CN107091795A - 粒子检测系统以及粒子的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种可应对测定环境的变化的粒子检测系统以及粒子的检测方法。本发明的粒子检测系统包括：流路(2)，其供含有粒子的样品液流动；检查装置(100)，其包括光源、光检测部及去噪滤波器，所述光源对样品液照射检查光，所述光检测部对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测并发出测定信号，所述去噪滤波器从测定信号中去除噪声；流量计(200)，其测定样品液的流量；输出装置(401)，其输出测定出的流量；输入装置(402)，其接受去噪滤波器要去除的噪声的频率的设定；以及控制部(301)，其按照来自输入装置(402)的输入来控制去噪滤波器要去除的噪声的频率。
Description
技术领域
本发明涉及检查技术，涉及一种粒子检测系统以及粒子的检测方法。
背景技术
作为测定液体中的物体的装置，有流式细胞仪(例如，参考专利文献1)、粒子计数器(例如，参考专利文献2)及荧光物质检测系统(例如，参考专利文献3)。
【现有技术文献】
【专利文献】
【专利文献1】日本专利4971451号公报
【专利文献2】日本专利特开2001-13058号公报
【专利文献3】国际公开第2010/080642号
发明内容
【发明要解决的问题】
另外，纯化水、制药用水及注射用水等的针对微生物的处理基准值在药典中有规定。处理基准值根据纯化水的用途而不同。例如，作为针对以无菌为前提的注射用水的活菌数的处理基准，0.1CFU/mL以下视为恰当，在生产注射用水时，要求一方面抑制水的消耗、另一方面以高灵敏度来检测微量的微生物。此外，作为针对纯化水的活菌数的处理基准，100CFU/mL以下视为恰当，基准比注射用水宽松。虽然生产纯化水时所要求的微生物的检测灵敏度比生产注射用水时所要求的灵敏度低，但要求每单位时间检查大量的纯化水。
本发明者等人注意到如下情况：像这样在检查液体中所含的微生物等粒子时，存在需要低处理量而灵敏度相对较高的粒子检测的情况和需要高处理量而灵敏度相对较低的粒子检测的情况。但专利文献1至3中所揭示的装置无法应对这种处理量和灵敏度的变化。因此，本发明的目的之一在于提供一种可应对测定环境的变化的粒子检测装置以及粒子的检测方法。
【解决问题的技术手段】
根据本发明的形态，提供一种粒子检测系统，其包括：(a)流路，其供含有粒子的样品液流动；(b)光源，其对样品液照射检查光；(c)光检测部，其对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测并发出测定信号；(d)去噪滤波器，其从测定信号中去除噪声；(e)流量计，其测定样品液的流量；(f)输出装置，其输出测定出的流量；(g)输入装置，其接受去噪滤波器要去除的噪声的频率的设定；以及(h)控制部，其按照来自输入装置的输入来控制去噪滤波器要去除的噪声的频率。
上述粒子检测系统可还包括流量调整装置，所述流量调整装置调整样品液的流量。在上述粒子检测系统中，输入装置可接受流量调整装置要调整的流量的设定，控制部可按照来自输入装置的输入来控制流量调整装置要设定的样品液的流量。
在上述粒子检测系统中，输入装置可接受去除了噪声之后的测定信号的检测脉冲的检测强度的阈值的设定。上述粒子检测系统可还包括脉冲检测部，所述脉冲检测部对去除了噪声之后的测定信号的阈值以上的强度的检测脉冲进行检测。在上述粒子检测系统中，控制部可按照来自输入装置的输入来控制脉冲检测部要设定的阈值。
此外，根据本发明的形态，提供一种粒子检测系统，其包括：(a)流路，其供含有粒子的样品液流动；(b)光源，其对样品液照射检查光；(c)光检测部，其对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测并发出测定信号；(d)去噪滤波器，其从测定信号中去除噪声；(e)流量计，其测定样品液的流量；以及(f)反馈控制部，其根据样品液的流量来控制去噪滤波器要去除的噪声的频率。
