CN106073697A - 眼科摄像装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种眼科摄像装置，能够分别良好地取得关于在被检眼中深度带不同的2个以上的部位的断层像。OCT设备具备：干涉光学系；测定光学系，包括为了使测定光扫描而使来自干涉光学系的测定光偏向的扫描部、及配置于扫描部与被检眼之间并将由扫描部偏向后的测定光导向被检眼的对物光学系；驱动机构，使扫描部相对于对物光学系的在光轴方向上的相对位置位移。另外，OCT设备具有控制部，控制部控制驱动机构，并在光轴方向上调整测定光的旋转位置，在与被检眼的第一深度带对应的第一位置、和与不同于第一深度带的被检眼的第二深度带对应的第二位置之间改变测定光的旋转位置。

Description

眼科摄像装置

技术领域

本公开涉及拍摄被检眼的断层像的眼科摄像装置。

背景技术

作为拍摄被检物的断层像的装置，已知光断层干涉计(OpticalCoherence Tomography：OCT)。

另外，在眼科领域，近年来进行利用一台装置得到关于在被检眼中深度带不同的2个以上的部位(例如前眼部和眼底等)的断层像的尝试。例如在专利文献1中，公开了对应于镜头辅助装置相对于检查窗的拆装而切换前眼部的拍摄和眼底的拍摄的装置。

【在先技术文献】

【专利文献】

【专利文献1】日本特开2011-147609号公报

发明内容

但是，上述专利文献1的技术中，在前眼部和眼底之间改变要拍摄的深度带的情况下，需要拆装辅助装置，比较费事。

本公开鉴于上述问题而创立，其技术课题在于提供一种新的眼科摄像装置，能够分别良好地获得关于被检眼中深度带不同的2个以上的部位的断层像。

本公开的方式的特征在于具有以下的构成。

(1).一种眼科摄像装置，用于拍摄被检眼的断层像，具备：

OCT光学系统，通过光检测器检测照射到被检眼的测定光与参照光的干涉；及

测定光学系统，包括为了使所述测定光扫描而使来自所述OCT光学系统的所述测定光偏向的光扫描器、及配置于所述光扫描器与所述被检眼之间并将由所述光扫描器偏向后的测定光导向被检眼的物镜光学系统，

所述眼科摄像装置的特征在于，具备：

驱动机构，使所述光扫描器相对于所述物镜光学系统的在光轴方向上的相对位置位移；及

控制器，控制所述驱动机构，在所述光轴方向上调整所述测定光的旋转位置，

所述控制器在与所述被检眼的第一深度带对应的第一位置、和与不同于所述第一深度带的所述被检眼的第二深度带对应的第二位置之间改变所述旋转位置。

(2).根据(1)所述的眼科摄像装置，其中，

所述第一深度带为前眼部，所述第二深度带为眼底，

所述眼科摄像装置具备图像处理器，

所述图像处理器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成前眼部的断层像，

所述图像处理器在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成眼底的断层像。

(3).根据(1)所述的眼科摄像装置，其中，

所述第一深度带为前眼部的前部，所述第二深度带为前眼部的后部，

所述眼科摄像装置具备图像处理器，

所述图像处理器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成前眼部的前部的断层像，

所述图像处理器在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成前眼部的后部的断层像。

(4).根据(2)或(3)所述的眼科摄像装置，其中，

所述图像处理器在生成了所述第一深度带的断层像和所述第二深度带的断层像的情况下，基于表示所述第一深度带与所述第二深度带的距离的距离信息，将所述第一深度带的断层像和所述第二深度带的断层像合成，而生成合成图像。

(5).根据(2)所述的眼科摄像装置，其中，

所述控制器在所述第一位置与所述第二位置之间切换所述旋转位置的情况下，以切换在从所述光扫描器至所述物镜光学系统中的被检者侧端部为止的区间上形成的所述被检眼的瞳像、或瞳的傅里叶变换像的数量的偶奇的方式，控制所述驱动机构而使所述光扫描器的相对位置位移。

(6).根据(2)所述的眼科摄像装置，其中，

所述控制器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，将所述光扫描器的相对位置配置于所述物镜光学系统中的后侧焦点位置、或所述后侧焦点位置的共轭位置，

所述控制器在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，将所述光扫描器的相对位置配置于关于所述物镜光学系统与所述被检眼成为瞳共轭的位置。

(7).根据(1)～(6)中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述测定光学系统具有将所述测定光的聚光位置向所述光轴方向改变的聚光位置改变单元，

所述控制器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下以所述测定光在所述第一深度带聚光的方式，而在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，以所述测定光在所述第二深度带聚光的方式，

与所述光扫描器的相对位置连动地控制所述聚光位置改变单元。

(8).根据(7)所述的眼科摄像装置，其中，

所述聚光位置改变单元至少包括(1)个透镜，通过改变所述透镜的光焦度、及所述物镜光学系统与所述透镜的位置关系中的至少任一个，而在所述光轴方向上改变所述测定光的聚光位置。

(9).根据(1)～(8)中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述测定光学系统具有光束直径调节部，所述光束直径调节部配置于所述OCT光学系统与所述光扫描器之间的光路中，用于改变所述光路上的测定光的光束直径，

所述控制部通过所述光束直径调节部的驱动控制，对应于所述光扫描器的位置而调整所述光束直径。

(10).根据(9)所述的眼科摄像装置，其中，

在所述第一深度带为前眼部，所述第二深度带为眼底的情况下，

所述控制器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，将所述光束直径调整为第一光束直径，在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，将所述光束直径调整为大于所述第一光束直径的第二光束直径。

(11).根据(1)～(10)中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述驱动机构通过改变所述物镜光学系统与所述光扫描器之间的光路长度，而使所述光扫描器的相对位置位移。

(12).根据(1)～(10)中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

具有与所述物镜光学系统的相对位置被固定的光学部件，

所述驱动机构能够将所述物镜光学系统与所述光扫描器之间的光路切换为包括所述光学部件的第一光路和不包括所述光学部件的第二光路，

通过将所述光路设定于第一光路，而在所述第一位置及所述第二位置的一方设定所述旋转位置，通过将所述光路设定于第二光路，而在所述第一位置及所述第二位置的另一方设定所述旋转位置。

(13).根据(1)～(10)中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述驱动机构通过使所述光扫描器在所述光轴方向上移动，而使所述光扫描器的相对位置位移。

(14).根据(1)～(13)中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

具有参照光学系统，所述参照光学系统用于将所述参照光导向所述检测器，且具有调整参照光的光路长度的光路长度调整部，

所述控制器通过控制所述光路长度调整部，而对应于所述光扫描器的相对位置来调整参照光的光路长度。

(15).根据(1)～(13)中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

具有参照光学系统，所述参照光学系统引导所述参照光，且具有使参照光向第一参照光路、和光路长度不同于第一参照光路的第二参照光路分支的分支部，而且，将经过所述第一参照光路的参照光即第一参照光、和经过所述第二参照光路的参照光即第二参照光同时导向所述检测器。

