CN106919280B - 检测装置及显示装置 - Google Patents

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Abstract

目的在于提供抑制保护层的气泡的检测装置及显示装置。检测装置具备：基板；检测电极，设置在与基板平行的面上，具有多个导电性细线，多个导电性细线配置成网状；连接配线，在检测电极的端部连接多个导电性细线；以及绝缘材料的保护层，覆盖检测电极和连接配线。与整个检测电极相比，在与连接配线相连的端部区域内，导电性细线占每单位面积的表面密度变小。

Description

检测装置及显示装置
技术领域
本发明涉及能够检测静电电容的变化的检测装置，尤其是涉及能够基于静电电容的变化来检测外部接近物体的检测装置及显示装置。
背景技术
近年来，被称作所谓的触摸面板的、能够检测外部接近物体的检测装置受到关注。触摸面板用于安装在液晶显示装置等的显示装置上或与液晶显示装置等的显示装置一体化的带触摸检测功能的显示装置。而且，带触摸检测功能的显示装置通过在显示装置上显示各种按钮图像等，能够用触摸面板代替普通的机械式按钮来进行信息输入。由于具有这样的触摸面板的带触摸检测功能的显示装置不需要像键盘、鼠标、小键盘那样的输入装置，因此除计算机外，在如便携式电话那样的便携式信息终端等中也处于使用扩大的趋势。
作为触摸检测装置的方式，存在光学式、电阻式、静电电容式等若干方式。静电电容式的触摸检测装置在便携式终端等中具有较简单的结构，且能实现低功耗。进而，在能够检测外部接近物体的检测装置中，为了实现薄型化、大屏幕化或高精细化，要求检测电极实现低电阻化。检测电极使用ITO(Indium Tin Oxide：氧化铟锡)等透光性导电氧化物作为透光性电极的材料。为了得到低电阻的检测电极，使用金属材料等导电性材料是有效的。但是，如果使用金属材料等导电性材料，则可能腐蚀检测电极。在专利文献1中记载了用保护层覆盖检测电极的检测装置。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2015-176573号公报
发明内容
发明要解决的技术问题
如果检测电极是网状图案，则检测电极成为低电阻。然而，如果检测电极连接于朝与网状图案的延伸方向不同的方向延伸的连接配线，则连接配线会阻挡保护层扩展，导致保护层未填充在检测电极所在的区域内而产生气泡，存在平面内的光不均、可靠性劣化的可能性。
本发明鉴于上述问题点而提出，其目的在于提供抑制保护层的气泡的检测装置及显示装置。
用于解决技术问题的方案
根据第一方面，检测装置具备：基板；检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，并具有多个导电性细线和多个电连接部，多个电连接部配置于多个所述导电性细线彼此交叉或弯曲、彼此连接的位置，多个导电性细线配置成网状；连接配线，在所述检测电极的端部连接多个导电性细线和检测部；以及绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，与所述检测电极的整个区域相比，在从最靠近所述连接配线的电连接部到连接配线的端部区域内，导电性细线的面积占每单位面积的表面密度变小。
根据第二方面，检测装置具备：基板；检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，具有多个导电性细线，多个导电性细线配置成网状；连接配线，连接于所述多个导电性细线；以及绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，由所述连接配线和所述导电性细线包围的面积大于所述检测电极的一个网眼所包围的面积。
附图说明
图1是表示实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一构成例的框图。
图2是为了说明静电电容式触摸检测方式的基本原理而表示出手指未接触或接近的状态的说明图。
图3是示出图2所示的手指未接触或接近的状态的等效电路的实例的说明图。
图4是为了说明静电电容式触摸检测方式的基本原理而表示出手指接触或接近的状态的说明图。
图5是示出图4所示的手指接触或接近的状态的等效电路的实例的说明图。
图6是表示驱动信号及检测信号的波形的一例的图。
图7是示出安装了带触摸检测功能的显示装置的模块的一例的图。
图8是示出安装了带触摸检测功能的显示装置的模块的一例的图。
图9是示出实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置的简要截面结构的截面图。
图10是表示实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置中的像素配置的电路图。
图11是实施方式1所涉及的检测电极的平面图。
图12是用于说明实施方式1所涉及的检测装置的制造方法中的保护层的涂覆工序的工序图。
图13是保护层的顶视图。
图14是用于说明在比较例所涉及的检测电极的端部连接多个导电性细线的连接配线的示意图。
图15是实施方式1的变形例1所涉及的检测电极的平面图。
图16是实施方式1的变形例2所涉及的检测电极的平面图。
图17是实施方式1的变形例3所涉及的检测电极的平面图。
图18是示意性示出实施方式2所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一例的平面图。
图19是对实施方式2所涉及的检测电极进行局部放大而示意性示出的平面图。
图20是表示实施方式2所涉及的带触摸检测功能的显示装置的简要截面结构的截面图。
图21是为了说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理而表示出手指未接触或接近的状态的说明图。
图22是为了说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理而表示出手指接触或接近的状态的说明图。
图23是表示驱动信号及检测信号的波形的一例的图。
图24是示意性示出实施方式3所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一例的平面图。
图25是将实施方式3所涉及的检测电极放大而示意性示出的平面图。
图26是沿图25的B-B线截取后从箭头方向观察时的示意性截面图。
图27是表示实施方式3所涉及的检测装置的简要截面结构的截面图。
附图标记说明
1、1B、1C 带触摸检测功能的显示装置
2 像素基板
3 对向基板
6 液晶层
10 带触摸检测功能的显示部
10a 显示区域
10b 框缘区域
11 控制部
12 栅极驱动器
13 源极驱动器
14 驱动电极驱动器
20 显示装置
21 TFT基板
22 像素电极
30 检测装置
31 基板
32 滤色片
33a 导电性细线
33s 狭缝
33x 电连接部
37、37A、37B 配线
38 保护层
40 触摸检测部(检测部)
42 检测信号放大部
43 A/D转换部
44 信号处理部
45 坐标提取部
46 检测定时控制部
52 桥接部
COML、COMLB 驱动电极
GCL 扫描信号线
Pix 像素
SGL 像素信号线
SPix 子像素
TA、TA11、TA12、TA21、TA22、TC、TC1、TC2、TD、TD1、TD2、TD3 小电极部
TDL、TDLA、TDLB 检测电极
Tr TFT元件
Vcom、Vx 驱动信号
Vdet、Vdet1、Vdet2 检测信号
Vdisp 映像信号
Vpix 像素信号
Vscan 扫描信号
具体实施方式
下面，参照附图，对用于实施发明的方式(实施方式)进行详细说明。以下实施方式中所记载的内容并不构成对本发明的限定。另外，在以下所记载的构成部分中包括本领域技术人员能够容易设想的、即实质上相同的部分。进而，以下所记载的构成部分能够适当组合。需要说明的是，本公开仅为一例，本领域技术人员容易想到的关于保持发明的宗旨的适当变更当然包含于本发明的范围内。另外，为了使说明更清楚，附图与实际的方式相比，存在示意性表示各部分的宽度、厚度、形状等的情况，但仅为一例，并不限定本发明的解释。另外，在本说明书和各附图中，关于出现过的附图，对与之前说明过的内容相同的部分标注相同的附图标记，并适当省略详细说明。
