CN106004006A - 两基材薄膜上图案的定位复合系统及复合方法 - Google Patents

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何承鹏
肖潜湘
李文
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Abstract

本发明提供一种两基材薄膜上图案的定位复合系统及复合方法，包括第一检测探头、第二检测探头、薄膜张力调节系统、控制单元以及薄膜复合系统，薄膜张力调节系统包括张力辊和驱动张力辊转动的电机，薄膜复合系统包括匹配设置的两个复合辊，第一检测探头和第二检测探头均设置于复合辊的进膜侧，用于分别检测两基材薄膜上的版距，张力辊设置于第二检测探头和复合辊之间，第一检测探头、第二检测探头和电机均与控制单元相连。以解决现有薄膜上镂空区定位印刷图案时累计误差极大，印刷位置准确性极差的问题。本发明属于薄膜加工领域。

Description

两基材薄膜上图案的定位复合系统及复合方法
技术领域
本发明涉及一种薄膜复合系统及复合方法，属于薄膜加工领域。
背景技术
目前，在薄膜加工时，为增加防伪效果及包装美观，常常会在薄膜上预留一个异形镂空区域，而后在该镂空区域定位复合镀铝膜等薄膜结构，但目前在定位复合时，由于薄膜是有弹性的，实际的薄膜上的镂空区域与镀铝膜可能会存在一定的错位或误差，这样复合几件薄膜还没有太大影响，但像工业生产中同一卷膜上动辄几百上千的印刷量，会产生极大的累计误差，同一卷薄膜上后面复合的图案与镂空区域位置偏差极大，存在极大的技术缺陷。
发明内容
本发明的目的在于：提供一种两基材薄膜上图案的定位复合系统及复合方法，以解决现有薄膜上镂空区定位复合镀铝膜时累计误差极大，复合位置准确性极差的问题。
为解决上述问题，拟采用这样一种两基材薄膜上图案的定位复合系统，包括第一检测探头、第二检测探头、薄膜张力调节系统、控制单元以及薄膜复合系统，薄膜张力调节系统包括张力辊和驱动张力辊转动的电机，薄膜复合系统包括匹配设置的两个复合辊，第一检测探头和第二检测探头均设置于复合辊的进膜侧，用于分别检测两基材薄膜上的版距，张力辊设置于第二检测探头和复合辊之间，第一检测探头、第二检测探头和电机均与控制单元相连。
所述第一检测探头和第二检测探头与复合辊之间的距离均在30-50cm之间；
两基材薄膜上图案的定位复合方法，包括：
第一检测探头、第二检测探头、薄膜张力调节系统、控制单元以及薄膜复合系统；
第一检测探头和第二检测探头分别用于检测两基材薄膜上的检测标记，并将信号输送至控制单元；
薄膜张力调节系统用于根据控制单元的输送信号调节第二检测探头所检测的基材薄膜在复合前的张力，以实现调节该基材薄膜进入复合时的版距；
控制单元根据第一检测探头和第二检测探头检测到相邻两个检测标记的时间差及薄膜传输速度算出此时经过两个检测探头的两基材薄膜上的版距，并将两基材薄膜上的版距进行比较或对比，根据对比结果控制薄膜张力调节系统以调节第二检测探头所检测的基材薄膜进入印刷时的版距；
薄膜复合系统用于对两基材薄膜进行图案的定位复合。
两基材薄膜进入复合时的版距差值小于等于1-3mm；
薄膜张力调节系统包括张力辊和驱动张力辊转动的电机，电机与控制单元相连，薄膜复合系统包括匹配设置的两个复合辊，第一检测探头和第二检测探头均设置于复合辊的进膜侧，张力辊设置于第二检测探头和复合辊之间。
本发明与现有技术相比，主要优点是两基材薄膜上每版在复合前都会通过该系统及方法进行版距的检测和长度调整，以使其中一基材薄膜的版距与另一基材薄膜的版距差在技术要求范围内，使二者复合时图案位置贴合的更为准确，从而避免薄膜复合时产生较大的累计误差，使二者间的误差在一个极小值内震荡性调整，尤其适用于镀铝膜与具有镂空图案薄膜的定位复合，消除了现有图案定位复合的技术缺陷，保障了复合质量，具有极大的应用价值。
附图说明
图1是本发明的系统结构示意图；
图2是本发明的系统原理图；
其中，附图标记6表示基材薄膜，7表示导向辊，箭头表示薄膜走向。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将参照附图对本发明作进一步地详细描述，
实施例：
参照图1和图2，本实施例提供一种两基材薄膜上图案的定位复合系统，包括第一检测探头1、第二检测探头2、薄膜张力调节系统3、控制单元4以及薄膜复合系统5，薄膜张力调节系统3包括张力辊31和驱动张力辊31转动的电机32，薄膜复合系统5包括匹配设置的两个复合辊51，第一检测探头1和第二检测探头2均设置于复合辊51的进膜侧，用于分别检测两基材薄膜上的版距，张力辊21设置于第二检测探头2和复合辊51之间，第一检测探头1、第二检测探头2和电机32均与控制单元4相连，第一检测探头1和第二检测探头2与复合辊51之间的距离均在30-50cm之间。
利用上述复合系统对两基材薄膜上图案进行定位复合的方法，包括：
第一检测探头1和第二检测探头2分别用于检测两基材薄膜上的检测标记，并将信号输送至控制单元4；
薄膜张力调节系统3用于根据控制单元4的输送信号调节第二检测探头2所检测的基材薄膜在复合前的张力，以实现调节该基材薄膜进入复合时的版距；
控制单元4根据第一检测探头1和第二检测探头2检测到相邻两个检测标记的时间差及薄膜传输速度算出此时经过两个检测探头的两基材薄膜上的版距，并将两基材薄膜上的版距进行比较或对比，根据对比结果控制薄膜张力调节系统3以调节第二检测探头2所检测的基材薄膜进入印刷时的版距，使得两基材薄膜进入复合时的版距差值小于等于1-3mm；
薄膜复合系统4用于对两基材薄膜进行图案的定位复合。

