CN107146564B - 用于goa电路的测试装置、方法及显示器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于GOA电路的测试装置、方法及显示器，其中，GOA电路包括输出晶体管和上拉节点，测试装置包括：设置在上拉节点与输出晶体管之间的第一开关电路，第一开关电路包括第一信号接收线和第一开关；设置在输出晶体管与GOA电路的输出端之间的第二开关电路，第二开关电路包括第二信号接收线和第二开关；测试单元，测试单元用于在对GOA电路进行测试时控制GOA电路不工作，并向第一开关电路施加第一测试开关信号和向第二开关电路施加第二测试开关信号，以及根据第一开关和第二开关的开关时序以及GOA电路对应的显示区域的显示状态判断GOA电路的异常类型。由此，提高了GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单。

Description

用于GOA电路的测试装置、方法及显示器

技术领域

本发明涉及显示器领域，特别涉及一种用于GOA电路的测试装置、一种显示器和一种用于GOA电路的测试方法。

背景技术

随着TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)竞争日益激烈，低成本和窄边框等已成为LCD产品的必备条件，因此，GOA(Gatedriver on Array，阵列基板栅极驱动)也成了行业现在最常用的电路。它不仅可以实现LCD窄边框，同时可以省去栅极驱动IC，可有效降低成本。

如图1所示，相关技术中，CLK信号需经过M3输出gate信号，如果M3的尺寸太小，则gate信号对应的波形的上升时间和下降时间延时会很大，同时gate信号作为下一级GOA电路的输入，导致下一级GOA电路无法打开，LCD会出现部分显示的情况。如果M3的尺寸太大，对工艺要求高，同时，M3容易产生静电释放击伤，M3的特性容易出现异常，且在高温或者低温下，M3的特性也会产生变化。尤其是在一些低温条件试验中，M3的特性出现异常的概率更高。因此，在此类分析问题时，往往要测试M3的特性确定问题点，但是由于GOA电路太小，在测试M3的特性时非常麻烦。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种用于GOA电路的测试装置，其能够有效提高GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单，不增加成本。

本发明的第二个目的在于提出一种显示器。

本发明的第三个目的在于提出一种用于GOA电路的测试方法。

为实现上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种用于GOA电路的测试装置，所述GOA电路包括输出晶体管和上拉节点，所述测试装置包括：第一开关电路，所述第一开关电路设置在所述上拉节点与所述输出晶体管之间，所述第一开关电路包括第一信号接收线和第一开关，所述第一开关的栅极和源极连接到所述第一信号接收线，所述第一开关的漏极连接到所述输出晶体管的栅极和源极，所述输出晶体管的漏极作为所述GOA电路的输出端，所述第一信号接收线用于接收第一测试开关信号以控制所述第一开关的导通或关断；第二开关电路，所述第二开关电路设置在所述输出晶体管与所述GOA电路的输出端之间，所述第二开关电路包括第二信号接收线和第二开关，所述第二开关的栅极和源极连接到所述第二信号接收线，所述第二开关的漏极与所述GOA电路的输出端相连，所述第二信号接收线用于接收第二测试开关信号以控制所述第二开关的导通或关断；测试单元，所述测试单元用于在对所述GOA电路进行测试时控制所述GOA电路不工作，并向所述第一开关电路施加第一测试开关信号和向所述第二开关电路施加第二测试开关信号，以及根据所述第一开关和第二开关的开关时序以及所述GOA电路对应的显示区域的显示状态判断所述GOA电路的异常类型。

根据本发明实施例的用于GOA电路的测试装置，在对GOA电路进行测试时，通过测试单元控制GOA电路不工作，并向第一开关电路施加第一测试开关信号和向第二开关电路施加第二测试开关信号，进而根据第一开关和第二开关的开关时序以及GOA电路对应的显示区域的显示状态即可判断GOA电路的异常类型。即言，可不进行输出晶体管的特性测试即可判断GOA电路对应的显示区域和输出晶体管是否正常工作，且在不同温度环境下都可适用，由此，能够有效提高GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单，不增加成本，在用于显示器时，不影响显示器的正常工作。

另外，根据本发明上述实施例的用于GOA电路的测试装置还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于正常显示状态，所述测试单元则再控制所述第一开关导通和所述第二开关关断，并继续判断所述显示区域此时是否处于正常显示状态，其中，如果继续判断所述显示区域此时处于正常显示状态，所述测试单元则判断所述GOA电路发生上拉节点信号异常；如果继续判断所述显示区域此时处于异常显示状态，所述测试单元则判断所述GOA电路发生输出晶体管特性异常。