附图说明

图1A是表示第一实施方式中的眼科摄像装置的构成的概略图，图示了眼底拍摄时的光学配置。

图1B是表示第一实施方式中的眼科摄像装置的构成的概略图，示出了前眼拍摄时的光学配置。

图2是将扫描部的一例放大后的图。

图3是表示在眼科摄像装置中拍摄的断层像的图。

图4A是表示前眼拍摄时的干涉光学系统的各部分的位置关系的说明图。

图4B是表示眼底拍摄时的干涉光学系统的各部分的位置关系的说明图。

图5是表示第二实施方式中的眼科摄像装置的构成的概略图。

图6是表示来自前眼部的测定光的返回光与参照光产生的干涉信号与来自眼底的测定光的返回光与参照光产生的干涉信号的傅里叶变换后的强度分布的图。

图7是表示对扫描部相对于物镜光学系统的相对位置进行调整的构成的第一变形例的眼科摄像装置的概略图。

图8A是表示对扫描部相对于物镜光学系统的相对位置进行调整的构成的第二变形例的眼科摄像装置的概略图，图示了眼底拍摄时的光学配置。

图8B是表示对扫描部相对于物镜光学系统的相对位置进行调整的构成的第二变形例的眼科摄像装置的概略图，图示了前眼部拍摄时的光学配置。

图9A是表示对扫描部相对于物镜光学系统的相对位置进行调整的构成的第三变形例的眼科摄像装置的概略图，图示了眼底拍摄时的光学配置。

图9B是表示对扫描部相对于物镜光学系统的相对位置进行调整的构成的第三变形例的眼科摄像装置的概略图，图示了前眼部拍摄时的光学配置。

具体实施方式

以下，参照附图，说明本公开中的典型的实施方式。首先，参照图1A～图4，说明第一实施方式。第一实施方式的光断层干涉计1(以下称为“OCT设备1”)是取得被检眼E的深度信息的眼科摄像装置。OCT设备1可以是例如傅里叶域光学相干断层扫描(FD-OCT)，也可以是时域OCT(TD-OCT)。作为FD-OCT，谱域OCT(SD-OCT：SpectralDomain OCT)、波长扫描式OCT(SS-OCT：Swept source-OCT)是代表性的，当然，对于这些装置能够适用本公开。

图1A、图1B所示的OCT设备1主要具备干涉光学系统2(OCT光学系统)、测定光学系统(导光光学系统)20、控制部70。本第一实施方式中，OCT设备1还具备固视标记投影单元90(第二光学系统)、存储部(存储器)72、操作部74、监视器75。

首先，对干涉光学系统2进行说明。干涉光学系统2将从光源11发出的光束分割成测定光和参照光。干涉光学系统2将测定光导向被检眼E，并且将参照光导向参照光学系统30。并且，干涉光学系统2通过检测器(光检测器)40检测向被检眼E照射的测定光与参照光的干涉。更具体而言，本实施方式中，通过检测器40检测由被检眼E反射(或后方散射)的测定光及参照光的合成所产生的光的干涉信号。

在SD-OCT的情况下，作为光源11使用低相干性光源(宽带域光源)，检测器40中设有将干涉光分光成频率成分的分光光学系统(分光仪)。分光仪例如由衍射光栅和线传感器构成。

另外，在SS-OCT的情况下，作为光源11使用使出射波长在时间上高速变化的波长扫描型光源(波长可变光源)，在检测器40中设有例如单一的受光元件。光源11例如由光源、光纤环形谐振器、及波长选择滤光器构成。并且，作为波长选择滤光器，可举出使用例如衍射光栅和多面镜的组合、法布里-珀罗标准具的情况。

OCT设备1中，切换测定光学系统20的光学配置。作为一例，也可以切换成图1A所示的光学配置和图1B所示的光学配置。图1A及图1B的光学配置中，由OCT设备1拍摄断层像的部位的深度带互不相同。以下，以对具备图1A及图1B的光学配置的OCT设备1应用SD-OCT的具体例为中心，说明本第一实施方式。

图1A、图1B所例示的干涉光学系统2具备光源11、光纤15a、15b、15c、15d、分割器15、参照光学系统30、检测器40。

光源11发出作为干涉光学系统2的测定光及参照光使用的低相干性的光。作为光源11，例如也可以使用SLD光源等。作为该情况的具体例，光源11也可以使在λ＝800nm～1100nm之间具有中心波长的光出射。来自光源11的光经由光纤15a导向分割器15。

此外，光纤15a、15b、15c、15d使光通过内部，从而将分割器15、光源11、测定光学系统20、参照光学系统30、及检测器40等的每一个相连接。

分割器15将(经由光纤15a)从光源11引导来的光分割为测定光和参照光。测定光通过光纤15b导向测定光学系统20。另一方面，参照光经由光纤15c及偏光器31导向参照光学系统30。

在图1A、图1B的例子中，分割器15兼用作使导向被检眼E的测定光的返回光和参照光的导光路结合的结合部(合并器)(详细情况如后所述)。这种分割器15例如也可以是光纤耦合器。以下将分割器15表示为耦合器15。

为了方便，在此处，对测定光学系统20进行说明。测定光学系统20例如将测定光导向被检眼E。作为一例，图1A、图1B所示的测定光学系统20具有准直透镜21、光束直径调节部22、聚光位置可变光学系统(聚光位置可变透镜系统)23、扫描部(光扫描器)24、反射镜25、分光镜26及物镜光学系统27。

准直透镜21对从光纤15b的端部16b出射的测定光进行准直。

光束直径调节部22配置于干涉光学系统2与扫描部24(即光扫描器)之间的光路中，用于改变该光路上的测定光的光束直径。在图1A、图1B的例子中，光束直径调节部22设于测定光学系统20中的耦合器15与扫描部24之间的光路中。光束直径调节部22也可以为例如能够通过插脱机构从光路插脱的光阑、可变扩束器及能够调整开口的直径的可变光阑等中的至少任一种。作为具体例，图1A、图1B所示的光束直径调节部22为可变扩束器。如图1A、图1B所示，可变扩束器中也可以包括例如2个透镜22a、22b和驱动部22c。驱动部22c基于来自控制部70的控制信号改变透镜22a、22b中的光轴方向的位置关系。由此，改变测定光的光束直径(及NA)。

聚光位置可变光学系统23用于在光轴L1方向改变测定光的聚光位置。聚光位置可变光学系统23至少具有1个透镜23a，使用透镜23a将测定光的聚光位置在光轴L1方向上进行调整。在图1A、图1B的例子中，聚光位置可变光学系统23设于耦合器15与扫描部24之间的光路中。此外，本实施方式中，聚光位置可变光学系统23配置于光束直径调节部22与扫描部24的中间。但是，光束直径调节部22和聚光位置可变光学系统23的配置不一定仅限于此。例如也可以相互置换。另外，也可以在两者之间介有中继光学系统等。透镜23a构成在光轴L1方向上确定测定光的聚光位置的聚焦光学系统。聚焦光学系统可以由透镜23a单独构成，也可以由透镜23a及除此以外的光学元件一起构成。聚光位置可变光学系统23例如由调整透镜23a的光焦度、物镜光学系统27与透镜23a的在光轴L1方向上的位置关系中的任一个的构成实现。此外，物镜光学系统27与透镜23a的位置关系的调整例如也可以通过光轴L1方向上的透镜23a的位置、透镜23a与物镜光学系统27a之间的光路长度、及透镜相对于测定光路的插脱中的任一个来实现。该情况下，使透镜23a向期望的方向移动的驱动部(执行器)由控制部70控制。本第一实施方式中，聚光位置可变光学系统23在拍摄眼底Er等的眼内的情况下，也能作为校正视度的视度校正光学系统利用(详细情况如后所述)。

