CN105895000B - 电路装置、电光学装置以及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电路装置、电光学装置以及电子设备。驱动器包括：电源电路，其具有第一至第n升压电路；电路，其根据从电源电路被供给的电源而进行动作；异常检测电路。异常检测电路对根据第i升压电路的升压动作而生成的第i升压电压的异常进行检测。第j升压电路在第i升压电压的异常被检测出的情况下，实施与通常的升压动作相比电流供给能力较低的低能力升压动作或者停止升压动作。

Description

电路装置、电光学装置以及电子设备

技术领域

本发明涉及一种电路装置、电光学装置以及电子设备等。

背景技术

在对显示面板进行驱动的显示驱动器中，由于需要例如源极驱动放大器的电源与栅极驱动放大器的电源、灰度电压生成电路的电源、显示面板的共同电压等多种电压，因此内置了生成这些所需的电压的电源电路。例如，在专利文献1、2中公开了一种如下的显示驱动器，所述显示驱动器包括具有多个升压电路(一次升压电路至四次升压电路)的电源电路、和被供给通过电源电路的升压电路的升压动作而生成的电源从而进行动作的源极驱动器与栅极驱动器。

在以此方式通过升压动作而生成驱动用的电源的显示驱动器中，因噪音或寄存器值的数据乱码等原因，升压电路的寄生双极等中会流动有大电流，并发生所谓的电源适配不良，从而无法使升压电路的升压动作恢复至正常的状态。

在面向便携设备的显示驱动器中发生了这样的电源适配不良的情况下，通过用户将便携设备的电源开关断开等，从而能够消除该电源适配不良，而恢复至正常状态。然而，在面向车载的显示驱动器中，由于如果不实施例如关闭发动机等动作，则无法断开向显示驱动器供给的电源，因此难以实现从电源适配不良的恢复。

专利文献1：日本特开2007-212897号公报

专利文献2：日本特开2010-145738号公报

发明内容

根据本发明的几个方式，可提供一种能够对升压电路所生成的升压电压的异常进行检测，并使升压电路的升压动作恢复至正常状态的电路装置、电光学装置以及电子设备等。

本发明的一个方式涉及一种电路装置，所述电路装置包括：电源电路，其具有第一至第n升压电路，其中，n为n≥2的整数；电路，其根据从所述电源电路被供给的电源而进行动作；异常检测电路，所述异常检测电路对第i升压电压的异常进行检测，所述第i升压电压为根据所述第一至第n升压电路中的第i升压电路的升压动作而生成的电压，其中，i为1≤i≤n的整数，所述第一至第n升压电路中的第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的情况下，实施与通常的升压动作相比电流供给能力较低的低能力升压动作或者停止升压动作，其中，j为1≤j≤n且j≠i的整数。

根据本发明的一个方式，通过异常检测电路对第i升压电压的异常进行检测，从而电路装置能够对升压电压的异常进行自我检测。而且，在第i升压电压的异常被检测出的情况下，通过使与第i升压电路不同的第j升压电路实施低能力升压动作或者停止升压动作，从而能够使第i升压电压恢复至正常的电压，并且能够使升压电路的升压动作恢复至正常状态。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的期间内，实施所述低能力升压动作或者停止升压动作，并在所述第i升压电压的异常不再被检测出的情况下，再开始进行所述通常的升压动作。

由于如果第i升压电压恢复至正常则异常便成为不再被检测出的状态，因此能够以此作为触发而使第j升压电路再开始进行通常的升压动作，并能够使升压电路的动作与升压电压恢复至通常的状态。以此方式，电路装置能够从电源异常中进行自我恢复。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第i升压电压为电路装置的基板电压，所述异常检测电路对所述基板电压的异常进行检测。

例如，由于在基板为P型的情况下基板电压为最低电压，因此在电源异常中寄生双极中流动的电流最终流入至基板的可能性较高。由于此时基板电压上升，因此能够通过对该上升进行检测从而对基板电压的异常进行检测。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第j升压电路为，所述第一至第n升压电路中电流供给能力最高的升压电路。

虽然电源适配不良为寄生双极的导通状态被维持的状态，但是仅对该导通状态进行维持的电流必须被供给至寄生双极。因此，对于具有对寄生双极的导通状态进行维持的较高的电流供给能力的升压电路而言，只要将其升压动作设为低能力或者停止其升压动作即可。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第i升压电压为根据第j升压电压而生成的电压，所述第j升压电压为根据所述第j升压电路的升压动作而生成的电压。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的情况下，实施所述低能力升压动作，并在所述第i升压电压的异常不再被检测出的情况下，再开始进行所述通常的升压动作。

通过在第i升压电压的异常被检测出的情况下使第j升压电路实施低能力升压动作，从而能够生成第j升压电压。在根据第j升压电压而成生第i升压电压的情况下，能够通过生成第j升压电压从而生成第i升压电压，由此能够从电源异常中进行自我恢复。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第i升压电压为根据第k升压电压而生成的电压，所述第k升压电压为根据所述第一至第n升压电路中的第k升压电路的升压动作而生成的电压，其中，k为1≤k≤n且k≠i，j的整数，所述第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的情况下，停止升压动作。

在根据与第j升压电压不同的第k升压电压而生成第i升压电压的情况下，即使停止第j升压电路的升压动作，第i升压电压也能够进行自我恢复。另外，即使在这种情况下，在第i升压电压的异常被检测出时，第j升压电路也可以实施低能力升压动作。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述电路为根据第j升压电压而对显示面板进行驱动的驱动电路，其中，所述第j升压电压为根据所述第j升压电路的升压动作而生成的电压。

由于显示面板的驱动需要较大的消耗电流，因此第j升压电压具有较大的电流供给能力。通过使能够成为这种针对寄生双极的电流供给源的第j升压电路实施低能力升压动作或者停止升压动作，从而能够从电源异常中进行恢复。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第j升压电路具有通常升压动作用的升压晶体管和软启动用的升压晶体管，在所述低能力升压动作中，所述第j升压电路通过所述软启动用的升压晶体管来实施升压动作。

软启动动作为，为了对冲击电流进行抑制而使电流供给能力降低的升压动作。因此，能够在第i升压电压的异常被检测出的情况下，通过使第j升压电路利用软启动用的升压晶体管来实施升压动作，从而实施低能力升压动作。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述第j升压电路包括串联连接的第一至第四晶体管、与所述第一至第四晶体管中的第三、第四晶体管并联连接的第五、第六晶体管，在所述通常的升压动作中，所述第j升压电路通过对所述第一至第四晶体管进行导通与断开从而实施升压动作，在所述低能力升压动作中，所述第j升压电路将所述第三、第四晶体管设为断开，并使用所述第一、第二晶体管和所述第五、第六晶体管来实施升压动作的软启动。