根据本发明的一个实施例，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于异常显示状态，所述测试单元则判断所述显示区域发生异常。

根据本发明的一个实施例，所述输出晶体管、所述第一开关和所述第二开关均为TFT，其能够使显示器具有高响应度、高亮度、高对比度等优点。

根据本发明的一个实施例，所述GOA电路为单边GOA电路或双边GOA电路。

进一步地，本发明提出了一种显示器，其包括上述实施例的用于GOA电路的测试装置。

本发明实施例的显示器，通过采用上述实施例的用于GOA电路的测试装置，能够有效提高GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单，不增加成本，不影响自身的正常工作。

为实现上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种用于GOA电路的测试方法，所述GOA电路包括输出晶体管和上拉节点，在所述上拉节点与所述输出晶体管之间设置有第一开关电路，在所述输出晶体管与所述GOA电路的输出端之间设置有第二开关电路，所述第一开关电路包括第一信号接收线和第一开关，所述第一开关的栅极和源极连接到所述第一信号接收线，所述第一开关的漏极连接到所述输出晶体管的栅极和源极，所述输出晶体管的漏极作为所述GOA电路的输出端，所述第一信号接收线用于接收第一测试开关信号以控制所述第一开关的导通或关断，所述第二开关电路包括第二信号接收线和第二开关，所述第二开关的栅极和源极连接到所述第二信号接收线，所述第二开关的漏极与所述GOA电路的输出端相连，所述第二信号接收线用于接收第二测试开关信号以控制所述第二开关的导通或关断，所述测试方法包括以下步骤：在对所述GOA电路进行测试时控制所述GOA电路不工作，并向所述第一开关电路施加第一测试开关信号和向所述第二开关电路施加第二测试开关信号；根据所述第一开关和第二开关的开关时序以及所述GOA电路对应的显示区域的显示状态判断所述GOA电路的异常类型。

根据本发明实施例的用于GOA电路的测试方法，在对GOA电路进行测试时，控制GOA电路不工作，并向第一开关电路施加第一测试开关信号和向第二开关电路施加第二测试开关信号，进而根据第一开关和第二开关的开关时序以及GOA电路对应的显示区域的显示状态即可判断GOA电路的异常类型。即言，可不进行输出晶体管的特性测试即可判断GOA电路对应的显示区域和输出晶体管是否正常工作，且在不同温度环境下都可适用，由此，能够有效提高GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单，不增加成本，在用于显示器时，不影响显示器的正常工作。

另外，根据本发明上述实施例的用于GOA电路的测试方法还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于正常显示状态，则再控制所述第一开关导通和所述第二开关关断，并继续判断所述显示区域此时是否处于正常显示状态，其中，如果继续判断所述显示区域此时处于正常显示状态，则判断所述GOA电路发生上拉节点信号异常；如果继续判断所述显示区域此时处于异常显示状态，则判断所述GOA电路发生输出晶体管特性异常。

根据本发明的一个实施例，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于异常显示状态，则判断所述显示区域发生异常。

根据本发明的一个实施例，所述输出晶体管、所述第一开关和所述第二开关均为TFT。

附图说明

图1是相关技术中GOA电路的拓扑图；

图2是根据本发明实施例的用于GOA电路的测试装置的方框图；

图3是根据本发明一个具体实施例的用于GOA电路的测试装置的拓扑图；

图4是根据本发明一个实施例的脉冲信号的示意图；

图5是根据本发明实施例的显示器的方框图；

图6是根据本发明实施例的用于GOA电路的测试方法的流程图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的用于GOA电路的测试装置、显示器和用于GOA电路的测试方法。