在图1A、图1B的例子中，透镜23a为可变焦点透镜。透镜23a在相对于光轴L1静止的状态下，能够改变焦点位置。透镜23a对应于由控制部70设定的施加电压的大小，来改变光焦度。作为典型的可变焦点透镜，已知液晶透镜等。此外，作为光焦度可变的透镜，不限于液晶透镜，也可以为例如液体透镜、非线性光学部件、分子部件、旋转不对称的光学部件等。

扫描部24为了使测定光扫描，具有使来自所述OCT光学系统的测定光偏向的光扫描器。扫描部24例如也可以具有2个检流计镜241、242(光扫描器的一例)。在图2的例子中，241为X扫描用检流计镜，242为Y扫描用检流计镜。各检流计镜241、242也可以分别包括反射镜部241a、242a、使各自的241a、242a旋转的驱动部241b、242b(例如电动机)。控制部70通过独立地控制各个检流计镜241、242的朝向，来改变测定光的行进方向。其结果是，能够相对于被检眼E使测定光向上下左右方向扫描。此外，扫描部24能够使用检流计镜241b、242b以外的光扫描器。例如，可以使用反射型的扫描器(例如MEMS扫描器、谐振扫描器、多面镜等)，也可以使用音响光学元件等。

图1A、图1B的例子中，利用扫描部24改变了行进方向的测定光由各反射镜面夹着直角配置的反射镜25、及分光镜26的每一个反射。由此，测定光向从扫描部24的出射时的相反方向折返。作为其结果，测定光导向物镜光学系统27。

物镜光学系统27在测定光学系统20中配置于扫描部24与被检眼E之间。物镜光学系统27将被光扫描器(本实施方式中为检流计镜241、242)偏向后的测定光导向被检眼E。本实施方式中，物镜光学系统27形成为具有正的放大率(power)的透镜系统(物镜系统)。因此，来自扫描部24的测定光通过物镜光学系统27，由此向光轴L1侧弯折。此外，图1A、图1B中，为了方便，将物镜光学系统27作为由2片透镜27a、27b构成的光学系统示出，但构成物镜光学系统27的透镜的数量不限于此。物镜光学系统27可以置换为1片透镜，也可以置换为3片以上的透镜(例如参照图4)。另外，物镜光学系统27不限于透镜系统，例如可以为反射镜系统，也可以为透镜与反射镜的组合所形成的光学系统，还可以为包括透镜及反射镜以外的光学部件的光学系统。

这种测定光学系统20中，测定光从光纤15b的端部16b出射后，测定光被准直透镜21准直。然后，测定光通过光束直径调节部22及聚光位置可变光学系统23，到达扫描部24。测定光由设于扫描部24的2个检流计镜反射后，进而由反射镜25及分光镜26反射。其结果是，测定光向物镜光学系统27入射。并且，测定光通过物镜光学系统27，被导向被检眼E。然后，测定光由被检眼E反射或散射，作为其结果，在测定光学系统20反向前进而向光纤15b的端部16b入射。向端部16b入射的测定光经由光纤15b向耦合器15入射。

OCT设备1具备驱动部(执行器)50。驱动部50使扫描部24(即，作为光扫描器的检流计镜241、242)相对于物镜光学系统27的、测定光学系统20的光轴L1方向上的相对位置位移。更详细而言，通过驱动部50的驱动，改变扫描部24相对于物镜光学系统27的后侧焦点位置(或其共轭位置)的相对位置。通过该相对位置的位移，测定光的旋转位置在光轴L1方向上被改变(详细情况如后所述)。在图1A、图1B的例子中，物镜光学系统27与扫描部24的间隔(光路长度)被驱动部50的驱动改变，由此，扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置位移。该相对位置与拍摄断层像的被检眼E的深度带对应而改变。

在图1A、图1B的例子中，驱动部50使各自的反射镜面夹着直角而配置的2片反射镜(反射镜25及分光镜)在规定的方向上一体地移动。本实施方式中，向物镜光学系统27的光轴方向移动。其结果是，改变从扫描部24至物镜光学系统27为止的光路长度(例如，图1A→图1B，图1B→图1A)。例如，在前眼部与眼底Er之间切换得到断层像的深度带的情况下，需要将从扫描部24至物镜光学系统27为止的光路长度比较大地改变。相对于此，在图1A的例子中，从扫描部24出射的测定光被2片反射镜折返，因此在使2片反射镜移动的情况下，能够使从扫描部24至物镜光学系统27为止的光路长度的变化(换言之，扫描部24相对于物镜光学系统27的光轴L1方向上的位移量)为2片反射镜25、26的移动量的2倍。因此，能够抑制为了使扫描部24相对于物镜光学系统27的位置在测定光学系统20的光轴L1方向上位移所需要的空间。

另外，如图1A、图1B所示，OCT设备1也可以具备用于检测扫描部24相对于物镜光学系统27的位置的传感器51。作为传感器51，能够利用各种各样的设备。例如也可以应用电位计等的线性位移传感器作为传感器51。

在此处，回到干涉光学系统2的说明。参照光学系统30生成参照光。参照光为与被眼底Er反射后的测定光的反射光合成的光。参照光学系统30可以为迈克尔逊型，也可以为马赫-曾德尔型。图1A、图1B所例示的参照光学系统30由反射光学系统(例如参照反射镜34)形成。图1A、图1B的例子中，来自耦合器15的光被反射光学系统反射，由此再次返回到耦合器15，作为其结果，被导向检测器40。并不一定仅限于此，参照光学系统30也可以由透过光学系统(例如光纤)形成。该情况下，参照光学系统30不使由耦合器15分割后的参照光向耦合器15返回，而是使其透过从而导向检测器40。

在图1A、图1B的例子中，参照光学系统30在从分割器15至参照反射镜34为止的光路上具有光纤15c、光纤15c的端部16c、准直透镜33、参照反射镜34。光纤15c为了改变参照光的偏光方向而通过驱动部32旋转移动。即，光纤15c及驱动部32用作用于调整偏光方向的偏光器31。此外，作为偏光器，不限于上述构成，只要为通过驱动在测定光的光路或参照光的光路上配置的偏光器，使测定光和参照光的偏光状态大致一致的构成即可。例如，能够应用使用1/2波长板或1/4波长板、或向光纤施加压力而使其变形从而改变偏光状态的构成等。

此外，偏光器31(偏光控制器)只要为为了使测定光与参照光的偏光方向一致，而调整测定光和参照光中的至少任一个的偏光方向的构成即可。例如，偏光器31也可以为配置于测定光的光路的构成。

另外，参照反射镜34通过参照反射镜驱动部34a而在光轴方向L2上位移。通过使参照反射镜34位移，来调整参照光的光路长度。

从光纤15c的端部16c出射的参照光利用准直透镜21成为平行光束，由参照反射镜34反射。然后，参照光被准直透镜21聚光而向光纤15c的端部16c入射。向端部16c入射的参照光经由光纤15c、光纤31(偏光器31)到达耦合器15。

图1A、图1B的例子中，由参照反射镜34反射的参照光和被导向被检眼E的测定光的返回光(即，由被检眼E反射或散射的测定光)被耦合器15合成，成为干涉光。该干涉光经由光纤16d从端部16d出射。其结果是，干涉光被导向检测器40。

