CN106538056A - 用于运行光电子组件的方法和光电子组件 - Google Patents

Abstract

在不同的实施例中提供用于运行光电子组件（100）的方法。所述光电子组件（100）具有至少一个器件分支（22），所述器件分支具有至少一个部段（102、110）。部段（102、110）具有至少一个发光二极管元件（12、14、16、18）。器件分支（22）被供应电能。中断器件分支（22）的电能供应。检测器件分支（22）的部段（102、110）的输入端（106、116）和器件分支（22）的部段（102、110）的输出端（108、118）之间所施加的总电压（Uges）。将所述总电压（Uges）与部段（102、110）的所有发光二极管元件（12、14、16、18）的阈值电压（Uf）的和进行比较。如果所述总电压（Uges）等于或至少近似等于阈值电压（Uf）的和，则识别出器件分支（22）的部段（102、110）不具有短路。替代地或附加地，如果所述总电压（Uges）小于阈值电压（Uf）的和，则识别出器件分支（22）的部段（102、110）具有短路。

Description

用于运行光电子组件的方法和光电子组件

技术领域

本发明涉及一种用于运行光电子组件的方法和一种光电子组件。

背景技术

光电子组件例如可以具有一个，两个或更多个发光二极管元件。所述发光二极管元件例如可以是发光二极管（LED）和/或有机发光二极管（OLED）或者发光二极管（LED）或有机发光二极管（OLED）的部分或区段。

尽管进行了发光二极管元件的耗费的质量控制，但不能完全排除，发光二极管元件在应用中自发地失效。例如在OLED的情况下，自发失效的典型错误形式是相应的发光二极管元件的电极之间的短路（英文：Short）。这种短路通常是小面积的。因此总电流的大部分集中在小面积的短路点处。因此，电流密度在短路点处显著提高，因此该短路点可以依赖于其面积范围地被强烈加热。这可能导致电极的熔化、OLED的发光图像中的黑斑、完全暗的OLED和/或OLED上的变热的位置。

为了防止由于该过热所致的潜在危险（燃烧危险，火灾，爆裂等），这样的短路应该被光电子组件的驱动器电子设备识别并且引入合适的保护反应（切断OLED或光电子组件，将供电电流从短路的OLED改道，输出警告信号等）。例如，在汽车领域中要求例如尾灯中的有缺陷的OLED或LED以电子方式被识别并且至少向车载系统报告。

应用中的发光二极管元件、例如OLED、光电子组件的常见互连出于技术原因并且出于成本原因是发光二极管元件的串联。例如，多个发光二极管元件可以串联成一个发光二极管和/或多个发光二极管可以串联。在许多应用中，例如在汽车领域中或在普通照明的领域中，因此更多的发光二极管元件电串联。如果应该以简单的方法识别串联电路中的各个有缺陷的发光二极管元件，则这是特殊的挑战。

从US 2011 204 792 A1、WO 2010 060 458 AI和WO 2012 004 720 A2已知用于确定个别OLED的短路的方法，其中相应的OLED上的过压或欠压被用作为缺陷的标准。在OLED的正常运行期间检测过压或欠压。以使控制电流改道（旁路）和/或以错误信号产生的方式对识别出短路进行反应。

图1示出常规的光电子组件10，其具有第一发光二极管元件12、第二发光二极管元件14、第三发光二极管元件16和第四发光二极管元件18。发光二极管元件 12、14、16、18被布置在光电子组件10的一个器件分支22中。第二发光二极管元件14具有短路，该短路在图1中被描绘成短路电阻24。短路电阻24与第二发光二极管元件14电并联并且在电气上与欧姆电阻类似地表现，其中电阻的值可以根据短路的类型而变化。

利用根据常规方法测量正向电压以用于确定图1中示出的光电子组件10中的短路，只要不在每个发光二极管元件12、14、16、18上进行单独测量，就得出以下问题：短路电阻24的电阻值（R_Short）例如在OLED的情况下处在宽的范围中、例如在10欧姆和几千欧姆之间。利用器件分支22的输入端和器件分支22的输出端可以在额定工作中仅检测所有发光二极管元件12、14、16、18上的总电压（Uges）。因此，总电压在相同的发光二极管元件12、14、16、18的情况下对应于发光二极管元件12、14、16、18的相应的单个电压（Uf）的四倍，并且在没有短路的情况下得出：Uges = 4×Uf。

如果在发光二极管元件12、14、16、18之一中存在短路，则得出 Uges = 3×Uf +R_Short×I。

在Uf = 6V的单个电压、额定工作电流（Ⅰ）为300 mA和具有10欧姆电阻值的短路的情况下得出总电压为

Uges = 3×6V + 10 Ohm X 0.3A = 21V。

如果在发光二极管元件12、14、16、18之一中的短路的识别阈值（U_T）被设定到三倍和四倍的单个电压之间的值、例如单个电压的3.5倍上，则得出识别阈值为 U_T= 3.5×6V = 21V。

因此，总电压在该示例中在错误情况下精确地位于识别阈值上，这在相应测量值的在现实中出现的波动的情况下无法得出足够的识别可靠性。

然而，如果短路具有例如50欧姆的更高的电阻值，则得出总电压为

Uges = 3×6V + 4.8V = 22.8V，因此具有上述识别阈值U_T= 21V的短路不被识别为这样的短路。这可能基于以下事实，相应的短路可能比短路OLED的有机材料的阻抗更高。因此相应OLED的单个电压主要由有机材料确定并且不由该短路来确定。尽管如此，在短路点处的电流密度提高，这导致了温度上升，因此应该对短路进行反应。

总电压由于短路的减小在器件分支22中的多个发光二极管元件12、14、16、18的情况下、特别是在长的分支长度的情况下成百分比地下降，或者由于短路上的电压降部分地被抵消并且因此是公差易受影响的。短路的在总电压中存在的标志能够困难地识别或根本不能识别。

因此产生问题，在短路的情况下，所短路的发光二极管元件12、14、16、18上的单个电压由于在额定工作中短路上的电压降、与没有短路的发光二极管元件12、14、16、18相比不一定显著地下降，并且基本不能识别，总电压是正常的还是由于短路比正常的更低。

因此已知的是，每个驱动电路仅设置一个发光二极管元件、即没有串联电路，或者在每个发光二极管元件上安装自身的探测电子设备或必须将用于驱动器控制电子设备的电压测量导线引导至每个OLED连接点处，这意味着提高的布线耗费。这些方案是昂贵的和耗费的。为了测量各个正向电压，因此要么在每个OLED上必须连接一个测量系统，这要求高的布线耗费和高数量的测量系统并且因此导致高的成本，要么唯一的测量系统例如借助多路复用器必须分别被接通到各个OLED上，然而这同样要求高的布线耗费和用于多路复用器的耗费并且因此导致高的成本。

然而已知以下系统，其中由结构类型决定地，每个发光二极管元件单独地与用于开关发光二极管元件的晶体管接触，并且存在至晶体管的相应控制导线，例如用于调光和/或闪烁系统。

图2示出常规的光电子组件10，其在很大程度上对应于前面解释的常规组件10。光电子组件10例如可以来自汽车领域，例如是机动车的方向指示器、例如动画闪烁灯。发光二极管元件12、14、16、18应该单独地电流恒定地来控制。出于成本原因，发光二极管元件12、14、16、18电串联，并且仅使用一个驱动电路20、例如快速进行调节的电流源，例如直流电压转换器。每个发光二极管元件12、14、16、18与各一个开关、例如第一晶体管32，第二晶体管34，第三晶体管36或第四晶体管36电并联。因此电流可以个别地从每个发光二极管元件12、14、16、18旁边引导并且尽管如此经过另外的发光二极管元件12、14、16、18引导。为了调光也可以脉宽调制地控制晶体管32、34、36、38。