采用这种方式，从而能够通过第三、第四晶体管来构成通常升压动作用的升压晶体管，并能够利用第五、第六晶体管来构成软启动用的升压晶体管。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述异常检测电路在所述第i升压电压超过了检测电压的情况下，检测出所述第i升压电压为异常。

通过对第i升压电压超过了检测电压的情况进行检测，从而能够对因电源异常而使第i升压电压上升了的情况进行检测。例如，在第i升压电压为基板电压的情况下，能够对该基板电压上升了的情况进行检测。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述检测电压具有迟滞特性。

由于检测电压具有迟滞特性，因此在第i升压电压处于检测电压附近的情况下，能够对异常检测的结果反复进行正常与异常的反转的情况进行抑制。

此外，在本发明的一个方式中，也可以为，所述异常检测电路具有被设置在第一电源电压的节点与所述第i升压电压的节点之间、且基于第二电源电压的输入电压被输入至栅极的检测晶体管，其中，所述第一电源电压为，高电位侧电源电压以及低电位侧电源电压中的一方，所述第二电源电压为，所述高电位侧电源电压以及所述低电位侧电源电压中的另一方，所述异常检测电路根据所述检测晶体管的源极以及漏极中的一方的电压变化而对所述第i升压电压的异常进行检测。

通过在并非升压电压的第一电源电压的节点与第i升压电压的节点之间设置检测晶体管TDET，并向栅极输入基于并非升压电压的第二电源电压的输入输入电压VNB1，从而能够在升压电压的异常时，正确地对第i升压电压的异常进行检测。

此外，本发明的其他方式涉及一种电光学装置，所述电光学装置包括：上述任意方式所述的电路装置；显示面板，所述电路为，根据从所述电源电路被供给的所述电源而对所述显示面板进行驱动的驱动电路。

此外，本发明的其他方式涉及一种电子设备，所述电子设备包括上述任意方式所述的电路装置。

附图说明

图1为驱动器的第一结构例。

图2(A)为驱动器的第二结构例。图2(B)为驱动器的第二结构例的时序图。

图3(A)为驱动器的第三结构例。图3(B)为驱动器的第三结构例的时序图。

图4为第j升压电路的结构例。

图5(A)为驱动器的第四结构例。图5(B)为驱动器的第五结构例。

图6为驱动器的改变例。

图7为异常检测电路的第一详细结构例。

图8为异常检测电路的动作说明图。

图9为异常检测电路的第二详细结构例。

图10为电源电路的详细结构例。

图11为应用了电源电路的驱动器的结构例。

图12为电源电路的启动顺序。

图13为电光学装置、电子设备的结构例。

具体实施方式

下面，对本发明的优选实施方式进行详细说明。另外，以下所说明的本实施方式并非对权利要求书中所记载的本发明的内容进行不当限定，本实施方式中所说明的所有结构不一定是作为本发明的解决方法所必须的。例如，虽然在下文中以电路装置为驱动器的情况为示例进行了说明，但是如果为包括具有升压电路的电源电路在内的电路装置，则能够应用本发明。

1.第一结构例

如上文所述，对显示面板进行驱动的驱动器通过电源电路来生成多个电压，并通过该多个电压而使源极驱动器等的电路进行动作。例如，如在图10和图11中后文所述那样，驱动器100的电源电路110利用从系统电源210供给的系统电源电压VDD、VSS而生成源极驱动器120的电源电压VDDHSP、VDDHSN和共同电压VCOM等。

虽然这些电压在各个电路内被供给至晶体管的各个节点或基板(即，P型、N型的扩散层等)，但是只要各个电压维持预定的大小关系，则基板内的PN结就会被施加反向电压，因此寄生双极不会导通。然而，存在如下情况，即，当电压的大小关系因某些主要原因而瓦解时，寄生双极导通，并且在电源电路所生成的电压之间产生电流路径。而且，如果这种电流路径被维持，则被提取该电流侧的电压降低，而流入有该电流侧的电压则上升，因此陷入了电源电路所生成的电压并非预定的电压的状态。

作为使寄生双极导通的主要原因，能够假想到例如噪音或寄存器值的数据乱码等。例如，在车载用途的情况下，存在由于具有发动机等的噪音发生源，因此处于噪音非常多的环境中。在驱动器的电源电路所生成的电压中载有这样的噪音的情况下，可认为该噪音使寄生双极导通，从而引起电源适配不良。此外，在由于噪音等而引起寄存器值的数据乱码的情况下，则存在如下可能性，即，成为在通常的使用状况下不会发生的这种电源电路的设定，且PN结成为正向电压。例如，在将驱动器的电源导通时，对电源电路所生成的各个电压进行保持的电容器的电荷被接地短路并进行放电。如果在驱动器实施通常的动作时，指示放电的寄存器值发生数据乱码，则电源电路所生成的电压中的一部分将接地短路。如果这样，则有可能存在电压的大小关系瓦解从而引起电源适配不良。

在图1中，图示了能够对上述的这种电源的异常进行检测，并自我恢复至正常状态的驱动器的第一结构例。

图1的驱动器100包括具有第一至第n升压电路BC1～BCn(n为n≥2的整数)的电源电路110、根据从电源电路110被供给的电源而进行动作的驱动电路120(广义而言为电路)和异常检测电路130。

而且，异常检测电路130对根据第i升压电路BCi(i为1≤i≤n的整数)的升压动作而生产的第i升压电压VBi的异常进行检测。第j升压电路BCj(j为1≤j≤n且j≠i的整数)在第i升压电压VBi的异常被检测出来的情况下，实施与通常的升压动作相比使电流供给能力较低的低能力升压动作或者停止升压动作。

具体而言，电源电路110根据第一至第n升压电路BC1～BCn所生成的第一至第n升压电压VB1～VBn而生成多个电源。例如，电源电路110还可以进一步包括对第一至第n升压电路BC1～BCn所生成的升压电压VB1～VBn进行调节的多个调节器。而且，将该多个调节器的输出或者第一至第n升压电压作为电源而输出。

第一至第n升压电路BC1～BCn的各个升压电路为，例如实施由开关电容器动作实现的升压动作的电荷泵电路。或者，也可以为实施由电感器的PWM驱动实现的升压动作的开关调节器。各个升压电路生成从驱动器100的外部被供给的系统电压、或者生成自我以外的升压电路所生成的升压电压、或者使调节器的输出升压从而生成升压电压。在此，“升压”不仅包括从正(或者负)的输入电压生成相同符号的正(或者负)的升压电压的情况，而且还包括从正(或者负)的输入电压生成相反符号的负(或者正)的升压电压的情况。