图2是根据本发明实施例的用于GOA电路的测试装置的结构示意图。

在本发明的实施例中，如图2所示，GOA电路1包括输出晶体管M3和上拉节点PU。测试装置包括：第一开关电路10、第二开关电路20和测试单元30。

其中，参见图3，第一开关电路10设置在上拉节点PU与输出晶体管M3之间，第一开关电路10包括第一信号接收线switch1和第一开关Q1，第一开关Q1的栅极和源极连接到第一信号接收线switch1，第一开关Q1的漏极连接到输出晶体管M3的栅极和源极，输出晶体管M3的漏极作为GOA电路1的输出端output，第一信号接收线switch1用于接收第一测试开关信号以控制第一开关Q1的导通或关断。第二开关电路20设置在输出晶体管M3与GOA电路1的输出端之间，第二开关电路20包括第一信号接收线switch2和第二开关Q2，第二开关Q2的栅极和源极连接到第一信号接收线switch2，第二开关Q2的漏极与GOA电路1的输出端output相连，第一信号接收线switch2用于接收第二测试开关信号以控制第二开关Q2的导通或关断。测试单元30用于在对GOA电路1进行测试时控制GOA电路1不工作，并向第一开关电路10施加第一测试开关信号和向第二开关电路20施加第二测试开关信号，以及根据第一开关Q1和第二开关Q2的开关时序以及GOA电路1对应的显示区域的显示状态判断GOA电路1的异常类型。

可选地，输出晶体管M3、第一开关Q1和第二开关Q2可均为TFT。

在本发明的一个实施例中，当第一开关Q1关断、第二开关Q2导通、且正常向GOA电路1提供数据信号时，如果GOA电路1对应的显示区域处于正常显示状态，测试单元30则再控制第一开关Q1导通和第二开关Q2关断，并继续判断显示区域此时是否处于正常显示状态。

其中，如果继续判断显示区域此时处于正常显示状态，测试单元30则判断GOA电路1发生上拉节点PU信号异常；如果继续判断显示区域此时处于异常显示状态，测试单元30则判断GOA电路1发生输出晶体管M3特性异常。

在本发明的另一个实施例中，当第一开关Q1关断、第二开关Q2导通、且正常向GOA电路1提供数据信号时，如果GOA电路1对应的显示区域处于异常显示状态，测试单元30则判断显示区域发生异常。

在本发明的实施例中，第一测试开关信号和第二测试开关信号可均为脉冲信号，如图3所示，其高电平为VGH，低电平为VGL。

具体而言，当GOA电路1对应的显示区域的显示状态正常时，如果测试单元30施加的第一测试开关信号和第二测试开关信号均为低电平VGL，则第一开关Q1和第二开关Q2均处于关断状态，GOA电路1的工作状态如图3虚线所示。

当GOA电路1对应的显示区域的显示状态异常时，如果对GOA电路1进行测试，即判断输出晶体管M3是否正常，则测试单元30控制GOA电路1不工作，即CLK与PU点均无信号。

此时，测试单元30可以先向第二开关电路20施加高电平VGH的第二测试开关信号，第二开关Q2导通，向第一开关电路10施加低电平VGL的第一测试开关信号，第一开关Q1关断，数据信号照常提供，检测显示区域的显示状态是否正常。如果显示区域的显示状态异常，则可判断显示区域本身存在异常；如果显示区域的显示状态正常，则可判断显示区域正常。

然后，测试单元30向第二开关电路20施加低电平VGL的第二测试开关信号，第二开关Q2关断，向第一开关电路10施加高电平VGH的第一测试开关信号，第一开关Q1导通，数据信号照常提供，再检测显示区域的显示状态是否正常。如果显示区域的显示状态异常，则可判断输出晶体管M3的特性存在异常；如果显示区域的显示状态正常，则可判断输出晶体管M3的特性正常，GOA电路1的异常是由于上拉节点PU处的信号异常造成的。

需要说明的是，在本发明的实施例中，GOA电路1可以为单边GOA电路，也可以为双边GOA电路。

综上，根据本发明实施例的用于GOA电路的测试装置，在对GOA电路进行测试时，通过测试单元控制GOA电路不工作，并向第一开关电路施加第一测试开关信号和向第二开关电路施加第二测试开关信号，进而根据第一开关和第二开关的开关时序以及GOA电路对应的显示区域的显示状态即可判断GOA电路的异常类型。即言，可不进行输出晶体管的特性测试即可判断GOA电路对应的显示区域和输出晶体管是否正常工作，且在不同温度环境下都可适用，由此，能够有效提高GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单，不增加成本，在用于显示器时，不影响显示器的正常工作。

图5是根据本发明实施例的显示器的方框图。如图5所示，该显示器1000，包括上述实施例的用于GOA电路的测试装置100。

本发明实施例的显示器，通过采用上述实施例的用于GOA电路的测试装置，能够有效提高GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单，不增加成本，不影响自身的正常工作。