检测器(此处为分光计部)40为了得到每个频率(波长)的干涉信号，而对参照光和测定光所形成的干涉光按每个频率(波长)分光，并接受分光后的干涉光。

图1A、图1B所示的检测器40也可以包括例如准直透镜、光栅反射镜(衍射光栅)、聚光透镜等光学系统(均未图示)。检测器40的本体(受光元件部分)例如也可以应用一维受光元件(线传感器)。检测器40相对于从光源11出射的光的波长具有灵敏度。如上所述，在从光源11出射红外域的光的情况下，可利用存在红外域的灵敏度的检测器40。

从端部16b出射的干涉光被准直透镜21形成为平行光，然后，被光栅反射镜42分光为频率成分。并且，被分光为频率成分的干涉光经由聚光透镜43在检测器40的受光面聚光。由此，得到检测器40上的干涉条纹的光谱信息(光谱信号)。光谱信息向控制部70输入，在控制部70中，使用傅里叶变换进行解析。并且，作为解析结果，形成眼的断层像(参照图3)。另外，作为解析结果，能够计测被检眼E的深度方向上的信息。

在此处，控制部70通过扫描部24沿被检眼E的横断方向使测定光扫描，由此能够取得断层像。例如，通过沿X方向或Y方向扫描，能够取得被检眼眼底Er的XZ面或YZ面上的断层像(此外，本第一实施方式中，像这样对于眼底Er使测定光进行一维扫描，而得到断层像的方式设为B扫描)。此外，取得的断层像存储于与控制部70连接的存储部72。而且，控制扫描部24的驱动，使测定光在XY方向上二维地进行扫描，由此能够基于来自检测器40的输出信号形成被检者眼眼底Er的XY方向上的二维动画图像及被检眼眼底Er的三维图像。

接着，对固视标记投影单元90进行说明。固视标记投影单元90具有用于引导眼E的视线方向的光学系统。固视标记投影单元90具有向眼E呈现的固视标记(固视光源91)。固视标记投影单元90也可以为向多个方向引导眼E的构成。在此处，分光镜26具有使作为干涉光学系统2的测定光使用的波长成分的光透过，并使固视标记投影单元90所使用的波长成分的光透过的特性。因此，从固视标记投影单元90出射的固视标记光束经由物镜光学系统27向被检眼E的眼底Er照射。由此，被检者能够进行固视。

＜控制系统＞

接着，说明OCT设备1的控制系统。控制部(控制器)70控制OCT设备1的各部分。例如，控制部70也可以包括CPU(处理器)及存储器等而构成。另外，本第一实施方式中，控制部70例如对来自检测器40的输出信号(即干涉信号)进行处理，由此取得被检眼E的深度信息。作为深度信息，也可以为断层像等图像信息、表示被检眼E的各部分的尺寸的尺寸信息、表示测定光的照射部位上的移动量的信息、包含偏光特性的信息的(复数的)解析信号等中的至少任一个。本第一实施方式中，控制部70兼用作基于干涉信号而形成被检眼E的断层像的图像处理器。另外，本第一实施方式的控制部70除了断层像的形成以外，还进行各种图像处理。图像处理也可以通过设于控制部70的专用的电子电路(例如未图示的图像处理IC)进行，也可以通过处理器(例如CPU)进行。

控制部70上连接有存储部72、操作部(用户界面)74、及监视器75。存储部72可以包括能够改写的非易失性的存储介质，例如可以为闪存存储器及硬盘等中的任一种。作为拍摄及测定的结果得到的图像及测定数据保存在存储部72。规定OCT设备1的拍摄次序的程序及固定数据可以存储于该存储部72，也可以存储于控制部70内的ROM。另外，除了光源11、检测器40、及各种驱动部22c、23a、241a、242b、32、34a、50，还连接有传感器51等。

＜拍摄深度带的切换动作＞

接着，参照图4A、图4B，对上述的构成的OCT设备1中的、拍摄深度带的切换动作进行说明。本第一实施方式中，为了切换拍摄深度带，控制部70控制驱动部50，使被检眼E中的测定光的旋转位置在光轴L1方向上位移。旋转位置对应于扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置位移。即，本第一实施方式中，控制部70通过驱动部50改变扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置，作为其结果，在光轴L1方向上调整被检眼E中的测定光的旋转位置。此时，控制部70至少在第一位置与第二位置之间改变测定光的旋转位置。第一位置对应于被检眼E的第一深度带，第二位置对应于与第一深度带不同的被检眼E的第二深度带。另外，第二位置在测定光学系统的光轴方向(被检眼E的深度方向)上与第一位置不同。

另外，第一位置和第二位置也可以为在从扫描部24至物镜光学系统27中的被检者侧端部为止的区间上形成的瞳的傅里叶变换像的数量(或瞳像的数量)互不相同的旋转位置。图4A、图4B中，物镜光学系统27中的被检者侧端部为在物镜光学系统27中最靠近被检眼E配置的透镜面。此外，假设物镜光学系统27为反射镜系统的情况下，最靠近被检眼E配置的反射镜面为被检者侧端部。也可以通过在第一位置与第二位置之间切换旋转位置，切换上述区间的瞳的傅里叶变换像的数量(或瞳像的数量)的偶奇(详细情况如后所述)。此外，此时，可以切换瞳的傅里叶变换像的数量、及瞳像的数量中的两方的偶奇，也可以仅切换一方。通过在第一位置和第二位置切换上述区间的瞳的傅里叶变换像的数量(或瞳像的数量)的偶奇，例如在第一位置和第二位置的一方，容易良好地拍摄前眼部的断层像，在另一方容易良好地拍摄眼底Er的断层像。此外，瞳的傅里叶变换像形成于从瞳出射的平行光束聚光的位置(例如图4B中的Fr的位置)。

在此处，图4A表示前眼部(本第一实施方式中的第一深度带)的拍摄时的测定光学系统20的各部分的位置关系。图4B表示眼底Er(本第一实施方式中的第二深度带)的拍摄时的测定光学系统20的各部分的位置关系。此外，图4A、图4B中，省略反射镜25及分光镜26的图示。此外，图4A、图4B中，Ff表示物镜光学系统27的前侧焦点，Fr表示物镜光学系统27的后侧焦点。另外，Ic表示关于物镜光学系统27与被检眼E的瞳孔共轭的位置。

图4A、图4B的例子中，控制部70在前眼部的拍摄时和眼底Er的拍摄时控制驱动部50，由此在光轴L1方向上切换测定光的旋转位置。此时，控制部70也可以与物镜光学系统27与扫描部24的相对位置的改变连动，调整参照光学系统30中的光路长度。另外，此时，控制部70也可以控制聚光位置可变光学系统23，切换测定光的聚光位置。而且，控制部70也可以控制光束直径调节部22，调节NA。这种扫描部24的位置改变(换言之为拍摄深度带的改变)例如也可以基于从操作部74向控制部70输出的切换信号执行。另外，在一系列的拍摄次序中，控制部70也可以自动地进行切换。以下说明详细情况。

