JP7104516B2 - 断層画像撮影装置 - Google Patents
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Description
前記被検眼に照射された測定光の反射光と、前記測定光に対応する参照光と、の干渉状態を検出することによって前記被検眼の前眼部断層画像を撮影する干渉光学系を有し、前記被検眼の前眼部断層画像を2以上の異なる方向から撮影する撮影手段と、
前記撮影手段によって2以上の異なる方向から撮影された複数の前眼部断層画像であって、前記撮影手段によって正面方向から撮影された第1の部位に関する前眼部断面画像と前記撮影手段によって斜めから撮影された第2の部位(前記第1の部位とは異なる)に関する前眼部断面画像とを含む前記複数の前眼部断面画像と、前記撮影手段によって撮影された眼底断層画像とを、各画像の位置関係に基づいて合成することによって1方向からの撮影が困難な複数の部位の位置関係を取得する演算手段と、を備えることを特徴とする。
以下、本実施例の断層画像撮影装置について図面を用いて説明する。図1に示す断層画像撮影装置1は、例えば、測定光学系100と、第2固視光学系10を主に備える。測定光学系100は、例えば、被検眼Eを測定するための光学系を備える。第2固視光学系10は、例えば、被検眼Eを固視させる。
測定光学系100は、例えば、OCT系110、走査系120、導光系130、観察系140、第1固視光学系150等を備える。OCT系110は、例えば、被検眼Eに測定光を照射し、その反射光と参照光との干渉信号を検出する。OCT系100は、いわゆる光断層干渉計(OCT:Optical coherence tomography)の光学系である。OCT系110は、例えば、光源111、カップラー(光分割器)112、参照系113、検出系115等を備える。光源111は、例えば、低コヒーレント光を出射する。カップラー112は、光源111から出射された光を測定光と参照光に分割する。参照系113は、例えば、参照ミラー等を備える。例えば、参照系113は、カップラー112によって分割された参照光を反射し、再びカップラー112へと入射させる。参照系113は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。検出系115は、例えば、測定光と参照光との干渉状態を検出する。例えば、検出系115によって検出された干渉信号に対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル(Aスキャン信号)が取得される。
走査系120は、OCT系110からの測定光を走査させる。走査系120は、例えば、ガルバノミラー121、ガルバノミラー122、駆動部123、駆動部124等を備える。例えば、ガルバノミラー121は、駆動部123の駆動によって測定光をX方向に走査する。例えば、ガルバノミラー122は、駆動部124の駆動によって測定光をY方向に走査する。したがって、例えば、走査系120は、OCT系100からの測定光を2次元的に走査する。
導光系130は、走査系120によって走査された測定光を被検眼Eに向けて導光する。導光系130は、例えば、対物レンズ131等を備える。
観察系140は、例えば、測定光軸L1の方向から被検眼Eを観察する。例えば、観察系140は、測定光学系100の測定光軸L1に配置され、測定光軸L1の方向から被検眼Eを撮影する。観察系140は、例えば、受光素子等を備えてもよい。観察系140は、例えば、走査型レーザ検眼鏡(SLO)の装置構成であってもよいし(例えば、特開2015-66242号公報参照)、いわゆる眼底カメラタイプの構成であってもよい(特開2011-10944参照)。なお、観察系140としては、OCT系110が兼用してもよく、検出系115からの検出信号に基づいて正面画像が取得されてもよい。
第1固視光学系150は、例えば、被検眼Eを測定光軸L1の方向に固視させる。例えば、第1固視光学系150は、可視光を発する固視光源151等を備える。
第2固視光学系10は、例えば、被検眼Eを斜め方向に固視させる。例えば、第2固視光学系10は、測定光学系100の測定光軸L1に対してθだけ斜め方向に被検眼Eを固視させる。第2固視光学系10は、例えば、可視光を照射する光源11と光源12を備える。光源11,光源12は、例えば、装置1の筐体外部に固定される。
次いで、図2に基づいて、断層画像撮影装置1の制御系について説明する。断層画像撮影装置1は、例えば、制御部70を備える。制御部70は、例えば、CPU(Central Processing Unit)71、ROM72、RAM73、等で実現される。ROM72には、例えば、OCT信号の取得動作を制御するためのプログラム、断層画像を処理するためのプログラム、初期値等が記憶される。RAM73は、例えば、各種情報を一時的に記憶する。
