CN106443817A - 回归反射型光电传感器 - Google Patents

回归反射型光电传感器 Download PDF

Info

Publication number
CN106443817A
CN106443817A CN201610607632.3A CN201610607632A CN106443817A CN 106443817 A CN106443817 A CN 106443817A CN 201610607632 A CN201610607632 A CN 201610607632A CN 106443817 A CN106443817 A CN 106443817A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
retro
optoelectronic sensor
shielding part
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610607632.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106443817B (zh
Inventor
细井贵之
沟渕学
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Azbil Corp filed Critical Azbil Corp
Publication of CN106443817A publication Critical patent/CN106443817A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106443817B publication Critical patent/CN106443817B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00Prospecting or detecting by optical means
    • G01V8/10Detecting, e.g. by using light barriers
    • G01V8/12Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
    • G01V8/14Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver using reflectors

Abstract

本发明涉及回归反射型光电传感器,提供一种能够通过简单的结构来对检测体进行稳定检测的回归反射型光电传感器。其具备形成于投光透镜(12)的、与受光元件(13)侧相反的一侧的面的第一遮光部(121)以及形成于受光透镜(14)的、与投光元件(11)侧相反的一侧的面的第二遮光部(141)。

Description

回归反射型光电传感器
技术领域
本发明涉及投光轴与受光轴不是同轴的异轴式的回归反射型光电传感器,特别涉及对使光透过并弯曲的塑料瓶等进行检测的回归反射型光电传感器。
背景技术
以往以来,作为回归反射型光电传感器的光学系统,例如有将异轴式的回归反射型光电传感器与反射板组合而得到的光学系统。
在这样的回归反射型光电传感器中,在没有检测体的状态下,投光元件发出的光通过投光透镜而作为形成规定的投光区域的投光光束射出,该投光光束入射到反射板并被反射而成为受光光束,以100%的状态到达受光透镜和受光元件。
因此,在回归反射型光电传感器中,当检测体进入投光元件以及受光元件与反射板之间时,由于由该检测体遮挡光路,入射到受光元件的光量发生变化,将进行光电转换的量的减少输出为检测信号,从而检测该检测体。
但是,在上述的回归反射型光电传感器中,例如,当透射率高的复杂的形状的检测体进入时,在检测体的表面变成由检测体引起的漫射光、折射光,连本来与检测无关的光也进入受光透镜以及受光元件,有时与没有检测体的状态相比,在有检测体的状态下,从反射板返回到受光透镜以及受光元件的光增加,存在无法进行检测体的稳定检测这样的问题。