在上述粒子检测系统中，当样品液的流量增加时，反馈控制部可提高去噪滤波器要去除的噪声的频率，当样品液的流量减少时，反馈控制部可降低去噪滤波器要去除的噪声的频率。
上述粒子检测系统可还包括流量调整装置，所述流量调整装置调整样品液的流量。
上述粒子检测系统可还包括脉冲检测部，所述脉冲检测部对去除了噪声之后的测定信号的阈值以上的强度的检测脉冲进行检测。当样品液的流量增加时，反馈控制部可提高脉冲检测部要设定的阈值，当样品液的流量减少时，反馈控制部可降低阈值。
在上述粒子检测系统中，去噪滤波器可为低通滤波器或带通滤波器。此外，光检测部可包括光电倍增管。
进而，根据本发明的形态，提供一种粒子的检测方法，其包括如下操作：(a)将含有粒子的样品液流至流路；(b)对样品液照射检查光；(c)对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测并发出测定信号；(d)利用去噪滤波器从测定信号中去除噪声；(e)测定样品液的流量；(f)输出测定出的流量；(g)接受去噪滤波器要去除的噪声的频率的设定；以及(h)按照所接受的设定来控制去噪滤波器要去除的噪声的频率。
上述粒子的检测方法可还包括如下操作：接受流量调整装置要调整的样品液的流量的设定，按照所接受的设定来控制流量调整装置要设定的样品液的流量。
上述粒子的检测方法可还包括如下操作：接受去除了噪声之后的测定信号的检测脉冲的检测强度的阈值的设定，按照所接受的设定来检测阈值以上的检测脉冲。
进而，根据本发明的形态，提供一种粒子的检测方法，其包括如下操作：(a)将含有粒子的样品液流至流路；(b)对样品液照射检查光；(c)对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测并发出测定信号；(d)利用去噪滤波器从测定信号中去除噪声；(e)测定样品液的流量；以及(f)根据样品液的流量来控制去噪滤波器要去除的噪声的频率。
在上述粒子的检测方法的控制去噪滤波器要去除的噪声的频率的操作中，当样品液的流量增加时，可提高去噪滤波器要去除的噪声的频率，当样品液的流量减少时，可降低去噪滤波器要去除的噪声的频率。
上述粒子的检测方法可还包括如下操作：调整样品液的流量。
上述粒子的检测方法可还包括如下操作：对去除了噪声之后的测定信号的阈值以上的强度的检测脉冲进行检测。在对去除了噪声之后的测定信号的阈值以上的强度的检测脉冲进行检测的操作中，当样品液的流量增加时，可提高阈值，当样品液的流量减少时，可降低阈值。
在上述粒子的检测方法中，去噪滤波器可为低通滤波器或带通滤波器。可由光电倍增管检测反应光。
【发明的效果】
根据本发明，可提供一种可应对测定环境的变化的粒子检测装置以及粒子的检测方法。
附图说明
图1为表示本发明的第1实施方式的粒子检测系统的示意图。
图2为表示本发明的第1实施方式的粒子检测系统的检测装置的示意图。
图3为表示本发明的第2实施方式的粒子检测系统的示意图。
图4为表示本发明的第3实施方式的粒子检测系统的检测装置的示意图。
图5为表示本发明的第4实施方式的粒子检测系统的示意图。
图6为表示本发明的第5实施方式的粒子检测系统的示意图。
图7为表示本发明的第7实施方式的粒子检测系统的检测装置的示意图。
图8为表示本发明的第7实施方式的测定信号的例子的图表。
图9为表示本发明的第7实施方式的测定信号的例子的图表。
图10为表示本发明的第7实施方式的测定信号的例子的图表。
图11为表示本发明的第7实施方式的测定信号的例子的图表。
具体实施方式
下面，对本发明的实施方式进行说明。在以下的附图的记载中，以相同或类似的符号表示相同或类似的部分。但附图是示意性的。因而，具体的尺寸等应对照以下的说明来进行判断。此外，在附图相互之间，当然也包含相互的尺寸的关系、比率不同的部分。
(第1实施方式)