异常检测电路130对第i升压电压VBi成为非正常(异常)的电压的情况进行检测，并将其检测信号SDT向第j升压电路BCj输入。例如，可认为在正常状态下第i升压电压VBi处于预定的电压范围内，因此将成为预定的电压范围外(例如如后文所述那样大于等于预定的电压)的情况作为非正常状态(异常状态)而进行检测。第j升压电路BCj接受到检测信号SDT变为激活这一情况，从而实施低能力升压动作或者停止升压动作。

低能力升压动作为，缩小了相对于负载的电流供给能力的升压动作。即，当将升压电路的能够将升压电压维持为规定的电压的输出电流的最大值设为电流供给能力时，在低能力升压动作中无法通过与通常的升压动作相比而较小的输出电流来将升压电压维持为规定的电压。例如，在电荷泵电路的情况下，能够通过改变开关电容器的开关元件的尺寸(导通电阻)，从而改变电流供给能力。例如，能够通过由图4的软启动用的晶体管实施的升压动作来实现低能力升压动作。另外，通常的升压动作是指，升压电路所具有的本来的电流供给能力下的动作，例如为在图4的升压电路中由通常升压动作用的晶体管所实施的升压动作。

升压动作的停止为，升压电路不实施升压动作的状态，例如为电荷泵电路或开关调节器停止了开关动作的状态。在该状态下，停止于在开关动作中被反复操作的多个相中的任意相，或者升压电路的输出被设定为高阻抗状态。

如上文所述，通过异常检测电路130对第i升压电压VBi的异常进行检测，从而驱动器100能够对升压电压的异常进行自我检测。而且，在通过异常检测电路130而检测出第i升压电压VBi的异常的情况下，通过使第j升压电路BCj实施低能力升压动作或者停止升压动作，从而能够使升压电压恢复至正常状态。

即，由于电流经由驱动器100的基板内的寄生双极而在电源电路110所生成的电源之间流动，从而产生了电源适配不良。由于电源电路110基于升压电压而成生电源电压，因此向寄生双极流动的电流的供给源为升压电路。对于寄生双极而言，只要被供给有足够的电流，则寄生双极的导通状态就将被维持。因此，通过使成为该电流的供给源的升压电路实施低能力升压动作或者停止升压动作，从而能够使寄生双极的导通状态被解除，由此能够解除电源适配不良。

2.第二、第三结构例

在图2(A)、图3(A)中示出了驱动器100的第二、第三结构例。另外，在图2(A)、图3(A)中省略了升压电路的一部分和驱动电路120的图示。此外，在图2(A)、图3(A)中示出了第二、第三结构例的时序图。

如图2(B)、图3(B)所示，第j升压电路BCj在第i升压电压VBi的异常被检测出的期间内，实施低能力升压动作或者停止升压动作，在第i升压电压VBi的异常的不再被检测出的情况下，则再开始进行通常的升压动作。

在图2(B)、图3(B)的示例中，第i升压电压VBi的异常被检测出的期间为检测信号SDT成为高电平(激活)的期间，第i升压电压VBi的异常不再被检测出的情况为检测信号SDT从高电平变为低电平(非激活)的情况。

如上文所述，在本实施方式中，通过使第j升压电路BCj实施低能力升压动作或者停止升压动作，从而能够使第i升压电压恢复至正常状态。由于如果第i升压电压恢复至正常状态则成为异常的不再被检测出的状态，因此以此为触发从而能够再开始进行第j升压电路BCj的通常的升压动作，并能够使升压电路的动作与升压电压恢复至通常的状态。该恢复动作在驱动器100内完成，并且无需进行由用户实施的电源开关的断开等操作。由于存在如下情况，即例如在车载用途中即使驱动器100的电源产生了异常也难以停车并关闭发动机，因此希望能够从电源异常中自我恢复并能够恢复显示。

此外，在本实施方式中，第i升压电压VBi为驱动器100的基板电压。异常检测电路130对该基板电压的异常进行检测。

即，驱动器100由集成电路装置构成，对该集成电路装置的半导体基板所设定的电压为基板电压。在例如半导体基板为P型的情况下，将电源电路110所生成的电源中的最低电压设定为基板电压。例如，在后文所述的图10的电源电路中，升压电路BC4所生成的电压VEE为基板电压。

在半导体基板为P型的情况下，由于基板电压为最低电压，因此在电源异常时流入至寄生双极的电流最终流入基板的可能性较高。由于在这种异常的电流流入至基板的情况下，基板电压会上升，因此能够通过对其电位进行检测，从而对基板电压的异常进行检测。

具体而言，如图2(B)、图3(B)所示，异常检测电路130在第i升压电压VBi超过了检测电压VD1的情况下，检测出第i升压电压VBi为异常。该检测电压具有迟滞特性。即，在异常不再被检测出时，使用与检测电压VD1不同的检测电压VD2(＜VD1)。

以此方式，通过对第i升压电压VBi超过了检测电压VD1的情况进行检测，从而能够对因电源适配不良而使基板电压上升的情况进行检测。由于可认为在通常的动作状态(即，电源电路110所生成的电源为正常的状态)下第i升压电压VBi在预定范围内变动，因此预先在该预定范围外设定检测电压VD1。或者，在产生了电源适配不良时已知第i升压电压VBi成为何种程度的电压(例如已知是实验性的)的情况下，预先将检测电压VD1设定为该电压。

在图2(A)所示的第二结构例中，第i升压电压VBi为根据第j升压电压VBj而生成的电压，其中，所述第j升压电压VBj为根据第j升压电路BCj的升压动作而生成的电压。而且，如图2(B)所述，第j升压电路BCj在第i升压电压VBi的异常被检测出来的情况下实施低能力升压动作，而在第i升压电压VBi的异常不再被检测出的情况下则再开始进行通常的升压动作。

具体而言，电源电路110包括第i升压电路BCi、第j升压电路BCj和调节器RGA。而且，调节器RGA根据第j升压电压VBj而生成电压VGA，第i升压电路BCi对电压VGA进行升压并生成第i升压电压VBi。调节器RGA为例如线性调节器，并将第j升压电压VBj调节为基准电压的预定倍的电压VGA。例如，在后文所述的图10的电源电路中，第一升压电路BC1与第j升压电路BCj相对应，调节器RG8与调节器RGA相对应，第四升压电路BC4与第i升压电路BCi相对应。