＜前眼部拍摄＞

如图4A所示，在前眼部拍摄时，控制部70使扫描部24相对于眼底拍摄时(参照图4B)更接近物镜光学系统27。结果，将测定光的旋转位置设定为瞳的傅里叶变换像的数量为偶数的位置。图4A的例子中，瞳的傅里叶变换像的数量为“0”。该情况下，控制部70也可以将扫描部24配置于物镜光学系统27的后侧焦点位置Fr。例如，控制部70基于传感器51的检测信号，将扫描部24向后侧焦点位置Fr定位。在定位时，构成扫描部24的光扫描器(第一实施方式中为检流计镜241、242)优选在允许的测定精度(或断层像的画质)的范围内配置于后侧焦点位置Fr的附近。例如，控制部70可以使2个光扫描器(本第一实施方式中为检流计镜241、242)的中间点Cp(参照图2)位于后侧焦点位置Fr，也可以使任一方的光扫描器的反射面位于后侧焦点位置Fr。当然，也可以有除此以外的配置。

扫描部24配置于物镜光学系统27的后侧焦点位置Fr的结果是，在物镜光学系统27的物体侧(被检眼侧)，测定光的主光线成为远心的(或大致远心的)。即，本第一实施方式中，由扫描部24和物镜光学系统27构成的光学系统(为了方便，称为扫描光学系统)形成为物体侧远心光学系统。该情况下，可认为被检眼E中的测定光的旋转位置(第一实施方式中的第一位置)是光轴L1上的无限远点。另外，该情况下，从物镜光学系统27的前表面(即，最靠被检眼侧配置的透镜面)向被检眼E的瞳孔面照射的测定光的主光线与由扫描部24反射的测定光的方向无关而与光轴L1平行(大致平行)。由此，能够使被检眼E的位置的变化引起的拍摄图像的倍率变化减少。结果，能由拍摄的前眼部断层像高精度地进行距离计测。另外，通过在前眼拍摄时照射远心的测定光，难以产生被检眼E的动作距离方向的位置偏移引起的断层像的歪曲。由此，检查者能够观察歪曲少的断层像，容易进行基于断层像的诊断。而且，通过在前眼部拍摄时照射远心的测定光，来自被测定部的返回光(反射光或后方散射光)的回收效率得以提高，因此能够减少图像的周边部变暗的情况。

此外，图4A的例子中，为了照射远心的测定光，例示了通过驱动部50的控制，将扫描部24配置于物镜光学系统27的后侧焦点位置Fr的情况，但也可以以在与后侧焦点位置Fr关于透镜系统等共轭的位置配置扫描部24的方式，由驱动部50进行控制。此外，本公开中，“共轭”不一定限于光学上完全的共轭关系。本公开中，“共轭”的关系除了完全的共轭关系以外，也可以是在允许的测定精度(或断层像的画质)的范围内从完全的共轭关系偏离的位置关系。

另外，本第一实施方式中，控制部70在前眼部拍摄时，将参照光学系统30的光路长度对应于从前眼部至眼底Er为止的测定光的光路长度相对于眼底拍摄时较短地设定。更详细而言，以来自前眼部的测定光的返回光的光路长度和参照光学系统30的光路长度相同的方式，调整参照光学系统30的光路长度。由此，利用检测器40良好地得到测定光的返回光和参照光良好地干涉的干涉信号。通过基于该干涉信号由控制部70形成图像，而得到前眼部图像的断层像W2(参照图3)。

另外，如图4A所示，控制部70在前眼部拍摄时控制聚光位置可变光学系统23，在前眼部设定测定光的聚光位置。该情况下，控制部70也可以以从透镜23a向扫描部24入射的测定光稍微扩散的方式控制聚光位置可变光学系统23。作为具体例，控制部70也可以将可变焦点透镜(透镜23a)的光焦度设定为负的值。由此，优选将聚光位置设定于角膜前表面与水晶体后表面的中间(更优选的是水晶体前表面与水晶体后表面的中间)。该情况下，与将聚光位置设定于角膜面上的情况相比，在断层像中具有比较高的分辨率的区域更大。

另外，如图4A所示，控制部70在前眼部拍摄时控制光束直径调节部22，使干涉光学系统2与扫描部24(即光扫描器)之间的光路上的测定光的光束直径相对于眼底拍摄时较细。由此，向被检眼E入射的光束的NA变小。即，关于物镜光学系统27的焦点深度相比眼底拍摄时增大。结果，在被检眼E的深度方向上，良好地得到来自检测器40的干涉信号的范围扩大。因此，通过光干涉断层计1，容易良好地拍摄前眼部的大范围(例如从角膜前表面至水晶体后表面为止)。

＜眼底拍摄＞

另一方面，如图4B所示，在眼底拍摄时，控制部70相对于前眼部眼底拍摄时(参照图4A)使扫描部24从物镜光学系统27远离。其结果是，将测定光的旋转位置设定于瞳的傅里叶变换像的数量为奇数的位置。图4B的例子中，瞳的傅里叶变换像的数量为“1”。该情况下，控制部70也可以将扫描部24配置于关于物镜光学系统27与被检眼E的瞳孔共轭的位置Ic。例如，控制部70基于传感器51的检测信号，将扫描部24向瞳孔共轭位置Ic定位。例如，也可以以构成扫描部24的2个光扫描器(本第一实施方式中为检流计镜)的中间点Cp(参照图2)关于物镜光学系统27成为瞳孔共轭的方式配置扫描部24。当然，也可以存在除此以外的配置。通过将扫描部24配置于瞳孔共轭位置Ic，伴随扫描部24的驱动，从物镜光学系统27的前表面(最靠被检眼侧的透镜面)出射的测定光以瞳孔位置为中心(旋转点)旋转。即，该情况下，被检眼E中的测定光的旋转位置(第一实施方式中的第二位置)被设定于瞳孔位置。由此，抑制测定光的掩暗，并能够使测定光在眼底Er扫描。其结果是，能够在眼底Er的大范围上拍摄眼底Er的断层像。本实施方式中，对在眼底拍摄时将扫描部24配置于瞳孔共轭位置Ic的情况进行了说明，但只要为与前眼部的规定部位大致共轭的位置即可，例如也可以为角膜共轭。

另外，本第一实施方式中，控制部70在眼底拍摄时将参照光学系统30的光路长度对应于从前眼部至眼底Er为止的测定光的光路长度相对于前眼部拍摄时较长地设定。更详细而言，以来自眼底Er的测定光的返回光的光路长度与参照光学系统30的光路长度相同的方式，调整参照光学系统30的光路长度。由此，能从检测器40良好地得到来自眼底Er的测定光的返回光和参照光良好地干涉的干涉信号。通过控制部70基于该干涉信号而形成图像，而得到眼底图像的断层像W1(参照图3)。

如图4B所示，控制部70在眼底拍摄时控制聚光位置可变光学系统23，在眼底Er设定测定光的聚光位置。该情况下，控制部70也可以以测定光在物镜光学系统27中的后侧焦点位置Fr上暂时聚光的方式，控制聚光位置可变光学系统23。例如，控制部70将可变焦点透镜(透镜23a)的光焦度调整为正的既定值。结果，测定光被物镜光学系统27准直，因此如果是没有折射误差的被检眼E，则测定光在眼底上聚光。在被检眼E存在折射误差的情况下，也可以相应地由控制部70将聚光位置偏置。作为结果，容易良好地取得眼底Er的断层像。

另外，如图4B所示，控制部70在眼底拍摄时使干涉光学系统2与扫描部24(即光扫描器)之间的光路上的测定光的光束直径相对于前眼部拍摄时较粗。结果，向物镜光学系统27入射的测定光的NA变大，因此容易得到高分辨率的眼底断层像。此外，焦点深度相比前眼拍摄时变窄。