针对这样的问题,例如在专利文献1中公开了以下技术:在回归反射型光电传感器主体形成投光侧狭缝与受光侧狭缝,通过投光侧狭缝,去除未进入投光区域中的反射器的尺寸的无效光,另外,通过受光侧狭缝,防止无效光绕过来,从而能够稳定检测使光透过并折射的检测物体。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2002-279870号公报
发明内容
发明要解决的技术问题
然而,在专利文献1所公开的技术中,存在如下这样的课题:需要在回归反射型光电传感器主体中形成投光侧狭缝与受光侧狭缝,回归反射型光电传感器内部的构造变得复杂,另外,由于投光侧狭缝和受光侧狭缝,回归反射型光电传感器的制作工序也变得复杂。
本发明是为了解决上述那样的课题而完成的,其目的在于,提供一种能够通过简单的结构来对检测体进行稳定检测的回归反射型光电传感器。
解决技术问题的技术手段
本发明涉及一种回归反射型光电传感器,其是在回归反射型的光学系统中使用的、投光轴与受光轴不是同轴的回归反射型光电传感器,在该回归反射型的光学系统中,通过投光透镜将从投光元件出来的光射出,从该投光透镜射出了的光在反射板上反射而成为回归光,使该回归光通过受光透镜而由受光元件进行受光,其中,该回归反射型光电传感器具备:第一遮光部,其形成于投光透镜的与受光元件侧相反的一侧的面;以及第二遮光部,其形成于受光透镜的与投光元件侧相反的一侧的面。
发明效果
根据本发明,能够提供一种能够通过简单的结构来对检测体进行稳定检测的回归反射型光电传感器。
附图说明
图1是说明一般的回归反射型光电传感器的光学系统的一个例子的图。
图2是说明一般的异轴式的回归反射型光电传感器的结构的一个例子的图。
图3是说明在一般的回归反射型光电传感器的光学系统中对检测体进行检测的构造的图。
图4是示出在一般的回归反射型光电传感器与反射板之间存在透射率高且形状复杂的检测体的情况下的一个例子的图。
图5是说明在一般的回归反射型光电传感器的光学系统中当在回归反射型光电传感器与反射板之间没有任何检测体的状态下从正面看反射板的情况下的投光区域、受光区域、交错区域的一个例子的图。
图6是说明在一般的回归反射型光电传感器的光学系统中发生投光光束的折射等并且在交错区域以上的区域进行受光的一个例子的图。
图7是说明一般的单筒式的回归反射型光电传感器的光学系统的一个例子的图。
图8是本发明的实施方式1的回归反射型光电传感器的结构图。
图9是说明在实施方式1中通过将遮光部与透镜体一体成型而形成的一个例子的图。
图10是说明在实施方式1中在回归反射型光电传感器的外部的投光透镜和受光透镜上设置了遮光部的结构的一个例子的结构图。
图11是说明在实施方式1中用密封件形成遮光部的一个例子的图。
图12是本发明的实施方式2的回归反射型光电传感器的结构图。
具体实施方式
首先,使用附图,说明作为本发明的前提的一般的回归反射型光电传感器60的结构以及该一般的回归反射型光电传感器60中的问题。
图1是说明一般的回归反射型光电传感器60的光学系统的一个例子的图。
图2是说明一般的异轴式的回归反射型光电传感器60的结构的一个例子的图。
作为一般的回归反射型光电传感器60的光学系统,如图1所示,有异轴式、即将投光轴与受光轴不是同轴的回归反射型光电传感器60与反射板61组合而得到的光学系统。
异轴式的回归反射型光电传感器60如图2所示,在设置于支撑部50的背面侧的投光元件安装部51上安装投光元件52,在设置于支撑部50的背面侧的受光元件安装部53上安装受光元件54,在设置于支撑部50的前表面部的透镜安装部63上安装将投光透镜64与受光透镜65一体成形而得到的透镜体55。
此外,使投光元件52的中心与投光透镜64的中心一致,使受光元件54的中心与受光透镜65的中心一致。
如图1所示,投光元件52发出的光通过投光透镜64而作为形成规定的投光区域E1的投光光束射出。
该投光光束入射到反射板61的表面的三角锥并被反射,但作为该反射光的受光光束形成规定的受光区域E2,投光区域E1、受光区域E2的重叠的部分E3的回归光通过受光透镜65而到达受光元件54。此外,此处将该重叠的部分E3设为交错区域E3。