(实施方式1)
图1是示出实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一构成例的框图。带触摸检测功能的显示装置1具备带触摸检测功能的显示部10、控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14及触摸检测部(简称为“检测部”)40。带触摸检测功能的显示部10是将使用液晶显示元件作为显示元件的显示装置20和静电电容式的检测装置30一体化而得的装置。需要说明的是，带触摸检测功能的显示部10也可以是在使用液晶显示元件作为显示元件的显示装置20上安装静电电容式的检测装置30而得的装置。此外，显示装置20也可以是例如有机EL显示装置。
如下文所示，显示装置20是根据从栅极驱动器12供给的扫描信号Vscan，逐条依次扫描水平线以进行显示的装置。控制部11是基于由外部供给的映像信号Vdisp，分别向栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14及触摸检测部40供给控制信号，并控制它们彼此同步动作的电路(控制装置)。
栅极驱动器12具有基于从控制部11供给的控制信号，依次选择成为带触摸检测功能的显示部10的显示驱动的对象的一条水平线的功能。
源极驱动器13是基于从控制部11供给的控制信号Vsig，向带触摸检测功能的显示部10中的后述的各子像素SPix供给像素信号Vpix的电路。
驱动电极驱动器14是基于从控制部11供给的控制信号，向带触摸检测功能的显示部10中的后述的驱动电极COML供给驱动信号Vcom的电路。
触摸检测部40是基于从控制部11供给的控制信号和从带检测功能的显示部10的检测装置30供给的检测信号Vdet，检测对检测装置30的触摸(下文所述的接触或接近的状态)的有无，当存在触摸时，求出其在触摸检测区域内的坐标等的电路。该触摸检测部40具备检测信号放大部42、A/D转换部43、信号处理部44、坐标提取部45及检测定时控制部46。
检测信号放大部42放大从检测装置30供给的检测信号Vdet。检测信号放大部42也可以具备低通模拟滤波器，该低通模拟滤波器除去检测信号Vdet中所包含的高频分量(噪声分量)，取出触摸分量而将其分别输出。
(静电电容式触摸检测的基本原理)
检测装置30基于静电电容式接近检测的基本原理动作，并输出检测信号Vdet。参照图1至图6，对实施方式1的带触摸检测功能的显示部10进行触摸检测的基本原理进行说明。图2是为了说明静电电容式触摸检测方式的基本原理而表示出手指未接触或接近的状态的说明图。图3是示出图2所示的手指未接触或接近的状态的等效电路的实例的说明图。图4是为了说明静电电容式触摸检测方式的基本原理而表示出手指接触或接近的状态的说明图。图5是示出图4所示的手指接触或接近的状态的等效电路的实例的说明图。图6是表示驱动信号及检测信号的波形的一例的图。
例如，如图2和图4所示，电容元件C1、C1’具备隔着介电体D彼此相对配置的一对电极，即驱动电极E1和检测电极E2。如图3所示，电容元件C1的一端连接于交流信号源(驱动信号源)S，另一端连接于电压检测器(触摸检测器)DET。电压检测器DET是例如图1所示的检测信号放大部42中所包括的积分电路。
如果从交流信号源S向驱动电极E1(电容元件C1的一端)施加规定频率(例如数kHz～数百kHz左右)的交流矩形波Sg，则通过连接至检测电极E2(电容元件C1的另一端)侧的电压检测器DET而出现输出波形(检测信号Vdet1)。需要说明的是，该交流矩形波Sg相当于下文所述的触摸驱动信号Vcomt。
在手指未接触(或接近)的状态(非接触状态)下，如图2和图3所示，随着对电容元件C1进行充电和放电，对应于电容元件C1的电容值的电流I0开始流通。如图6所示，电压检测器DET将对应于交流矩形波Sg的电流I0的变动转换成电压的变动(实线的波形V0)。
另一方面，在手指接触(或接近)的状态(接触状态)下，如图4所示，由手指形成的静电电容C2接触检测电极E2或位于检测电极E2附近，从而阻挡位于驱动电极E1和检测电极E2之间的边缘部分的静电电容，发挥电容值比电容元件C1的电容值小的电容元件C1’的作用。并且，从图5所示的等效电路来看，在电容元件C1’中流通电流I1。如图6所示，电压检测器DET将对应于交流矩形波Sg的电流I1的变动转换成电压的变动(虚线的波形V1)。这时，波形V1与上述波形V0相比，其振幅变小。由此，波形V0与波形V1的电压差分的绝对值|ΔV|根据手指等从外部接近的物体的影响而变化。需要说明的是，为了高精度地检测波形V0与波形V1的电压差分的绝对值|ΔV|，更优选地，电压检测器DET进行如下动作：通过电路内的开关，结合交流矩形波Sg的频率设置重置电容器的充电和放电的期间Reset。
图1所示的检测装置30设置为根据从驱动电极驱动器14供给的驱动信号Vcom(下文所述的触摸驱动信号Vcomt)逐个依次扫描检测块以进行触摸检测。
检测装置30设置为从多个后述的检测电极TDL经由图3或图5所示的电压检测器DET从每个检测块输出检测信号Vdet1，并供给至触摸检测部40的A/D转换部43。
A/D转换部43是在与驱动信号Vcom同步的定时分别对从检测信号放大部42输出的模拟信号进行采样并将其转换成数字信号的电路。
信号处理部44具备数字滤波器，该数字滤波器降低包含在A/D转换器43的输出信号中的、除对驱动信号Vcom进行了采样的频率之外的频率分量(噪声分量)。信号处理部44是基于A/D转换部43的输出信号检测对检测装置30的触摸的有无的逻辑电路。信号处理部44进行仅取出手指造成的差分的电压的处理。该手指造成的差分的电压即为上述的波形V0与波形V1的差分的绝对值|ΔV|。信号处理部44也可以进行将每个检测块的绝对值|ΔV|平均化的运算，并求出绝对值|ΔV|的平均值。由此，信号处理部44能够降低噪声造成的影响。信号处理部44将所检测的手指造成的差分的电压与规定的阈值电压进行比较，如果其为该阈值电压以上，则判断为从外部接近的外部接近物体的接触状态，如果其不足阈值电压，则判断为外部接近物体的非接触状态。这样，触摸检测部40便能进行触摸检测。
坐标提取部45是当在信号处理部44中检测到触摸时求出其触摸面板坐标的逻辑电路。检测定时控制部46控制A/D转换部43、信号处理部44及坐标提取部45同步动作。坐标提取部45输出触摸面板坐标作为信号输出Vout。
图7和图8是示出安装了实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置的模块的一例的平面图。图7是示出驱动电极的一例的平面图，图8是示出检测电极的一例的平面图。
如图7所示，带触摸检测功能的显示装置1具备TFT(Thin Film Transistor：薄膜晶体管)基板21和柔性印刷基板72。TFT基板21装配了COG(Chip On Glass：玻璃衬底芯片)19，并形成有与显示装置20(参见图1)的显示区域10a和包围显示区域10a的框缘区域10b对应的区域。COG 19是安装在TFT基板21上的IC驱动器的芯片，内置有图1所示的控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13等显示动作所需的各电路。另外，在本实施方式中，驱动电极驱动器14也可以形成在作为玻璃基板的TFT基板21上。COG 19和驱动电极驱动器14设置于框缘区域10b。需要说明的是，COG 19中也可以内置驱动电极驱动器14。这时，能够使框缘区域10b变窄。柔性印刷基板72连接于COG 19，映像信号Vdisp、电源电压从外部经由柔性印刷基板72供给至COG 19。
如图7所示，带触摸检测功能的显示部10在与显示区域10a重叠的区域内设置有多个驱动电极COML。多个驱动电极COML分别在沿显示区域10a的一边的方向上延伸，并且在沿显示区域10a的另一边的方向上隔开间隔地排列。多个驱动电极COML分别连接于驱动电极驱动器14。
