和同一面的带有CCD相机的测试轴所取得数据来实现。
进一步地，若PCB板预设的对位点处于镀铜孔或焊盘过于密集的区域时，则需重新定义对位点，步骤如下：
(1)将PCB板装夹在飞针测试机内，启动飞针测试机，各测试轴回到原点；
(2)测试轴在PCB板的区域范围内移动，CCD相机在所述PCB板查找合适的对位点，在操作软件上微调CCD相机的光标使得光标的原点与该对位点的几何中心相重合，将该对位点设置成第一对位点；
(3)根据(2)的流程，在PCB板上与所述第一对位点成斜对角上方靠近PCB板的板边处合适的点设置为第二对位点，在第二对位点下方合适的点设置为第三对位点。
采用上述方案，本发明提供一种飞针测试机的快速对位方法，通过CCD相机获取CCD相机原点位置到PCB板的板边的距离，再与PCB板的板边到第一对位点的距离计算，获得第一对位点在X轴方向的坐标，CCD相机在第一对位点X轴坐标处的Z轴方向移动，便可以捕捉到第一对位点，从而获得第一对位点的具体位置信息，继而捕捉其他对位点；所述对位方法可快速直接的捕捉到对位点，提升工作效率。
附图说明
图1为本发明的原理图；
图2为本发明的原理图(轴侧视)。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例，对本发明进行详细说明。
请参阅图1，本发明提供一种飞针测试机的快速对位方法，所述飞针测试机包含一个或者多个测试轴，其中，至少一个测试轴上设有测试探针和CCD相机，所述对位方法包括如下步骤：
第一步：任取一具有规则外形的待测PCB板10，并安装在飞针测试机的夹具1中；
第二步：调取所述PCB板10对应的测试资料，所述测试资料包含有PCB板10的板边到第一对位点5在X轴方向的距离ΔL，所述测试资料还包括各对位点之间的角度和距离、CCD相机3与测试探针4之间的角度和距离和同一面测试轴在原点时的距离等参数；
第三步：启动飞针测试机，各测试轴回到各自的原点，启动带有CCD相机3的测试轴使其朝X轴方向移动，利用CCD相机3寻找所述PCB板10的板边；当CCD相机3捕捉到PCB板10的板边时，测试软件将根据此时带有CCD相机3的测试轴从原点到该位置位移L与PCB板10的板边到第一对位点5在X轴方向的距离ΔL进行计算，从而确定第一对位点5在X轴方向的位置参数，CCD相机3移动至第一对位点5在X轴上的投影位置后，继续在Z轴方向移动，从而捕捉到第一对位点5，获取了第一对位点5的具体位置参数。
所述第三步还包括在捕捉到第一对位点5后，根据所述PCB板10的测试资料，捕捉其余的对位点并获得具体的位置参数。
所述测试探针4根据CCD相机3所取得的数据与测试探针4和CCD相机3之间的预设数据来与对位点对位。
所述测试轴分为用于测试PCB板10正面的正面测试轴与用于测试PCB板10背面的背面测试轴，所述正面测试轴包括一个带有CCD相机3的测试轴，所述背面测试轴包括一个带有CCD相机3的测试轴，仅带有测试探针4的测试轴上的测试探针4与对位点的对位通过预设数据和同一面的带有CCD相机3的测试轴所取得数据来实现。
若PCB板10预设的对位点处于镀铜孔或焊盘过于密集的区域时，则需重新定义对位点，步骤如下：
(1)将PCB板10装夹在飞针测试机内，启动飞针测试机，各测试轴回到原点；
(2)测试轴在PCB板10的区域范围内移动，CCD相机3在所述PCB板10查找合适的对位点，在操作软件上微调CCD相机3的光标使得光标的原点与该对位点的几何中心相重合，将该对位点设置成第一对位点5；
(3)根据(2)的流程，在PCB板10上与所述第一对位点成斜对角上方靠近PCB板10的板边处合适的点设置为第二对位点6，在第二对位点6下方合适的点设置为第三对位点7。
综上所述，本发明提供一种飞针测试机的快速对位方法，通过CCD相机获取CCD相机原点位置到PCB板的板边的距离，再与PCB板的板边到第一对位点的距离计算，获得第一对位点在X轴方向的坐标，CCD相机在第一对位点X轴坐标处的Z轴方向移动，便可以捕捉到第一对位点，从而获得第一对位点的具体位置信息，继而捕捉其他对位点；所述对位方法可快速直接的捕捉到对位点，提升工作效率。
以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种飞针测试机的快速对位方法，所述飞针测试机包含一个或者多个测试轴，其中，至少一个测试轴设有测试探针和CCD相机，其特征在于，所述对位方法包括如下步骤：
第一步：任取一具有规则外形的待测PCB板，并安装在飞针测试机的夹具中；
第二步：调取所述PCB板对应的测试资料，所述测试资料包含有PCB板的板边到第一对位点在X轴方向的距离；
第三步：启动飞针测试机，各测试轴回到各自的原点，启动带有CCD相机的测试轴使其朝X轴方向移动，利用CCD相机寻找所述PCB板的板边；当CCD相机捕捉到PCB板的板边时，测试软件将根据此时带有CCD相机的测试轴从原点到该位置位移与PCB板边到第一对位点在X轴方向的距离进行计算，从而确定第一对位点在X轴方向的位置参数，CCD相机移动至第一对位点在X轴上的投影位置后，继续在Z轴方向移动，从而捕捉到第一对位点，获取第一对位点的具体位置参数。
2.根据权利要求1所述的一种飞针测试机的快速对位方法，其特征在于，所述第三步还包括在捕捉到第一对位点后，根据所述PCB板的测试资料，捕捉其余的对位点并获得具体的位置参数；所述PCB板的测试资料还包括各对位点之间的角度和距离、CCD相机与测试探针之间的角度和距离和同一面测试轴在原点时的距离。
3.根据权利要求1所述的一种飞针测试机的快速对位方法，其特征在于，所述测试探针根据CCD相机所取得的数据与测试探针和CCD相机之间的预设数据来与对位点对位。