图1及图2所示的第1实施方式的粒子检测系统包括：流路2，其供含有粒子的样品液流动；检查装置100，其包括光源10、光检测部20、50以及去噪滤波器23、53，所述光源10对样品液照射检查光，所述光检测部20、50对由被照射到检查光的粒子产生的反应光进行检测而发出测定信号，所述去噪滤波器23、53从测定信号中去除噪声；流量计200，其测定样品液的流量；输出装置401，其输出测定出的流量；输入装置402，其接受去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率的设定；以及控制部301，其按照来自输入装置402的输入来控制去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。例如，控制部301包含在中央运算处理装置(CPU)300中。
在流路2中流动的样品液例如为在工厂中生产的纯水、制药用水及注射用水等纯化水，但不限定于这些液体。流路2例如经由取样口3而从主管道1中分支出来。
检查装置100设置在流路2上。如图2所示，光源10配备在检查装置100中。检查装置100包括：荧光测定器102，其对被照射到检查光的区域内所产生的包含微生物粒子及非微生物粒子的自体荧光的荧光波段的光的强度进行测定；以及散射光测定器105，其对被照射到检查光的区域内所产生的散射光进行测定。光检测部20及去噪滤波器23配备在荧光测定器102中。此外，光检测部50及去噪滤波器53配备在散射光测定器105中。光源10、荧光测定器102及散射光测定器105与图1所示的CPU 300电连接。
图2所示的光源10及光检测部20、50设置在壳体30内。在光源10上连接有对光源10供给电力的光源驱动电源11。在光源驱动电源11上连接有对供给至光源10的电力进行控制的电源控制装置12。流过图1所示的流路2之后的样品液在检查装置100内在图2所示的透明的检测池40中流动。流过检测池40之后的样品液例如排出至图1所示的流路4。
图2所示的光源10朝检测池40中的样品液的水流照射例如宽波段波长的检查光。作为光源10，例如可使用发光二极管(LED)及激光。检查光的波长例如为250至550nm。检查光可为可见光，也可为紫外光。在检查光为可见光的情况下，检查光的波长例如处于400至550nm的范围内，例如为405nm。在检查光为紫外光的情况下，检查光的波长例如处于300至380nm的范围内，例如为340nm。但检查光的波长不限定于此。
从光源10发出的检查光例如经由透镜而会聚于检测池40中。在检测池40内，有时将包含检查光得以会聚的点的区域称为检查区域。在检测池40中的样品液中含有微生物粒子的情况下，被照射到检查光的微生物粒子中所含的烟酰胺腺嘌呤二核苷酸及核黄素等会发出作为反应光的自体荧光。此外，在被照射到检查光的微生物粒子上会产生作为反应光的散射光。
微生物粒子所发出的自体荧光的波长及强度根据微生物粒子的种类而不同。此外，由微生物粒子产生的散射光的强度取决于微生物粒子的粒径。微生物粒子的粒径根据微生物粒子的每一种类而不同。因此，根据检测到的荧光的波长及强度以及散射光的强度，可确定样品液中所含的微生物粒子的种类。
此外，在样品液中含有非微生物粒子的情况下，某些非微生物粒子的材料也会使得非微生物粒子发出自体荧光。此外，不论粒子的材料如何，在被照射到检查光的粒子上都会产生散射光。
非微生物粒子所发出的自体荧光的波长及强度根据非微生物粒子的种类而不同。此外，由非微生物粒子产生的散射光的强度取决于非微生物粒子的粒径。还存在非微生物粒子的粒径根据非微生物粒子的每一种类而不同的情况。因此，根据检测到的荧光的波长及强度以及散射光的强度，可确定样品液中所含的非微生物粒子的种类。
荧光测定器102对微生物粒子及非微生物粒子所发出的自体荧光等荧光波段的光进行检测。荧光测定器102的光检测部20检测荧光波段的光。作为光检测部20，可使用光电倍增管及光电二极管等，当接收到光时，将光能转换为电能而发出电信号即测定信号。
在光检测部20上连接有对光检测部20中所产生的测定信号进行放大的放大器21。在放大器21上连接有对放大器21供给电力的放大器电源22。此外，在放大器21上连接有去噪滤波器23。当光检测部20检测到荧光时，测定信号中会出现具有宽度的检测脉冲。测定信号的噪声的频率通常比检测脉冲的频率高，因此，去噪滤波器23从测定信号中去除高频成分来而除噪声。作为去噪滤波器23，可使用低通滤波器或带通滤波器。在去噪滤波器23上连接有接收去除了噪声之后的测定信号并算出光检测部20所接收到的光的强度的光强度算出装置24。在光强度算出装置24上连接有保存光强度算出装置24所算出的光的强度的光强度存储装置25。