如图8所示，带触摸检测功能的显示装置1还具备基板31和柔性印刷基板71。在柔性印刷基板71上装备有上述触摸检测部40。需要说明的是，触摸检测部40也可以不装配于柔性印刷基板71，其也可以装配于柔性印刷基板71所连接的其他基板上。基板31例如是透光性的玻璃基板，在图7所示的TFT基板21的表面的垂直方向上与TFT基板21相对。如图8所示，带触摸检测功能的显示部10在与显示区域10a重叠的区域内设置有多个检测电极TDL。多个检测电极TDL分别沿与图7所示的驱动电极COML的延伸方向交叉的方向延伸。另外，多个检测电极TDL在驱动电极COML的延伸方向上隔开间隔地排列。也就是说，多个驱动电极COML和多个检测电极TDL以立体交叉的方式配置，并在彼此重叠的部分形成静电电容。
如下文所述，带触摸检测功能的显示装置1在进行显示动作时，逐条依次扫描水平线。也就是说，带触摸检测功能的显示装置1以与沿带触摸检测功能的显示部10的一边的方向平行的方式进行显示扫描(参见图8)。另一方面，带触摸检测功能的显示装置1在进行触摸检测动作时，通过从驱动电极驱动器14向驱动电极COML依次施加驱动信号Vcom，从而逐条依次扫描检测线。也就是说，带触摸检测功能的显示部10以与沿带触摸检测功能的显示部10的另一边的方向平行的方式朝方向SCAN进行扫描(参见图7)。
如图8所示，本实施方式的检测电极TDL具有多个导电性细线33U、33V。导电性细线33U、33V分别相对于与显示区域10a的一边平行的方向彼此逆向地倾斜。
多个导电性细线33U、33V均为窄宽度，在显示区域10a内，沿与导电性细线33U、33V的延伸方向交叉的方向(显示区域10a的短边方向)彼此隔开间隔地配置。一个检测电极TDL在延伸方向上的两端连接于配置在框缘区域10b内的连接配线34a、34b。由此，多个导电性细线33U、33V彼此电连接，并发挥一个检测电极TDL的作用。多个连接配线34a各自连接有配线37，检测电极TDL和柔性印刷基板71通过配线37连接。需要说明的是，部分检测电极TDL也可以配置于显示区域10a外(框缘区域10b)。另外，连接配线34a、34b也可以不配置于框缘区域10b，而是配置在显示区域10a内。也可以是，多个连接配线34a、34b经由配线37连接于触摸检测部40，成为用于连接多个导电性细线33U、33V和触摸检测部40的配线。
图9是表示带触摸检测功能的显示装置的简要截面结构的截面图。如图9所示，带触摸检测功能的显示部10具备像素基板2、相对配置在与该像素基板2的表面垂直的方向上的对向基板3、以及插入设置在像素基板2和对向基板3之间的液晶层6。
像素基板2包括作为电路基板的TFT基板21、矩阵状配设于该TFT基板21的上方的多个像素电极22、形成于TFT基板21和像素电极22之间的多个驱动电极COML、以及使像素电极22和驱动电极COML绝缘的绝缘层24。偏光板65隔着粘结层66设置于TFT基板21的下侧。
对向基板3包括基板31和形成于该基板31的一个面上的滤色片32。在基板31的另一个面上形成有作为检测装置30的检测电极的检测电极TDL。如图9所示，检测电极TDL设置于基板31的上方。进而，在该检测电极TDL上设置有用于保护检测电极TDL的导电性细线33U、33V的保护层38。保护层38可以使用丙烯酸类树脂等透光性树脂。偏光板35隔着粘结层39设置于保护层38上。
TFT基板21和基板31通过间隔件61隔开规定间隔地相对配置。在由TFT基板21、基板31及间隔件61包围的空间内设置有液晶层6。液晶层6根据电场的状态对通过其的光进行调制，例如可使用利用了包括FFS(Fringe Field Switching：边缘场切换)的IPS(In PlaneSwitching：面内切换)等横向电场模式的液晶的显示面板。需要说明的是，也可以分别在图9所示的液晶层6和像素基板2之间以及液晶层6和对向基板3之间配设定向膜。
图10是表示实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示部中的像素排列的电路图。在图9所示的TFT基板21上形成有图10所示的各子像素SPix的薄膜晶体管元件(以下称为“TFT元件”)Tr、向各像素电极22供给像素信号Vpix的像素信号线SGL、驱动各TFT元件Tr的扫描信号线GCL等的配线。像素信号线SGL和扫描信号线GCL在与TFT基板21的表面平行的平面内延伸。将与图10所示的子像素SPix的排列方向正交的方向(扫描信号线GCL的延伸方向)表示为方向Dx，将子像素SPix的排列方向(像素信号线SCL的延伸方向)表示为方向Dy。
图10所示的显示装置20具有呈矩阵状排列的多个子像素SPix。子像素SPix分别具备TFT元件Tr和液晶元件LC。TFT元件Tr由薄膜晶体管构成，在该例中，其由n沟道的MOS(Metal oxide semiconductor：金属氧化物半导体)型TFT构成。TFT元件Tr的源极或漏极中的一个连接于像素信号线SGL，栅极连接于扫描信号线GCL，源极或漏极中的另一个连接于液晶元件LC的一端。液晶元件LC的一端连接于TFT元件Tr的源极或漏极中的另一个，另一端连接于驱动电极COML。
子像素SPix通过扫描信号线GCL与属于显示装置20的同一行的其他子像素SPix彼此连接。扫描信号线GCL连接于栅极驱动器12(参见图1)，并由栅极驱动器12供给扫描信号Vscan。另外，子像素SPix通过像素信号线SGL与属于显示装置20的同一列的其他子像素SPix彼此连接。像素信号线SGL连接于源极驱动器13(参见图1)，并由源极驱动器13供给像素信号Vpix。进而，子像素SPix通过驱动电极COML与属于同一行的其他子像素SPix彼此连接。驱动电极COML连接于驱动电极驱动器14(参见图1)，并由驱动电极驱动器14供给驱动信号Vcom。也就是说，在该例中，属于同一行的多个子像素SPix将共用一根驱动电极COML。本实施方式的驱动电极COML的延伸方向平行于扫描信号线GCL的延伸方向。本实施方式的驱动电极COML的延伸方向并不限定于此。例如，驱动电极COML的延伸方向也可以是与像素信号线SGL的延伸方向平行的方向。
图1所示的栅极驱动器12进行依次扫描扫描信号线GCL的驱动。扫描信号Vscan(参见图1)经由扫描信号线GCL施加至子像素SPix的TFT元件Tr的栅极，子像素SPix中的一条水平线被依次选择为显示驱动的对象。另外，源极驱动器13将像素信号Vpix供给至属于一条水平线的子像素SPix，从而带触摸检测功能的显示装置1逐条水平线显示。进行该显示动作时，驱动电极驱动器14向对应于该条水平线的驱动电极COML施加驱动信号Vcom。
在图9所示的滤色片32中，例如被着色成红(R)、绿(G)、蓝(B)三色的滤色片的颜色区域32R、32G、32B呈周期性排列。R、G、B三色的颜色区域32R、32G、32B作为一组与上述的图10所示的各子像素SPix建立对应关系，将颜色区域32R、32G、32B作为一组而构成像素Pix。如图9所示，滤色片32在垂直于TFT基板21的方向上与液晶层6相对。需要说明的是，滤色片32也可以是其他颜色的组合，只要着色成不同的颜色即可。另外，滤色片32并不限定于三色的组合，也可以是四色以上的组合。
图11是实施方式1所涉及的检测电极的平面图。导电性细线33U、33V由选自铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)、钼(Mo)、铬(Cr)及钨(W)的一种以上的金属层形成。或者，导电性细线33U、33V由包含选自铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)、钼(Mo)、铬(Cr)及钨(W)的一种以上的金属材料的合金形成。另外，导电性细线33U、33V也可以是选自这些铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)、钼(Mo)、铬(Cr)及钨(W)的一种以上的金属材料或者包含这些材料中的一种以上的合金的导电层层叠多层而得的层叠体。需要说明的是，除上述的金属材料或金属材料的合金的导电层之外，导电性细线33U、33V也可以层叠ITO(Indium tin oxide：氧化铟锡)等透光性导电氧化物的导电层。