在图2中所示的常规光电子组件中，相比图1可以相对简单地测量各个正向电压。可以连接一个检测总电压的测量系统，并且可以依次地除了一个开关之外闭合所有其他开关，使得所有发光二极管元件除了一个之外都被桥接，并且然后可以借助该测量系统检测各个发光二极管元件的正向电压。然而，在这里相应的发光二极管元件在运行中也被测量，并且如以上所解释的那样依赖于短路电阻不能可靠地识别正向电压的下降。

在许多应用中，然而为了减少成本和布线耗费，多个OLED如图1和2中所示那样串联，并且由唯一的驱动通道电流调节地运行。在这样的应用中，用于识别短路的已知方法是不合适的，不够好地工作，或者仅仅能够以提高的技术和/或成本方面的耗费来应用。因此常规的方法不能或仅能够以高的技术耗费来可靠地识别串联电路之内的一个或多个短路的发光二极管元件。

发明内容

本发明的任务是提供一种用于运行光电子组件的方法，该方法能够实现：可靠地识别光电子组件的单个发光二极管元件的短路，可靠地识别光电子组件的发光二极管元件的串联电路中的一个发光二极管元件的短路，利用光电子组件的驱动电路的仅仅一个输入端和输出端识别短路，和/或最小化老化和/或温度对识别短路的干扰参量影响。

本发明的另一任务是提供一种光电子组件，该光电子组件能够实现：可靠地识别光电子组件的单个发光二极管元件的短路，可靠地识别光电子组件的发光二极管元件的串联电路中的一个发光二极管元件的短路，利用光电子组件的驱动电路的仅仅一个输入端和输出端识别短路，和/或最小化老化和/或温度对识别短路的干扰参量影响。

所述任务根据本发明的一个方面通过一种用于运行光电子组件的方法来解决。光电子组件具有至少一个器件分支，该器件分支具有至少一个部段。该部段具有至少一个发光二极管元件。该器件分支被供应电能。该器件分支的能量供应被中断。检测施加在器件分支的该部段的输入端与器件分支的该部段的输出端之间的总电压。该总电压与该部段的所有发光二极管元件的预先确定的阈值电压的和进行比较。如果总电压等于或至少近似等于预先确定的阈值电压的和，则识别出器件分支的该部段不具有短路。替代地或附加地，如果总电压小于预先确定的阈值电压的和，则识别出器件分支的该部段具有短路。

器件分支的不久之前还运行的部段的输入端和输出端之间的总电压的测量能够实现，已经可靠地识别该部段中的、特别是电气串联电路中的单独的短路的发光二极管元件。用于运行、特别是用于驱控、控制和/或调节器件分支的发光二极管元件的驱动电路可以被用于识别短路，其中该驱动电路仅必须具有一个输入端和一个输出端。根据实施方案，干扰参量、如老化和温度对探测的影响可以被最小化/消除，如更下面详细解释的那样，其中为此可能必须构造一个、两个或更多个另外的输入端和/或输出端。发光二极管元件例如是OLED或LED，或者OLED或LED的一部分或一区段。

总电压可以通过部段的输入端和输出端来测量。如果部段的输入端与器件分支的输入端电耦合或者对应于器件分支的输入端并且如果部段的输出端与器件分支的输出端电耦合或对应于器件分支的输出端，则总电压可以通过器件分支来检测并且对应于部段上的总电压。在中断器件分支的能量供应不久之后的总电压在没有短路的部段中与在具有短路的部段中的总电压显著地不同。所检测的总电压与该短路的电阻值无关。在部段和/或器件分支中存在短路意味着，相应部段或器件分支中的发光二极管元件之一具有短路。

作为对识别到短路的反应，例如可以关断驱动电路，可以产生一个警告信号并且引导到上一级的单元、例如计算单元、例如机动车的车载计算机和/或被短路的发光二极管元件可以被电绕行。这例如可以在汽车领域中和/或普通照明领域中和/或在耗电器领域中，例如在具有一个单独的或多个OLED的手电筒中令人感兴趣。

根据一种改进方案，部段具有预先确定数量的发光二极管元件。部段的所有发光二极管元件具有相同的预先确定的阈值电压。如果所检测的总电压比所有预先确定的阈值电压的和小一个预先确定的阈值电压，则该部段具有一个短路。这能够有助于以简单的方式识别短路。

根据一种改进方案，在中断该器件分支的能量供应之后的预先确定的持续时间后才检测总电压。预先确定的持续时间可以位于例如50μs至60s、例如500μs至1s、例如1ms至500ms、例如10ms至100ms的范围内。这可以有助于能够精确地确定总电压和/或可靠地识别短路。

根据一种改进方案确定，在中断器件分支的能量供应之后多长的持续时间之后，器件分支的该部段的一个发光二极管元件上的电压对应于其预先确定的阈值电压。这样确定的持续时间作为预先确定的持续时间来预先确定。换言之，只有当该部段的发光二极管元件上的相应电压下降到其预先确定的阈值电压上时，才检测总电压。该持续时间例如可以根据经验来确定、存储并且然后预先确定。这可以有助于能够精确地确定总电压和/或可靠地识别短路。

根据一种改进方案，通过以下方式中断器件分支的能量供应，即关断用于运行器件分支的驱动电路或中断驱动电路和器件分支之间的电连接。这可以有助于可靠地和/或以简单的方式来中断器件分支的能量供应。驱动电路的关断例如可以借助用于驱控、调节或运行驱动电路的计算单元来实现。驱动电路和器件分支之间的电连接例如可以借助相应开关来中断。

根据一种改进方案，首先通过以下方式确定器件分支的具有第一发光二极管元件的第一部段是否具有短路，即在中断器件分支的能量供应之后、例如在预先确定的持续时间之后检测第一发光二极管元件上的单个电压并且将所检测的单个电压与第一发光二极管元件的预先确定的阈值电压进行比较。如果所检测的单个电压等于或至少近似等于预先确定的阈值电压，则所检测的单个电压被预先确定为额定值。器件分支的第一部段和器件分支的与第一部段串联的第二部段被供应能量，该第二部段具有至少一个第二发光二极管元件。重新中断器件分支的能量供应。检测第一部段的输入端和第二部段的输出端之间的总电压。所检测的总电压与预先确定的额定值和器件分支中的发光二极管元件的数量的乘积进行比较。如果所检测的总电压小于该乘积，则识别出第二部段具有短路。如果所检测的总电压等于或至少近似等于该乘积，则识别出第二部段不具有短路。如果第一部段仅具有唯一的发光二极管元件，则相应发光二极管元件上的单个电压对应于相应部段上的总电压。

换言之，两次执行该方法，首先在第一部段、特别是第一发光二极管元件中，并且然后在第二部段、特别是其他发光二极管元件中。如果第一部段恰好具有一个发光二极管元件、即第一发光二极管元件，则在总电压是零或近似为零的情况下可以简单地识别在第一部段中存在短路。如果在第一发光二极管元件中不存在短路，则所检测的单个电压不等于零，并且如果第一部段的发光二极管元件与第二部段的一个或多个发光二极管元件相似或相同，则所检测的单个电压可以用作特别是第二部段中的进一步测量的参考值和/或额定值。这可以有助于，在很大程度上或甚至完全消除如温度和/或老化对识别短路的干扰影响，因为第一部段中的第一发光二极管元件通常受到与第二部段中的其他发光二极管元件相同的影响，并且因为干扰影响因此已经进入到之前确定的预先确定的额定值、即预先确定的阈值电压中并且因此被考虑。

根据一种改进方案，首先通过以下方式确定器件分支的具有至少一个第一发光二极管元件的第一部段是否具有短路，即在中断器件分支的能量供应之后、例如在预先确定的持续时间之后检测器件分支的第一部段的输入端与器件分支的第一部段的输出端之间的第一总电压并且所检测的第一总电压与第一部段的所有发光二极管元件的预先确定的阈值电压的和进行比较。器件分支的第一部段和器件分支的与第一部段串联的第二部段被供应能量，该第二部段具有至少一个第二发光二极管元件。中断器件分支的能量供应。检测第二部段的输入端和第二部段的输出端之间的第二总电压并且所检测的第二总电压与第二部段的所有发光二极管元件的阈值电压的和进行比较。