荧光测定器102例如连续进行荧光的测定并持续记录检测到的荧光的强度。
散射光测定器105对由被照射到检查光的微生物粒子及非微生物粒子产生的散射光进行检测。散射光测定器105的光检测部50检测散射光。作为光检测部50，可使用光电倍增管及光电二极管等，当接收到光时，将光能转换为电能而发出电信号即测定信号。
在光检测部50上连接有对光检测部50中所产生的测定信号进行放大的放大器51。在放大器51上连接有对放大器51供给电力的放大器电源52。此外，在放大器51上连接有去噪滤波器53。当光检测部50检测到散射光时，测定信号中会出现具有宽度的检测脉冲。测定信号的噪声的频率通常比检测脉冲的频率高，因此，去噪滤波器53从测定信号中去除高频成分而去除噪声。作为去噪滤波器53，可使用低通滤波器或带通滤波器。在去噪滤波器53上连接有接收去除了噪声之后的测定信号并算出光检测部50所接收到的光的强度的光强度算出装置54。在光强度算出装置54上连接有保存光强度算出装置54所算出的光的强度的光强度存储装置55。
散射光测定器105例如连续进行散射光的测定并持续记录检测到的散射光的强度。
图1所示的流量计200设置在流路4上，所述流路4供从检查装置100排出的样品液流动。流量计200测定在流路4中流动的样品液的流量。在流路4中流动的样品液的流量与在图2所示的检查装置100的检测池40中流动的样品液的流量大致相同。再者，图1所示的流量计200也可设置在检查装置100的上游。
作为输出装置401，可使用显示装置及打印机等。输出装置401输出流量计200所测定出的样品液的流量。
此处，图2所示的光检测部20、50所发出的测定信号的检测脉冲的宽度根据样品液的流量而变动。具体而言，当样品液的流量增多时，测定信号的检测脉冲的宽度存在变窄的倾向，当样品液的流量减少时，测定信号的检测脉冲的宽度存在变宽的倾向。换句话说，当样品液的流速加快时，测定信号的检测脉冲的宽度存在变窄的倾向，当样品液的流速变慢时，测定信号的检测脉冲的宽度存在变宽的倾向。
在图1所示的CPU 300上还连接有输入装置402。作为输入装置402，可使用键盘及鼠标等。输入装置402可接受去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率的输入。CPU 300的控制部301按照输入装置402所接受的去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率来控制去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。
根据第1实施方式的粒子检测系统，操作人员可根据输出至输出装置401的样品液的流量来控制去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。具体而言，在输出至输出装置401的样品液的流量增多的情况下，操作人员可经由输入装置402而提高去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。此外，在输出至输出装置401的样品液的流量减少的情况下，操作人员可经由输入装置402而降低去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。
此外，在第1实施方式的粒子检测系统中，通过降低去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率，可将测定信号的基线的波动平滑化。在光检测部20、50为光电倍增管的情况下，测定信号的基线的波动存在增大的倾向，而根据第1实施方式的粒子检测系统，这种波动也可加以平滑化。
再者，输出装置401也可以以选项形式输出操作人员能够输入的频率。在该情况下，操作人员可经由输入装置402而选择以选项形式输出的频率中的任一项。此外，也可在光强度存储装置25、55中记录所设定的频率。
