CN106233150B - 保护测试仪器的电路 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种控制测试仪器的方法，该方法可包括：确定与所述测试仪器输出的功率对应的第一值；根据所述第一值确定第二值，其中所述第二值与由所述测试仪器消耗的能量值对应；当所述第二值超过阈值时，将所述测试仪器的至少一部分设置为高阻抗状态。

Description

保护测试仪器的电路

技术领域

本说明书整体涉及保护测试仪器的电路。

背景技术

自动测试设备(ATE)是指用于测试多种装置(诸如半导体、电子电路和印刷电路板组件)的、通常由计算机驱动的自动化系统。用ATE测试的装置通常称为受测装置(DUT)。ATE通常包括计算机系统和测试仪器或具有相应功能的单个装置。ATE能够向DUT提供测试信号、从DUT接收响应信号、以及转发这些响应信号供处理以确定DUT是否测试合格。在某些情况下，测试仪器能够在测试期间向DUT提供功率。

发明内容

控制测试仪器的一种示例性方法可包括：确定与测试仪器输出的功率对应的第一值；根据第一值确定第二值，其中第二值与由测试仪器消耗的能量值对应；当第二值超过阈值时，将测试仪器的至少一部分设置为高阻抗状态。该示例性方法可单独地或组合地包括下列一个或多个特征。

确定第一值可包括：获得输入电压值与对应于输入电流值的电压的乘积，然后根据该乘积，得到与第一值对应的输出电压。确定第二值可包括：根据输出电压产生输出电流；将该输出电流对时间积分，得到第二值。

该示例性方法还可包括：将第二值与阈值比较；根据比较结果，输出比较值。测试仪器可响应于接收到该比较值，被锁存器设置为高阻抗状态。锁存器可输出控制信号，以将测试仪器设置为高阻抗状态。

所述阈值可以是第一阈值。该示例性方法还可包括：在将测试仪器设置为高阻抗状态之后，降低测试仪器输出的功率，以使输出电流小于固定电流；根据固定电流对时间进行逆积分，得到第三值；将第三值与第二阈值比较；根据比较结果，当第三值超过第二阈值时，将测试仪器的至少一部分设置为工作状态。将第三值与第二阈值比较可得到第二比较值。测试仪器可响应于接收到第二比较值，重置锁存器，由此返回正常工作状态。锁存器可输出控制信号，以将测试仪器设置为工作状态。

在将测试仪器的至少一部分设置为高阻抗状态之后，可手动控制或借助程序控制测试仪器，以将该测试仪器设置为工作状态。

输入电压可基于功率场效应晶体管两端的电压。输入电流可基于检测电阻器两端的电压。可使用乘法器电路确定与输出电压对应的第一值。输出电压可输出到电阻器上，从而产生超过固定电流的电流。第二值可通过将所述电流对时间积分而获得。

测试仪器可包括多个通道。该示例性方法的下列操作可针对测试仪器内的通道执行：确定第一值、确定第二值、将测试仪器设置为高阻抗状态。该示例性方法可包括：在测试仪器输出的功率下降之后，使测试仪器退出高阻抗状态。

控制测试仪器的示例性电路可包括：乘法器电路，用于接收输入电压和对应于输入电流的电压，并提供输出电压；积分器电路，用于根据对应于输出电压的电流输出积分电压；比较器电路，用于将积分电压与阈值比较，并根据比较结果输出结果信号；以及锁存器，用于根据结果信号向测试仪器输出控制信号。该示例性电路可单独地或组合地包括下列一个或多个特征。

电阻器可被配置为接收输出电压。由于第一电阻器接收到输出电压而流过第一电阻器的电流，可与输出电压对应。在一个实例中，电阻器是第一电阻器，对应于输出电压的电流是第一电流，积分电压是第一积分电压，阈值是第一阈值，控制信号是第一控制信号。该电路还可包括：连接到电压源的第二电阻器、以及流过第二电阻器的第二电流。积分器被配置为在第二电流大于第一电流的情况下，根据第二电流输出第二积分电压。比较器电路可被配置为将第二积分电压与第二阈值比较，并根据比较结果输出第二结果信号。锁存器可被配置为根据第二结果信号向测试仪器输出第二控制信号。