换句话说，至少两次地执行该方法，首先在第一部段中，并且然后在第二部段中。此外，器件分支可以划分为其他部段，并且该方法可相应更经常被执行。部段越短，在具有短路的部段和没有短路的相同部段之间的总电压的区别就越显著。这可以有助于实现特别高的识别精度，其中错误容限是更高的，和/或在很大程度上消除如温度和/或老化对识别短路的干扰影响。

根据一种改进方案，第一总电压与第二总电压进行比较。根据该比较识别部段之一中短路的存在。如果两个部段具有相同数量的发光二极管元件，这例如可以是有利的。在完好的发光二极管元件的情况下，相应的总电压于是必须是相等的或至少近似相等。该比较例如可以用作附加和/或冗余检查。

所述任务根据另一个方面通过一种光电子组件来解决。光电子组件具有：至少一个具有至少一个部段的器件分支，其中该部段具有至少一个发光二极管元件;与该器件分支电耦合的用于给该器件分支供应电能的能量源;用于中断器件分支的能量供应的第一开关;用于检测器件分支的该部段的输入端和器件分支的该部段的输出端之间的总电压的电压测量设备;分析单元，该分析单元被设立用于通过以下方式根据所检测的总电压来确定器件分支的该部段、特别是器件分支的该发光二极管元件是否具有短路，即总电压与该部段的所有发光二极管元件的阈值电压的和进行比较，并且如果总电压等于或至少近似等于阈值电压的和，则识别出器件分支的该部段不具有短路，和/或如果总电压小于阈值电压的和，则识别出器件分支的该部段具有短路。

该光电子组件适合于执行上述方法。特别是，可以借助第一开关提供或中断器件分支的能量供应。关于方法提及的优点和改进方案可容易转移到光电子组件的相应优点和改进方案上。能量源例如可以是驱动电路，被称为驱动电路，或者是驱动电路的一部分。

根据一种改进方案，第一开关被构造成，使得借助第一开关可以接通或关断用于运行器件分支的驱动电路，或者可以连接或中断驱动电路和器件分支之间的电连接。

根据一种改进方案，器件分支具有第一部段和与第一部段电串联的第二部段。第一部段至少具有第一发光二极管元件。第二部段至少具有第二发光二极管元件。所述光电子组件具有第二开关，该第二开关在其第一开关状态中将第一部段的输出端与第二部段的输出端电耦合，并且在其第二开关状态中将第一部段的输出端与第二部段的输出端彼此电隔离。第二开关能够实现，与第二部段无关地关于短路的存在来检查第一部段。

根据一种改进方案，光电子组件具有第三开关，该第三开关在其第一开关状态中将第一部段的输入端与第二部段的输入端电耦合，并且在其第二开关状态中将第一部段的输入端与第二部段的输入端彼此电隔离，并且该第三开关与第二开关电耦合。第三开关能够实现，与第一部段无关地关于短路来检查第二部段。

根据一种改进方案，发光二极管元件中的至少一个是无机发光二极管或无机发光二极管的一部分，并且电容器与器件分支电并联。

根据一种改进方案，发光二极管元件中的至少两个是无机发光二极管并且各一个电容器与所述无机发光二极管电并联。

一个或多个电容器能够实现，在无机发光二极管中执行上文中所述的方法并且可靠地识别短路。因为无机发光二极管的电极相较于OLED是相对小的，电容器负责光电子组件中的电子条件，所述电子条件能够实现该方法的执行。特别是在中断器件分支的能量供应之后，总电压对应于分配给完好的发光二极管元件的电容器上的电压的和，其中在短路的情况下，相应发光二极管元件的电容器可以通过电阻快速放电。替代地或附加地，发光二极管元件中的至少一个是有机发光二极管或有机发光二极管的一区段。

根据一种改进方案，器件分支的至少一个部段具有至少两个发光二极管元件。

附图说明

本发明的实施例在附图中示出并在下面更详细地解释。

其中： 图1示出常规光电子组件的电路图； 图2示出常规光电子组件的电路图；图3示出常规光电子组件的电路图； 图4示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图5示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图6示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图7示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图8示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图9示出具有电压和电流的示例性曲线的图形； 图10示出具有示例性的测量结果的表格; 图11示出光电子组件的一个实施例的电路图； 图12示出光电子组件的一个实施例的电路图。

具体实施方式

在下面的详细描述中参考附图，所述附图构成说明书的一部分，并且在所述附图中为了阐明示出特定实施例，在所述实施例中可以实践本发明。在这方面，方向术语，诸如“上”、“下”、“前”、“后”、“前面的”“后面的”等参考所描述的图的定向来使用。因为实施例的部件可以以多个不同的定向来定位，所以方向术语仅用于阐明并且绝不是限制性的。易于理解的是，其他实施例可以被利用，并且进行结构的或逻辑的变化，而不偏离本发明的保护范围。易于理解的是，这里描述的不同实施例的特征可以彼此组合，除非另外特别说明。因此下面的详细描述不应该限制性地来理解，并且本发明的保护范围通过所附的权利要求来限定。

在本说明书的范围内，术语“连接”、“联接”以及“耦合”被用于描述直接和间接的连接，直接或间接的联接以及直接或间接的耦合。在附图中，相同或相似的元件配备有相同的附图标记，只要这是适宜的。

光电子组件可以具有一个、两个或更多个发光二极管元件。可选地，光电子组件也可以具有一个、两个或更多个电子器件。电子器件例如可以具有有源和/或无源器件。有源电子器件例如可以具有驱动电路、能量源、计算单元、控制单元和/或调节单元和/或晶体管。无源电子器件例如可以具有电容器、电阻、二极管或线圈。

发光二极管元件可以是发射电磁辐射的半导体发光二极管元件、无机发光二极管（发光二极管，LED）和/或有机发光二极管（有机发光二极管，OLED）。然而，发光二极管元件也可以仅仅是发光二极管、例如LED或OLED的一部分或一个区段。例如OLED可以被分割并且在每个区段中具有发光二极管元件。发光二极管中的多个发光二极管元件可以电并联和/或电串联。发光二极管元件可以是集成电路的一部分。此外，多个发光二极管元件可以被设置、例如安装在共同的壳体中。发光二极管元件例如可见发射可见范围内的光、紫外光和/或红外光。

图1示出常规的光电子组件10，其具有第一发光二极管元件12、第二发光二极管元件14、第三发光二极管元件16和第四发光二极管元件18。发光二极管元件12、14、16、18被布置在组件10的器件分支22中。发光二极管元件12、14、16、18电串联。驱动电路20被布置并且用于运行、特别是用于控制或调节发光二极管元件12、14、16、18。

第二发光二极管元件14具有短路，该短路在图1中作为短路电阻24来描绘。短路电阻24与第二发光二极管元件14电并联并且在电气上表现得与欧姆电阻类似。欧姆电阻的值取决于短路的类型，例如取决于短路的面积。

图2示出常规的光电子组件10。该常规的光电子组件10例如可以在很大程度上对应于图1中所示的常规的光电子组件10。发光二极管元件12、14、16、18分别与一个开关、例如第一晶体管32、第二晶体管34、第三晶体管36或第四晶体管36电并联。因此电流可以单独地从每个发光二极管元件12、14、16、18旁边引导并且尽管如此经过其他发光二极管元件12、14、16、18引导。

图3示出常规的光电子组件10，其在很大程度上对应于图1中所示的光电子组件10，其中光电子组件10只有三个发光二极管元件12、14、16。发光二极管元件12、14、16在图3中以等效电路图示出。在等效电路图中，对于每个发光二极管元件12、14、16都描绘出本征电容44、50、56和电极电阻42、48、54以及体电阻46、52、58。体电阻46、52、58也可以被称为漏电流电阻。换句话说，发光二极管元件12、14、16由于其本征特性而具有电容和电阻，所述电容和电阻在图3中除了二极管符号之外作为独立的电子器件绘出。在等效电路图中，二极管符号仅仅代表发光二极管元件12、14、16的发光层。在电极电阻42、48、54的每一个中，不同的本征部分、两个或更多个本征电阻可以结合，特别是第一发光二极管元件12的两个电极的各个电阻可以作为唯一的电极电阻42来示出。