(第2实施方式)
如图3所示，第2实施方式的粒子检测系统还包括流量调整装置210，所述流量调整装置210调整样品液的流量。流量调整装置210例如设置在流路4上。再者，流量调整装置210也可设置在检查装置100的上游。作为流量调整装置210，可使用能以电控制调整流量的阀门(阀)等。在第2实施方式中，输入装置402能够接受流量调整装置210要调整的流量的设定。控制部301按照来自输入装置402的输入来控制流量调整装置210要设定的样品液的流量。
第2实施方式的粒子检测系统的其他构成要素与第1实施方式相同，因此省略说明。
根据第2实施方式的粒子检测系统，操作人员可根据输出至输出装置401的样品液的流量来控制流量调整装置210要设定的样品液的流量。例如，在样品液为相较于处理量而言以品质为优先的液体的情况下，操作人员可经由输入装置402而减少样品液的流量，并且，操作人员可经由输入装置402而降低去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。
此外，在样品液为相较于品质而言以处理量为优先的液体的情况下，操作人员可经由输入装置402而加大样品液的流量，并且，操作人员可经由输入装置402而提高去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。
再者，输出装置401也可以以选项形式显示操作人员能够输入的频率和流量。在该情况下，操作人员可经由输入装置402而选择以选项形式输出的频率中的任一项和流量中的任一项。此外，也可在光强度存储装置25、55中记录所设定的频率和流量。
(第3实施方式)
如图4所示，第3实施方式的粒子检测系统还包括脉冲检测部26、56，所述脉冲检测部26、56对去除了噪声之后的测定信号中的强度为阈值以上的检测脉冲进行检测。具体而言，脉冲检测部26与去噪滤波器23连接，对来源于荧光波段的光的测定信号的检测脉冲进行检测。此外，脉冲检测部56与去噪滤波器53连接，对来源于散射光的测定信号的检测脉冲进行检测。
第3实施方式的粒子检测系统的其他构成要素与第2实施方式相同，因此省略说明。在第3实施方式中，图3所示的输入装置402可接受去除了噪声之后的测定信号的检测脉冲的检测强度的阈值的设定。控制部301按照来自输入装置402的输入来控制脉冲检测部26、56要设定的阈值。
根据第3实施方式的粒子检测系统，操作人员可根据输出至输出装置401的样品液的流量来控制图4所示的脉冲检测部26、56要设定的阈值。例如，在样品液为相较于处理量而言以品质为优先的液体的情况下，操作人员可经由输入装置402而减少样品液的流量，并且，操作人员可经由输入装置402而降低去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。此外，通过降低去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率，来源于噪声的测定信号的波动得以平滑化，因此可降低脉冲检测部26、56要设定的阈值而检测微弱的检测脉冲。因此，操作人员可经由输入装置402而降低脉冲检测部26、56要设定的阈值来提高检测脉冲的检测灵敏度。
如上所述，在粒子检测系统中，粒子通过被照射到检查光的区域时所获得的测定信号的检测脉冲的宽度根据样品液的流速而变化，在样品液的流速较快的情况下，来源于粒子的测定信号的检测脉冲的宽度变窄，在样品液的流速较慢的情况下，来源于粒子的测定信号的检测脉冲的宽度变宽。
另一方面，包含测定信号的基线的波动、来源于电路的噪声等的测定信号的背景噪声的频率大致固定，并不取决于样品液的流速，与检测脉冲相比，分布于高频侧。
因此，当减慢样品液的流速，并将去噪滤波器23、53允许通过的信号的频率设定于低频侧时，由于来源于粒子的检测脉冲为低频侧，因此不易被去噪滤波器23、53衰减，而背景噪声因与检测脉冲相比为高频侧，因此会被去噪滤波器23、53衰减，从而使得信噪比(SN比)提高。因此，可降低检测脉冲的检测强度的阈值来进行高灵敏度的检测。