第一控制信号可将测试仪器的至少一部分设置为高阻抗状态，第二控制信号可将测试仪器的所述至少一部分设置为工作模式。测试仪器的所述至少一部分是测试仪器的单个通道。

所述示例性电路可包括：功率场效应晶体管，在其两端测量对应于输入电压的电压；和电阻器，将测量流过该电阻器的对应于输入电流的电流。所述示例性电路可包括功率级，用于从测试仪器向受测装置输出功率。该功率级可被配置为接收控制信号并对其作出响应。积分器可包括运算放大器。

控制测试仪器的示例性电路可包括：积分器电路，用于根据电流输出积分电压，该电流主要对应于：(i)固定电压，或(ii)测试仪器的输出功率；比较器电路，用于将积分电压与阈值比较，并根据比较结果输出结果信号；以及锁存器，用于根据结果信号向测试仪器输出控制信号。要是电流对应于测试仪器的输出功率，则控制信号可将测试仪器的至少一部分设置为高阻抗状态。而要是电流对应于所述固定电压，则控制信号可将测试仪器设置为工作模式。

本说明书中，包括发明内容这一章节中所述的任何两个或更多个特征可加以组合，而形成本文未明确描述的具体实施。

本文所述的测试系统和技术或其组成部分，可实施为计算机程序产品或受计算机程序产品控制，所述计算机程序产品包括多条储存在一个或多个非暂态机器可读存储介质中的指令，这些指令能在一个或多个处理装置上执行，用于控制(例如协调)本文所述的操作。本文所述的测试系统和技术或其组成部分，可实施为设备、方法或电子系统，所述设备、方法或电子系统可包括一个或多个处理装置和存储器，其中存储器用于存储用以实施多种操作的可执行指令。

一个或多个具体实施的细节在附图中示出，并在下文进行描述。通过查看具体实施方式、附图以及权利要求，可明显地看出其他特征和优点。

附图说明

图1示出了用于保护测试仪器的电路的一个实例。

图2示出了测试仪器的一示例性通道。

图3示出了测试仪器的一示例性具体实施。

图4示出了包括测试仪器的示例性ATE。

不同附图中类似的附图标号指示类似的元件。

具体实施方式

制造商可在各制造阶段对装置进行测试。在一示例性制造过程中，在单个硅晶圆上生产大量的集成电路。然后把晶圆切割成一个个集成电路，称之为芯片。将每个芯片装载到框架中，附接焊线，以将芯片连接到从框架延伸的引线。然后将装载好的框架封装到塑料或另一种封装材料中，从而生产出成品。

制造商出于经济方面的考虑，希望在制造过程中尽早检测到有缺陷的部件并将其丢弃。因此，许多制造商在将晶圆切割成芯片之前，在晶圆级对集成电路进行测试。有缺陷的电路被做上记号，并通常在封装前予以丢弃，从而省去封装有缺陷芯片的成本。许多制造商在最终检查步骤中，对每个成品进行测试，测试合格方可发货。该过程测试的是封装中的零部件，这些零部件与裸芯片相比已经增加了额外的费用。所以，如果测试结果准确，则有价值的零部件被丢弃的可能性下降。

制造商通常使用ATE(或称“测试仪”)来测试部件的参量。一些ATE响应于测试程序集(TPS)中的指令，自动地产生施加于受测装置(DUT)的输入信号，并监测输出信号。ATE将输出信号与预期的响应比较，以确定DUT是否有缺陷。ATE通常包括计算机系统和测试仪器或具有相应功能的单个装置。在某些情况下，测试仪器向DUT提供功率。但是，高功率可能损坏测试仪器。例如，DUT汲取的大量功率可能造成测试仪器过热，继而导致测试仪器受损。就这一点来说，可导致测试仪器受损的功率量可能因仪器不同而异。

因此，本文描述的是用于保护测试仪器，使其免于暴露于高功率的电路的实例。尽管该电路是在测试仪器的语境中描述的，但是，该电路可与可得益于其保护而不会因高功率受损的任何类型的电子器件或硬件搭配使用。

用于保护测试仪器的电路10的一实例在图1中示出。电路10包括放大器11和12。放大器12通过检测电阻14两端的电压，来检测流过测试仪器的电流，所述电压是电流的函数。放大器11通过检测功率场效应晶体管(FET)15两端的电压，来检测测试仪器中的电压。