使用图3,说明在以上那样的以往的一般的回归反射型光电传感器60的光学系统中对检测体进行检测的构造。图3的(a)是说明在回归反射型光电传感器60与反射板61之间没有检测体的状态的一个例子的图,图3的(b)是说明在回归反射型光电传感器60与反射板61之间有透射率低的检测体x的状态的一个例子的图,图3的(c)是说明在回归反射型光电传感器60与反射板61之间有透射率高的检测体y的状态的一个例子的图。
此外,在图3中,为方便说明,简化地记载了回归反射型光电传感器60,但回归反射型光电传感器60的结构如使用图2来说明的那样。
如图3的(a)所示,当在回归反射型光电传感器60与反射板61之间没有检测体的状态下,关于回归反射型光电传感器60的投光元件52发出的光,如果将从被射出的光中的与受光区域E2交错的交错区域E3回归的光设为100%,则100%的光全部成为受光光束而到达受光元件54。
另一方面,当在回归反射型光电传感器60与反射板61之间有检测体的情况下,由于由该检测体遮挡光路,入射到受光元件54的光量减少。
如图3的(b)所示,在有透射率低的检测体x的情况下,例如,来自交错区域E3的100%的光变成10%的光的受光光束而到达受光元件54。另外,如图3的(c)所示,在有透射率高的检测体y的情况下,例如,来自交错区域E3的100%的光变成80%的光的受光光束而到达受光元件54。
这样,在一般的回归反射型光电传感器60中,当检测体进入作为投光区域E1、受光区域E2的重叠部分的交错区域E3时,由于由该检测体遮挡光路,入射到受光元件54的光量变化,将光电转换的量的减少输出为检测信号。
然而,在上述那样的一般的回归反射型光电传感器60中,如图4所示,当在回归反射型光电传感器60与反射板61之间存在空的塑料瓶、瓶子等透射率高且形状复杂的检测体z的情况下,存在例如100%的光变成110%的光的受光光束而到达受光元件54等无法对检测体进行稳定检测的这样的问题。
其原因能够推测为在于由空的塑料瓶、瓶子等检测体z引起的漫射光、折射光。以下,使用图5、6来具体地说明。
图5是说明当在回归反射型光电传感器60与反射板61之间没有任何检测体的状态下从正面、即从回归反射型光电传感器60侧看反射板61的情况下的投光区域、受光区域、交错区域的一个例子的图。
在没有任何检测体的的情况下,如图5所示,将例如在设为任意的距离L[mm]时的来自反射板61的交错区域的面积的回归光设为100%。
但是,如图6所示,当空的塑料瓶、瓶子等检测体19进入时,就会引起投光光束的折射等,在交错区域以上的区域进行受光。即,由于检测体19而导致投光光束发生折射,光投射到本来没有光投射到的反射板61上的投光区域(图6的a),或者有本来在受光侧看不到的反射板61上的受光区域(图6的b)的光入射,所以射出交错区域以上的光,或者入射该交错区域以上的光,从而成为误检测检测体19等、无法稳定地对检测体19进行检测的原因。
为了解决这样的问题,在现有技术中,如上所述,通过形成于回归反射型光电传感器主体的投光侧狭缝与受光侧狭缝,能够稳定检测使光透过并折射的检测物体,但在这样的结构中,配备投光侧狭缝、受光侧狭缝这样的零件的工序变得复杂,另外,回归反射型光电传感器内部的构造也变得复杂。
在此,本发明能够提供一种能够通过简单的结构对检测体19进行稳定检测的回归反射型光电传感器。
此外,在异轴式的回归反射型光电传感器中可能产生上述那样的问题。
作为一般的回归反射型光电传感器的光学系统,也有投、受光同轴的、即单筒式的回归反射型光电传感器的光学系统,但在这样的投、受光同轴的回归反射型光电传感器中,不产生上述那样的问题。
单筒式的回归反射型光电传感器的光学系统如图7所示,构成为在设置于支撑部71的背面侧的受光元件安装部72上安装受光元件73,使透镜75位于设置于支撑部71的前表面部的透镜安装部74上,在该光路上配置半透半反镜76,在支撑部71的与光路构成直角的光路上安装投光元件78。
在这样的结构中,不发生图6所示的现象,所以不产生上述那样的问题。
因此,将以下说明的本发明的回归反射型光电传感器以投光轴与受光轴不是同轴的异轴式的回归反射型光电传感器作为前提。
以下,参照附图,详细说明本发明的实施方式。
实施方式1.