这样，图4A、图4B的例子中，控制部70在被检眼E中的测定光的旋转位置向第一位置位移的情况下，基于来自检测器40的输出信号生成前眼部的断层像W2。另外，在测定光的旋转位置向第二位置位移的情况下，基于来自检测器40的输出信号，控制部70生成眼底Er的断层像W1。

在生成了前眼部的断层像W2和眼底Er的断层像W1的情况下，控制部70也可以基于表示与各断层像对应的深度带彼此的距离(即，前眼部(第一深度带)与眼底Er(第二深度带)的距离)的距离信息将各断层像W1、W2合成，生成合成图像W3(参照图3)。距离信息可以是例如人眼的平均值、标准值等固定值，也可以是通过眼轴长度测定装置等眼尺寸测定装置得到的被检眼E的实测值。另外，也可以基于来自OCT设备1中的检测器40的输出信号取得距离信息，控制部70使用该距离信息生成合成图像W3。另外，图3中，合成图像W3作为包括各个断层像W1、W2的整体的图像示出，但不一定限于此，也可以为将各个断层像W1、W2的一部分彼此合成后的图像。另外，合成图像W3也可以为各断层像W1、W2重叠于模拟眼球的眼球模型图像上的图像。

另外，本第一实施方式中，通过将扫描部24相对于物镜系统27的相对位置设定为瞳共轭位置Ic，而能够拍摄眼底Er的断层像W1。由此，若将物镜系统27的位置固定而将扫描部24设定于物镜光学系统27的后侧焦点Fr，则由扫描部24和物镜光学系统27构成的扫描光学系统成为物体侧远心光学系统，而能够拍摄前眼部的断层像W2。这样，OCT设备1不改变工作距离(例如从被检眼E的角膜Ec至物镜光学系统27中的被检者侧端部为止的距离)，就能够得到前眼部的断层像W2和眼底Er的断层像W1。

另外，本第一实施方式中，控制部70控制聚光位置可变光学系统23，由此与扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置的改变连动而在光轴L1方向上改变测定光的聚光位置。更详细而言，控制部70以将测定光的聚光位置设定于与扫描部24的位置对应的拍摄深度带的方式，控制聚光位置可变光学系统23。即，控制部70在旋转位置向与前眼部对应的位置位移的情况下，以测定光在前眼部聚光的方式，而在旋转位置向与眼底Er对应的位置位移的情况下，以测定光在眼底Er聚光的方式，与扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置连动而控制聚光位置可变光学系统23。其结果是，能够良好地得到各深度带的断层像W1、W2。

另外，本第一实施方式的OCT设备1中，与扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置的改变连动地，控制部70控制光束直径调节部22的驱动部50(调节器)。由此，干涉光学系统2与扫描部24(即光扫描器)之间的光路上的测定光的光束直径对应于扫描部27的位置而被调整。其结果是，如前所述，本第一实施方式中，设定对应于拍摄深度带的焦点深度。结果，对每个断层像W1、W2，在深度方向上适当地设定得到良好的分辨率的区域。

＜第二实施方式＞

接着，参照图5，说明本公开中的第二实施方式。此处，以与第一实施方式的区别点为中心说明。另外，第二实施方式中，对于与第一实施方式同样的构成标注相同的标号而省略说明。

首先，对第二实施方式的OCT设备1的光学系统进行说明。第二实施方式的OCT设备1中，参照光学系统30的光学构成与第一实施方式不同。第二实施方式中的参照光学系统30具有第一参照光路130a、和光路长度与第一参照光路130a不同的第二参照光路130b。例如，如图5所示，通过光分支部件131(例如半反射镜等)将参照光学系统30的光路分支为第一参照光路130a和第二参照光路130b这两个。另外，在第一参照光路130a和第二参照光路130b的各自上分别配置有参照反射镜134、135。另外，如图5所示，参照光学系统30也可以具备为了分别独立地调整第一参照光路130a和第二参照光路130b的光路长度，而沿光轴方向使各参照反射镜134，135的位置位移的驱动部134a、135a。

参照光学系统30将经过第一参照光路130a的第一参照光、和经过第二参照光路的第二参照光同时导向检测器40。图5的例子中，第一参照光是由耦合器15分割后经过第一参照光路130a的参照光，第二参照光是由耦合器15分割后经过第二参照光路130b的参照光。在生成第一参照光及第二参照光时，控制部70控制驱动部134a，将一方的参照反射镜134配置于与前眼部对应的光路长度的位置。更详细而言，在第一参照光路130a的光路长度与来自前眼部的测定光的返回光的光路长度相等的位置配置参照反射镜134。其结果是，来自前眼部的返回光与由第一参照光路130a生成的第一参照光的干涉光由检测器40受光。另外，控制部70控制驱动部135a，将另一方的参照反射镜135配置于与眼底Er对应的光路长度的位置。更详细而言，在第二参照光路130b的光路长度与来自眼底Er的测定光的返回光的光路长度相等的位置，配置参照反射镜135。其结果是，来自眼底Er的返回光与由第二参照光路130b生成的第二参照光的干涉光由检测器40受光。同时生成第一参照光和第二参照光时的、第一参照光路130a与第二参照光路130b的光路长度差为对应于眼底Er与前眼部的间隔的长度。本实施方式中，表示第一参照光路130a与第二参照光路130b的光路长度差的距离信息被控制部70存储于存储部72。

接着，对本第二实施方式中的OCT设备1的动作进行说明。

第二实施方式的OCT设备1中，也可以对将扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置维持成一定的状态下的来自检测器40的输出信号进行处理，由此控制部7同时生成2个深度带的断层像。另外，也可以通过对此时的输出信号进行处理，而控制部70取得跨越2个以上的深度带的与被检眼E的尺寸有关的信息(称为尺寸信息)。该情况下，能够取得作为尺寸信息的一例的眼轴长度信息。例如，控制部70也可以通过控制驱动部50，将扫描部24配置于物镜光学系统27的后侧焦点位置Fr。控制部70对在该状态下从检测器40输出的干涉信号进行傅里叶变换。图6示出傅里叶变换后的干涉信号的强度分布。

图6所示的强度分布中，AC是来自角膜前表面的返回光所产生的干涉信号。PC是来自眼底Er的返回光所产生的干涉信号。控制部70根据干涉信号AC及干涉信号PR分别表示的位置信息的差分、及第一参照光路130a与第二参照光路130b的光路长度差的值，求出被检眼E的眼轴长度值。例如，控制部70求出从干涉信号AC至干涉信号PR为止的深度方向的尺寸L1。并且，将预先存储在存储部72的第一参照光路130a与第二参照光路130b的光路长度差L2加到尺寸L1。由此，能够得到被检眼E的眼轴长度(眼轴长度＝L1+L2)。

另外，得到来自角膜前表面和眼底Er以外的位置的反射所产生的干涉信号(波峰)。也可以由控制部70对此进行处理，由此求出深度方向上的尺寸信息。

＜第三实施方式＞

接着，说明本公开中的第三实施方式。此处，以与第一实施方式、及第二实施方式的区别点为中心进行说明。另外，第三实施方式中，对与第一实施方式同样的构成，标注同一标号，省略说明。第三实施方式的OCT设备1具有SS-OCT光学系统。即，干涉光学系统2被置换为具备使出射波长时间性地扫描的波长扫描光源的SS-OCT光学系统。另外，光源11被置换为波长扫描式的光源。而且，检测器40也可以被置换为由受光元件构成的平衡检测器。受光元件中例如也可以使用由一个受光部构成的点传感器。作为受光元件，也可以使用雪崩式光电二极管等。该情况下，控制部70对应于波长扫描光源所产生的出射波长的变化而对测定光和参照光的干涉信号进行采样，基于通过采样得到的各波长下的干涉信号得到被检物的断层像。关于更详细的SS-OCT中的干涉信号的处理手法、及深度信息的取得手法，例如可参照日本特开2015-068775号公报等。