放大器11输出电压值V，放大器12输出与电流值I成正比的电压。乘法器电路17将这两个电压相乘，获得输出值18，输出值18对应于V和I的乘积，因而对应于测试仪器的功率输出。就这一点来说，功率输出对应于DUT经由测试仪器多个通道之一汲取的功率量。通过确定功率输出，就可以确定仪器消耗的能量值，因而确定仪器的散热量(与能量对应)。可使用与能量对应的值来控制测试仪器的操作，以使测试仪器不过热。如下所述，在示例性具体实施中，与能量对应的一个或多个值用于将测试仪器的至少一部分设置为高阻抗状态，或用于将测试仪器的至少一部分设置为工作状态。

更具体地，在电路10中，乘法器电路17的输出值18对应于测试仪器的功率输出。输出值18具有电压分量，用来施加到受电压控制的电流源。在图1的示例性具体实施中，电流源是乘法器17在电阻器19两端的输出电压；但也可使用其他类型的电流源。如图所示，电流源与另一个电流源串联，所述另一个电流源可以是电阻器20两端的电压。

在图1的示例性具体实施中，电阻器19连接到正电压源(例如+15V)，电阻器20连接到负电压源(例如-15V)；然而，在其他具体实施中，电压连接和电压值可以不同。响应于来自乘法器电路17的输出电压(例如，输出功率的电压分量)，电阻器19处的电压增大，因此，流过电阻器19，随后流向并流过电路通道21的电流的量增大。输出电压越大，流过电阻器19，随后流向并流过电路通道21的电流的量就越大。反之，输出电压越小，流过电阻器19，随后流向并流过电路通道21的电流的量就越小。

在某一时刻，取决于电路10的部件的参数(例如电压、电阻等)，输出电压足够小，使得流过电阻器20的电流是电路10的操作的控制因素。例如，要是来自乘法器电路17的输出电压为0，则电流不流向也不流过电路通道21，而是沿反方向流动，例如，从电路通道21流过电阻器20，再朝着负电压源22流动。电流流过电路通道21的方向，决定了积分器23进行的积分是正还是负。

在该示例性具体实施中，积分器23包括放大器24和反馈电容器25，但也可使用其他类型的积分器。在电流流向并流过电路通道21(即流入积分器23的电容器25)时，积分器23根据流过电阻器19，对应于乘法器电路17的输出电压的电流，产生积分电压并将其输出。由于这些值对应于测试仪器中的功率输出，所以获得的积分值对应于测试仪器消耗的能量，因而对应于测试仪器的散热量。如图1所示，积分值分别输出到比较器30和31的端子28和29。

在该示例性具体实施中，比较器30将其在端子28处的输入与第一电压值(+10V)比较，比较器31将其在端子29处的输入与第二电压值(-10V)比较。在其他具体实施中，电压连接和/或电压值可以不同。比较器30和31的相应输出32和33控制锁存器34。如下文更详细地描述，锁存器34被配置为响应于来自积分器23的信号而输出控制信号35，以将测试仪器设置为高阻抗状态或工作状态。

更具体地，在该示例性具体实施中，积分器23被配置为响应于流过电容器25的正电流而产生负电压斜升，响应于流过电容器25的负电流而产生正电压斜升。在其他具体实施中，积分器23可被配置为响应于正电流和负电流而产生不同的值。因此，随着功率输出增大，流过电容器25的正电流(例如，流向并流过电路通道21的电流)的量增大，导致负电压斜升增大。在某一时刻，负电压超过比较器31的参考电压36，导致控制锁存器34的输出将测试仪器设置为高阻抗状态。换句话说，由于测试仪器中的功率输出超过某个值维持某个时间长度，引起积分器23输出的电压超过参考电压36，这致使锁存器34将测试仪器设置为高阻抗状态。高阻抗状态可意味着测试仪器处于不工作状态，结果是阻止电流从中流过，或者流过测试仪器的电流低(例如，为0或低于某个值)。其他具体实施可对高阻抗状态使用不同的定义。

在该示例性具体实施中，高阻抗状态下流过测试仪器的电流低(例如，为0或低于某个值)。因此，乘法器电路17的电压分量输出低(例如，为0或低于某个值)，造成电流从端子26反向流动，例如，从电路通道21流过电阻器20，再朝着负电压源22流动。换句话说，端子26处的电流为负(因为电流从放大器24流出)。所以，积分器23进行逆积分，因而在积分器23的输出端处产生正电压斜升。因此，随着高阻抗状态下测试仪器中的功率输出降低，端子26处的负电流(例如，来自电路通道21的电流)的量增大，导致正电压斜升增大。在某一时刻，正电压超过比较器30的参考电压37，导致控制锁存器34的输出将测试仪器退出高阻抗状态，并将测试仪器置于工作状态。换句话说，由于测试仪器中的功率输出降低持续一定时间长度，引起积分器23输出的电压超过参考电压37，这致使锁存器34将测试仪器设置为工作状态。

