CN106294034A - 单片机的测试方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种单片机的测试方法和系统，其中，方法包括：待测试单片机中的节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第一测试指令；节点指示控制逻辑根据第一测试指令，调用测试激励表中的测试激励数据，以使待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试；在待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第二测试指令，对待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试。本发明实施例的单片机的测试方法和系统，能够在对flash存储体进行编程测试的同时，并行测试与flash无关的功能逻辑电路，节省测试时间，降低测试成本，提高生产效率。

Description

单片机的测试方法和系统

技术领域

本发明涉及单片机技术领域，特别涉及一种单片机的测试方法和系统。

背景技术

单片机芯片的批量测试中，其内部Flash存储体的存取测试是必不可少的测试步骤之一。Flash存储体数据存储和读取的正确性，将影响整个单片机的正常功能使用。目前，针对批量单片机芯片的Flash存储体存取的测试，主要通过上位测试机通过外部数据通信接口，将Flash测试激励数据首先下载至Flash存储体中，然后再通过外部数据通信接口将写入Flash的测试激励数据读回，从而判断数据存取的正确性。

但是，根据单片机内部Flash存储体的存取特性可知，其写入速度远远低于读取速度，即每进行一次测试激励的测试，Flash存储体在擦除编程上将花费大量的测试时间，而且测试激励不止一个，每次完成的Flash存取测试将需要多个测试激励的测试确认，测试时间长，且测试成本高，导致生产效率降低。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种单片机的测试方法，能够在对flash存储体进行编程测试的同时，还能并行测试与flash无关的功能逻辑电路，节省了测试时间，降低了测试成本，进而提高了生产效率。

本发明的第二个目的在于提出一种单片机的测试系统。

为达上述目的，根据本发明第一方面实施例提出了一种单片机的测试方法，包括：待测试单片机中的节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第一测试指令；所述节点指示控制逻辑根据所述第一测试指令，调用测试激励表中的测试激励数据，以使所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试；在所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，所述节点指示控制逻辑接收所述上位测试机发出的第二测试指令，对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试。

本发明实施例的单片机的测试方法，通过在待测试单片机中设置节点指示控制逻辑和flash控制逻辑，并由待测试单片机中的测试激励表提供测试激励数据，能够在对flash存储体进行编程测试的同时，还能并行测试与flash无关的功能逻辑电路，节省了测试时间，降低了测试成本，进而提高了生产效率。

本发明第二方面实施例提供了一种单片机的测试系统，包括：上位测试机和待测试单片机，其中，所述上位测试机，用于向所述待测试单片机中的节点指示控制逻辑发送第一测试指令，并在在所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，向所述待测试单片机中的节点指示控制逻辑发送第二测试指令，以对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试；所述待测试单片机包括：节点指示控制逻辑，用于接收所述上位测试机发送的第一测试指令，并根据所述第一测试指令调用测试激励表中的测试激励数据，以使flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试；所述flash控制逻辑，用于根据所述测试激励对flash存储体进行编程测试；所述与flash无关的功能逻辑电路，用于向所述节点指示控制逻辑反馈测试完成信号。

本发明实施例的单片机的测试系统，通过在待测试单片机中设置节点指示控制逻辑和flash控制逻辑，并由待测试单片机中的测试激励表提供测试激励数据，能够在对flash存储体进行编程测试的同时，还能并行测试与flash无关的功能逻辑电路，节省了测试时间，降低了测试成本，进而提高了生产效率。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为根据本发明一个实施例的单片机的测试方法的流程图。

图2为根据本发明一个具体实施例的单片机的测试方法的流程图。

图3为根据本发明一个实施例的单片机的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考附图描述根据本发明实施例的单片机的测试方法和系统。

图1为根据本发明一个实施例的单片机的测试方法的流程图。

如图1所示，单片机的测试方法包括：

S101，待测试单片机中的节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第一测试指令。

其中，第一测试指令可为flash存储体的测试指令。

S102，节点指示控制逻辑根据第一测试指令，调用测试激励表中的测试激励数据，以使待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试。

其中，测试激励表中预先存储测试激励数据，并在节点指示控制逻辑接收到第一测试指令时，提供测试激励数据，从而无需通过外部数据通信接口下载测试激励数据，节省了时间。

S103，在待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第二测试指令，对待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试。

其中，第二测试指令可为与flash无关的功能逻辑电路的测试指令。

在本发明的实施例中，在对flash存储体进行编程测试完成后，节点指示控制逻辑可生成编程测试完成标识。在对待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试完成后，上位测试机可获取编程测试完成标识，然后根据编程测试完成标识，读取flash存储体中的数据并进行验证。具体地，可获得flash存储体中的数据，与测试激励数据进行对比分析。如果两者保持一致，则说明编程测试成功。

此外，节点指示控制逻辑还可接收与flash无关的功能逻辑电路的反馈信号，并将反馈信号返回至上位测试机，以使上位测试机根据反馈信号判断继续测试与flash无关的功能逻辑电路或是对flash存储体进行编程测试。