在采用这种结构的情况下，为了使第i升压电压VBi从异常状态中恢复，而需要调节器RGA的输出电压VGA。即，需要生成作为该调节器RGA的输入电压的第j升压电压VBj。因此，在图2(A)的结构中，在异常状态下第j升压电路BCj并不停止升压动作而是实施低能力动作，即使在异常状态下也向第i升压电路BCi供给调节器RGA的输出电压VGA。由此，能够消除电源适配不良，并且能够使第i升压电压VBi向正常的电压进行自我恢复。

在图3(A)所示的第三结构例中，第i升压电压VBi为根据第k升压电压VBk而生成的电压，所述第k升压电压VBk为根据第k升压电路(k为1≤k≤n且k≠i，j的整数)的升压动作而生成的电压。而且，如图3(B)所示，第j升压电路BCj在第i升压电压VBi的异常被检测出来的情况下，停止升压动作。

具体而言，电源电路110包括第i升压电路BCi、第j升压电路BCj、第k升压电路BCk和调节器RGB。而且，调节器RGB根据第k升压电压VBk而生成电压VGB，第i升压电路Bci对电压VGB进行升压从而生成第i升压电压VBi。调节器RGB为例如线性调节器，且将第k升压电压VBk调节为基准电压的预定倍的电压VGB。例如，在后文所述的图10的电源电路中，第二、第三升压电路BC2、BC3与第j升压电路BCj相对应，第一升压电路BC1与第k升压电路BCk相对应，调节器RG8与调节器RGB相对应，第四升压电路BC4与第i升压电路BCi相对应。

在采用这种结构的情况下，即使未生成第j升压电压VBj，第i升压电压VBi也能够从异常状态中恢复。因此，在图3(A)的结构中，在异常状态下第j升压电路BCj停止升压动作。由此，虽然在异常状态下未生成第j升压电压VBj，但是只要在第i升压电路BCi能够生成第i升压电压VBi的状态下，就能够从电源适配不良中进行自我恢复。

此外，在本实施方式中，第j升压电路BCj为第一至第n升压电路BC1～BCn中电流供给能力最高的升压电路。

虽然电源适配不良为寄生双极的导通状态被维持的状态，但是仅对该导通状态进行维持的电流必须被供给至寄生双极。因此，可认为，在电流供给能力较小的升压电路的输出中，即使假设寄生双极被导通，该导通状态也可自然被解除。因此，对于具有对寄生双极的导通状态进行维持的较高的电流供给能力的升压电路而言，只要将其升压动作设为低能力或者停止其升压动作即可。

例如，在图10的电源电路中，第一升压电路BC1为电流供给能力最高的升压电路。由于在第一升压电路BC1中作为后段的电路而设置有多个调节器与升压电路，从而需要对这些调节器或升压电路的输出电流或消耗电流进行供给，因此第一升压电路BC1的电流供给能力最大。即使在第一升压电路BC1的后段的调节器与升压电路的端部处寄生双极被导通了，也能够通过将作为其前段的电流供给源的第一升压电路BC1的电流供给缩小或者停止，从而使其从电源适配不良中恢复。

此外，在本实施方式中，驱动电路120根据第j升压电压VBj而对显示面板200(电光学面板)进行驱动，所述第j升压电压VBj为根据第j升压电路BCj的升压动作而生成的电压。

驱动电路120为，对显示面板的源极线进行驱动的源极驱动器。由于源极驱动器需要高速地对像素电容进行驱动，因此即使在驱动器100中，也成为消耗电流较大的电路。因此，在根据第j升压电压BCj而生成有驱动电路120的电源的情况下，第j升压电压VBj具有较大的电流供给能力。由于这种具有较大的电流供给能力的第j升压电路BCj能够成为针对寄生双极的电流供给源，因此通过将其升压动作设为低能力或者使其停止，从而能够将其从电源适配不良中恢复。

例如，在图10的电源电路中，调节器RG5、RG7、RG11、RG12的输出电压VDDHSP、VDDRMP、VDDHSN、VDDRMN为源极驱动器的电源电压。即，第一升压电路BC1和第三升压电路BC3与第j升压电路BCj相对应。

另外，在图10的电源电路中，第二升压电路BC2、第四升压电路BC4、第五升压电路BC5也可以在电源适配不良时实施低能力升压动作或者停止升压动作。

3.升压电路

在图4中示出了能够进行低能力升压动作的第j升压电路BCj的结构例。图4为第j升压电路BCj为电荷泵电路时的结构例。

第j升压电路BCj具有通常升压动作用的升压晶体管TA3、TA4和软启动用的升压晶体管TA5、TA6。而且，在低能力升压动作中，通过软启动用的升压晶体管TA5、TA6来实施升压动作。

更具体而言，第j升压电路BCj包括串联连接的第一至第四晶体管TA1～TA4和与第三、第四晶体管TA3、TA4并联连接的第五、第六晶体管TA5、TA6。而且，在通常的升压动作中，通过对第一至第四晶体管TA1～TA4进行导通和断开从而实施升压动作，在低能力升压动作中，将第三、第四晶体管TA3、TA4设为断开并使用第一、第二晶体管TA1、TA2和第五、第六晶体管TA5、TA6来实施升压动作的软启动。

晶体管TA1～TA3、TA5为P型晶体管，晶体管TA4、TA6为N型晶体管。在通常的升压动作中，在第一期间(第一相)内，晶体管TA2、TA4导通，晶体管TA1、TA3断开，电容器CA的一端与接地电压VSS连接，电容器CA的另一端与输入电压VIN连接。在第二期间(第二相)内，晶体管TA2、TA4断开，晶体管TA1、TA3导通，电容器CA的一端与输入电压VIN连接，并从电容器CA的另一端经由晶体管TA1而输出输出电压VQ＝2×VIN。晶体管TA5、TA6在第一期间、第二期间内均为断开。或者，在通常的升压动作中也可以同时使用软启动用的晶体管TA5、TA6。即，也可以为，在第一期间内，晶体管TA6导通，晶体管TA5断开，在第二期间内，晶体管TA5导通，晶体管TA6断开。在低能力升压动作中，在第一期间内，晶体管TA2、TA6导通，晶体管TA1、TA5断开，在第二期间内，晶体管TA2、TA6断开，晶体管TA1、TA5导通。

软启动用的升压晶体管TA5、TA6的尺寸(例如沟道宽度W/沟道长度L的沟道宽度W等)与通常升压动作用的升压晶体管TA3、TA4的尺寸相比而较小。因此，通过使软启动用的升压晶体管TA5、TA6的导通电阻变大且由该晶体管TA5、TA6来实施升压动作，从而使第j升压电路BCj的电流供给能力降低。为了在电源电路110的起动时对开始升压动作时的冲击电流进行抑制，而设置有软启动用的升压晶体管TA5、TA6。通过以此方式使用原本设置的软启动电路，从而能够实现电源适配不良时的低能力升压动作。