上述金属材料作为透明电极的材料，其电阻低于ITO等透光性导电氧化物。由于上述金属材料与透光性导电氧化物相比具有遮光性，因此存在透过率下降的可能性或者检测电极TDL的图案被辨认出的可能性。在本实施方式中，一个检测电极TDL具有多个宽度较窄的导电性细线33U、33V，相邻的导电性细线33U彼此、33V彼此在方向Du、方向Dv上以隔开大于线宽的间隔的方式配置，从而能够实现低电阻化和不可视化。结果，检测电极TDL低电阻化，带触摸检测功能的显示装置1能够实现薄型化、大屏幕化或高精细化。
导电性细线33U、33V的宽度优选在2μm以上10μm以下的范围内。其原因在于，如果导电性细线33U、33V的宽度在10μm以下，则在显示区域10a内，黑矩阵或下文所述的扫描信号线GCL及像素信号线SGL覆盖作为光的透过未被抑制的区域的开口部的面积变小，损害开口率的可能性降低。另外，如果导电性细线33U、33V的宽度在2μm以上，则形状稳定，断线的可能性降低。
将参照图8、图10和图11进行说明，在检测电极TDL中，多个导电性细线33U、33V以规定的节距配置，检测电极TDL整体沿与滤色片32的各颜色区域32R、32G、32B的延伸方向平行的方向延伸。也就是说，检测电极TDL沿与图10所示的像素信号线SGL延伸的方向Dy平行的方向延伸。导电性细线33U、33V形成由彼此逆向倾斜的细线片交叉连接而成的网眼状，以免各导电性细线33U、33V遮挡滤色片32的特定的颜色区域的光。导电性细线33U、33V相对于与颜色区域32R、32G、32B的延伸方向平行的方向，朝具有角度θ而彼此逆向的方向Du和方向Dv倾斜。在导电性细线33U、33V彼此交叉或弯曲、彼此连接的部位形成电连接部33x、33x，导电性细线33U、33V在多个电连接部33x处交叉。例如，角度θ为5度以上75度以下，优选为25度以上40度以下，进一步优选为50度以上65度以下。
这样，检测电极TDL包括朝方向Du延伸的至少一个第一导电性细线33U和与第一导电性细线33U交叉而朝方向Dv延伸的至少一个第二导电性细线33V。如果多个第一导电性细线33U和多个第二导电性细线33V各自中的多个交叉，则检测电极TDL中的一个网眼所包围的区域的形状成为平行四边形。在图11中，检测电极TDL中的一个网眼所包围的区域的形状的对角线的长度为P1、P2。
在本实施方式中，当以最靠近连接配线34a的电连接部33x、33x为界时，与最靠近连接配线34a的电连接部33x、33x相比更靠近连接配线34a的一侧、即从最靠近连接配线34a的电连接部33x、33x到连接配线34a的区域是检测电极TDL的端部区域10c。同样，与最靠近连接配线34a的电连接部33x、33x相比更远离连接配线34a的一侧的区域是检测电极TDL的主检测区域10d。
连接配线34a周围的检测电极的图案和连接配线34b周围的检测电极的图案形成图8所示的线对称或点对称。因此，以最靠近连接配线34b的电连接部33x、33x为界，与最靠近连接配线34b的电连接部33x、33x相比更靠近连接配线34b的一侧且从最靠近连接配线34b的电连接部33x、33x到连接配线34b的区域是检测电极TDL的端部区域。同样，与最靠近连接配线34b的电连接部33x、33x相比更远离连接配线34b一侧的区域是检测电极TDL的主检测区域。
如图11所示，在检测电极TDL的端部区域10c内，导电性细线33a配置于导电性细线33U延伸的位置，连接配线34a和主检测区域10d的导电性细线33U经由导电性细线33a电连接。
这样，检测电极TDL的导电性细线33U、33V的延伸方向相对于滤色片32的各颜色区域32R、32G、32B的延伸方向具有角度θ。结果，滤色片32的各颜色区域32R、32G、32B的遮光量得以平均，检测电极TDL的导电性细线33U、33V能够抑制滤色片32的特定颜色区域内的透过率的降低。另外，检测电极TDL的导电性细线33U、33V也可以以使间隔在适当的范围内波动的方式配置。即，检测电极TDL也可以使导电性细线33U、33V彼此的间隔不同。
图7和图9所示的驱动电极COML发挥向显示装置20的多个像素电极22提供公共电位的公共电极的作用，同时也发挥检测装置30进行互静电电容方式的触摸检测时的驱动电极的作用。检测装置30由设置于像素基板2的驱动电极COML和设置于对向基板3的检测电极TDL构成。
驱动电极COML被分割成沿与图7所示的显示区域10a的另一边平行的方向延伸的多个电极图案。检测电极TDL由沿与驱动电极COML的电极图案的延伸方向交叉的方向延伸的具有多个金属配线的多个电极图案构成。而且，检测电极TDL在与TFT基板21(参见图9)的表面垂直的方向上与驱动电极COML相对。检测电极TDL的各电极图案分别连接于触摸检测部40的检测信号放大部42的输入(参见图1)。由驱动电极COML和检测电极TDL彼此交叉而得的电极图案在其交叉部分产生静电电容。
驱动电极COML例如使用ITO等具有透光性的导电性材料。需要说明的是，检测电极TDL和驱动电极COML(驱动电极块)并不限定于呈条带状分割成多个的形状。例如，检测电极TDL和驱动电极COML也可以是梳齿形状。或者，检测电极TDL和驱动电极COML分割成多个即可，分割驱动电极COML的狭缝的形状既可以是直线，也可以是曲线。
通过该构成，在检测装置30中，在进行互静电电容方式的触摸检测动作时，驱动电极驱动器14对驱动电极块进行以分时方式依次扫描的驱动，从而依次选择驱动电极COML的一个检测块。而且，通过从检测电极TDL输出检测信号Vdet1，对一个检测块进行触摸检测。也就是说，驱动电极块对应于上述互静电电容方式的触摸检测的基本原理中的驱动电极E1，检测电极TDL对应于检测电极E2，检测装置30根据该基本原理检测触摸输入。彼此立体交叉的检测电极TDL和驱动电极COML将静电电容式触摸传感器构成为矩阵状。因此，通过遍及检测装置30的整个触摸检测面进行扫描，能够检测到来自外部的导体的接触或接近所产生的位置。
作为带触摸检测功能的显示装置1的动作方法的一例，带触摸检测功能的显示装置1以分时方式进行触摸检测动作(检测期间)和显示动作(显示动作期间)。也可以任意划分检测期间和显示动作期间来进行触摸检测动作和显示动作。
需要说明的是，在本实施方式中，由于驱动电极COML兼用作显示装置20的公共电极，因此，在显示动作期间，控制部11向经由驱动电极驱动器14选择的驱动电极COML供给作为显示用的公共电极电位的驱动信号Vcom。
当在检测期间不使用驱动电极COML而仅通过检测电极TDL进行检测动作时，例如，当基于下文所述的自静电电容方式的触摸检测原理进行触摸检测时，驱动电极驱动器14也可以向检测电极TDL供给触摸检测用的驱动信号Vcom。
图12是用于说明实施方式1所涉及的检测装置的制造方法中的保护层的涂覆工序的工序图。图13是保护层的顶视图。
(实施方式1所涉及的检测装置的制造方法)
如图9所示，使用包含选自铝(Al)、铜(Cu)、银(Ag)、钼(Mo)、铬(Cr)及钨(W)的一种以上的金属材料在基板31的上表面上形成导电层。导电层可以通过溅射法或化学气相沉积(Chemical Vapor Deposition；CVD)法等在一个工序中连续成膜。
接着，在导电层上形成抗蚀层。抗蚀层通过光刻而被图案化，形成在与图8所示的导电性细线33U、33V的图案重叠的位置处。
然后，通过蚀刻除去从抗蚀层露出的部分的导电层。与抗蚀层重叠的部分的导电层不通过蚀刻除去，而是形成为导电性细线33U、33V的图案。导电层的蚀刻液根据金属种类进行选择即可。例如，当从抗蚀层露出的部分的导电层是Al类膜时，使用磷酸类的蚀刻液、例如磷酸硝酸乙酸混合液作为导电层的蚀刻液。另外，当从抗蚀层露出的部分的导电层是Cu类膜时，使用氯化铁。
接着，通过除去抗蚀层，对导电性细线33U、33V形成图案。由此，形成如图8所示的具有导电性细线33U、33V的多个检测电极TDL。
接着，以覆盖导电性细线33U、33V的方式涂覆成为保护层38的绝缘材料的涂覆液。成为保护层38的绝缘材料是丙烯酸树脂、环氧树脂或聚酰亚胺树脂。成为保护层38的绝缘材料是利用从紫外线照射装置照射的紫外线的能量而在短时间内聚合固化的UV固化性树脂。或者，成为保护层38的绝缘材料是利用加热板、烤炉等加热装置进行加热的热量而在短时间内固化的热固化性树脂。作为成为保护层38的绝缘材料，还可以使用紫外线固化树脂和热固化性树脂的并用类型。成为保护层38的绝缘材料也可以是高电阻材料，优选地，成为保护层38的绝缘材料的薄层电阻比导电层的薄层电阻高三位数以上。例如，成为保护层38的绝缘材料的薄层电阻可以是106Ω/□以上的薄层电阻。