图3并且特别是在图3中所示的等效电路图用于更好地理解参照以下附图解释的光电子组件和用于运行相应的光电子组件的方法。

第一发光二极管元件12具有第一电极电阻42、作为第一电容器44来示出的第一本征电容和第一体电阻 46。第二发光二极管元件14具有第二电极电阻48，作为第二电容器50来示出的第二本征电容和第二体电阻 52。第三发光二极管元件16具有第三电极电阻器54，作为第三电容器56来示出的第三本征电容和第三体电阻 58。

发光二极管元件12、14、16是OLED并且电极电阻42、48、54是OLED的阳极、特别是ITO层的和/或阴极的欧姆电阻，其为清楚起见借助共同的电阻符号来示出。本征电容对应于由OLED的各一个阳极阴极对构成的电容器44、50、56。体电阻46、52、58对应于针对二极管典型的体电阻并且能够实现漏电流流经发光二极管元件12、14、16。

替代于此，发光二极管元件12、14、16也可以是LED，其中电阻​和/或电容的值于是可以比OLED中的更小。

第二电极电阻48与短路电阻24电串联。短路电阻24与第二电容器50和第二体电阻52电并联。

常规光电子组件10的借助等效电路图可识别的电子特性在下面被充分利用，以便提供一种光电子组件和/或一种用于运行光电子组件的方法，其中可以简单并且可靠地识别发光二极管元件12、14、16之一的短路。

图4示出光电子组件100的一个实施例。光电子组件100具有器件分支22和第一发光二极管元件12。第一发光二极管元件12具有本征电容和本征电极电阻，所述本征电容和本征电极电阻为清楚起见在图4中未示出。

器件分支22具有部段102，在该部段102中布置有第一发光二极管元件12。部段102具有部段的输入端106和部段102的输出端108。第一开关101与部段102的输入端106并且与驱动电路20电耦合。第一开关101在其第一开关状态中引起部段102的输入端106和驱动电路20之间的电耦合，并且因此在其第一开关状态中被闭合，并且在其第二开关状态禁止该电耦合，并且因此在其第二开关状态中被断开。

电压测量设备105与器件分支电并联。电压测量设备105用于在断开的第一开关101和/或在切断的或未激活的驱动电路的情况下检测施加在器件分支22上的总电压、特别是部段102的输入端106和部段102的输出端108之间的总电压。

在光电子组件100中可以简单地检查，在第一发光二极管元件12中是否存在电短路。在完好的第一发光二极管元件12的情况下、即如果在第一发光二极管元件12不存在短路，则在中断器件分支22的电能供应之后，第一发光二极管元件12首先仅仅一直经由第一发光二极管元件12的光学功能层结构、特别是在正常运行中的发光层和第一发光二极管元件12的本征体电阻来放电，直到在第一发光二极管元件12上仅仅存在其阈值电压，因为该发光二极管元件12直至阈值电压还是电导通的。如果达到阈值电压，则第一电容器44的本征电容仅还非常缓慢通过体电阻放电。阈值电压可以在断开第一开关101之后的短暂的持续时间之后借助电压测量设备105作为总电压来检测。这样检测的总电压然后可以与预先确定的阈值进行比较，该预先确定的阈值特别是对应于预先确定的阈值电压。如果所检测的总电压对应于或至少近似对应于预先确定的阈值，则不存在短路。预先确定的阈值电压例如可以凭经验确定和/或存储。

如果在第一发光二极管元件12中存在短路，则第一发光二极管元件12、特别是其本征电容在断开第一开关101之后完全通过该短路非常快速地放电，并且在输入端106和输出端108之间不再存在电压差。电压测量设备105于是仅还检测到零或近似零的值。

为了关于短路检查第一发光二极管元件12，第一开关101因此首先被切换到其第一开关状态，即被闭合。器件分支22和尤其是第一发光二极管元件12借助驱动电路20来供应电能。接着，驱动电路20被关断和/或第一开关101被断开，使得器件分支22的电能供应中断。在预先确定的持续时间之后，检测输入端106与输出端108之间的总电压。如果所检测的总电压是零或近似等于零，则识别出在第一发光二极管元件12中存在短路。如果总电压对应于或超过预先确定的额定值，则识别出在发光二极管元件12中不存在短路。预先确定的额定值例如可以是最小值或阈值。预先确定的额定值可以存储在用于关于短路检查光电子器件100的分析单元和/或计算单元的存储单元上。

预先确定的持续时间例如可以根据经验确定。例如可以确定，在中断器件分支22的能量供应之后多长的持续时间之后，器件分支22的部段102上的总电压对应于部段102的所有发光二极管元件12的阈值电压的和。这样确定的持续时间可以被规定为预先确定的持续时间。换句话说，只有当部段102的发光二极管元件12上的相应电压下降到其预先确定的阈值电压上时，才可以检测该总电压。预先确定的持续时间可以位于例如50μs至60s、例如500μs至1s、例如1ms至500ms、例如10ms至100ms的范围内。例如在具有大约200Hz的脉冲频率的脉冲运行（PWM运行）中，500μs至5ms的持续时间是可以的。在例如具有700ms的闪烁停顿的闪烁灯中，预先确定的持续时间相应地小于700ms。然而也可以预先确定更长的持续时间，因为也可以在关断正常运行、例如闪烁灯运行之后关于短路检查相应的光电子组件100。

前述的用于运行光电子组件100的方法例如可以作为特定的测试情景例如在切断驱动电路20中和/或在汽车领域中在切断具有光电子组件100的汽车灯中被充分利用。替代地或附加地，例如如果光电子组件100是机动车的闪烁灯的一部分，则测试方法可以在脉冲地运行（PWM运行）光电子组件100中一次、多次和/或定期以一个或多个脉冲停顿来执行。

图5示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件100例如可以在很大程度上对应于图4中所示的光电子组件100。光电子组件100具有四个发光二极管元件12、14、16、18，其在器件分支22和部段102中电串联。

如果发光二极管元件12、14、16、18不具有短路，则所述发光二极管元件在中断器件分支22的能量供应之后、特别是在断开第一开关101之后，由于其本征电容而通过其本征体电阻和有机功能层结构放电直至其预先确定的阈值电压，其中各个预先确定的阈值电压相加成器件分支22上的总电压。因此总电压对应于本征电容上的单个电压的和。在四个发光二极管元件12、14、16、18的情况下，总电压对应于单个电压的四倍。换句话说，由于本征电容，能量的剩余量继续存储在发光二极管元件12、14、16、18中，该剩余量能够作为总电压借助电压测量设备105来测量。

如果在发光二极管元件12、14、16、18之一存在短路，例如在第二发光二极管元件14中存在短路，则在该第二发光二极管元件14中存储的能量通过短路电阻24放电并且总电压减小了所述一个预先确定的阈值电压。这意味着，在数量为n个发光二极管元件12、14、16、18的情况下，总电压比仅仅完好的发光二极管元件12、14、16、18的情况下小了一个阈值电压。所检测的总电压与预先确定的额定值的偏差可以借助未示出的计算单元、例如分析单元识别出，该计算单元与电压测量设备105和/或驱动电路耦合。预先确定的阈值电压例如可以在计算单元或分析单元中作为预先确定的额定值来存储。替代地，分析单元可以具有类似的比较器设备、例如比较器电路，该比较器设备将所检测的总电压与预先确定的额定电压、例如参考电压进行比较并且输出结果值，其中该额定电压代表预先确定的额定值。可以通过以下方式消除或至少最小化对放电电流的最大值的温度影响，即总是在相同的温度下、例如在使用未示出的温度传感器的情况下执行关于短路的检查。