4.第四、第五结构例

在图5(A)中示出了驱动器100的第四结构例。第四结构例为，第j升压电路BCj在电源适配不良时停止升压动作时的结构例。另外，在图5(A)中省略了驱动电路120和升压电路的一部分的图示。

驱动器100包括控制电路140、第j升压电路BCj和异常检测电路130。第j升压电路BCj包括使能信号生成部GEN、升压时钟生成部CKG和升压部BST。

升压部BST由图4所说明的电荷泵电路构成。升压时钟生成部CKG生成对升压部BST进行驱动的时钟信号。即，以与通常的升压动作与软启动动作(低能力升压动作)相对应的方式而生成对构成升压部BST的晶体管TA1～TA6进行导通断开控制的时钟信号。

控制电路140向第j升压电路BCj输出使能信号EN和软启动信号SFT。第j升压电路BCj在使能信号EN为激活的期间内实施升压动作，在软启动信号SFT为激活的期间内实施软启动动作。

使能信号生成部GEN根据来自控制电路140的使能信号EN和来自异常检测电路130的检测信号SDT，而生成新的使能信号ENA。在使能信号EN为激活的情况下，当异常检测电路130对第i升压电压VBi的异常进行检测且检测信号SDT成为激活时，使能信号生成部GEN输出非激活的使能信号ENA。即，在电源适配不良时，第j升压电路BCj被指示停止升压动作。例如，在使能信号EN和检测信号SDT为高激活的情况下，使能信号生成部GEN由对检测信号SDT进行逻辑反转的反相器、和对反相器的输出与使能信号EN的逻辑与进行输出的逻辑与电路构成。

在图5(B)中示出了驱动器100的第五结构例。第五结构例为，第j升压电路BCj在电源适配不良时实施低能力升压动作时的结构例。另外，在图5(B)中省略了驱动电路120和升压电路的一部分的图示。

驱动器100包括控制电路140、第j升压电路BCj和异常检测电路130。第j升压电路BCj包括软启动信号生成部GSF、升压时钟生成部CKG和升压部BST。

软启动信号生成部GSF根据来自控制电路140的软启动信号SFT和来自异常检测电路130的检测信号SDT，而生成新的软启动信号SFTA。在软启动信号SFT为非激活的情况下，当异常检测电路130对第i升压电压VBi的异常进行检测且检测信号SDT成为激活时，软启动信号生成部GSF输出激活的软启动信号SFTA。即，在电源适配不良时，指示第j升压电路BCj实施软启动动作(低能力升压动作)。例如，在软启动信号SFT与检测信号SDT为高激活时的情况下，使能信号生成部GEN由对检测信号SDT和软启动信号SFT的逻辑或进行输出的逻辑或电路构成。

5.改变例

在图6中示出了驱动器100的改变例。在该改变例中，在升压电压(第i升压电压VBi)的异常被检测出来的情况下，再次执行电源电路110的启动顺序。

具体而言，异常检测电路130对控制电路140输出检测信号SDT。控制电路140在检测信号SDT成为激活时，使电源电路110的动作暂时停止，之后再起动电源电路110。启动顺序为，对电源电路110的各个部分的动作定时进行控制的顺序。如在图12中后文所示那样，对例如开始第一至第n升压电路BC1～BCn的升压动作的定时、开始与停止软启动的定时、开始调节器的动作(或者允许输出的)定时等进行控制。

以此方式，不仅通过低能力升压动作与升压动作的停止能够从电源适配不良中进行自我恢复，即使通过再执行启动顺序，也能够从电源适配不良中进行自我恢复。即，当再执行启动顺序时，包括升压电路在内的电源电路的动作暂时停止，因此不再进行向寄生晶体管的电流供给，从而能够从电源适配不良中进行恢复。

6.异常检测电路

在图7中示出了异常检测电路130的第一详细结构例。如图7所示，异常检测电路130具有检测晶体管TDET。检测晶体管TDET被设置在作为高电位侧电源电压VDD以及低电位侧电源电压VSS中的一方的第一电源电压的节点和第i升压电压VBi的节点之间，且基于作为高电位侧电源电压VDD以及低电位侧电源电压VSS中的另一方的第二电源电压的输入电压VNB1被输入至栅极。而且，异常检测电路130根据检测晶体管TDET的源极以及漏极中的一方的电压变化而对第i升压电压VBi的异常进行检测。

另外，在下文中，以检测晶体管TDET为N型晶体管、第一电源电压为高电位侧电源电压VDD、第二电源电压为低电位侧电源电压VSS、异常检测电路130基于检测晶体管TDET的漏极(节点NB2)的电压变化而进行异常检测的情况为例来进行说明。

高电位侧电源电压VDD以及低电位侧电源电压VSS为例如从驱动器100外部的系统电源被供给的电源电压，而并非电源电路110所生成的电压。即，电源电压VDD、VSS为，即使在第i升压电压VBi产生了异常时也不会发生变动的、可靠的固定的电压。

通过在这种可靠的第一电源电压VDD的节点与第i升压电压VBi的节点之间设置检测晶体管TDET并且向其栅极输入基于可靠的第二电源电压VSS的输入电压VNB1，从而能够正确地对第i升压电压VBi的异常进行检测。即，由于第一电源电压VDD和第二电源电压VSS不会发生变化，因此检测晶体管TDET的漏极电压VNB2的变化就是因第i升压电压VBi的变化而产生的。即，通过对该检测晶体管TDET的漏极电压VNB2的变化进行检测，从而能够对第i升压电压VBi的异常进行检测。

此外，在本实施方式中，异常检测电路130具有电阻元件RC，所述电阻元件RC被设置在检测晶体管TDET的漏极(源极与漏极中的一方)和第一电源电压VDD的节点之间。

即，电阻元件RC和检测晶体管TDET在第一电源电压VDD的节点和第i升压电压VBi的节点之间串联连接。检测晶体管TDET的漏极电压VNB2为，通过电阻元件RC和检测晶体管TDET的导通电阻实施电阻分割而得到的电压。当第i升压电压VBi发生变化时，检测晶体管TDET的源极电压发生变化，因此导通电阻发生变化，并且由于电阻分割之比改变，因此检测晶体管TDET的漏极电压VNB2发生变化，由此能够对第i升压电压VBi的异常进行检测。

此外，在本实施方式中具有第二晶体管TB2，所述第二晶体管TB2被设置在检测晶体管的源极(源极与漏极中的另一方)和第i升压电压VBi的节点之间、且漏极和栅极被连结。例如，第二晶体管TB2为N型晶体管。