图8是本发明的实施方式1的回归反射型光电传感器10的结构图。
图8的(a)是回归反射型光电传感器10的剖视图,图8的(b)是从正面、即图8的(a)的X方向看安装于回归反射型光电传感器10的透镜体15的图。
此外,关于本发明的实施方式1的回归反射型光电传感器10的光学系统,由于其与在图1中说明的相同,所以,省略重复的说明。
回归反射型光电传感器10如图8的(a)所示,在设置于回归反射型光电传感器10的支撑部20的背面侧的元件安装部160中具备的印刷基板16上安装投光元件11和受光元件13。
另外,回归反射型光电传感器10在设置于回归反射型光电传感器10的支撑部20的前表面部的透镜安装部150上安装将投光透镜12与受光透镜14一体成形而得到的透镜体15。
此外,回归反射型光电传感器10以使投光元件11的中心与投光透镜12的中心一致、使受光元件13的中心与受光透镜14的中心一致的方式,安装投光元件11和受光元件13、透镜体15。
在投光透镜12的与投光元件11的发光面对置并且与受光元件13侧相反的一侧的面的背侧,通过蒸镀而形成遮光罩121。
另外,在受光透镜14的与受光元件13的发光面对置并且与投光元件11侧相反的一侧的面的背侧,通过蒸镀而形成遮光罩141。
遮光罩121、141是遮断交错区域(参照图6)以外的光的遮光部。
即,通过遮光罩121,对作为向交错区域以外的区域发出的光的投光光束进行遮光,通过遮光罩141,对作为从交错区域以外接收的光的受光光束进行遮光。
这样,在投光透镜12和受光透镜14上分别形成了遮光罩121、141,从而不会由于射出交错区域以上的光、入射该交错区域以上的光而导致对检测体19进行误检测,能够进行检测体19的稳定的检测。
另外,遮光部能够通过蒸镀而形成于投光透镜12和受光透镜14,所以,没有在回归反射型光电传感器10的内部设置零件等复杂的制作工序,能够通过简单的结构进行检测体19的稳定的检测。
另外,遮光部不在回归反射型光电传感器10的内部另行设置,而是在投光透镜12和受光透镜14处直接形成遮光部,所以,如果更换透镜,则能够将回归反射型光电传感器10用于完全不同的用途,能够做成通用性高的回归反射型光电传感器10。另外,无需增加零件件数,还使得成本削减。
此外,此处如图8的(b)所示,以使得朝向与受光透镜14的光轴正交的方向的遮光罩141的宽度(图8的(b)的B)与受光透镜14的半径相等的方式、即以覆盖受光透镜14的与投光元件11侧相反的一侧的一半的表面的方式,设置遮光罩141。然而,由遮光罩141覆盖的面积不限于此,遮光罩141只要覆盖能够去除从交错区域以外接收的受光光束的范围即可,其面积能够根据对检测体19进行检测的距离等来适当设定。
另外,此处如图8的(b)所示,以使得朝向与投光透镜12的光轴正交的方向的遮光罩121的宽度(图8的(b)的C)与投光透镜12的半径相等的方式、即以覆盖投光透镜12的与受光元件13侧相反的一侧的一半的表面的方式,设置遮光罩121。然而,由遮光罩121覆盖的面积不限于此,遮光罩121只要覆盖能够去除向交错区域以外的区域发出的投光光束的范围即可,该面积能够根据至反射板61的距离等来适当设定。
此外,在以上的说明中,遮光罩141、121通过蒸镀而形成在投光透镜12或者受光透镜14的与投光元件11或者受光元件13的发光面对置的面的背侧,但遮光罩141、121也可以通过涂饰而形成在投光透镜12或者受光透镜14的与投光元件11或者受光元件13的发光面对置的面的背侧。
另外,遮光罩141、121也可以通过印刷而形成在与投光元件11或者受光元件13的发光面对置的面的背侧。
另外,遮光罩141、121也可以如图9所示,通过埋入例如进行遮光的膜等遮光构件而与透镜体15一体成型来形成。
这样,遮光部的形成方法不限于蒸镀。
另外,在上述例子中,将遮光部形成于回归反射型光电传感器10的内部的投光透镜12或者受光透镜14,但也可以将遮光部形成于回归反射型光电传感器10的外部的投光透镜12或者受光透镜14。
图10是说明在实施方式1中在回归反射型光电传感器10的外部的投光透镜12和受光透镜14上设置了遮光部的结构的一个例子的结构图。