因此在该方法中，在中断器件分支22的能量供应之后的预先确定的持续时间之后，测量器件分支22的待检查的部段102上的总电压。该总电压与器件分支22、特别是部段102中的完好的、即无短路的发光二极管元件12、14、16、18的数量显著相关。在发光二极管元件12、14、16、18之一中短路的情况下、即在数量为（n-1）个无瑕疵的发光二极管元件12、16、18和一个短路的发光二极管元件14的情况下，被短路的发光二极管元件14特别是在预先确定的持续时间消逝之前通过短路电阻24十分快速地放电了单个电压Uf，该单个电压例如对应于相应发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压。如果存在一个具有短路的发光二极管元件12、14、16、18，则总电压比没有短路的发光二极管元件12、14、16、18的无瑕疵的器件分支22的情况下小一个单个电压。如果存在两个或更多个分别具有短路的发光二极管元件12、14、16、18，则总电压比没有短路的发光二极管元件12、14、16、18的无瑕疵的器件分支22的情况下小相应的单个电压。

替代地，光电子组件100可以一个以上的器件分支22，一个以上的部段102和/或更多或更少的发光二极管元件12、14、16、18。

图6示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件100例如可以在很大程度上对应于图5中所示的光电子组件100。光电子组件100具有器件分支22，其中器件分支22具有在此上下文中被称为第一部段102的部段102和第二部段110。第一部段102具有输入端106和输出端108，所述输入端106和输出端108在此上下文中被称为第一输入端106或第一输出端108。第二部段110具有第二输入端116和第二输出端118。第一输出端108可以对应于第二输入端116或直接与第二输入端116电耦合。

第二开关112与第二部段110电并联。第二开关112在一侧与第一输出端108和/或第二输入端116电耦合，并且在另一侧与第二输出端118、电压测量设备105和驱动电路20电耦合。第二开关112在其第一开关状态下将第一输出端108与第二输出端118电耦合。换句话说，在第二开关112的第一开关状态下，电流从第二部段110绕行，使得只有第一部段102被供应能量。第二开关112例如被连接在器件分支的阴极或地（地面/ GND）与第一和第二发光二极管元件12、14之间的节点之间，并且在闭合的状态下桥接所有发光二极管元件14、16、18，除了在图6中最上面的、尤其是器件分支22的第一发光二极管元件12。对于第二开关112可以使用成本适宜的N-MOSFET或NPN晶体管。

如果第二开关112处于其第一开关状态中，则在图6中示出的光电子组件100的功能对应于在图4中所示的光电子组件100，其中第一发光二极管元件12可以根据在图4中所示的光电子组件100关于短路被检查。尤其是，在关于短路的检查开始时可以首先闭合第二开关112，并且然后闭合第一开关101，并且第一部段102被供应能量，或者可以首先闭合第一开关101并且整个器件分支22被供应能量，并且然后闭合第二开关112。随后中断器件分支22、特别是第一部段102的能量供应，并且借助电压测量设备105检测第一部段102上的总电压。

如果识别出在第一发光二极管元件12中没有短路，则所检测的总电压可以被称为第一总电压并且针对进一步的测量方法作为部分额定值来存储和/或预先确定。然后可以根据该部分额定值确定预先确定的额定值。特别是额定值可以被预先确定为部分额定值与待检查的部段102、110和/或器件分支中的发光二极管元件12、14、16、18的数量n的乘积。替代于此，所检测的第一总电压可以作为额定值来预先确定，并且然后，随后检测的总电压在其与这样预先确定的额定值进行比较之前除以相应的器件分支22或部段102、110中的发光二极管元件12、14、16、18的数量n。

如果第二开关112处于其第二开关状态中、即被断开，则在图6中示出的光电子组件100的工作方式对应于在图5中示出的光电子组件100。 然而与此不同地，现在在关于发光二极管元件12、14、16、18之一的短路检查第二部段110时，可以考虑之前作为参考和比较值来预先确定的额定值，已经根据在第一部段102中确定的部分额定值确定该额定值。特别是，在断开的第二开关112的情况下，可以闭合第一开关101并且器件分支22可以被供应能量。接着，中断能量供应并且借助电压测量设备105检测施加在整个器件分支22上的第二总电压。第二总电压现在可以与预先确定的额定值、特别是和器件分支22中的发光二极管元件12、14、16、18的数量n的乘积进行比较。预先确定的额定值在该实施例中特别是对应于第一总电压的四倍。如果第二总电压等于或至少约等于预先确定的额定值，则第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18不具有短路。如果第二总电压不等于或不至少约等于预先确定的额定值、特别是小于预先确定的额定值，则第二、第三和/或第四发光二极管元件14、16、18具有短路。（第一发光二极管元件12已被检查并且被判断为无瑕疵的）。

如果第一发光二极管元件12不具有短路，则第一总电压的确定和额定值根据第一总电压的预先确定，在第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18与第一发光二极管元件12结构相同并且因此遭受与第一发光二极管元件12相同的老化、磨损或温度状态的情况下可能是特别有利的。老化、磨损或温度的影响于是已经进入到预先确定的额定值中并且因此已经被考虑并且因此可以完全或至少部分地被消除。第一发光二极管元件12和其他发光二极管元件14、16、18关于短路的检查应该短暂地依次地被执行，例如最大间隔几秒地依次地被执行，以便发光二极管元件12、14、16、18的温度能够不过强烈地改变，并且能够不使检查失真。

因为阈值电压借助第一发光二极管元件12来确定并且然后作为额定值来预先确定，所以不存在以下必要性：必须已经在制造过程中为放电电流预编程或预先确定额定值形式的好/差阈值并且因此基于确定类型的发光二极管元件12、14、16、18设计光电子组件100。与此不同，可以将极不同类型的发光二极管元件12、14、16、18布置在器件分支22中，只要相同器件分支22中的所有发光二极管元件12、14、16、18是相同类型。关于短路的检查因此与发光二极管元件12、14、16、18的类型无关，特别是与所使用的OLED类型无关。此外，温度和老化影响被最小化，其中仅仅一个开关、更多特别是第二开关112是附加必需的。第二开关112例如可以具有晶体管或由该晶体管构成。此外，可以简单并且成本适宜地驱控第二开关112，因为用于相应MOSFET的控制信号可以参考地。

替代地，第二开关112也可以连接在第一部段102的输入端与第三和第四发光二极管元件16、18之间的部位之间。于是第二开关112在闭合的状态下桥接第一、第二和第三发光二极管元件12、14、16，使得器件分支22的最后的发光二极管元件、特别是第四发光二极管元件18可以独立于其他发光二极管元件地运行和检查。

图7示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件100例如可以在很大程度上与在图6中示出的光电子组件100相应地构造。第一部段102至少具有第一和第二发光二极管元件12、14。第二部分110至少具有第三和第四发光二极管元件16、18。第一输出端108和第二输入端116被布置在第二发光二极管元件14和第三发光二极管元件16之间。第二开关112在一侧与第一输出端108和/或第二输入端116电耦合，并且在另一侧与第二输出端108电耦合。第二开关112与第二部段110电并联。第二开关112在其第一开关状态下将第一输出端108和第二输出端118直接相互电耦合。

组件100具有第三开关114。第三开关114在一侧与第一输入端106电耦合，并且在另一侧与第一输出端108和/或第二输入端116电耦合。第三开关114与第一部段102电并联。第三开关114在其第一开关状态下将第一输入端106和第二输入端108直接相互电耦合。

因此，在闭合的第二开关112和断开的第三开关114的情况下，只有第一部段102能够被供应电能，并且在闭合的第三开关114和断开的第二开关112的情况下，只有第二部段110能够被供应电能。