4.根据权利要求1所述的一种飞针测试机的快速对位方法，其特征在于，所述测试轴分为用于测试PCB板正面的正面测试轴与用于测试PCB板背面的背面测试轴，所述正面测试轴包括一个带有CCD相机的测试轴，所述背面测试轴包括一个带有CCD相机的测试轴，仅带有测试探针的测试轴上的测试探针与对位点的对位通过预设数据和同一面的带有CCD相机的测试轴所取得数据来实现。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110736910B (zh) * 2018-07-18 2022-04-19 深圳市大族数控科技股份有限公司 Pcb的飞针测试方法、测试装置、测试设备及存储介质
CN111562413A (zh) * 2019-02-14 2020-08-21 均豪精密工业股份有限公司 检测方法及检测系统
CN110726669B (zh) * 2019-08-31 2022-05-24 苏州国科测试科技有限公司 一种飞针测试设备用摄像头组件及飞针测试设备
CN113701637B (zh) * 2021-09-29 2024-01-30 牧德科技股份有限公司 电测治具扎针位置估算方法
CN114441942B (zh) * 2022-01-28 2023-10-03 苏州格拉尼视觉科技有限公司 Pcb板的飞针测试方法、系统、设备及存储介质

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1285615A (zh) * 1999-08-19 2001-02-28 富士通株式会社 测试具有许多半导体器件的晶片的探针卡和方法
JP2014190898A (ja) * 2013-03-28 2014-10-06 Hioki Ee Corp データ生成装置およびデータ生成方法
CN204495964U (zh) * 2015-01-30 2015-07-22 宁波科瑞特光电技术有限公司 一种ccd精确定位的自动化针测设备
KR20150095377A (ko) * 2014-02-13 2015-08-21 양 전자시스템 주식회사 평판 디스플레이용 전기적 특성 시험 장치의 프로브 카드 자동위치 보정 장치
CN104914375A (zh) * 2015-05-11 2015-09-16 南京协辰电子科技有限公司 飞针测试机的偏差校正方法
CN105223389A (zh) * 2015-09-28 2016-01-06 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种飞针测试机的对位方法
CN105486995A (zh) * 2015-12-07 2016-04-13 杭州长川科技股份有限公司 全自动探针台图像定位装置及视觉对准方法
CN205246712U (zh) * 2015-11-12 2016-05-18 杭州长川科技股份有限公司 全自动探针台图像定位装置
CN105785257A (zh) * 2016-04-13 2016-07-20 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种飞针测试机的校正方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6423678B2 (ja) * 2014-10-07 2018-11-14 東京エレクトロン株式会社 基板検査装置及びその制御方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1285615A (zh) * 1999-08-19 2001-02-28 富士通株式会社 测试具有许多半导体器件的晶片的探针卡和方法
JP2014190898A (ja) * 2013-03-28 2014-10-06 Hioki Ee Corp データ生成装置およびデータ生成方法
KR20150095377A (ko) * 2014-02-13 2015-08-21 양 전자시스템 주식회사 평판 디스플레이용 전기적 특성 시험 장치의 프로브 카드 자동위치 보정 장치
CN204495964U (zh) * 2015-01-30 2015-07-22 宁波科瑞特光电技术有限公司 一种ccd精确定位的自动化针测设备
CN104914375A (zh) * 2015-05-11 2015-09-16 南京协辰电子科技有限公司 飞针测试机的偏差校正方法
CN105223389A (zh) * 2015-09-28 2016-01-06 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种飞针测试机的对位方法
CN205246712U (zh) * 2015-11-12 2016-05-18 杭州长川科技股份有限公司 全自动探针台图像定位装置
CN105486995A (zh) * 2015-12-07 2016-04-13 杭州长川科技股份有限公司 全自动探针台图像定位装置及视觉对准方法
CN105785257A (zh) * 2016-04-13 2016-07-20 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种飞针测试机的校正方法

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