这里，导电性细线33U、33V是微细的导电体图案。如果将成为保护层38的绝缘材料作为微小液滴涂覆在导电性细线33U、33V上，则导电性细线33U、33V的厚度的影响及导电性细线33U、33V的分布的影响得到抑制，保护层38的膜厚的均匀性提高。
喷墨法或电场喷射法等的液滴吐出装置所滴下的微小液滴通常从喷嘴同时滴下数滴。例如，如图12所示，液滴吐出装置所滴下的液滴沿滴下列IJ1、IJ2、IJ3同时吐出。通过在喷嘴的行进方向IJY上减慢喷嘴的行进速度，能够使液滴紧密叠加。但是，由于液滴的滴下节距IJP由喷嘴的吐出孔的节距决定，因此，在与喷嘴的行进方向IJY交叉的方向IJX上，根据液滴的滴下节距IJP来确定液滴的吐出位置IJD。在液滴的吐出位置IJD滴下的液滴以液滴的吐出位置IJD为中心，呈同心圆状以半径IJR扩散。并且，在与喷嘴的行进方向IJY交叉的方向IJX上，对应于液滴的吐出位置IJD和吐出量，液滴发生重叠。例如滴下节距IJP为10μm以上100μm以下。
接着，通过从紫外线照射装置照射的紫外线或者来自加热装置的加热，上述绝缘材料固化而形成保护层38。如图13所示，在喷嘴的行进方向IJY上的保护层38的边缘具有连续的凸部FR，该凸部FR在与喷嘴的行进方向IJY交叉的方向IJX上具有曲面，在俯视观察时有时形成凹凸形状。根据凸部FR的曲率求出曲率中心，可以将该曲率中心视作液滴的吐出位置IJD。结果，根据凸部FR的外缘的曲面和液滴的吐出位置IJD能够推测出半径IJR作为推测液滴已扩散的推测半径。
图14是用于说明在比较例所涉及的检测电极的端部连接多个导电性细线的连接配线的示意图。需要说明的是，对与图11中说明的构成部分相同的构成部分标注相同的附图标记，并省略重复的说明。图14所示的检测电极与图11所示的实施方式1所涉及的检测电极相比，在检测电极TDL的端部区域10c内，在导电性细线33V延伸的位置配置导电性细线33e。
如图14所示，导电性细线33U、33V占每单位面积的表面密度在检测电极TDL的整个主检测区域10d上和在与连接配线34a相连的检测电极TDL的端部区域10c上相同。
可以通过下述式(1)来求出由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33e包围的面积S3。其中，沿方向Dx排列的电连接部33x、33x间的距离为距离P1。沿方向Dy排列的电连接部33x、33x间的距离为距离P2。最靠近连接配线34a的电连接部33x和连接配线34a的最短距离为距离P3。
S3＝P1×P3×1/2……(1)
检测电极TDL的一个网眼所包围的面积S1通过下述式(2)求出。
S1＝P1×P2……(2)
根据式(1)和式(2)，面积S1和面积S3具有式(3)的关系。
S1＝2×S3……(3)
这样，面积S3小于面积S1。由此，成为保护层38的绝缘材料的微小液滴未滴入面积S3内的概率提高。结果，气泡可能残留在由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33e包围的空间内。
如上所述，如果将成为保护层38的绝缘材料作为微小液滴进行涂覆，则具有呈同心圆状扩散的性质。如果微小液滴接触到导电性细线33U、33V、连接配线34a(或连接配线34b)，则会沿导电性细线33U、33V、连接配线34a(或连接配线34b)扩散。如果面积S3小于面积S1，则由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33e包围的空间与检测电极TDL的一个网眼所包围的空间相比，成为保护层38的绝缘材料的厚度增加。因而，连接配线34a(或连接配线34b)发挥屏障的作用，连接配线34a(或连接配线34b)在检测电极TDL的端部区域10c内可能会对保护层38的平坦性造成影响。
与此相对，在图11所示的实施方式1所涉及的检测电极TDL中，与检测电极TDL的整个主检测区域10d相比，在与连接配线34a相连的检测电极TDL的端部区域10c内，导电性细线33U、33V的面积占每单位面积的表面密度变小。结果，与整个检测电极TDL相比，在与连接配线34a(或连接配线34b)相连的端部区域10c内，导电性细线占每单位面积的表面密度变小。
在图11所示的实施方式1所涉及的检测电极TDL中，不存在图14所示的导电性细线33e。可以通过下述式(4)来求出由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33U、33V包围的面积S2。需要说明的是，例如，上述距离P1为100μm以上250μm以下。距离P2为100μm以上550μm以下。
S2＝P1×P3×1/2+P1×P2……(4)
根据式(2)和式(4)，面积S1和面积S2具有式(5)的关系。
S2＝P1×P3×1/2+S1……(5)
因而，面积S2大于面积S1。在实施方式1所涉及的检测电极TDL中，面积S1大于将作为根据保护层38的边缘的凹凸推测的推测半径的半径IJR的平方和圆周率相乘而得的面积。由此，面积S2大于将半径IJR的平方和圆周率相乘而得的面积。由此，比起面积S1，成为保护层38的绝缘材料的微小液滴滴入面积S2内的概率提高。结果，抑制了气泡残留在由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33U、33V包围的空间内的可能性。
如果面积S2大于面积S1，则检测电极TDL的一个网眼所包围的空间与由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33U、33V包围的空间相比，成为保护层38的绝缘材料的厚度增加。由于相对于整个检测电极TDL而言，检测电极TDL的网眼所占的面积(主检测区域10d的面积)大于端部区域10c，因此难以对保护层38的平坦性造成影响。
(实施方式1的变形例1)
接着，对实施方式1的变形例1所涉及的检测装置进行说明。图15是实施方式1的变形例1所涉及的检测电极的平面图。需要说明的是，对与上述实施方式1中说明的构成部分相同的构成部分标注相同的附图标记，并省略重复的说明。
如图15所示，在实施方式1的变形例1的检测电极TDL中，导电性细线33a沿方向Dy的方向延伸。可以通过下述式(6)来求出由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33U、33V包围的面积S2。需要说明的是，最靠近连接配线34a的电连接部33x和连接配线34a的最短距离为距离P4。距离P5是上述距离P2的1/2的距离。
S2＝P1×P4+P1×P5×1/2＝P1×P4+P1×P2×1/2×1/2……(6)
如果根据式(2)和式(6)确定了距离P4的长度，以使面积S2大于面积S1，则成为保护层38的绝缘材料的微小液滴滴入面积S2中的概率提高。结果，抑制了气泡残留在由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33U、33V包围的空间内的可能性。例如，距离P4的长度设为距离(P2×1/2)以上即可。
(实施方式1的变形例2)
接着，对实施方式1的变形例2所涉及的检测装置进行说明。图16是实施方式1的变形例2所涉及的检测电极的平面图。需要说明的是，对与上述实施方式1中说明的构成部分相同的构成部分标注相同的附图标记，并省略重复的说明。
如图16所示，在实施方式1的变形例2的检测电极TDL中，成为一个网眼的导电性细线33Q是直径为PQ的圆形。可以通过下述式(7)来求出导电性细线33Q所包围的面积S1。
S1＝π×(PQ×1/2)2……(7)
三个导电性细线33Q彼此包围的区域通过狭缝33s与一个导电性细线33Q的圆形内的区域相连。三个导电性细线33Q彼此包围的区域的面积S4小于导电性细线33Q所包围的面积S1。即使在成为保护层38的绝缘材料的微小液滴未滴入面积S4内的情况下，成为保护层38的绝缘材料也会通过狭缝33s从导电性细线33Q的圆形内的区域填充到面积S4中。结果，抑制了气泡残留在面积S4中的可能性。