图10的(a)是回归反射型光电传感器10的剖视图,图10的(b)是从回归反射型光电传感器10的前表面、即图10的(a)的X方向看安装于回归反射型光电传感器10的透镜体15的图。
如图10的(a)、(b)所示,作为遮光部的遮光罩141、121也可以从支撑部20的外侧进行蒸镀来形成在回归反射型光电传感器10的支撑部20的前表面部的透镜安装部150上安装的投光透镜12和受光透镜14的表面。
即,遮光罩121也可以形成于投光透镜12的与和投光元件11的发光面对置的面相反的一侧的面,遮光罩141也可以形成于受光透镜14的与和受光元件13的发光面对置的面相反的一侧的面。
此外,此处如图10的(b)所示,以覆盖相对于受光透镜14的光轴处于与投光元件11侧相反的一侧的透镜体15的方式,设置遮光罩141。然而,由遮光罩141覆盖的面积不限于此,遮光罩141只要覆盖能够去除作为从交错区域以外接收的光的受光光束的范围即可,该面积能够根据对检测体19进行检测的距离等来适当设定。
另外,此处如图10的(b)所示,以覆盖相对于投光透镜12的光轴处于受光元件13侧的相反的一侧的透镜体15的方式,设置遮光罩121。然而,由遮光罩121覆盖的面积不限于此,遮光罩121只要覆盖能够去除作为向交错区域以外的区域发出的光的投光光束的范围即可,该面积能够根据对检测体19进行检测的距离等来适当设定。
这样,也能够将遮光部形成于回归反射型光电传感器10的外部的投光透镜12或者受光透镜14。
另外,这样,当在外部的投光透镜12或者受光透镜14上设置遮光部的情况下,也如上所述,由于遮光罩141、121直接形成于投光透镜12和受光透镜14,所以,只要更换透镜,就能够将回归反射型光电传感器10用于完全不同的用途,能够做成通用性高的回归反射型光电传感器10。另外,例如,在清洗回归反射型光电传感器10的情况下,水也不会进入遮光罩141、121与投光透镜12、受光透镜14之间,能够提高使用便利性。
另外,遮光罩141、121不限于通过蒸镀而形成于在回归反射型光电传感器10的前表面部的透镜安装部150上安装的投光透镜12和受光透镜14的、与和投光元件11以及受光元件13的发光面对置的面相反的一侧的面,遮光罩141、121既可以通过涂饰而形成,也可以通过印刷而形成。
另外,遮光罩141、121如图11所示,也可以例如通过贴附具有开口部171的密封件17等遮光构件来形成。
图11的(a)是附着了密封件17的透镜体15的剖视图,图11的(b)是从回归反射型光电传感器10的前表面侧、即图11的(a)的X方向看附着了密封件17的回归反射型光电传感器10的图。
密封件17的贴附位置定位于从开口部171发射交错区域的投光光束、入射交错区域的受光光束的位置。
此外,关于密封件17的形状和大小,开口部171被形成为不对发射交错区域的投光光束的部分和入射交错区域的受光光束的部分进行遮光,只要是能够覆盖去除从交错区域以外的区域发射的投光光束并且去除从交错区域以外接收的受光光束的面积的形状和大小即可。
另外,在图11中,密封件17为1张,通过1张密封件17而形成遮光罩121、141,但不限于此,也可以通过多张密封件17而形成遮光罩121、141。
在通过密封件17形成遮光罩141、121的情况下,零件件数增加,但由于该密封件17不设置于回归反射型光电传感器10的内部,所以回归反射型光电传感器10的内部的构造不会变得复杂。另外,密封件17能够简单地进行拆卸、调整,所以,根据需要,也能够将回归反射型光电传感器10用于完全不同的用途,能够提高回归反射型光电传感器10的通用性。
如上所述,根据实施方式1,在投光透镜12和受光透镜14上分别形成遮光罩121(第一遮光部)、遮光罩141(第二遮光部),所以,没有在回归反射型光电传感器10的内部设置零件等复杂的制作工序,能够通过简单的结构,不因射出交错区域以上的光、入射该交错区域以上的光而对检测体19进行误检测地,进行检测体19的稳定的检测。
另外,由于遮光罩121(第一遮光部)、遮光罩141(第二遮光部)不在回归反射型光电传感器10的内部另行设置,而直接设置于投光透镜12和受光透镜14,所以,只要更换透镜,就也能够将回归反射型光电传感器10用于完全不同的用途,能够做成通用性高的回归反射型光电传感器10。
实施方式2.