在给部段102、110之一供应电能的情况下，发光二极管元件12、14、16、18的本征电容充电，并且在中断能量供应的情况下放电直至各个发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压，使得在相应部段102，110上出现由各个阈值电压的和组成的相应总电压。该总电压然后可以分部段地借助电压测量设备105来检测。根据所检测的总电压，根据在上文中解释的方法可以针对所述部段102、110中的每个单独地检查，相应部段102、110是否具有拥有短路的发光二极管元件12、14、16、18。关于短路的检查基本上可以与在上文中解释的检查对应地执行。替代地或附加地，所检测的总电压可以相互比较，由此可以相对和/或冗余地检查短路的存在。

原则上，在检测总电压时，所检查的器件分支22或部段102、110越短，短路的标志就越显著。

在图7中示出的光电子组件100中，器件分支22借助部段102、110和第二和第三开关112、114被对分，并且器件分支22中的短路的标志与在相同多个发光二极管元件12、14、16、18和仅仅唯一的部段102的情况下的标志相比变得更明显。为此执行两次检查来代替一次检查并且所检测的总电压必须单独地根据预先确定的额定值来检查。可选地，例如如果器件分支22还具有其他发光二极管元件12、14、16、18，则还可以添加其他开关。

替代于此，可以放弃两个开关112、114之一，其中于是两个部段102、110中的仅仅一个可以与相应的另外的部段102、110无关地被检查。

图8示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件例如可以在很大程度上对应于在图5中解释的光电子组件100。光电子组件100具有无机发光二极管元件12、14、16。无机发光二极管元件12、14、16具有与有机发光二极管元件相比相对小的电极，并且电极电容是相对小的。因此，在该光电子组件100中，电容器120与发光二极管元件12电并联，使得具有无机发光二极管元件12、14、16的器件分支22的电子行为至少类似于具有有机发光二极管元件的相应器件分支的电子行为。电容器120支持发光二极管元件12、14、16、18的本征电容。

在给器件分支22供应电能的情况下，电容器120充电。在中断器件分支22的能量供应之后，该器件分支22放电直至在电容器120中储存的能量。特别是在电容器120上存在的电容器电压对应于器件分支22中的所有完好的发光二极管元件12、14、16的总电压。如果发光二极管元件12、14、16之一具有短路，那么电容器电压和总电压减小相应的单个电压或阈值电压。因此，在上文中解释的用于运行光电子组件100、特别是用于确定发光二极管元件12、14、16、18之一中的短路的方法可以容易地被转移到具有无机发光二极管元件12、14、16的光电子组件100上。

替代于或附加于电容器120，可以为每个单独的发光二极管元件12、14、16分别电并联一个电容器。

如果光电子组件100仅仅具有有机发光二极管元件12、14、16、18，则也可以布置电容器120。

图9示出具有电压和电流的示例性曲线的图形。特别是，图9中的上图示出第一电压曲线120、第二电压曲线121、第三电压曲线122和第四电压曲线123。第二和第三电压曲线121、122位于第一和第四电压曲线120、123之间。

在时间点t = 0，器件分支22被供应能量并且第一电压曲线120上升到第一电压值124上和第四电压曲线123上升到第二电压值126上。电压曲线120、121、122、123的电压值124、126和位于其间的电压值取决于是否存在短路和如果存在，该短路具有哪个电阻。特别是在第一、第二和第三电压曲线120、121、122中存在短路，并且在第四电压曲线123中不存在短路。电压曲线120、121、122、123在给器件分支22供应能量期间是不同的，使得所述电压曲线不适合于可靠地识别短路。例如第三和第四电压曲线122、123在给器件分支22供应能量期间是非常相似的，尽管一次存在短路并且一次不存在短路。

在第一时间点132，中断器件分支22的能量供应，使得总电压下降到完好的发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压之和上，更确切地说，与该短路的电阻无关。特别是第一、第二和第三电压曲线120、121、122下降到第三电压值128上并且第四电压曲线123仅仅下降到第四电压值130上。第四电压值130对应于所有发光二极管元件12、14、16、18的总电压，因为不存在短路。第三电压值128对应于所有完好的发光二极管元件12、14、16、18的和，因为在发光二极管元件12、14、16、18之一中存在短路。第三电压值128与第四电压值130显著不同，并且第三电压值128在第一、第二和第三电压曲线120、121、122中是相同的或至少近似相同，使得可以简单并且可靠地识别短路的存在。

图10示出测量值的示例性表格。在表格的第一列中说明待检查的部段102、110中的发光二极管元件12、14、16、18的数量n。在第二列中说明在相应部段102、110中不存在短路的情况下在给器件分支22供应能量期间所检测的电压U。在第三列中说明在不存在短路的情况下在中断器件分支22的能量供应之后在相应部段102、110上的所检测的总电压Uges。在第四列中说明在不存在短路的情况下的发光二极管元件12、14、16、18上的平均单个电压Uges /n。在第五列中说明在发光二极管元件12、14、16、18中分别一个具有短路的情况下在给器件分支22供应能量期间所检测的电压U。在第六列中说明在发光二极管元件12、14、16、18之一具有短路的情况下在中断器件分支22的能量供应之后在相应部段102、110上的所检测的总电压Uges。在第七列中说明在发光二极管元件12、14、16、18之一具有短路的情况下的发光二极管元件12、14、16、18中的每个完好的发光二极管元件上的平均单个电压Uges /（n-1）。在第八列中说明在存在一个短路的情况下在中断器件分支22的能量供应之后的总电压Uges相对于在仅仅无瑕疵的发光二极管元件12、14、16、18的情况下在中断器件分支22的能量供应之后的总电压Uges的第一百分比偏差VGL1。在第九列中说明在存在一个短路的情况下在给器件分支22供应能量期间的电压U相对于在仅仅无瑕疵的发光二极管元件12、14、16、18的情况下在给器件分支22供应能量期间的电压U的第二百分比偏差VGL2。

一般从图10中得知，借助在前面解释的用于运行组件100的方法和/或借助在前面示出的组件100能够以简单的方式并且可靠地识别短路。特别是通过百分比偏差VGL1和VGL2的比较可以看出，在中断器件分支22的能量供应之后的总电压Uges的检测比测量器件分支22的正常运行期间的电压U、特别是正向电压实现更好的识别精度并且因此更可靠地识别器件分支22中的短路。所述更好的识别特别是在器件分支22的每个任意的分支长度的情况下得出。

图形和表格确认在上文中描述的方法的工作方式。在光电子组件100的运行期间的由电压曲线120、122、121所表示的电压U可以根据短路的类型、大小和/或电阻值强烈地变化并且因此不总是或仅仅限制性地适用于识别短路。在中断器件分支22的能量供应之后短时间后的总电压Uges原则上在考虑可接受的公差的情况下对应于完好的发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压的和并且因此很好地适用于识别短路。该总电压Uges在一个短路的发光二极管元件12、14、16、18的情况下相较于具有仅仅无瑕疵的发光二极管元件12、14、16、18的器件分支减小了一个阈值电压。该总电压Uges在两个或更多个短路的发光二极管元件12、14、16、18的情况下相较于具有仅仅无瑕疵的发光二极管元件12、14、16、18的器件分支减小了相应两个或更多个阈值电压。

图11示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件例如可以在很大程度上与在图6中示出的光电子组件100对应地构造。第一部段102至少具有第一发光二极管元件12。第二部段110至少具有第一和第二发光二极管元件12、14。第三部段140至少具有第一、第二和第三发光二极管元件12、14、16。第一输入端106和第二输入端116相互对应。第一输出端108被布置在第一和第二发光二极管元件12、14之间。第二输出端118被布置在第二和第三发光二极管元件14、16之间。第三部段140的第三输入端对应于第一和第二输入端106、116。第三部段140的输出端被布置在第三和第四发光二极管元件16、18之间。第四部段具有器件分支22的所有发光二极管元件12、14、16、18。第四部段的输入端对应于第一和第二输入端106、116。