SS-OCT的情况下，与SD-OCT相比，深部的灵敏度降低较少。因此，作为采样的结果，容易取得来自宽幅的深度带(例如从前眼部至眼底Er为止)的返回光所产生的干涉信号。因此，即使不改变参照光学系统30的光路长度，另外，即使不通过参照光学系统30生成相位不同的2种以上的参照光(例如第一参照光和第二参照光)，也能够得到来自宽幅的深度带的返回光所产生的干涉信号。此外，该情况下，参照光学系统30的光路长度优选设为例如来自前眼部的返回光的光路长度与来自眼底Er的返回光的光路长度的中间长度。该情况下，第三实施方式的OCT设备1也可以与第二实施方式同样，基于在使扫描部24为一定的状态下采样的干涉信号，取得被检眼E的尺寸信息。但是，第三实施方式中，参照光的光路长度是一定的，因此，关于眼底Er与前眼部之间的尺寸信息(典型而言为眼轴长度)，能够得到从来自角膜前表面的返回光所产生的干涉信号至来自眼底Er的返回光所产生的干涉信号为止的深度方向的尺寸作为尺寸信息。

此外，本第二实施方式及第三实施方式的OCT设备1也可以与第一实施方式同样，使测定光的旋转位置在光轴L1方向上位移，在每个旋转位置得到不同的深度带的断层像。另外，此时，也可以如第一实施方式中说明的那样，与扫描部24的位置切换连动而调整干涉光学系统2与扫描部24(即光扫描器)之间的光路上的测定光的光束直径及测定光的聚光位置的至少一方。

＜变形例＞

以上，基于实施方式进行了说明，但本公开不限于上述实施方式，也包括将上述实施方式进行了各种变形的实施例。

例如，上述各实施方式中，作为切换扫描部24相对于物镜光学系统27的在光轴L1方向上的相对位置的构成的具体例，示出了改变物镜光学系统27和扫描部24的光路长度的构成。但是，也不一定仅限于此。

例如，如图7所示，也可以通过基于控制部70的驱动部50的驱动控制，至少使扫描部24(即光扫描器)在光轴L1方向上位移，由此使扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置位移。图7的例子中，驱动部50使从光纤15b的端部16b至扫描部24为止沿图7的纸面的左右方向移动。此外，使扫描部24移动而使相对位置位移的构成不限于此，例如也可以具备使扫描部24及反射镜25沿来自透镜23a的测定光的光轴方向(例如图1A的纸面上下方向)一体地移动的机构作为驱动部50。

另外，改变扫描部24相对于物镜光学系统27的光轴方向上的相对位置的构成也可以是切换物镜光学系统27与光扫描器24之间的光路的构成。例如，图8A、图8B的例子中，在透镜23a的出射侧设有通过电动机224a(驱动部的一部分)的驱动而绕光轴旋转的反射镜224。该反射镜224相对于测定光的入射光轴倾斜配置。另外，设有用于在反射镜224的反射方向配置扫描部24的未图示的执行器(驱动部的一部分)，与反射镜224的转动连动而扫描部24整体移动。通过反射镜224和扫描部24连动地动作，物镜光学系统27与扫描部24之间的光路被切换成包括分光镜26、透镜227的第一光路(参照图8A)、及包括半反射镜27的第二光路(参照图8B)。例如，也可以通过这样的光路的切换，改变扫描部24相对于物镜光学系统27的光轴方向上的相对位置。此外，图8A、图8B的例子中，设有与物镜光学系统27的相对位置被固定的透镜227，经由包括透镜227的第一光路照射测定光的情况下，被检眼E中的测定光的旋转位置设定于瞳孔共轭位置。另一方面，经由不包括透镜227的第二光路而照射测定光的情况下，被检眼E中的测定光的旋转位置被设定于无限远点。仅包含于第一光路和第二光路的一方的光学部件不限于透镜，也可以为扩束器等，还可以是除此以外的部件。切换物镜光学系统27与光扫描器24之间的光路的构成不限于图8A、图8B所示的构成。例如，也可以为通过切换扫描部24中的测定光的偏振角，而向不同的光路引导测定光的构成。

另外，例如，也可以为如下构成：在物镜光学系统27与扫描部24之间的光路上，具有能够通过插脱机构而插脱的光学部件(例如透镜及反射镜中的某一个等)，控制部70对插脱机构进行驱动控制，切换光学部件插入到光路的状态和光学部件未插入光路的状态，由此切换扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置。例如，图9A、图9B的例子中，扫描部24与物镜光学系统27之间的相对位置通过反射镜302的插脱而切换。此外，图9A、图9B中，省略了反射镜302的插脱机构的图示。例如，反射镜302也可以通过在相对于图9A、图9B的纸面垂直的方向上移动，而进行相对于测定光的光路的插脱。如图9B所示，在反射镜302从测定光的光路上退避的状态下，来自扫描部24的测定光经由反射镜303、304被导向物镜光学系统27。另一方面，如图9A所示，在反射镜302被插入测定光的光路上的状态下，相对于图9B，省略反射镜303、304上的反射，来自扫描部24的测定光被导向物镜光学系统27。即，通过反射镜302的插脱，切换扫描部24与物镜光学系统27之间的测定光的光路长度。

另外，上述各实施方式中，对设第一深度带为前眼部，第二深度带为眼底Er，并得到这些各深度带的断层像的情况进行了说明。但是，第一深度带及第二深度带只要是在被检眼E的深度方向上互不相同的区域即可，不一定仅限于此。例如，也可以是第一深度带为前眼部的前部，而第二深度带为前眼部的后部。拍摄前眼部的前部的断层像的情况下，控制部70例如也可以使扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置向物镜光学系统27的后侧焦点位置Fr位移(此时，将相比扫描部24靠被检眼侧形成的测定光的旋转位置认为是无限远点)。该情况下，控制部70也可以基于来自检测器40的输出信号生成前眼部的前部的断层像。另外，在拍摄前眼部的后部的断层像的情况下，控制部70也可以将扫描部24相对于物镜光学系统27的相对位置形成于从物镜光学系统27的后侧焦点位置Fr(及后侧焦点位置Fr的共轭位置)离开的位置。由此，例如，也可以使旋转位置在被检眼内位移。该情况下，控制部70也可以基于来自光检测器40的输出信号生成前眼部的后部的断层像。

另外，上述各实施方式中，对通过相对于物镜光学系统27在2个位置切换扫描部24，而在各个位置得到2个深度带(前眼部和眼底Er)的断层像的情况进行了说明。但是，OCT设备1也可以为通过在3个以上的位置切换扫描部24的位置，而基于各位置上的干涉信号得到3个以上的深度带的断层像的构成。另外，可以通过聚光位置可变光学系统23、或光束直径调节部22、或这两方，对扫描部24的每个位置，调整测定光的聚光位置、或从OCT光学系统2至扫描部24为止之间的光束直径、或这两方。