另外，本发明实施例的显示器的其他构成及其作用对本领域的技术人员而言是已知的，为减少冗余，此处不做赘述。

图6是根据本发明实施例的用于GOA电路的测试方法的流程图。

在本发明的实施例中，参见图3，GOA电路包括输出晶体管M3和上拉节点PU，在上拉节点PU与输出晶体管M3之间设置有第一开关电路，在输出晶体管M3与GOA电路的输出端之间设置有第二开关电路，第一开关电路包括第一信号接收线switch1和第一开关Q1，第一开关Q1的栅极和源极连接到第一信号接收线switch1，第一开关Q1的漏极连接到输出晶体管的栅极和源极，输出晶体管M3的漏极作为GOA电路的输出端，第一信号接收线switch1用于接收第一测试开关信号以控制第一开关Q1的导通或关断，第二开关电路包括第二信号接收线switch2和第二开关Q2，第二开关Q2的栅极和源极连接到第二信号接收线switch2，第二开关Q2的漏极与GOA电路的输出端相连，第二信号接收线switch2用于接收第二测试开关信号以控制第二开关Q2的导通或关断。

其中，输出晶体管M3、第一开关Q1和第二开关Q2可均为TFT。

如图6所示，测试方法包括以下步骤：

S101，在对GOA电路进行测试时控制GOA电路不工作，并向第一开关Q1电路施加第一测试开关信号和向第二开关Q2电路施加第二测试开关信号。

S102，根据第一开关Q1和第二开关Q2的开关时序以及GOA电路对应的显示区域的显示状态判断GOA电路的异常类型。

在本发明一个实施例中，当第一开关Q1关断、第二开关Q2导通、且正常向GOA电路提供数据信号时，如果GOA电路对应的显示区域处于正常显示状态，则再控制第一开关Q1导通和第二开关Q2关断，并继续判断显示区域此时是否处于正常显示状态。

其中，如果继续判断显示区域此时处于正常显示状态，则判断GOA电路发生上拉节点信号异常；如果继续判断显示区域此时处于异常显示状态，则判断GOA电路发生输出晶体管特性异常。

进一步地，当第一开关Q1关断、第二开关Q2导通、且正常向GOA电路提供数据信号时，如果GOA电路对应的显示区域处于异常显示状态，则判断显示区域发生异常。

具体而言，当GOA电路对应的显示区域的显示状态正常时，如果施加的第一测试开关信号和第二测试开关信号均为低电平VGL，则第一开关Q1和第二开关Q2均处于关断状态，GOA电路的工作状态如图3虚线所示。

当GOA电路对应的显示区域的显示状态异常时，如果对GOA电路进行测试，即判断输出晶体管M3是否正常，则控制GOA电路不工作，即CLK与PU点均无信号。

此时，可以先向第二开关电路施加高电平VGH的第二测试开关信号，第二开关Q2导通，向第一开关电路施加低电平VGL的第一测试开关信号，第一开关Q1关断，数据信号照常提供，检测显示区域的显示状态是否正常。如果显示区域的显示状态异常，则可判断显示区域本身存在异常；如果显示区域的显示状态正常，则可判断显示区域正常。

然后，向第二开关电路施加低电平VGL的第二测试开关信号，第二开关Q2关断，向第一开关电路施加高电平VGH的第一测试开关信号，第一开关Q1导通，数据信号照常提供，再检测显示区域的显示状态是否正常。如果显示区域的显示状态异常，则可判断输出晶体管M3的特性存在异常；如果显示区域的显示状态正常，则可判断输出晶体管M3的特性正常，GOA电路的异常是由于上拉节点PU处的信号异常造成的。

需要说明的是，在本发明的实施例中，GOA电路可以为单边GOA电路，也可以为双边GOA电路。

综上，根据本发明实施例的用于GOA电路的测试方法，在对GOA电路进行测试时，控制GOA电路不工作，并向第一开关电路施加第一测试开关信号和向第二开关电路施加第二测试开关信号，进而根据第一开关和第二开关的开关时序以及GOA电路对应的显示区域的显示状态即可判断GOA电路的异常类型。即言，可不进行输出晶体管的特性测试即可判断GOA电路对应的显示区域和输出晶体管是否正常工作，且在不同温度环境下都可适用，由此，能够有效提高GOA电路异常分析的速度，且实现方法简单，不增加成本，在用于显示器时，不影响显示器的正常工作。

在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

需要说明的是，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种用于GOA电路的测试装置，其特征在于，所述GOA电路包括输出晶体管和上拉节点，所述测试装置包括：