以此方式，通过将所谓的二极管连结的第二晶体管TB2设置于检测晶体管TDET的源极侧，从而能够对异常检测的检测电压进行调节。具体而言，第i升压电压VBi为与第二电源电压VSS相比而较低的电压(负电压)。虽然在产生了电源适配不良时，作为基板电压的第i升压电压VBi将上升，但由于在基板与第二电源电压VSS之间存在有二极管(寄生二极管等)，因此第i升压电压VBi的上升到第二电源电压VSS程度为止。因此，第i升压电压VBi的异常的检测在与第二电源电压VSS相比而较低的检测电压下进行。此时，通过设置第二晶体管TB2而能够降低检测电压，从而能够设定恰当的检测电压。

虽然也能够通过改变检测晶体管TDET的栅极电压来改变检测电压，但是该栅极电压与迟滞特性相关联，仅仅为了检测电压的调节是不能进行改变的。因此，通过设置第二晶体管TB2来对检测电压进行调节。

此外，在本实施方式中，异常检测电路130在第i升压电压VBi超过了检测电压的情况下检测出第i升压电压VBi为异常。该检测电压具有迟滞特性。

具体而言，异常检测电路130具有：缓冲电路BFB，其对检测晶体管TDET的漏极(源极与漏极中的一方)的电压进行缓冲；第三晶体管TB3，其被设置在检测晶体管TDET的栅极与第二电源电压VSS的节点之间，且基于缓冲电路BFB的输出(电压VNB4)而被导通和断开；第一电阻元件RB1，其被设置在第一电源电压VDD的节点与检测晶体管TDET的栅极之间；第二电阻元件RB2，其被设置在检测晶体管TDET的栅极与第二电源电压VSS的节点之间，且与第三晶体管TB3并联连接。

缓冲电路BFB由接受检测晶体管TDET的漏极电压VNB2的第一反相器(P型晶体管TB4、N型晶体管TB5)和接受第一反相器的输出的第二反相器IVB1构成。异常检测电路130包括接受缓冲电路BFB的输出并输出检测信号SDT的反相器IVB2。

使用图8来对异常检测电路130的动作进行说明。图8为使第i升压电压VBi发生变化时的检测晶体管TDET的漏极电压VNB2和栅极电压VNB1的模拟结果。为了便于模拟，而使第i升压电压VBi沿着时间轴进行变化。

首先，对从正常向异常变化时的动作进行说明。在正常时，在第i升压电压VBi＝-10V的附近处进行动作。此时，由于检测晶体管TDET的漏极电压VNB2低于VSS＝0V，因此缓冲电路BFB的输出为低电平，晶体管TB3断开。检测晶体管TDET的栅极电压VNB1由电阻元件RB1、RB2的电阻分割来决定。

当第i升压电压VBi从-10V上升(从纸面中央朝向右侧)时，伴随于此，检测晶体管TDET的源极电压上升，检测晶体管TDET的导通电阻上升。由此，检测晶体管TDET的漏极电压VNB2上升。当第i升压电压VBi成为检测电压VD1时，检测晶体管TDET断开，检测晶体管TDET的漏极电压VNB2上升到电源电压VDD为止。于是，缓冲电路BFB的输出从低电平变为高电平。即，在第i升压电压VBi超过了检测电压VD1的情况下，被检测出第i升压电压VBi为异常。

接下来，对从异常向正常恢复时的动作进行说明。当第i升压电压VBi从VSS＝0V降低(从纸面左侧朝向中央)时，伴随于此，检测晶体管TDET的源极电压降低。当第i升压电压VBi成为检测电压VD2时，检测晶体管TDET导通，检测晶体管TDET的漏极电压VNB2变得低于VSS＝0V。于是，缓冲电路BFB的输出从高电平变为低电平。在缓冲电路BFB的输出为高电平时，晶体管TB3导通，检测晶体管TDET的栅极电压VNB1为VSS＝0V。由于其低于电阻元件RB1、RB2的分割电压，因此如果检测晶体管TDET的源极电压不成为更低的状态，则检测晶体管TDET就不会导通。即，VD2＜VD1，检测电压具有迟滞特性。

在图9中示出了异常检测电路130的第二详细结构例。在该结构例中，异常检测电路130具有第一晶体管TB1，所述第一晶体管TB1被设置在检测晶体管TDET的漏极(源极与漏极中的一方)和第一电源电压VDD的节点之间，且栅极上被输入有输入电压VNB1。另外，对于与第一详细结构例相同的结构要素标记相同的符号，并适当省略说明。

动作基本上与第一详细结构例相同。即，第一晶体管TB1的导通电阻与第一详细结构例中的电阻元件RC相对应。检测晶体管TDET的漏极电压VNB2由第一晶体管TB1的导通电阻与检测晶体管TDET的导通电阻的电阻分割决定，当第i升压电压VBi上升且检测晶体管TDET的导通电阻变高时，检测晶体管TDET的漏极电压VNB2上升，从而缓冲电路BFB的输出发生反转，由此异常被检测出来。

7.电源电路

在图10中示出了电源电路110的详细结构例。在图11中示出了应用有图10的电源电路110的驱动器100的结构例。

图11的驱动器100包括：电源电路110、源极驱动器120(驱动电路)、栅极驱动器150和控制电路140。源极驱动器120(数据驱动器)为对显示面板200的源极线(数据线)进行驱动的电路，且包括例如灰度电压生成电路、D/A转换电路和源极放大器等。栅极驱动器150(扫描驱动器)为对显示面板200的栅极线(扫描线)进行驱动的电路，且包括例如电平位移器与缓冲器等。控制电路140例如包括实施与显示控制器300之间的通信的接口电路、对从显示控制器300输送的画像数据进行锁存的线锁存器、对显示控制的定时进行控制的定时控制器等。例如，控制电路140由门阵列等构成。

图10的电源电路110包括第一至第五升压电路BC1～BC5和第一至第十三调节器RG1～RG13。例如，第一至第五升压电路BC1～BC5为电荷泵电路，第一至第十三调节器RG1～RG13为线性调节器。另外，在图10中，各个电压的图面上下方向上的位置关系表示大致的电压的大小关系。例如，VDDL、VLDO1等为VDD和VSS之间的电压，VOUTM、VOUT3等为低于VSS的电压(负电压)，VOUT等为高于VDD的电压。

调节器RG1、RG2、RG3对电源电压VDD进行降压，并生成电压VDDL、VLDO1、VLDO2。如图11所示，电压VDDL为控制电路140(逻辑电路)的电源电压。