如果使由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33Q包围的面积S2大于面积S1，则成为保护层38的绝缘材料的微小液滴滴入面积S2内的概率便会提高。结果，抑制了气泡残留在由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33Q包围的空间内的可能性。
(实施方式1的变形例3)
接着，对实施方式1的变形例3所涉及的检测装置进行说明。图17是实施方式1的变形例3所涉及的检测电极的平面图。需要说明的是，对与上述实施方式1中说明的构成部分相同的构成部分标注相同的附图标记，并省略重复的说明。
如图17所示，实施方式1的变形例3的检测电极TDL包括朝方向Da延伸的至少一个第一导电性细线33A、朝方向Db延伸的至少一个第二导电性细线33B、以及朝方向Dc延伸的至少一个第三导电性细线33C。需要说明的是，在实施方式1的变形例3中，方向Da是平行于方向Dy的方向。导电性细线33A、33B、33C、33A、33B、33C所包围的一个网眼的形状是六边形。检测电极TDL的一个网眼所包围的区域的形状并不限定于六边形，只要是具有4个以上的角的多边形即可。
如果使由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33B、33C包围的面积S2大于导电性细线33A、33B、33C、33A、33B、33C所包围的面积S1，则成为保护层38的绝缘材料的微小液滴滴入面积S2内的概率便会提高。结果，抑制了气泡残留在由连接配线34a(或连接配线34b)和导电性细线33a、33a、33B、33C包围的空间内的可能性。
(实施方式2)
图18是示意性示出实施方式2所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一例的平面图。图19是对实施方式2所涉及的检测电极进行局部放大而示意性示出的平面图。图20是示出实施方式2所涉及的带触摸检测功能的显示装置的简要截面结构的截面图。
在实施方式1中，带触摸检测功能的显示部10的驱动电极COML发挥向显示装置20的多个像素电极22提供公共电位的公共电极的作用，同时也发挥检测装置30进行互静电电容方式的触摸检测时的驱动电极的作用。与此相对，实施方式2的带触摸检测功能的显示装置1B将检测装置30安装在显示装置20上，检测装置30通过自静电电容方式进行静电电容的检测。
如图18所示，实施方式2的检测电极TDLA包括矩阵式配置的多个小电极部TA。多个小电极部TA具有在沿显示区域10a的短边的方向上延伸的多个导电性细线33U和导电性细线33V。导电性细线33U和导电性细线33V配置成网状，形成以与显示区域10a的一边平行的直线作为对称轴的线对称形状。导电性细线33U和导电性细线33V在沿显示区域10a的长边的方向上交替排列，在显示区域10a的几乎整个表面上形成网眼状的金属配线。
如图19所示，导电性细线33U、33V通过设置于虚线51a所示的部位和虚线51b所示的部位的狭缝而电分离。一个小电极部TA与相邻的小电极部TA的导电性细线33U、33V电分离，并配置成岛状。换言之，多个小电极部TA彼此隔开地配置成矩阵状。
多个小电极部TA各自经由设置于框缘区域10b的配线37A连接于柔性印刷基板71。多个小电极部TA各自发挥检测电极的作用。本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1B基于多个小电极部TA的自静电电容，能够检测来自外部的导体的接触或接近。多个小电极部TA各自构成静电电容触摸检测器，由于在显示区域10a内配置成矩阵状，因此通过遍及检测装置30的整个触摸检测面进行扫描，能够检测来自外部的导体的接触或接近所产生的位置。
接着，参照图21、图22和图23，对本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1B进行自静电电容方式的触摸检测的基本原理进行说明。图21是为了说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理而表示出手指未接触或接近的状态的说明图。图22是为了说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理而表示出手指接触或接近的状态的说明图。图23是表示驱动信号及检测信号的波形的一例的图。需要说明的是，图21和图22同时示出检测电路。
如图21所示，在手指未接触或接近的状态下，对检测电极E2施加规定频率(例如数kHz～数百kHz左右)的交流矩形波Sg。检测电极E2具有静电电容C3，其内流通有对应于静电电容C3的电流。电压检测器DET将对应于交流矩形波Sg的电流的变动转换成电压的变动(实线的波形V4(参见图23))。
接着，如图22所示，在手指接触或接近的状态下，手指和触摸检测之间的静电电容C4施加于检测电极E2的静电电容C3。因此，如果向检测电极E2施加交流矩形波Sg，则其内流通对应于静电电容C3和C4的电流。如图23所示，电压检测器DET将对应于交流矩形波Sg的电流的变动转换成电压的变动(虚线的波形V5)。然后，分别对得到的波形V4和波形V5的电压值进行积分，通过对它们的值进行比较，能够判断手指对检测电极E2的接触或接近的有无。需要说明的是，在图23中，关于波形V4和波形V5，也可以采用求出截止降低至规定的基准电压的期间，对这些期间进行比较等的方法。
具体而言，如图21和图22所示，检测电极E2构成为能够通过开关SW1和开关SW2分别从电源和电压检测器DET分离。在图23中，在时刻T01的定时，交流矩形波Sg使相当于电压V0的电压电平上升。此时，开关SW1接通，开关SW2切断。因此，检测电极E2的电压也上升至电压V0。接着，在时刻T11的定时之前，切断开关SW1。此时，检测电极E2处于浮置状态，但通过检测电极E2的静电电容C3(参见图21)、或在检测电极E2的静电电容C3上加上手指等的接触或接近造成的静电电容C4后得到的电容(C3+C4、参见图22)，检测电极E2的电位维持V0。进而，在时刻T11的定时之前接通开关SW3，经过规定时间后将其切断，使电压检测器DET复位。通过该复位动作，输出电压成为与基准电压Vref大致相等的电压。
接着，如果在时刻T11的定时接通开关SW2，则电压检测器DET的反相输入部成为检测电极E2的电压V0，然后，根据检测电极E2的静电电容C3(或C3+C4)和电压检测器DET内的电容C5的时间常数，电压检测器DET的反相输入部降低至基准电压Vref。此时，由于储存在检测电极E2的静电电容C3(或C3+C4)中的电荷移动至电压检测器DET内的电容C5，因此电压检测器DET的输出上升(Vdet2)。在手指等未接近检测电极E2时，电压检测器DET的输出(Vdet2)成为实线所示的波形V4，Vdet2＝C3×V0/C5。当添加了手指等的影响造成的电容时，成为虚线所示的波形V5，Vdet2＝(C3+V4)×V0/C5。
然后，在检测电极E2的静电电容C3(或C3+C4)的电荷充分移动至电容C5后的时刻T31的定时，通过切断开关SW2，并接通开关SW1和开关SW3，使检测电极E2的电位成为与交流矩形波Sg同电位的低电平，并且使电压检测器DET复位。需要说明的是，此时，接通开关SW1的定时可以是任意定时，在切断开关SW2之后、时刻T02之前即可。另外，使电压检测器DET复位的定时可以是任意定时，在切断开关SW2之后、时刻T12之前即可。以规定频率(例如数kHz～数百kHz左右)重复上述动作。基于波形V4与波形V5的差分的绝对值|ΔV|，能够测定外部接近物体的有无(触摸的有无)。需要说明的是，检测电极E2的电位如图23所示，当手指等未接近时成为V2的波形，当添加了手指等的影响造成的静电电容C4时，成为V3的波形。通过测定波形V2和波形V3分别下降至规定的电压VTH的时间，也能够测定外部接近物体的有无(触摸的有无)。
在本实施方式中，检测装置30根据从图1所示的驱动电极驱动器14供给的驱动信号，将电荷分别供给至多个小电极部TA，从而进行自静电电容方式的触摸检测。多个小电极部TA分别将检测信号Vdet2输出至触摸检测部40，触摸检测部40检测触摸输出的有无并进行输入位置的坐标运算。