第二开关112在一侧与第二输出端118电耦合并且在另一侧与驱动电路20和/或电压测量设备105电耦合。第二开关112在其第一开关状态下将第三和第四发光二极管元件16、18桥接。第四开关144在一侧与第一输出端108电耦合并且在另一侧与驱动电路20和/或电压测量设备105电耦合。第四开关144在其第一开关状态下将第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18桥接。第五开关146在一侧与第三部段140的第三输出端电耦合并且在另一侧与驱动电路20和/或电压测量设备105电耦合。第五开关146在其第一开关状态下将第四发光二极管元件18桥接。

因此，在闭合的第四开关144的情况下，仅仅第一部段102可以被供应电能。此外，在断开的第四开关144和闭合的第二开关112的情况下，第二部段110可以被供应电能。此外，在断开的第四开关144、断开的第二开关112和闭合的第五开关146的情况下，第三部段140可以被供应电能。如果第二、第四和第五开关112、144、146都断开并且因此分别处在其第二开关状态下，那么整个器件分支22可以被供应能量。

在所述部段102、110、140之一或整个器件分支22被供应电能的情况下，相应的发光二极管元件12、14、16、18的本征电容充电。在中断能量供应之后，本征电容放电，只要不存在短路，就放电仅仅直至相应的各个发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压，使得在相应的部段102、110、140上出现由完好的发光二极管元件12、14、16、18的各个阈值电压之和构成的相应的总电压Uges。该总电压Uges然后可以在中断能量供应之后分部段地借助电压测量设备105来检测。根据所检测的总电压Uges，根据在上文中解释的方法可以针对所述部段102、110、140中的每个单独地检查，相应部段102、110、140是否具有拥有短路的发光二极管元件12、14、16。关于短路的检查基本上可以与在上文中解释的检查对应地执行。替代地或附加地，所检测的总电压Uges可以在考虑部段102、110、140中的不同数量的发光二极管元件12、14、16、18的情况下相互比较，由此可以相对和/或冗余地检查短路的存在。原则上，在检测总电压Uges时，所检查的器件分支22或部段102、110、140越短，短路的标志就越显著。

在图11中示出的光电子组件100中，开关112、144、146中的每个可以是与地直接连接的晶体管、例如MOSFET。由此可以简单并且成本适宜地驱控相应的开关112、144、146，因为相应MOSFET的控制信号可以参考地。

在图11中所示的实施例中，始终只有一个发光二极管元件12、14、16、18被布置在开关112、144、146的两个端子之间。替代于此，然而也可以将两个或更多个发光二极管元件12、14、16、18布置在开关112、144、146的两个端子之间。此外，可以放弃第四开关144或第五开关146，或者还可以布置其他开关，使得这些开关定义新的部段并且分别直接与地连接。

图12示出光电子组件100的一个实施例的电路图，该光电子组件例如可以在很大程度上与在图11中示出的光电子组件100对应地构造。第一部段102具有所有发光二极管元件12、14、16、18。第二部段110至少具有第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18。第三部段140至少具有第三和第四发光二极管元件16、18。第四部段至少具有第四发光二极管元件18。

第一输出端108和第二输出端118相互对应。第二输入端116被构造在第一和第二发光二极管元件12、14之间。第三部段140的第三输入端被布置在第二和第三发光二极管元件14、16之间。第三部段140的第三输出端对应于第一和第二输出端108、118。第四部段的输入端被布置在第三和第四发光二极管元件16、18之间。第四部段的输出端对应于第一、第二和第三部段102、110、140的输出端。

第二电压测量设备152在一侧与第二输出端118电耦合，并且在另一侧与驱动电路20和/或在该上下文中被称为第一电压测量设备105的电压测量设备105电耦合。第二电压测量设备150检测第三和第四发光二极管元件16、18上的总电压。第三电压测量设备152在一侧与第二输入端116电耦合并且在另一侧与驱动电路20和/或第一电压测量设备105电耦合。第三电压测量设备152检测第二、第三和第四发光二极管元件14、16、18上的总电压。第四电压测量设备154在一侧与第四部段的输入端电耦合并且在另一侧与驱动电路20和/或第一电压测量设备105电耦合。第四电压测量设备154检测第四发光二极管元件18上的总电压。

在所述部段102、110、140之一或整个器件分支22被供应电能的情况下，相应的发光二极管元件12、14、16、18的本征电容充电。在中断能量供应之后，本征电容放电，只要不存在短路，就放电仅仅直至相应的各个发光二极管元件12、14、16、18的阈值电压，使得在相应的部段102、110、140上出现由完好的发光二极管元件12、14、16、18的各个阈值电压之和构成的相应的总电压Uges。该总电压Uges然后可以在中断器件分支22的能量供应之后分部段地借助相应的电压测量设备105、150、152、154来检测。根据所检测的总电压Uges，根据在上文中解释的方法可以针对所述部段102、110、140中的每个单独地检查，相应部段102、110、140是否具有拥有短路的发光二极管元件12、14、16。关于短路的检查基本上可以与在上文中解释的检查对应地执行。替代地或附加地，所检测的总电压Uges可以在考虑部段102、110、140中的不同数量的发光二极管元件12、14、16、18的情况下相互比较，由此可以相对和/或冗余地检查短路的存在。例如可以将借助第三电压测量设备152检测的总电压从借助第一电压测量设备105检测的总电压Uges上减去，其中差值对应于第一发光二极管元件12上的单个电压。如果第一发光二极管元件12不具有短路，则所确定的单个电压可以作为参考值成为其他部段的检查的基础，其中必须考虑相应部段中的发光二极管元件12、14、16、18的数量。替代地或附加地，可以借助所检测的电压的其他相应的减法来确定其他发光二极管元件12、14、16、18的单个电压。例如可以通过以下方式确定第三发光二极管元件16的单个电压，即将借助第四电压测量设备154检测的电压从借助第二电压测量设备150检测的电压上减去。原则上，在检测总电压Uges时，所检查的器件分支22或部段102、110、140越短，短路的标志就越显著。

在图12中示出的光电子组件100中可以放弃第二、第四和第五开关112、144、146。由此可以实现器件分支22的简单并且成本适宜的检查。

在图12中所示的实施例中，始终只有一个发光二极管元件12、14、16、18被布置在电压测量设备105、150、152、154的两个端子之间。替代于此，然而也可以将两个或更多个发光二极管元件12、14、16、18布置在电压测量设备105、150、152、154的两个端子之间。此外，可以放弃电压测量设备105、150、152、154中的一个或两个，或者还可以布置其他电压测量设备，使得这些电压测量设备定义新的部段。

在不同的实施例中，光电子组件100具有：至少一个具有至少一个部段102、110的器件分支22，其中部段102、110具有至少一个发光二极管元件12、14、16、18；与器件分支22电耦合的用于给器件分支22供应电能的驱动电路20；用于中断器件分支22的能量供应的第一开关101；用于检测器件分支22的部段102、110的输入端106、116和器件分支22的部段102、110的输出端108、118之间的总电压的电压测量设备105；和分析单元，该分析单元被设立用于根据所检测的总电压Uges来确定，器件分支22的部段102、110是否具有短路。

本发明不限于所说明的实施例。例如所示出的器件分支22可以分别具有更多或更少的发光二极管元件12、14、16、18和/或更多或更少的部段102、110、140和相应更多或更少的开关112、114、144、146。此外，光电子组件100可以具有一个、两个或更多个另外的器件分支22。此外，实施例可以相互组合。例如，在所有实施例中可以使用无机发光二极管元件12、14、16、18，例如连同相应的电容器44、50、56和电阻42、48、54。此外，也可以相应地识别出一个发光二极管元件12、14、16、18和/或相应多个发光二极管元件12、14、16、18中的多个短路。如果例如存在两个或更多个分别具有短路的发光二极管元件12、14、16、18，则总电压比在没有短路的发光二极管元件12、14、16、18的无瑕疵的器件分支22的情况下小相应个多个电压。