升压电路BC1以电压VSS为基准将电压VLDO1升压两倍从而生成电压VOUT。调节器RG4、RG5、RG6、RG7、RG8、RG9对电压VOUT进行降压而生成电压VREG、VDDHSP、VDDRHP、VDDRMP、VOFREG、VONREG。调节器RG4以未图示的带隙电路的输出电压为基准而生成电压VREG。其他的调节器RG1～RG3、RG5～RG13以电压VREG为基准而输出各个电压。如图10所示，电压VDDHSP、VDDRMP为源极驱动器120的正的电源电压(用于点反转驱动的正极驱动的电源电压)。电压VDDRHP为灰度电压生成电路的电源电压。

升压电路BC2以电压VSS为基准将电压VLDO2反转而生成负的电压VOUTM。调节器RG10根据电压VLDO2和电压VOUTM而生成电压VCOM。电压VCOM为，对显示面板200的源极线进行驱动时的共同电压。

升压电路BC3以电压VSS为基准将电压VDD反转升压四倍而生成负的电压VOUT3。调节器RG11对电压VOUT3进行降压而生成电压VDDHSN，调节器RG12对电压VDDHSN进行降压而生成电压VDDRMN。如图10所示，电压VDDHSN、VDDRMP为源极驱动器120的负的电源电压(用于点反转驱动的负极驱动的电源电压)。

升压电路BC4以电压VSS为基准将电压VOFREG反转升压三倍而生成负的电压VEE。电压VEE为驱动器100的半导体基板(P型基板)的基板电压。调节器RG13对电压VEE进行降压而生成电压VGL。如图10所示，电压VGL为栅极驱动器150的负的电源电压。

升压电路BC5根据电压VONREG和电压VGL而生成电压VDDHG＝VONREG×2-VGL。如图10所示，电压VDDHG为栅极驱动器150的正的电源电压。

在图12中示出了控制电路140所执行的电源电路110的启动顺序。另外，启动顺序并不限定于图12，例如也可以同时开始升压电路BC1～BC5的升压动作。例如，也可以采用如下结构，即，以用户能够通过寄存器设定来对启动顺序进行设定。

如图12所示，当对电源电路110的起动进行指示的寄存器值DISON通过驱动器100外部的显示控制器(处理部)而被设为激活时，控制电路140开始进行电源电路110的启动顺序。例如，启动顺序的执行期间为六帧F1～F6。另外，调节器RG1在驱动器100的电源接通时与带隙电路等一起开始动作。

在启动顺序中，首先，在第二帧F2开始时，将升压电路BC1～BC3的使能信号设为激活，从而开始进行升压动作。此外，将调节器RG2～4设为开始动作。到第二至第五帧F2～F5为止，将升压电路BC1～BC3的软启动信号设为激活从而进行软启动动作。接着，在第三帧F3开始时，将调节器RG5～7、11、12的使能信号设为激活，从而开始动作。到该第三帧F3为止，一次至三次升压系统启动，从而输出调节器的基准电压与共同电压、源极驱动器的电源电压。

此外，在第三帧F3开始时，将调节器RG8的使能信号设为激活，从而开始动作，并将升压电路BC4的使能信号设为激活，从而开始进行升压动作。接着，在第四帧F4开始时，将调节器RG13的使能信号设为激活，从而开始动作。此外，将调节器RG9的使能信号设为激活，从而开始动作，并将升压电路BC5的使能信号设为激活，从而开始进行升压动作。到该第四帧F4为止，四次以及五次升压系统启动，从而输出栅极驱动器的电源电压和基板电压。

接着，在第五帧F5期间内(第六帧F6开始前)，将调节器RG10的使能信号设为激活，从而开始动作。在该第五帧F5中输出共同电压。在第六帧F6开始时，结束升压电路BC1～BC3的软启动动作并转移至通常的升压动作，并在第六帧F6结束时，结束启动顺序。

另外，在通过图6说明了的启动顺序的再执行中，在来自异常检测电路130的检测信号SDT成为激活的情况下，控制电路140通过将寄存器值DISON设为非激活，并再次将寄存器值DISON设为激活，从而再次执行启动顺序。

8.电光学装置、电子设备

在图13中示出了能够应用本实施方式的驱动器100的电光学装置和电子设备的结构例。作为本实施方式的电子设备，能够假想到例如投影仪、电视化装置、信息处理装置(计算机)、便携型信息终端、汽车导航系统、便携型游戏终端等的、搭载了显示装置的各种各样的电子设备。

图13所示的电子设备包括：电光学装置350、显示控制器300(主控制器、第一处理部)、CPU310(第二处理部)、存储部320、用户接口部330、数据接口部340。电光学装置350包括驱动器100、显示面板200。

显示面板200为例如矩阵型的液晶显示面板。或者，显示面板200也可以为使用了自发光元件的EL(Electro-Luminescence)的显示面板。例如，在显示面板200上连接有柔性基板，并且在该柔性基板上安装有驱动器100，从而构成电光学装置350。另外，驱动器100和显示面板200也可以不被构成为电光学装置350，而是作为独立的部件被组装在电子设备中。例如，也可以采用如下方式，即，在显示面板200上连接配线引出用的柔性基板，并将驱动器100与显示控制器300等一起安装在刚性基板上，并且通过将柔性基板连接到该刚性基板上，从而安装好显示面板200。

用户接口部330为，接受来自用户的各种操作的接口部。例如，由按钮或鼠标、键盘、被安装在显示面板200上的触摸面板等构成。数据接口部340为，实施图像数据与控制数据的输入输出的接口部。例如为USB等的有线通信接口，或者无线LAN等的无线通信接口。存储部320对从数据接口部340输入的图像数据进行存储。或者，存储部320作为CPU310和显示控制器300的工作存储器而发挥功能。CPU310实施电子设备的各部的控制处理与各种数据处理。显示控制器300实施驱动器100的控制处理。例如，显示控制器300将从数据接口部340或存储部320传送来的图像数据转换为驱动器100能够接受的形式，并将该转换后的图像数据向驱动器100进行输出。驱动器100根据从显示控制器300传送来的图像数据而对显示面板200进行驱动。

另外，虽然如上文所述对本实施方式进行了详细说明，但对于本领域技术人员而言能够很容易地理解出可在实质上不脱离本发明的新事项以及效果的多种改变。因此，这种改变例也全部被包含在本发明的范围内。例如，在说明书或附图中，至少一次与更广义或同义的不同用语一起记载的用语，在说明书或附图中的任意位置处均能够替换为该不同的用语。此外，本实施方式以及改变例的全部组合也包含在本发明的范围内。此外，电源电路、异常检测电路、电路装置、电光学装置、电子设备的结构、动作也并不限定于本实施方式所说明的内容，能够进行各种变形实施。

符号说明

100…驱动器；110…电源电路；120…源极驱动器；120…驱动电路；130…异常检测电路；140…控制电路；150…栅极驱动器；200…显示面板；210…系统电源；300…显示控制器；310…CPU；320…存储部；330…用户接口部；340…数据接口部；350…电光学装置；BCi…第i升压电路；BCj…第j升压电路；BCk…第k升压电路；BFB…缓冲器电路；TDET…检测晶体管；VBi…第i升压电压；VBj…第j升压电压；VBk…第k升压电压；VD1、VD2…检测电压；VDD…高电位侧电源电压；VSS…低电位侧电源电压。

Claims (15)

1.一种电路装置，其特征在于，包括：

电源电路，其具有第一至第n升压电路、以及根据第j升压电压而生成调节器电压的调节器，所述第j升压电压是根据所述第一至第n升压电路中的第j升压电路的升压动作而生成的电压，其中，n为n≥2的整数，j为1≤j≤n的整数；

电路，其根据从所述电源电路被供给的电源而进行动作；

异常检测电路，

所述异常检测电路对第i升压电压的异常进行检测，所述第i升压电压为根据所述调节器电压而生成的电压，其中，i为1≤i≤n的整数，j为j≠i的整数，

所述第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的情况下，实施与通常的升压动作相比电流供给能力较低的低能力升压动作或者停止升压动作。

2.如权利要求1所述的电路装置，其特征在于，

所述第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的期间内，实施所述低能力升压动作或者停止升压动作，并在所述第i升压电压的异常不再被检测出的情况下，再开始进行所述通常的升压动作。

3.一种电路装置，其特征在于，包括：

电源电路，其具有第一至第n升压电路、以及根据第k升压电压而生成调节器电压的调节器，所述第k升压电压是根据所述第一至第n升压电路中的第k升压电路的升压动作而生成的电压，其中，n为n≥2的整数，k为1≤k≤n的整数；

电路，其根据从所述电源电路被供给的电源而进行动作；

异常检测电路，

所述异常检测电路对第i升压电压的异常进行检测，所述第i升压电压为根据所述调节器电压而生成的电压，其中，i为1≤i≤n的整数，k为k≠i、j的整数，

所述第一至第n升压电路中的第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的情况下，停止升压动作，其中，j为1≤j≤n且j≠i的整数。

4.如权利要求3所述的电路装置，其特征在于，

所述第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的期间内，实施停止升压动作，并在所述第i升压电压的异常不再被检测出的情况下，再开始进行通常的升压动作。

5.一种电路装置，其特征在于，包括：

电源电路，其具有第一至第n升压电路，其中，n为n≥2的整数；

电路，其根据从所述电源电路被供给的电源而进行动作；

异常检测电路，

所述异常检测电路对第i升压电压的异常进行检测，所述第i升压电压为根据所述第一至第n升压电路中的第i升压电路的升压动作而生成的电压，其中，i为1≤i≤n的整数，

所述第一至第n升压电路中的第j升压电路具有通常升压动作用的升压晶体管和软启动用的升压晶体管，并且，在所述第i升压电压的异常被检测出的情况下，通过所述软启动用的升压晶体管来实施升压动作，从而实施与通常的升压动作相比电流供给能力较低的低能力升压动作，其中，j为1≤j≤n且j≠i的整数。

6.一种电路装置，其特征在于，包括：

电源电路，其具有第一至第n升压电路，其中，n为n≥2的整数；

电路，其根据从所述电源电路被供给的电源而进行动作；

异常检测电路，

所述异常检测电路对第i升压电压的异常进行检测，所述第i升压电压为根据所述第一至第n升压电路中的第i升压电路的升压动作而生成的电压，其中，i为1≤i≤n的整数，

所述第一至第n升压电路中的第j升压电路包括串联连接的第一至第四晶体管、与所述第一至第四晶体管中的第三、第四晶体管并联连接的第五、第六晶体管，

在通常的升压动作中，所述第j升压电路通过对所述第一至第四晶体管进行导通与断开从而实施升压动作，

在所述第i升压电压的异常被检测出的情况下，所述第j升压电路将所述第三、第四晶体管设为断开，并使用所述第一、第二晶体管和所述第五、第六晶体管来实施升压动作的软启动，从而实施与所述通常的升压动作相比电流供给能力较低的低能力升压动作，其中，j为1≤j≤n且j≠i的整数。

7.如权利要求5或6所述的电路装置，其特征在于，

所述第j升压电路在所述第i升压电压的异常被检测出的期间内，实施所述低能力升压动作或者停止升压动作，并在所述第i升压电压的异常不再被检测出的情况下，再开始进行所述通常的升压动作。

8.如权利要求1、3、5、6中任一项所述的电路装置，其特征在于，

所述第i升压电压为电路装置的基板电压，

所述异常检测电路对所述基板电压的异常进行检测。

9.如权利要求1、3、5、6中任一项所述的电路装置，其特征在于，

所述第j升压电路为，所述第一至第n升压电路中电流供给能力最高的升压电路。

10.如权利要求1、3、5、6中任一项所述的电路装置，其特征在于，

所述电路为根据第j升压电压而对显示面板进行驱动的驱动电路，其中，所述第j升压电压为根据所述第j升压电路的升压动作而生成的电压。

11.如权利要求1、3、5、6中任一项所述的电路装置，其特征在于，

所述异常检测电路在所述第i升压电压超过了检测电压的情况下，检测出所述第i升压电压为异常。

12.如权利要求11所述的电路装置，其特征在于，

所述检测电压具有迟滞特性。

13.如权利要求11所述的电路装置，其特征在于，

所述异常检测电路具有被设置在第一电源电压的节点与所述第i升压电压的节点之间、且基于第二电源电压的输入电压被输入至栅极的检测晶体管，其中，所述第一电源电压为，高电位侧电源电压以及低电位侧电源电压中的一方，所述第二电源电压为，所述高电位侧电源电压以及所述低电位侧电源电压中的另一方，

所述异常检测电路根据所述检测晶体管的源极以及漏极中的一方的电压变化而对所述第i升压电压的异常进行检测。

14.一种电光学装置，其特征在于，包括：

权利要求1至13中任一项所述的电路装置；

显示面板，

所述电路为，根据从所述电源电路被供给的所述电源而对所述显示面板进行驱动的驱动电路。

15.一种电子设备，其特征在于，

包括权利要求1至13中任一项所述的电路装置。

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