此外，在样品液为相较于品质而言以处理量为优先的液体的情况下，操作人员可经由输入装置402而加大样品液的流量，并且，操作人员可经由输入装置402而提高去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率，并且，操作人员可经由输入装置402而提高脉冲检测部26、56要设定的阈值，从而降低检测脉冲的检测灵敏度。
再者，输出装置401也能以选项形式显示操作人员能够输入的频率、流量及阈值。在该情况下，操作人员可经由输入装置402而选择以选项形式输出的频率中的任一项、流量中的任一项以及阈值中的任一项。此外，也可在光强度存储装置25、55中记录所设定的频率、流量及阈值。
(第4实施方式)
第4实施方式的粒子检测系统中，如图5所示，CPU 300包括反馈控制部302，所述反馈控制部302根据样品液的流量来控制去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。反馈控制部302与流量计200连接，从流量计200接收样品液的流量的信息。当样品液的流量增加时，反馈控制部302提高去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率，当样品液的流量减少时，反馈控制部302降低去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。此时，反馈控制部302也可根据测定信号中出现的多个脉冲的宽度的平均值来控制去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。
第4实施方式的粒子检测系统的其他构成要素与第1实施方式相同，因此省略说明。根据第4实施方式的粒子检测系统，可根据样品液的流量来自动控制去噪滤波器23、53要去除的噪声的频率。
(第5实施方式)
如图6所示，第5实施方式的粒子检测系统还包括流量调整装置210，所述流量调整装置210调整样品液的流量。在第5实施方式中，在规定期间内检测到粒子的次数为规定次数以上的情况下，反馈控制部302以样品液的流量减少的方式控制流量调整装置210。此外，在规定期间内检测到粒子的次数不到规定次数的情况下，反馈控制部302以样品液的流量增多的方式控制流量调整装置210。
第5实施方式的粒子检测系统的其他构成要素与第4实施方式相同，因此省略说明。例如，在生产纯化水等的工厂中，当发生由微生物粒子引起的污染时，会在样品液中连续检测到微生物粒子。此时，通过利用流量调整装置210减少样品液的流量，能以高灵敏度来分析由粒子产生的反应光。
(第6实施方式)
与第5实施方式一样，第6实施方式的粒子检测系统包括图6所示的反馈控制部302，并且，与第3实施方式一样，包括对去除了噪声之后的测定信号的阈值以上的强度的检测脉冲进行检测的图4所示的脉冲检测部26、56。当样品液的流量增加时，反馈控制部302提高脉冲检测部26、56要设定的阈值而降低检测脉冲的检测灵敏度，当样品液的流量减少时，反馈控制部302降低阈值而提高检测脉冲的检测灵敏度。第6实施方式的粒子检测系统的其他构成要素与第3及第5实施方式相同，因此省略说明。
(第7实施方式)
第7实施方式的粒子检测系统中，如图7所示，荧光测定器102包括2个去噪滤波器23、27，散射光测定器105也包括2个去噪滤波器53、57。如图8所示，去噪前的测定信号中有时会出现高频噪声和基线的波动。如图9所示，去噪滤波器23、53从测定信号中去除高频噪声。此外，去噪滤波器27、57将如图10所示的测定信号的基线平滑化，从而生成如图11所示的高频噪声得以去除、基线得以平滑化的测定信号。去噪滤波器23、27、53、57要去除的噪声的频率根据样品液的流量而由反馈控制部302控制。
(其他实施方式)
如上所述，通过实施方式对本发明进行了记载，但构成本揭示的一部分的记述及附图不应理解为对本发明的限定。根据本揭示，本领域技术人员当明确各种替代实施方式、实施方式及运用技术。例如，去噪滤波器也可通过移动平均法来去除噪声。或者，去噪滤波器也可使用数字滤波器、无限脉冲响应(IIR)滤波器或有限脉冲响应(FIR)滤波器等。不管使用哪一种滤波器，根据与样品液的流量的变动相应的脉冲宽度的变动来酌情调整窗函数、透过频率的值即可。如此，当可理解本发明包含此处未记载的各种实施方式等。