Claims (5)

1.两基材薄膜上图案的定位复合系统，其特征在于：包括第一检测探头(1)、第二检测探头(2)、薄膜张力调节系统(3)、控制单元(4)以及薄膜复合系统(5)，薄膜张力调节系统(3)包括张力辊(31)和驱动张力辊(31)转动的电机(32)，薄膜复合系统(5)包括匹配设置的两个复合辊(51)，第一检测探头(1)和第二检测探头(2)均设置于复合辊(51)的进膜侧，用于分别检测两基材薄膜上的版距，张力辊(21)设置于第二检测探头(2)和复合辊(51)之间，第一检测探头(1)、第二检测探头(2)和电机(32)均与控制单元(4)相连。
2.根据权利要求1所述两基材薄膜上图案的定位复合系统，其特征在于：所述第一检测探头(1)和第二检测探头(2)与复合辊(51)之间的距离均在30-50cm之间。
3.两基材薄膜上图案的定位复合方法，其特征在于，包括：
第一检测探头(1)、第二检测探头(2)、薄膜张力调节系统(3)、控制单元(4)以及薄膜复合系统(5)；
第一检测探头(1)和第二检测探头(2)分别用于检测两基材薄膜上的检测标记，并将信号输送至控制单元(4)；
薄膜张力调节系统(3)用于根据控制单元(4)的输送信号调节第二检测探头(2)所检测的基材薄膜在复合前的张力，以实现调节该基材薄膜进入复合时的版距；
控制单元(4)根据第一检测探头(1)和第二检测探头(2)检测到相邻两个检测标记的时间差及薄膜传输速度算出此时经过两个检测探头的两基材薄膜上的版距，并将两基材薄膜上的版距进行比较或对比，根据对比结果控制薄膜张力调节系统(3)以调节第二检测探头(2)所检测的基材薄膜进入印刷时的版距；
薄膜复合系统(4)用于对两基材薄膜进行图案的定位复合。
4.根据权利要求3所述两基材薄膜上图案的定位复合方法，其特征在于：两基材薄膜进入复合时的版距差值小于等于1-3mm。
5.根据权利要求3所述两基材薄膜上图案的定位复合方法，其特征在于：薄膜张力调节系统(3)包括张力辊(31)和驱动张力辊(31)转动的电机(32)，电机(32)与控制单元(4)相连，薄膜复合系统(5)包括匹配设置的两个复合辊(51)，第一检测探头(1)和第二检测探头(2)均设置于复合辊(51)的进膜侧，张力辊(21)设置于第二检测探头(2)和复合辊(51)之间。
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