下面，对本实施方式的检测电极TDLA的详细构成进行说明。需要说明的是，在图19中，将与图10所示的子像素SPix的排列方向正交的方向(扫描信号线GCL的延伸方向)表示为方向Dx，将子像素SPix的排列方向(像素信号线SGL的延伸方向)表示为方向Dy。
如图19所示，本实施方式所涉及的检测电极TDLA包括小电极部TA11、TA21、TA12、TA22。小电极部TA11包括多个导电性细线33U和多个导电性细线33V。多个导电性细线33U和多个导电性细线33V交替排列耦合并构成为网状。多个导电性细线33U和多个导电性细线33V由相同的材料形成，可使用上述的金属材料。
多个导电性细线33U和多个导电性细线33V通过耦合导电性细线33U的弯曲部和导电性细线33V的弯曲部来形成交叉部的电连接部33x。多个导电性细线33U和多个导电性细线33V通过交叉部的电连接部33x导通。小电极部TA21、TA12、TA22也具有与小电极部TA11相同的构成。
小电极部TA11通过显示区域配线部TB11耦合于形成在框缘区域10b内的端子部TE1。显示区域配线部TB11沿方向Dx从小电极部TA11的连接配线34b延伸至框缘区域10b。小电极部TA12通过沿方向Dx从小电极部TA12延伸至框缘区域10b的显示区域配线部TB12耦合于形成在框缘区域10b内的端子部TE3。显示区域配线部TB12沿方向Dx从小电极部TA12的连接配线34b延伸至框缘区域10b。
由于小电极部TA21位于显示区域10a的端部，因此构成小电极部TA21的导电性细线33U、33V经由连接配线34b耦合于形成在框缘区域10b内的端子部TE2。同样，由于小电极部TA22位于显示区域10a的端部，因此构成小电极部TA22的导电性细线33U、33V经由连接配线34b耦合于形成在框缘区域10b内的端子部TE4。端子部TE1至TE4分别连接于图18所示的配线37A。
另外，如图19所示，本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1B具有多个伪电极TDD。伪电极TDD是不发挥检测电极的作用的电极。在相邻的伪电极TDD之间存在狭缝SL。伪电极TDD与各小电极部TA11、小电极部TA21、小电极部TA12、小电极部TA22、端子部TE1至TE4、显示区域配线部TB11、TB12隔开配置。
伪电极TDD具有形状与导电性细线33U大致相同的导电性细线和形状与导电性细线33V大致相同的导电性细线。由此，在带触摸检测功能的显示装置1B中，由于配置有检测电极TDLA的区域和未配置检测电极TDLA的区域的遮光性的差变小，因此能够降低容易辨认出检测电极TDLA的可能性。
本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1B基于检测电极TDLA的自静电电容进行触摸检测。因而，如图20所示，在TFT基板21上设置公共电极23来代替驱动电极COML(参见图9)。公共电极23是向显示装置20的多个像素电极22提供公共电位的电极，其作为透光性导电氧化物的导电层的整张膜连续设置在TFT基板21上。
在本实施方式中，也可以分时进行显示动作和自静电电容方式的触摸检测动作。在触摸检测期间，检测电极TDLA被供给交流矩形波Sg作为驱动信号。公共电极23在触摸检测期间也可以形成不施加电压信号、电位不固定的浮置。另外，控制部11也可以将与驱动信号的交流矩形波Sg同电平的电压信号与驱动信号一起施加至公共电极23，将公共电极23作为有效屏障(active shield)进行驱动。
需要说明的是，在实施方式2中，也可以在TFT基板21一侧设置驱动电极COML(参见图9)来代替公共电极23，并基于驱动电极COML与检测电极TDLA的互静电电容进行触摸检测。
在图19所示的实施方式2所涉及的检测电极TDLA中，与检测电极TDLA的整个主检测区域10d相比，在与连接配线34a、34b中的每一个相连的检测电极TDLA的端部区域10c内，导电性细线33U、33V占每单位面积的表面密度变小。于是，在实施方式2中，面积S2也大于面积S1。由此，比起面积S1，成为保护层38的绝缘材料的微小液滴滴入面积S2内的概率提高。结果，抑制了气泡残留在由连接配线34a或连接配线34b和导电性细线33a、33a、33U、33V包围的空间内的可能性。需要说明的是，如实施方式2所示，连接配线34a或连接配线34b也可以在显示区域10a内。
(实施方式3)
图24是示意性示出实施方式3所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一例的平面图。图25是将实施方式3所涉及的检测电极放大而示意性示出的平面图。图26是沿图25的B-B线截取后从箭头方向观察时的示意性截面图。图27是表示实施方式3所涉及的检测装置的简要截面结构的截面图。
如图24所示，在本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1C中，驱动电极COMLB和检测电极TDLB设置在与基板31的表面平行的同一平面内。
检测电极TDLB包括多个小电极部TD。小电极部TD的外形是平行四边形，多个小电极部TD排列在沿显示区域10a的一边的方向上。排列在沿显示区域10a的一边的方向上的多个小电极部TD彼此通过桥接部52连接。如图27所示，在检测电极TDLB和驱动电极COMLB上设置有保护层38，桥接部52设置在保护层38上。检测电极TDLB和桥接部52设置于不同层，并通过设置于保护层38的通孔38a电连接。桥接部52进一步由保护层38b覆盖，保护其免受腐蚀等。保护层38b的材料与上述保护层38的材料相同。
一根检测电极TDLB由通过桥接部52连接的多个小电极部TD的列形成。并且，多根检测电极TDLB排列在沿显示区域10a的另一边的方向上。
驱动电极COMLB包括多个小电极部TC。小电极部TC是与检测电极TDLB的小电极部TD大致相等的平面形状的平行四边形。多个小电极部TC排列在沿显示区域10a的另一边的方向上，在与桥接部52重叠的位置处彼此连接。一根驱动电极COMLB由排列在沿显示区域10a的另一边的方向上的多个小电极部TC形成。并且，多根驱动电极COMLB排列在沿显示区域10a的一边的方向上。
如图25所示，检测电极TDLB和驱动电极COMLB具有多个导电性细线33U和导电性细线33V。导电性细线33U和导电性细线33V配置成网状，形成以与显示区域10a的一边平行的直线作为对称轴的线对称形状。导电性细线33U和导电性细线33V在沿显示区域10a的长边的方向上交替排列，在显示区域10a的几乎整个表面上形成网眼状的金属配线。
如图25所示，导电性细线33U、33V通过设置于沿虚线51c、51d的位置处的狭缝而电分离。检测电极TDLB的小电极部TD和驱动电极COMLB的小电极部TC包括导电性细线33U和导电性细线33V。
检测电极TDLB在显示区域10a的一边侧连接于配线37B。另外，驱动电极COMLB在显示区域10a的另一边侧连接于配线37B。配线37B设置于框缘区域10b，连接检测电极TDLB和柔性印刷基板71，并连接检测电极TDLB及驱动电极COMLB和柔性印刷基板71。
本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1C基于检测电极TDLB与驱动电极COMLB之间的互静电电容，检测外部的导体靠近或接近的位置。检测装置30根据上述互静电电容方式的触摸检测的基本原理来检测触摸输入。
下面，对本实施方式的检测电极TDLB和驱动电极COMLB的详细构成进行说明。如图25所示，检测电极TDLB包括小电极部TD1、TD2、TD3。驱动电极COMLB包括小电极部TC1、TC2。
在小电极部TC1中，多个导电性细线33U和多个导电性细线33V通过耦合导电性细线33U的弯曲部和导电性细线33V的弯曲部来形成交叉部的电连接部33x。多个导电性细线33U和多个导电性细线33V通过交叉部的电连接部33x导通。小电极部TC2以及检测电极TDLB的小电极部TD1、TD2、TD3也具有与小电极部TC1相同的构成。