本发明实施例的单片机的测试方法，通过在待测试单片机中设置节点指示控制逻辑和flash控制逻辑，并由待测试单片机中的测试激励表提供测试激励数据，能够在对flash存储体进行编程测试的同时，还能并行测试与flash无关的功能逻辑电路，节省了测试时间，降低了测试成本，进而提高了生产效率。

图2为根据本发明一个具体实施例的单片机的测试方法的流程图。

首先，介绍一下本实施例中的单片机测试系统，单片机测试系统可包括上位测试机和待测试单片机，其中，待测试单片机还可包括节点指示控制逻辑、flash控制逻辑、flash存储体和与flash无关的功能逻辑电路。此外，单片机中还设有测试激励表，用于提供测试激励数据。

本实施例中，Flash存储体位宽为8位，存储大小为32Kbyte。测试激励表中的测试激励为6组数据即：0xff，0x55，0xaa，0xa5，0x5a和0x00。具体解释为：0x00即代表将Flash存储体中全部写0，并读出，查看是否全部为0；0x55即代表将Flash存储体中每8位写0x55(换算为二进制则为0101_0101)，并读出，检查Flash的二进制数据交叉存储是否正确；0xaa原理同0x55；0xa5即代表将将Flash存储体中每8位写0xa5换算为二进制则为1010_0101，并读出，检查Flash的二进制数据在交叉存储和相邻相同存储形式下是否正确；0x5a原理同0xa5；0xff即使Flash被全部擦除，然后读出，是否全是0xff，检查Flash是否能够正确地执行擦除操作。

如图2所示，单片机的测试方法包括：

S201，上位测试机通过外部通信接口发送激励0xff测试指令至节点指示控制逻辑。

S202，节点指示控制逻辑激活测试激励表0xff测试项，向Flash控制逻辑发送0xff测试激励。

S203，Flash控制逻辑将Flash存储体整体擦除完毕后，Flash控制逻辑反馈激励0xff测试完毕。

S204，测试激励表产生完成状态并反馈至节点指示控制逻辑。

S205，节点指示控制逻辑产生激励0xff完成标识并等待上位测试机的读取。

S206，在上位测试机通过外部通信接口发送激励0xff测试指令至节点指示控制逻辑之后，上位测试机测试与flash无关的功能逻辑电路A1。

S207，A1测试完成后，上位测试机读取激励0xff完成标识。

S208，上位测试机读取Flash存储体中的数据，并和激励0xff进行对比分析，如果读出的数据也全部为0xff，则证明Flash擦除功能正确，相反则为出错。

同理，0x55、0xaa、0xa5、0x5a和0x00的测试激励的测试，可重复S201至S208的步骤实现完成。其中，与flash无关的功能逻辑电路可由A1、A2、A3….An组成，每当完成一个与flash无关的功能逻辑电路的测试后，上位测试机均读取是否有测试激励的完成标识，如果有完成，则读取Flash存储体中的数据，并和激励数据进行对比分析。如果没有完成，则继续下一个与flash无关的功能逻辑电路的测试。

现有技术中，在整个测试过程中均由上位测试机主动发出测试控制和测试激励，整个测试流程由上位测试机单一按顺序依次进行，不具有测试项并行性和测试时间高利用率，单次测试周期时间较长。测试激励调用不直接受上位测试机控制，而由测试激励表和节点指示控制逻辑控制测试激励的调度，效率更高。

本发明实施例的单片机的测试方法，在对Flash存储体进行测试的同时，上位测试机可并行地对待测试单片机中与flash无关的功能逻辑电路进行测试，有效地利用了Flash存储体在存取测试过程中的时间，并行测试与flash无关的功能逻辑电路，使测试效率大幅提高，测试成本大幅降低。

为实现上述实施例，本发明还提出一种单片机的测试系统。

图3为根据本发明一个实施例的单片机的测试系统的结构示意图。

如图3所示，本发明的单片机的测试系统，可包括：上位测试机10和待测试单片机20。

其中，上位测试机10用于向待测试单片机中的节点指示控制逻辑发送第一测试指令，并在在待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，向待测试单片机中的节点指示控制逻辑发送第二测试指令，以对待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试。其中，第一测试指令可为flash存储体的测试指令，第二测试指令可为与flash无关的功能逻辑电路的测试指令。

待测试单片机20还可包括节点指示控制逻辑21、flash控制逻辑22、与flash无关的功能逻辑电路23。

节点指示控制逻辑21用于接收上位测试机10发送的第一测试指令，并根据第一测试指令调用测试激励表中的测试激励数据，以使flash控制逻辑22对flash存储体进行编程测试。其中，测试激励表中预先存储测试激励数据，并在节点指示控制逻辑接收到第一测试指令时，提供测试激励数据，从而无需通过外部数据通信接口下载测试激励数据，节省了时间。

flash控制逻辑22用于根据测试激励对flash存储体进行编程测试。

与flash无关的功能逻辑电路23用于向节点指示控制逻辑反馈测试完成信号。

此外，在对flash存储体进行编程测试完成后，节点指示控制逻辑21可生成编程测试完成标识。在对待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路23进行测试完成后，上位测试机10可获取编程测试完成标识，然后根据编程测试完成标识，读取flash存储体中的数据并进行验证。具体地，可获得flash存储体中的数据，与测试激励数据进行对比分析。如果两者保持一致，则说明编程测试成功。

此外，节点指示控制逻辑还可接收与flash无关的功能逻辑电路的反馈信号，并将反馈信号返回至上位测试机，以使上位测试机根据反馈信号判断继续测试与flash无关的功能逻辑电路或是对flash存储体进行编程测试。

下面以测试激励数据0xff为例进行工作流程的详细说明。

具体工作流程如下，上位测试机通过外部通信接口发送激励0xff测试指令至节点指示控制逻辑。节点指示控制逻辑激活测试激励表0xff测试项，向Flash控制逻辑发送0xff测试激励。Flash控制逻辑将Flash存储体整体擦除完毕后，Flash控制逻辑反馈激励0xff测试完毕。测试激励表产生完成状态并反馈至节点指示控制逻辑。节点指示控制逻辑产生激励0xff完成标识并等待上位测试机的读取。在上位测试机通过外部通信接口发送激励0xff测试指令至节点指示控制逻辑之后，上位测试机测试与flash无关的功能逻辑电路A1。A1测试完成后，上位测试机读取激励0xff完成标识。上位测试机读取Flash存储体中的数据，并和激励0xff进行对比分析，如果读出的数据也全部为0xff，则证明Flash擦除功能正确，相反则为出错。其中，与flash无关的功能逻辑电路可由A1、A2、A3….An组成，每当完成一个与flash无关的功能逻辑电路的测试后，上位测试机均读取是否有测试激励的完成标识，如果有完成，则读取Flash存储体中的数据，并和激励数据进行对比分析。如果没有完成，则继续下一个与flash无关的功能逻辑电路的测试。

本发明实施例的单片机的测试系统，通过在待测试单片机中设置节点指示控制逻辑和flash控制逻辑，并由待测试单片机中的测试激励表提供测试激励数据，能够在对flash存储体进行编程测试的同时，还能并行测试与flash无关的功能逻辑电路，节省了测试时间，降低了测试成本，进而提高了生产效率。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同限定。

Claims (12)

1.一种单片机的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

待测试单片机中的节点指示控制逻辑接收上位测试机发出的第一测试指令；

所述节点指示控制逻辑根据所述第一测试指令，调用测试激励表中的测试激励数据，以使所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试；以及

在所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，所述节点指示控制逻辑接收所述上位测试机发出的第二测试指令，对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

在所述编程测试完成后，所述节点指示控制逻辑生成编程测试完成标识。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

在对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试完成后，所述上位测试机获取所述编程测试完成标识；

所述上位测试机根据所述编程测试完成标识，读取所述flash存储体中的数据并进行验证。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试激励表中预先存储所述测试激励数据，并在所述节点指示控制逻辑接收到所述第一测试指令时，提供所述测试激励数据。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试之后，还包括：

所述节点指示控制逻辑接收所述与flash无关的功能逻辑电路的反馈信号，并将所述反馈信号返回至所述上位测试机，以使所述上位测试机根据所述反馈信号判断继续测试所述与flash无关的功能逻辑电路或是对所述flash存储体进行编程测试。

6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述读取所述flash存储体中的数据并进行验证，包括：

获得所述flash存储体中的数据，与所述测试激励数据进行对比分析，若一致，则编程测试成功。

7.一种单片机的测试系统，其特征在于，包括：上位测试机和待测试单片机，其中，

所述上位测试机，用于向所述待测试单片机中的节点指示控制逻辑发送第一测试指令，并在在所述待测试单片机中的flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试的同时，向所述待测试单片机中的节点指示控制逻辑发送第二测试指令，以对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试；

所述待测试单片机包括：

节点指示控制逻辑，用于接收所述上位测试机发送的第一测试指令，并根据所述第一测试指令调用测试激励表中的测试激励数据，以使flash控制逻辑对flash存储体进行编程测试；

所述flash控制逻辑，用于根据所述测试激励对flash存储体进行编程测试；

所述与flash无关的功能逻辑电路，用于向所述节点指示控制逻辑反馈测试完成信号。

8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述节点指示控制逻辑，还用于：

在所述编程测试完成后，生成编程测试完成标识。

9.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述上位测试机，还用于：

在对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试完成后，所述上位测试机获取所述编程测试完成标识，以及根据所述编程测试完成标识，读取所述flash存储体中的数据并进行验证。

10.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述测试激励表中预先存储所述测试激励数据，并在所述节点指示控制逻辑接收到所述第一测试指令时，提供所述测试激励数据。

11.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述节点指示控制逻辑，还用于：

在对所述待测试单片机中的与flash无关的功能逻辑电路进行测试之后，所述节点指示控制逻辑接收所述与flash无关的功能逻辑电路的反馈信号，并将所述反馈信号返回至所述上位测试机，以使所述上位测试机根据所述反馈信号判断继续测试所述与flash无关的功能逻辑电路或是对所述flash存储体进行编程测试。

12.如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述上位测试机，具体用于：

获得所述flash存储体中的数据，与所述测试激励数据进行对比分析，若一致，则编程测试成功。