此外，在所有实施方式和/或实施例中基本上适用：器件分支22的输入端可以对应于第一部段102的输入端和/或第一发光二极管元件12的第一电极，并且器件分支22的输出端可以对应于最后部段的输出端、例如第二部段110的输出端和/或器件分支22的最后发光二极管元件、例如第四发光二极管元件18的第二电极。此外，发光二极管元件12、14、16之一的第二电极基本上可以对应于随后的发光二极管元件14、16、18的第一电极。如果器件分支22具有多个部段102、110，则部段102的输出端基本上可以对应于相应部段102中的最后的发光二极管元件12、14的第二电极和/或随后的部段110的输入端和/或随后的部段110中的第一发光二极管元件16、18的第一电极。如果仅构造一个部段102，则该部段可以对应于器件分支22和/或被称为器件分支22。如果部段102和/或器件分支22仅具有一个发光二极管元件12，则该发光二极管元件12基本上代表部段102或器件分支22。

Claims (15)

1.用于运行光电子组件（100）的方法，所述光电子组件具有至少一个器件分支（22），所述器件分支具有至少一个部段（102、110），其中所述部段（102、110）具有至少一个发光二极管元件（12、14、16、18），其中

所述部段（102、110）被供应电能，

中断所述部段（102、110）的电能供应，

检测器件分支（22）的部段（102、110）的输入端（106、116）和器件分支（22）的部段（102、110）的输出端（108、118）之间所施加的总电压（Uges），

将所述总电压（Uges）与部段（102、110）的所有发光二极管元件（12、14、16、18）的阈值电压（Uf）的和进行比较，

如果所述总电压（Uges）等于或至少近似等于阈值电压（Uf）的和，则识别出器件分支（22）的部段（102、110）不具有短路，

和/或

如果所述总电压（Uges）小于阈值电压（Uf）的和，则识别出器件分支（22）的部段（102、110）具有短路。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述部段（102、110）具有预先确定数量（n）的发光二极管元件（12、14、16、18），

所述部段（102、110）的所有发光二极管元件（12、14、16、18）具有相同的阈值电压（Uf），

如果所检测的总电压（Uges）比所有阈值电压（Uf）的和小一个阈值电压（Uf），则识别出所述部段（102、110）具有短路。

3.根据上述权利要求之一所述的方法，其中在中断器件分支（22）的电能供应之后的预先确定的持续时间之后才检测所述总电压（Uges）。

4.根据权利要求3所述的方法，其中确定，在中断器件分支（22）的能量供应之后多长的持续时间之后，器件分支（22）的部段（102、110）的发光二极管元件（12、14、16、18）上的电压才对应于其阈值电压（Uf），并且其中将所确定的持续时间规定为预先确定的持续时间。

5.根据上述权利要求之一所述的方法，其中通过以下方式中断器件分支（22）的能量供应，即关断用于运行器件分支（22）的驱动电路（20）或中断驱动电路（20）和器件分支（22）之间的电连接。

6.根据上述权利要求之一所述的方法，其中首先通过以下方式确定器件分支（22）的具有第一发光二极管元件（12）的第一部段（102）是否具有短路，即在中断器件分支（22）的能量供应之后检测第一发光二极管元件（12）上的单个电压并且将所检测的单个电压与第一发光二极管元件（12）的阈值电压（Uf）进行比较，

如果所检测的单个电压等于或至少近似等于所述阈值电压（Uf），则将所检测的单个电压预先确定为额定值，

器件分支（22）的第一部段（102）和器件分支（22）的与第一部段（102）串联的第二部段（110）被供应能量，该第二部段具有至少一个第二发光二极管元件（14、16、18），

重新中断器件分支（22）的能量供应，

检测第一部段（102）的输入端（106）和第二部段（110）的输出端（118）之间的总电压（Uges），

所检测的总电压（Uges）与预先确定的额定值和器件分支中的发光二极管元件（12、14、16、18）的数量的乘积进行比较，

如果所检测的总电压（Uges）小于所述乘积，则识别出第二部段（110）具有短路，

如果所检测的总电压（Uges）等于或至少近似等于所述乘积，则识别出第二部段（110）不具有短路。

7.根据权利要求1至6之一所述的方法，其中首先通过以下方式确定器件分支（22）的具有第一发光二极管元件（12）的第一部段（102）是否具有短路，即在中断器件分支（22）的能量供应之后检测器件分支（22）的第一部段（102）的输入端（106）和器件分支（22）的第一部段（102）的输出端（108）之间的第一总电压（Uges）并且将所检测的第一总电压与第一部段（102）的所有发光二极管元件（12、14）的阈值电压（Uf）的和进行比较，

器件分支（22）的第一部段（102）和器件分支（22）的与第一部段（102）串联的第二部段（110）被供应能量，该第二部段具有至少一个第二发光二极管元件（16、18），

中断器件分支（22）的能量供应，

检测第二部段（110）的输入端（116）和第二部段（110）的输出端（118）之间的第二总电压，并且将所检测的第二总电压与第二部段（110）的所有发光二极管元件（16、18）的阈值电压（Uf）的和进行 比较。

8.根据权利要求7所述的方法，其中将第一总电压与第二总电压进行比较，并且其中根据所述比较识别出所述部段（102、110）之一中短路的存在。

9.一种光电子组件（100），具有：

至少一个器件分支（22），所述器件分支具有至少一个部段（102、110），其中所述部段（102、110）具有至少一个发光二极管元件（12、14、16、18），

与器件分支（22）电耦合的用于给器件分支（22）供应电能的驱动电路（20），

用于中断器件分支（22）的能量供应的第一开关（101），

用于检测器件分支（22）的部段（102、110）的输入端（106、116）和器件分支（22）的部段（102、110）的输出端（108、118）之间的总电压的电压测量设备（105），

分析单元，所述分析单元被设立用于根据所检测的总电压（Uges）通过以下方式来确定器件分支（22）的部段（102、110）是否具有短路，即将所述总电压（Uges）与部段（102、110）的所有发光二极管元件（12、14、16、18）的阈值电压（Uf）的和进行比较，并且如果所述总电压（Uges）等于或至少近似等于阈值电压（Uf）的和，则识别出器件分支（22）的部段（102、110）不具有短路，和/或如果所述总电压（Uges）小于阈值电压（Uf）的和，则识别出器件分支（22）的部段（102、110）具有短路。

10.根据权利要求9所述的光电子组件（100），其中构造第一开关（101），使得借助第一开关（101）能够接通或关断驱动电路（20），或者能够连接或中断驱动电路（20）和器件分支（22）之间的电连接。

11.根据权利要求9或10所述的光电子组件（100），其中

器件分支（22）具有第一部段（102）和与第一部段（102）电串联的第二部段（110），

第一部段（102）具有至少一个第一发光二极管元件（12、14），

第二部段（110）具有至少一个第二发光二极管元件（14、16、18），

光电子组件（100）具有第二开关（112），第二开关在其第一开关状态下将第一部段（102）的输出端（108）与第二部段的输出端（118）电耦合并且在其第二开关状态下将第一部段（102）的输出端（108）与第二部段的输出端（118）彼此电分离。

12.根据权利要求11所述的光电子组件（100），具有第三开关（114），第三开关在其第一开关状态下将第一部段（102）的输入端（106）与第二部段（110）的输入端（116）电耦合并且在其第二开关状态下将第一部段（102）的输入端（106）与第二部段（110）的输入端（116）彼此电分离，并且第三开关与第二开关（112）电耦合。

13.根据权利要求9至12之一所述的光电子组件（100），其中所述发光二极管元件（12、14、16、18）中的至少一个是无机发光二极管，并且其中电容器与所述器件分支（22）电并联。

14.根据权利要求9至12之一所述的光电子组件（100），其中所述发光二极管元件（12、14、16、18）中的至少两个是无机发光二极管，并且其中各一个电容器与所述无机发光二极管电并联。

15.根据权利要求9至13之一所述的光电子组件（100），其中器件分支（22）的至少一个部段（102、110）具有至少两个发光二极管元件（12、14、16、18）。