在一些具体实施中，测试仪器可包括多个通道。每个通道都可包括通信路径，通过通信路径测试相应的DUT。在一些具体实施中，每个通道都可包括电路(诸如图2所示的电路)，用以保护测试仪器。因此，在一些具体实施中，单个通道上引起功率过度输出的DUT可能导致整个测试仪器被设置为高阻抗状态。在一些具体实施中，单个通道上引起功率过度输出的DUT可能只导致该通道被设置为高阻抗状态。因此，可对测试仪器中的通道执行下列操作：确定对应于测试仪器中的功率输出的值，确定与对应于该功率输出的积分电流对应的值，以及将测试仪器设置为高阻抗状态或工作状态。

总而言之，在一些具体实施中，乘法器电路的输出将成比例地控制流向积分器电路的积分电流。当积分器达到与测试仪器内使用的固定能量值有关的特定阈值时，比较器电路将测试仪器设置为高阻抗状态，从而将内部功率降至某个值，例如几乎降至0。这时，在一些具体实施中，积分器将改变方向，并按固定速率更缓慢地积分，直到达到另一个阈值，此时测试仪器将能够恢复正常工作状态。可通过按控制测试仪器的占空比的方式设置积分电流和阈值，来自动地限制测试仪器吸收的最大能量。在一些具体实施中，不会发生逆积分来引起测试仪器恢复正常工作状态。相反地，可使用用户或程序干预来引起测试仪器恢复正常工作状态。

图1的示例性电路可用于保护四象限测试仪器(诸如图2所示)。在图2的实例中，通道38连接到正电压轨39和负电压轨40，并且能够提供正电压以及提供或吸收电流，或者能够提供负电压以及提供或吸收电流。图中示出了产生的功率输出41。启用/禁用信号42对应于锁存器34的输出，用于将通道38设置为高阻抗(HI-Z)状态，或引起通道38退出高阻抗状态并恢复正常工作状态。图2的输出41对应于图1中的“功率级输出”43。在图2中，部件44至47对应于诸如图1所示的电路的输入。在图1和图2中，对应的端子被共同标记为A、B、C、D，用以指示图1中的端子与图2中的端子的对应关系。

因此，在一些具体实施中，本文所述的电路将自动地监视测试仪器内部使用的电压和电流随时间的变化，要是使用的电压和电流接近临界能量阈值，则电路将迫使测试仪器进入安全状态(例如高阻抗状态)维持一段时间，以允许测试仪器冷却。使用这种电路，可减少用户手动管理测试仪器内使用的功率的需求。

参见图3，用于测试DUT 58(诸如半导体器件)的一示例性ATE系统50包括测试仪(或称“测试仪器”)52。测试仪52可包括多个通道，每个通道都可包括图1和图2所示的电路或其变型形式。为控制测试仪52，系统50包括计算机系统54，计算机系统54利用硬线连接56与测试仪52进行交互。在一示例性操作中，计算机系统54向测试仪52发送命令，以启动执行用以测试DUT 58的例程和功能。如此执行测试例程，可引发生成测试信号并将测试信号向DUT 58传输，并且收集来自DUT的响应。系统50可测试多种类型的DUT。例如，DUT可以是半导体器件，诸如集成电路(IC)芯片(例如存储器芯片、微处理器、模数转换器、数模转换器等)，也可以是其他装置。

为提供测试信号并从DUT收集响应，测试仪52与DUT 58的内部电路的接口连接。例如，DUT可插入测试仪中的插口，该插口包含用于建立DUT和测试仪之间的电连接的接口。导体60(例如，一个或多个导电通路)连接到所述接口，用于将测试信号(例如，开关测试信号或DC测试信号等)递送到DUT 58的内部电路。导体60还响应于测试仪52所提供测试信号而检测信号。例如，可在引脚62处响应于测试信号而检测电压信号或电流信号，然后利用导体60将测得的信号发送到测试仪52进行分析。此类单端口测试也可在DUT 58内包含的其他引脚上进行。例如，测试仪52可向其他引脚提供测试信号，并收集从(用于递送提供的信号的)导体反射回来的相关信号。通过收集反射的信号，可连同其他单端口测试参量，来表征引脚的输入阻抗。在其他测试场景中，可利用导体60将数字信号发送到引脚62，以将数字值存储在DUT 58上。一旦DUT 58存储了数字值，就可访问DUT 58，以检索存储的数字值，并利用导体60将数字值发送到测试仪52。然后可识别检索的数字值，以确定DUT 58上是否存储了恰当的值。