如图25所示，桥接部52以与驱动电极COMLB之间具有间隔的方式配置于其上方。检测电极TDLB的小电极部TD1和小电极部TD2分别通过通孔38a内的连接电极52a连接于桥接部52。由此，小电极部TD1和小电极部TD2经由桥接部52连接。需要说明的是，桥接部52可以使用ITO等具有透光性的导电性材料。另外，连接电极52a可以使用与桥接部52相同的材料在同一工序中形成。另外，桥接部52和连接电极52a也可以使用上述材料作为导电性细线33U、33V的材料。
如图26和图27所示，桥接部52由绝缘材料的保护层38b覆盖。如图25所示，桥接部52在俯视观察时具备至少一个凸部52P。由于桥接部52散布在平面内，因此，如果成为保护层38b的绝缘材料的液滴扩散并碰到桥接部52，则绝缘材料的扩散可能会被局部阻挡，而导致不均。凸部52P为成为保护层38b的绝缘材料的液滴的扩散提供流动力，成为保护层38b的绝缘材料也容易填充到桥接部52的周围。
更优选地，多个凸部52P是从桥接部52呈放射状延伸的形状。该结构能够为成为保护层38b的绝缘材料的液滴的扩散提供流动力。以上说明了桥接部52连接多个小电极部TD的实例，桥接部52也可以在连接多个小电极部TC的方式中使用。
在实施方式3中，小电极部TD1、TD2、保护层38b、桥接部52依次层叠。桥接部52只要层叠在与小电极部TD1、TD2不同的层上即可。因此，作为实施方式3的变形例，也可以是，桥接部52、保护层38b、小电极部TD1、TD2依次层叠。在这种情况下，桥接部52经由分别连接至小电极部TD1、TD2的下方的通孔38a通过保护层38b分别连接于相邻的小电极部TD1、TD2。
相邻的小电极部TD2和小电极部TC1在图25的虚线51c、51d所示的部位，通过设置于导电性细线33U、33V的狭缝而电分离。同样，相邻的小电极部TD2和TC2通过设置于导电性细线33U、33V的狭缝而电分离。由此，各小电极部TD和各小电极部TC分离，在检测电极TDLB的小电极部TD和与小电极部TD相邻的驱动电极COMLB的小电极部TC之间形成静电电容。
在本实施方式中，检测电极TDLB和驱动电极COMLB设置在与基板31的表面平行的同一平面上。因而，如图27所示，在TFT基板21上设置公共电极23来代替驱动电极COML(参见图9)。公共电极23是用于向显示装置20的多个像素电极22提供公共电位的电极，其作为透光性导电氧化物的导电层的整张膜连续设置在TFT基板21上。
在图24所示的实施方式3所涉及的检测电极TDLB中，与检测电极TDLB的整个主检测区域10d相比，在与连接配线34a、34b中的每一个相连的检测电极TDLB的端部区域10c内，导电性细线33U、33V占每单位面积的表面密度变小。于是，在实施方式3中，面积S2也大于面积S1。由此，比起面积S1，成为保护层38的绝缘材料的微小液滴滴入面积S2内的概率提高。结果，抑制了气泡残留在由连接配线34a或连接配线34b和导电性细线33a、33a、33U、33V包围的空间内的可能性。
以上说明了本发明的优选实施方式，本发明并不限定于这样的实施方式。实施方式中所公开的内容仅为一例，在不脱离本发明的宗旨的范围内可进行各种变更。在不脱离本发明的宗旨的范围内所进行的适当变更当然也属于本发明的技术范围。
例如，导电性细线33U、33V、33Q、33A、33B、33C的形状、线宽、间隔宽度可以适当变更。另外，导电性细线33U和导电性细线33V以平行于方向Dy的直线为对称轴呈线对称，但并不限定于此，也可以是非对称的形状。
在实施方式2中，在检测电极TDLA的同一平面上设置了伪电极TDD，但也可以在实施方式1和实施方式3的带触摸检测功能的显示装置1、1C上设置伪电极TDD。例如，可以在图8所示的相邻的导电性细线33U、33V彼此之间配置伪电极TDD，或者可以在图8所示的相邻的检测电极TDL彼此之间配置伪电极TDD。另外，也可以在设置于沿上述虚线51a、51b、虚线51c、51d的位置处的狭缝中配置伪电极TDD。
上述各实施方式可适当组合各构成部分。另外，关于通过在本实施方式中叙述的方式带来的其他的作用效果而从本说明书的记载明确得到的、或者本领域技术人员容易想到的，当然理解为通过本发明得到的。

Claims (11)

1.一种检测装置，具备：
基板；
检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，并具有在第一方向上延伸的多个第一导电性细线、在相对于所述第一方向具有第一角度的第二方向上延伸的多个第二导电性细线、以及在相对于所述第一方向具有所述第一角度的第三方向上延伸的多个第三导电性细线；
连接配线，用于在所述检测电极的端部，在与所述第一方向交叉的第四方向上延伸，并且连接多个导电性细线和检测部；以及
绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，
所述连接配线与两个所述第一导电性细线连接，
所述连接配线通过两个所述第一导电性细线、所述第二导电性细线、所述第三导电性细线形成五边形，
与所述连接配线连接的所述第一导电性细线连接有由两个所述第二导电性细线和两个所述第三导电性细线构成的四边形，
所述连接配线与所述第一导电性细线形成的所述五边形的内角大于所述连接配线与所述第二导电性细线形成的锐角，
与所述检测电极的整个区域相比，在从最靠近所述连接配线的电连接部到连接配线的端部区域内，导电性细线的面积占每单位面积的表面密度变小。
2.根据权利要求1所述的检测装置，
由所述连接配线和所述导电性细线包围的面积大于将根据所述保护层的边缘的凹凸推测的推测半径的平方和圆周率相乘而得的面积。
3.根据权利要求1所述的检测装置，
所述四边形为平行四边形。
4.根据权利要求1所述的检测装置，
在多个所述导电性细线彼此之间，与所述导电性细线隔开的、不发挥所述检测电极的作用的伪电极设置在与所述基板的表面平行的、和所述导电性细线相同层的面上。
5.根据权利要求1所述的检测装置，
具有多个所述导电性细线的多个小电极部配置成岛状，
所述检测装置具备导电性的桥接部，所述桥接部层叠在与所述小电极部不同的层上，分别连接于相邻的所述小电极部，
所述桥接部由绝缘材料覆盖，在俯视观察时具备凸部。
6.一种检测装置，具备：
基板；
检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，具有在第一方向上延伸的多个第一导电性细线、在相对于所述第一方向具有第一角度的第二方向上延伸的多个第二导电性细线、以及在相对于所述第一方向具有所述第一角度的第三方向上延伸的多个第三导电性细线；
连接配线，在与所述第一方向交叉的第四方向上延伸，并用于连接多个所述导电性细线和检测部；以及
绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，
所述连接配线与两个所述第一导电性细线连接，
所述连接配线通过两个所述第一导电性细线、所述第二导电性细线、所述第三导电性细线形成五边形，
与所述连接配线连接的所述第一导电性细线连接有由两个所述第二导电性细线和两个所述第三导电性细线构成的四边形，
所述连接配线与所述第一导电性细线形成的所述五边形的内角大于所述连接配线与所述第二导电性细线形成的锐角，
由所述连接配线和所述导电性细线包围的面积大于所述检测电极的一个网眼所包围的面积。
7.根据权利要求6所述的检测装置，
由所述连接配线和所述导电性细线包围的面积大于将根据所述保护层的边缘的凹凸推测的推测半径的平方和圆周率相乘而得的面积。
8.根据权利要求6所述的检测装置，
所述四边形为平行四边形。
9.根据权利要求8所述的检测装置，
在多个所述导电性细线彼此之间，与所述导电性细线隔开的、不发挥所述检测电极的作用的伪电极设置在与所述基板的表面平行的、和所述导电性细线相同层的面上。
10.根据权利要求8所述的检测装置，
具有多个所述导电性细线的多个小电极部配置成岛状，
所述检测装置具备导电性的桥接部，所述桥接部层叠在与所述小电极部不同的层上，分别连接于相邻的所述小电极部，
所述桥接部由绝缘材料覆盖，在俯视观察时具备凸部。
11.一种显示装置，具备：
权利要求1至10中任一项所述的检测装置；以及
显示区域，
所述检测电极设置在与所述显示区域重叠的区域内。
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