在实施方式1中,将遮光部直接形成于回归反射型光电传感器10的内部或者外部的投光透镜12和受光透镜14。
在本实施方式2中,说明在回归反射型光电传感器10中使用能够装卸的遮光构件、并且从回归反射型光电传感器10的外侧对回归反射型光电传感器10的外部的投光透镜12和受光透镜14进行遮光的实施方式。
图12是本发明的实施方式2的回归反射型光电传感器10的结构图。
图12的(a)是本发明的实施方式2的回归反射型光电传感器10的剖视图,图12的(b)是在安装了遮光构件18的状态下从回归反射型光电传感器10的前表面、即图12的(a)的X方向看本发明的实施方式2的回归反射型光电传感器10的图。
此外,关于本实施方式2的回归反射型光电传感器10的光学系统,由于其与在实施方式1中使用图1来说明的相同,所以,省略重复的说明。
在图12的(a)中,针对与在实施方式1中使用图8的(a)来说明的结构相同的结构,附加相同的符号,省略重复的说明。
本实施方式2的回归反射型光电传感器10与在实施方式1中使用图8~图11来说明的回归反射型光电传感器10相比,仅在以下方面不同,即,不将遮光罩141、121直接形成于安装在透镜安装部150上的投光透镜12和受光透镜14,而使用遮光构件18来从回归反射型光电传感器10的外侧对投光透镜12和受光透镜14进行遮光。
此处,如图12的(a)、(b)所示,遮光构件18从回归反射型光电传感器10的支撑部20的外侧,覆盖投光透镜12的与和投光元件11的发光面对置的面相反的一侧的面以及受光透镜14的与和受光元件13的发光面对置的面相反的一侧的面。
此时,遮光构件18的、覆盖向投光透镜12的交错区域以外的区域发射的投光光束的投光区域的部分就成为遮光罩121,覆盖从受光透镜14的交错区域以外入射受光光束的受光区域的部分就成为遮光罩141。
此外,遮光构件18能够装卸地安装于回归反射型光电传感器10。
另外,遮光构件18例如由金属等将光遮断的构件构成,呈字形,如图12的(b)所示,具有开口部181、182。
并且,遮光构件18在安装于回归反射型光电传感器10时,从开口部181(第一开口部)发射交错区域的投光光束,从开口部182(第二开口部)入射交错区域的受光光束。
即,通过开口部181、182,能够使所需的光、即从交错区域发射的投光光束和入射到交错区域的受光光束不被遮挡地通过。
此外,图12的(a)、(b)所示的遮光构件18只不过是一个例子,关于遮光构件18的形状和大小,在遮光构件18的形成有开口部181、182的面的开口部181、182以外的部分,只要是能够对从交错区域以外的区域发射的投光光束进行遮光、对从交错区域以外接收的受光光束进行遮光的形状和大小即可,另外,只要能够从开口部181发射交错区域的投光光束并且从开口部182入射交错区域的受光光束即可。另外,此处如图12的(b)所示,开口部181、182设置2个,但不限于此,例如开口部也可以是1个,从开口部发射交错区域的投光光束并且入射交错区域的受光光束即可。
这样,使用遮光构件18,覆盖从投光透镜12的交错区域以外的区域发射的投光光束的投光区域和从受光透镜14的交错区域以外入射受光光束的受光区域,所以,不会由于交错区域以上的光的入射而对检测体19进行误检测,能够进行检测体19的稳定的检测。
另外,虽然由于遮光构件18,构件件数增加,但由于不是在回归反射型光电传感器10的内部设置遮光构件18,所以不需要用于设置遮光构件18的复杂的制作工序,能够简单地安装遮光构件18,回归反射型光电传感器10的内部的构造不会变复杂。
如上所述,根据实施方式2,由于具备具有遮光罩121(第一遮光部)以及遮光罩141(第二遮光部)的遮光构件18,其中,该遮光罩121覆盖投光透镜12的、与和投光元件11的发光面对置的面相反的一侧的面,该遮光罩141覆盖受光透镜14的、与和受光元件13的发光面对置的面相反的一侧的面,所以,没有在回归反射型光电传感器10的内部设置构件等复杂的制作工序,能够通过简单的结构,不因射出交错区域以上的光、入射该交错区域以上的光而对检测体19进行误检测地,进行检测体19的稳定的检测。
此外,本申请发明在本发明的范围内,能够进行各实施方式的自由组合或者各实施方式的任意的构成要素的变形,或者在各实施方式中能够省略任意的构成要素。
符号说明
10、60 回归反射型光电传感器
11、52、78 投光元件
12、64 投光透镜
13、54、73 受光元件
14、65 受光透镜
15、55 透镜体
16 印刷基板
17 密封件
18 遮光构件
19 检测体
20、50、71 支撑部
61 反射板
63、74 透镜安装部
53、72 受光元件安装部
75 透镜
76 半透半反镜
121、141 遮光罩
160 元件安装部
171、181、182 开口部。

Claims (8)