除执行单端口测量外，还可用测试仪52执行双端口或多端口测试。例如，测试信号可经由导体60注入引脚62，并且可从DUT 58的一个或多个其他引脚收集响应信号。可将该响应信号提供给测试仪52以确定多种参量，诸如增益响应、相位响应和其他通量测量参量。

还参见图4，为了从一个DUT(或多个DUT)的多个连接器引脚发送和收集测试信号，测试仪52包括接口卡64，接口卡64可与多个引脚通信。例如，接口卡64可向例如32、64或528个引脚传输测试信号，并收集相应的响应。每个到引脚的通信链路都对应于一个通道(诸如图2所示的通道)，通过向多个通道提供测试信号，测试时间得以缩短，这是因为可同时进行多个测试。除了在接口卡上具有多个通道之外，通过在测试仪52中包含多个接口卡，总通道数增加，测试时间得以进一步缩短。该实例示出了两个额外的接口卡66和68，用以展示可在测试仪52中放入多个接口卡。

每个接口卡都包括一个或多个专用的集成电路(IC)芯片(例如，专用集成电路(ASIC))，用于执行特定的测试功能。例如，接口卡64包括IC芯片70，用于执行引脚电子器件(PE)测试。特别地，IC芯片70具有PE级74，PE级74包括用于执行PE测试的电路。另外，接口卡66和68分别包括IC芯片76和78，这两个芯片都包括PE电路。通常，PE测试涉及向DUT(例如DUT 58)发送开关测试信号或数字波形，并收集响应，用以进一步表征DUT的性能。例如，IC芯片70可传输(向DUT传输)代表二进制值向量的开关测试信号，用于存储在DUT上。一旦这些二进制值被存储起来，DUT就可由测试仪52访问，以确定是否存储了正确的二进制值。由于数字信号通常包含陡峭的电压转变，所以IC芯片70上的PE级74中的电路相比于其他测试电路(例如，参数测量单元(PMU)电路，图中未示出)以较高的速度工作。PE测试也可涉及向测试信号添加抖动，并观察DUT在存在抖动的情况下的工作情况。

在该示例性具体实施中，为了从接口卡64向DUT 58传递测试信号，一条或多条导电迹线80将IC芯片70连接到接口板连接器82，接口板连接器82允许信号在接口板64上传递以及离开接口板64。接口板连接器82还与连接到接口连接器86的一个或多个导体84连接，这些导体84允许信号传递到测试仪52，也允许信号从测试仪52传出。在该实例中，一个或多个导体60与接口连接器86连接，用于在测试仪52和DUT 58的引脚之间双向传递信号。在一些具体实施中，可使用接口装置将一个或多个导体从测试仪52连接到DUT。例如，DUT(例如DUT 58)可安装到装置接口板(DIB)上，用于提供对每个DUT引脚的访问。采用这种布置时，一个或多个导体60可连接到DIB，以将测试信号设置于DUT的适当引脚(例如引脚62)上。

在一些具体实施中，导电迹线80和导体84分别连接IC芯片70和接口板64，用于递送和收集信号。IC芯片70(连同IC芯片76和78)可具有多个引脚(例如，8个、16个等)，这些引脚分别与多条导电迹线和对应的导体连接，用于(例如，经由DIB)从DUT提供信号，以及收集来自DUT的信号。另外，在一些具体实施中，测试仪52可连接到两个或更多个DIB，以使接口卡64、66和68提供的通道与一个或多个受测装置对接。

为了发起和控制由接口卡64、66和68、测试仪52执行的测试，PE控制电路90提供测试参数(例如，测试信号电压水平、测试信号电流水平、数字值等)，用于产生测试信号并对DUT响应进行分析。PE控制电路可用一个或多个处理装置实现。处理装置的例子包括但不限于微处理器、微控制器、可编程逻辑(例如现场可编程门阵列)、和/或这些装置的组合。测试仪52还包括计算机接口92，计算机接口92允许计算机系统54控制由测试仪52执行的操作，还允许数据(例如，测试参数、DUT响应等)在测试仪52和计算机系统54之间传递。