以上のような構成を備える断層画像撮影装置1において、断層画像を取得し、解析を行うときの動作を図3に基づいて説明する。以下の例において、断層画像撮影装置1は、測定光学系100によって複数の方向から被検眼Eを撮影し、取得された断層画像を合成する。
例えば、制御部70は、第1固視光学系150を制御して被検者に測定光軸L1の方向から固視光束を投影する。図4Aに示すように、被検眼が第1固視光学系150の固視光源151を固視することによって、被検眼は測定光軸L1に視線を合わせた状態になる。この場合、測定光学系100の撮影領域A1の中央部には、例えば、被検眼Eの角膜頂点または水晶体等が配置される。
正面方向からの撮影を完了すると、制御部70は、正面方向とは異なる方向から被検眼Eを撮影する。このため、制御部70は、例えば、第2固視光学系10を制御し、被検眼Eの固視方向を切り換える。例えば、図4Bに示すように、制御部70は、第1固視光学系150の固視光源151を消灯させ、第2固視光学系10の光源11を点灯させる。光源11が点灯され、被検者が光源11による固視標を固視すると、被検眼Eの固視方向は、光源11からの視標光束の光軸L4の方向と一致する。したがって、被検眼Eの固視方向は、測定光軸L1に対して左にθ傾く。この場合、測定光学系100の撮影領域A1には、被検眼Eの右側の毛様体が入る。制御部70は、被検眼Eに光源11を固視させた状態で、適宜前眼部画像でのアライメントを行い、測定光学系100による撮影を行う。制御部70は、例えば、図5Bに示すように被検眼Eを斜め右方向から撮影された右断層画像92を取得する。制御部70は、例えば、撮影した右断層画像92を記憶部74等に記憶させる。
制御部70は、例えば、再び第2固視光学系10を制御し、被検眼Eの固視方向を切り換える。例えば、図4Cに示すように、制御部70は、光源12を点灯させる。光源12が点灯され、被検者が光源12による固視標を固視すると、被検眼Eの固視方向は、光源12からの視標光束の光軸L5の方向と一致する。したがって、被検眼Eの固視方向は、測定光軸L1に対して右にθ傾く。この場合、測定光学系100の撮影領域A1には、被検眼Eの左側の毛様体が入る。制御部70は、被検眼Eに光源12を固視させた状態で、測定光学系100による撮影を行う。制御部70は、例えば、図5Cに示すように被検眼Eを斜め左方向から撮影された左断層画像93を取得する。制御部70は、例えば、撮影した左断層画像93を記憶部74等に記憶させる。
以上のように、複数の方向の断層画像が取得されると、制御部70は、複数の方向から撮影された断層画像を合成する。制御部70は、例えば、被検眼を撮影したときのトラッキング情報を用いて各画像を合成する際の位置合わせをしてもよい。
制御部70は、図6に示すように、合成断層画像90を解析してもよい。例えば、制御部70は、合成断層画像90を解析することによって、ELP(術後予測前房深度)を予測してもよい。
10 第2固視光学系
70 制御部
100 測定光学系
110 OCT系
120 走査系
130 導光系
140 観察系
150 第1固視光学系
Claims (4)
- 被検眼の断層画像を撮影する断層画像撮影装置であって、
前記被検眼に照射された測定光の反射光と、前記測定光に対応する参照光と、の干渉状態を検出することによって前記被検眼の前眼部断層画像を撮影する干渉光学系を有し、前記被検眼の前眼部断層画像を2以上の異なる方向から撮影する撮影手段と、
前記撮影手段によって2以上の異なる方向から撮影された複数の前眼部断層画像であって、前記撮影手段によって正面方向から撮影された第1の部位に関する前眼部断面画像と前記撮影手段によって斜めから撮影された第2の部位(前記第1の部位とは異なる)に関する前眼部断面画像とを含む前記複数の前眼部断面画像と、前記撮影手段によって撮影された眼底断層画像とを、各画像の位置関係に基づいて合成することによって1方向からの撮影が困難な複数の部位の位置関係を取得する演算手段と、を備えることを特徴とする断層画像撮影装置。 - 前記演算手段は、前記複数の前眼部断層画像を合成して得られた合成画像に基づいて、前記被検眼の構造情報を取得し、前記構造情報から求めた前記被検眼の角膜頂点を通る角膜表面の法線と、毛様体突起部を含む平面との交点の位置に基づいて、眼内レンズが挿入される術後予測前房深度を算出することを特徴とする請求項1の断層画像撮影装置。
- 前記演算手段は、前記複数の前眼部断層画像を合成して得られた合成画像に基づいて、毛様溝間距離を測定し、測定された前記毛様溝間距離に基づいて、後房型有水晶体眼内レンズのサイズを決定することを特徴とする請求項1の断層画像撮影装置。
- 前記撮影手段は、前記被検眼を、正面方向と、前記正面方向に対して25°~30°傾斜した方向から撮影することを特徴とする請求項1~3のいずれかの断層画像撮影装置。
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