另外，控制部70也可以对应于测定光的扫描位置而改变由聚光位置可变光学系统23设定的聚光位置。例如，控制部70也可以对应于前眼部的形状而改变透镜23a的光焦度。例如，前眼部为向物镜侧凸起的曲面，因此在扫描角膜的周边部的情况下，也可以与扫描角膜的中心部的情况相比，使测定光向从物镜离开的位置聚光。例如，控制部70也可以通过减小光焦度可变单元的光焦度而使测定光在从物镜离开的位置聚光。这样，对应于测定光的扫描位置，调整测定光的聚光位置，由此测定光能够在前眼部取得精度更好的断层像。

另外，本公开的实施方式也可以为以下的第一及第二眼科摄像装置。

第一眼科摄像装置为用于拍摄被检眼的断层像的眼科摄像装置，具备：OCT光学系统，通过光检测器检测向被检眼照射的测定光与参照光的干涉；测定光学系统，包括为了使所述测定光扫描而使来自所述OCT光学系统的所述测定光偏向的光扫描器、及配置于所述光扫描器与所述被检眼之间，并将由所述光扫描器偏向后的测定光导向被检眼的物镜光学系统；驱动部，为了至少在第一深度带与第二深度带之间改变被拍摄所述断层像的被检眼的深度带，驱动所述测定光学系统所包含的光学部件；光束直径调节部，用于在所述OCT光学系统与所述光扫描器之间的光路中改变所述光路上的测定光的光束直径；控制单元，通过控制所述光束直径调节部和所述驱动部，对应于取得所述内部信息的深度带来调整所述光束直径。

关于第二眼科摄像装置，在第二眼科摄像装置中，在所述第一深度带为前眼部，所述第二深度带为眼底的情况下，所述控制单元在将所述光扫描器配置于所述第一位置的情况下，将所述光束直径调整为第一光束直径，在将所述光扫描器配置于所述第二位置的情况下，将所述光束直径调整为大于所述第一光束直径的第二光束直径。

Claims (15)

1.一种眼科摄像装置，用于拍摄被检眼的断层像，具备：

OCT光学系统，通过光检测器检测照射到被检眼的测定光与参照光的干涉；及

测定光学系统，包括为了使所述测定光扫描而使来自所述OCT光学系统的所述测定光偏向的光扫描器、及配置于所述光扫描器与所述被检眼之间并将由所述光扫描器偏向后的测定光导向被检眼的物镜光学系统，

所述眼科摄像装置的特征在于，具备：

驱动机构，使所述光扫描器相对于所述物镜光学系统的在光轴方向上的相对位置位移；及

控制器，控制所述驱动机构，在所述光轴方向上调整所述测定光的旋转位置，

所述控制器在与所述被检眼的第一深度带对应的第一位置、和与不同于所述第一深度带的所述被检眼的第二深度带对应的第二位置之间改变所述旋转位置。

2.根据权利要求1所述的眼科摄像装置，其中，

所述第一深度带为前眼部，所述第二深度带为眼底，

所述眼科摄像装置具备图像处理器，

所述图像处理器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成前眼部的断层像，

所述图像处理器在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成眼底的断层像。

3.根据权利要求1所述的眼科摄像装置，其中，

所述第一深度带为前眼部的前部，所述第二深度带为前眼部的后部，

所述眼科摄像装置具备图像处理器，

所述图像处理器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成前眼部的前部的断层像，

所述图像处理器在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，基于来自所述光检测器的输出信号而生成前眼部的后部的断层像。

4.根据权利要求2或3所述的眼科摄像装置，其中，

所述图像处理器在生成了所述第一深度带的断层像和所述第二深度带的断层像的情况下，基于表示所述第一深度带与所述第二深度带的距离的距离信息，将所述第一深度带的断层像和所述第二深度带的断层像合成，而生成合成图像。

5.根据权利要求2所述的眼科摄像装置，其中，

所述控制器在所述第一位置与所述第二位置之间切换所述旋转位置的情况下，以切换在从所述光扫描器至所述物镜光学系统中的被检者侧端部为止的区间上形成的所述被检眼的瞳像、或瞳的傅里叶变换像的数量的偶奇的方式，控制所述驱动机构而使所述光扫描器的相对位置位移。

6.根据权利要求2所述的眼科摄像装置，其中，

所述控制器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，将所述光扫描器的相对位置配置于所述物镜光学系统中的后侧焦点位置、或所述后侧焦点位置的共轭位置，

所述控制器在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，将所述光扫描器的相对位置配置于关于所述物镜光学系统与所述被检眼成为瞳共轭的位置。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述测定光学系统具有将所述测定光的聚光位置向所述光轴方向改变的聚光位置改变单元，

所述控制器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下以所述测定光在所述第一深度带聚光的方式，而在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，以所述测定光在所述第二深度带聚光的方式，

与所述光扫描器的相对位置连动地控制所述聚光位置改变单元。

8.根据权利要求7所述的眼科摄像装置，其中，

所述聚光位置改变单元至少包括1个透镜，通过改变所述透镜的光焦度、及所述物镜光学系统与所述透镜的位置关系中的至少任一个，而在所述光轴方向上改变所述测定光的聚光位置。

9.根据权利要求1～8中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述测定光学系统具有光束直径调节部，所述光束直径调节部配置于所述OCT光学系统与所述光扫描器之间的光路中，用于改变所述光路上的测定光的光束直径，

所述控制部通过所述光束直径调节部的驱动控制，对应于所述光扫描器的位置而调整所述光束直径。

10.根据权利要求9所述的眼科摄像装置，其中，

在所述第一深度带为前眼部，所述第二深度带为眼底的情况下，

所述控制器在所述旋转位置向第一位置位移的情况下，将所述光束直径调整为第一光束直径，在所述旋转位置向第二位置位移的情况下，将所述光束直径调整为大于所述第一光束直径的第二光束直径。

11.根据权利要求1～10中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述驱动机构通过改变所述物镜光学系统与所述光扫描器之间的光路长度，而使所述光扫描器的相对位置位移。

12.根据权利要求1～10中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

具有与所述物镜光学系统的相对位置被固定的光学部件，

所述驱动机构能够将所述物镜光学系统与所述光扫描器之间的光路切换为包括所述光学部件的第一光路和不包括所述光学部件的第二光路，

通过将所述光路设定于第一光路，而在所述第一位置及所述第二位置的一方设定所述旋转位置，通过将所述光路设定于第二光路，而在所述第一位置及所述第二位置的另一方设定所述旋转位置。

13.根据权利要求1～10中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

所述驱动机构通过使所述光扫描器在所述光轴方向上移动，而使所述光扫描器的相对位置位移。

14.根据权利要求1～13中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

具有参照光学系统，所述参照光学系统用于将所述参照光导向所述检测器，且具有调整参照光的光路长度的光路长度调整部，

所述控制器通过控制所述光路长度调整部，而对应于所述光扫描器的相对位置来调整参照光的光路长度。

15.根据权利要求1～13中任一项所述的眼科摄像装置，其中，

具有参照光学系统，所述参照光学系统引导所述参照光，且具有使参照光向第一参照光路、和光路长度不同于第一参照光路的第二参照光路分支的分支部，而且，将经过所述第一参照光路的参照光即第一参照光、和经过所述第二参照光路的参照光即第二参照光同时导向所述检测器。