尽管本说明书描述了与“测试”和“测试系统”有关的示例性具体实施，但本文所述的装置和方法可用于任何适当的系统，并不限于测试系统或本文所述的示例性测试系统。

如本文所述执行的测试可用硬件、或硬件和软件的组合实施。例如，与本文所述类似的测试系统可包括位于多个点处的多个控制器和/或处理装置。中央计算机可协调这多个控制器或处理装置的操作。中央计算机、控制器和处理装置可执行多个软件例程，以实现对测试和校准的控制和协调。

测试可至少部分地使用一个或多个计算机程序产品进行控制，所述计算机程序产品例如是在一种或多种信息载体(诸如一种或多种非暂态机器可读介质)中有形实施的一个或多个计算机程序，所述计算机程序由一个或多个数据处理设备执行，或用于控制一个或多个数据处理设备的操作，其中数据处理设备例如是可编程处理器、计算机、多个计算机和/或可编程逻辑部件。

计算机程序可用任何形式的编程语言(包括编译语言或解释语言)编写，而且可按任何形式部署，包括作为独立程序，或作为模块、部分、子例程或其他适用于计算环境的单元。计算机程序可被部署为在一台计算机执行，或者在位于同一场所或分布在多个场所但由网络互连的多台计算机上执行。

与实施一部分或全部测试和校准相关的动作可由执行一个或多个计算机程序以执行本文所述功能的一个或多个可编程处理器执行。一部分或全部测试和校准可采用专用逻辑电路实施，所述专用逻辑电路例如是FPGA(现场可编程门阵列)和/或ASIC(专用集成电路)。

适于执行计算机程序的处理器包括(例如)通用微处理器和专用微处理器、以及任何一种数字计算机的任何一种或多种处理器。通常，处理器将从只读存储区或随机访问存储区或这两者接收指令和数据。计算机(包括服务器)的元件包括用于执行指令的一个或多个处理器、以及用于存储指令和数据的一个或多个存储区装置。通常，计算机还包括一个或多个机器可读存储介质，或者可操作地耦接为从一个或多个机器可读存储介质接收数据并/或向其传输数据，所述机器可读存储介质诸如是用于存储数据的大容量PCB，例如磁盘、磁光盘或光盘。适用于实施计算机程序指令和数据的机器可读存储介质包括各种各样的非易失性存储区，包括(例如)半导体存储区装置，例如EPROM、EEPROM和闪存存储区装置；磁盘，例如内部硬盘或可移动硬盘；磁光盘；以及CD-ROM盘和DVD-ROM盘。

本文使用的任何“电连接”，都可以指直接的物理连接，也可以指包括居间部件、但允许电信号在连接的部件之间流动的连接。除非另有说明，否则不管是否使用“电”字来修饰“连接”，本文提到的涉及电路的任何“连接”都是电连接，但未必是直接的物理连接。

本文所述的不同具体实施的元件可加以组合，而形成上文未明确陈述的其他实施例。可从本文所述的结构中省略元件，而不会不利地影响结构工作。此外，可将多个分开的元件组合成一个或多个单独的元件，用以执行本文所述的功能。

Claims (18)

1.一种控制测试仪器的方法，包括：

确定与所述测试仪器输出的功率对应的第一值；

根据所述第一值确定第二值，所述第二值与由所述测试仪器消耗的能量值对应；以及

当所述第二值超过阈值时，将所述测试仪器或者将所述测试仪器的功率过度输出的通道设置为高阻抗状态；

其中所述测试仪器包括多个通道；并且

其中针对所述测试仪器内的通道执行以下操作：确定所述第一值，确定所述第二值，将所述测试仪器设置为所述高阻抗状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述第一值包括：获得输入电压值与对应于输入电流值的电压的乘积，以及根据该乘积，得到与所述第一值对应的输出电压。

3.根据权利要求2所述的方法，其中确定所述第二值包括：

根据所述输出电压产生输出电流；以及

将所述输出电流对时间积分，得到所述第二值。

4.根据权利要求3所述的方法，还包括：

将所述第二值和所述阈值比较；以及

根据比较结果，输出比较值；

其中所述测试仪器响应于接收到所述比较值，而被锁存器设置为所述高阻抗状态，所述锁存器输出控制信号以将所述测试仪器设置为所述高阻抗状态。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述阈值是第一阈值；并且其中所述方法还包括：

在将所述测试仪器设置为所述高阻抗状态之后，降低所述测试仪器输出的功率，以使所述输出电流小于固定电流；

根据所述固定电流对时间进行逆积分，得到第三值；

将所述第三值与第二阈值比较；以及

根据比较结果，当所述第三值超过所述第二阈值时，将所述测试仪器或者所述通道设置为工作状态。

6.根据权利要求5所述的方法，其中将所述第三值与所述第二阈值比较得到了第二比较值；并且

其中所述测试仪器响应于接收到所述第二比较值，通过所述锁存器的重置而返回正常工作状态，所述锁存器输出控制信号以将所述测试仪器设置为所述工作状态。

7.根据权利要求2所述的方法，其中所述输入电压基于功率场效应晶体管两端的电压；并且

其中所述输入电流基于电流检测电阻器两端的电压。

8.根据权利要求1所述的方法，其中使用乘法器电路来确定与输出电压对应的所述第一值；

其中所述输出电压被输出到电阻器产生超过固定电流的电流；并且

其中所述第二值通过将所述电流对时间积分而获得。

9.根据权利要求1所述的方法，还包括：

在所述测试仪器输出的功率下降之后，使所述测试仪器退出所述高阻抗状态。

10.根据权利要求1所述的方法，还包括：

在将所述测试仪器或者所述通道设置为高阻抗状态之后，手动控制或借助程序控制所述测试仪器，以将所述测试仪器设置为工作状态。

11.控制测试仪器的电路，包括：

乘法器电路，用于接收输入电压和对应于输入电流的电压，并提供表示所述测试仪器的功率输出的输出电压；

积分器电路，用于根据对应于所述输出电压的电流输出积分电压，所述积分电压表示由所述测试仪器所消耗的能量；

比较器电路，用于将所述积分电压与阈值比较，并根据比较结果输出结果信号；以及

锁存器，用于根据所述结果信号向所述测试仪器输出控制信号，所述控制信号将所述测试仪器或者将所述测试仪器的功率过度输出的通道设置为高阻抗状态。

12.根据权利要求11所述的电路，还包括：

电阻器，用于接收所述输出电压，由于所述电阻器接收到所述输出电压而流过所述电阻器的所述电流与所述输出电压对应。

13.根据权利要求12所述的电路，其中所述电阻器是第一电阻器，对应于所述输出电压的所述电流是第一电流，所述积分电压是第一积分电压，所述阈值是第一阈值，所述控制信号是第一控制信号；并且

其中所述电路包括：

连接到电压源的第二电阻器，第二电流流过所述第二电阻器；

其中，在所述第二电流大于所述第一电流的情况下，所述积分器电路被配置为根据所述第二电流输出第二积分电压；

其中所述比较器电路被配置为将所述第二积分电压与第二阈值比较，并根据比较结果输出第二结果信号；并且

其中所述锁存器被配置为根据所述第二结果信号向所述测试仪器输出第二控制信号。

14.根据权利要求13所述的电路，其中所述第一控制信号用于将所述测试仪器或者所述通道设置为所述高阻抗状态，所述第二控制信号用于将所述测试仪器或者所述通道设置为工作模式。

15.根据权利要求11所述的电路，还包括：

功率场效应晶体管，所述功率场效应晶体管两端的对应于所述输入电压的电压得以测量；以及

电阻器，流过所述电阻器的对应于所述输入电流的电流得以测量。

16.根据权利要求11所述的电路，还包括：

功率级，用于从所述测试仪器向受测装置输出功率，所述功率级被配置为接收所述控制信号并对所述控制信号作出响应。

17.根据权利要求11所述的电路，其中所述积分器包括运算放大器。

18.一种控制测试仪器的电路，包括：

积分器电路，用于当所述测试仪器的输出功率超过阈值时，根据电流输出积分电压，所述电流对应于所述测试仪器的所述输出功率，所述积分电压表示由所述测试仪器所消耗的能量；

比较器电路，用于将所述积分电压与阈值比较，并根据比较结果输出结果信号；以及

锁存器，用于根据所述结果信号向所述测试仪器输出控制信号，所述控制信号将所述测试仪器或者将所述测试仪器的功率过度输出的通道设置为高阻抗状态。

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