1.一种回归反射型光电传感器,其是在回归反射型的光学系统中使用的、投光轴与受光轴不是同轴的回归反射型光电传感器,在所述回归反射型的光学系统中,通过投光透镜将从投光元件出来的光射出,从该投光透镜射出了的光在反射板上反射而成为回归光,使该回归光通过受光透镜而由受光元件进行受光,
所述回归反射型光电传感器的特征在于,具备:
第一遮光部,其形成于所述投光透镜的与所述受光元件侧相反的一侧的面;以及
第二遮光部,其形成于所述受光透镜的与所述投光元件侧相反的一侧的面。
2.根据权利要求1所述的回归反射型光电传感器,其特征在于,
所述第一遮光部形成于所述投光透镜的、与所述投光元件的发光面对置并且与所述受光元件侧相反的一侧的面,
所述第二遮光部形成于所述受光透镜的、与所述受光元件的发光面对置并且与所述投光元件侧相反的一侧的面。
3.根据权利要求1所述的回归反射型光电传感器,其特征在于,
所述第一遮光部形成于所述投光透镜的、在与和所述投光元件的发光面对置的面相反的一侧、并且与所述受光元件侧相反的一侧的面,
所述第二遮光部形成于所述受光透镜的、在与和所述受光元件的发光面对置的面相反的一侧、并且与所述投光元件侧相反的一侧的面。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的回归反射型光电传感器,其特征在于,
所述第一遮光部以及所述第二遮光部通过蒸镀而形成。
5.根据权利要求1至3中的任一项所述的回归反射型光电传感器,其特征在于,
所述第一遮光部以及所述第二遮光部通过涂饰而形成。
6.根据权利要求1至3中的任一项所述的回归反射型光电传感器,其特征在于,
所述第一遮光部以及所述第二遮光部通过印刷而形成。
7.根据权利要求1所述的回归反射型光电传感器,其特征在于,
所述第一遮光部以及所述第二遮光部与所述投光透镜以及所述受光透镜一体成型。
8.根据权利要求1或者3所述的回归反射型光电传感器,其特征在于,
所述第一遮光部以及所述第二遮光部通过密封件而形成。
CN201610607632.3A 2015-08-05 2016-07-28 回归反射型光电传感器 Active CN106443817B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015-155025 2015-08-05
JP2015155025A JP6584201B2 (ja) 2015-08-05 2015-08-05 回帰反射形光電センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106443817A true CN106443817A (zh) 2017-02-22
CN106443817B CN106443817B (zh) 2018-07-20

Family

ID=57989404

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610607632.3A Active CN106443817B (zh) 2015-08-05 2016-07-28 回归反射型光电传感器

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6584201B2 (zh)
CN (1) CN106443817B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109560801A (zh) * 2017-09-27 2019-04-02 株式会社基恩士 光纤传感器、受光光纤和扩散构件
CN109581392A (zh) * 2017-09-28 2019-04-05 阿自倍尔株式会社 光电传感器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004205499A (ja) * 2002-12-09 2004-07-22 Omron Corp 回帰反射型光電センサ
JP2009289739A (ja) * 2008-04-28 2009-12-10 Omron Corp 光電センサ
CN101680976A (zh) * 2007-06-21 2010-03-24 独立行政法人情报通信研究机构 实镜影像成像光学系统
CN103487840A (zh) * 2012-06-07 2014-01-01 欧姆龙株式会社 光电传感器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56114203A (en) * 1980-02-15 1981-09-08 Nissan Motor Lamp for vehicle
JPH0418185Y2 (zh) * 1986-04-03 1992-04-23
JP3003479B2 (ja) * 1992-11-06 2000-01-31 株式会社デンソー 日射センサ