第一开关电路，所述第一开关电路设置在所述上拉节点与所述输出晶体管之间，所述第一开关电路包括第一信号接收线和第一开关，所述第一开关的栅极和源极连接到所述第一信号接收线，所述第一开关的漏极连接到所述输出晶体管的栅极和源极，所述输出晶体管的漏极作为所述GOA电路的输出端，所述第一信号接收线用于接收第一测试开关信号以控制所述第一开关的导通或关断；

第二开关电路，所述第二开关电路设置在所述输出晶体管与所述GOA电路的输出端之间，所述第二开关电路包括第二信号接收线和第二开关，所述第二开关的栅极和源极连接到所述第二信号接收线，所述第二开关的漏极与所述GOA电路的输出端相连，所述第二信号接收线用于接收第二测试开关信号以控制所述第二开关的导通或关断；

测试单元，所述测试单元用于在对所述GOA电路进行测试时控制所述GOA电路不工作，并向所述第一开关电路施加第一测试开关信号和向所述第二开关电路施加第二测试开关信号，以及根据所述第一开关和第二开关的开关时序以及所述GOA电路对应的显示区域的显示状态判断所述GOA电路的异常类型。

2.如权利要求1所述的用于GOA电路的测试装置，其特征在于，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于正常显示状态，所述测试单元则再控制所述第一开关导通和所述第二开关关断，并继续判断所述显示区域此时是否处于正常显示状态，其中，

如果继续判断所述显示区域此时处于正常显示状态，所述测试单元则判断所述GOA电路发生上拉节点信号异常；

如果继续判断所述显示区域此时处于异常显示状态，所述测试单元则判断所述GOA电路发生输出晶体管特性异常。

3.如权利要求1或2所述的用于GOA电路的测试装置，其特征在于，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于异常显示状态，所述测试单元则判断所述显示区域发生异常。

4.如权利要求1或2所述的用于GOA电路的测试装置，其特征在于，所述输出晶体管、所述第一开关和所述第二开关均为TFT。

5.如权利要求1所述的用于GOA电路的测试装置，其特征在于，所述GOA电路为单边GOA电路或双边GOA电路。

6.一种显示器，其特征在于，包括如权利要求1-5中任一项所述的用于GOA电路的测试装置。

7.一种用于GOA电路的测试方法，其特征在于，所述GOA电路包括输出晶体管和上拉节点，在所述上拉节点与所述输出晶体管之间设置有第一开关电路，在所述输出晶体管与所述GOA电路的输出端之间设置有第二开关电路，所述第一开关电路包括第一信号接收线和第一开关，所述第一开关的栅极和源极连接到所述第一信号接收线，所述第一开关的漏极连接到所述输出晶体管的栅极和源极，所述输出晶体管的漏极作为所述GOA电路的输出端，所述第一信号接收线用于接收第一测试开关信号以控制所述第一开关的导通或关断，所述第二开关电路包括第二信号接收线和第二开关，所述第二开关的栅极和源极连接到所述第二信号接收线，所述第二开关的漏极与所述GOA电路的输出端相连，所述第二信号接收线用于接收第二测试开关信号以控制所述第二开关的导通或关断，所述测试方法包括以下步骤：

在对所述GOA电路进行测试时控制所述GOA电路不工作，并向所述第一开关电路施加第一测试开关信号和向所述第二开关电路施加第二测试开关信号；

根据所述第一开关和第二开关的开关时序以及所述GOA电路对应的显示区域的显示状态判断所述GOA电路的异常类型。

8.如权利要求7所述的用于GOA电路的测试方法，其特征在于，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于正常显示状态，则再控制所述第一开关导通和所述第二开关关断，并继续判断所述显示区域此时是否处于正常显示状态，其中，

如果继续判断所述显示区域此时处于正常显示状态，则判断所述GOA电路发生上拉节点信号异常；

如果继续判断所述显示区域此时处于异常显示状态，则判断所述GOA电路发生输出晶体管特性异常。

9.如权利要求7或8所述的用于GOA电路的测试方法，其特征在于，当所述第一开关关断、所述第二开关导通、且正常向所述GOA电路提供数据信号时，如果所述GOA电路对应的显示区域处于异常显示状态，则判断所述显示区域发生异常。

10.如权利要求7或8所述的用于GOA电路的测试方法，其特征在于，所述输出晶体管、所述第一开关和所述第二开关均为TFT。

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