【工业上的可利用性】
本发明可在医药用纯化水、食品用纯化水、饮料用纯化水及半导体装置制造用纯化水的制造现场等加以利用，但不限定于此。
符号说明
1 主管道
2、4 流路
3 取样口
10 光源
11 光源驱动电源
12 电源控制装置
20、50 光检测部
21、51 放大器
22、52 放大器电源
23、53、27、57 去噪滤波器
24、54 光强度算出装置
25、55 光强度存储装置
26、56 脉冲检测部
30 壳体
40 检测池
100 检查装置
102 荧光测定器
105 散射光测定器
200 流量计
210 流量调整装置
300 中央运算处理装置
301 控制部
302 反馈控制部
401 输出装置
402 输入装置。
Claims (10)
1.一种粒子检测系统，其特征在于，包括：
流路，其供含有粒子的样品液流动；
光源，其对所述样品液照射检查光；
光检测部，其对由被照射到所述检查光的粒子产生的反应光进行检测，并发出测定信号；
去噪滤波器，其从所述测定信号中去除噪声；
流量计，其测定所述样品液的流量；
输出装置，其输出测定出的流量；
输入装置，其接受所述去噪滤波器要去除的噪声的频率的设定；以及
控制部，其按照来自所述输入装置的输入来控制所述去噪滤波器要去除的噪声的频率。
2.根据权利要求1所述的粒子检测系统，其特征在于，
还包括流量调整装置，所述流量调整装置调整所述样品液的流量，
所述输入装置接受所述流量调整装置要调整的流量的设定，
所述控制部按照来自所述输入装置的输入来控制所述流量调整装置要设定的所述样品液的流量。
3.根据权利要求1或2所述的粒子检测系统，其特征在于，
所述输入装置接受去除了所述噪声之后的测定信号的检测脉冲的检测强度的阈值的设定，
该粒子检测系统还包括脉冲检测部，所述脉冲检测部对去除了所述噪声之后的测定信号的阈值以上的强度的检测脉冲进行检测，
所述控制部按照来自所述输入装置的输入来控制所述脉冲检测部要设定的所述阈值。
4.一种粒子检测系统，其特征在于，包括：
流路，其供含有粒子的样品液流动；
光源，其对所述样品液照射检查光；
光检测部，其对由被照射到所述检查光的粒子产生的反应光进行检测，并发出测定信号；
去噪滤波器，其从所述测定信号中去除噪声；
流量计，其测定所述样品液的流量；以及
反馈控制部，其根据所述样品液的流量来控制所述去噪滤波器要去除的噪声的频率。
5.根据权利要求4所述的粒子检测系统，其特征在于，
当所述样品液的流量增加时，所述反馈控制部提高所述去噪滤波器要去除的噪声的频率，当所述样品液的流量减少时，所述反馈控制部降低所述去噪滤波器要去除的噪声的频率。
6.根据权利要求4或5所述的粒子检测系统，其特征在于，
还包括流量调整装置，所述流量调整装置调整所述样品液的流量。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的粒子检测系统，其特征在于，
还包括脉冲检测部，所述脉冲检测部对去除了所述噪声之后的测定信号的阈值以上的强度的检测脉冲进行检测。
8.根据权利要求7所述的粒子检测系统，其特征在于，
当所述样品液的流量增加时，所述反馈控制部提高所述脉冲检测部要设定的所述阈值，当所述样品液的流量减少时，所述反馈控制部降低所述阈值。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的粒子检测系统，其特征在于，
所述去噪滤波器为低通滤波器或带通滤波器。
10.一种粒子的检测方法，其特征在于，包括如下操作：
将含有粒子的样品液流至流路；
对所述样品液照射检查光；
对由被照射到所述检查光的粒子产生的反应光进行检测，并发出测定信号；
利用去噪滤波器从所述测定信号中去除噪声；
测定所述样品液的流量；
输出测定出的流量；
接受所述去噪滤波器要去除的噪声的频率的设定；以及
按照所接受的设定来控制所述去噪滤波器要去除的噪声的频率。
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