JPH10255611A (ja) * 1997-03-14 1998-09-25 Omron Corp 回帰反射形光電センサ
JP4178019B2 (ja) * 2002-11-13 2008-11-12 株式会社キーエンス 多光軸光電センサ
JP3625066B2 (ja) * 2003-03-14 2005-03-02 オムロン株式会社 光電センサ
US8779361B2 (en) * 2009-06-30 2014-07-15 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Optical proximity sensor package with molded infrared light rejection barrier and infrared pass components
JP2012209076A (ja) * 2011-03-29 2012-10-25 Lixil Corp 操作入力装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004205499A (ja) * 2002-12-09 2004-07-22 Omron Corp 回帰反射型光電センサ
CN101680976A (zh) * 2007-06-21 2010-03-24 独立行政法人情报通信研究机构 实镜影像成像光学系统
JP2009289739A (ja) * 2008-04-28 2009-12-10 Omron Corp 光電センサ
CN103487840A (zh) * 2012-06-07 2014-01-01 欧姆龙株式会社 光电传感器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109560801A (zh) * 2017-09-27 2019-04-02 株式会社基恩士 光纤传感器、受光光纤和扩散构件
CN109560801B (zh) * 2017-09-27 2023-08-01 株式会社基恩士 光纤传感器、受光光纤和扩散构件
CN109581392A (zh) * 2017-09-28 2019-04-05 阿自倍尔株式会社 光电传感器

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017033860A (ja) 2017-02-09
JP6584201B2 (ja) 2019-10-02
CN106443817B (zh) 2018-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102235710B1 (ko) 송수광 단일렌즈 광학계 구조를 가지는 스캐닝 라이다
CN103487840B (zh) 光电传感器
KR20010040931A (ko) 레이저 스캐너 측정 시스템
CN102782446A (zh) 板检测装置
CN105548193A (zh) 缺陷检测系统和方法
CN106443817A (zh) 回归反射型光电传感器
JP5493702B2 (ja) 位置検出機能付き投射型表示装置
WO2018147453A1 (ja) 走査型の光学系及びレーザーレーダー装置
JP6833924B2 (ja) 光電センサ及び物体検出方法
CN103940740B (zh) 用于检测嵌板上的湿度的传感器装置
US6946643B1 (en) Retro-reflective photoelectric sensor
US8288706B2 (en) Optical sensor comprising at least one optical element with a freeform boundary surface
CN108370093A (zh) 天线罩
JP3265449B2 (ja) 測距センサ
US3819272A (en) Projective-reflective optical apparatus
CN111853691B (zh) 用于车辆的集成lidar的灯设备
JP5251641B2 (ja) 光電センサ
JPH05133715A (ja) ターゲツトマーク、撮像装置、ならびにそれらを用いる相対位置および姿勢測定装置
KR20170071891A (ko) 다면 측정 레인센서
CN101825764A (zh) 光学传感器
KR101708716B1 (ko) 광학 시스템
JPS5853449B2 (ja) ハンシヤガタコウデンスイツチ
JP2004279127A (ja) ライトカーテン
CN210534183U (zh) 一种远距离方向辨别传感器
CN220153512U (zh) 一种纠偏传感器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant